JPH0616064B2 - 回路パターンの検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この発明は回路パターンの検査方法に関し、液晶表示装
置等の回路パターンの検査に好適な検査方法を提供する
ことを目的とする。

＜従来の技術＞ 液晶表示装置等の画像部や電極部の回路パターンにはシ
ョートの不良が度々発生する。このパターンのショート
の検査は、従来目視か或は多数のニードルを回路パター
ンに接触させ、その間の導通状態をチェックすることに
より行われていた。

＜従来技術の問題点＞ しかし、目視による検査は不正確である上、作業者に多
大の負担を掛けることになる。また多数のニードルを用
いる方法ではニードルの数が多大な上、被検査対象の回
路パターン毎にこれに適合する配置のニードルを用意す
る必要があるため、装置の値段が高くなる上、検査時間
も長くなる欠点があった。また広い面積の表示装置の検
査には非常に多くのニードルを用いる必要があり、事実
上検査不可能であった。

＜発明の概要＞ 本発明は上記した従来技術の欠点を改善するためになさ
れたもので、少なくとも２個の接触子を回路パターンに
対応して前後にずらして配置し、該接触子を回路パター
ンに接触させつつ回路パターンを横断する方向に移動さ
せて該接触子間の導通／非導通を検出し、該検出信号の
数と信号幅及び予め設定された良品ショートパターン数
とから該パターンの良否を判断することを基本的な特徴
とするものである。

この構成において、回路パターンにショート部分があれ
ば、前後にずらして配置された接触子間が導通状態にな
り、ショート部分のあることが検出される。しかも、信
号幅と良品ショートパターン数に基づいて、良否を判断
するため、正確な良否の判断が得られる。また、接触子
を回路パターンに摺動接触させて、順次各パターンの検
出を行うため、検査時間が短くて済み、接触子の数も最
低２本で済む。また同一の接触子で種々のパターンに対
応できる。そのため、検出回路等の付随的な設備を軽減
出来、測定装置のコスト低減を図れる。

＜実施例＞ 以下本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。

液晶表示装置の回路パターンは第４図、第５図に示すよ
うに画像部６０と電極部６１から構成される。本発明の
方法はパターンが規則的に配列していることを前提とす
る。したがって、規則性の薄い電極部６１において検査
するよりも、規則的に配置された画像部６０において検
査するのが望ましい。第１図に示すように、まず接触子
１、接触子２を前後にずらして配置する。接触子１、２
としてこの実施例では硬度の大きい鋼製のニードルを用
いている。接触子１、２の間隔は液晶基板５０上に形成
された回路パターン５１の間隔に応じた間隔とすれば良
く、回路パターン５１の間隔と同一の間隔にするのが最
も好ましい。接触子１、２の間隔の調整を、この実施例
では電気的にチェックしながら行っている。即ち、第２
図に示すように電極板３を回路パターン５１上に置き接
触子１、接触子２をそれぞれ隣り合う回路パターン５１
に接触させ、接触子１、２と電極板３がそれぞれ導通し
たら、その位置で接触子１、２を固定することにより、
接触子１、２の位置決めを行っている。接触子１、２は
図示するように進行方向にたいし、若干傾斜させるのが
望ましい。なお、接触子１、２は回路的に接続しておく
ものとする。

接触子１、２の間隔設定を終えたら、接触子１、２を回
路パターン５１群を横断する方向（矢印）に走行させ
る。この間接触子１、２は各回路パターン５１に順次接
触していく。回路パターン５１が健全な良品であれば、
接触子１、２は非導通となるが、回路パターン５１、５
１間にショート部分５２が存在すると、接触子１、２は
導通状態となり、ショート部分５２の検出が行える。

第３図に接触子１、２に接続する具体的な検査装置のブ
ロック図を示す。接触子１、２からの信号は検出器４に
入力し、ここで導通／非導通の判定がなされ、この結果
は判別装置５に入力される。判別装置５で不良品と判断
されるとマーカー６において、その製品に不良品のマー
キングが行われる。なお、導通があればショート部があ
り欠陥品となるが、判別装置５においては他の要件も入
力して、判断を行っている。即ち、第４図に示すように
画像部６０の隣合う回路パターン５１、５１が互いに回
路的に接続されている場合がある。この回路パターン５
１、５１に接触子１、２がそれぞれ接触すると、良品パ
ターンであるにも関わらず、不良品と判定される問題が
ある。また、第５図に示すように幅広の回路パターン５
１′も考えられ、この幅が接触子１、２の間隔以上であ
れば回路パターン５１′において不良品の判定がなされ
る問題がある。これらは良品ショートパターンと呼ばれ
るもので、判別装置５においては予めこの良品ショート
パターン数を入力しておき、接触子１、２から検出され
るショート数がこの良品ショートパターン数を超えたと
きに不良品の判定を行うようにしている。

また、第６図に示すように幅広の良品ショートパターン
５１′と通常の回路パターン５１がショートしている場
合、その間隔ａが広ければ第７図の（Ｂ）に示すような
出力が接触子１、２から得られるが、ａが狭く且つ接触
子１、２の摩耗やセッティング不良等により（Ａ）のよ
うな出力になる可能性がある。この場合、不良品を示す
出力が良品ショートパターンの１回分しか出力されない
ことになる。そのため、判別装置５では所定の信号幅を
ショート判定幅として設定し、この幅以上のショート検
出信号をチェックするようにしている。この所定の信号
幅は回路パターンにより異なり、判別装置５へと適宜入
力設定できるようにしている。

以上をまとめると判別装置５は、 接触子１、２からのショート検出数 − 指定の良品ショートパターン数＝Ｘ ショート信号幅 − 設定ショート判定幅＝Ｙ の演算を行い、次の判断を行っている。

Ｘ＞０−−−−−−−−−不良品 Ｘ＝０、Ｙ≧０−−−−不良品 Ｘ＝０、Ｙ＜０−−−−良品 以上の方法により、液晶基板５０上の回路パターン５１
間のショート部分５２が容易に検出できる。

なお、接触子１、２は２個に限定されることなく、必要
に応じて数を増加できる。例えば、接触子１、または２
に横並びに第３の接触子を設け、回路パターン５１にお
ける断線等を検出すること等も可能である。

以上説明したように、本発明方法によれば２個の接触子
を用いるだけで、回路パターンのショートの発生を簡単
に検出することが可能である。また種々の回路パターン
に同一の接触子で対応することができる。更に２個の接
触子だけ用いれば良いから、周辺の回路等の構成が簡単
になり、装置のコスト減を図ることが出来る。また検査
が迅速に行え、広い面積の回路パターンの検査も行え
る。更に良品パターン数と検出信号幅とを加えてパター
ンの良否を判断するから良品ショートパターンを有する
回路パターンであっても、正確な良否の判断ができる等
の利点がある。

＜発明の効果＞ 以上説明したように本発明の方法は少なくとも２個の接
触子を回路パターンに対応して前後にずらして配置し、
該接触子を回路パターンに接触させつつ回路パターンを
横断する方向に移動させて該接触子間の導通／非導通を
検出し、該検出信号の数と信号幅及び予め設定された良
品ショートパターン数とから該パターンの良否を判断す
るようにしているため、簡単で正確な回路パターンのシ
ョートの発生が検出することが可能である。また、検査
速度が速く、広い面積の回路パターンであっても簡単に
検査することができる等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法の一実施例を説明するための側面
図、第２図はその平面図、第３図は検査装置のブロック
図、第４図乃至第７図は回路パターンの説明図である。 １：接触子，２：接触子，３：電極板，４：検出器，
５：判別装置，６：マーカー，５０：液晶基板，５１：
回路パターン，５２：ショート部分，６０：画像部，６
１：電極部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】少なくとも２個の接触子を回路パターンに
   対応して前後にずらして配置し、 該接触子を回路パターンに接触させつつ回路パターンを
   横断する方向に移動させて該接触子間の導通／非導通を
   検出し、 該検出信号の数と信号幅及び予め設定された良品ショー
   トパターン数とから該パターンの良否を判断する、 ことを特徴とする回路パターンの検査方法。