JPH0634789B2 - Digital tomography system - Google Patents
Digital tomography systemInfo
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- JPH0634789B2 JPH0634789B2 JP61076536A JP7653686A JPH0634789B2 JP H0634789 B2 JPH0634789 B2 JP H0634789B2 JP 61076536 A JP61076536 A JP 61076536A JP 7653686 A JP7653686 A JP 7653686A JP H0634789 B2 JPH0634789 B2 JP H0634789B2
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Processing Or Creating Images (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はX線診断装置に係り、とくに、多方向から計測
された投影像から、複数断層像を計算処理によつて求め
る方法および装置において求められた複数断層像から計
算処理によつて修正を行い、真の断層像により近い断層
像を得る方法および装置に関する。Description: FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an X-ray diagnostic apparatus, and more particularly to a method and apparatus for obtaining a plurality of tomographic images by calculation processing from projection images measured from multiple directions. The present invention relates to a method and apparatus for correcting a plurality of acquired tomographic images by a calculation process to obtain a tomographic image closer to a true tomographic image.
従来から被検査体の断層像を撮像する装置として、直線
軌道断層撮影装置や多軌道断層撮影装置が用いられてい
る。これらの装置は目的とする断面以外の情報を走査軌
跡方向にぼかすことによつて所望の断層像を得る装置で
あり、撮影された断層面以外のぼけた陰影が読影の障害
になるという問題点を有する。また通常の撮影では1回
の走査撮影で1断面しか得られず、多くの断層像を総合
的に読影評価したい時には、必要とされ断層像の数だけ
走査撮影を繰り返す必要があり、撮影時間、被曝線量が
問題となる。さらに動きのある被検査体の場合には、独
立に撮影された断層像相互間の連続性に欠けるなどの問
題点があつた。Conventionally, a linear orbit tomography apparatus or a multi-orbit tomography apparatus has been used as an apparatus for capturing a tomographic image of an object to be inspected. These devices are devices for obtaining a desired tomographic image by blurring information other than the target cross section in the scanning trajectory direction, and there is a problem that a blurred shadow other than the captured tomographic plane becomes an obstacle to interpretation. Have. In addition, in normal imaging, only one cross section can be obtained by one scanning imaging, and when it is desired to comprehensively evaluate and interpret a large number of tomographic images, it is necessary to repeat the scanning imaging for the required number of tomographic images. Exposure dose becomes a problem. Further, in the case of an inspected object that moves, there is a problem that the tomographic images taken independently are not continuous.
これらの問題点に対して、走行中の各位置における投影
像を独立に撮影し、この複数の投影像からデイジタル処
理によつて、1回の走査撮影で複数の断層像を得、かつ
他の断層面からの障害陰影を取りのぞこうという試みが
いくつか報告されている。これらを以下に示す。To solve these problems, projection images at each position during traveling are independently photographed, and a plurality of tomographic images are obtained from one of the plurality of projection images by digital processing by scanning once, and other tomographic images are obtained. Several attempts have been reported to remove obstacle shadows from the fault plane. These are shown below.
1)IEEETrans,on Biomedical Eng.Vol.BME-27,No.11,p
p640〜655(Nor.1980),H.E.KNUTSSON他“Ectomography-a
new Radiographic Reconstruction method” 2)ACTA RADIOLOGICA Vol.21,Fase.4.pp433-442,(198
0),p.EDHOLMほか、“a new radiographic method for r
eproducing a selected slice of naring thickness” 3)Proceedings of ISMII'84 pp218-211(1984),Roclf
A.J.groenhuisほか、“a Prototype Digital Tomograph
ic X-Ray System for Dental Application” 4)Proceedings of ISMII'84 pp382-387(1984),U.E.Ru
ttimannほか、“Iteratine Restoration of Tomosynthe
tie Slices” これらの手法により、1回の走査撮影である程度障害陰
影の軽減された複数段層像を得ることが可能であるが、
走査軌道が円に限られていることおよび断層像の高吸収
物質の周辺で負のアンダーシユートが著しいなどの問題
点があつた。1) IEEETrans, on Biomedical Eng.Vol.BME-27, No.11, p
p640 ~ 655 (Nor. 1980), HEKNUTSSON and others “Ectomography-a
new Radiographic Reconstruction method ”2) ACTA RADIOLOGICA Vol.21, Fase.4.pp433-442, (198
0), p.EDHOLM and others, “a new radiographic method for r
eproducing a selected slice of naring thickness ”3) Proceedings of ISMII'84 pp218-211 (1984), Roclf
AJgroenhuis and others, “a Prototype Digital Tomograph
ic X-Ray System for Dental Application ”4) Proceedings of ISMII'84 pp382-387 (1984), UERu
ttimann et al., “Iteratine Restoration of Tomosynthe
tie Slices ”With these methods, it is possible to obtain a multi-layered image in which the obstruction shadows have been reduced to a certain extent by one scanning scan.
There are problems that the scanning orbit is limited to a circle and that the negative undershock is remarkable around the highly absorbing material in the tomographic image.
本発明の目的は従来技術のこのような問題点に対して、
1回の走査撮影で目的断層面以外の障害陰影のより少
い、高品質の断層像を多断面得ることにある。さらに走
査軌道は直線軌道を含むさまざまな軌道撮影法に適用可
能な技術を提供することにある。The object of the present invention is to solve the problems of the prior art.
This is to obtain a high-quality tomographic image with a small number of obstacle shadows other than the target tomographic plane by one scanning imaging. Further, the scanning orbit is to provide a technique applicable to various orbit imaging methods including a linear orbit.
本発明は計測して得られた多方向投影データを3次元空
間に直接逆投影演算を行い、3次元的な断層像を計算に
よつて求めるとともに、障害陰影の混入した3次元断層
像に対して、小さな高吸収物体を用い得られる走査軌道
に従うインバルス応答を利用して、3次元フーリエ空間
における3次元逆フイルタ法によつて障害陰影を大きく
軽減する手法を案出したものである。The present invention directly backprojects multi-directional projection data obtained by measurement into a three-dimensional space to obtain a three-dimensional tomographic image by calculation, and for a three-dimensional tomographic image in which obstacle shadows are mixed. Then, a technique for greatly reducing the obstruction shadow by the three-dimensional inverse filter method in the three-dimensional Fourier space is devised by utilizing the Inbals response following the scanning trajectory obtained by using a small highly absorbing object.
ここで提示する発明の原理を説明する。被検査体の計測
方法を第1図に示す。The principle of the invention presented here will be described. FIG. 1 shows the measuring method of the object to be inspected.
被検査体計測空間を座標(x,y,z)で示しその座標
の中心をOとする。放射線源Sは常に被検査体計測空間
の中心Oの方向に向けられ、軌道Tの上を移動する。検
出器はOを中心として放射線源Sに対向して移動し、2
次元検出器の中心Qと計測座標の中心Oと放射線源Sは
常に一直線上に位置し、距離SO,OQは一定またはそ
の比が一定になるように保たれ、かつ検出器面は計測座
標のxy面に平行に位置するように走査がなされる。こ
の走査中の線源Sが軌道T上をΔtの区間を移動した時
の被検査体通過後のX線強度が検出器によつて計測され
る。検出器によつて計測された2次元の面像の各位置は
原点Qを中心とする座標(u,v)で示す。次に線源S
を軌道Tに沿つて次の位置に移動させ、同様の計測を行
う。このように線源Sが軌道T上を順次移動しながら、
各線源位置ごとに被検査体通過後のX線強度を示す面像
Ij(u,v)を複数枚計測する。The inspection object measurement space is represented by coordinates (x, y, z), and the center of the coordinates is O. The radiation source S is always directed toward the center O of the inspection object measurement space and moves on the trajectory T. The detector moves centering on O, facing the radiation source S,
The center Q of the dimensional detector, the center O of the measurement coordinates, and the radiation source S are always located on a straight line, the distances SO and OQ are kept constant or their ratios are kept constant, and the detector surface is of the measurement coordinates. Scanning is performed so as to be positioned parallel to the xy plane. The detector measures the X-ray intensity after passing through the object under inspection when the source S during scanning moves on the trajectory T in a section of Δt. Each position of the two-dimensional surface image measured by the detector is indicated by coordinates (u, v) with the origin Q as the center. Next source S
Is moved to the next position along the track T, and the same measurement is performed. In this way, while the radiation source S sequentially moves on the trajectory T,
A plurality of surface images I j (u, v) showing the X-ray intensity after passing through the object to be inspected are measured for each radiation source position.
これらの面像は各線源位置ごとに被検査体を挿入しない
時のX線強度分布面像Ioj(u,v)を用いて第(1)式
の交換を行う。These surface images are exchanged according to the equation (1) using the X-ray intensity distribution surface image I oj (u, v) when the object to be inspected is not inserted at each source position.
Pj(u,v)=lnIoj(u,v)−lnIj(u,v) ……(1) この結果として得られる面像Pj(u,v)は計測に用
いたコーン状ビームのビーム位置(u,v)を通過する
直線ビームlに沿う被検査体内のX線吸収係数f(x,
y,z)の累積加算値であり被検査体の投影像P
j(u,v)である。Use P j (u, v) = l n I oj (u, v) -l n I j (u, v) ...... (1) Menzo P j (u, v) obtained as a result is the measurement X-ray absorption coefficient f (x, in the object to be inspected along the linear beam 1 passing through the beam position (u, v) of the cone-shaped beam
y, z) is a cumulative addition value and is a projected image P of the object to be inspected.
j (u, v).
Pj(u,v)=∫fj(x,y,z)dl……(2) 座標系(x,y,z)を用いて各計測位置関係を表わ
す。線源位置をxs,ys,zs)とし、距離OSとQ
Oの比をkとすると(u,v)座標の原点Qは (−kxs,−kys,−kzs) と表わされる。したがつて投影像Pj(u,v)の座標
系(x,y,z)に対する位置は (u−kxs,v−kys,−kzs) と表わされ、ビームlの方程式は で与えられる。したがつて(u,v) となる。この式によつて計測座標空間内の点(x,y,
z)から投影座標系の点(u,v)を求めることができ
る。P j (u, v) = ∫f j (x, y, z) dl (2) The coordinate system (x, y, z) is used to represent each measurement positional relationship. The radiation source position is x s , y s , z s ) and the distances OS and Q
When the O ratio and k (u, v) the origin Q of the coordinate is expressed as (-kx s, -ky s, -kz s). Therefore, the position of the projected image P j (u, v) with respect to the coordinate system (x, y, z) is expressed as (u−kx s , v−ky s , −kz s ) and the equation of the beam l is Given in. Therefore (u, v) Becomes According to this equation, the point (x, y,
The point (u, v) in the projection coordinate system can be obtained from z).
X線CT装置で用いられる逆投影法は計測座標空間
(x,y,z)に計測に用いたビームlに沿つて投影デ
ータPj(u,v)を均一に加算することによつて得ら
れる。この逆投影演算を式に表わすと、逆投影像g
(x,y,z)は、 として求められる。ここで(u,v)は(4)式で与えら
れ、座標点(x,y,z)のすべての位置におけるgを
算出することにより、3次元的な逆投影像を求めること
ができる。この逆投影像のうち、g(z,y,o)は従
来から直線軌道断層撮影装置や多軌道断層撮影装置によ
つて得られる断層像と同一のもので、z=0で示される
断層面以外のぼけた陰影が含まれた不完全な断層像であ
る。しかしながらこのように各投影像を別々に記憶して
おいてから(4)式および(5)式の計算をすることによりz
=0以外の断層像も1回の走査計測により算出すること
ができ、多くの断層像を総合的に読影評価したい時に
は、断層像間の連続性がよい断層像を短時間にかつ低被
曝で得ることができる。The back projection method used in the X-ray CT apparatus is obtained by uniformly adding projection data P j (u, v) along the beam 1 used for measurement in the measurement coordinate space (x, y, z). To be When this backprojection operation is expressed by an equation, the backprojection image g
(X, y, z) is Is required as. Here, (u, v) is given by the equation (4), and a three-dimensional backprojected image can be obtained by calculating g at all positions of the coordinate point (x, y, z). Of these back-projected images, g (z, y, o) is the same as a tomographic image conventionally obtained by a linear orbit tomography device or a multi-orbit tomography device, and the tomographic plane indicated by z = 0. It is an incomplete tomographic image that includes blurred shadows other than. However, by storing each projected image separately in this way and then performing calculations of equations (4) and (5), z
It is also possible to calculate tomographic images other than = 0 by one scanning measurement, and when it is desired to comprehensively evaluate and interpret a large number of tomographic images, tomographic images with good continuity between tomographic images can be obtained in a short time with low exposure. Obtainable.
次にこの逆投影像に含まれる障害陰影の軽減手法につい
て説明する。Next, a method of reducing an obstacle shadow included in this back projection image will be described.
先に説明した手法によつて得られた逆投影像はz軸方向
に互いに障害陰影が混入しあつた断層像である。すなわ
ちz=0の面で切りとられる断層像g(x,y,o)は
z=z0の断層像g(x,y,z0)の蔭影を含み、逆
にg(x,y,z0)の断層像はg(x,y,o)の陰
影を含む。これらの関係はz方向のそれぞれの断層像間
で走査軌道Tによつて互いに関連づけられている。これ
らの関係は各断層位置に極めて小さいかつ吸収係数の大
きな被検査体を設定して、gを求めることによつて知る
ことができる。すなわちz=z0の断層面の成分が他の
断層面に混入した陰影はz=z0の面に小さな高い吸収
物体を置くことによつてz=z0以外の面への混入成分
を知ることができる。この混入成分は軌道Tがz=0の
面に平行な面内z=zsにある時はz=z0の断層内で
の関係が一様であり、場所(x,y)に依存しない。逆
に軌道Tがz=zsの面内にない時には完全には一様で
はないが、被検査体が原点Oの近傍に存在し、軌道が平
面から大きくずれない限り、ほぼ一様と考えてさしつか
えない。ここではこの混入成分はz=z0の断層内で一
様であるとしてとりあつかい、小さな高吸収物体はz軸
すなわち(o,o,z0)に置くことによつて求める。The back-projected image obtained by the method described above is a tomographic image in which obstacle shadows are mixed in the z-axis direction. That is, the tomographic image g (x, y, o) cut at the plane of z = 0 includes the shade of the tomographic image g (x, y, z 0 ) of z = z 0 , and conversely g (x, y). , Z 0 ) includes a shadow of g (x, y, o). These relationships are associated with each other by the scanning trajectory T between the respective tomographic images in the z direction. These relationships can be known by setting an object to be inspected that is extremely small and has a large absorption coefficient at each tomographic position and obtaining g. That shadow component of the tomographic plane of z = z 0 is mixed with other tomographic plane knows Contaminant components to Yotsute z = z 0 other surfaces to put a small high absorbing object in the plane of z = z 0 be able to. When the trajectory T is in the plane z = z s parallel to the plane of z = 0, this mixed component has a uniform relation in the fault of z = z 0 and does not depend on the location (x, y). . On the contrary, when the trajectory T is not in the plane of z = z s , it is not completely uniform, but it is considered to be almost uniform unless the object to be inspected exists near the origin O and the trajectory deviates greatly from the plane. It doesn't matter. Here, this mixed component is treated as being uniform in the fault at z = z 0 , and a small highly absorbing object is obtained by placing it on the z axis, that is, (o, o, z 0 ).
z=z0の断面に設置された小さな高吸収物体のz=z
0以外の断層面に混入する成分の様子を第2図に示す。
線源が軌道T上を走査するに従つて、z=z0の断面よ
り下方z=z0−Δzの断層面では軌道に従つた混入パ
ターンが描かれる。第2図でTsは軌道Tとz=z0の
原点とが張る錐面と、z=zsとの交線であり、混入パ
ターンはこのTsの拡大または縮小された形状であり、
その強度はz=z0から混入面への距離Δzに逆比例す
る。z = z of a small highly absorbing object placed in the section of z = z 0
Fig. 2 shows the state of the components mixed in the fault plane other than 0 .
Accordance connexion to the source scans the track T, in the fault plane z = z downward z = z 0 from the section of 0 -? Z orbit従Tsuta mixed pattern is drawn. In FIG. 2, T s is a line of intersection between the conical surface formed by the trajectory T and the origin of z = z 0 and z = z s , and the mixing pattern is an expanded or reduced shape of this T s .
Its intensity is inversely proportional to the distance Δz from z = z 0 to the mixing surface.
z=zsの面におけるTsの方程式を Ts(x,y)=0 ……(6) とするとz=zm面からz=zn面への混入パターン は で与えられる。ここでδはTs=0で、TS≠0で0と
なる関数である。また定数cは ∫∫uzmzn(x,y)dxdy=1……(8) を満たす規格化定数である。このuを用いると逆投影像
g(x,y,z)と真の断層像に相当する被検査体内の
X線吸収係数f(x,y,z)の関係は g(x,y,z)=∫∫∫uz′z(x′−x,y′−y)f(x′,y′,
z′)dx′dydz′……(9) として与えられる。z = mixing pattern of the equation of T s in the plane of z s T s (x, y ) = 0 ...... (6) to the z = z m plane to z = z n surface Is Given in. Here, δ is a function that becomes 0 when T s = 0 and when T S ≠ 0. The constant c is a standardized constant that satisfies ∫∫uz m nz n (x, y) dxdy = 1 (8). When this u is used, the relationship between the back projection image g (x, y, z) and the X-ray absorption coefficient f (x, y, z) in the body under inspection corresponding to the true tomographic image is g (x, y, z). ) = ∫∫∫uz′z (x′−x, y′−y) f (x ′, y ′,
z ') dx'dydz' ... (9) is given.
第(9)式でgは先に説明した手法で求める事ができ、ま
たuは第(6)式に示す軌道Tsが比較的単純で数式表現
が可能な時は第(7)式により得ることができる。また軌
道Tsが複雑で数式表現が困難な時はu各断層面に小さ
な高吸収物体を置くことによつて実験的に求めることが
できる。したがつて(9)式から逆演算によつて障害陰影
のない真の断層像f(x,y,z)を得ることができ
る。In the equation (9), g can be obtained by the method described above, and u is the equation (7) when the trajectory T s shown in the equation (6) is relatively simple and can be expressed by an equation. Obtainable. When the trajectory T s is complicated and the mathematical expression is difficult, it can be obtained experimentally by placing a small highly absorbing object on each u fault plane. Therefore, the true tomographic image f (x, y, z) having no obstacle shadow can be obtained by the inverse operation from the equation (9).
さて第(7)式に示す混入パターンはznに対して一様で
はない。このことは(9)式から逆演算によつてfを求め
る問題を困難にしている。そこで被検査体が原点Oの近
傍に存在しているとして、混入パターンがzsに対して
一様であると近似する。Now, the mixing pattern shown in the equation (7) is not uniform with respect to z n . This makes the problem of finding f by the inverse operation from equation (9) difficult. Therefore, assuming that the object to be inspected exists near the origin O, it is approximated that the mixed pattern is uniform with respect to z s .
(7)式はこの近似によつてzn=0として として与えられ、第(9)式は g(x,y,z)=∫∫∫u(x′−x,y′−y,z′−z)f(x′,
y′,z′)dx′dy′dz′……(11) となる。第(11)式は畳重積分の型である。したがつてそ
のフーリエ変換は第(12)式で与えられる。Equation (7) is z n = 0 Equation (9) is given by g (x, y, z) = ∫∫∫u (x′−x, y′−y, z′−z) f (x ′,
y ', z') dx'dy'dz '... (11) Equation (11) is the type of the tatami integral. Therefore, its Fourier transform is given by Eq. (12).
ここで はg,u,fの3次元フーリエ変換であり として与えられる。 here Is the three-dimensional Fourier transform of g, u, f Given as.
第(12)式から によつて を求め によつて が求められる。From equation (12) By Seeking By Is required.
ここで は前記近似のために真の被写体内部の吸収係数の分布像
fと完全には一致しないものの、障害陰影が軽減された
良好なる3次元断層像となる。here Due to the above approximation, does not completely match the distribution image f of the absorption coefficient inside the true subject, but becomes a good three-dimensional tomographic image with reduced obstruction shadows.
走査軌道Tが比較的単純な円の場合について障害陰影の
軽減手法を説明する。円軌道の場合はTとTsは完全に
一致し、その方程式は円軌道の半径をRとして第(6)式
は T(x,y,z)=Ts(x,y) =x2+y2−R2=0 ……(18) また混入パタンuはパラメータα を用いて u(x,y,z)αc・δ(α2x2+α2y2−R2)…
…(20) として与えられる。このuから第(14)式により を求める。次に前記多断面の算出手法によつて求められ
た逆投影像gより第(13)式によつて を算出し、第(16)式によつて を算出し、第(17)式によつて障害陰影が軽減された断層
像 を得る。A method of reducing an obstacle shadow when the scanning trajectory T is a relatively simple circle will be described. In the case of a circular orbit, T and T s completely match, and the equation is that T (x, y, z) = T s (x, y) = x 2 where R is the radius of the circular orbit. + Y 2 −R 2 = 0 (18) Moreover, the mixing pattern u is the parameter α. U (x, y, z) αc · δ (α 2 x 2 + α 2 y 2 −R 2 ) ...
Given as (20). From this u by the formula (14) Ask for. Next, from the backprojected image g obtained by the above-described multi-section calculation method, And calculate according to equation (16) Is calculated, and the tomographic image in which the obstruction shadow is reduced by Equation (17) To get
このように走査軌道が単純な直線、円、だ円、スパイラ
ルのような場合はuは数式的に求めることができるが、
複雑な軌道な場合でも計算機を用いた解析、あるいは小
さな高吸収体を用いて実験的にuを直接計測することも
可能であり、これらの手法で求められたuを用いて障害
陰影を軽減することができる。これらのフローチヤート
を第3図に示す。In this way, if the scanning trajectory is a simple straight line, circle, ellipse, or spiral, u can be calculated mathematically.
Even in the case of complicated trajectories, it is possible to analyze u using a computer or to directly measure u experimentally using a small high-absorber, and reduce the obstacle shadow by using u obtained by these methods. be able to. These flow charts are shown in FIG.
以上は障害陰影の軽減法として、混入パターンがznに
対して一様であるとして近似的にz=0の混入パターン
を用いて処理をする方法について説明した。次にこの近
似をさらに改善した3次元断層像の算出手法について説
明する。As above, as the method of reducing the obstacle shadow, the method of processing by using the mixed pattern of z = 0 approximately assuming that the mixed pattern is uniform with respect to z n has been described. Next, a method of calculating a three-dimensional tomographic image which is a further improvement of this approximation will be described.
前記第7式でz軸の代わりに次式で表わされる新しい座
標軸αを導入する(α<1) この座標軸は両辺の微分をとつて であるから、このα座標は不均一座標で、この座標間隔
は線源の軌道面z=zsからの距離の二乗に比例した座
標である。この座標を導入すると、 であるから とおくことにより第(23)式は近似的に と書くことができる。Introducing a new coordinate axis α represented by the following equation instead of the z axis in the above Equation (α <1) This coordinate axis is derived from the differentiation of both sides Therefore, this α coordinate is a non-uniform coordinate, and this coordinate interval is a coordinate proportional to the square of the distance from the trajectory surface z = z s of the radiation source. Introducing these coordinates, Because Equation (23) can be approximated by Can be written.
したがつてα=αnからα=αn断面への混入パターン は で与えられる。Mixed pattern from the but connexion α = α n α = α n to cross Is Given in.
第(26)式はα=αm面からα=αn面への混入パターン
が、両面間の距離(αm−αn)のみの関数になりαn
の位置に依存しない。したがつてこの新座標を用いるこ
とによつて、断層像相互間の障害陰影パターンがほぼ一
様にすることができる。The (26) equation alpha = alpha contamination pattern from the m-plane to alpha = alpha n surface is a function of the distance (alpha m-.alpha. n) only between the two sides alpha n
Does not depend on the position of. Therefore, by using this new coordinate, the obstruction shadow patterns between the tomographic images can be made substantially uniform.
この時に用いる逆投影像は第(5)式によつて求められた
gから座標変換によつてα軸に従う逆投影像gを求める
ことができるが、投影像Pj(u,v)から直接求める
方が都合がよい。この時の逆投影演算は第(5)式の代わ
りに (u,v)は を用いて座標点(x,y,α)と線源位置(xs,
ys,zs)から求める。The backprojection image used at this time can be obtained from the g obtained by the equation (5) by the coordinate transformation to obtain the backprojection image g along the α axis. However, the backprojection image g can be obtained directly from the projection image P j (u, v). It is more convenient to ask. The backprojection operation at this time is (U, v) is Using the coordinate point (x, y, α) and the source position (x s ,
y s , z s ).
こうして求められた と真の断層像 の関係は、 ただし は第(26)式より であり、δ関数の中でTs(x/α,y/α)はz=z
s面での線源の軌道を縮小したものである(α<1)。
この は前手法と同様に軌道Tsが比較的単純な場合は数式を
用いてTsを表現することによつて第(30)式によつて算
出することが可能である。また軌道が複雑な場合でも第
(30)式が軌道Tsの縮小したものにすぎないのでTGが
決定されている以上対時間的位置(xs,ys,zs)
が既知であるので、その縮小軌道は第(30)式を用いて直
接求めることができる。Thus asked And true tomographic image The relationship of However Is from equation (26) And T s (x / α, y / α) in the δ function is z = z
This is a reduction of the trajectory of the radiation source in the s- plane (α <1).
this Similarly to the previous method, when the trajectory T s is relatively simple, it is possible to calculate T s by expressing T s using a mathematical formula and by using the formula (30). Even if the trajectory is complicated,
Since Eq. (30) is only a reduced version of the orbit T s , the position over time (x s , y s , z s ) is determined as long as T G is determined.
Is known, the reduced orbit can be directly obtained by using Eq. (30).
したがつて は既知となるため断層像 は前の手法と同様フーリエ空間上で障害陰影の混入パタ
ーン に従う逆フイルタ処理を行えばよい。すなわち によつて を求め によつて を求め、 によつて を求め、さらに によつて断層像 を算出する。Therefore Tomographic image Is the mixing pattern of obstacle shadows in Fourier space as in the previous method The reverse filter processing according to the above may be performed. Ie By Seeking By Seeking By And then Tomographic image To calculate.
は障害陰影の軽減された断層像であるが、α方向に不均
一な座標空間上での断層像になつている。これが不都合
な場合には第(21)式を用いて(x,y,z)座標上で断
層像 を この断層像は、z方向における障害陰影の混入パターン
の不均一性を考慮に入れた修正された断層像となり、前
手法によつて求められた断層像 よりもより真の断層像fに近い、より完全な断層像であ
る。この手法による処理のフローチヤートを第6図に示
す。 Is a tomographic image with reduced obstruction shadow, but it is a tomographic image on a coordinate space that is non-uniform in the α direction. If this is inconvenient, the tomographic image on the (x, y, z) coordinates can be calculated using Eq. (21). To This tomographic image is a corrected tomographic image that takes into account the non-uniformity of the mixing pattern of obstacle shadows in the z direction, and the tomographic image obtained by the previous method It is a more complete tomographic image that is closer to the true tomographic image f. FIG. 6 shows a flow chart of processing by this method.
以下本発明の一実施例を第4図により説明する。第4図
でスキヤナ25では被検査体通過後のX線強度を軌道に
従い、多方向から複数枚計測を行う。軌道には直線,
円,だ円,スパイラル(うず巻き)などさまざまのもの
が採用されているが、ここでは直線軌道のスキヤナを第
5図に示す。テーブル8の上に設置された被検査体6に
X線を照射するX線管1と被検査体通過後のX線を検出
するイメージインテンシフアイアI.I)23が支持ワク3
に取りつけられている。支持ワク3は固定設置された支
持台5に支持ロッド4で取りつけられており支持ワク3
下端に取りつけられたラツク19とピニオン20を介し
てモータ21によつて支持ロツド4を中心に回転走査を
行う。X線管1は支持ワク3に固定され高圧発生器2に
よつてX線を発生し、このX線は走査中常に被検査体の
計測領域に照射される。I.I.23はII取付ワク9
を介して支持ワク3に支持ロツド10によつて取りつけ
られている。さらにII取付ワク9はレール18に沿つ
て滑らかに移動する支持ローラ15および16とこれを
連結する連結棒13,14,17と支持ロツド11,1
2によつて結合されており、支持ワク3の走査によつて
II23は常に一定の方向に向けられている。支持ワク
3の回転運動によつて、X線管とIIは被検査体を走査
して、各走査位置における被検査体透過放射線強度を示
す像をIIによつて検出する。IIにはTVカメラ24
が取りつけられており、これによつてX線像は電気信号
に変換される。スキヤナの出力aは第4図のAD26に
導かれ、デイジタル値に変換された後、処理装置27に
取り込まれ、処理装置27では第3図あるいは第6図に
示された処理フローを実行して3次元断層像を算出す
る。求められた断層像は観察者の指示により指定された
断面の表示をCRT28によつて行う。処理装置27は
計算機を用いて構成することができこの時は第3図ある
いは第6図の処理フローをプログラムによつて実行する
ことによつて断層像を求めることができる。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 4, the scanner 25 measures a plurality of X-ray intensities after passing through the object to be inspected from multiple directions according to the trajectory. A straight line in the orbit,
Various types such as circles, ellipses, and spirals are used, but Fig. 5 shows a linear trajectory scanner. An X-ray tube 1 for irradiating the inspection object 6 placed on the table 8 with X-rays and an image intensifier II) 23 for detecting the X-rays after passing through the inspection object are supported by the support 3
Is attached to. The support arm 3 is attached to a fixedly installed support base 5 with a support rod 4, and the support arm 3
Rotational scanning is performed around the support rod 4 by a motor 21 via a rack 19 and a pinion 20 attached to the lower end. The X-ray tube 1 is fixed to a support frame 3 and generates X-rays by a high-voltage generator 2, and the X-rays are always radiated to a measurement region of an object to be inspected during scanning. I. I. 23 is the II mounting frame 9
It is attached to the supporting arm 3 by means of a supporting rod 10. Further, the II mounting wire 9 includes support rollers 15 and 16 that move smoothly along the rail 18, connection rods 13, 14 and 17 that connect the support rollers 15 and 16, and support rods 11 and 1.
2 and the II 23 is always oriented in a fixed direction by the scanning of the supporting arm 3. The X-ray tube and II scan the object to be inspected by the rotational movement of the support frame 3, and the image showing the transmitted radiation intensity of the object to be inspected at each scanning position is detected by II. TV camera 24 for II
Is attached, whereby the X-ray image is converted into an electric signal. The output a of the scan scanner is guided to the AD 26 of FIG. 4, converted into a digital value, and then taken into the processing device 27, and the processing device 27 executes the processing flow shown in FIG. 3 or FIG. A three-dimensional tomographic image is calculated. The obtained tomographic image is displayed by the CRT 28 on the cross section designated by the observer's instruction. The processing device 27 can be configured by using a computer. At this time, a tomographic image can be obtained by executing the processing flow of FIG. 3 or FIG. 6 by a program.
次に第6図に示す処理フローを実行する処理装置を電気
回路で実施した例を第7図に示す。Next, FIG. 7 shows an example in which a processing device for executing the processing flow shown in FIG. 6 is implemented by an electric circuit.
軌道上の各位置で計測された被検査体透過放射線強度を
示す像Ijはデイジタル値に変換された後、処理装置2
7の入力bから取り込まれ、メモリ29に軌道上に線源
位置ごとに格納される。メモリ30には被検査体設置前
における放射線強度を示す像Iojが格納される。メモリ
29および30に格納された画像は順次読み出されそれ
ぞれ対数変換器31および32によつて対数変換され差
演算器33によつて第(1)式に示す演算が実行され、被
検査体の投影像Pjが算出される。The image I j showing the intensity of the radiation transmitted through the object measured at each position on the orbit is converted into a digital value and then processed by the processing device 2.
It is fetched from the input b of 7 and stored in the memory 29 on the trajectory for each source position. The memory 30 stores an image I oj indicating the radiation intensity before the installation of the inspection object. The images stored in the memories 29 and 30 are sequentially read, logarithmically converted by the logarithmic converters 31 and 32, respectively, and the difference calculator 33 executes the calculation shown in the equation (1). The projected image P j is calculated.
この投影像Pjは逆投影演算器34によつて第(28)式お
よび第(27)式が実行され、逆投影像 を算出する。この逆投影演算器の詳細については第8図
および第9図によつて詳説する。この逆投影像 は障害陰影修正演算器35によつて、第(30)式から第(3
5)式の演算を行い、修正された断層像 を計算する。この障害陰影修正演算器35の詳細につい
ては第10図によつて詳説する。このようにして求めら
れた断層像 は所望の断層面の指示によつてビデオDA36によつて
ビデオ信号に変換され、CRT28に表示される。This projection image P j is subjected to the expressions (28) and (27) by the back projection computing unit 34, and the back projection image P j is obtained. To calculate. The details of this backprojection computing unit will be described in detail with reference to FIGS. 8 and 9. This back projection image Is calculated from the formula (30) to the formula (3) by the obstacle shadow correction calculator 35.
Corrected tomographic image by calculating equation 5) To calculate. The details of the obstacle shading correction calculator 35 will be described in detail with reference to FIG. Tomographic image obtained in this way Is converted into a video signal by the video DA 36 according to the instruction of the desired tomographic plane and displayed on the CRT 28.
次に逆投影演算器34を第8図で説明する。投影像Pj
は一旦メモリ37に格納される。クロツクジエネレータ
38はデジタル発振器によつて構成され一定の時間間隔
のパルスを発生する。このパルスはカウンタ39に入力
され、xの値をカウントし、出力する。カウンタ39,
40,41,42は互いに縦続接続されており、前のカ
ウンタがオーバーフローすると次のカウンタがカウント
アツプされる。このように接続されたカウンタは、カウ
ンタ39はxの値を、カウンタ40はyの値を、カウン
タ41はαの値を、カウンタ42はjの値をそれぞれ出
力する。メモリ44はxs,ys,(k+1)の値を格
納しておきクロツクジエネレータ38に接続されたコン
トローラ43によつて発生されるAの信号によつて、メ
モリ44に格納されたこれらの値をカウント39から4
2の動作と同期をとつて読み出す。アドレス発生器45
は、メモリ44の出力値xs,ys,(k+1)とカウ
ンタ39から41によつて出力されるx,y,αの値を
用いて第(28)式に示す計算を行い、出力u,vを求め
る。Next, the back projection calculator 34 will be described with reference to FIG. Projected image P j
Is temporarily stored in the memory 37. The clock generator 38 is composed of a digital oscillator and generates pulses at regular time intervals. This pulse is input to the counter 39 to count and output the value of x. Counter 39,
40, 41 and 42 are connected in cascade, and when the previous counter overflows, the next counter is counted up. In the counters connected in this way, the counter 39 outputs the value of x, the counter 40 outputs the value of y, the counter 41 outputs the value of α, and the counter 42 outputs the value of j. The memory 44 stores the values of x s , y s , (k + 1) and stores these values stored in the memory 44 according to the signal of A generated by the controller 43 connected to the clock generator 38. Count the value of 39 to 4
The reading is performed in synchronization with the operation of 2. Address generator 45
Is calculated by using the output values x s , y s , (k + 1) of the memory 44 and the values of x, y, α output by the counters 39 to 41, and outputs u , V.
このアドレス発生器の詳細は第9図を用いて後述する。
メモリ37に格納された投影像Pjはアドレス発生器の
出力u,vとカウンタ42の出力jによつて読み出され
る。メモリ46は逆投影像が算出されるメモリーであ
り、カウンタ39,40および41によつて指示される
地x,y,αはこのメモリ46のアドレスラインに入力
される。最初メモリ46をクリアしておき、次の(x,
y,α)によつて指定されるアドレスのデータを読み出
し、メモリ37の出力Pjとの加算を加算器47で行
い、結果を同じアドレスに格納する。カウンタ39から
41のカウント動作に従い、全てのx,y,αのアドレ
スに対応する座標点に対してPjを累積加算するとカウ
ンタ42は次のjの値を出力し、次の軌道位置における
投影像Pjの累積加算を行う。このような動作をくり返
すことによつて、逆投影演算器34は第(27)式の演算を
実行し、逆投影像 を算出する。Details of this address generator will be described later with reference to FIG.
The projected image P j stored in the memory 37 is read by the outputs u and v of the address generator and the output j of the counter 42. The memory 46 is a memory for calculating the back projection image, and the grounds x, y, α indicated by the counters 39, 40 and 41 are input to the address line of the memory 46. First, the memory 46 is cleared, and the next (x,
The data at the address designated by y, α) is read, addition with the output P j of the memory 37 is performed by the adder 47, and the result is stored at the same address. According to the counting operation of the counters 39 to 41, when P j is cumulatively added to the coordinate points corresponding to all the addresses of x, y, α, the counter 42 outputs the value of the next j, and the projection at the next orbit position is performed. The image P j is cumulatively added. By repeating such an operation, the backprojection computing unit 34 executes the computation of the equation (27) to obtain the backprojection image. To calculate.
第8図のアドレス発生器45とメモリ44の関係を第9
図に示す。第9図の回路はメモリの内容xs,ys,
(k+1)とカウンタの出力x,y,αを用いて、第(2
8)式の計算を行いu,vを算出する。アドレス発生器は
乗算器48,49,58,53,54,60と加算器5
0,55、減算器51,56、およびレジスタ52,5
9,57,61で構成され、レジスタのクロツク入力は
コントローラ43に接続され、それぞれCK1,CK
2,CK3に示すクロツク信号によつて、第(28)式の中
間結果を一時的に格納記憶する。The relationship between the address generator 45 and the memory 44 shown in FIG.
Shown in the figure. The circuit of FIG. 9 has the memory contents x s , y s ,
Using (k + 1) and the counter outputs x, y, and α, the second (2
8) is calculated and u and v are calculated. The address generator is a multiplier 48, 49, 58, 53, 54, 60 and an adder 5
0, 55, subtracters 51, 56, and registers 52, 5
The clock input of the register is connected to the controller 43, and CK1 and CK respectively.
2 and CK3 are used to temporarily store and store the intermediate result of the equation (28).
メモリ44のアドレスラインはコントローラ43に接続
され、コントローラの指示によつて、xs,ys,(k
+1)を順次出力する。まずメモリ44からはxsが出
力され、カウンタ41の出力値αの値と乗算器48を用
いて積演算が実行される。また乗算器49はカウンタ3
9の出力値xとカウンタ41の出力値αの積演算を実行
する。乗算器48の出力は加算器50に入力されxの加
算を行い(αxs+x)を算出する。減算器51はこの
(αxs+x)から乗算器49の出力(αx)を減算し、
CK1のパルス信号により結果をレジスタ52に格納す
る。次にメモリ44からはysが読み出され、乗算器5
3によつてαとの積演算を行い、加算器55によつてy
が加算される。乗算器54はαとyの積演算を行い、加
算器54の出力は減算器56で減算され、出力値をレジ
スタ57に格納する。次にメモリ44からは(k+1)
が読み出され、この値はレジスタ52の出力値と乗算器
58によつて乗算され、クロツク信号CK3によつて結
果uをレジスタ59に格納する。同様に(k+1)の値
とレジスタ57の出力は乗算器60に入力され、出力v
をレジスタ61に格納する。このようにしてアドレス発
生器45は第(28)式の結果u,vをx,y,αに対して
順次計算する。The address line of the memory 44 is connected to the controller 43, and x s , y s , (k
+1) are sequentially output. First, x s is output from the memory 44, and a product operation is executed using the value of the output value α of the counter 41 and the multiplier 48. Also, the multiplier 49 is the counter 3
The product operation of the output value x of 9 and the output value α of the counter 41 is executed. The output of the multiplier 48 is input to the adder 50 to add x and calculate (αx s + x). The subtracter 51 subtracts the output (αx) of the multiplier 49 from this (αx s + x),
The result is stored in the register 52 by the pulse signal of CK1. Next, y s is read from the memory 44, and the multiplier 5
3 performs the product operation with α, and the adder 55 outputs y
Is added. The multiplier 54 performs a product operation of α and y, the output of the adder 54 is subtracted by the subtractor 56, and the output value is stored in the register 57. Then from memory 44 (k + 1)
Is read out, this value is multiplied by the output value of the register 52 by the multiplier 58, and the result u is stored in the register 59 by the clock signal CK3. Similarly, the value of (k + 1) and the output of the register 57 are input to the multiplier 60 and output v
Are stored in the register 61. In this way, the address generator 45 sequentially calculates the results u and v of the equation (28) for x, y and α.
次に障害陰影修正演算器35を第10図によつて詳述す
る。メモリ62は軌道Tを格納しておく。このメモリ6
2のアドレスラインは除算器63および64に接続さ
れ、カウンタ39,40,41の出力であるx,y,α
の出力はこれらの除算器の入力に接続されている。除算
器63はxとαの除算を行い出力x/αを算出する。除
算器64はyとαの除算を行い、出力y/αを算出す
る。これらのx/α、およびy/αをメモリ62のアド
レスラインに入力することによりTs(x/α,y/
α)が読み出される。メモリ62の出力は除算器65に
入力されαとの除算が実行され、これらの動作によつて
第(30)式の計算を行い出力 を得る。この は一旦メモリ66に格納される。高速フーリエ変換器
(FFT)67はメモリ66に格納された に対して第(32)式に示されたフーリエ変換を実行して結
果 をメモリ68に格納する。またFFT69は入力される に対して第(31)式に示すフーリエ変換を実行して、結果 をメモリ70に格納する。除算器71は に対して第(33)式に示す除算を実行して結果をメモリ7
2に格納する。FFT73はメモリ72から を読み出し、第(34)式に従う逆フーリエ変換を実行して
結果 をメモリ74に格納する。このようにしてメモリ74に
は障害陰影の修正された断層像が算出される。Next, the obstacle shadow correction calculator 35 will be described in detail with reference to FIG. The memory 62 stores the trajectory T. This memory 6
The second address line is connected to the dividers 63 and 64, and the outputs of the counters 39, 40, 41 are x, y, α.
The output of is connected to the input of these dividers. The divider 63 divides x and α to calculate the output x / α. The divider 64 divides y and α to calculate the output y / α. By inputting these x / α and y / α into the address line of the memory 62, T s (x / α, y /
α) is read. The output of the memory 62 is input to the divider 65 and division with α is executed. By these operations, the equation (30) is calculated and output. To get this Is temporarily stored in the memory 66. Fast Fourier Transform (FFT) 67 stored in memory 66 The Fourier transform shown in Eq. (32) is applied to Are stored in the memory 68. In addition, FFT69 is input The Fourier transform shown in Eq. (31) is applied to Are stored in the memory 70. The divider 71 Then, the division shown in Equation (33) is executed and the result is stored in memory 7.
Store in 2. FFT 73 from memory 72 And perform the inverse Fourier transform according to Eq. (34) to obtain the result. Are stored in the memory 74. In this way, the tomographic image in which the shadow of the obstacle is corrected is calculated in the memory 74.
本発明によれば、計測して得られた多方向投影データか
ら、3次元的な断層像を構成できるため、この3次元断
層像から所望の断層面の断層像を直ちに提示することが
可能となる。さらにこの3次元断層像から障害陰影の軽
減された、より完全な断層像を得ることができ、被検査
各断面の様子を明瞭に表示する効果がある。According to the present invention, since a three-dimensional tomographic image can be constructed from the multidirectional projection data obtained by measurement, it is possible to immediately present a tomographic image of a desired tomographic plane from this three-dimensional tomographic image. Become. Further, from this three-dimensional tomographic image, it is possible to obtain a more complete tomographic image in which obstacle shadows are reduced, and it is possible to clearly display the state of each cross section of the inspection.
第1図は断層撮影装置における被検体透過X線の計測原
理説明図、第2は障害陰影混入のパターン説明図、第3
図は従来の計測データから3次元断層像を得るための処
理手順を示すフローチャート図、第4図は本発明の実施
例の概略装置構成、第5図は円弧方式の直線断層スキャ
ナの構成図、第6図は本発明による計測データから障害
陰影を修正した3次元断層像を得るための処理手順を示
すフローチャート図、第7図は第4図に示す処理装置の
構成を示すブロック図、第8図は第7図の逆投影演算器
の構成を示すブロック図、第9図は第8図のアドレス発
生器の構成を示すブロック図、第10図は第7図の障害
陰影修正演算器の構成を示すブロック図。 1……X線管、2……高圧発生器、23……I.I、2
4……TVカメラ、26……AD変換器、27……処理
装置、29,30……メモリ、31,32……対数変換
器、33……差演算器、34……逆投影演算器、35…
…障害陰影修正演算器、36……ビデオDA、44……
メモリ、45……アドレス発生器。FIG. 1 is an explanatory diagram of a measurement principle of a transmitted X-ray of a subject in a tomography apparatus, FIG.
FIG. 4 is a flow chart showing a processing procedure for obtaining a three-dimensional tomographic image from conventional measurement data, FIG. 4 is a schematic device configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a configuration diagram of an arc type linear tomographic scanner, FIG. 6 is a flow chart showing a processing procedure for obtaining a three-dimensional tomographic image in which obstacle shadows are corrected from the measurement data according to the present invention, FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of the processing apparatus shown in FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of the backprojection computing unit of FIG. 7, FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the address generator of FIG. 8, and FIG. 10 is a configuration of the fault shadow correction computing unit of FIG. FIG. 1 ... X-ray tube, 2 ... High-voltage generator, 23 ... I. I, 2
4 ... TV camera, 26 ... AD converter, 27 ... Processing device, 29, 30 ... Memory, 31, 32 ... Logarithmic converter, 33 ... Difference calculator, 34 ... Backprojection calculator, 35 ...
… Obstacle shading correction calculator, 36 …… Video DA, 44 ……
Memory, 45 ... Address generator.
Claims (5)
像を走査軌動上の複数の方向位置に対して、それぞれ複
数枚計測を行い、これらの2次元投影像をディジタル化
するとともに、計算処理によって被検査体の断層像を求
める装置において、3次元空間上に計測位置に従う逆投
影演算を行い、断層面積相互間にぼけの混入した3次元
断層像を求める手段と、走査軌動に従う小さな高吸収物
体の応答特性を用いた、3次元空間におけるフィルタ処
理によって、逆投影像に含まれるぼけを修正する手段を
設けたことを特徴とするディジタル断層撮影装置。1. A plurality of two-dimensional photographed images obtained by scanning from a plurality of directions are measured at positions in a plurality of directions on a scanning trajectory, and these two-dimensional projected images are digitized. In a device for obtaining a tomographic image of an object to be inspected by calculation processing, means for performing a backprojection operation according to a measurement position in a three-dimensional space to obtain a three-dimensional tomographic image in which blur is mixed between tomographic areas, and scanning trajectory A digital tomography apparatus comprising means for correcting blurring included in a backprojection image by a filtering process in a three-dimensional space using a response characteristic of a small highly absorbing object according to the above.
3次元座標は、その座標間隔が、線源の軌道面からの距
離の二乗に比例した座標間隔で設定された不均一な3次
元座標上で行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の装置。2. When performing a filtering process on a three-dimensional space, the three-dimensional coordinates are non-uniform three-dimensionally with the coordinate interval set at a coordinate interval proportional to the square of the distance from the orbit plane of the radiation source. Apparatus according to claim 1, characterized in that it is performed on coordinates.
して、当該物体の陰影の他の断層面への混入成分を測定
することによって小さな高吸収物体の応答特性を求める
特許請求の範囲第1項記載の装置。3. A response characteristic of a small high-absorption object is obtained by actually setting a small high-absorption object in an inspection area and measuring a mixed component of a shadow of the object on another tomographic plane. The apparatus according to item 1.
して、当該物体の陰影の他の断層面への混入成分を測定
することによって小さな高吸収物体の応答特性を求める
特許請求の範囲第2項記載の装置。4. A response characteristic of a small high-absorption object is obtained by actually setting an inspection area of the small high-absorption object and measuring a mixed component of a shadow of the small object on another tomographic plane. The apparatus according to item 2.
ら計算処理によって算出することを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の装置。5. The apparatus according to claim 1, wherein the response characteristic of a small highly absorbing object is calculated from the scanning trajectory by a calculation process.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61076536A JPH0634789B2 (en) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | Digital tomography system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61076536A JPH0634789B2 (en) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | Digital tomography system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63119741A JPS63119741A (en) | 1988-05-24 |
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Family
ID=13607990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61076536A Expired - Lifetime JPH0634789B2 (en) | 1986-04-04 | 1986-04-04 | Digital tomography system |
Country Status (1)
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| JP (1) | JPH0634789B2 (en) |
Families Citing this family (3)
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|---|---|---|---|---|
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| JP5526062B2 (en) * | 2010-03-31 | 2014-06-18 | 富士フイルム株式会社 | Radiation imaging apparatus and defective pixel position information acquisition method |
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1986
- 1986-04-04 JP JP61076536A patent/JPH0634789B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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