JPH0617776B2 - Bonding wire inspection method - Google Patents
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- JPH0617776B2 JPH0617776B2 JP63222415A JP22241588A JPH0617776B2 JP H0617776 B2 JPH0617776 B2 JP H0617776B2 JP 63222415 A JP63222415 A JP 63222415A JP 22241588 A JP22241588 A JP 22241588A JP H0617776 B2 JPH0617776 B2 JP H0617776B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はボンディングワイヤー検査方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to a bonding wire inspection method.
(従来の技術) 第5図はボンディングワイヤー検査装置の構成図であ
る。同図において1はXYテーブルであって、このXY
テーブル1上にはボンディングの終了したICチップ2
及びフレーム3が載置されている。つまり、ICチップ
2とフレーム3とは複数本のボンディングワイヤー4に
より電気的に接続されている。なお、XYテーブル1は
Xテーブル1a及びYテーブル1bから構成されてお
り、それぞれX方向モータ5、Y方向モータ6で駆動さ
れるようになっている。一方、XYテーブル1の上方に
は顕微鏡7が配置され、この顕微鏡7の接眼部にCCD
(固体撮像素子)カメラ8が取付けられている。そし
て、このCCDカメラ8から出力される画像信号が画像
処理部9に送られて画像処理されている。なお、顕微鏡
7には照明装置10が取付けられてボンディングワイヤ
ー4に光を照射するようになっている。又、画像処理部
9はホストコンピユータ11からの指令を受けて画像処
理動作を行ない、さらにホストコンピユータ11から発
せられる指令により制御部12及び駆動部13を通して
各モータ5,6が駆動するようになっている。(Prior Art) FIG. 5 is a configuration diagram of a bonding wire inspection apparatus. In the figure, reference numeral 1 is an XY table.
The IC chip 2 that has been bonded on the table 1
And the frame 3 is mounted. That is, the IC chip 2 and the frame 3 are electrically connected by the plurality of bonding wires 4. The XY table 1 is composed of an X table 1a and a Y table 1b, and is driven by an X direction motor 5 and a Y direction motor 6, respectively. On the other hand, a microscope 7 is arranged above the XY table 1, and a CCD is attached to the eyepiece of the microscope 7.
(Solid-state image sensor) A camera 8 is attached. Then, the image signal output from the CCD camera 8 is sent to the image processing unit 9 for image processing. An illumination device 10 is attached to the microscope 7 to irradiate the bonding wire 4 with light. Further, the image processing unit 9 performs an image processing operation in response to a command from the host computer 11, and the motors 5 and 6 are driven through the control unit 12 and the driving unit 13 by a command issued from the host computer 11. ing.
しかるに、画像処理部9はCCDカメラ8からの画像信
号を受けて画像データを得、この画像データからボンデ
ィングワイヤー4のみを抽出する。そして、このボンデ
ィングワイヤー4が隣接するボンディングワイヤーと接
触しているかを検出したり、ボンディングワイヤー4の
曲がり状態、さらにボンディングワイヤー4のICチッ
プ2のパッド及びフレーム3のリードに対する接触状態
等が検査される。However, the image processing unit 9 receives the image signal from the CCD camera 8 to obtain image data, and extracts only the bonding wire 4 from this image data. Then, it is detected whether or not the bonding wire 4 is in contact with an adjacent bonding wire, the bending state of the bonding wire 4, the contact state of the bonding wire 4 with the pad of the IC chip 2 and the lead of the frame 3, and the like. It
(発明が解決しようとする問題点) ところが、上記装置ではCCDカメラ8がボンディング
ワイヤー4の上方に配置されているために得られる画像
データは、ボンディングワイヤー4を上方から見た平面
的な画像となっている。このため、ボンディングワイヤ
ー4の高さの方向のデータ、つまりボンディングワイヤ
ー4の高さ、だれ等は検査することが不可能であった。
従って、ボンディングワイヤー4に対する検査が不十分
なものとなっている。(Problems to be Solved by the Invention) However, in the above device, the image data obtained because the CCD camera 8 is arranged above the bonding wire 4 is a planar image of the bonding wire 4 seen from above. Has become. For this reason, it is impossible to inspect the data in the height direction of the bonding wire 4, that is, the height, the sagging, etc. of the bonding wire 4.
Therefore, the inspection of the bonding wire 4 is insufficient.
そこで本発明は、ボンディングワイヤーの3次元形状を
得て高さ方向の検査もできるボンディングワイヤー検査
方法を提供することを目的とする。Therefore, an object of the present invention is to provide a bonding wire inspection method capable of obtaining a three-dimensional shape of a bonding wire and also inspecting in the height direction.
[発明の構成] (課題を解決するための手段と作用) 本発明は、各端子間をそれぞれ電気的に接続したボンデ
ィングワイヤーの3次元形状を検査するボンディングワ
イヤー検査方法において、 複数のボンディングワイヤーを第1及び第2の撮像装置
によりそれぞれ異なる方向から撮像し、 次に第1の撮像装置により所定のボンディングワイヤー
を撮えたときの視線を第2の撮像装置の撮像により得ら
れた第2の画像データ上に投影した視線像を引き、 次にこの視線像とボンディングワイヤーにより接続する
各端子間を通るラインを求め、 次にこのラインと視線像との交わるところから第2の画
像データ上の所定のボンディングワイヤー像を抽出し、 次に第1及び第2の画像データにおける各所定のボンデ
ィングワイヤー像からこの所定のボンディングワイヤー
の3次元形状を認識するようにして上記目的を達成しよ
うとするボンディングワイヤー検査方法である。[Configuration of Invention] (Means and Actions for Solving the Problem) The present invention provides a bonding wire inspection method for inspecting a three-dimensional shape of a bonding wire in which terminals are electrically connected to each other. A second image obtained by the second imaging device capturing a line of sight when the first and second imaging devices capture images from different directions and then the first imaging device captures a predetermined bonding wire. A line-of-sight image projected on the data is drawn, and then a line passing between the line-of-sight image and each terminal connected by a bonding wire is obtained. Next, from the intersection of this line and the line-of-sight image, a predetermined line on the second image data is obtained. Of the bonding wire image of each of the first and second image data. This is a bonding wire inspection method for achieving the above object by recognizing the three-dimensional shape of the bonding wire.
(実施例) 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。なお、第5図と同一部分には同一符号を付してその
詳しい説明は省略する。(Example) Hereinafter, one example of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 5 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
第1図はボンディングワイヤー検査方法を適用したボン
ディングワイヤー検査装置の構成図である。XYテーブ
ル1の上方に2台の顕微鏡20,21がそれぞれボンデ
ィングワイヤー4の撮像方向を異ならせて配置され、さ
らにこれらの顕微鏡20,21の各接眼部にそれぞれ第
1のCCDカメラ22、第2のCCDカメラ23が取付
けられている。そして、これらCCDカメラ22,23
から出力される各画像信号がカメラ切換器24を通って
画像処理部25へ送られている。なお、各顕微鏡20,
21にはそれぞれ照明装置26,27が取付けられてボ
ンディングワイヤー4に光を照射するようになってい
る。FIG. 1 is a configuration diagram of a bonding wire inspection apparatus to which the bonding wire inspection method is applied. Two microscopes 20 and 21 are arranged above the XY table 1 so that the imaging directions of the bonding wires 4 are different from each other, and further, the first CCD camera 22 and the first CCD camera 22 are attached to the eyepieces of these microscopes 20 and 21, respectively. Two CCD cameras 23 are attached. And these CCD cameras 22, 23
Each image signal output from the image processing unit 25 is sent to the image processing unit 25 through the camera switch 24. In addition, each microscope 20,
Illumination devices 26 and 27 are attached to 21 to irradiate the bonding wire 4 with light.
さて、画像処理部25はホストコンピユータ28からの
指令を受けて各CCD22,23で得られる各画像デー
タからのボンディングワイヤー4の3次元形状を求める
機能を有するもので、その求め方は、第1のCCDカメ
ラ22により所定の1本のボンディングワイヤー4を撮
えたときの視線像(以下、エピポーララインと指称す
る)を求め、このエピポーララインを第2のCCDカメ
ラ23の撮像により得られた第2の画像データ上に投影
した視線像を引き、 次にこのエピポーララインと所定の1本のボンディング
ワイヤー4により接続するリード3aとパッド2a間を
通るラインを求め、 次にこのラインとエピポーララインとの交わるところか
ら第2の画像データ上の所定の1本のボンディングワイ
ヤー4の像を抽出し、 次に第1及び第2の画像データにおける所定のボンディ
ングワイヤー4の各像からこの所定のボンディングワイ
ヤー4の3次元形状を認識するものとなっている。The image processing unit 25 has a function of receiving a command from the host computer 28 and obtaining the three-dimensional shape of the bonding wire 4 from the image data obtained by the CCDs 22 and 23. The second CCD camera 23 obtains a line-of-sight image (hereinafter referred to as an epipolar line) when a predetermined one of the bonding wires 4 is captured by the second CCD camera 23. The line-of-sight image projected on the image data is drawn, and then a line passing between the lead 3a and the pad 2a connected to this epipolar line by a predetermined one bonding wire 4 is obtained. An image of one predetermined bonding wire 4 on the second image data is extracted from the intersection, and then the first and second bonding wires 4 are extracted. It has become one that recognizes the three-dimensional shape of the predetermined bonding wires 4 from the image of a predetermined bonding wires 4 in the second image data.
ここで、各CCDカメラ22,23を用いたステレオカ
メラによる3次元座標の求め方について第4図を参照し
て説明する。なお、この3次元座標の求め方は著者Y.
Yakimovakyによる『A Stereo fo
r Extracting Three−Dimens
ional Measurements from a
stereo Pair of TV camera
s』Computer Graphica and I
maga Processing 7月号、195〜2
10頁、1978年による。Here, a method of obtaining three-dimensional coordinates by a stereo camera using the CCD cameras 22 and 23 will be described with reference to FIG. The method of obtaining the three-dimensional coordinates is described in Author Y.
“A Stereo fo by Yakimovaky
r Extracting Three-Dimensions
Ional Measurements from a
stereo Pair of TV camera
s ”Computer Graphica and I
maga Processing July issue, 195-2
Page 10, 1978.
第4図において となっているので、 ここで、第1の画像面の中心を(0,0)とし、 IL :第1の画像面のI座標 IL :第1のCCDカメラレンズ焦点 HL′:第1のCCDカメラレンズの水平方向単位ベク
トル VL′:第1のCCDカメラレンズの垂直方向単位ベク
トル AL :レンズ光軸方向の単位ベクトル とすると、 すなわち、 fLHL′=HLとおけば となる。又同様にして fLVL′=Vとおけば となる。そこで、 H:水平方向ベクトル V:垂直方向ベクトル A:レンズ光軸方向の単位ベクトル とおき、 となるモデルを設定する。そして、これら第(1)式及び
第(2)式を変形すると、 (P−C,H−I・A)=0 …(3) (P−C,V−J・A)=0 …(4) となり、これら第(3)式及び第(4)式から が求められる。なお、Rは単位ベクトルなので、 P=C+λR λ>0 …(5) 次に第(3)式を展開すると、 (P,I・A)−(C,I・A)−(P,H)+(C,H)=0 となり、ここで、m側の観測点についてのサフィックス
を導入すると、 (Pm,Im・A)−(C,Im・A)−(Pm,H)+(C,H)=0…(6) 同様に第(4)式を展開してm個の観測点についてのサフ
ィックスを導入すると、 (Pm,Jm・A)−(C,Jm・A)−(Pm,V)+(C,V)=0…(7) となる。そこで、 とし、又カメラパラメータ(A,H,V,Ch,Ca,
Cvを Ch=(C,H),Ca=(C,A),Cv=(C,
V)とすることができる。In Figure 4 Since, Here, the center of the first image plane is (0, 0), I L : I coordinate of the first image plane I L : First CCD camera lens focal point H L ′: First CCD camera lens Horizontal unit vector V L ′: Vertical unit vector of the first CCD camera lens A L : Unit vector in the lens optical axis direction, That is, If f L H L ′ = H L Becomes In the same way f L V L ′ = V Becomes Therefore, H: horizontal vector, V: vertical vector, A: unit vector in the lens optical axis direction, Set the model to be. Then, when these equations (1) and (2) are modified, (P−C, H−I · A) = 0 (3) (P−C, V−J · A) = 0 (( 4) and from these equations (3) and (4) Is required. Since R is a unit vector, P = C + λR λ> 0 (5) Next, when the formula (3) is expanded, (P, IA)-(C, IA)-(P, H) + (C, H) = 0, and when the suffix for the observation point on the m side is introduced, (P m , I m · A) − (C, I m · A) − (P m , H) + (C, H) = 0 ... (6) Similarly, when the formula (4) is expanded and the suffix for m observation points is introduced, (P m , J m · A) − (C, J m -A)-( Pm , V) + (C, V) = 0 (7). Therefore, , And camera parameters (A, H, V, Ch, Ca,
Cv Ch = (C, H), Ca = (C, A), Cv = (C,
V).
ところで、ステレオカメラの左右のカメラパラメータ
(A,H,V,Ch,Ca,Cv)と第1及び第2のC
CDカメラ22,23のサンプル座標(I,J)から3
次元座標P(Px,Py,Pz)を求める場合、第(1)
式及び第(2)式を変形して、 (IA−H,P)=ICa−Ch 同様にして、 (JA−V,A)=JCa−Cv となる。第1及び第2のCCDカメラ22,23がある
ので、これらカメラ22,23を左右の各パラメータを
表わすサフィックスL,Rを導入すると、 (ILAL−HL,P)=ILCaL−ChL (IRAR−HR,P)=IRCaR−ChR (JLAL−VL,P)=JLCaL−CvL (JRAR−VR,P)=JRCaR−CvR となる。従って、これを行列で表わすと、 となり、この第(8)式を解けば3次元座標P(Px,P
y,Pz)を求めることができる。By the way, the left and right camera parameters (A, H, V, Ch, Ca, Cv) of the stereo camera and the first and second C
3 from the sample coordinates (I, J) of the CD cameras 22 and 23
When obtaining the dimensional coordinates P (Px, Py, Pz), the first (1)
By modifying the equation and the equation (2), (IA-H, P) = ICa-Ch, similarly, (JA-V, A) = JCa-Cv. Since the first and second CCD cameras 22 and 23 are provided, if suffixes L and R representing left and right parameters are introduced to these cameras 22 and 23, (I L A L −H L , P) = I L C aL -C hL (I R A R -H R, P) = I R Ca R -Ch R (J L A L -V L, P) = J L Ca L -Cv L (J R A R -V R , P) = J R Ca R −Cv R. Therefore, if this is expressed in a matrix, Therefore, if this equation (8) is solved, the three-dimensional coordinate P (Px, P
y, Pz) can be obtained.
次に前記エピポーララインの求め方について説明する。
ここで、第1のCCDカメラ22の撮像により得られた
第1の画像データを第2図に示す如くとし、又第2のC
CDカメラ23の撮像により得られた第2の画像データ
を第3図に示す如くとした場合、第1のCCDカメラ2
2がボンディングワイヤー4−1を撮えたとき、この第
1のCCDカメラ22の視線つまり光軸を第2の画像デ
ータ上に引くと、この視線がエピポーララインlとな
る。Next, how to obtain the epipolar line will be described.
Here, the first image data obtained by the image pickup of the first CCD camera 22 is set as shown in FIG.
When the second image data obtained by the image pickup by the CD camera 23 is set as shown in FIG. 3, the first CCD camera 2
When 2 takes an image of the bonding wire 4-1, when the line of sight of the first CCD camera 22, that is, the optical axis is drawn on the second image data, this line of sight becomes an epipolar line l.
ここで、YaKimovsky法では各CCDカメラ2
2,23のカメラパラメータ(A,H,V,Ch,C
a,Cv)と各CCDカメラ22,23の座標(I,
J)から点Pの3次元座標値は第(8)式によって求めら
れることが知られている。そこで、カメラパラメータ
(A,H,V,Ch,Ca,Cv)は既知であり、各C
CDカメラ22,23の座標も既知である。従って、未
知数はIR,JR,Px,Py,Pzとなる。しかる
に、第(8)式からPx,Py,Pzを消去し、IRとJ
Rとの関係を求めると、それが第1のCCDカメラ23
のエピポーララインとなる。すなわち、第(8)式におい
て とし、又 として展開すると、 a11Px+a12Py+a13Pz=b1 …(9) (IRAXR)Px+(IRAyR−HyR)Py+(IRAzR−HzR)P
z=IRCaR−ChR…(10) a31Px+a32Py+a33Pz=b3 (11) (JRAxR−VxR)Px+(JRAyR)Py +(JRAzR−VzR)Pz=JRCaR−CvR…(12) となる。そして、第(9)式にa33を乗算した値から第
(11)にa13を乗算した値を減算すると、 d1Px+d2Py=d3 …(13) となる。なお、 d1=a11a33−a31a13 d2=a12a33−a32a13 d3=b1a33−b3a13 である。ゆえに、 となり、(−d1/d2)=C1,d3/d2=C2と
して Py=C1Px+C2 …(15) となる。さらにこの第(15)式及び第(9)式からPzを求
めると、 Pz=e1Px+e2 …(16) となる。なお、 e1=(d1a12−d2a11)/d2a13 e2=(d2d1−d3a12)/d2a13 である。そして、第(15)式及び第(16)式を第(10)式に代
入してPxを求めると、 となる。ここで、 f1=AxR+C1AyR+e1AzR f2=−HxR−C1HyR−e1HzR f3=CaR−C2AyR−e2AzR f4=−ChR+C2HyR+e2HzR である。又、第(15)式及び第(16)式を第(12)式に代入し
てPxを求めると、 となる。ここで、 g1=−VxR−C1VyR−e1VzR g2=−CvR+C2VyR+e2VzR である。しかるに第(17)式及び第(18)式からエピポーラ
ラインJR=lは、 となる。Here, in the YaKimovsky method, each CCD camera 2
2,23 camera parameters (A, H, V, Ch, C
a, Cv) and the coordinates (I,
It is known from J) that the three-dimensional coordinate value of the point P can be obtained by the equation (8). Therefore, the camera parameters (A, H, V, Ch, Ca, Cv) are known, and each C
The coordinates of the CD cameras 22 and 23 are also known. Therefore, unknown is I R, J R, Px, Py, and Pz. Therefore, Px, Py, and Pz are eliminated from the equation (8), and I R and J
When the relationship with R is calculated, it is the first CCD camera 23.
Will be the epipolar line. That is, in equation (8) And again When deployed as, a 11 Px + a 12 Py + a 13 Pz = b 1 ... (9) (I R A XR) Px + (I R Ay R -Hy R) Py + (I R Az R -Hz R) P
z = I R Ca R -Ch R ... (10) a 31 Px + a 32 Py + a 33 Pz = b 3 (11) (J R Ax R -Vx R) Px + (J R Ay R) Py + (J R Az R - the vz R) Pz = J R Ca R -Cv R ... (12). Then, from the value obtained by multiplying Equation (9) by a 33 ,
Subtracting the value obtained by multiplying (11) by a 13 yields d 1 Px + d 2 Py = d 3 (13). Incidentally, it is d 1 = a 11 a 33 -a 31 a 13 d 2 = a 12 a 33 -a 32 a 13 d 3 = b 1 a 33 -b 3 a 13. therefore, And (-d 1 / d 2 ) = C 1 , d 3 / d 2 = C 2 and Py = C 1 Px + C 2 (15). Further, when Pz is obtained from the expressions (15) and (9), Pz = e 1 Px + e 2 (16) Note that it is e 1 = (d 1 a 12 -d 2 a 11) / d 2 a 13 e 2 = (d 2 d 1 -d 3 a 12) / d 2 a 13. Then, by substituting the expressions (15) and (16) into the expression (10), Px is obtained, Becomes Here, f 1 = Ax R + C 1 Ay R + e 1 Az R f 2 = -Hx R -C 1 Hy R -e 1 Hz R f 3 = Ca R -C 2 Ay R -e 2 Az R f 4 = is -Ch R + C 2 Hy R + e 2 Hz R. Further, by substituting the equations (15) and (16) into the equation (12) to obtain Px, Becomes Here, it is g 1 = -Vx R -C 1 Vy R -e 1 Vz R g 2 = -Cv R + C 2 Vy R + e 2 Vz R. Therefore, from the expressions (17) and (18), the epipolar line J R = 1 is Becomes
次に上記の如く構成された装置の作用について説明す
る。第1及び第2のCCDカメラ22,23はそれぞれ
複数のボンディングワイヤー4を撮像してその画像信号
を出力する。これら画像信号はそれぞれカメラ切換器2
4で切換操作されて画像処理部25へ交互に送られる。
この画像処理部25は各CCDカメラ22,23からの
画像信号を受けてそれぞれ第1の画像データ、第2の画
像データに処理して画像メモリに記憶する。なお、上記
した如く第1の画像データは第2図に示す如くであり、
第2の画像データは第3図に示す如くであるとする。こ
こで、第2図の画像データにおけるボンディングワイヤ
ー像4−1に注目し、このボンディングワイヤー像4−
1のポイントQと対応するポイントを第2の画像データ
上から探し出す。すなわち、画像処理部25は第1のC
CDカメラ22が前記ボンディングワイヤー4を撮えた
ときの視線を第2の画像データ上に投影したエピポーラ
ラインlを前記第(19)式から求め、このエピポーラライ
ンlを第3図に示す如く第2の画像データ上に画像とし
て引く。次に画像処理部25は第2の画像データからエ
ピポーララインlとボンディングワイヤー像4−2,4
−3と交わるポイントk1,k2を求める。ところで、
エピポーララインlとボンディングワイヤー像との交わ
るポイントが1ヶ所であれば、この交わったポイントの
ボンディングワイヤ像が第1の画像データにおけるボン
ディングワイヤ像と対応する画像となるが、複数の交わ
るポイントk1,k2が現われた場合にはICチップ2
のパッド2aとフレーム3のリード3aとを通るライン
mを求めて第2の画像データ上に引く。なお、この場
合、パッド2aとリード3aとの各座標はワイヤボンデ
ィング作業時に既知となっている。次に画像処理部25
はエピポーララインlとラインmとの交点座標を求め、
この交点座標から近い距離のポイントk1,k2を判断
する。しかるに、画像処理部25はポイントk1を近い
と判断してボンディングワイヤー像4−2を第1の画像
データ上のボンディングワイヤー像4−1と対応するも
のと判断する。しかる後、画像処理部25は第1及び第
2の画像データにおける各ボンディングワイヤー像4−
1と4−2とを用い、ステレオ法によってボンディング
ワイヤ4の3次元形状を求める。この結果、ボンディン
グワイヤ4の高さや曲り、だれ等が検査される。なお、
ボンディングワイヤー像4−4と対応するボンディング
ワイヤー像4−3を求める場合は、ボンディングワイヤ
ー像4−4を第1のCCDカメラ22で撮えたときのエ
ピポーララインを第2画像データ上に引き、かつ第2の
画像データのパッド2a−1とリード3a−1とを通る
直線を求め、この直線とエピポーララインとの交点から
最も近い距離のポイントからボンディングワイヤー像4
−3を探し出すことになる。Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described. The first and second CCD cameras 22 and 23 respectively image the plurality of bonding wires 4 and output their image signals. These image signals are sent to the camera switch 2 respectively.
The switching operation is performed at 4 and the image data is alternately sent to the image processing unit 25.
The image processing unit 25 receives image signals from the CCD cameras 22 and 23, processes them into first image data and second image data, and stores them in an image memory. As described above, the first image data is as shown in FIG.
It is assumed that the second image data is as shown in FIG. Here, pay attention to the bonding wire image 4-1 in the image data of FIG.
A point corresponding to the point Q of 1 is searched for on the second image data. That is, the image processing unit 25 uses the first C
The epipolar line 1 obtained by projecting the line of sight of the bonding wire 4 taken by the CD camera 22 on the second image data is obtained from the equation (19), and the epipolar line 1 is obtained as shown in FIG. It is drawn as an image on the image data of. Next, the image processing unit 25 uses the second image data to determine the epipolar line 1 and the bonding wire images 4-2 and 4 from the second image data.
Find points k 1 and k 2 that intersect with −3. by the way,
If there is one intersecting point between the epipolar line 1 and the bonding wire image, the bonding wire image at this intersecting point becomes an image corresponding to the bonding wire image in the first image data, but a plurality of intersecting points k 1 , K 2 appears, IC chip 2
The line m passing through the pad 2a of the above and the lead 3a of the frame 3 is obtained and drawn on the second image data. In this case, the respective coordinates of the pad 2a and the lead 3a are known at the time of wire bonding work. Next, the image processing unit 25
Finds the coordinates of the intersection of epipolar line 1 and line m,
Points k 1 and k 2 that are close to the intersection coordinates are determined. However, the image processing unit 25 determines that the point k 1 is close, and determines that the bonding wire image 4-2 corresponds to the bonding wire image 4-1 on the first image data. Thereafter, the image processing unit 25 causes the bonding wire images 4- in the first and second image data to be obtained.
Using 1 and 4-2, the three-dimensional shape of the bonding wire 4 is obtained by the stereo method. As a result, the height, bending, and sag of the bonding wire 4 are inspected. In addition,
When obtaining the bonding wire image 4-3 corresponding to the bonding wire image 4-4, the epipolar line when the bonding wire image 4-4 is taken by the first CCD camera 22 is drawn on the second image data, and A straight line passing through the pad 2a-1 and the lead 3a-1 of the second image data is obtained, and the bonding wire image 4 is obtained from the point closest to the intersection of this straight line and the epipolar line.
-3 will be searched.
又、画像処理部25は第1及び第2のCCDカメラ2
2,23の撮像により得られる各画像データのうちいず
れか一方の画像データからボンディングワイヤ4の隣接
するボンディングワイヤーとの接触状態や曲がり状態、
さらにパッド、リードとの接触状態を検査する。In addition, the image processing unit 25 includes the first and second CCD cameras 2
From the image data of any one of the image data obtained by imaging 2, 23, the contact state of the bonding wire 4 with the adjacent bonding wire or the bending state,
Furthermore, the state of contact with the pads and leads is inspected.
このように上記一実施例においては、エピポーラライン
lを引いて第1及び第2の画像データにおいて対応する
ボンディングワイヤー像を求めてボンディングワイヤの
3次元形状を求めるようにしたので、ボンディングワイ
ヤー4の平面的なデータのみばかりでなく高さやだれ等
に対する検査ができる。従って、ボンディングワイヤー
4の高さ方向のループ形状が検査でき、ワイヤボンディ
ングが確実に行なわれたかを高精度に検査できる。As described above, in the above-described embodiment, the epipolar line 1 is drawn to obtain the corresponding bonding wire image in the first and second image data, and the three-dimensional shape of the bonding wire 4 is obtained. Not only planar data but also height and drooping can be inspected. Therefore, the loop shape in the height direction of the bonding wire 4 can be inspected, and it can be inspected with high accuracy whether or not the wire bonding has been reliably performed.
又、本方法を適用すれば、フラットパッケージICのリ
ード曲がりの検査やこのフラットパッケージICを基板
に実装した後のリードの浮き検査ができる。この場合、
対象となるリードの対応点は他方のCCDカメラの画像
データのリードとエピポーララインとから求めることが
でき、リードを3次元の形状で検査できる。Further, if this method is applied, it is possible to inspect the lead bending of the flat package IC and the lead floating inspection after mounting the flat package IC on the substrate. in this case,
The corresponding point of the target lead can be obtained from the lead of the image data of the other CCD camera and the epipolar line, and the lead can be inspected in a three-dimensional shape.
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものではなく
その主旨を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、
第2のCCDカメラ23のエピポーララインを第1の画
像データ上に引いて対応するボンディングワイヤーを抽
出してもよい。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be modified without departing from the spirit of the invention. For example,
The epipolar line of the second CCD camera 23 may be drawn on the first image data to extract the corresponding bonding wire.
[発明の効果] 以上詳記したように本発明によれば、ボンディングワイ
ヤーが複数あっても、これらボンディングワイヤーの平
面的なデータのみばかりでなく3次元形状を得て、高さ
やだれ等に対する検査ができ、ボンディングワイヤーの
高さ方向のループ形状が検査できる高精度なボンディン
グワイヤー検査方法を提供できる。[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, even if there are a plurality of bonding wires, not only the planar data of these bonding wires but also a three-dimensional shape can be obtained to inspect for height, droop, etc. It is possible to provide a highly accurate bonding wire inspection method capable of inspecting the loop shape in the height direction of the bonding wire.
第1図乃至第4図は本方法を適用したボンディングワイ
ヤー検査装置の一実施例を説明するための図であって、
第1図は構成図、第2図及び第3図は画像データの模式
図、第4図はエピポーララインの求め方を説明するため
の模式図、第5図は従来技術を説明するための図であ
る。 1……XYテーブル、2……ICチップ、3……フレー
ム、4……ボンディングワイヤー、20,21……照明
装置、22……第1のCCDカメラ、23……第2のC
CDカメラ、24……カメラ切換器、25……画像処理
部。1 to 4 are views for explaining an embodiment of a bonding wire inspection apparatus to which the present method is applied,
FIG. 1 is a configuration diagram, FIGS. 2 and 3 are schematic diagrams of image data, FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a method of obtaining an epipolar line, and FIG. 5 is a diagram for explaining a conventional technique. Is. 1 ... XY table, 2 ... IC chip, 3 ... frame, 4 ... bonding wire, 20,21 ... illumination device, 22 ... first CCD camera, 23 ... second C
CD camera, 24 ... Camera switcher, 25 ... Image processing section.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/60 321 Y 6918−4M 21/66 J 8406−4M ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H01L 21/60 321 Y 6918-4M 21/66 J 8406-4M
Claims (1)
ディングワイヤーの3次元形状を検査するボンディング
ワイヤー検査方法において、 複数の前記ボンディングワイヤーを第1及び第2の撮像
装置によりそれぞれ異なる方向から撮像し、 次に前記第1の撮像装置により所定の前記ボンディング
ワイヤーを撮えたときの視線を前記第2の撮像装置の撮
像により得られた第2の画像データ上に投影した視線像
を引き、 次にこの視線像と前記ボンディングワイヤーにより接続
する前記各端子間を通るラインを求め、 次にこのラインと前記視線像との交わるところから前記
第2の画像データ上の前記所定のボンディングワイヤー
像を抽出し、 次に前記第1及び第2の画像データにおける前記各所定
のボンディングワイヤー像からこの所定のボンディング
ワイヤーの3次元形状を認識することを特徴とするボン
ディングワイヤー検査方法。1. A bonding wire inspecting method for inspecting a three-dimensional shape of a bonding wire electrically connecting terminals to each other, wherein a plurality of the bonding wires are imaged from different directions by a first and a second imaging device, respectively. Then, a line-of-sight image obtained by projecting the line-of-sight when the predetermined bonding wire is captured by the first image-capturing device onto the second image data obtained by the image-capturing of the second image-capturing device, Then, a line passing between each of the terminals connected by the line-of-sight image and the bonding wire is obtained, and then the predetermined bonding wire image on the second image data is extracted from the intersection of the line and the line-of-sight image. Next, from the predetermined bonding wire images in the first and second image data, Bonding wire inspection method and recognizes a three-dimensional shape of the loading wire.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP63222415A JPH0617776B2 (en) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | Bonding wire inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63222415A JPH0617776B2 (en) | 1988-09-07 | 1988-09-07 | Bonding wire inspection method |
Publications (2)
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|---|---|
| JPH0271109A JPH0271109A (en) | 1990-03-09 |
| JPH0617776B2 true JPH0617776B2 (en) | 1994-03-09 |
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ID=16782028
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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-
1988
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Also Published As
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| JPH0271109A (en) | 1990-03-09 |
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