JPH0627712B2 - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JPH0627712B2 JPH0627712B2 JP63029794A JP2979488A JPH0627712B2 JP H0627712 B2 JPH0627712 B2 JP H0627712B2 JP 63029794 A JP63029794 A JP 63029794A JP 2979488 A JP2979488 A JP 2979488A JP H0627712 B2 JPH0627712 B2 JP H0627712B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- inspection
- lcd
- liquid crystal
- crystal display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、プローブ装置に関するものである。
(従来の技術) 一般に、テレビ画像表示には多結晶シリコン薄膜トラン
ジスタ(以降TFTと略記する)アレイを形成した透明
な石英ガラス基板と、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフ
ィルタを形成した透明ガラス基板の間に液晶を封入し、
ツイステッド・ネマチック(以降TNと略記する)モー
ドにより表示する液晶カラ・パネルを用いている。そし
て各画素ごとに作り込んだTFTは、それぞれの画素の
表示のオン・オフを制御している。
ジスタ(以降TFTと略記する)アレイを形成した透明
な石英ガラス基板と、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフ
ィルタを形成した透明ガラス基板の間に液晶を封入し、
ツイステッド・ネマチック(以降TNと略記する)モー
ドにより表示する液晶カラ・パネルを用いている。そし
て各画素ごとに作り込んだTFTは、それぞれの画素の
表示のオン・オフを制御している。
このように、スイッチ用として使用しているTFTアレ
イを集積したこの種のパネルを一般にアクティブ・マト
リクス・パネルと称している。
イを集積したこの種のパネルを一般にアクティブ・マト
リクス・パネルと称している。
上記アクティブ・マトリクス・パネルの液晶表示体(以
降LCDと略記する)を製造する工程の一つに、LCD
の画素を目視観察する工程がある。
降LCDと略記する)を製造する工程の一つに、LCD
の画素を目視観察する工程がある。
この工程では目視観察するプローブ装置を用いて実行さ
れている。
れている。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来のプローブ装置では、TFTアレイ
を集積したLCDを支持台に支持して、X軸.Y軸.Z
軸等を駆動させたのち、 通電されたプローブ端子電極を上記LCDの電極に接触
させる。さらに、支持台の表面に敷設されているバック
ライトによって、上記LCDの色彩の表示を観察検査す
るものであるが、 上記プローブ装置内で各機構部が移動摩擦で静電気が生
じてしまう。
を集積したLCDを支持台に支持して、X軸.Y軸.Z
軸等を駆動させたのち、 通電されたプローブ端子電極を上記LCDの電極に接触
させる。さらに、支持台の表面に敷設されているバック
ライトによって、上記LCDの色彩の表示を観察検査す
るものであるが、 上記プローブ装置内で各機構部が移動摩擦で静電気が生
じてしまう。
この静電気が上記TFTアレイを集積したLCDを破損
させてしまうという欠点があった。
させてしまうという欠点があった。
本発明の目的とするところは、上述した従来の欠点に鑑
みなされたもので、静電気が上記TFTアレイを集積し
たLCDを破損されないプローブ装置を提供することに
ある。
みなされたもので、静電気が上記TFTアレイを集積し
たLCDを破損されないプローブ装置を提供することに
ある。
(課題を解決するための手段) 本発明は前記目的を達成するために、液晶表示体をロー
ダ部から移送部を介し検査部の支持台上に移載支持し、
その支持台をX・Y軸及びθ方向に移動制御して該液晶
表示体をアライメントし、この状態で支持台をZ軸方向
に上昇させて液晶表示体の電極にヘッドプレート裏面の
プローブ端子電極を接触して通電し、この時の液晶表示
体の画素の特性状態を顕微鏡により目視観察する検査装
置において、前記ローダ部から移送部を介し検査部に液
晶表示体を搬送する各種可動部材並びに該検査部の支持
台の移動制御に伴う摩擦による静電気発生部分と、これ
らローダ部・移送部及び検査部を覆う筐体やヘッドプレ
ートの内側面とに導電性を有する帯電防止部材を設け、
これら帯電防止部材を導線を介してアースに接続したこ
とを特徴とする。
ダ部から移送部を介し検査部の支持台上に移載支持し、
その支持台をX・Y軸及びθ方向に移動制御して該液晶
表示体をアライメントし、この状態で支持台をZ軸方向
に上昇させて液晶表示体の電極にヘッドプレート裏面の
プローブ端子電極を接触して通電し、この時の液晶表示
体の画素の特性状態を顕微鏡により目視観察する検査装
置において、前記ローダ部から移送部を介し検査部に液
晶表示体を搬送する各種可動部材並びに該検査部の支持
台の移動制御に伴う摩擦による静電気発生部分と、これ
らローダ部・移送部及び検査部を覆う筐体やヘッドプレ
ートの内側面とに導電性を有する帯電防止部材を設け、
これら帯電防止部材を導線を介してアースに接続したこ
とを特徴とする。
(作用) 本発明の検査装置によれば、ローダ部に搬入された液晶
表示体が該ローダ部から移送部を介し検査部の支持台上
に移載支持され、そこで該支持台のX・Y軸及びθ方向
に移動制御により液晶表示体がアライメント(ヘッドプ
レート裏面のプローブ端子電極との位置合わせ)され、
この状態で支持台がZ軸方向に上昇して液晶表示体の電
極にヘッドプレート裏面のプローブ端子電極を接触して
通電する。これで該液晶表示体の画素を励起し、その状
態を顕微鏡により目視観察することで、該液晶表示体の
特性が検査できるようになる。
表示体が該ローダ部から移送部を介し検査部の支持台上
に移載支持され、そこで該支持台のX・Y軸及びθ方向
に移動制御により液晶表示体がアライメント(ヘッドプ
レート裏面のプローブ端子電極との位置合わせ)され、
この状態で支持台がZ軸方向に上昇して液晶表示体の電
極にヘッドプレート裏面のプローブ端子電極を接触して
通電する。これで該液晶表示体の画素を励起し、その状
態を顕微鏡により目視観察することで、該液晶表示体の
特性が検査できるようになる。
こうした液晶表示体の特性検査中、前記ローダ部から移
送部を介し検査部に液晶表示体を搬送する各種可動部材
並びに該検査部の支持大の移動制御に伴う摩擦により静
電気が発生しても、それら静電気が帯電することなく、
前記各種可動部材及び支持台の摩擦静電気発生部分や、
そのローダ部・移送部及び検査部を覆う筐体やヘッドプ
レートの内側面部に設けた導電性を有する帯電防止部材
を通って導線よりアースに流れて除電されるようにな
る。これにて、静電気がTFT(多結晶シリコン薄膜ト
ランジスタ)アレイを集積した液晶表示体に流れるのを
確実に防止できて、該液晶表示体のTFTアレイの破損
防止が図れて安定した信頼性の高い検査が可能となる。
送部を介し検査部に液晶表示体を搬送する各種可動部材
並びに該検査部の支持大の移動制御に伴う摩擦により静
電気が発生しても、それら静電気が帯電することなく、
前記各種可動部材及び支持台の摩擦静電気発生部分や、
そのローダ部・移送部及び検査部を覆う筐体やヘッドプ
レートの内側面部に設けた導電性を有する帯電防止部材
を通って導線よりアースに流れて除電されるようにな
る。これにて、静電気がTFT(多結晶シリコン薄膜ト
ランジスタ)アレイを集積した液晶表示体に流れるのを
確実に防止できて、該液晶表示体のTFTアレイの破損
防止が図れて安定した信頼性の高い検査が可能となる。
(実施例) 以下、本発明プローブ装置を目視観察プローバに適用し
た一実施例を図面を参照して具体的に説明する。
た一実施例を図面を参照して具体的に説明する。
先ず、本実施例目視観察プローバの外観構成について説
明すると、第6図に示すように、この目視観察プローバ
(1)は大別してLCDを搬送するローダ部(2)と、搬送さ
れたLCDを目視観察検査する検査部(3)とから構成さ
れている。
明すると、第6図に示すように、この目視観察プローバ
(1)は大別してLCDを搬送するローダ部(2)と、搬送さ
れたLCDを目視観察検査する検査部(3)とから構成さ
れている。
尚、上記検査部(3)に関連するものとして、操作する操
作面(4)と、この目視観察プローバ(1)を稼働させるため
に必要な情報を入力するキーボード(5)と、上記LCD
を上部から観察する顕微鏡(6)と、上記LCDの位置決
め、すなわちアライメントする過程を写し出す表示装置
(7)とが、上記目視観察プローバ(1)の上方後部の筐体上
に配置されている。
作面(4)と、この目視観察プローバ(1)を稼働させるため
に必要な情報を入力するキーボード(5)と、上記LCD
を上部から観察する顕微鏡(6)と、上記LCDの位置決
め、すなわちアライメントする過程を写し出す表示装置
(7)とが、上記目視観察プローバ(1)の上方後部の筐体上
に配置されている。
上記ローダ部(2)と検査部(3)とは併列して一対に構成さ
れているが、LCDの搬送方向の傾きが異っている。例
えばローダ部(2)側では水平方向に二次元的に移動搬送
するのに対し、検査部(3)側では傾斜された傾斜面、例
えば45°の傾斜面、に対して二次元的に移送するように
なっている。また、上記検査部(3)は傾斜した構成なの
で、上記ローダ部(2)からLCDを受け取った後に、こ
のLCDを傾斜させて検査部(3)まで移送するようにな
っている。
れているが、LCDの搬送方向の傾きが異っている。例
えばローダ部(2)側では水平方向に二次元的に移動搬送
するのに対し、検査部(3)側では傾斜された傾斜面、例
えば45°の傾斜面、に対して二次元的に移送するように
なっている。また、上記検査部(3)は傾斜した構成なの
で、上記ローダ部(2)からLCDを受け取った後に、こ
のLCDを傾斜させて検査部(3)まで移送するようにな
っている。
以上で、本実施例目視観察プローバ(1)の概略的な説明
をした。
をした。
上記ローダ部(2)について詳細に構成及び作用を説明す
る。
る。
上記ローダ部(2)は第5図で示すように、例えば4イン
チ角のLCD(8)を多数間隔を設けて並列方向に収容し
ているカセット(9)よりLCD(8)を取出し、さらに所定
の位置まで搬送し、例えばL距離まで搬送し、その後、
プリアライメント板(10)をサブチヤック(11)位置まで矢
印方向に移動させて、摺動コマの摺動によりアライメン
トしたのち、上記検査部(3)側の移送部(14)に移送され
るのを待つ状態に維持させる。また、検査部(3)で検査
終了したLCD(8)が移送されてきて、サブチヤック(1
1)上に載置されると、このLCD(8)をカセット(9)内に
戻すように搬送するものである。
チ角のLCD(8)を多数間隔を設けて並列方向に収容し
ているカセット(9)よりLCD(8)を取出し、さらに所定
の位置まで搬送し、例えばL距離まで搬送し、その後、
プリアライメント板(10)をサブチヤック(11)位置まで矢
印方向に移動させて、摺動コマの摺動によりアライメン
トしたのち、上記検査部(3)側の移送部(14)に移送され
るのを待つ状態に維持させる。また、検査部(3)で検査
終了したLCD(8)が移送されてきて、サブチヤック(1
1)上に載置されると、このLCD(8)をカセット(9)内に
戻すように搬送するものである。
上記一連の動作は、予め記憶されたプログラムに従って
各パルスモータの駆動を指示して実行されている。
各パルスモータの駆動を指示して実行されている。
以上で上記ローダ部(2)の構成及び作用の説明を終る。
次に、上記検査部(3)について説明する。
先ず、上記検査部(3)は、第5図に示すように上述した
ローダ部(2)側のサブチヤック(11)に載置したLCD(8)
を検査部(3)の下側に設けられた移送部(14)の把持装置
(15)が把持し、検査中心(17)まで移動し、支持台(18)面
に真空圧で吸着した後、上記支持台(18)が傾斜されてい
る基台(20)面に沿って、X軸.Y軸.及びθ方向に移動
制御してLCD(8)をアライメント(本位置合わせをい
う)している。
ローダ部(2)側のサブチヤック(11)に載置したLCD(8)
を検査部(3)の下側に設けられた移送部(14)の把持装置
(15)が把持し、検査中心(17)まで移動し、支持台(18)面
に真空圧で吸着した後、上記支持台(18)が傾斜されてい
る基台(20)面に沿って、X軸.Y軸.及びθ方向に移動
制御してLCD(8)をアライメント(本位置合わせをい
う)している。
その後、第4図に示すようにアライメントされたLCD
(8)の電極にプローブ端子電極(19)を接触させて、外部
に配置した電源から通電し、LCD(8)の画素を励起し
て、その状態を目視観察するものである。
(8)の電極にプローブ端子電極(19)を接触させて、外部
に配置した電源から通電し、LCD(8)の画素を励起し
て、その状態を目視観察するものである。
上記検査部(3)の構成は、傾斜した基台(20)面に平行に
X軸方向及びY軸方向に移動制御され、またZ軸方向
(傾斜面と直交する方向をいう)に移動制御され、さら
に、θ方向に回転制御される支持台(18)と、ここで、こ
の支持台(18)の表面にはLCD(8)が吸着するようにな
っており、このLCD(8)と平行に設けられたヘッドプ
レート(21)にはLCD(8)の電極に接触するようにプロ
ーブ端子電極(19)が配設されている。
X軸方向及びY軸方向に移動制御され、またZ軸方向
(傾斜面と直交する方向をいう)に移動制御され、さら
に、θ方向に回転制御される支持台(18)と、ここで、こ
の支持台(18)の表面にはLCD(8)が吸着するようにな
っており、このLCD(8)と平行に設けられたヘッドプ
レート(21)にはLCD(8)の電極に接触するようにプロ
ーブ端子電極(19)が配設されている。
上記プローブ端子電極(19)部と、LCDの電極(8a)部の
接触方法について、第2図〜第3図を参照して説明す
る。
接触方法について、第2図〜第3図を参照して説明す
る。
被観察体であるLCD(8)は、真空吸着機能を有する支
持台(18)に支持され、Z軸方向に昇降自在となってい
る。尚このLCD(8)は、例えば第3図に示すように、
四角形状のガラス基板の4方向に第1乃至第4の電極A1
〜A4を形成している。
持台(18)に支持され、Z軸方向に昇降自在となってい
る。尚このLCD(8)は、例えば第3図に示すように、
四角形状のガラス基板の4方向に第1乃至第4の電極A1
〜A4を形成している。
このLCD8の第1図乃至第4の電極A1〜A4に接触され
るプローブ端子電極19部はガラス電極(19a)で構成され
ている。このガラス電極(19a)は、上記各電極A1〜A4に
対応して4個所に設けられ、上記支持台(18)の上昇によ
って各電極A1〜A4に当接するように配置されている。
るプローブ端子電極19部はガラス電極(19a)で構成され
ている。このガラス電極(19a)は、上記各電極A1〜A4に
対応して4個所に設けられ、上記支持台(18)の上昇によ
って各電極A1〜A4に当接するように配置されている。
上記ガラス電極(19a)の先端は、電極パターン(19b)が所
定間隔毎に多数形成されると共に、この電極パターン(1
9b)上にバンプ(19c)第2図に示すように、突出する如く
形成している。
定間隔毎に多数形成されると共に、この電極パターン(1
9b)上にバンプ(19c)第2図に示すように、突出する如く
形成している。
そして、上記ガラス基板(19a)と、上記各電極A1〜A4を
接触させるための圧接手段としての圧接アーム(22)が上
記ガラス基板(19a)の上方向に支持されている。ここ
で、上記圧接アーム(22)で上記各電極A1〜A4を圧接する
ときに、上記バンプと接触される各電極との重り合いが
上面から目視観察できるように支持されている。
接触させるための圧接手段としての圧接アーム(22)が上
記ガラス基板(19a)の上方向に支持されている。ここ
で、上記圧接アーム(22)で上記各電極A1〜A4を圧接する
ときに、上記バンプと接触される各電極との重り合いが
上面から目視観察できるように支持されている。
この圧接アーム(22)の反対端はヘッドプレート(21)の裏
面に設けられている回転軸に設けられている。この回転
方向は垂直面内に回転自在に設けられ一定の回転より下
方に回転しないように設けられている。
面に設けられている回転軸に設けられている。この回転
方向は垂直面内に回転自在に設けられ一定の回転より下
方に回転しないように設けられている。
さらに、上記圧接アーム(22)の軸と固定された別のアー
ム(23)を設けこのアームに回転方向に回動させると、上
記圧接アーム(22)がLCDの表面に接触する方向に回動
するように設けられている。
ム(23)を設けこのアームに回転方向に回動させると、上
記圧接アーム(22)がLCDの表面に接触する方向に回動
するように設けられている。
そして、上記別のアーム(23)の端部にソレノイド(23a)
が設けられ、このソレノイド(23a)にエアーを供給する
ように設けられている。
が設けられ、このソレノイド(23a)にエアーを供給する
ように設けられている。
また、上記ガラス電極(19a)の反対端には、フィルム基
板(24)がガラス電極(19a)と対応して溶着されている。
板(24)がガラス電極(19a)と対応して溶着されている。
従って、LCD(8)の電極(8a)にガラス基板に設けられ
たバンプ(19c)の先端が接触して、通電されるようにな
っている。以上でLCDの電極(8a)とガラス基板に設け
られたガラス電極(19a)との接触方法についての説明を
終る。
たバンプ(19c)の先端が接触して、通電されるようにな
っている。以上でLCDの電極(8a)とガラス基板に設け
られたガラス電極(19a)との接触方法についての説明を
終る。
つぎに、上記接触方法でLCD(8)に通電したのちに、
顕微鏡(6)で上記LCD(8)の画素状態を観察するもので
ある。
顕微鏡(6)で上記LCD(8)の画素状態を観察するもので
ある。
次に、本実施例の目視観察プローバ(1)の特徴的構成
は、前述の如く、LCD(8)をローダ部(2)のカセ
ット(9)から移送部(14)を介し検査部3の支持台
(18)上に搬送する移送過程の各種可動部材と、該検査
部(3)の支持台(18)との移動に伴う摩擦による静電
気発生部分に導電性を有する帯電防止部材(図示せず)
が付設されている。即ち、ローダ部(2)及び移送部
(14)ではパルスモータやプーリ及びタイミングベルト
などの可動部材の移動に伴う摩擦静電気発生部分に、検
査部(3)では支持台(18)をX・Y・Z軸(前後・左
右・上下方向)及びθ方向(Z軸回りの回転方向)に移
動制御するパルスモータやボールスクリューの駆動機構
の稼働に伴う摩擦静電気発生部分に、それぞれ導電性を
有する帯電防止部材が付設されている。
は、前述の如く、LCD(8)をローダ部(2)のカセ
ット(9)から移送部(14)を介し検査部3の支持台
(18)上に搬送する移送過程の各種可動部材と、該検査
部(3)の支持台(18)との移動に伴う摩擦による静電
気発生部分に導電性を有する帯電防止部材(図示せず)
が付設されている。即ち、ローダ部(2)及び移送部
(14)ではパルスモータやプーリ及びタイミングベルト
などの可動部材の移動に伴う摩擦静電気発生部分に、検
査部(3)では支持台(18)をX・Y・Z軸(前後・左
右・上下方向)及びθ方向(Z軸回りの回転方向)に移
動制御するパルスモータやボールスクリューの駆動機構
の稼働に伴う摩擦静電気発生部分に、それぞれ導電性を
有する帯電防止部材が付設されている。
また、前記ローダ部(2)・移送部(14)及び検査部
(3)の周囲を覆う第1図に示す筐体の内側面(25
a),(25b),(25c),(25d),(25e),(25g)に
導電性を有する帯電防止部材が設けられていると共に、
ヘッドプレート(21)の内側面とに導電性を有する帯電
防止部材が付設されている。
(3)の周囲を覆う第1図に示す筐体の内側面(25
a),(25b),(25c),(25d),(25e),(25g)に
導電性を有する帯電防止部材が設けられていると共に、
ヘッドプレート(21)の内側面とに導電性を有する帯電
防止部材が付設されている。
そして、これら各所に付設した帯電防止部材が図示しな
い導線を介してアースに短絡するように接続されてい
る。
い導線を介してアースに短絡するように接続されてい
る。
従って、LCD(8)の特性検査中、前記LCD(8)
をローダ部(2)のカセット(9)から移送部(14)を
介し検査部3の支持台(18)上に搬送する各種可動部材
並びに該検査部(3)の支持台(18)との移動制御に伴
う摩擦による静電気が発生しても、それら静電気が帯電
することなく、前記各種可動部材及び支持台(18)の摩
擦静電気発生部分や、そのローダ部(2)・移送部(1
4)及び検査部(3)の周囲を覆う筐体の内側面(25
a),(25b),(25c),(25d),(25e),(25g)並
びにヘッドプレート(21)の内側面に付設した導電性を
有する帯電防止部材を通って導線よりアースに流れて除
電されるようになる。これにて、静電気がTFT(多結
晶シリコン薄膜トランジスタ)アレイを集積した液晶表
示体に流れるのを確実に防止できる。
をローダ部(2)のカセット(9)から移送部(14)を
介し検査部3の支持台(18)上に搬送する各種可動部材
並びに該検査部(3)の支持台(18)との移動制御に伴
う摩擦による静電気が発生しても、それら静電気が帯電
することなく、前記各種可動部材及び支持台(18)の摩
擦静電気発生部分や、そのローダ部(2)・移送部(1
4)及び検査部(3)の周囲を覆う筐体の内側面(25
a),(25b),(25c),(25d),(25e),(25g)並
びにヘッドプレート(21)の内側面に付設した導電性を
有する帯電防止部材を通って導線よりアースに流れて除
電されるようになる。これにて、静電気がTFT(多結
晶シリコン薄膜トランジスタ)アレイを集積した液晶表
示体に流れるのを確実に防止できる。
次に作用について説明する。
ローダ部(2)で、カセット(9)より一枚のLCD(8)を取
出し、これをプリアライメントした後に、ローダ部(2)
のサブチヤック(11)にLCD(8)が受け渡され、このサ
ブチヤック(11)が所定高さまで上昇する。また検査部
(3)では移送部(26)に設けられた把持装置(15)で上記サ
ブチヤック(11)の所定高さまで上昇して停止しているL
CD(8)を把持して、検査中心(17)まで移動し、検査中
心(17)の支持台(18)に吸着してプローブ端子電極(19)を
接触させて、通電によってLCD(8)の目視観察検査す
ることになる。
出し、これをプリアライメントした後に、ローダ部(2)
のサブチヤック(11)にLCD(8)が受け渡され、このサ
ブチヤック(11)が所定高さまで上昇する。また検査部
(3)では移送部(26)に設けられた把持装置(15)で上記サ
ブチヤック(11)の所定高さまで上昇して停止しているL
CD(8)を把持して、検査中心(17)まで移動し、検査中
心(17)の支持台(18)に吸着してプローブ端子電極(19)を
接触させて、通電によってLCD(8)の目視観察検査す
ることになる。
ここで、上記目視観察プローバ(1)では、ローダ部(2)の
搬送について、パルスモータ、プーリ及びタイミングベ
ルト等を用いてLCDを搬送しているので当然に静電気
発生源となっている。
搬送について、パルスモータ、プーリ及びタイミングベ
ルト等を用いてLCDを搬送しているので当然に静電気
発生源となっている。
また検査部(3)においても同様で支持台(18)をX軸.Y
軸及びZ軸.またθ回転方向に駆動させるパルスモータ
と、ボールスクリューの摩擦によって静電気発生源とな
っている。
軸及びZ軸.またθ回転方向に駆動させるパルスモータ
と、ボールスクリューの摩擦によって静電気発生源とな
っている。
これらの静電気を排除させることが不可欠である。
本実施例目視観察プローバ(1)では、このプローバ(1)自
身から発生した静電気は帯電防止部材(25)を介して、直
ちにアースを通って外部に除去されることになる。
身から発生した静電気は帯電防止部材(25)を介して、直
ちにアースを通って外部に除去されることになる。
また外部から進入した静電気でも直ちに帯電されないの
で直ちに外部に流出されてしまうことになる。
で直ちに外部に流出されてしまうことになる。
本実施例の効果は、目視観察プローバ(1)自身が静電気
を製造される如く発生されるものであり、またX軸.Y
軸.Z軸.及びθ回転と複雑な駆動部を配置し、さらに
これらの機構がそれぞれ消音のためにプラスチックが施
されているので静電気の流出する機会が少ないために帯
電されてしまう。これら表面に帯電防止部材を付設し
て、表面に帯電させず、結線されているのですべて外部
端子から静電気が地中に流出されることになり、常に静
電気が発生しても独自の静電気流出回路が設けられた状
態になっているので、TFT構造のLCD(8)でも、こ
のTFT構造に静電気が通電されず、安定した観察検査
が実行することが可能になる。
を製造される如く発生されるものであり、またX軸.Y
軸.Z軸.及びθ回転と複雑な駆動部を配置し、さらに
これらの機構がそれぞれ消音のためにプラスチックが施
されているので静電気の流出する機会が少ないために帯
電されてしまう。これら表面に帯電防止部材を付設し
て、表面に帯電させず、結線されているのですべて外部
端子から静電気が地中に流出されることになり、常に静
電気が発生しても独自の静電気流出回路が設けられた状
態になっているので、TFT構造のLCD(8)でも、こ
のTFT構造に静電気が通電されず、安定した観察検査
が実行することが可能になる。
本発明のプローブ装置によれば、TFT構造のLCDを
検査する場合であっても、静電気が上記LCDに影響さ
れないように帯電防止部材を設けているので、静電気に
より、破損させることなく安定した検査が可能となる。
検査する場合であっても、静電気が上記LCDに影響さ
れないように帯電防止部材を設けているので、静電気に
より、破損させることなく安定した検査が可能となる。
また、静電気に弱いTFT構造のLCDと、静電気に少
し強いLCDとの区別をすることなく検査が実行できる
ので無駄なLCDの種類分けが不用となるので作業能率
が向上する。
し強いLCDとの区別をすることなく検査が実行できる
ので無駄なLCDの種類分けが不用となるので作業能率
が向上する。
第1図は本発明のプローブ装置の一実施例を適用した目
視観察プローバの帯電防止部材を配置する配置説明図、 第2図は第1図のプローブ装置のLCDとプローブ端子
電極のガラス基板と接触させることを説明する説明図、 第3図は第1図のプローブ端子電極と、ガラス基板と、
LCDとの接触状態を説明する説明図 第4図は第1図のプローブ装置を目視観察プローバに用
いた検査部を説明する説明図 第5図は第1図のプローブ装置を目視観察プローバに用
いたローダ部を説明する説明図 第6図は、本発明を適用したプローブ装置の一実施例の
外観構成を説明する説明図である。 1……目視線察プローバ、2……ローダ部、 3……検査部、4……操作部、 5……キーボード、6……顕微鏡、 7……表示体、8……LCD、 9……カセット、 10……プリアライメント板、 11……サブチヤック、14……移送部、 15……把持部材、17……検査中心、 18……支持台、19……プローブ端子電極、 20……基台、21……ヘッドプレート、 22……圧接アーム、23……別のアーム、 24……フィルム基板、25……帯電防止部材。
視観察プローバの帯電防止部材を配置する配置説明図、 第2図は第1図のプローブ装置のLCDとプローブ端子
電極のガラス基板と接触させることを説明する説明図、 第3図は第1図のプローブ端子電極と、ガラス基板と、
LCDとの接触状態を説明する説明図 第4図は第1図のプローブ装置を目視観察プローバに用
いた検査部を説明する説明図 第5図は第1図のプローブ装置を目視観察プローバに用
いたローダ部を説明する説明図 第6図は、本発明を適用したプローブ装置の一実施例の
外観構成を説明する説明図である。 1……目視線察プローバ、2……ローダ部、 3……検査部、4……操作部、 5……キーボード、6……顕微鏡、 7……表示体、8……LCD、 9……カセット、 10……プリアライメント板、 11……サブチヤック、14……移送部、 15……把持部材、17……検査中心、 18……支持台、19……プローブ端子電極、 20……基台、21……ヘッドプレート、 22……圧接アーム、23……別のアーム、 24……フィルム基板、25……帯電防止部材。
Claims (1)
- 【請求項1】液晶表示体をローダ部から移送部を介し検
査部の支持台上に移載支持し、その支持台をX・Y軸及
びθ方向に移動制御して該液晶表示体をアラインメント
し、この状態で支持台をZ軸方向に上昇させて液晶表示
体の電極にヘッドプレート裏面のプローブ端子電極を接
触して通電し、この時の液晶表示体の画素の特性を顕微
鏡により目視観察する検査装置において、前記ローダ部
から移送部を介し検査部に液晶表示体を搬送する各種可
動部材並びに該検査部の支持台の移動制御に伴う摩擦に
よる静電気発生部分と、これらローダ部・移送部及び検
査部を覆う筐体やヘッドプレートの内側面部とに導電性
を有する帯電防止部材を設け、これら帯電防止部材を導
線を介してアースに接続したことを特徴とする検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029794A JPH0627712B2 (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63029794A JPH0627712B2 (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01203946A JPH01203946A (ja) | 1989-08-16 |
| JPH0627712B2 true JPH0627712B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=12285902
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63029794A Expired - Lifetime JPH0627712B2 (ja) | 1988-02-09 | 1988-02-09 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0627712B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101489369B1 (ko) * | 2013-12-09 | 2015-02-04 | (주)제이디 | 범프필름 및 프루브유닛 검사장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100352384B1 (ko) * | 1999-11-19 | 2002-09-11 | 주식회사 디이엔티 | 엘시디 검사시스템 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6348444A (ja) * | 1986-08-19 | 1988-03-01 | Narumi China Corp | ガラス基板の表面自動検査方法および装置 |
| JPH0224104U (ja) * | 1988-08-04 | 1990-02-16 |
-
1988
- 1988-02-09 JP JP63029794A patent/JPH0627712B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101489369B1 (ko) * | 2013-12-09 | 2015-02-04 | (주)제이디 | 범프필름 및 프루브유닛 검사장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01203946A (ja) | 1989-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3745750B2 (ja) | 表示パネルの検査装置および検査方法 | |
| KR100990002B1 (ko) | 대형 기판 테스트 시스템 | |
| US6759867B2 (en) | Inspection apparatus for liquid crystal display device | |
| US6486927B1 (en) | Liquid crystal display test system | |
| KR101227886B1 (ko) | 기판 합착장치 | |
| US7411410B2 (en) | LCD test device and test process thereof | |
| CN106802500B (zh) | 转位式液晶元件检查装置 | |
| WO2001062062A2 (en) | Component mounting apparatus and component mounting method, and recognition apparatus for component mount panel, component mounting apparatus for liquid crystal panel, and component mounting method for liquid crystal panel | |
| JPH0627712B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPH08262091A (ja) | 検査装置 | |
| JP2679958B2 (ja) | 液晶表示体の検査装置 | |
| JP2870990B2 (ja) | 液晶表示パネル用プローバ | |
| JP3407341B2 (ja) | 表示デバイス検査装置 | |
| JP3889839B2 (ja) | 位置合わせ装置及びパネル検査装置 | |
| JP2769372B2 (ja) | Lcdプローブ装置 | |
| JPH08102476A (ja) | 板状の被検査体の検査装置 | |
| KR101289050B1 (ko) | 진공챔버 정렬 장치 | |
| JP2549882B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPH10301076A (ja) | 液晶パネルの点灯試験装置 | |
| JP2000180807A (ja) | 液晶基板の検査装置 | |
| KR100352384B1 (ko) | 엘시디 검사시스템 | |
| JPH07199141A (ja) | 液晶基板の検査方法 | |
| KR100901489B1 (ko) | 기판 제조 장치 및 그 방법 | |
| JPH10123193A (ja) | 表示パネル基板の検査装置および検査方法 | |
| KR100562585B1 (ko) | 유기 이엘 패널 테스트장치 |