JPH0623768B2

JPH0623768B2 - 自動分析装置

Info

Publication number: JPH0623768B2
Application number: JP1237568A
Authority: JP
Inventors: 清志山下
Original assignee: Shimadzu Corp
Current assignee: Shimadzu Corp
Priority date: 1989-09-13
Filing date: 1989-09-13
Publication date: 1994-03-30
Anticipated expiration: 2009-03-30
Also published as: JPH0399269A

Description

【発明の詳細な説明】（イ）産業上の利用分野この発明は、複数の分析装置を備え、多数の試料を効率
良く自動的に分析できる自動分析装置に関する。

（ロ）従来の技術従来、クロマトグラフ等の分析装置において、複数の試
料容器をセットできるラックを備え、ラックにセットさ
えた試料容器より順次試料を測定部に導入して、自動的
に分析を行っていくものが知られている。

（ハ）発明が解決しようとする課題上記従来の分析装置は互いに独立しており、いわば試料
と分析装置とが一対一に対応している。従って、１つの
分析装置に障害が発生すると、その分析装置で分析する
ことになっている試料が分析できなくなる問題点があっ
た。

また、同一の分析条件に設定された他の分析装置が他に
あり、より少ない待ち時間で分析が行える状態であって
も、試料をセットした分析装置が他の試料を分析中であ
れば、その他の試料の分析が終わるまで当該試料の分析
を行えず、分析の効率がよくない問題点があった。この
問題点を回避するためには、使用者が効率よく分析が行
えるよう分析装置に試料を割り当てなければならず手間
がかかる。

この発明は上記に鑑みなされたもので、１つの分析装置
に障害が生じた場合でも分析を行え、かつ自動的に効率
よく分析できる自動分析装置の提供を目的としている。

（ニ）課題を解決するための手段及び作用上記課題を解決するため、この発明の自動分析装置は、
同じ分析条件に設定された複数の分析装置からなる分析
装置グループと、試料容器を装填する試料ラックと、こ
の試料ラックより各分析装置に試料容器を搬送する試料
容器搬送手段と、各分析装置が分析中であるか否かを登
録する分析装置状態テーブルと、試料について分析待ち
を登録する試料分析待ちリストと、この分析装置状態テ
ーブルと試料分析待ちリストとを照合し、待ち時間が最
も少なくなるよう試料を分析装置に割り当てる試料割当
手段とを備えてなるものである。

この発明の自動分析装置では、同一分析条件の分析装置
を複数備えているから、一つの分析装置に障害が生じて
も、他の分析装置の方へ試料容器を搬送して、試料の分
析を続行することができる。また、分析待ちの時間が最
も少なくなるように試料を分析装置に自動的に割り当て
ることができるから、多数の試料を効率よく分析でき
る。

（ホ）実施例この発明の一実施例を図面に基づいて以下に説明する。

第１図は、この実施例自動分析装置の概略構成を説明す
る図である。この自動分析装置は、３グルーブ計７台の
分析装置（例えばクロマトグラフ等）を備えている。分
析装置Ａ１〜Ａ３は、１番目のグループを構成してお
り、同一の分析条件(a)に設定されている。また、分析
装置Ｂ１、Ｂ２は、２番目のグルーブを構成し、両者は
同一の分析条件(b)に設定されている。同じく分析装置
Ｃ１、Ｃ２は、３番目のグループを構成し、両者は同一
の分析条件(c)に設定されている。各分析装置Ａ１〜Ｃ
２は、それぞれ試料導入装置Ｉ_A1〜Ｉ_C2を備えている。

Ｌ_１は、未分析試料容器ラック、Ｌ_２は分析済み試料容
器ラックである。Ｔは試料容器搬送装置であり、未分析
試料容器ラックＬ_１から各分析装置Ａ₁〜Ｃ_２へ、ま
た、各分析装置Ａ₁〜Ｃ_２から分析済み試料容器ラック
Ｌ_２へ試料容器を搬送する。これらの試料容器搬送装置
Ｔ、未分析試料容器ラックＬ_１、分析済み試料容器ラッ
クＬ_２は、制御装置Ｘにより制御される。この制御装置
Ｘには、各分析装置Ａ_１〜Ｃ_２からの分析終了信号も入
力される。

第２図は、制御装置Ｘの構成を説明するプロック図であ
る。ＣＰＵ１には、バスライン７を介してＲＯＭ２、Ｒ
ＡＭ３、キーボード４、ＣＲＴ５、入出力（Ｉ／Ｏ）装
置６とが接続されている。ＲＯＭ２はＣＰＵ１の制御プ
ログラムを格納しており、ＲＡＭ３は、ＣＰＵ１の作業
領域となる。この作業領域中に、分析装置状態テーブル
と試料分析終待ちリストが存在している。分析装置状態
テーブルは第３図に示すように、各分析装置Ａ１〜Ｃ２
が分析中か否かをそれぞれ登録するものであり、試料分
析待ちリストは第４図に示すように、分析待ち試料のＩ
ＤNo.と分析項目とを、ラックＬ_１の試料容器セット位
置の番号（以下ラック番号という）に対応させて登録し
ている。各試料について分析項目は、ラック番号８の試
料のように複数登録することができる。

キーボード４は、試料容器を未分析試料ラックＬ_１にセ
ットする際に、試料のＩＤNo.と分析項目を入力するた
めのものである。なお、キーボードに代えて、マスウや
バーコードにより試料のＩＤNo.、分析項目を入力する
構成としてもよい。

ＣＲＴ５は、前記分析装置状態テーブル、試料分析待ち
リストやその他の情報を表示するものである。もちろ
ん、液晶表示器等その他の表示器も使用することが可能
である。

Ｉ／Ｏ装置６は、試料容器搬送装置Ｔ、未分析試料容器
ラックＬ_１、分析済み試料容器ラックL₂との制御信号の
入出力及び各分析装置Ａ１〜Ｃ２からの分析終了信号の
入力を行う。

次に実施例自動分積装置の動作を第４図を参照しながら
説明する。

まず、最初に分析を終了するか否かを判定する〔ステッ
プ（以下ＳＴという）１〕。この判定がＹＥＳの場合に
は分析を終了し、ＮＯの場合にはＳＴ２へ分岐する。

ＳＴ２では、試料容器を未分析試料容器ラックＬ_１にセ
ッオするか否かを判定する。この判定がＹＥＳの場合に
はＳＴ３へ分岐し、ＮＯの場合にはＳＴ１１へ分岐す
る。

ＳＴ３では、試料容器を未分析試料容器ラックＬ_１にセ
ットすると共に、分析項目、試料ＩＤNo.がキーボード
４より入力される。そして、ＳＴ４では、この新しくセ
ットされた試料の分析項目に対応する分析装置があいて
いるか否かを、分析装置状態テーブルから判定する。こ
のＳＴ４の判定がＹＥＳの場合には、ＳＴ５へ分岐し、
ＮＯの場合にはＳＴ１０へ分岐する。

今、分析装置状態テーブル、試料分析待ちリストがそれ
ぞれ第３図、第４図に示す状態にあるとする。第４図の
試料分析待ちリストでは、ラック番号７から１０までに
セットされた試料が分析項目ａ及び／又はｃについて分
析待ちの状態を示しており、今回新しくセットされる試
料は、ラック番号１１にセットされるものとする。な
お、ラック番号１から６までの試料は、第３図の分析装
置状態テーブルで示すように、分析装置Ａ１〜Ａ３、Ｂ
１、Ｃ１、Ｃ２のいずれかで分析中である。

もし新しくセットされる試料（ラック番号１１）の分析
項目にｂが含まれている場合には、ただちに分析装置Ｂ
２で分析することが可能なのでＳＴ４の判定がＹＥＳと
なる。しかし、分析項目がａ又はｃである場合には、分
析装置Ａ１〜Ａ３、Ｃ１、Ｃ２いずれも分析中であり、
この試料の分析を行なうことができずＳＴ４の判定がＮ
Ｏとなる。この場合には、ＳＴ１０へ分岐して試料分析
待ちリストのラック番号１１のところに例えば「No.…
ａ」のように登録する。

ＳＴ４の判定がＹＥＳとなった場合にはＳＴ５へ分岐
し、分析装置状態テーブルのＢ２のところを「空」から
「分析中」へと変更する。そして、この試料の容器を、
試料容器搬送装置Ｔを作動させて、未分析試料容器ラッ
クＬ_１から分析装置Ｂ２の所へ搬送する（ＳＴ６）。こ
の試料は、試料導入装置Ｉ_B2により、分析装置Ｂ２に導
入される（ＳＴ７）。続くＳＴ８では、この試料につい
て他の分析項目ａ又はｃがあるか否かを判定する。この
判定がＹＥＳの場合にはＳＴ４へ分岐し、ＮＯの場合に
はＳＴ９へ分岐する。

もし、この試料に分析項目としてａ又はｃが残ってお
り、ＳＴ４へ分岐した場合には、分析装置Ａ１〜Ａ３、
Ｃ１、Ｃ２いずれもが分析中であるので、ＳＴ４の判定
はＮＯとなる。そして、ＳＴ１０へ分岐し、試料分析待
ちリストのラック番号１１のところに登録されることと
なる。なお、この時には試料容器は未分析試料ラックＬ
_１の１１番の位置に戻される。

ＳＴ９へ分岐した場合には、試料搬送装置Ｔを作動させ
て、試料容器を分析装置Ｂ２のところから、分析済み試
料容器ラックＬ_２へ搬送し、ＳＴ１へ戻る。

ＳＴ２の判定がＮＯの場合又はＳＴ１０の処理が終了し
た場合には、ＳＴ１１の判定が行われる。ＳＴ１１で
は、分析装置Ａ１〜Ｃ２のいずれかより分析終了信号が
入力されたか否かを判定する。この判定がＹＥＳの場合
にはＳＴ１２へ、ＮＯの場合にはＳＴ１へそれぞれ分岐
する。

ＳＴ１２では、試料分析待ちリストを検索し、続くＳＴ
１３では、分析終了信号を発した分析装置で分析可能な
試料があるか否かを判定する。この判定がＹＥＳの場合
にはＳＴ１４へ、ＮＯの場合にはＳＴ１５へそれぞれ分
岐する。ＳＴ１４では、分析可能な試料の内ラッチ番号
の最も小さいものの登録を抹消して、ＳＴ６へ進む。Ｓ
Ｔ６では、当該試料の容器を分析終了信号を発した分析
装置の所へ搬送し、以下先と同様の処理が行われる。一
方、ＳＴ１５へ分岐した時は、分析装置状態テーブルの
分析終了信号を発した分析装置の所を「分析中」より
「空」に変更し、ＳＴ１へ戻る。

このＳＴ１１〜ＳＴ１５の動作を、再び第３図、第４図
に示す状態を例に挙げて説明する。もし分析装置Ａ２よ
り分析終了信号が入力されたとすると、ＳＴ１１の判定
がＹＥＳとなり、ＳＴ１２へ分岐する。ＳＴ１２では、
試料分析待ちリストを検索し、分析装置Ａ２で分析可能
な試料、すなわち分析項目にａが含まれている試料を検
索する。第４図の場合では、ラック番号７、８、９の試
料が該当しており、ＳＴ１３の判定はＹＥＳとなりＳＴ
１４へ分岐する。ＳＴ１４では、試料分析待ちリストの
ラック番号７の部分を抹消し、ＳＴ６では、この試料の
容器を分析装置Ａ２のところへ搬送する。

もしＳＴ１１において、分析装置Ｂ１から分析終了信号
が入力された場合には、試料分析待ちリスト中に分析項
目ｂを含む試料が登録されていないので、ＳＴ１３の判
定がＮＯとなり、ＳＴ１５で分析装置状態テーブルＢ１
の所を「分析中」から「空」に変更することになる。

（ヘ）発明の効果以上説明したように、この発明の自動分析装置は、同じ
分析条件に設定された複数の分析装置からなる分析装置
グループと、試料容器を装填する試料ラックと、この試
料ラックより各分析装置に試料容器を搬送する試料容器
搬送手段と、各分析装置が分析中であるか否かを登録す
る分析装置状態テーブルと、試料について分析待ちを登
録試料分析待ちリストと、この分析装置状態テーブルと
試料分析待ちリストとを照合し、待ち時間が最も少なく
なるよう試料を分析装置に割り当てる試料割当手段とを
備えてなるものであるから、１つの分析装置に障害が生
じても、分析処理が全面的に停止することがなくなる。
また、特定の分析装置に負荷がかたよることもなくな
り、多数の試料を短時間で効率よく分析することができ
る。

【図面の簡単な説明】

図面は、何れもこの発明の一実施例を示し、第１図は、
同実施例に係る自動分析装置の構成を説明する図、第２
図は、同自動分析装置の制御装置の回路構成を説明する
ブロック図、第３図は、同自動分析装置の分析装置状態
テーブルを示す図、第４図は、同自動分析装置の試料分
析待ちリストの一部を示す図、第５図は、同自動分析装
置の動作を説明するフロー図である。Ａ１・Ａ２・Ａ３・Ｂ１・Ｂ２・Ｃ１・Ｃ２：分析装
置、Ｔ：試料容器搬送装置、Ｌ_１：未分析試料容器ラック、Ｌ_２：分析済み試料容器ラック、Ｘ：制御装置、１：ＣＰＵ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】同じ分析条件に設定された複数の分析装置
からなる分析装置グループと、試料容器を装填する試料
ラックと、この試料ラックより各分析装置に試料容器を
搬送する試料容器搬送手段と、各分析装置が分析中であ
るか否かを登録する分析装置状態テーブルと、試料につ
いて分析待ちを登録する試料分析待ちリストと、この分
析装置状態テーブルと試料分析待ちリストとを照合し、
待ち時間が最も少なくなるよう試料を分析装置に割り当
てる試料割当手段とを備えてなる自動分析装置。