JPH0628243B2 - 有機金属気相成長装置 - Google Patents
有機金属気相成長装置Info
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- JPH0628243B2 JPH0628243B2 JP62303496A JP30349687A JPH0628243B2 JP H0628243 B2 JPH0628243 B2 JP H0628243B2 JP 62303496 A JP62303496 A JP 62303496A JP 30349687 A JP30349687 A JP 30349687A JP H0628243 B2 JPH0628243 B2 JP H0628243B2
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Links
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Landscapes
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、有機金属気相成長法による結晶成長装置に係
わり、特に外界からの水分、酸素の侵入を排除して高品
質の結晶を多数枚同時に成長できる装置に関する。
わり、特に外界からの水分、酸素の侵入を排除して高品
質の結晶を多数枚同時に成長できる装置に関する。
[従来の技術] 半導体単結晶層を成長させる際、半導体基板上に半導体
結晶層を成長させるエピタキシャル成長法が広く用いら
れる。このエピタキシャル成長法のなかで、有機金属気
相成長法(Metal Organic Vapor Phase Epitaxy、以下
MOVPEと略記)が注目されている。
結晶層を成長させるエピタキシャル成長法が広く用いら
れる。このエピタキシャル成長法のなかで、有機金属気
相成長法(Metal Organic Vapor Phase Epitaxy、以下
MOVPEと略記)が注目されている。
これは、トリメチルガリウム(Ga(CH3)3)やト
リエチルアルミニウム(Al(C2H5)3)等の有機金
属ガスとアルシン(AsH3)やホスフィン(PH3)を
原料として、それらを熱分解させてエピタキシャル成長
させる方法である。
リエチルアルミニウム(Al(C2H5)3)等の有機金
属ガスとアルシン(AsH3)やホスフィン(PH3)を
原料として、それらを熱分解させてエピタキシャル成長
させる方法である。
MOVPE法は精密な制御が可能であり、大量生産にも
向いているといわれ、半導体製造技術の中で重要な地位
を占めるようになった。
向いているといわれ、半導体製造技術の中で重要な地位
を占めるようになった。
MOVPE法により製造されたエピタキシャル成長層の
特性は、成長装置内の雰囲気に強く影響を受ける。すな
わち、アルミニウムやアンチモン等の酸化しやすい成分
を含む半導体製品を製造する場合、酸素や水分がMOV
PE装置内に少しでも残留していると、特性が著しく劣
化するという問題点がある。そのため、酸素や水分がM
OVPE成長装置内に侵入しないようにするための工夫
が従来よりなされてきた。
特性は、成長装置内の雰囲気に強く影響を受ける。すな
わち、アルミニウムやアンチモン等の酸化しやすい成分
を含む半導体製品を製造する場合、酸素や水分がMOV
PE装置内に少しでも残留していると、特性が著しく劣
化するという問題点がある。そのため、酸素や水分がM
OVPE成長装置内に侵入しないようにするための工夫
が従来よりなされてきた。
[発明が解決しようとする問題点] 上記の酸素や水分の侵入を防止する手段として、配管の
継手部の溶接化や、成長室そのものの石英からステンレ
ス製への変更によりリークタイトな構造としたり、真空
に排気できる準備室を設け、半導体ウエハは、その準備
室を通過して成長室に装填するような方法が採られてき
た。
継手部の溶接化や、成長室そのものの石英からステンレ
ス製への変更によりリークタイトな構造としたり、真空
に排気できる準備室を設け、半導体ウエハは、その準備
室を通過して成長室に装填するような方法が採られてき
た。
特に、真空準備室を設ける方法は有効である。しかし、
従来の装置では、半導体ウエハーは一枚だけしか投入で
きるものしかなく、量産型の多数枚同時成長型の装置で
は、予備室を備えるものはなく、成長中の半導体ウエハ
の表面に搬送機構が接触したり、力が加わると表面に損
傷が生じ、良好なエピタキシャル成長ができない可能性
が大きく、搬送が容易でなく、真空準備室を設けること
は困難であった。このような状況にあり、従来の量産型
の装置で酸化しやすいAl等を含む高品質な半導体エピ
タキシャル結晶を再現性よく成長させることは容易では
なかった。
従来の装置では、半導体ウエハーは一枚だけしか投入で
きるものしかなく、量産型の多数枚同時成長型の装置で
は、予備室を備えるものはなく、成長中の半導体ウエハ
の表面に搬送機構が接触したり、力が加わると表面に損
傷が生じ、良好なエピタキシャル成長ができない可能性
が大きく、搬送が容易でなく、真空準備室を設けること
は困難であった。このような状況にあり、従来の量産型
の装置で酸化しやすいAl等を含む高品質な半導体エピ
タキシャル結晶を再現性よく成長させることは容易では
なかった。
[発明の効果] 本発明は上述の問題点に鑑みてなされたもので、外界の
水分、酸素の侵入を防ぎ高品質のエピタキシャル結晶を
成長させることができる量産型の有機金属気相成長装置
を提供することを目的としている。
水分、酸素の侵入を防ぎ高品質のエピタキシャル結晶を
成長させることができる量産型の有機金属気相成長装置
を提供することを目的としている。
本発明装置は、端的には従来のたて型量産型のMOVP
E装置になかった真空準備室を成長室上側に設け、更に
成長室に半導体ウエハ搬送機構を設けて成長装置を構成
するものである。
E装置になかった真空準備室を成長室上側に設け、更に
成長室に半導体ウエハ搬送機構を設けて成長装置を構成
するものである。
以下、第1図に示す実施例により本発明を説明する。図
示のように、本発明の基本構成は、上部の搬送機構1
と、中間の真空準備室2と下側の成長室8からなる。
示のように、本発明の基本構成は、上部の搬送機構1
と、中間の真空準備室2と下側の成長室8からなる。
半導体ウエハ搬送機構1の搬送子1′は、動力により中
間の真空準備室2を垂直に貫通し、更にゲートバルブ6
を貫通して下側のサセプター9の周辺に到達できるよう
になっている。
間の真空準備室2を垂直に貫通し、更にゲートバルブ6
を貫通して下側のサセプター9の周辺に到達できるよう
になっている。
真空準備室2はその一側にウエハホルダー7を出し入れ
する扉5を備え、真空準備室排気系3とパイプで連結さ
れる。この真空準備室2の底部には、ゲートバルブ6に
至るパイプ孔19を間にして、扉の入口より直線方向にウ
エハホルダーカセット用レール18が布設される。この上
に、ホイールを備えるウエハ搭載用のホルダーカセット
17が載せられるが、このウエハホルダーカセット17は、
この上に搭載される半導体ウエハ12を搭載した複数のウ
エハホルダー7がそれぞれ相互に触れ合わず、かつ、半
導体ウエハ12の面は互に当らないような保持部20を具
え、レール18上で左,右いずれかの終端位置にあると
き、中間にあるゲートバルブ18に達するパイプ孔19はウ
エハホルダーカセット17の端部によって塞がれないよう
に設計される。真空準備室2はゲートバルブ6によって
成長室8より分離されている。
する扉5を備え、真空準備室排気系3とパイプで連結さ
れる。この真空準備室2の底部には、ゲートバルブ6に
至るパイプ孔19を間にして、扉の入口より直線方向にウ
エハホルダーカセット用レール18が布設される。この上
に、ホイールを備えるウエハ搭載用のホルダーカセット
17が載せられるが、このウエハホルダーカセット17は、
この上に搭載される半導体ウエハ12を搭載した複数のウ
エハホルダー7がそれぞれ相互に触れ合わず、かつ、半
導体ウエハ12の面は互に当らないような保持部20を具
え、レール18上で左,右いずれかの終端位置にあると
き、中間にあるゲートバルブ18に達するパイプ孔19はウ
エハホルダーカセット17の端部によって塞がれないよう
に設計される。真空準備室2はゲートバルブ6によって
成長室8より分離されている。
ゲートバルブ6の下方に設置される成長室8の壁面はい
わゆるたて型の成長室をなし、ステンレス製である。上
方の加熱により昇温する部分は二重壁構造となり、この
二重壁構造部分の下方で冷却水入口10が設けられ、上方
で冷却水出口11が設けられ、成長室8はその下部におい
て成長室排気系15とパイプで連結され、又、原料ガス供
給系4よりの原料ガスを受けるため、成長室8の頂部で
原料ガス供給系4とパイプで連結される。この成長室8
の頂部内側及びこれに対向するサセプター9の表面は、
後述のようにウエハホルダー7を装着した状態で原料ガ
ス流の乱れを生じないような形状に形成される。
わゆるたて型の成長室をなし、ステンレス製である。上
方の加熱により昇温する部分は二重壁構造となり、この
二重壁構造部分の下方で冷却水入口10が設けられ、上方
で冷却水出口11が設けられ、成長室8はその下部におい
て成長室排気系15とパイプで連結され、又、原料ガス供
給系4よりの原料ガスを受けるため、成長室8の頂部で
原料ガス供給系4とパイプで連結される。この成長室8
の頂部内側及びこれに対向するサセプター9の表面は、
後述のようにウエハホルダー7を装着した状態で原料ガ
ス流の乱れを生じないような形状に形成される。
回転式のサセプター9はサセプター回転機構13によって
垂直方向で回転できるように支持され、その内側にはウ
エハ12を加熱する抵抗型のヒーター16が配置され、ヒー
ター用電流導入端子14と接続される。
垂直方向で回転できるように支持され、その内側にはウ
エハ12を加熱する抵抗型のヒーター16が配置され、ヒー
ター用電流導入端子14と接続される。
本実施例で、ウエハホルダーカセット17は8枚のウエハ
ホルダー7を保持できるように形成されており、サセプ
ター9はその側面に4枚のウエハホルダー7を装着でき
る装着部を備えている。この理由は、成長室8のサセプ
ター9において一度に装着されるウエハホルダー7の枚
数の倍又はそれ以上の保持部20を設けて、4枚のウエハ
ホルダー7についてエピタキシャル成長を完了したとき
は、これを引上げ、真空準備室2のウエハホルダーカセ
ット17の空いた保持部に保持し、扉5を開くこなく、直
ちに、待機させておいた未エピタキシャル成長加工のウ
エハホルダー7をサセプター9に下ろして装着し、エピ
タキシャル処理に入るためである。もちろんウエハホル
ダーカセット7はサセプター9の装着できるウエハホル
ダー9と同枚数収容のものでもよい。
ホルダー7を保持できるように形成されており、サセプ
ター9はその側面に4枚のウエハホルダー7を装着でき
る装着部を備えている。この理由は、成長室8のサセプ
ター9において一度に装着されるウエハホルダー7の枚
数の倍又はそれ以上の保持部20を設けて、4枚のウエハ
ホルダー7についてエピタキシャル成長を完了したとき
は、これを引上げ、真空準備室2のウエハホルダーカセ
ット17の空いた保持部に保持し、扉5を開くこなく、直
ちに、待機させておいた未エピタキシャル成長加工のウ
エハホルダー7をサセプター9に下ろして装着し、エピ
タキシャル処理に入るためである。もちろんウエハホル
ダーカセット7はサセプター9の装着できるウエハホル
ダー9と同枚数収容のものでもよい。
棒状の搬送子1′がゲートバルブ6を通り、成長室8に
下降したとき、その先端に懸垂されたウエハホルダー7
は、サセプター9の外周に装着部として形成された、下
方出張り傾斜の凹部にすべり込むように、サセプター9
の表面に接した状態で下降し、凹部に嵌り込む。
下降したとき、その先端に懸垂されたウエハホルダー7
は、サセプター9の外周に装着部として形成された、下
方出張り傾斜の凹部にすべり込むように、サセプター9
の表面に接した状態で下降し、凹部に嵌り込む。
今、図の状態で、最左端のウエハホルダー7を成長室8
のサセプター9にセットするには、サセプター9を回転
させ、サセプター9の空きウエハホルダー7の装着部を
ゲートバルブ6の真下となる位置に置き、ウエハホルダ
ーカセット17を若干左に移動させ、ウエハホルダーカセ
ット17を搬送子1′の先端と連結し、若干上方に引上
げ、ウエハホルダーカセット17をもとの位置に後退さ
せ、ゲートバルブ6を開いた状態で搬送子1′を下降さ
せてウエハホルダー17をサセプター9に装着する。この
動作を順次繰返すことでサセプター9の全装着部の凹部
にウエハホルダー7をセットすることができる。これを
真空準備室2に引上げる時には、処理の終了したウエハ
ホルダー7を順次、図でゲートバルブ6に通じる孔19に
遠いウエハホルダーカセット17の保持部20より順に孔19
に近い保持部20にわたってセットする。
のサセプター9にセットするには、サセプター9を回転
させ、サセプター9の空きウエハホルダー7の装着部を
ゲートバルブ6の真下となる位置に置き、ウエハホルダ
ーカセット17を若干左に移動させ、ウエハホルダーカセ
ット17を搬送子1′の先端と連結し、若干上方に引上
げ、ウエハホルダーカセット17をもとの位置に後退さ
せ、ゲートバルブ6を開いた状態で搬送子1′を下降さ
せてウエハホルダー17をサセプター9に装着する。この
動作を順次繰返すことでサセプター9の全装着部の凹部
にウエハホルダー7をセットすることができる。これを
真空準備室2に引上げる時には、処理の終了したウエハ
ホルダー7を順次、図でゲートバルブ6に通じる孔19に
遠いウエハホルダーカセット17の保持部20より順に孔19
に近い保持部20にわたってセットする。
次に図示していないが、未処理のウエハホルダー7があ
るときは、前記カセット17全体を左方のレール18に移
し、前記動作を繰返し、最終的に全処理終ったとき、こ
の実施例では8枚の処理の終ったウエハホルダーがウエ
ハホルダーカセット17上にあり、ゲートバルブ6を閉じ
た状態で出し入れ扉5から外界に引出される。
るときは、前記カセット17全体を左方のレール18に移
し、前記動作を繰返し、最終的に全処理終ったとき、こ
の実施例では8枚の処理の終ったウエハホルダーがウエ
ハホルダーカセット17上にあり、ゲートバルブ6を閉じ
た状態で出し入れ扉5から外界に引出される。
前後するが、ウエハホルダーカセット17に未処理のウエ
ハホルダー7を保持して真空準備室2に投入後、排気系
3により、独立して真空に排気され、ウエハ投入時に侵
入した外気や、ウエハ及びウエハホルダーに吸着した酸
素や水分等が除去される。ゲートバルブ6を開けて、搬
送機構によって、上述のようにウエハホルダー7を次々
にサセプター9にセットする。
ハホルダー7を保持して真空準備室2に投入後、排気系
3により、独立して真空に排気され、ウエハ投入時に侵
入した外気や、ウエハ及びウエハホルダーに吸着した酸
素や水分等が除去される。ゲートバルブ6を開けて、搬
送機構によって、上述のようにウエハホルダー7を次々
にサセプター9にセットする。
上述のように、搬送子1′でウエハホルダー7を搬送す
るためには、第2図(イ)、(ロ)、(ハ)により、搬送子とウ
エハホルダーおよび保持動作を具体的に示すように、ウ
エハホルダー7の底面に搬送子1′の先端をL字形に折
り曲げてできた突起20を挿入できる挿入孔19を設ける。
搬送子1′は矢印で示すように上下し、また回転できる
構成をとることができるから、この突起20を挿入孔19に
挿入し、サセプター9の所定位置(凹部)に保持し、こ
れより真空予備室に移すことができる。
るためには、第2図(イ)、(ロ)、(ハ)により、搬送子とウ
エハホルダーおよび保持動作を具体的に示すように、ウ
エハホルダー7の底面に搬送子1′の先端をL字形に折
り曲げてできた突起20を挿入できる挿入孔19を設ける。
搬送子1′は矢印で示すように上下し、また回転できる
構成をとることができるから、この突起20を挿入孔19に
挿入し、サセプター9の所定位置(凹部)に保持し、こ
れより真空予備室に移すことができる。
第3図に示す例はウエハホルダー7の下部に孔21を設
け、これに対して搬送子1′の先端横方向に突子22を設
けて連結、解除できるように構成したものである。いず
れにしても、ウエハホルダー7の上部に何らかのウエハ
ホルダーのチャック機構を設けると、この機構が動作し
たとき、ダストが発生し、これがウエハ表面に付着して
エピタキシャル成長面の欠陥となるので、上述のよう
に、影響はできるだけ少なくなるように、下部が望まし
いのである。
け、これに対して搬送子1′の先端横方向に突子22を設
けて連結、解除できるように構成したものである。いず
れにしても、ウエハホルダー7の上部に何らかのウエハ
ホルダーのチャック機構を設けると、この機構が動作し
たとき、ダストが発生し、これがウエハ表面に付着して
エピタキシャル成長面の欠陥となるので、上述のよう
に、影響はできるだけ少なくなるように、下部が望まし
いのである。
次にゲートバルブ6が閉じられ、成長過程に入る。
原料ガス供給系4より正確に制御されたTMG,AsH
3等の原料ガスがヒーター16により、所定の温度、例え
ば600〜700℃に加熱された半導体ウエハ7の表面に導び
かれ、熱分解し、エピタキシャル成長する。本実施例
は、真空排気系15により減圧下で成長することが可能で
ある。成長終了後、400℃付近まで、例えばGaAs成
長の場合は、AsH3を流しておき、それ以下の温度に
なってから、真空排気系15より排気される。その後、前
述の手順を逆にして成長処理済みのウエハが真空準備室
2に回収される。以上でMOVPE成長の1サイクルが
完了する。その後、すでに説明した未処理のウエハにつ
いて連続して成長サイクルに入るが、全数処理完了の場
合は真空準備室2をなるべく汚染を避けるため高純度N
2ガス(図示していない)によりリークして成長処理済
みの半導体ウエハを取り出し、次の成長用ウエハを投入
する工程に移る。
3等の原料ガスがヒーター16により、所定の温度、例え
ば600〜700℃に加熱された半導体ウエハ7の表面に導び
かれ、熱分解し、エピタキシャル成長する。本実施例
は、真空排気系15により減圧下で成長することが可能で
ある。成長終了後、400℃付近まで、例えばGaAs成
長の場合は、AsH3を流しておき、それ以下の温度に
なってから、真空排気系15より排気される。その後、前
述の手順を逆にして成長処理済みのウエハが真空準備室
2に回収される。以上でMOVPE成長の1サイクルが
完了する。その後、すでに説明した未処理のウエハにつ
いて連続して成長サイクルに入るが、全数処理完了の場
合は真空準備室2をなるべく汚染を避けるため高純度N
2ガス(図示していない)によりリークして成長処理済
みの半導体ウエハを取り出し、次の成長用ウエハを投入
する工程に移る。
[発明の効果] 以上の説明から判るように、本発明の装置によれば、外
界の酸素,水分の侵入を防ぎ、非常にこれらの影響を受
けやすいAlGaAs等の高品質なエピタキシャル結晶
を効率よく量産することができる。
界の酸素,水分の侵入を防ぎ、非常にこれらの影響を受
けやすいAlGaAs等の高品質なエピタキシャル結晶
を効率よく量産することができる。
第1図は本発明の実施例を示す。 第2図(イ)、(ロ)、(ハ)はそれぞれ搬送子、ウエハホルダ
ー、及び保持動作をそれぞれ示す。 第3図は他の搬送子とウエハホルダーを示す。 1……半導体ウエハ搬送機構、2……真空準備室、3…
…真空準備室排気系、4……原料ガス供給系、5……出
し入れ用扉、6……ゲートバルブ、7……ウエハホルダ
ー、8……成長室、9……サセプター、10……冷却水入
口、11……冷却水出口、12……半導体ウエハ、13……サ
セプター回転機構、14……ヒーター用電流導入端子、15
……成長室排気系、16……抵抗加熱ヒーター、17……ウ
エハホルダーカセット、18……ウエハホルダーカセット
レール。
ー、及び保持動作をそれぞれ示す。 第3図は他の搬送子とウエハホルダーを示す。 1……半導体ウエハ搬送機構、2……真空準備室、3…
…真空準備室排気系、4……原料ガス供給系、5……出
し入れ用扉、6……ゲートバルブ、7……ウエハホルダ
ー、8……成長室、9……サセプター、10……冷却水入
口、11……冷却水出口、12……半導体ウエハ、13……サ
セプター回転機構、14……ヒーター用電流導入端子、15
……成長室排気系、16……抵抗加熱ヒーター、17……ウ
エハホルダーカセット、18……ウエハホルダーカセット
レール。
Claims (1)
- 【請求項1】原料ガス導入口を上部に備え、半導体ウエ
ハを搭載したウエハホルダーを側面に複数枚装着できる
回転式サセプターと該サセプターの内側にあつて半導体
ウエハを加熱するヒーターと真空排気系を備え、原料ガ
スを所定の圧力下で加熱分解し、半導体ウエハ上に結晶
をエピタキシャル成長させるたて型ステンレス製成長室
の上側に、外界に通じ、また気密に閉じることができ、
かつバルブにより前記成長室とは分離され、独立に排気
することができ、ウエハホルダーをサセプターに装着で
きる枚数、又はそれ以上カセットにて保持できる真空準
備室を持ち、該真空準備室から前記成長室内のサセプタ
ーに半導体ウエハを搭載したウエハホルダーを該半導体
ウエハの下部となる位置で搬送子と連結して搬送し、又
逆に該サセプターよりウエハホルダーを取外し、前記真
空準備室の前記カセットに搬送できる搬送機構を備える
ことを特徴とする有機金属気相成長装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62303496A JPH0628243B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 有機金属気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62303496A JPH0628243B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 有機金属気相成長装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01144619A JPH01144619A (ja) | 1989-06-06 |
| JPH0628243B2 true JPH0628243B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=17921663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62303496A Expired - Lifetime JPH0628243B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 有機金属気相成長装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628243B2 (ja) |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP62303496A patent/JPH0628243B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01144619A (ja) | 1989-06-06 |
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