JPH0629863B2 - 欠点検出装置 - Google Patents
欠点検出装置Info
- Publication number
- JPH0629863B2 JPH0629863B2 JP27693085A JP27693085A JPH0629863B2 JP H0629863 B2 JPH0629863 B2 JP H0629863B2 JP 27693085 A JP27693085 A JP 27693085A JP 27693085 A JP27693085 A JP 27693085A JP H0629863 B2 JPH0629863 B2 JP H0629863B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- pulse transformer
- pulse
- sample
- Prior art date
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、欠点検出装置に関し、特に欠点検出装置にお
いてCCD(電荷結合素子)などの撮像手段により撮像
された被検査物のアナログ映像信号を伝送する回路に関
する。
いてCCD(電荷結合素子)などの撮像手段により撮像
された被検査物のアナログ映像信号を伝送する回路に関
する。
<従来の技術> 従来、CCDなどで撮像された被検査物のアナログ映像
信号を、欠点信号処理部などを有する制御盤へ伝送する
場合には、シールド線や同軸ケーブルを用いた方式や、
パルストランス、フオトカプラを用いたPCM方式、ま
たパルストランスのみで伝送する方式が知られている。
信号を、欠点信号処理部などを有する制御盤へ伝送する
場合には、シールド線や同軸ケーブルを用いた方式や、
パルストランス、フオトカプラを用いたPCM方式、ま
たパルストランスのみで伝送する方式が知られている。
<発明が解決しようとする問題点> しかしながら、シールド線や同軸ケーブルを用いる方式
は、送受信回路が分離されておらず、ノイズに弱いとい
う問題点があり、またPCM方式は回路が複雑で装置が
高価となる問題点がある。
は、送受信回路が分離されておらず、ノイズに弱いとい
う問題点があり、またPCM方式は回路が複雑で装置が
高価となる問題点がある。
他方、パルストランスのみで伝送する方式は方形パルス
を入力すると、出力波形はオーバシユートやサグが生じ
て波形ひずみが現われ、パルス幅の広い信号を正確に伝
送することができないという問題点がある。
を入力すると、出力波形はオーバシユートやサグが生じ
て波形ひずみが現われ、パルス幅の広い信号を正確に伝
送することができないという問題点がある。
本発明は上記従来例の欠点に鑑み、回路構成が簡単で正
確に被検査物の映像信号を制御盤に伝送することのでき
る欠点検出装置を提供することを目的とする。
確に被検査物の映像信号を制御盤に伝送することのでき
る欠点検出装置を提供することを目的とする。
<問題点を解決するための手段> 本発明は上記問題点を解決するために、被検査物を撮像
する手段と、該撮像手段からのパルス状映像信号をエン
ベローブ波形に変換するサンプルホールド回路と、該サ
ンプルホールド回路の信号から直流成分を除去するフイ
ルタと、該フイルタからの信号を微分する回路と、該微
分回路からの微分信号を伝送するパルストランスと、該
パルストランスにより伝送された信号を反転増幅すると
ともに積分する回路と、該積分回路からの信号を前記映
像信号のブランク期間中基準電位にクランプする回路と
を有することを特徴とする。
する手段と、該撮像手段からのパルス状映像信号をエン
ベローブ波形に変換するサンプルホールド回路と、該サ
ンプルホールド回路の信号から直流成分を除去するフイ
ルタと、該フイルタからの信号を微分する回路と、該微
分回路からの微分信号を伝送するパルストランスと、該
パルストランスにより伝送された信号を反転増幅すると
ともに積分する回路と、該積分回路からの信号を前記映
像信号のブランク期間中基準電位にクランプする回路と
を有することを特徴とする。
<実施例> 以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。第1
図は本発明に係る欠点検出装置の回路図、第2図は第1
図の装置の概略構成図、第3図は第1図の回路の主要信
号のタイミングチヤートである。
図は本発明に係る欠点検出装置の回路図、第2図は第1
図の装置の概略構成図、第3図は第1図の回路の主要信
号のタイミングチヤートである。
この実施例の装置は第2図に示すように、被検査物1を
光源2と検出部3すなわち撮像部の間に配置する透過式
のものを示し、検出部3により検出された被検査物1の
映像信号は、受信部4を有する制御部5へ伝送される。
光源2と検出部3すなわち撮像部の間に配置する透過式
のものを示し、検出部3により検出された被検査物1の
映像信号は、受信部4を有する制御部5へ伝送される。
第1図に戻り、レンズ11を介して被検査物1を撮像す
るCCD12などの撮像手段は増幅器13を介してサンプ
ルホールド回路(S/H)14に接続され、このサンプ
ルホールド回路14には映像信号S1(第3図)が入力さ
れる。CCD12及びサンプルホールド回路14は、一
走査毎に発生するスタート信号S2により駆動回路15の
信号により駆動される。
るCCD12などの撮像手段は増幅器13を介してサンプ
ルホールド回路(S/H)14に接続され、このサンプ
ルホールド回路14には映像信号S1(第3図)が入力さ
れる。CCD12及びサンプルホールド回路14は、一
走査毎に発生するスタート信号S2により駆動回路15の
信号により駆動される。
サンプルホールド回路14はバンドパスフイルタ(BP
F)16を介してコンデンサC1の一端に接続され、コン
デンサC1は抵抗R1の一端及び緩衝増幅器17の入力端子
に接続され、抵抗R1の他端は接地されている。これらコ
ンデンサC1,抵抗R1及び緩衝増幅器17により微分回路
18を構成している。
F)16を介してコンデンサC1の一端に接続され、コン
デンサC1は抵抗R1の一端及び緩衝増幅器17の入力端子
に接続され、抵抗R1の他端は接地されている。これらコ
ンデンサC1,抵抗R1及び緩衝増幅器17により微分回路
18を構成している。
微分回路18の緩衝増幅器17の出力端子はパルストラ
ンス19の入力端子に接続され、パルストランス19の
出力端子は撚線対(twisted pair)20を介してパルス
トランス21の入力端子に接続されている。rは出力安
定用抵抗である。パルストランス19及び21,撚線対
20及び抵抗rは伝送路22を構成している。
ンス19の入力端子に接続され、パルストランス19の
出力端子は撚線対(twisted pair)20を介してパルス
トランス21の入力端子に接続されている。rは出力安
定用抵抗である。パルストランス19及び21,撚線対
20及び抵抗rは伝送路22を構成している。
前述したレンズ11,CCD12,増幅器13,サンプ
ルホールド回路14,バンドパスフイルタ16,微分回
路18及びパルストランス19が第2図の検出部3すな
わち送信側回路を構成し、またパルストランス21から
後段が第2図の受信部4を構成している。
ルホールド回路14,バンドパスフイルタ16,微分回
路18及びパルストランス19が第2図の検出部3すな
わち送信側回路を構成し、またパルストランス21から
後段が第2図の受信部4を構成している。
パルストランス21の出力端子は抵抗R2を介して演算増
幅器23の(-)端子に接続され、演算増幅器23の(+)端
子は接地されている。演算増幅器23の出力端子はコンデ
ンサC2及び抵抗R3を介してその(-)端子に接続されると
ともに演算増幅器24の(+)端子に接続されている。演
算増幅器24の(-)端子は接地され、出力端子はスイツ
チSWを介して演算増幅器23の(-)端子に接続されて
いる。スイツチSWはクランプパルス発生回路24から
のクランプパルスによりオンとなる。これら抵抗R2,
R3、コンデンサC2、演算増幅器23,24及びスイツチ
SWは再生回路26を構成している。尚、抵抗R2及びコ
ンデンサC2は、微分回路18の時定数と同一となるもの
(R2C2=R1C1)が選択される。
幅器23の(-)端子に接続され、演算増幅器23の(+)端
子は接地されている。演算増幅器23の出力端子はコンデ
ンサC2及び抵抗R3を介してその(-)端子に接続されると
ともに演算増幅器24の(+)端子に接続されている。演
算増幅器24の(-)端子は接地され、出力端子はスイツ
チSWを介して演算増幅器23の(-)端子に接続されて
いる。スイツチSWはクランプパルス発生回路24から
のクランプパルスによりオンとなる。これら抵抗R2,
R3、コンデンサC2、演算増幅器23,24及びスイツチ
SWは再生回路26を構成している。尚、抵抗R2及びコ
ンデンサC2は、微分回路18の時定数と同一となるもの
(R2C2=R1C1)が選択される。
再生回路26の演算増幅器23の出力端子は抵抗r2を介
して演算増幅器27の(-)端子に接続され、演算増幅器
27の(-)端子と出力端子とは可変抵抗r3を介して接続
されている。他方、演算増幅器19の(+)端子は、抵抗r4
を介して接地されている。これら演算増幅器27及び抵
抗r2,r3,r4により反転増幅回路を構成している。
して演算増幅器27の(-)端子に接続され、演算増幅器
27の(-)端子と出力端子とは可変抵抗r3を介して接続
されている。他方、演算増幅器19の(+)端子は、抵抗r4
を介して接地されている。これら演算増幅器27及び抵
抗r2,r3,r4により反転増幅回路を構成している。
上記構成に係る実施例の動作を第3図を参照しながら説
明すると、増幅器13により増幅(反転)された被検査
物1の映像信号S1は第3図に示すようにパルス状の波形
である。尚、図では被検査物1に穴aがある信号であ
る。
明すると、増幅器13により増幅(反転)された被検査
物1の映像信号S1は第3図に示すようにパルス状の波形
である。尚、図では被検査物1に穴aがある信号であ
る。
映像信号S1はサンプルホールド回路14によりパルス状
波形からエンベロープ波形に変換され、次いでバンドパ
スフイルタ16によりサンプルホールドノイズ、直流成
分が除去されて第3図のS3に示すような矩形パルス成分
(穴a)を含む波形となる。
波形からエンベロープ波形に変換され、次いでバンドパ
スフイルタ16によりサンプルホールドノイズ、直流成
分が除去されて第3図のS3に示すような矩形パルス成分
(穴a)を含む波形となる。
上記信号S3が微分回路18により微分されると第3図の
S4に示すような微分信号となり、この場合微分信号S4は
矩形パルス成分を有さないので、パルストランス19,
21を介して伝送されても第3図のS5に示すように波形
ひずみが現われない。
S4に示すような微分信号となり、この場合微分信号S4は
矩形パルス成分を有さないので、パルストランス19,
21を介して伝送されても第3図のS5に示すように波形
ひずみが現われない。
次にこの伝送された信号S5(レベルe5)は再生回路26
の演算増幅器23に入力されると出力信号(レベルe)
は となる。すなわちこの出力信号は第3図のS6に示すよう
に反転増幅された信号Sa(-R3e5/R2)と積分された信号Sb
(-1/C2R2∫e5dt)の重畳した信号となる。
の演算増幅器23に入力されると出力信号(レベルe)
は となる。すなわちこの出力信号は第3図のS6に示すよう
に反転増幅された信号Sa(-R3e5/R2)と積分された信号Sb
(-1/C2R2∫e5dt)の重畳した信号となる。
上記の信号S6は、オペアンプオフセツトが生じたり大き
な片方向の信号による直流成分が変動するために、クラ
ンプパルス発生回路24からのクランプパルスS7により
映像信号がない期間スイツチSWがオンとなり基準電位
(OV)にクランプされ、第3図のS8に示す再生信号と
なる。
な片方向の信号による直流成分が変動するために、クラ
ンプパルス発生回路24からのクランプパルスS7により
映像信号がない期間スイツチSWがオンとなり基準電位
(OV)にクランプされ、第3図のS8に示す再生信号と
なる。
再生信号S8は送信信号S1と逆極性であり、また伝送路2
0等により減衰しているために、反転増幅回路により反
転増幅(−r3/r2)され、第3図の信号S9に示すように
送信信号S1と同一の信号となる。
0等により減衰しているために、反転増幅回路により反
転増幅(−r3/r2)され、第3図の信号S9に示すように
送信信号S1と同一の信号となる。
<発明の効果> 以上説明したように本発明は、被検査物の映像信号をサ
ンプルホールド回路により連続信号とし、直流分を除去
して微分した後パルストランスを介して伝送し、この伝
送された信号を反転増幅するとともに積分し、映像信号
のない間基準電位にクランプするように構成したので、
簡単かつ安価な回路構成で耐ノイズ性の良い、リニアリ
テイのある信号伝送が可能となる。
ンプルホールド回路により連続信号とし、直流分を除去
して微分した後パルストランスを介して伝送し、この伝
送された信号を反転増幅するとともに積分し、映像信号
のない間基準電位にクランプするように構成したので、
簡単かつ安価な回路構成で耐ノイズ性の良い、リニアリ
テイのある信号伝送が可能となる。
第1図は本発明に係る欠点検出装置の一実施例を示す回
路図、第2図は第1図の装置の概略構成図、第3図
(イ)乃至(ル)は第1図の装置の主要信号のタイミン
グチヤートである。 1…被検査物、12…CCD、14…サンプルホールド
回路、16…バンドパスフイルタ、18…微分回路、1
9,21…パルストランス、25…クランプパルス発生
回路、26…再生回路。
路図、第2図は第1図の装置の概略構成図、第3図
(イ)乃至(ル)は第1図の装置の主要信号のタイミン
グチヤートである。 1…被検査物、12…CCD、14…サンプルホールド
回路、16…バンドパスフイルタ、18…微分回路、1
9,21…パルストランス、25…クランプパルス発生
回路、26…再生回路。
Claims (1)
- 【請求項1】被検査物を撮像する手段と、該撮像手段か
らのパルス状映像信号をエンベロープ波形に変換するサ
ンプルホールド回路と、該サンプルホールド回路の信号
から直流成分を除去するフィルタと、該フィルタからの
信号を微分する回路と、該微分回路からの微分信号を伝
送するパルストランスと、該パルストランスにより伝送
された信号を反転増幅するとともに積分する回路と、該
積分回路からの信号を前記映像信号のブランク期間中基
準電位にクランプする回路とを有する欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27693085A JPH0629863B2 (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27693085A JPH0629863B2 (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 欠点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62137549A JPS62137549A (ja) | 1987-06-20 |
| JPH0629863B2 true JPH0629863B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=17576381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27693085A Expired - Lifetime JPH0629863B2 (ja) | 1985-12-11 | 1985-12-11 | 欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629863B2 (ja) |
-
1985
- 1985-12-11 JP JP27693085A patent/JPH0629863B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62137549A (ja) | 1987-06-20 |
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