JPH0623798B2 - Voltage setting circuit - Google Patents
Voltage setting circuitInfo
- Publication number
- JPH0623798B2 JPH0623798B2 JP59076860A JP7686084A JPH0623798B2 JP H0623798 B2 JPH0623798 B2 JP H0623798B2 JP 59076860 A JP59076860 A JP 59076860A JP 7686084 A JP7686084 A JP 7686084A JP H0623798 B2 JPH0623798 B2 JP H0623798B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- output
- setting circuit
- attenuator
- setting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は、自動試験器等における電源電圧および試験用
電圧の設定回路に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a power supply voltage and test voltage setting circuit in an automatic tester or the like.
(b) 技術の背景 電子部品の出荷および評価のための試験に使用する試験
器は、ディジタル回路用については自動化が進んでいる
が、これに比べアナログ回路用については、自動化が遅
れている。例えば、リニア IC 用の自動試験器の開発
は、ディジタル IC 用に比べて遅れており、手動で行っ
ている場合が多いのが現状である。そのひとつの原因
は、自動試験のために必要な電源電圧及び入力信号電圧
を、高精度に設定して供給する回路を、比較的低いコス
トで得ることが困難であったからである。(b) Background of the technology The testers used for tests for shipment and evaluation of electronic components are being automated for digital circuits, but are slower for analog circuits. For example, the development of automatic testers for linear ICs has been delayed compared to that for digital ICs, and the current situation is that they are often done manually. One of the reasons is that it is difficult to obtain a circuit that sets and supplies the power supply voltage and the input signal voltage required for the automatic test with high accuracy at a relatively low cost.
(c) 従来技術と問題点 リニア IC 等を自動試験するために、電源電圧及び入力
信号電圧を高精度に設定し、供給するための方法とし
て、従来は、ディジタル/アナログ変換器(以下 DACと
略称す)によって負荷の電源を直接制御する方法をとっ
ていた。(c) Conventional technology and problems As a method for setting and supplying the power supply voltage and the input signal voltage with high accuracy in order to automatically test a linear IC or the like, conventionally, a digital / analog converter (hereinafter referred to as DAC) has been used. Abbreviation) was used to directly control the power supply of the load.
この従来の方法によっては、DAC の精度が、直ちに供給
する電圧の設定精度になるため、極めて精度の高い DAC
が必要であった。例えば、必要とする試験用の電圧設定
値の変動ステップとして 5mVの精度が必要であり、DAC
のフルスケール電圧が 10Vであるとすると、 10V/5mV ≒ 211 であるから、11ビットという高精度の DACが必要とな
り、非常に高価なものとなる。According to this conventional method, the accuracy of the DAC becomes the setting accuracy of the voltage to be supplied immediately, so that the accuracy of the DAC is extremely high.
Was needed. For example, an accuracy of 5 mV is required as the fluctuation step of the required voltage setting for the test, and the DAC
When the full-scale voltage is assumed to be 10V, the because it is 10V / 5 mV ≒ 2 11, high-precision DAC is required that 11 bits, becomes very expensive.
(d) 発明の目的 本発明は、従来技術の問題点を除去し、高精度に試験用
の電圧を供給する電源電圧設定回路を得ることを目的と
している。(d) Object of the Invention It is an object of the present invention to eliminate the problems of the prior art and obtain a power supply voltage setting circuit that supplies a test voltage with high accuracy.
(e) 発明の構成 上記目的は、ディジタル/アナログ変換器の出力フルス
ケール電圧を、最終出力において必要とする電圧変動分
に相当する値まで減衰させ、出力基準電圧と合成して出
力するよう構成した本発明によって達成される。(e) Configuration of the Invention The above object is configured so that the output full-scale voltage of the digital / analog converter is attenuated to a value corresponding to the required voltage fluctuation at the final output, and is combined with the output reference voltage and output. It is achieved by the present invention.
即ち、DAC の出力フルスケール電圧を、最終出力におい
て必要とする電圧変動分に相当するよう減衰することに
よって、必要とする電圧変動範囲を満足しながら、電圧
変動のステップ幅を圧縮して小さくし、高い精度を得る
と共に、出力基準電圧と合成することによって、必要な
基準電圧中心値を与えるものである。That is, by attenuating the DAC full-scale output voltage so that it corresponds to the voltage fluctuation required at the final output, the step width of voltage fluctuation is compressed and reduced while satisfying the required voltage fluctuation range. In addition to obtaining high accuracy, the required reference voltage center value is given by combining with the output reference voltage.
(f) 発明の実施例 以下本発明の一実施例について説明する。第1図は本発
明による電圧設定回路の構成ブロック図を示す。1は D
AC、2は抵抗減衰器、3は演算増幅器を示し、RA,RB,R1
は抵抗器、Vin はDAC の入力コード信号、 VD はDAC の
出力電圧、 Vref は出力基準電圧、Voutは最終出力電圧
を示す。(f) Example of Invention An example of the present invention will be described below. FIG. 1 shows a block diagram of a voltage setting circuit according to the present invention. 1 is D
AC, 2 is a resistance attenuator, 3 is an operational amplifier, RA, RB, R1
Is a resistor, Vin is the input code signal of the DAC, VD is the output voltage of the DAC, Vref is the output reference voltage, and Vout is the final output voltage.
自動試験器において必要な電源電圧及び入力信号電圧
を、自動的に高精度に設定するため、マイクロコンピュ
ータなどから、制御入力コードVin が DAC 1に加えられ
る。DAC 1 の出力アナログ電圧 VD は、抵抗減衰器 2に
加えられて減衰(圧縮)され、その出力は演算増幅器 3
の−端子に加えられる。演算増幅器 3の+端子には出力
基準電圧が加えられ、演算増幅器 3の出力電圧 Vout が
目的とする最終出力電圧となる。A control input code Vin is applied to the DAC 1 from a microcomputer or the like in order to automatically and accurately set the power supply voltage and input signal voltage required in the automatic tester. The output analog voltage VD of DAC 1 is added to and attenuated (compressed) by the resistive attenuator 2, and its output is the operational amplifier 3
-To the terminal. An output reference voltage is applied to the + terminal of the operational amplifier 3, and the output voltage Vout of the operational amplifier 3 becomes the target final output voltage.
第2図は、第1図に示した抵抗減衰器 2の等価回路を示
す。図において 2は抵抗減衰器、2′は抵抗減衰器 2の
等価回路を示す。等価回路2′における抵抗 Rおよび電
圧 VD′は次の式で表すことができる。FIG. 2 shows an equivalent circuit of the resistance attenuator 2 shown in FIG. In the figure, 2 is a resistance attenuator and 2'is an equivalent circuit of the resistance attenuator 2. The resistance R and voltage VD 'in the equivalent circuit 2'can be expressed by the following equation.
R =RA・RB/(RA+RB)…………………(1) VD′={RB/(RA+RB)}VD …………(2) R は演算増幅器側からみた抵抗減衰器のインピダンスを
示し、VD′はDAC の出力電圧 VD の減衰器によって減衰
された値を示す。R = RA ・ RB / (RA + RB) …………………… (1) VD ′ = {RB / (RA + RB)} VD ………… (2) R is the impedance of the resistance attenuator seen from the operational amplifier side. VD 'indicates the value of the output voltage VD of the DAC attenuated by the attenuator.
再び第1図に戻り、(1),(2)式の結果を導入して、演算
増幅器 3の入力と出力の関係を求めると次のようにな
る。Returning to FIG. 1 again, the results of equations (1) and (2) are introduced to obtain the relationship between the input and output of the operational amplifier 3 as follows.
Vout=(1+R1/R )Vref−(R1/R )VD′…………(3) (3)式の右辺の第1項は、出力電圧 Vout の基準となる
電圧値を示し、第2項は電圧の変動分を示すものであ
る。第1項の(1+R1/R )は演算増幅器の電圧利得であ
って、これを kとすると、第1項は K・Vrefと表すこと
ができ、Vrefとして印加する電圧および Kによって決定
する。第2項の電圧変動分は、DAC の出力電圧 VD およ
び抵抗減衰器の抵抗RA,RB によって決定する。Vout = (1 + R1 / R) Vref− (R1 / R) VD ′ ………… (3) The first term on the right side of the equation (3) indicates the reference voltage value of the output voltage Vout, and The second term shows the variation of the voltage. The first term, (1 + R1 / R), is the voltage gain of the operational amplifier. If this is k, the first term can be expressed as K · Vref, which is determined by the voltage applied as Vref and K. . The voltage fluctuation of the second term is determined by the output voltage VD of the DAC and the resistances RA and RB of the resistance attenuator.
第3図は本発明に関わる電圧設定回路の出力電圧 Vout
と、基準電圧および電圧変動範囲の関係を示す図であ
る。必要とする基準電圧および電圧変動範囲を満足する
よう、Vrefを印加し、減衰器の減衰比を調整する。これ
によってDAC の入力 Vinは、出力電圧Voutの変動分ΔVo
utのみを制御することになり、入力 nビットのDAC を使
用した場合の変動ステップ幅は、ΔVout/ 2nとなり、
高精度の制御が可能である。例えば、 ΔVout=1.0 V ,n = 8ビット とすると、Voutの絶対値とは関係なく、変動ステップ幅
は、 1.0 V / 28≒ 4mV という高精度の値となる。FIG. 3 shows the output voltage Vout of the voltage setting circuit according to the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a reference voltage and a voltage fluctuation range. Vref is applied and the damping ratio of the attenuator is adjusted so as to satisfy the required reference voltage and voltage fluctuation range. As a result, the input Vin of the DAC is the variation ΔVo of the output voltage Vout.
This means that only ut is controlled, and the fluctuation step width when using an input n-bit DAC is ΔVout / 2n ,
High-precision control is possible. For example, when .DELTA.Vout = 1.0 V, and n = 8 bits, regardless of the absolute value of Vout, the variation step width, the precision of the value of 1.0 V / 2 8 ≒ 4mV.
(g) 発明の効果 以上説明したように、本発明による電圧設定回路におい
ては、DAC は出力電圧の変動分のみを制御するものであ
るから、比較的精度の低いDAC を使用して極めて高精度
の電圧設定が可能であり、従って比較的低いコストで、
リニア IC 等の自動試験器を実現させるのに大いに効果
がある。(g) Effect of the Invention As described above, in the voltage setting circuit according to the present invention, since the DAC controls only the fluctuation of the output voltage, the DAC with relatively low accuracy is used to achieve extremely high accuracy. Voltage can be set, and therefore at a relatively low cost,
It is very effective in realizing an automatic tester such as a linear IC.
第1図は本発明による電圧設定回路の構成ブロック図、
第2図は抵抗減衰器の等価回路図、第3図は電圧設定回
路の出力電圧 Vout と、基準電圧および電圧変動範囲の
関係を示す図である。 図面において、1 は D-A変換器、2 は抵抗減衰器、2′
は抵抗減衰器の等価回路、3 は演算増幅器をそれぞれ示
す。FIG. 1 is a configuration block diagram of a voltage setting circuit according to the present invention,
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of the resistance attenuator, and FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the output voltage Vout of the voltage setting circuit and the reference voltage and the voltage fluctuation range. In the drawing, 1 is a DA converter, 2 is a resistance attenuator, 2 '
Is an equivalent circuit of a resistance attenuator, and 3 is an operational amplifier.
Claims (1)
の電圧を設定するための電圧設定回路であって、 ディジタル/アナログ変換器と、 該ディジタル/アナログ変換器の出力電圧を、出力フル
スケール電圧を本電圧設定回路出力において必要とする
電圧変動分に相当する値まで減衰させる減衰器と、 本電圧設定回路が必要とする最低設定電圧と最高設定電
圧の中間値の出力基準電圧を供給する出力基準電圧電源
と、 前記減衰器の出力電圧と前記出力基準電圧とを加算する
加算回路とを備え、 前記ディジタル/アナログ変換器の出力電圧を前記減衰
器により減衰させた値と前記出力基準電圧とを前記加算
器により合成して出力するよう構成したことを特徴とす
る電圧設定回路。1. A voltage setting circuit for setting a voltage for analog circuit testing in an automatic test apparatus, comprising: a digital / analog converter, an output voltage of the digital / analog converter, and an output full scale voltage. An attenuator that attenuates to a value equivalent to the voltage fluctuation required for the output of this voltage setting circuit, and an output reference that supplies an output reference voltage that is an intermediate value between the minimum setting voltage and the maximum setting voltage required by this voltage setting circuit. A voltage power supply; and an adder circuit for adding the output voltage of the attenuator and the output reference voltage, and a value obtained by attenuating the output voltage of the digital / analog converter by the attenuator and the output reference voltage. A voltage setting circuit configured to be combined by the adder and output.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59076860A JPH0623798B2 (en) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | Voltage setting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59076860A JPH0623798B2 (en) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | Voltage setting circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60220867A JPS60220867A (en) | 1985-11-05 |
| JPH0623798B2 true JPH0623798B2 (en) | 1994-03-30 |
Family
ID=13617401
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59076860A Expired - Lifetime JPH0623798B2 (en) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | Voltage setting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623798B2 (en) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5583335A (en) * | 1978-12-20 | 1980-06-23 | Hitachi Ltd | Digital-to-analog converter |
| JPS5725721A (en) * | 1980-07-21 | 1982-02-10 | Mitsubishi Electric Corp | Digital-to-analog converter |
| JPS58152355A (en) * | 1982-03-05 | 1983-09-09 | Jeol Ltd | Lens current setting circuit |
-
1984
- 1984-04-17 JP JP59076860A patent/JPH0623798B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60220867A (en) | 1985-11-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5121119A (en) | Analog-to-digital conversion method and system with correction of analog gain and offset | |
| US4507618A (en) | Compensation method and apparatus for an RC attenuator | |
| US4679162A (en) | Wide dynamic range linear to log converter with microcomputer control | |
| JP4625453B2 (en) | Measuring circuit with improved accuracy | |
| JPH07326970A (en) | A / D converter and test method for A / D converter | |
| JPH0623798B2 (en) | Voltage setting circuit | |
| EP0051911B1 (en) | Method and apparatus for enhancing the output of a log-antilog type rms converter | |
| JP3216171B2 (en) | IC test equipment calibration method | |
| US5543706A (en) | Circuit and method for measuring current in a circuit | |
| US3571706A (en) | Voltage measuring apparatus employing feedback gain control to obtain a predetermined output and a feedback loop to readout the gain value | |
| US4644193A (en) | Analog circuit for simulating a digitally controlled rheostat | |
| US4025849A (en) | Method of measuring analog input voltages through isolation transformers and apparatus for the same | |
| US4495462A (en) | Current source test circuitry | |
| US6512471B2 (en) | Intentionally non-monotonic digital-to-analog converter | |
| US4878009A (en) | Voltage source having preset values for source voltage and internal resistance | |
| JPS6239938B2 (en) | ||
| JP2948633B2 (en) | Method for measuring voltage of semiconductor device | |
| SU976412A1 (en) | Linear converter calibration method | |
| JP2812132B2 (en) | Multiplication circuit with calibration function | |
| JP2565866Y2 (en) | IC tester parallel connected device power supply | |
| JP2018205223A (en) | Gain control amplifier | |
| JPH01200715A (en) | Comparator circuit | |
| JP2794050B2 (en) | AD converter test equipment | |
| JP2672690B2 (en) | Semiconductor device testing method | |
| JP3468197B2 (en) | Method for measuring gain of variable amplifier |