JPH06101455B2 - Wafer polishing protection sheet and method for polishing wafer surface using this sheet - Google Patents
Wafer polishing protection sheet and method for polishing wafer surface using this sheetInfo
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- JPH06101455B2 JPH06101455B2 JP62130829A JP13082987A JPH06101455B2 JP H06101455 B2 JPH06101455 B2 JP H06101455B2 JP 62130829 A JP62130829 A JP 62130829A JP 13082987 A JP13082987 A JP 13082987A JP H06101455 B2 JPH06101455 B2 JP H06101455B2
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Description
【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、半導体ウエハの研摩用保護シートおよびこれ
を用いたウエハの研摩方法に関し、さらに詳しくは、エ
ッチングなどにより表面にパターンが形成された半導体
ウエハの裏面を研摩する際に特に好ましく用いられるウ
エハ研摩用保護シートおよびこれを用いたウエハの研摩
方法に関する。TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a protective sheet for polishing a semiconductor wafer and a method for polishing a wafer using the same, and more specifically, it relates to a semiconductor wafer having a pattern formed on its surface by etching or the like. The present invention relates to a wafer polishing protective sheet that is particularly preferably used when polishing the back surface, and a wafer polishing method using the same.
発明の技術的背景ならびにその問題点 シリコン、ガリウムヒ素などの半導体ウエハの表面に
は、エッチングあるいはリフトオフ法などによってパタ
ーンが形成される。次いで表面にパターンが形成された
ウエハは、通常、その表面に粘着シートが貼着された状
態で、その裏面にグラインダーなどにより研摩処理が加
えられる。パターンが形成されたウエハの裏面に研摩を
加える目的は、第1のエッチング工程時にウエハ裏面に
酸化物皮膜が形成されることがあるため、この酸化物皮
膜を除去することにあり、第2にパターンが形成された
ウエハの厚みを調節することにある。TECHNICAL BACKGROUND OF THE INVENTION AND PROBLEMS THEREOF A pattern is formed on the surface of a semiconductor wafer such as silicon or gallium arsenide by etching or lift-off method. Next, the wafer having the pattern formed on the front surface is usually subjected to polishing treatment by a grinder or the like on the back surface thereof in a state where the adhesive sheet is adhered to the front surface. The purpose of polishing the back surface of the wafer on which the pattern is formed is to remove this oxide film because an oxide film may be formed on the back surface of the wafer during the first etching step. The purpose is to control the thickness of the patterned wafer.
ところで、表面にパターンが形成されたウエハの裏面に
研摩処理を加えるに際しては、生ずる研摩屑を除去する
ため、そして研摩時に発生する熱を除去するために、精
製水によりウエハ裏面を洗いながらウエハの裏面研摩処
理を行なっている。したがってウエハの裏面研摩処理を
行なうに際して、ウエハ表面に形成されたパターンを保
護するためにウエハ表面に貼着される保護シートは、耐
水性を有している必要がある。このような保護シートで
は、粘着剤として溶剤型アクリル系粘着剤が広く用いら
れてきた。By the way, when applying a polishing treatment to the back surface of a wafer having a pattern formed on the front surface, the back surface of the wafer is washed with purified water in order to remove the polishing dust generated and to remove the heat generated during polishing. Backside polishing processing is performed. Therefore, when the back surface polishing process is performed on the wafer, the protective sheet attached to the front surface of the wafer to protect the pattern formed on the front surface of the wafer needs to have water resistance. In such protective sheets, solvent-type acrylic pressure-sensitive adhesives have been widely used as pressure-sensitive adhesives.
このようにしてウエハ裏面の研摩処理が終了した後、保
護シートはウエハ表面から剥離されるが、この際どうし
てもパターンが形成されたウエハ表面にアクリル系など
の粘着剤が付着してしまうことがあった。このため、ウ
エハ表面に付着した粘着剤を除去する必要があった。After the polishing process on the back surface of the wafer is completed in this way, the protective sheet is peeled off from the wafer surface, but at this time, an adhesive such as an acrylic adhesive may inevitably adhere to the surface of the wafer on which the pattern is formed. It was For this reason, it is necessary to remove the adhesive attached to the wafer surface.
ウエハ表面に付着したアクリル系などの粘着剤の除去
は、従来、ウエハ表面を、トリクレンなどの含塩素系有
機溶剤で洗浄した後精製水で洗浄することによって行な
われてきた。ところがウエハ表面の洗浄に用いられるト
リクレンなどの含塩素溶剤は、人体に対して悪影響を与
えたり、火災が発生したりするという危険性が指摘され
ているため、その使用を控えることが望まれている。ま
た上記のようにウエハ表面の洗浄工程は、トリクレンな
どの有機溶剤で洗浄した後精製水で洗浄するという2つ
の工程からなっているため、手間がかかかるという問題
点があった。Conventionally, the removal of the acrylic-based adhesive agent adhering to the wafer surface has been performed by cleaning the wafer surface with a chlorine-containing organic solvent such as trichlene and then with purified water. However, it has been pointed out that chlorine-containing solvents such as trichlene used for cleaning the wafer surface may have a harmful effect on the human body or cause a fire. There is. Further, as described above, since the wafer surface cleaning step includes two steps of cleaning with an organic solvent such as trichlene and then cleaning with purified water, there is a problem that it takes time and labor.
このような問題点を解決するため、たとえば特開昭60−
189938号公報には、ウエハ研摩用保護シートとして、光
透過性基材の表面に、光照射により硬化し三次元網状化
する性質を有する感圧性接着剤層を設けてなる接着フィ
ルムが開示されている。In order to solve such a problem, for example, JP-A-60-
JP-A-189938 discloses an adhesive film as a protective sheet for polishing a wafer, which is provided with a pressure-sensitive adhesive layer having a property of being cured by light irradiation to be three-dimensionally reticulated on the surface of a light-transmitting substrate. There is.
ところがこのような接着フィルムを用いても、完全には
ウエハ面への粘着剤の付着を防止することはできないと
いう問題点があった。However, there is a problem that even if such an adhesive film is used, it is not possible to completely prevent the adhesion of the adhesive to the wafer surface.
また一方特開昭60−219750号公報には、パターンが形成
されたウエハ表面を水溶性樹脂膜で覆って、ウエハ裏面
を研摩する方法が開示されている。On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-219750 discloses a method of polishing the back surface of a wafer by covering the surface of the wafer on which a pattern is formed with a water-soluble resin film.
しかしながらこのような方法では、水溶性樹脂膜は、通
常、ポリビニルアルコール水溶液をウエハ表面に塗布
し、次いで乾燥することにより形成されているが、この
ポリビニルアルコール水溶液は水分を多量に含むため、
被膜を形成する際に、加熱に長時間を要するという問題
点があった。また、研摩作業中、ウエハ面を冷却のため
水を用いると、水溶性樹脂は溶出してしまうので、水を
使用することができず、フレオン(四弗化炭素)などの
有機溶剤系の冷却剤を用いなければならないという問題
点があった。However, in such a method, the water-soluble resin film is usually formed by applying a polyvinyl alcohol aqueous solution onto the wafer surface and then drying it. However, since this polyvinyl alcohol aqueous solution contains a large amount of water,
There has been a problem that it takes a long time for heating when forming the coating film. Also, if water is used to cool the wafer surface during polishing, the water-soluble resin will elute, so water cannot be used, and cooling of organic solvent systems such as Freon (carbon tetrafluoride) is not possible. There was a problem that the agent had to be used.
このため、トリクレンなど含塩素系有機溶剤に代わっ
て、精製水によってウエハ表面を洗浄してウエハ表面に
付着した粘着剤を除去することができれば、人体に対す
る危険性あるいは火災の発生という危険性もなく、しか
も1つの工程でウエハ表面の洗浄工程が終了しうるとい
う大きな効果が得られる。ところが上述のように、ウエ
ハ裏面の研摩工程は、ウエハ裏面を精製水により洗いな
がら行なっているため、もし保護シートの粘着剤として
従来から水溶性粘着剤として広く用いられる水溶性の粘
着剤を用いたのでは、上記の研摩工程中に粘着剤が溶解
してしまい、ウエハ表面と保護シートとの間にウエハの
研摩屑が入り込んで、ウエハ表面に形成されたパターン
が破壊されてしまうという問題点が生じてしまう。Therefore, if it is possible to clean the wafer surface with purified water and remove the adhesive agent adhering to the wafer surface in place of a chlorine-containing organic solvent such as trichlene, there is no danger to the human body or the risk of fire. Moreover, a great effect that the wafer surface cleaning process can be completed in one process is obtained. However, as mentioned above, since the wafer backside polishing process is performed while washing the wafer backside with purified water, if a water-soluble adhesive that has been widely used as a water-soluble adhesive has been used as an adhesive for the protective sheet. In this case, the adhesive is dissolved during the above polishing process, the polishing dust of the wafer enters between the wafer surface and the protective sheet, and the pattern formed on the wafer surface is destroyed. Will occur.
発明の目的 本発明は、上記のような従来技術に伴う問題点を一挙に
解決しようとするものであって、表面にパターンが形成
されたウエハの裏面を研摩処理する際に、ウエハ表面に
貼着される保護シートであって、研摩処理の終了後にウ
エハ表面に付着した粘着剤をトリクレンなどの有機溶剤
を用いずに水によって洗浄することによって除去するこ
とができ、したがって人体に悪影響を与える危険性がな
く、しかもウエハ表面に付着した粘着剤を1工程によっ
て除去することができるような粘着シートを提供するこ
とを目的としている。An object of the present invention is to solve the problems associated with the above-mentioned conventional techniques all at once, and when the back surface of a wafer having a pattern formed on the front surface is subjected to polishing treatment, the wafer is attached to the front surface of the wafer. A protective sheet to be attached, which can be removed by washing with water without using an organic solvent such as trichlene after the polishing process and removing the pressure-sensitive adhesive, which may have a harmful effect on the human body. It is an object of the present invention to provide a pressure-sensitive adhesive sheet having no property and capable of removing the pressure-sensitive adhesive attached to the wafer surface in one step.
発明の概要 本発明に係る第1のウエハ研摩用保護シートは、基材の
一面上に、(i)少なくともカルボキシル基の一部が部
分中和されたカルボキシル基含有親水性重合体の部分架
橋物と、(ii)アニオン性界面活性剤およびカチオン性
界面活性剤からなる群から選択される少なくとも1種の
室温で液状の界面活性剤とを含む粘着剤層が設けられて
なることを特徴としている。SUMMARY OF THE INVENTION A first wafer polishing protection sheet according to the present invention comprises, on one surface of a base material, (i) a partially crosslinked product of a hydrophilic polymer containing a carboxyl group in which at least a part of a carboxyl group is partially neutralized. And (ii) at least one surfactant selected from the group consisting of anionic surfactants and cationic surfactants, which is liquid at room temperature. .
また本発明に係る第2のウエハ研摩用保護シートは、基
材の一面上に、(i)少なくともカルボキシル基の一部
が部分中和されたカルボキシル基含有親水性重合体の部
分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性剤およびカチオ
ン性界面活性剤からなる群から選択される少なくとも1
種の室温で液状の界面活性剤と、(iii)非イオン性界
面活性剤とを含む粘着剤層が設けられてなることを特徴
としている。The second wafer polishing protection sheet according to the present invention has, on one surface of a base material, (i) a partially crosslinked product of a carboxyl group-containing hydrophilic polymer in which at least a part of carboxyl groups is partially neutralized, (Ii) at least one selected from the group consisting of anionic surfactants and cationic surfactants
It is characterized in that a pressure-sensitive adhesive layer containing a seed-type liquid surfactant at room temperature and (iii) a nonionic surfactant is provided.
さらに本発明に係る第1のウエハ面の研摩方法は、基材
の一面上に、(i)少なくともカルボキシル基の一部が
部分中和されたカルボキシル基含有親水性重合体の部分
架橋物と、(ii)アニオン性界面活性剤およびカチオン
性界面活性剤からなる群から選択される少なくとも1種
の室温で液状の界面活性剤とを含む粘着剤層が設けられ
てなるウエハ研摩用保護シートを、パターンが形成され
たウエハ表面に貼着し、次いで水をウエハ裏面に供給し
ながらウエハ裏面を研摩した後、ウエハ裏面から保護シ
ートを剥離することを特徴としている。Furthermore, the first wafer surface polishing method according to the present invention comprises: (i) a partially crosslinked product of a carboxyl group-containing hydrophilic polymer in which at least a part of the carboxyl groups is partially neutralized on one surface of the substrate; (Ii) A wafer polishing protective sheet provided with a pressure-sensitive adhesive layer containing at least one surfactant selected from the group consisting of anionic surfactants and cationic surfactants, which is liquid at room temperature, It is characterized in that it is adhered to the surface of the wafer on which the pattern is formed, and then the back surface of the wafer is polished while supplying water to the back surface of the wafer, and then the protective sheet is peeled off from the back surface of the wafer.
さらにまた、本発明に係る第2のウエハ面の研摩方法
は、基材の一面上に、(i)少なくともカルボキシル基
の一部が部分中和されたカルボキシル基含有水性重合体
の部分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性剤およびカ
チオン性界面活性剤からなる群から選択される少なくと
も1種の室温で液状の界面活性剤と(iii)非イオン性
界面活性剤とを含む粘着剤層が設けられてなるウエハ研
摩用保護シートを、パターンが形成されたウエハ表面に
貼着し、次いで水をウエハ裏面に供給しながらウエハ裏
面を研摩した後、ウエハ裏面から保護シートを剥離する
ことを特徴とている。Furthermore, the second method for polishing a wafer surface according to the present invention comprises: (i) a partially crosslinked product of a carboxyl group-containing aqueous polymer in which at least a part of the carboxyl groups is partially neutralized on one surface of the substrate; A pressure-sensitive adhesive layer containing at least one liquid surfactant at room temperature selected from the group consisting of (ii) anionic surfactants and cationic surfactants, and (iii) a nonionic surfactant. The wafer polishing protective sheet provided is attached to the wafer surface on which the pattern is formed, and then the wafer back surface is polished while water is supplied to the wafer back surface, and then the protection sheet is peeled from the wafer back surface. Is said.
発明の具体的説明 以下本発明に係るウエハ研摩用保護シートおよびこのシ
ートを用いたウエハ面の研摩方法について、具体的に説
明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The wafer polishing protective sheet according to the present invention and the wafer surface polishing method using the sheet will be specifically described below.
本発明に係るウエハ研摩用保護シート1は、その断面図
が第1図に示されるように、基材2とこの表面に塗着さ
れた粘着剤層3とからなっており、使用前にはこの粘着
剤層3を保護するため、第2図に示すように粘着剤3の
上面に剥離性シート4を仮接着しておくことが好まし
い。The wafer polishing protective sheet 1 according to the present invention comprises a base material 2 and a pressure-sensitive adhesive layer 3 applied to the surface thereof, as shown in the sectional view of FIG. In order to protect the pressure-sensitive adhesive layer 3, it is preferable to temporarily adhere a peelable sheet 4 to the upper surface of the pressure-sensitive adhesive 3 as shown in FIG.
本発明に係るウエハ研摩用保護シートは、テープ状、ラ
ベル状などあらゆる形状をとりうる。基材2としては、
耐水性および耐熱性に優れているものが適し、特に合成
樹脂フィルムが適する。The wafer polishing protection sheet according to the present invention may have any shape such as a tape shape and a label shape. As the base material 2,
Those having excellent water resistance and heat resistance are suitable, and synthetic resin films are particularly suitable.
このような基材2としては、具体的に、ポリエチレンフ
ィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリ塩化ビニルフィ
ルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリブチ
レンテレフタレートフィルム、ポリブテンフィルム、ポ
リブタジエンフィルム、ポリウレタンフィルム、ポリメ
チルペンテンフィルム、エチレン酢ビフィルムなどが用
いられる。また基材2として、架橋ポリオレフィンある
いはエチレン−メタクリル酸共重合体フィルムを用いる
こともできる。さらにフィルム硬度を調整する目的で、
例えばポリエチレンテレフタレートフィルムとポリブタ
ジエンフィルムとをラミネートしたものを用いてもよ
く、前述のフィルムを発泡処理したものをもちいてもよ
い。Specific examples of the substrate 2 include polyethylene film, polypropylene film, polyvinyl chloride film, polyethylene terephthalate film, polybutylene terephthalate film, polybutene film, polybutadiene film, polyurethane film, polymethylpentene film, ethylene vinyl acetate film. Are used. Further, as the base material 2, a crosslinked polyolefin or an ethylene-methacrylic acid copolymer film can be used. Furthermore, for the purpose of adjusting the film hardness,
For example, a laminate of a polyethylene terephthalate film and a polybutadiene film may be used, or a foamed product of the above film may be used.
このような基材2の厚みは、10〜500μm程度であるこ
とが好ましい。The thickness of such a base material 2 is preferably about 10 to 500 μm.
本発明では、上記のような基材の一面上に、粘着剤層3
として、以下のような成分を含有する粘着剤層3が塗布
されている。In the present invention, the pressure-sensitive adhesive layer 3 is formed on one surface of the base material as described above.
As the above, the pressure-sensitive adhesive layer 3 containing the following components is applied.
すなわち、本発明で用いられる粘着剤層3は、(i)少
なくともカルボキシル基の一部が部分中和されたカルボ
キシル基含有親水性重合体の部分架橋物と、(ii)アニ
オン性界面活性剤およびカチオン性界面活性剤からなる
群から選択される少なくとも1種の室温で液状の界面活
性剤とを含んでいる。That is, the pressure-sensitive adhesive layer 3 used in the present invention comprises (i) a partially crosslinked product of a carboxyl group-containing hydrophilic polymer in which at least a part of carboxyl groups is partially neutralized, and (ii) an anionic surfactant and At least one surfactant selected from the group consisting of cationic surfactants, which is liquid at room temperature.
(i)少なくともカルボキシル基の一部が部分中和され
たカルボキシル基含有親水性重合体の部分架橋物は、カ
ルボキシル基含有親水性重合体のカルボキシル基の少な
くとも一部を部分中和するとともに、カルボキシル基含
有親水性重合体を架橋剤により部分架橋することにより
得られるが、カルボキシル基含有親水性重合体として
は、カルボキシル基を含有する単量体(A)とビニル系
単量体(B)との共重合体が好ましく用いられる。(I) The partially crosslinked product of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer in which at least a part of the carboxyl group is partially neutralized is a carboxyl group-containing hydrophilic polymer that partially neutralizes at least a part of the carboxyl group and It can be obtained by partially crosslinking a group-containing hydrophilic polymer with a crosslinking agent. The carboxyl group-containing hydrophilic polymer includes a carboxyl group-containing monomer (A) and a vinyl monomer (B). The copolymer of is preferably used.
カルボキシル基を含有する単量体(A)としては、具体
的には、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、イタ
コン酸、マレイン酸、フマル酸、モノアルキルイタコン
酸、モノアルキルマレイン酸、モノアルキルフマル酸な
どが用いられる。Specific examples of the monomer (A) containing a carboxyl group include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, itaconic acid, maleic acid, fumaric acid, monoalkyl itaconic acid, monoalkyl maleic acid, monoalkyl fumaric acid. Acid or the like is used.
またビニル系単量体(B)としては、ビニルエステル、
アクリル酸エステル、メタクリル酸エステル、アクリル
酸アルコキシアルキルエステル、メタクリル酸アルコキ
シアルキルエステル、エチレン、スチレン、メチルビニ
ルエーテル、塩化ビニル、アクリロニトリル、アクリル
酸ヒドロキシアルキルエステル、メタクリル酸ヒドロキ
シアルキルエステルなどの1種または2種以上が用いら
れる。As the vinyl-based monomer (B), vinyl ester,
One or two kinds of acrylic acid ester, methacrylic acid ester, acrylic acid alkoxyalkyl ester, methacrylic acid alkoxyalkyl ester, ethylene, styrene, methyl vinyl ether, vinyl chloride, acrylonitrile, acrylic acid hydroxyalkyl ester, methacrylic acid hydroxyalkyl ester, etc. The above is used.
場合によっては、カルボキシル基含有親水性重合体とし
て、上記のようなカルボキシル基を含有する単量体
(A)と、ビニル系単量体(B)と、N−メチロールア
クリルアミド、アルコキシメチルアクリルアミド、ジメ
チルアミノエチルメタクリレート、ダイアセトンアクリ
ルアミド、N−ブチルアクリルアミド、アクリルアミ
ド、メタクリルアミド、含リン酸基含有単量体、グリシ
ジルメタクリレート等のエポキシ基含有単量体などの官
能性単量体、および(少量の)ジビニルベンゼン、ジア
リルフタレート、ジアリルマレート、トリアリルイソシ
アヌレートなどの多官能性単量体(C)との共重合体を
用いることもできる。In some cases, as the carboxyl group-containing hydrophilic polymer, the above-mentioned carboxyl group-containing monomer (A), vinyl monomer (B), N-methylol acrylamide, alkoxymethyl acrylamide, dimethyl Functional monomers such as aminoethyl methacrylate, diacetone acrylamide, N-butyl acrylamide, acrylamide, methacrylamide, phosphoric acid group-containing monomers, epoxy group-containing monomers such as glycidyl methacrylate, and (a small amount) It is also possible to use a copolymer with a polyfunctional monomer (C) such as divinylbenzene, diallyl phthalate, diallyl malate or triallyl isocyanurate.
本発明に係るカルボキシル基含有親水性重合体は、塊状
重合、溶液重合、乳化重合などの公知の重合方法によっ
て製造することができる。The carboxyl group-containing hydrophilic polymer according to the present invention can be produced by a known polymerization method such as bulk polymerization, solution polymerization or emulsion polymerization.
また場合によっては、本発明に係るカルボキシル基含有
親水性重合体は、不飽和カルボン酸エステルの単独重合
体、または不飽和カルボン酸エステルとカルボキシル基
を含まない単量体との共重合体を部分ケン化して、重合
体中にカルボキシル基を導入することによっても製造す
ることができる。Also, in some cases, the carboxyl group-containing hydrophilic polymer according to the present invention is a homopolymer of an unsaturated carboxylic acid ester, or a copolymer of an unsaturated carboxylic acid ester and a monomer not containing a carboxyl group. It can also be produced by saponification and introducing a carboxyl group into the polymer.
このようなカルボキシル基含有親水性重合体は、カルボ
キシル基を含有する単量体(A)を、1〜60モル%の量
を含むことが好ましい。またこのカルボキシル基含有親
水性重合体のガラス転移温度は室温以下であることが好
ましい。Such a carboxyl group-containing hydrophilic polymer preferably contains the carboxyl group-containing monomer (A) in an amount of 1 to 60 mol%. The glass transition temperature of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer is preferably room temperature or lower.
前記カルボキシル基含有親水性重合体を部分架橋させる
ために用いられる架橋剤としては、分子内にグリシジル
基を含む化合物、たとえばネオペンチルグリコールジグ
リシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジ
ルエーテル、ビスフェノールAジグリシジルエーテル、
ビスフェノールFジグリシジルエーテル、フタル酸ジグ
リシジルエステル、ダイマー酸ジグリシジルエーテル、
トリグリシジルイソシアヌレート、ジグリセロールトリ
グリシジルエーテル、ソルビトールテトラグリシジルエ
ーテルなどのエポキシ系架橋剤、分子内にイソシアネー
ト基を含む化合物、たとえばトリデンジイソシアネー
ト、ジフェニルメタンジイソシアネートなどのイソシア
ネート系架橋剤、メラミン、フェノールなどのメチロー
ル系架橋剤、キレート系架橋剤あるいはアジリジン系架
橋剤などが用いられる。As the cross-linking agent used for partially cross-linking the carboxyl group-containing hydrophilic polymer, a compound containing a glycidyl group in the molecule, for example, neopentyl glycol diglycidyl ether, polyethylene glycol diglycidyl ether, bisphenol A diglycidyl ether,
Bisphenol F diglycidyl ether, phthalic acid diglycidyl ester, dimer acid diglycidyl ether,
Epoxy cross-linking agents such as triglycidyl isocyanurate, diglycerol triglycidyl ether, sorbitol tetraglycidyl ether, compounds containing an isocyanate group in the molecule, for example, tridendiisocyanate, isocyanate cross-linking agents such as diphenylmethane diisocyanate, melamine, phenol and the like. A methylol-based crosslinking agent, a chelate-based crosslinking agent, an aziridine-based crosslinking agent, or the like is used.
本発明において、カルボキシル基含有親水性重合体を架
橋剤で部分架橋することにより、得られる親水性粘着剤
の剥離強度を適当な強さに調節することができる。した
がってその使用量が少な過ぎると、カルボキシル基含有
親水性重合体の架橋度が低いため、剥離強度が強すぎて
好ましくなく、多過ぎるとカルボキシル基がほとんど反
応し、親水性重合体の親水性が損なわれて好ましくな
い。In the present invention, by partially crosslinking the carboxyl group-containing hydrophilic polymer with a crosslinking agent, the peel strength of the resulting hydrophilic pressure-sensitive adhesive can be adjusted to an appropriate level. Therefore, if the amount used is too small, since the degree of crosslinking of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer is low, peel strength is too strong, which is not preferable, and if too much, the carboxyl groups almost react, and the hydrophilicity of the hydrophilic polymer is high. Damaged and not preferable.
また本発明に係るカルボキシル基含有親水性重合体のカ
ルボキシル基の少なくとも一部を部分中和するには、カ
ルボキシル基含有水性性重合体と塩基とを反応させれば
よいが、この際用いられる塩基としては、アンモニア、
アルカリ性を示すアンモニウム塩およびモノエチルアミ
ン、モノエタノールアミンなどの1級アミン、ジエチル
アミン、ジエタノールアミンなどの2級アミン、トリエ
チルアミン、トリエタノールアミンなどの3級アミン、
ジアミン、ポリエチレンイミンなどの1分子中に複数の
Nを有するアミノ化合物、ピリジンなどの環式アミノ化
合物などのごときアルカリ性を示す有機アミノ化合物が
用いられる。Further, in order to partially neutralize at least a part of the carboxyl groups of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer according to the present invention, it is sufficient to react the carboxyl group-containing aqueous polymer with a base. As ammonia,
Alkali ammonium salts and primary amines such as monoethylamine and monoethanolamine, secondary amines such as diethylamine and diethanolamine, tertiary amines such as triethylamine and triethanolamine,
An organic amino compound having alkalinity such as an amino compound having a plurality of Ns in one molecule such as diamine and polyethyleneimine and a cyclic amino compound such as pyridine is used.
また少量ならば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、ア
ルカリ性を示すナトリウム塩、カリウム塩なども使用で
きる。In addition, if the amount is small, sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium salts showing an alkalinity, potassium salts and the like can be used.
さらにまたカチオン性界面活性剤を使用する場合は、こ
のカチオン性界面活性剤が塩基として働き、カルボキシ
ル基含有親水性重合体がカチオン性界面活性剤により中
和されうる。従って界面活性剤として、カチオン性界面
活性剤を用いる場合には、カルボキシル基含有親水性重
合体を中和するための塩基は、所望により使用されるこ
とになる。Furthermore, when a cationic surfactant is used, this cationic surfactant acts as a base and the carboxyl group-containing hydrophilic polymer can be neutralized by the cationic surfactant. Therefore, when a cationic surfactant is used as the surfactant, a base for neutralizing the carboxyl group-containing hydrophilic polymer is optionally used.
本発明に係る粘着剤層3中で用いられる室温で液状の界
面活性剤は、アニオン性界面活性剤およびカチオン性界
面活性剤からなる群から選択されるが、具体的には、ア
ニオン性界面活性剤としてはポリオキシエチレンアルキ
ルエーテルの硫酸エステルおよびその塩、ポリオキシエ
チレンアルキルフェニルエーテルの硫酸エステルおよび
その塩、ポリオキシエチレンアルキルエーテルのリン酸
エステルおよびその塩、ポリオキシエチレンアルキルフ
ェニルエーテルのリン酸エステルおよびその塩などのう
ち室温で液状のものが用いられる。The room-temperature liquid surfactant used in the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to the present invention is selected from the group consisting of anionic surfactants and cationic surfactants. As the agent, polyoxyethylene alkyl ether sulfuric acid ester and its salt, polyoxyethylene alkylphenyl ether sulfuric acid ester and its salt, polyoxyethylene alkyl ether phosphoric acid ester and its salt, polyoxyethylene alkylphenyl ether phosphoric acid Among the esters and salts thereof, those which are liquid at room temperature are used.
またカチオン性界面活性剤としては、酸化エチレン付加
型アルキルアミン、酸化エチレン付加型アルキルジアミ
ン、たとえば酸化エチレン付加型アルキルトリメチレン
ジアミン、酸化エチレン付加型アルキル第4級アンモニ
ウム塩などのカチオン性界面活性剤のうち室温で液状の
ものが用いられる。また上記のようなアニオン性界面活
性剤またはカチオン性界面活性剤は単独であるいは2種
以上混合して用いることができる。As the cationic surfactant, a cationic surfactant such as an ethylene oxide-addition type alkylamine or an ethylene oxide-addition type alkyldiamine, for example, an ethylene oxide-addition type alkyltrimethylenediamine or an ethylene oxide-addition type alkyl quaternary ammonium salt is used. Of these, those that are liquid at room temperature are used. The above-mentioned anionic surfactants or cationic surfactants can be used alone or in admixture of two or more.
また本発明に係る粘着剤層3中には、上記のようなアニ
オン性界面活性剤またはカチオン性界面活性剤に加え
て、常温で液状の非イオン性界面活性剤を併用すること
もできる。Further, in the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to the present invention, in addition to the anionic surfactant or the cationic surfactant as described above, a nonionic surfactant which is liquid at room temperature can be used together.
この非イオン性界面活性剤は、使用する量によって、粘
着剤層3からブリードしてきてウエハ面を汚染すること
があり、ウエハ面が汚染されると水洗に多量の水を必要
とするので、ブリードしない量の使用が好ましい。その
使用量は、非イオン性界面活性剤の種類によって異なる
が、例えばカルボキシル基含有親水性重合体100重量部
に対して、30重量部以下の量が適当である。Depending on the amount used, this nonionic surfactant may bleed from the pressure-sensitive adhesive layer 3 and contaminate the wafer surface. If the wafer surface is contaminated, a large amount of water is required for washing. It is preferred to use an amount that does not. The amount used varies depending on the type of the nonionic surfactant, but for example, an amount of 30 parts by weight or less is suitable for 100 parts by weight of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer.
非イオン性界面活性剤としては、具体的には、ポリオキ
シエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレン脂肪
酸エステル、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル、ポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテ
ル、ポリオキシエチレンとポリオキシプロピレンのブロ
ック共重合体などを用いることができる。Specific examples of the nonionic surfactant include polyoxyethylene alkyl ethers, polyoxyethylene fatty acid esters, polyoxyethylene alkyl phenyl ethers, polyoxyethylene styrenated phenyl ethers, polyoxyethylene and polyoxypropylene blocks. A copolymer or the like can be used.
上記のような界面活性剤は、粘着剤層3中でカルボキシ
ル基含有親水性重合体に吸着されて錯合化して、粘着剤
層3に粘着性を付与する働きをしているのであろうと推
測され、界面活性剤の量が少なすぎると粘着性がえられ
ず、一方、多すぎると研摩中に水と接触して流出してし
まうため好ましくない。It is presumed that the surfactant as described above may have a function of being adsorbed to the carboxyl group-containing hydrophilic polymer in the pressure-sensitive adhesive layer 3 to form a complex, thereby giving the pressure-sensitive adhesive layer 3 tackiness. However, if the amount of the surfactant is too small, the tackiness cannot be obtained. On the other hand, if the amount is too large, it comes in contact with water and flows out during polishing, which is not preferable.
したがって、界面活性剤は、通常、カルボキシル基含有
親水性重合体100重量部に対して、10〜500重量部好まし
くは20〜150重量部の量で用いられる。Therefore, the surfactant is usually used in an amount of 10 to 500 parts by weight, preferably 20 to 150 parts by weight, based on 100 parts by weight of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer.
なお、本発明に係る粘着剤層3中には、必要に応じて、
水溶性多価アルコールなどの親水性可塑剤、粘着付与性
樹脂、水溶性高分子、顔料、染料、消泡剤、防腐剤など
を添加することもできる。In the pressure-sensitive adhesive layer 3 according to the present invention, if necessary,
A hydrophilic plasticizer such as a water-soluble polyhydric alcohol, a tackifying resin, a water-soluble polymer, a pigment, a dye, a defoaming agent, a preservative and the like can be added.
上記のような成分を含有する粘着剤層3を基材2の表面
上に設けるには、カルボキシル基含有親水性重合体と、
界面活性剤と、溶媒と、架橋剤と、必要に応じて塩基と
を含む粘着剤層形成用塗布液を調製し、この塗布液を基
材2に塗布した後加熱して乾燥すると、カルボキシル基
含有親水性重合体のカルボキシル基の少なくとも一部が
部分中和されるとともに、該重合体が部分架橋されて、
粘着剤層3が形成される。To provide the pressure-sensitive adhesive layer 3 containing the above components on the surface of the substrate 2, a hydrophilic polymer containing a carboxyl group,
When a coating liquid for forming a pressure-sensitive adhesive layer containing a surfactant, a solvent, a cross-linking agent, and optionally a base is prepared, and the coating liquid is applied to the substrate 2 and then heated and dried, a carboxyl group is formed. At least a part of the carboxyl group of the containing hydrophilic polymer is partially neutralized, and the polymer is partially crosslinked,
The adhesive layer 3 is formed.
粘着剤層3を基材2上に形成する際に用いられる溶媒と
しては、水、あるいはメタノール、エタノール、イソプ
ロパノール、アセトン、メチルエチルケトン、エチルエ
ーテルなどの親水性溶媒の1種以上が好ましく用いられ
る。また、酢酸エチル、トルエンなどの疎水性溶媒も、
所望により、上記のような親水性溶媒に加えて混合溶媒
として使用することができる。As the solvent used when the pressure-sensitive adhesive layer 3 is formed on the substrate 2, water or one or more hydrophilic solvents such as methanol, ethanol, isopropanol, acetone, methyl ethyl ketone and ethyl ether are preferably used. In addition, hydrophobic solvents such as ethyl acetate and toluene,
If desired, it can be used as a mixed solvent in addition to the hydrophilic solvent as described above.
上記のような各成分を含む粘着剤は、水と接触した場合
に膨潤して優れた水封性を示し、粘着剤層とウエハ表面
との間にウエハ研摩屑が入り込むことがなく、ウエハ表
面に形成されたパターンを充分に保護することができ
る。しかも研摩終了後には、ウエハ粘着剤層から容易に
剥離することができ、このため剥離時にウエハが破損す
ることもなく、その上ウエハ表面に粘着剤がたとえ付着
したとしても容易に水で洗い落すことができる。The pressure-sensitive adhesive containing each component as described above swells when contacted with water and exhibits excellent water-sealing property, and wafer polishing dust does not enter between the pressure-sensitive adhesive layer and the wafer surface. The pattern formed in can be sufficiently protected. Moreover, after polishing, it can be easily peeled off from the wafer adhesive layer, so the wafer will not be damaged during peeling, and even if the adhesive adheres to the wafer surface, it can be easily washed off with water. be able to.
次に本発明に係るウエハ研摩用保護シート1を用いたウ
エハ裏面の研摩方法について説明する。Next, a method for polishing the back surface of the wafer using the wafer polishing protection sheet 1 according to the present invention will be described.
本発明に係るウエハ研摩用保護シート1の上面に剥離性
シート4が設けられている場合には、該シート4を除去
し、次いでこの粘着剤層3に、裏面に研摩処理をすべき
ウエハAを貼着する。この際粘着剤層3上に、第3図に
示すようにパターン5が形成されたウエハ表面が接する
ようにして貼着する。When the peelable sheet 4 is provided on the upper surface of the wafer polishing protective sheet 1 according to the present invention, the peelable sheet 4 is removed, and then the adhesive layer 3 is subjected to polishing treatment on the back surface of the wafer A. Affix. At this time, it is adhered onto the adhesive layer 3 so that the wafer surface on which the pattern 5 is formed is in contact with the adhesive layer 3 as shown in FIG.
このような状態で、ウエハ裏面6をグラインダー7など
によって研摩して、ウエハ裏面6に形成された酸化物被
膜などを除去するととともに、ウエハAの厚みを所望の
厚さに調節する。この際精製水をウエハAに吹き付ける
などしてウエハ研摩屑を洗い去るとともに、研摩時に発
生する熱を除去する。In such a state, the back surface 6 of the wafer is polished by a grinder 7 or the like to remove the oxide film and the like formed on the back surface 6 of the wafer, and the thickness of the wafer A is adjusted to a desired thickness. At this time, purified water is sprayed onto the wafer A to wash away the wafer polishing dust and remove the heat generated during polishing.
次に研摩が終了した後に、ウエハAから保護シート1を
剥離する。この際ウエハAのパターン5が形成された表
面に、粘着剤などが付着することもある。この付着した
粘着剤Bは、精製水Cで簡単に洗い去ることができる。Next, after the polishing is completed, the protective sheet 1 is peeled off from the wafer A. At this time, an adhesive or the like may adhere to the surface of the wafer A on which the pattern 5 is formed. The adhered adhesive B can be easily washed off with purified water C.
このように本発明に係るウエハ研摩用保護シート1で
は、粘着剤として特定の成分を含有する粘着剤が用いら
れているため、たとえばウエハ表面に粘着剤が付着して
も、該粘着剤をトリクレンなどの有機溶剤を用いずに精
製水によって洗浄することによって除去することがで
き、したがって、人体に悪影響を与えたり、火災が発生
したりするという危険性が全くない。しかも従来では、
粘着剤が付着したウエハ表面をトリクレンなどの有機溶
剤で洗浄した後精製水で洗浄するという2工程が必要で
あったが、本発明では、粘着剤が付着したウエハ表面を
精製水でたとえば超音波洗浄装置などを用いて洗浄すれ
ばよいため、洗浄を1工程で行なうことができる。As described above, in the wafer polishing protection sheet 1 according to the present invention, since the pressure-sensitive adhesive containing the specific component is used as the pressure-sensitive adhesive, even if the pressure-sensitive adhesive is attached to the wafer surface, the pressure-sensitive adhesive is triclenized. It can be removed by washing with purified water without using an organic solvent such as, and therefore, there is no risk of adversely affecting the human body or causing a fire. Moreover, in the past,
Although two steps of cleaning the surface of the wafer having the adhesive attached thereto with an organic solvent such as trichlene and then with purified water are necessary, in the present invention, the surface of the wafer having the adhesive attached is purified water, for example, ultrasonic waves. Since the cleaning may be performed using a cleaning device or the like, the cleaning can be performed in one step.
また本発明に係るウエハ研摩用保護シート1は、ウエハ
A裏面の研摩時にはウエハAと充分な接着力を有して貼
着されているため、ウエハ表面と粘着シートとの間にウ
エハ研摩屑が入り込んでウエハ表面に形成されたパター
ンが破壊されることがない。Further, since the wafer polishing protection sheet 1 according to the present invention is adhered to the wafer A with sufficient adhesive force when polishing the back surface of the wafer A, wafer polishing dust is generated between the wafer surface and the adhesive sheet. The pattern formed on the surface of the wafer does not get destroyed.
以下本発明を実施例により説明するが、本発明はこれら
実施例に限定されるものではない。The present invention will be described below with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
実施例1 a)乳化重合法により得たアクリル酸ブチル/メタクリ
ル酸メチル/メタクリル酸(50/30/20重量%)のカルボ
キシル基含有親水性重合体水性乳化液(ポリマー濃度42
重量%)28重量部、室温で液体のポリオキシエチレンア
ルキルフェニルエーテルフォスフェート系アニオン界面
活性剤4重量部、イソプロピルアルコール80重量部、お
よびトリエタノールアミン6重量部を混合し、4時間攪
拌して粘度的4,000cpの混合液を調整した。Example 1 a) Carboxyl group-containing hydrophilic polymer aqueous emulsion of butyl acrylate / methyl methacrylate / methacrylic acid (50/30/20 wt%) obtained by emulsion polymerization (polymer concentration 42
% By weight), 4 parts by weight of a polyoxyethylene alkylphenyl ether phosphate-based anionic surfactant which is liquid at room temperature, 80 parts by weight of isopropyl alcohol, and 6 parts by weight of triethanolamine are mixed and stirred for 4 hours. A viscous 4,000 cp mixture was prepared.
b)次にソルビトールポリグリシジルエーテル(エポキ
シ当量170)0.9重量部を加え、攪拌した後、ポリエチレ
ンテレフタレートフィルムに乾燥塗布厚が約30μmにな
るように塗工しした。続いて80℃で4分間、熱風循環乾
燥して粘着剤層を形成した後、フィルム型セパレーター
を粘着面に貼着し、1週間養生して本発明に使用する保
護シートを作成した。b) Next, 0.9 part by weight of sorbitol polyglycidyl ether (epoxy equivalent 170) was added, stirred, and then coated on a polyethylene terephthalate film so that the dry coating thickness was about 30 μm. Then, after hot air circulation drying at 80 ° C. for 4 minutes to form a pressure-sensitive adhesive layer, a film-type separator was attached to the pressure-sensitive adhesive surface and cured for 1 week to prepare a protective sheet used in the present invention.
c)この保護シートを直径5インチの大きさで厚みが0.
5mmの半導体ウエハ表面に、荷重1kgの加圧ロールを用い
て貼着した。この試料をウエハ裏面が上となるようにグ
ラインド装置に正確に固定し、水圧30kg/cm2の水噴霧下
で5分間研摩したところ研摩時に保護シートが剥離する
ことなく、またウエハが割れたりすることなく、ウエハ
の表面も傷付くこともなかった。(研摩性)d)次に強
粘着フィルムを保護シートに貼り付け保護シートをウエ
ハから剥離したところ、剥離は極めて容易に行なえ、ウ
エハを破損することもなかった。(剥離性) e)ウエハ表面には感圧接着剤組成物による汚染がわず
かに認められたが、純水による超音波洗浄を行ったとこ
ろ容易に除去され、ウエハ表面への残留物は全く認めら
れなかった。(水洗性) 実施例2 a)実施例1で使用したカルボキシル基含有親水性重合
体の水性乳化液28重量部、室温で液状の酸化エチレン付
加ヤシ型アミンのカチオン界面活性剤8重量部、イソプ
ロピルアルコール80重量部を混合し、44時間攪拌して混
合液を調整した。c) This protective sheet has a diameter of 5 inches and a thickness of 0.
It was attached to the surface of a 5 mm semiconductor wafer using a pressure roll with a load of 1 kg. This sample was accurately fixed to the grind device so that the back surface of the wafer was facing up, and was abraded for 5 minutes under water spray with a water pressure of 30 kg / cm 2 , the protective sheet did not peel off during abrading, and the wafer cracked. Without any damage, the surface of the wafer was not damaged. (Abrasivity) d) Next, when the strong adhesive film was attached to the protective sheet and the protective sheet was peeled from the wafer, the peeling was extremely easy and the wafer was not damaged. (Peelability) e) Slight contamination of the pressure-sensitive adhesive composition was observed on the wafer surface, but it was easily removed by ultrasonic cleaning with pure water, and no residue was observed on the wafer surface. I couldn't do it. (Washability) Example 2 a) 28 parts by weight of an aqueous emulsion of the carboxyl group-containing hydrophilic polymer used in Example 1, 8 parts by weight of a cationic surfactant of ethylene oxide-added coconut amine liquid at room temperature, isopropyl 80 parts by weight of alcohol was mixed and stirred for 44 hours to prepare a mixed solution.
次に実施例1、b)と同様な方法で保護シートを作成
し、c)、d)、e)と同様に研摩性、剥離性、水洗性
を調べたところ、研摩性、剥離性、水洗性は実施例1と
同様に良好であった。Next, a protective sheet was prepared in the same manner as in Example 1, b), and the abrasiveness, releasability and washability were examined in the same manner as in c), d) and e). The property was good as in Example 1.
実施例3〜8 実施例1に準じ、表1の組成で混合液を作製した後、保
護シートを作成し、実施例1と同様に研摩性、剥離性、
水洗性を調べた。その結果、いずれも研摩性、剥離性、
水洗性は実施例1と同様良好であった。Examples 3 to 8 According to the same manner as in Example 1, a mixed solution having the composition shown in Table 1 was prepared, and then a protective sheet was prepared.
The washability was examined. As a result, in all cases,
The water washability was good as in Example 1.
比較例1 実施例1において、使用した架橋剤ソルビトールポリグ
リシジルエーテルの全量が親水性重合体のカルボキシル
基と反応したとして、残ったカルボキシル基とほぼ同量
になるように、表1の組成でカルボキシル基含有親水性
重合体(ポリマー濃度42重量%)を乳化重合し、実施例
1のa)と同様な方法で混合液を調整した。Comparative Example 1 In Example 1, the composition of Table 1 was adjusted so that the total amount of the cross-linking agent, sorbitol polyglycidyl ether used, reacted with the carboxyl groups of the hydrophilic polymer, and the amount of the remaining carboxyl groups was almost the same. A group-containing hydrophilic polymer (polymer concentration 42% by weight) was emulsion polymerized, and a mixed solution was prepared in the same manner as in Example 1, a).
次に架橋剤を使用しない実施例1と同様に保護シートを
作成し、研摩性、剥離性、水洗性を調べたところ、問題
なく研摩は行えたが、次に、ウエハ表面から剥離しよう
と試みたが、接着力が強過ぎるため、剥離させることが
できなかったので、むりに剥離しようとしたところ、ウ
エハが破損してしまった。Next, a protective sheet was prepared in the same manner as in Example 1 in which no cross-linking agent was used, and the polishing property, peeling property, and water washability were examined. As a result, polishing could be performed without any problems. However, since the adhesive strength was too strong to peel off, the wafer was damaged when I tried to peel it off.
比較例2 実施例3のアニオン界面活性剤とカチオン界面活性剤を
ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル系ノニオン
界面活性剤(HLB13.7)に変えた以外、実施例3に同じ
組成の混合液を調製し、同様な方法で保護シートを作成
した。Comparative Example 2 A mixed solution having the same composition as in Example 3 was prepared, except that the polyoxyethylene nonylphenyl ether nonionic surfactant (HLB13.7) was used as the anionic surfactant and the cationic surfactant of Example 3. A protective sheet was prepared in the same manner.
この保護シートの研摩性、剥離性、水洗性を実施例3と
同様にして調べたところ、問題なく研摩と剥離は行えた
が、界面活性剤のブリードによるウエハ表面への汚染が
著しく、純水による超音波洗浄により残留物は完全に除
去できたが、洗浄に長時間必要とした。When the abrasiveness, peelability and water washability of this protective sheet were examined in the same manner as in Example 3, polishing and peeling could be carried out without problems, but contamination of the wafer surface due to bleeding of the surfactant was remarkable and pure water was used. Although the residue could be completely removed by ultrasonic cleaning with, it took a long time for cleaning.
比較例3 トルエン/酢酸エチルが主溶媒であるアクリル酸ブチル
/酢酸ビニル/アクリル酸共重合体(ポリマー濃度30重
量%)100重量部に、イソシアネート系硬化剤10重量部
を加え、実施例1と同様にして保護シートを作成した。Comparative Example 3 To 100 parts by weight of a butyl acrylate / vinyl acetate / acrylic acid copolymer (toluene / ethyl acetate as a main solvent) (polymer concentration 30% by weight), 10 parts by weight of an isocyanate-based curing agent was added to prepare Example 1 and A protective sheet was prepared in the same manner.
この保護シートの研摩性、剥離性、水洗性を実施例1と
同様調べたところ、問題なく研摩と剥離は行えたが、ウ
エハ表面に感圧接着剤組成物による汚染がわずかに認め
られたので、純水による超音波洗浄を行ったが、残留物
をなかなか除去できなかった。When the polishing property, peeling property, and water washing property of this protective sheet were examined in the same manner as in Example 1, polishing and peeling could be performed without problems, but slight contamination by the pressure-sensitive adhesive composition was observed on the wafer surface. Ultrasonic cleaning with pure water was performed, but the residue could not be easily removed.
第1図および第2図は、本発明に係る研摩用保護シート
の断面図であり、第3図および第4図は本発明に係る研
摩用保護シートを用いてウエハ裏面を研摩する際の説明
図である。 1……研摩用保護シート、2……基材 3……粘着剤層、A……ウエハ B……残留粘着剤、C……水1 and 2 are cross-sectional views of a polishing protection sheet according to the present invention, and FIGS. 3 and 4 are explanations when polishing the back surface of a wafer using the polishing protection sheet according to the present invention. It is a figure. 1 ... Abrasive protective sheet, 2 ... Base material 3 ... Adhesive layer, A ... Wafer B ... Residual adhesive, C ... Water
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 成田 博昭 埼玉県北葛飾郡吉川町吉川団地1丁目1番 502号 (72)発明者 田口 克久 埼玉県蕨市中央2丁目14番18号 (72)発明者 明田 好孝 埼玉県浦和市辻7丁目7番3号 (72)発明者 斉藤 隆則 埼玉県大宮市上小町318−310 (56)参考文献 特開 昭62−101678(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hiroaki Narita 1-1502 Yoshikawa housing complex, Yoshikawa-cho, Kita-Katsushika-gun, Saitama Prefecture (72) Inventor Katsuhisa Taguchi 2-14-18 Chuo, Warabi-shi, Saitama Invention Author Yoshitaka Akida 7-3 Tsuji, Urawa City, Saitama Prefecture (72) Inventor Takanori Saito 318-310, Kamikomachi, Omiya City, Saitama Prefecture (56) References JP 62-101678 (JP, A)
Claims (4)
キシル基の一部が部分中和されたカルボキシル基含有親
水性重合体の部分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性
剤およびカチオン性界面活性剤からなる群から選択され
る少なくとも1種の室温で液状の界面活性剤とを含む粘
着剤層が設けられてなるウエハ研摩用保護シート。1. A partially crosslinked product of a hydrophilic polymer containing a carboxyl group in which at least a part of a carboxyl group is partially neutralized, and (ii) an anionic surfactant and a cation on one surface of a substrate. A protective sheet for wafer polishing, which is provided with an adhesive layer containing at least one liquid surfactant at room temperature selected from the group consisting of organic surfactants.
キシル基の一部が部分中和されたカルボキシル基含有親
水性重合体の部分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性
剤およびカチオン性界面活性剤からなる群から選択され
る少なくとも1種の室温で液状の界面活性剤と(iii)
非イオン界面活性剤とを含む粘着剤層が設けられてなる
ウエハ研摩用保護シート。2. A partially crosslinked product of a carboxyl group-containing hydrophilic polymer in which at least a part of carboxyl groups is partially neutralized, and (ii) an anionic surfactant and a cation on one surface of a substrate. At least one liquid surfactant at room temperature selected from the group consisting of organic surfactants (iii)
A wafer polishing protection sheet provided with a pressure-sensitive adhesive layer containing a nonionic surfactant.
キシル基の一部が部分中和されたカルボキシル基含有親
水性重合体の部分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性
剤およびカチオン性界面活性剤からなる群から選択され
る少なくとも1種の室温で液状の界面活性剤とを含む粘
着剤層が設けられてなるウエハ研摩用保護シートを、パ
ターンが形成されたウエハ表面に貼着し、次いで水をウ
エハ裏面に供給しながらウエハ裏面を研摩した後、ウエ
ハ裏面から保護シートを剥離することを特徴とするウエ
ハ面の研摩方法。3. A partially crosslinked product of a hydrophilic polymer containing a carboxyl group in which at least a part of the carboxyl group is partially neutralized, and (ii) an anionic surfactant and a cation on one surface of a substrate. Of a wafer polishing protective sheet provided with a pressure-sensitive adhesive layer containing at least one liquid surfactant at room temperature selected from the group consisting of organic surfactants on the patterned wafer surface. Then, after polishing the back surface of the wafer while supplying water to the back surface of the wafer, the protective sheet is peeled off from the back surface of the wafer.
キシル基の一部が部分中和されたカルボキシル基含有親
水性重合体の部分架橋物と、(ii)アニオン性界面活性
剤およびカチオン性界面活性剤からなる群から選択され
る少なくとも1種の室温で液状の界面活性剤と、(ii
i)非イオン性界面活性剤とを含む粘着剤層が設けられ
てなるウエハ研摩用保護シートを、パターンが形成され
たウエハ表面に貼着し、次いで水をウエハ裏面に供給し
ながらウエハ裏面を研摩した後、ウエハ裏面から保護シ
ートを剥離することを特徴とするウエハ面の研摩方法。4. A partially crosslinked product of a hydrophilic polymer containing a carboxyl group in which at least a part of the carboxyl group is partially neutralized, and (ii) an anionic surfactant and a cation on one surface of a substrate. At least one liquid surfactant at room temperature selected from the group consisting of:
i) A wafer polishing protective sheet provided with a pressure-sensitive adhesive layer containing a nonionic surfactant is attached to the patterned wafer surface, and then water is supplied to the wafer back surface to clean the wafer back surface. A method for polishing a wafer surface, which comprises peeling a protective sheet from the back surface of the wafer after polishing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62130829A JPH06101455B2 (en) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Wafer polishing protection sheet and method for polishing wafer surface using this sheet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62130829A JPH06101455B2 (en) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Wafer polishing protection sheet and method for polishing wafer surface using this sheet |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63296222A JPS63296222A (en) | 1988-12-02 |
| JPH06101455B2 true JPH06101455B2 (en) | 1994-12-12 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP62130829A Expired - Fee Related JPH06101455B2 (en) | 1987-05-27 | 1987-05-27 | Wafer polishing protection sheet and method for polishing wafer surface using this sheet |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06101455B2 (en) |
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