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JPH0634983B2 - 水処理装置制御器及び制御方法 - Google Patents
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JPH0634983B2 - 水処理装置制御器及び制御方法 - Google Patents

水処理装置制御器及び制御方法

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JPH0634983B2
JPH0634983B2 JP59118050A JP11805084A JPH0634983B2 JP H0634983 B2 JPH0634983 B2 JP H0634983B2 JP 59118050 A JP59118050 A JP 59118050A JP 11805084 A JP11805084 A JP 11805084A JP H0634983 B2 JPH0634983 B2 JP H0634983B2
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Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明は樹脂層型硬水軟化装置、より詳細には必要な場
合のみ硬水軟化装置樹脂層の再生を開始する樹脂層硬水
軟化装置の改良型マイクロコンピユータベース制御ユニ
ツトに関する。
最も一般的な種類の硬水軟化装置は硬水を通して望まし
くない鉱物や他の不純物を除去する樹脂層を保持する槽
を有するイオン交換樹脂型硬水軟化装置である。樹脂層
の鉱物及び不純物吸収能力は有限であるため周期的に樹
脂層に再生剤、代表的にはブライン溶液を再補給すなわ
ち再生して樹脂層の能力を回復し後の水処理を行う必要
がある。
最も初期の型式の硬水軟化装置では樹脂層の処理能力が
限度を越えてそこを流れる水が軟水とならないことに気
付いた時のみ手動で再生が行われていた。手動再生を行
う必要をなくすために周期的に硬水軟化装置の再生を開
始する機械時計を使用した硬水軟化装置制御システムが
開発され、このような再生頻度は既知の樹脂層能力及び
毎日の予想軟水使用量に従つて設定されている。機械時
計型硬水軟化装置制御ユニツトにより樹脂層を手動再生
する必要性が緩和されたが、このような制御ユニツトは
樹脂層を一定間隔で再生することにより実際の軟水消費
量が予想消費量よりも少い場合には再生頻度が高過ぎ予
想消費量を越える場合には再生頻度が低過ぎるという欠
点がある。予想軟水消費量に等しいかもしくはそれを越
える量の水を処理するのに充分な能力がまだあるのに樹
脂層を再生するのは再生に必要な塩及び水を浪費するこ
とになる。逆に実際の軟水需要量を処理するのに必要な
能力よりも低い点まで樹脂層能力が低下した後でも樹脂
層の再生がなされなかつた場合には硬水軟化装置から硬
水が出ることになる。
樹脂層の再生頻度をより良く調整するために樹脂層の残
存硬水軟化能力を感知する需要型硬水軟化装置制御ユニ
ツトが開発された。最も新しい需要型硬水軟化装置制御
ユニツトは制御器の感知する樹脂層の残存能力が次の再
生期間の前に使用される見込みの硬水量を浄化するのに
要する能力よりも小さい場合に通常午前2時のオフピー
ク時に樹脂層の再生を開始するように作動する。需要型
硬水軟化装置制御ユニツトは機械時計型硬水軟化制御ユ
ニツトよりも良好に樹脂層再生を調整するが、このよう
な需要型制御ユニツトの再生開始頻度は次の再生期間の
前に使用される予想軟水量を表わす選定予約値に依存す
る。実際に使用する軟水量は一定ではなく日毎に著しく
変動するため、選定予約値を大きくして硬水軟化装置が
常に軟水を生成することを保証しなければならない。こ
うして実際に必要とするものよりも高い頻度で再生が行
われがちである。
従来技術の硬水軟化装置制御ユニツトの欠点を克服する
ために、本発明の譲受人に譲渡された米国特許第4,4
26,294号に記載された“マイクロコンピユータ制
御需要/スケジユール硬水軟化装置”を発明した。前記
特許に記載された硬水軟化装置は日平均軟水消費量に従
つて計算された予約値が硬水軟化装置の残存処理能力を
越える場合に硬水軟化装置の再生を開始するように作動
する。樹脂層の残存処理能力は最初に(キログレインで
測定した)ユニツトの硬水軟化能力と(グレイン/リツ
トル)で測定した流入水の硬度との比に従つて樹脂層の
総処理能力を決定して数学的に計算される。次に樹脂層
の硬水軟化総能力(リツトル)と前の再生以降に使用さ
れた水量との差から残存能力が得られる。
前記特許の制御により行われる残存樹脂層能力の計算は
水の硬度が一定であり樹脂層の総処理能力も一定である
ものと仮定している。しかしながら実際上硬水軟化装置
に流入する水の硬度は多くの理由により頻繁に変動す
る。さらに樹脂自体の処理能力もメーカの指定する能力
と異なることがあるため、樹脂層自体の処理能力も指定
処理能力と異なることがある。さらに制御動作が不正確
なため各再生について使用する塩の量も異なる。それに
比例して樹脂の能力も変動する。また樹脂層の体積が正
確に判らないため算出される残存樹脂層能力は必ずしも
実際の残存樹脂層能力と等しくない。
これらの欠点を克服するため、本発明は樹脂層処理能力
のほぼ半分もしくは他の任意部分が減耗した時期を感知
する樹脂層センサを含む改良型マイクロコンピユータベ
ース硬水軟化装置制御ユニツトに関する。樹脂層総浄化
能力の所定減耗を示す樹脂層センサからの情報は軟水消
費量の測定値を示すデータと共にマイクロコンピユータ
により処理されて、前の再生から生じる総樹脂層能力の
リツトルで測定した値を与える。これにより樹脂層能力
の理論値及び水の単一硬度値を使用して樹脂層能力を計
算するよりも遥かに正確な実際の樹脂層能力決定方法が
得られる。軟水の実消費量に従つて計算した予約値が樹
脂センサ情報及び軟水消費量の測定値から予め決定され
た残存樹脂能力を越える場合には、毎日所定時刻にマイ
クロコンピユータベース制御システムが硬水軟化装置の
再生を開始する。
発明の概要 要約すれば本発明の実施例に従つて硬水軟化装置から流
出する軟水量を検出する流量計を具備し、樹脂層の周期
的再生を要する硬水軟化装置用改良型制御器が提供され
る。本改良型制御器は硬水軟化装置の粒子層処理能力が
総粒子層処理能力の所定%(代表的に50%)へ減耗す
る時期を感知する粒子層センサを含んでいる。制御器は
流量計に接続されておりそこから出される流量データに
従つて制御器は前の再生時期以降に硬水軟化装置から流
出する総処理水量及び日平均処理水消費量を決定する。
日平均軟水消費量に従つて制御器は次の再生の前の期間
中に使用される見込みの処理水量を表わす処理水予約値
を確立する。次の再生までのスケジユールされた期間に
対応する各制御動作サイクル中に、制御器は樹脂層セン
サ及び流量計からの情報に従つて前の再生の結果として
得られる総樹脂層能力を決定する。総樹脂層能力から前
の再生以降の軟水消費量が減じられて残存樹脂層能力が
得られる。残存樹脂層処理能力が確立された予約値より
も小さい場合には樹脂層の再生が開始する。
本発明のもう一つの局面に従つて水処理装置の粒子層の
再生を制御する改善された方法も提供され、それは硬水
軟化装置から流出する水量を所定期間にわたって測定す
る段階から始まり次に前記測定量に従つて最終再生以降
の軟水消費量及び実際の日平均軟水消費量を決定する。
その後計算された日平均軟水消費量から軟水の予約値が
確立される。樹脂層の処理能力を感知して総樹脂層処理
能力の所定%が減耗したかどうかを決定し、もし減耗し
ておれば前の再生以降の処理水消費量の割合として総樹
脂層処理能力を確立する。次に総樹脂層能力から消費水
量を減じて残存樹脂層能力が決定される。周期的に、通
常は一日に一回水をあまり頻繁に使用しない期間中に、
残存樹脂層処理能力が確立された処理水予約値と比較さ
れ、処理水予約値が残存樹脂層処理能力よりも大きけれ
ば再生が行われる。
本改善型制御器の動作において、マイクロコンピユータ
は流量計を監視して前の24時間中に水処理装置を流出
する実処理水量を記録する。代表的に一週間の軟水使用
量を反映する7つの日使用量が記憶される。記憶された
処理水の日消費量から実際の日平均処理水消費量のみな
らず前の再生以降に消費された総処理水量が決定され
る。
硬水軟化装置の樹脂層により流入水が処理されると、粒
子層の処理能力が減耗する。粒子層処理能力が総処理能
力の所定%、代表的に50%に減耗すると、樹脂層セン
サがマイクロコンピユータに警告を与える。樹脂層セン
サから出される情報からマイクロコンピユータは前の再
生以降消費された処理水量の割合として総樹脂層処理能
力を確立する。こうして得られる総樹脂層能力の計算値
は最終動作サイクル中に予めマイクロコンピユータメモ
リに記憶された総樹脂層能力と置換され、従つてマイク
ロコンピユータメモリは常に実樹脂層能力を真に表わす
総樹脂層能力値を含んでいる、マイクロコンピユータメ
モリに記憶された総樹脂層能力値から軟水消費量を減じ
ることにより実際の残存樹脂層能力を容易に計算するこ
とができる。一日の指定時刻、代表的には午前2時もし
くは望ましいオフ時刻に、マイクロコンピユータは硬水
軟化装置の残存樹脂層処理能力を確立された予約値と比
較する。予約値が残存樹脂層能力よりも大きければ、粒
子層の再生を開始する。そうでなければマイクロコンピ
ユータは単に流量計から受信するデータを単に更新し、
少くとも更に24時間待機して再生を行うべきか否かを
決定する。
樹脂層処理能力を感知するセンサを使用した改良型マイ
クロコンピユータベース硬水軟化装置制御ユニツトを提
供することが本発明の目的である。
樹脂層センサが感知する残存樹脂層能力が実軟水消費量
に従つて計算された予約値よりも小さい場合に樹脂層の
再生を開始して、必要な場合のみ樹脂層を再生し再生剤
及び水を節約することも本発明の目的である。
水の硬度及び樹脂層能力に実際に影響を及ぼす他の変数
に従つて各動作サイクル期間中ある値の総樹脂層能力を
動的に維持する硬水軟化装置制御器を提供することも本
発明の目的である。こうして高い高率が得られる。
一日の時刻に関して内部マイクロコンピユータクロツク
を設定する情報以外の入力情報を必要としない制御器を
提供することも本発明の目的である。他の全情報はマイ
クロコンピユータにより流量計及び樹脂層センサから自
動的に決定される。これにより設置が簡単となる。
再生効率を示す硬水軟化装置制御器を提供することも本
発明の目的である。樹脂層の再生を開始して完了した
後、マイクロコンピユータはセンサを問合せて有効に再
生されたかどうかを決定する。制御器のある部品もしく
は関連する制御値が不全であつたり再生剤の不足により
有効に再生が行われなかつたことをセンサが示すと、失
敗が表示され使用者は再生剤を補給したり必要な修理を
行うことができる。
実施例の詳細説明 次に第1図に樹脂層型硬水軟化装置10を示しそれは樹
脂層14を包含した槽12を含んでいる。槽上部の(図
示せぬ)開口を通つて槽内に硬水が流入すると、槽内の
硬水は強制的に樹脂層を通され樹脂層の中心を通つて延
在する吸出管16へ出され従つて吸出管を経て出る水は
樹脂層により処理されて鉱物や他の不純物が除去されて
いる。樹脂層14の流入硬水の鉱物及び不純物吸収能力
は有限であり、代表的にグレン/リツトルで測定される
流入硬水の硬度のみならずキログレン硬度で測定した槽
内樹脂の処理能力に依存する。一度処理能力が減耗した
時に樹脂層を再生するために、樹脂層を塩化ナトリウム
ブライン溶液で洗い流し鉱物や他の不純物を樹脂層から
放出して槽外に搬出する。実際上ブライン溶液は独立槽
18内に貯蔵され再生中に管20及び空気チヤツキ弁2
2を通つて硬水軟化槽12へ出される。
入口23aを通つて槽内へ流入する硬水及び出口23b
を通つて槽から流出する軟水流の制御のみならずブライ
ン槽18から槽12へのブライン流の制御も槽12頂部
にねじ切りされた弁モジユール24によつて(図示せ
ぬ)槽入口及び吸出管16と連絡するように行われる。
弁モジユール24は代表的にウイスコンシン州グレンデ
ールのオートトロール社から部品番号No.24Nとして
製作されている制御器本体を具備している。第2図に示
すように弁モジユール24は夫々7個の円板状弁25a
〜25gを含んでいる。本弁モジユールにおいて、弁2
5e及び25fは夫々出力及び入力弁として示されてお
り、弁25f及び25eは夫々入口23aから槽12へ
の硬水流及び吸出管16(第1図)から出口23bへの
軟水流を調整する。弁25gはブライン槽18から槽1
2へのブライン流を調整するためブライン弁と呼ばれ
る。弁25dは入口23a及び出口23bに通じる(図
示せぬ)ポートへの弁モジユール内の水流を制御して、
入口及び出口弁が閉成している場合には水が直接入口へ
流れ弁25dが開いている場合には出口から流出するよ
うにする。残りの弁25a,25b及び25cは槽から
ドレイン管(第1図)への水及びブライン流を制御す
る。
再生サイクル中にカムシヤフト28が回転して対応する
カムを弁と接触させると、カムシヤフト28上の対応す
るカム26a〜26gの別々の1個により各弁25a〜
25gが適切な間隔で起動する。カムシヤフト28の後
端は弁モジユールから上方に延在するカムシヤフトサポ
ート31に軸支されている。カムシヤフト28の(右
側)前端はギア32(第3図)の外側に延在する軸32
aの後端の“T”型溝と係合する前方に延在するシヤン
クを有している。第3図に示すようにギア32は制御函
34の空洞33内で回転するように軸支されている。第
2図に戻つて制御函34は各各が制御函の外部の(図示
せぬ)相補型フランジと係合する一対の支持案内36
(第1図及び第2図)により弁モジユール24の前端に
滑動可能に固定されている。
弁モジユール24の構成と動作について前記した事柄は
従来技術で良く知られている。
制御函34の前端内の空洞33(第3図)は(第3図に
示す)ねじ39により制御函の前端に固定されたカバー
38により閉じられる。次にカバー38の一部を切離し
た制御函34の前面図である第3図において、カバー3
8は“PM”、“水流”及び“再生剤無し”の指標を記
載した窓40を除いて一般的に不透明である。第4図で
明らかとなるように窓40は窓上の指標を照明するだけ
でなく空洞内のデイスプレイにある情報を表示させるこ
とができる。窓40のすぐ下にはカバーを通る通路41
があり、そこからスプリング付勢釦42が外向きに突出
している。また第4図から判るように釦42は押下する
ことにより窓40を通つてデイスプレイにより示される
時間を設定する。
第3図においてカバー38の一部は切り離されているた
め、ギア32が空洞33内に軸支されているだけではな
くアイドラギア44も空洞33内に軸支されておりギア
32と噛み合うことが判る。アイドラギア44はモータ
48(第2図)の軸の前端にあるギア46により駆動さ
れ、前記モータは制御函の背面に載置されていてその軸
は制御函34を貫通してギア46を受入れる空洞へ延在
している。
代表的に1rpm交流クロツクモータである第2図のモー
タは制御回路が特定アルゴリズムに従つて再生を行うべ
きことを決定すると(後記する)第4図の制御回路によ
り交流で励起される。モータ48は制御回路50により
励起されるとギア46,44及び32を介してカムシヤ
フト28を駆動してカム26a〜26gに弁25a〜2
5fの対応する1個を夫々起動させる。カム26a〜2
6fは弁25a〜25fが夫々カムシヤフトの一回転中
の特定期間だけ特定シーケンスで起動して樹脂層再生を
完了するのに通常必要なバツクウオツシユ、ブライニン
グ、スローリンス及びブライン補充及び除去ステツプを
所望シーケンスで実施する。カムシヤフトの一回転に続
いて弁はサービス位置に戻り硬水軟化装置に正規の水流
を通すことができる。
後記するように次の再生期間の前に使用される見込みの
軟水量を表わす軟水予約値が樹脂層の残存処理すなわち
浄化能力を越す場合には、制御回路50は第1図の樹脂
層14の再生を行うように作動する。米国特許出願第4
12,279号に記載された硬水軟化装置制御器では、
(キログレン硬度で測定される樹脂層能力とグレン/リ
ツトルで測定される流入水硬度の比により確立される)
樹脂層の総浄化能力と前の再生以降に消費される軟水量
との差に従つて樹脂層の総残存能力が計算される。従つ
て前記硬水軟化装置制御器の動作は流入水の硬度と樹脂
層能力を一定と仮定している。しかしながら実際上流入
水の硬度も樹脂層能力も一定ではない。従つて制御器の
動作が不正確なため再生剤と水の所要量が変動する。
この欠点を克服するため本発明の硬水軟化装置制御器は
第1図に示すように層14のほぼ半分下方に配置された
樹脂層センサ49を含み、第1図の樹脂層14の浄化能
力が総樹脂層浄化能力の所定%(代表的に50%)に減
耗した時に電気的表示を出す。樹脂層センサ49の夫々
膨張及び収縮状態の断面図を示す第3A図及び第3B図
を参照すれば樹脂層センサ49を一層理解することがで
きる。
次に第3A図及び第3B図において、樹脂層センサ49
は例えばプラスチツク等の水及ぶブライン不浸透性材で
出来た外部凾体49aを有している。外部凾体49a内
には内部凾体49bがありそれにはある量の特殊樹脂4
9cが収容されており、その体積はそれにさらされる水
の軟度を従つて変動する。外部凾体49aの外壁には開
口49dが設けられており内部凾体49bの外壁には開口
49d′が設けられており、第1図の槽12内の水を凾
体49b内に保持された特殊樹脂49cにさらすことが
できる。
凾体49b頂壁を通つて内部凾体の内部へ垂直下向きに
腕49eが延在しており、その下端はねじ49fにより
ダイアフラム49gに固定されている。スプリング49
hが内部凾体49b頂壁とダイアフラム49g間に挿入
されダイアフラム49gを特殊樹脂49cの体積に対し
て彎曲可能に付勢する。第3A図に示すように外部凾体
49bの開口49dを通る水が軟水であると、特殊樹脂4
9cの体積は完全に膨張してダイアフラム49gをスプリ
ング49hに対して付勢する。従つて腕49eは最上部
位置に付勢される。腕49eが最上部位置にあると腕4
9eのヘツド49iがリーフスイツチ49lのリーフ腕
49kを持上げてリーフスイツチを非導通とする。図示
しないがガスケツト等の形状の装置が凾体49a内の凾
体49bを封止するために設けられており、開口49dか
ら流入する水は前記開口と連絡された凾体49bの内部
にのみ流入し凾体49b内部の残りの部分には流入しな
い。こうしてスイツチ49lは樹脂層内の水にさらされ
ることはない。
次に第3B図において外部凾体49aの開口49dを通
つて内部凾体49bに流入する水が硬水であれば、特殊
樹脂49cの体積が収縮しダイアフラム49gは特殊樹
脂49cの体積によりスプリング49hに対して付勢さ
れることはない。説明の目的で第3B図の収縮量は誇張
して示されている。特殊樹脂の体積が減少するため、ス
プリング49hはダイアフラムを下向きに付勢して腕4
9eを最下部位置へ変位させる。腕49eが最下部位置
にあると、リーフスイツチ49lのリーフ腕49jは腕
のヘツド49iと接触しなくなりスイツチ49lが導通
する。実際上樹脂センサ49は第1図の槽12内の樹脂
層14のほぼ中間位置に配置されているため、樹脂層能
力が元の処理能力のほぼ半分(50%)に減耗した時ス
イツチ49lが導通する。
前記センサ49の特定実施例は単なる説明用であり他の
タイプの樹脂層センサも使用できることを御理解願いた
い。例えば米国特許第4,257,887号に開示された水の導
電率に応答する樹脂層センサを前記樹脂層センサ49の
替りに使用することができる。さらにある場合には樹脂
層センサ49を樹脂槽の外部に配置し(図示せぬ)接続
管により特殊樹脂49cに水を供給することが望まし
い。
硬水軟化装置の樹脂層再生は通常制御回路50がモータ
48を励起する時に行われるが、手動再生を行いたい場
合もある。手動再生を行うためにギア32はギアから前
方に伸びてカバー38の開口54(第1図)に貫通する
ハブ52を有している。ギア32及びハブ52はシヤフ
ト32aからスプリング付勢されており、ギアのハブ5
2を内向に押すとギア32はアイドラギア44との係合
を解除しハブの回転によりカムシヤフトを手動回転する
ことができる。ハブを手動回転させるかもしくはギア3
2をモータ48により駆動すると、ハブ上の矢符55が
硬水軟化装置のさまざまな動作状態を表わすカバー38
面上の(図示せぬ)指標を指示し、再生サイクルのどの
ステツプを実行しているかもしくは弁が現在サービス位
置にあるかどうかを表示する。
ギア32から外向きに部材56が突出しておりギアが回
転するとリーフスイツチ57のスプリング付勢腕57a
と接触する。リーフスイツチ57は後記する方法で制御
回路50に接続されている。スイツチはギアの回転時に
部材56により起動されるかもしくはハブを単に押下し
た時に起動するが、それは部材56の外向きの力により
スプリング付勢された腕57aが正規の下向移動を行う
の妨げてスイツチを起動させるためである。スイツチ5
7が起動すると制御回路は再生を開始する。従つてハブ
52を手動回転させるだけでなくハブを単に押下してス
イツチ57を起動させることにより再生を行うことがで
きる。
制御回路50の詳細を第4図に示す。制御回路50の心
臓部にはデータ処理装置58があり、それは本実施例に
おいてカリフオルニア州、サンタクララのインテル社製
モデル8048マイクロコンピユータ等の単チツプマイ
クロコンピユータの形状である。マイクロコンピユータ
58は予めマイクロコンピユータに入力されているかも
しくは動作中に出されるデータを記憶する“オンボー
ド”ランダムアクセスメモリを含んでいる。またマイク
ロコンピユータはオンボード読取専用メモリも含んでお
りそれには第5A図〜第5D図に関して詳説する動作プ
ログラムが記憶される。このプログラムは再生を行うべ
きかどうかを判定するのに必要な計算及び論理的決定を
行う内部マイクロコンピユータ算術論理ユニツトの動作
を制御する。オンボードメモリ及び算術論理ユニツトの
他に、マイクロコンピユータ58は実時間クロツクとし
て働く内部タイマーも含んでいる。モデル8048マイクロ
コンピユータの一層完全な説明についてはインテル社の
“MCS−48ユーザーズマニユアル”を参照されたい。
一次巻線60aが(図示せぬ)110−220V、50
〜60Hz交流給電源に接続された変圧器60からなる給電
源59によりマイクロコンピユータ58を励起する5V
調整直流電圧がマイクロコンピユータのVccピンに供給
される。空洞33内に変圧器用空間がないため変圧器6
0は第2図に示すように制御凾の裏面に搭載されてい
る。一次側を交流供給電圧に接続した時に中央タツプ変
圧器2次巻線60bの両端間に生じる交流低電圧は一対
のダイオード61a及び61bにより整流され、そのア
ノードは夫々変圧器2次巻線60bの両端の一方に接続
されている。ダイオードのカソードが一緒に接続されて
いるため、以後非調整供給電圧(unreg)出力端子と呼
ぶダイオードカソードの接合点と以後給電共通(com)
端子と呼ぶ変圧器中央タツプとの間に非調整直流電圧が
生じる。
給電源の非調整電圧及び共通端子間に存在する非調整直
流電圧は一対の並列接続コンデンサ62a及び62bによ
り濾波された後電圧調整器63に供給される。調整器の
出力に生じ給電源の“+5V”出力と呼ばれる5V調整直
流電圧は+5V給電端子と給電共通端子間に並列接続さ
れた一対のコンデンサ64a及び64bにより濾波され
た後マイクロコンピユータのピンVccに供給される。給
電源から生じる5V直流調整電圧は良く濾波されている
が、マイクロコンピユータピンVccと給電共通端子間に
濾波器コンデンサ65を接続することが望ましい。給電
源とマイクロコンピユータ58間の完結回路はマイクロ
コンピユータ接地ピンVssを給電共通端子に接続して完
成される。
マイクロコンピユータ58内には(図示せぬ)マスター
発振器があり、その周期的クロツク信号が内部コンピユ
ータタイマ及び算術論理ユニツトを制御する。本発振器
の周波数はマイクロコンピユータピンXTAL1及びXTAL2
間のリアクタンスから決定される。本実施例においてこ
のリアクタンスはマイクロコンピユータ58のXTAL1及
びXTAL2ピン間に接続されたインダクタンス66及び各
々がマイクロコンピユータXTAL1及びXTAL2ピンの一方
と給電共通端子間に接続された一対のコンデンサ68a
及び68bにより確立される。給電共通端子はマイクロ
コンピユータピンEAにも接続されており、マイクロコ
ンピユータの動作中に内部マスター発振器からの周期的
タイミング信号に応答した内部算術論理ユニツトによる
全てのメモリアクセスがマイクロコンピユータの内部ラ
ンダムアクセス及び読取専用メモリから行われることを
保証する。
前記したように実時間タイムクロツクとして作動するマ
イクロコンピユータの内部タイマーは交流給電源の交番
に従つてストローブすなわちクロツクされる。交流供給
電圧は慣例に従つて50もしくは60Hzに正確に維持さ
れているため、交流供給電圧の交番周波数を実時間測定
ベースとして使用することができる。内部マイクロコン
ピユータタイマーをストローブするために、交流供給電
圧の交番に従つて論理状態を変える論理値電圧をマイク
ロコンピユータのT1ピンに供給するクロツク回路70
が設けられている。クロツク回路70は変圧器60の2
つの2次巻線端子の一方と第1トランジスタ73のベー
ス間に直列接続されたダイオード71及び抵抗72を有
し、第1トランジスタ73のコレクタ−エミツタ部は給
電源59の+5Vと共通端子間に抵抗74と直列に接続
されている。トランジスタ73はそのベースが一対の直
列接続抵抗器75a及び75bを介して給電源の+5V
端子に接続されている。変圧器60の2次巻線の交流電
圧が交番するたびに、トランジスタ73が導通する。コ
ンデンサ76と抵抗77の並列組合せからなる濾波器が
漂遊ノイズを濾波してトランジスタの誤導通を防止す
る。
第2のトランジスタ78はそのベースが抵抗74とトラ
ンジスタ73の接合点に接続されており、そのコレクタ
−エミツタ部は接合抵抗75a及び75bと給電共通端
子間に接続されている。
トランジスタの導通はトランジスタ73により制御さ
れ、トランジスタ73は導通するとトランジスタ78の
ベースからの電流を分路してトランジスタ78の導通を
禁止する。トランジスタ73が非導通であるとトランジ
スタ78にベース電流が供給されて導通する。こうして
トランジスタ78は論理インバータとして作動し、トラ
ンジスタ78の両端間に生じマイクロコンピユータのピ
ンT1に供給されて内部タイマーをストローブする論理
値電圧はトランジスタ73のコレクタ−エミツタ部の両
端間に生じる論理値電圧の論理否定となる。
内部マイクロコンピユータタイマーが正しい時刻を維持
するには、タイマーを通常適切な時刻に初期設定しなけ
ればならない。タイマーの設定はピンT0のマイクロコ
ンピユータタイミング入力と給電共通端子入力間に接続
されたスイツチ79を閉成してタイミング入力の電圧を
論理ロー電圧値とすることにより行われる。実際上スイ
ツチ79はカバー38(第3図)から突出している釦4
2(第3図)を押下して起動する。スイツチ79が開い
ているとタイミング入力はピンT0と+5V給電端子間
に接続された抵抗80を介してハイ論理値電圧に維持さ
れる。
内部マイクロコンピユータタイマーがクロツク回路70
により処理される交流供給電圧の交番に従つて時刻をカ
ウントするため、マイクロコンピユータは交流供給電圧
周波数が米国の場合のように60Hzであるかあるいは欧
州の多くの国々の場合のように50Hzであるかについて
警告を受けなければならない。交流供給電圧周波数につ
いてマイクロコンピユータに警告を与えるために、ピン
DB7で終止する2番目に高位のマイクロコンピユータデ
ータバス線7と給電共通端子間にスイツチ81が接続さ
れている。前記バスが接地電位にあるか否か(すなわち
スイツチ79が閉成しているか否か)を決定した後マイ
クロコンピユータは交流供給電圧が夫々50Hzであるか
60Hzであるかを知ることができる。
通常マイクロコンピユータの電力は給電源59から供給
され、内部タイマーをクロツクさせるタイミング信号は
クロツク回路70から出される。しかしながら交流供給
電圧がなくなると、クロツク回路が周期的パルスを供給
できなくなるだけでなくもつと重要なこととして収集デ
ータを記憶する内部マイクロコンピユータメモリが消去
される。少くともマイクロコンピユータメモリの消去を
防止するために、バツテリ82の正端子がツエナーダイ
オード84を介してマイクロコンピユータ58の予備電
圧入力ピンVddに接続されている。バツテリの負端子は
給電共通端子に接続されている。給電源59の入力には
交流電圧があるが給電源からダイオード86を介してピ
ンVddに直流調整電圧が供給される。
通常バツテリ電圧はツエナーダイオード84の破壊電圧
とダイオード86の両端間の電圧降下の和よりも小さい
が、ツエナーダイオード破壊電圧よりも大きい。従つて
供給電圧がなくなつた場合のみバツテリ82がツエナー
ダイオード84を導通させマイクロコンピユータに電圧
を供給する。エネルギ貯蔵装置としてバツテリ82の替
りにコンデンサを使用できることに御注意願いたい。マ
イクロコンピユータピンVddと給電共通端子間にコンデ
ンサ87が接続されていて任意のノイズを濾波する。
一度交流給電がなくなると通常マイクロコンピユータを
リセツトする必要がある。“パワーオン”時にマイクロ
コンピユータのリセツトを行うリセツト回路90は給電
源の非調整電圧出力端子と第1のトランジスタ96のベ
ース間に直列接続された抵抗92とツエナーダイオード
94を含み、第1トランジスタ96のコレクタ−エミツ
タ部は給電源非調整電圧出力端子と給電共通端子間で抵
抗98に直列に接続されている。トランジスタのベース
−エミツタ接合は抵抗100とコンデンサ102の並列
組合せにより分路される。
第2のトランジスタ106のベースは抵抗98とトラン
ジスタ96の接合点に接続され、そのコンデンサ−エミ
ツタ部はRESETピンで終止するマイクロコンピユータリ
セツト入力と給電共通端子間で抵抗108に直列に接続
されている。給電源に交流が供給される期間中にトラン
ジスタ96が導通しトランジスタ106のベースからの
電流を転流してその導通を妨げマイクロコンピユータリ
セツト入力の高インピーダンスを維持する。しかしなが
ら一度交流供給電圧がなくなりその後再び給電源に印加
されると、交流供給電圧がなくなつた時に非導通となつ
たトランジスタ96は給電源59の非調整出力電圧がツ
エナーダイオード94の閾値電圧に達しないうちは再び
導通しない、一方トランジスタ96が一時的に非導通と
なると、再給電時にトランジスタ106が導通しマイク
ロコンピユータリセツト入力と給電共通端子間に低イン
ピーダンスを与えてマイクロコンピユータをリセツトす
る。
第5A〜5D図のフロー図を見れば判るように、前の再
生以降使用される水量と水の硬度から決定される残存樹
脂層処理能力が実際の日平均軟水消費量の%として計算
される予約値よりも小さい場合に樹脂層の再生を開始す
るようにマイクロコンピユータ58はプログラムされて
いる。
第1図の樹脂槽12を出る軟水流を表わす入力データは
出口23bに配置された流量計110からピンP17で終
止するマイクロコンピユータ58の2部分の一方の最高
位線17へ出される。次に第1図の4a−4a線に沿つ
た入口23bの部分切取図である第4A図において、流
量計110はタービン111を具備しタービン周辺には
磁石112aが埋設されていてS極が放射状外向きとな
るようにされている。カウンタウエイト112bが磁石11
2aと反対側でタービン周辺に配置されておりタービン
を平衡させている。タービンの最右端は出口の右端に配
置されたベアリングストラツト114に固定された第1
ベアリング113aにより軸支されている。タービン111
の最左端は出口の最左端に受容される寸法のカラー11
7の内部穴に配置されたベアリングストラツト116内に
保持されたベアリング113bにより軸支されている。
カラーと出口間にはoリング118が封止係合されてい
て漏水を防止する。出口から水が流出すると水力により
タービン111が駆動され磁石はタービンに隣接する出
口の壁に配置されたホール効果スイツチ119を通過す
る。
次に第4図に戻つて代表的にニユーハンプシヤ州、コネ
ツカツトのスプラグエレクトリツク社製モデルUGN30
40Tホール効果スイツチからなるホール効果スイツチ
119の入力端子I及び接地端子Gが給電源の+5V及
び共通端子に接続されている。コンデンサ119bがI
及びG入力値を分路して任意の漂遊ノイズを濾波する。
こうして励起されると、タービンの磁石がスイツチを通
過するたびにホール効果スイツチは出力端子にハイ論理
値電圧を発生する。この電圧はマイクロコンピユータピ
ンP17で終止する第2のマイクロコンピユータポートの
線17においてマイクロコンピユータに供給される。電
圧値遷移数をカウントすることにより、マイクロコンピ
ユータは硬水軟化装置を流出する水量に直接関連するタ
ービン速度を決定することができる。プルアツプ抵抗1
19cがマイクロコンピユータピンP17を+5V給電端子
へ接続して任意ノイズにより水量の誤測定を行うのを防
止する。
樹脂層14の残存浄化能力を示す入力データがマイクロ
コンピユータピンP15をスイツチ49lを介して給電源
の+5V端子に接続することにより線15上のマイクロ
コンピユータに出される。樹脂層14の浄化能力が元の
浄化能力の50%に減耗した場合にスイツチ49lが閉
成すると、マイクロコンピユータ58のピンP15に+5
V直流電圧が供給される。第5A図〜第5D図のフロー
図に示すプログラムの説明から良く判るように、スイツ
チ49lが閉成するとマイクロコンピユータ58は前の
再生以降に消費した水量の割合として樹脂層14の総浄
化能力を確立する。こうしてマイクロコンピユータ58
は理論的樹脂層浄化能力と一つの水硬度値の比に従つて
樹脂層能力を計算して得られるよりも正確な総樹脂層浄
化能力値を確立する。
通常マイクロコンピユータ58が樹脂層14の再生を制
御するのに要する全入力情報が流量計110のホール効
果スイツチ119及び樹脂センサ49のマイクロスイツ
チ49lから出される。しかしながらマイクロコンピユ
ータの動作に故障が生じた場合には、通常一つもしくは
いくつかのテスト命令に入つて故障診断を促進するのが
望ましい。マイクロコンピユータ動作に警告を与える入
力テスト指令はデータバスピンDB0〜DB5及びポートピン
20〜P23の1個もしくは数個をジヤンパー120を介
してマイクロコンピユータポートピンP14に接続するこ
とによりマイクロコンピユータに入力される。次に第3
図においてこのようにテスト指令の入力を容易にするた
めに、マイクロコンピユータポートピンP20〜P23及び
マイクロコンピユータデータバスピンDB0〜DB5の各各が
マイクロコンピユータ58等の制御回路50素子を載せ
た回路板124上に載置された端子ブロツク122の各
端子に接続される。カバー38は制御回路の他の素子と
共に端子ブロツク122を覆つて許可されたサービス技
師以外はアクセスできないようにすることができる。
第4図に戻つてマイクロコンピユータは入力流量計デー
タ及び樹脂層センサデータから再生を要することを決定
すると、ピンDB6で終止する2番目の高位データバス線
6上にハイレベル論理電圧を出力する。この電圧はトラ
ンジスタ124のベースに供給されそれには給電源から
プルアツプ抵抗126を介して5Vの調整直流電圧も供
給される。トランジスタ124のコレクタ−エミツタ部
は給電共通端子と光トライアツク130の一つの発光入
力端子L2間で抵抗128に直列接続されており、光ト
ライアツク130の他の発光入力L1は給電源の非調整
電圧出力端子に接続されている。トランジスタ124が
マイクロコンピユータ58により導通されると、トラン
ジスタは光アイソレータ130の発光器を通る電流の完
全な回路を与え光アイソレータを導通させる。光アイソ
レータ130は導通すると交流電圧が供給される入力端
子I1及びI2とモータ48に接続された出力端子M1
びM2間に完全な回路を与える。従つてトランジスタ1
24が導通するとモータは交流で励起されて第1図〜第
3図のカムシヤフト28を駆動し樹脂層の再生を開始す
る。光トライアツク130により切替えられる電圧を濾波
するために、光トライアツクの端子M1及びM2間にコン
デンサ134に直列に抵抗132が接続されている。
前記したようにスイツチ57(第3図)は空洞33内に
配置されておりハブ52及びギア32の押下もしくはギ
アの回転により起動する。第4図に戻つてスイツチ57
は夫々トランジスタ124のコレクタ及びエミツタに接
続された接点を有している。従つてスイツチ57を起動
するとトランジスタのコレクタ−エミツタ部が短絡して
光トライアツク130を励起する。
制御回路50の前記副回路の他に、制御回路50は一対
の7素子発光ダイオード(L.E.D)デイスプレイ134a
及び134bからなるデイスプレイを含み、それは内部
マイクロプロセツサタイマが記録する交流供給電圧の交
番数により測定される一日の時刻を表示するだけでなく
槽12からの軟水流の表示を与える。LEDデイスプレイ
134a及び134bは共に給電源59の+5V及び非
調整出力電圧端子に接続されている。LEDデイスプレイ
134aの7素子(a)〜(g)の各々がプルアツプ抵抗13
6a〜136gの別々の1個を介して代表的にテキサス
州ダラスのテキサスインスツルメンツ社製モデル74L
S47デシスプレイドライバからなるデイスプレイドラ
イバ回路138の出力01〜07の対応する一出力に接
続されている。給電源59の+5V及び共通端子に接続
してそこから5Vの直流調整電圧を受電する他に、デイ
スプレイドライバ回路138は夫々マイクロコンピユー
タピンP24〜P27で終止するマイクロコンピユータ58
の第1ポートの最上位4線24〜27の別々の1線に接
続された4個の入力端子I1〜I4を有している。内部
記憶プログラムの実行中にマイクロコンピユータ58は
一日の時刻の最下位桁を表わす4桁2進信号をピンP24
〜P27に出力し、それはデイスプレイドライバ138に
出され次にLEDの適切なセグメントを励起して一日の時
刻の最下位桁を表示する。
本発明の制御回路50を国内及び国際的に使用可能とす
るために、LEDデイスプレイ134a及び134bは一
日の時刻を12時間もしくは24時間式で表示するのが
望ましい。このためデイスプレイ134bのセグメント
(a),(d),(e)及び(g)は各々トランジスタ140のコレ
クタ−エミツタ部と直列の抵抗139を介して給電源の
共通端子に接続されている。トランジスタ140のベー
スはプルアツプ抵抗141を介して給電源+5V端子に
接続され且つピンP12で終止するマイクロコンピユータ
の第1部分の下位3番目の線12に接続されており、マ
イクロプログラムの実行中の適切な期間にそこからハイ
論理値電圧を受電してLED134bセグメント(a),
(d),(e)及び(g)を励起する。LEDデイスプレイ134b
のbセグメントはトランジスタ146のコレクタ−エミ
ツタ部と直列の抵抗144を介して給電共通端子に接続
されている。トランジスタ146のベースには給電源か
らプルアツプ抵抗148を介して5Vの直流調整電圧が
供給され、またマイクロコンピユータピンP13で終止す
るマイクロコンピユータの第1ポートの上から3番目の
線13上に生じる論理値出力信号も供給される。LEDデ
イスプレイ134bのcセグメントはダブルプル双投ス
イツチ150の第1接触子150Aにより切替可能に抵
抗144に接続されている。ダブルプル双投スイツチ15
0の第2の接触子150bは抵抗152の一端子をLEDデ
イスプレイ134bの小数点セグメントd,pと発光ダ
イオード134bのcセグメント間に接続する。抵抗1
52の他方の端子はトランジスタ154のコレクタ−エ
ミツタ部により給電共通端子に接続されている。トラン
ジスタ154のベースにはプルアツプ抵抗155を介し
て給電源の5V直流調整出力電圧が供給され、またマイ
クロコンピユータピンP11で終止する第1のマイクロコ
ンピユータ部の下から2番目の線11の論理値電圧も供
給される。
スイツチ150を“12時”位置に設定してデイスプレ
イ134bの小数点セグメントd.p.を抵抗152に接
続し且つcセグメントをbセグメントに並列に接続する
と、内部マイクロコンピユータタイマが決定する一日の
午後の時間中の場合のようにピンP11にマイクロコンピ
ユータが論理ハイ電圧を発生してトランジスタ154が
導通した場合、発光ダイオードデイスプレイ134bの
小数点セグメントd.p.が励起される。一度励起される
と小数点セグメントd.p.は第3図の窓40の外面上の指
標“PM”を照光してLEDデイスプレイ134a及び13
4bにより表示される時刻が午後であることを表示す
る。スイツチ150が“12時”位置にあると、マイク
ロコンピユータによりトランジスタ146が導通した場
合LEDデイスプレイ134bにより“1”が表示され
る。これは内部マイクロコンピユータタイマの決定する
一日の時刻が午後10時と午後1時の間もしくは午後1
0時と午後1時の間にある場合に生じる。
しかしながらスイツチ150が“24時”位置に設定さ
れてトランジスタ154がLEDデイスプレイ134bの
cセグメントを駆動すると、トランジスタ154及び1
46が共に導通してb及びcセグメントを励起する時LE
Dデイスプレイ134bは“1”を表示する。これは一
日の時間が1000時間と2000時間の間にある期間
にマイクロコンピユータがピンP13とP11に論理ハイレ
ベル電圧を出力する場合に生じる。内部マイクロコンピ
ユータタイマの決定する一日の時間が2000時間と0
100時間の間にある期間中に、マイクロコンピユータ
はピンP13及びP12に論理ハイレベル電圧を出力しa,
d,e及びgセグメントはトランジスタ140により励
起されbセグメントはトランジスタ146により励起さ
れてデイスプレイ134bに“2”を表示する。
デイスプレイ134bと同様にLEDデイスプレイ134
aにも小数点セグメントd.p.が与えられ、それは抵抗
158を介してピンP10で終止する第1のマイクロコン
ピユータ部の最下位線10に接続される。再生が行われ
る以外の期間、すなわち軟水が第1図の樹脂層14に流
入し第2図の出口23bから流出する期間中に、マイク
ロコンピユータ58はピンP10にハイ及びロー論理値間
を交番する論理値電圧を出力してLEDデイスプレイ13
4aの小数点セグメントd.p.を交互に励起する。デイ
スプレイ134bの小数点セグメントd.p.は第3図の
窓40の指標“水流”の後に生じ、硬水軟化装置を水が
流れている時にLED134aの小数点セグメントd.p.が
フラツシユする。
発光ダイオードデイスプレイ134a及び134bの他
に制御回路50は給電源の共通端子とトランジスタ17
6のエミツタ間に接続されたもう一つの発光ダイオード
175を含むのが有利である。トランジスタ176のコ
レクタは降下抵抗器177を介して+5V給電源に接続
されておりトランジスタのベースはマイクロコンピユー
タピンP16に接続されている。マイクロコンピユータに
記憶されたプログラムの説明から判るように、再生サイ
クルの開始及び完了後樹脂層14が(第1図のセンサ4
9が決定するように)減耗していると、マイクロコンピ
ユータ58はピンP16に論理ハイレベル信号を発生して
トランジスタ176を導通させる。トランジスタ176
が導通すると指標“再生剤無し”の反対側で窓42の後
に載置された発光ダイオード175が励起される。一度
励起されると発光ダイオード175は指標“再生剤無
し”を照光して再生は開始されたが機械的故障もしくは
再生剤不足により樹脂層は減耗したままであることを知
らせる。
前記したように第4図のマイクロコンピユータ58の内
部のメモリ内にはマイクロコンピユータが第4図のLED
デイスプレイ134a及び134b上に一日の時刻を表
示できるようにするだけでなく入力データを処理して第
2図及び第3図のモータ48を励起して再生を開始すべ
きかどうかを決定できるようにマイクロコンピユータを
制御するプログラムがある。
プログラム始動−ステツプ200〜206 次にマイクロコンピユータが実行するプログラムをフロ
ー図で示す第5A図〜第5D図特に第5A図において、
マイクロコンピユータに電源を加えるとマイクロコンピ
ユータプログラムが実行開始する(ステツプ200)。
プログラムの始動に続いてタイムキーピングの目的で一
日の時刻のデフオルト値が内部マイクロコンピユータタ
イマのレジスタに入力される。代表的にこのデフオルト
値は“正午12時”である。しかしながら制御回路50
のスイツチ79が起動しているとデフオルト値を増分し
て一日の正確な時刻が正午12時以外であればタイマレ
ジスタに適切な値を入力することができる。デフオルト
値をタイマレジスタに入力した後“日使用量デフオル
ト”フラグと呼ぶ内部マイクロコンピユータフラグが設
定されて日使用水量及び樹脂層能力の実際の値が未入手
であることを示す。本発明のマイクロコンピユータは第
1図の樹脂層14の実処理能力が実際の日平均軟水消費
量に従つて計算した予約値よりも小さい場合に硬水軟化
装置の再生を開始するように作動するため、メモリに記
憶された値0の替りに軟水日消費量の有限人工値を入力
して第一週の動作期間中マイクロコンピユータに再生頻
度を良好に調整させることができる。一週の特定日に使
用される日軟水使用量を表わす7個の人工値の各々が
(後記する)プログラムの後の実行期間中に最初に入力
される。しかしながら一度動作サイクルが完了すると、
これらの値は硬水軟化装置制御器の後の動作中に流量計
が決定する日軟水消費量の実際値と置換される。
前記米国特許第412,279号に開示された硬水軟化
装置制御器において、1個もしくは数個のマイクロコン
ピユータポートピンを飛越して対応するデータプラスピ
ンに行くことにより能力値が入力されている。しかしな
がら本硬水軟化装置制御器では能力を入力するのにこの
ような条件はなく、替りの方法によりデフオルト値を入
力してセンサ能力の最初の決定を行うようにしなければ
ならない。
自己テストモードステツプ206〜210 日デフオルト使用量フラグを設定して1週7日の各日に
使用される軟水量を表わす日使用量値が要求されている
ことを表示した後(ステツプ204)、マイクロコンピ
ユータ58は自己テストモードで作動しているかどうか
をチエツクする(ステツプ206)。マイクロコンピユ
ータ58の動作評価期間だけでなく設置期間中にも、マ
イクロコンピユータデータバスピンDB0〜DB5及びポート
ピンP20〜P23のいくつかをピンP14へ飛越すことによ
りマイクロコンピユータは自己テストモードとされる。
マイクロコンピユータが自己テストモードで作動してお
れば、そこに接続された任意のスイツチの中のどのスイ
ツチ、例えばスイツチ150、が起動しているかをチエツ
クする(ステップ208)。特定スイツチを起動すると
スイツチを表わす特定コードが表示される(ステツプ2
10)。
一日の時刻表示−ステツプ212〜221 一度マイクロコンピユータ58が自己テストモードで作
動していないと決定すると、マイクロコンピユータはス
イツチ81の導通状態を調べて変圧器60の一次側への
交流給電が50Hzか60Hzかを決定する。マイクロコン
ピユータ58の内部タイマは交流供給電圧の交番に応答
してクロツクされているため、交流供給電圧の周波数は
重要である。交流入力電圧の周波数が50Hzであれば、
スイツチ150が“24時”位置に設定されているもの
としてマイクロコンピユータ58は24時間クロツクと
して発光ダイオードデイスプレイ134a及び134b
(第4図)を作動させる(ステップ214)。交流供給
電圧の周波数が50Hzである位置において、通常12時
式ではなく24時式で時刻が測定される。交流供給電圧
が60Hzである決定を行つた後もしくは24時クロツク
モードでLED134a及び134bを作動させた後(第
4図)、マイクロコンピユータ58はエラーがあるか否
かをチエツクする(ステツプ216)。エラーを検出す
るとエラーを表わすコードがLEDデイスプレイ134a
及び134bに表示される(ステツプ218)。エラー
が検出されない場合にはマイクロコンピユータはLED134
bに一日の時刻の最下位桁を表示させ(ステツプ22
0)、LEDデイスプレイ134aに一日の最上位時刻を
表示させる。
タイムキーピング及びフロー検出−ステツプ222〜234 エラーが無いものとして一日の時刻を表示するかもしく
はエラーコードを表示した後、マイクロコンピユータは
内部マイクロコンピユータタイマが記録する1秒カウン
トをチエツクする(ステツプ222)。マイクロコンピ
ユータがこのタスクを完了すると(ステツプ224)、
すなわち1秒レジスタが1秒経過したことを記録する
と、マイクロコンピユータはプログラムブロツクAへ分
岐し第5B図に示すように1秒レジスタを再ロードする
(ステップ226)。マイクロコンピユータが1秒経過
するのを待機している場合は、マイクロコンピユータは
流量計の論理値出力電圧を入力することにより流量計を
チエツクする(ステツプ228)。流量計の出力論理値
電圧はメモリに記憶された基準値と比較される。流量計
の発生する論理値電圧が記憶された基準値に等しいとい
う決定は流量計を水が通過したことを表示する。それに
応答して所与の期間中に流量計をある量の水が通過した
ことを表わすカウントを記憶しているカウンタが増分さ
れ、(ステツプ232)、その後発光ダイオードデイス
プレイ134a(第4図)の小数点セグメントd.P.が
励起すなわちトグルされて(ステツプ234)硬水軟化
装置を流れる水量を表示する。
パワーロス検出−ステツプ236〜242 流量計の出力論理値電圧が状態変化していないという決
定を行つた後、すなわちLEDデイスプレイ小数点セグメ
ントがトグルされた後、“パワーロス”カウンタと呼ば
れる内部マイクロコンピユータレジスタが増分される
(ステツプ236)。内部タイマが1秒の経過を記録す
るのをマイクロコンピユータが待機している期間中にカ
ウントが増分し続けるため、このレジスタはパワーロス
カウンタと呼ばれる。パワーロスカウンタが増分されな
いことは内部マイクロコンピユータタイマが1秒の経過
を記録できないことを表わし、従つて交流電源の消失を
表わす。パワーロスカウンタのカウントをチエツクする
ことにより(ステツプ238)、電源の消失を検出でき
る。ステツプ238で決定されるようにパワーロスカウ
ンタのカウントが増分されていない場合には、電源が消
失しておりマイクロコンピユータは発光ダイオード13
4a及び134Bの表示を消して電力を保存する。
表示が消えた後マイクロコンピユータは内部マイクロコ
ンピユータタイマがカウントを再開したかどうかをチエ
ツクし(ステツプ242)、マイクロコンピユータに再
び電源が入つた時に通常生じるように内部マイクロコン
ピユータタイマが1秒の経過を記録するまでチエツクし
続ける。1秒経過した決定が行われると、マイクロコン
ピユータはプログラムブロツクAへ分岐し(第5B
図)、1秒レジスタが再ロードされる(ステツプ22
6)。しかしながらパワーロスカウンタのチエツク後
(ステツプ238)、パワーロスが検出されていない場
合はマイクロコンピユータはステツプ222へ分岐して1
秒レジスタを再チエツクし1秒経過したか否かを決定す
る。
時間設定−ステツプ244〜265 第5B図において1秒レジスタのチエツク完了(ステツ
プ224)及びレジスタの再ローデイング後(ステツプ
226)、マイクロコンピユータは1秒レジスタの再ロ
ード後内部マイクロコンピユータタイマ10秒レジスタ
が10秒の経過をカウントしたか否かを決定する(ステ
ツプ243)。10秒経過していない場合にはマイクロ
コンピユータはブロツクBへ分岐して第5C図に示すよ
うにリレーフラグが設定されているか否かを決定する
(ステップ244)。プログラムの残りのステツプから
判るように、マイクロコンピユータ58は再生を行うべ
きことを決定すると、リレーフラグを設定してマイクロ
コンピユータデータバスピンDB7にハイ論理電圧を生
じ、それに応答して第4図のトランジスタ124が導通
し第4図の光トライアツク130を励起する。次に光ト
ライアツクはモータ48を励起して(第2図)カムシヤ
フト28(第1図及び第2図)を駆動させ再生を開始す
る。リレーフラグを設定して再生を開始した後、リレー
フラグは10分間設定されたままとされ光トライアツク
が第2図のモータ48の励起を防止するのを保証する。
モータが励起されギア46、44及び32を介して第1
図及び第2図のカムシヤフト28を駆動すると、ギアの
回転によりスイツチ57を閉成し続け10分経過後もモ
ータを励起し続け通常1〜2時間の全再生サイクルが完
了する。
第5C図に戻つてリレーフラグが設定されているすなわ
ち“オン”であると、マイクロコンピユータは第4図の
スイツチ79が閉成されているか否かを決定する(ステ
ツプ248)前にリレーフラグが設定されているか(ス
テツプ246)を確かめて第4図の発光ダイオード134a
及び134bが表示する時刻を設定する。あるいはマイクロ
コンピユータは設定リレーフラグを検出できなかつた場
合、スイツチ79を閉成して表示時刻を変えたかどうか
をチエツクする(ステツプ248)前に事実上フラグが
設定されていない(ステツプ250)ことを確かめる。
スイツチ79が閉成して第4図の発光ダイオード134
a及び134bにより時刻表示を設定したという決定を
行つた後、マイクロコンピユータは経過秒数を記録して
いる内部マイクロコンピユータタイマ1秒レジスタをク
リアする(ステツプ252)。その後マイクロコンピユ
ータは経過した10秒間隔数を記録しているタイマ10
秒レジスタをクリアする(ステツプ254)。次にマイ
クロコンピユータは経過した60秒すなわち1分間隔数
を記録しているレジスタをクリアし、その後時刻の経過
を記録する内部マイクロコンピユータタイマのレジスタ
を増分する。
内部マイクロコンピユータタイマの時刻レジスタが増分
した後、“フラツシユ”フラグがリセツトされてエラー
コードを記憶しているレジスタをクリアする(ステツプ
262)。フラツシユフラグの目的については後記す
る。マイクロコンピユータはエラーコードレジスタをク
リアした後(ステツプ262)もしくは第4図のタイム
スイツチ79が閉成されていないことを決定した後、フ
ラツシユフラグが設定されているかどうかを決定する
(ステツプ264)。
前記プログラムの実行中に“フラツシユフラグ”と呼ぶ
マイクロコンピユータ内の内部フラグが1秒ごとに交互
にセツト及びリセツトされる。後記するようにフラツシ
ユフラグ状態の交番により発光ダイオード134a及び
134bの表示は1秒間ずつ交互にオンオフする。ステ
ツプ264においてチエツクしてフラツシユフラグが設
定されていないと決定されると、マイクロコンピユータ
58は飛越命令を実行して(ステツプ265)プログラ
ムブロツクCへ分岐しステツプ216を再び実行し、そ
の後適切なエラーコードが表示されるか(ステツプ21
8)もしくはエラーが無い場合には第4図のLED134
a及び134b上に一日の時刻が表示される。しかしな
がらフラツシユフラグが設定されたという決定によりマ
イクロコンピユータ58は“変更フラグ”と呼ぶもう一
つのフラグが設定されているかどうかをチエツクする
(ステツプ266)。このフラグは一日の時刻が変化し
た場合のように発光ダイオードの表示する一日の時刻デ
ータが変更されるたびに設定される。変更フラグが設定
されていると、表示される一日の変更時刻データが一日
の前の時刻データの替りにマイクロコンピユータメモリ
に記憶され(ステツプ268)、次に飛越ステツプ26
5を実行してプログラム制御はステツプ216へ分岐す
る。変更フラグが設定されていない場合には一日の時刻
データが発光ダイオードデイスプレイ上に表示されるデ
ータと関連する部分以外のメモリ部に記憶され(ステツ
プ270)、ブラングデイスプレイを表わすデータは表
示する一日の時刻データを飛越ステツプ265の実行前
に通常記憶する(ステツプ272)メモリ位置へ移され
る。ブランクを表わすデータがマイクロコンピユータメ
モリのこのメモリ位置に記憶され且つステツプ220及
び221を実行すると、いずれの発光ダイオードデイス
プレイ134a及び134bも励起されず有効にブラン
クを表示する。
水量計算−ステツプ274〜278 第5B図に戻つて内部マイクロコンピユータタイマが実
際に10秒をカウントすると、前記したように10秒レ
ジスタがカウントアウトした後プログラムはステツプ2
44ではなくステツプ274へ分岐する。ステツプ274
を実行した後マイクロコンピユータは10秒レジスタを
増分する。
10秒レジスタの増分後流量計出力電圧の論理値の遷移
数を表わす予め記憶されたカウントがリツトルに変換さ
れる(ステツプ276)。これは流量計出力電圧遷移カ
ウントに定数を乗じて行われる。この定数は実際には流
量計出力電圧が遷移するまでの期間中に流量計を流れる
リツトル数に等しい。この10秒期間中に硬水軟化装置
を流出する軟水量の計算値はメモリに記憶されている予
め計算された軟水日量に加えられその日に硬水軟化装置
を通る軟水量の記録を進行する。
樹脂層能力計算及びデフオルト値入力ステツプ 279.1〜279.9 ステツプ278の実行直後にマイクロコンピユータは内
部の“センサ”フラグが設定されているか否かをチエツ
クする(ステツプ279.1)。後記するようにセンサ
フラグは樹脂層能力を更新するたびに設定される。従つ
て樹脂層センサフラグの状態はマイクロコンピユータが
樹脂層能力の更新に関してさらに手順を進めるべきか否
かを示す。センサフラグが設定されていない場合にはマ
イクロコンピユータはスイツチ49lが非導通か否かを
チエツクする(ステツプ279.2)。前記したよう
に、第1図の樹脂層14の半分の高さにある水が軟水で
ある限りスイツチ49lは非導通のままである。こうし
てスイツチが非導通ではないという決定は樹脂層能力が
元の能力の50%に減耗していることを意味する。ステ
ツプ279.2の実行中にスイツチ49lが導通してお
れば、マイクロコンピユータは総軟水消費日量を最終再
生以降の軟水総消費値に加えて(ステツプ279.
3)、樹脂層14が元の浄化能力の50%に減耗した結
果の軟水総消費量を決定する。
その後樹脂層能力を表わすメモリ内の前の値がクリアさ
れ(ステツプ279.4)、マイクロコンピユータは樹
脂能力の更新値の計算に進む(ステツプ279.5)。
マイクロコンピユータはステツプ279.3で計算した
軟水総消費量値を単に2倍してこのような計算を行う。
ステツプ279.3で計算した軟水消費量により樹脂層
浄化能力は50%減耗するため、2倍の軟水消費量は樹
脂層の完全減耗となると考えるのは理屈に合う。
樹脂層の総処理能力(QT)は次の数式で表わすことがで
き、 QT=QC/P(1) ここにQCは前の再生以後の軟水消費量でありPはセン
サ49が感知する樹脂層の%減耗(小数表示)である。
その後マイクロコンピユータ58は最初の“パワーオ
ン”(ステツプ200)の後にステツプ204で生じる
ように“日使用量”デフオルトフラグが設定されている
か否かをチエツクする。
マイクロコンピユータがまだ計算を行うのに充分な時間
作動していないため実際の使用量値が得られないため、
日使用量デフオルトフラグが設定されているという決定
によりマイクロコンピユータは日使用量デフオルト値を
メモリに入力する(ステツプ279.7)。代表的に総
軟水日使用量を記憶している7つのメモリ位置の各々に
ステツプ278で計算した値の1/4が格納される。日デ
フオルト使用量値を入力した後、日使用量デフオルトフ
ラグがクリアされ(ステツプ279.8)その後センサ
フラグが設定されて(ステツプ279.9)能力値の更
新を表示する。日使用量デフオルトフラグのチエツク時
(ステツプ279.6)にフラグが設定されていない場合に
は、マイクロコンピユータは直接センサフラグの設定に
進む(ステツプ279.9)。
時刻更新ステツプ280〜298 センサフラグの設定(ステツプ279.9)もしくはセ
ンサフラグが設定されているすなわちスイツチ49lが
オンであるという決定(ステツプ279.2の後に、マ
イクロコンピユータは10秒増分の経過をカウントする
10秒レジスタが6回カウントアウトしたかどうかをチ
エツクして1分経過を表示する(ステツプ280)。1
0秒タイマが6回カウントアウトしていない場合には、
マイクロコンピユータはプログラムブロツクBに飛越し
てステツプ244及びそれに続く前記ステツプを再び実
行し、リレーフラグが設定されているか否かを確かめて
第4図のLED134a及び134b上に一日の時刻をフ
ラツシユさせる。
しかしながら内部マイクロコンピユータタイマの10秒
レジスタが実際に6回カウントアウトして1分経過を表
示すると、マイクロコンピユータは60分レジスタをチ
エツクしてカウントされている分数が60に等しいか否
かを決定し(ステツプ282)1時間経過を表示する。
1時間経過していない場合にはマイクロコンピユータは
取越命令を実行して(ステツプ283)プログラムのブ
ロツクBへ分岐しマイクロコンピユータはステツプ24
4の再実行を開始する。カウントされた分数が60に等
しい場合には、経過時間数をカウントする時間レジスタ
が1だけ増分する(ステツプ285)。
時間レジスタの増分後マイクロコンピユータは時間カウ
ンタのカウントにより決定される一日の特定時刻が午後
2時か否かを決定し(ステツプ286)、マイクロコン
ピユータは家庭で処理水を使用しそうにもない一日のこ
の時刻に再生を行うべきか否かを決定することができ
る。時刻が午前2時でない場合にはマイクロコンピユー
タは時間レジスタのカウントをチエツクして時間レジス
タのカウントが正午12時もしくは深夜12時を示す1
2であるか否かを決定する(ステツプ288)。時間カウ
ンタのカウントが12であると決定されると、マイクロ
コンピユータは第4図の発光ダイオード134aの小数
点セグメントd.P.が予め励起されているか否かをチエツ
クする(ステツプ290)。時間レジスタのカウントが
12に等しい時に第4図のLED134aの小数点セグメ
ントd.P.が予めオンとされていて一日の時刻が午後11
時よりも遅いが深夜12時よりも早いという決定をマイ
クロコンピユータが行つていると、小数点セグメントが
d.P.がオフとされて(ステツプ292)現在時刻が深夜
よりも遅いが正午よりも早いことを示す。しかしながら
発光ダイオード134aの小数点セグメントd.P.が予め
オフとされているかもしくは時間レジスタのカウントが
12に達する前に消励されていると、時間カウンタが1
2をカウントした後発光ダイオードデイスプレイ134
aの小数点セグメントd.P.がオンとされ(ステツプ29
4)現在時刻が今や午前ではなく午後であることを示
す。
時間レジスタがステツプ288において12をカウント
していないという決定をマイクロコンピユータが行う
と、時間レジスタがチエツクされてカウントされた時間
数が13に等しいか否かを決定する(ステツプ29
6)。13のカウントであればプログラムが飛越命令2
99を実行してプログラムブロツクBに分岐しステツプ
244を再実行する前に時間レジスタのカウントする時
間数を1にリセツトする必要がある(ステツプ29
8)。時間レジスタのカウントが13以外であれば、プ
ログラムは時間レジスタをリセツトすることなく直接飛
越命令299を実行してステツプ244へ分岐する。
再生を要するかどうかの判定−ステツプ286〜328 ステツプ286の実行中に一日の時刻が午前2時もしく
は再生に指定された他のオフタイムであるということを
決定すると、マイクロコンピユータはブロツクDに分岐
することにより再生を行うべきか否かを決定し第5D図
のフロー図に示す次のステツプを実行する。最初にステ
ツプ274〜278の実行中に決定される経過したばか
りの24時間中に使用した総リツトル数が前の再生以後
に使用した総リツトル数に加えられる(ステツプ30
4)。次に日使用量デフオルトフラグの状態がチエツク
される(ステツプ305.1)。最初の“パワーアツ
プ”から樹脂層が元の能力の50%に減耗するまでの期
間に生じることであるが、センサフラグを設定する前に
日使用量デフオルトフラグを設定すると、マイクロコン
ピユータは飛越命令を実行して(ステツプ305.2)
プログラムブロツクCへ制御を分岐させステツプ216
を実行開始する。こうして制御層が元の浄化能力の50
%に減耗していない場合には最初の“パワーアツプ”の
後さらに24時間再生を遅らせて制御効率を最大とす
る。さらに日使用量デフオルトフラグが設定されておれ
ばステツプ216に分岐することにより、ステツプ27
9.7においてメモリにデフオルト能力値を入力する前
にマイクロコンピユータが任意の予約値を計算するのを
防止する。さもなくばマイクロコンピユータはメモリに
0値しか格納されていない計算を行つて誤つた結果を生
じる。
デフオルトフラグが設定されていないという決定を行つ
て樹脂層能力の少くとも50%が減耗していることを示
すと、マイクロコンピユータは再生を行うべきか否かの
決定に進む。前記したように再生を開始するという判断
は予想軟水需要が残存樹脂能力よりも大きいという決定
からなされる。予想軟水需要を決定するために、マイク
ロコンピユータはその日の軟水消費量を表わす7個の別
々の値を加算して合計を7で除すことにより(ステツプ
306)(経過したばかりの日を除く)過去7日間の平
均日軟水使用量を最初に計算する。平均日軟水使用量を
計算するとこの平均値は前日の総消費量と比較される
(ステツプ308)。前日の消費量が日平均消費量の2
0%もしくは他の任意小部分よりも大きければ、前日の
消費量がその日の消費水量としてメモリに記憶され記憶
された水消費量値の各々がメモリ内でシフトされて一日
前の使用量を表示し(ステツプ310)次のステツプに
進む。最前日の使用量は消去されることに御注意願いた
い。しかしながら前日の使用量が平均日消費量の20%
以下であれば、それは次の再生までに使用される総水量
に加えられるがその日の軟水使用量としてメモリには記
憶されずデータシフトは生じない。こうして異常に低い
日軟水使用量を無視して休暇等の非使用期間中に生じる
ゼロ平均日軟水使用量を回避する。
ステツプ310の実行後もしくはステツプ308の実行
後所与の一日の消費量が平均日消費量の20%以下であ
れば、マイクロコンピユターは前日の消費量が平均日消
費量の200%より多かつたかどうかをチエツクする
(ステツプ312)。例えば週末に客が来訪して急に消
費水量が増大したために前日の軟水消費量が7日平均軟
水消費量の200%よりも大きい場合には、この前日の
使用量が予約値としてメモリに記憶される(ステツプ3
14)。この予約値はマイクロコンピユターが再生を必
要とするか否かを再び決定する前に次の24時間中に消
費される見込みの総軟水量を表わす。さもなくば予約値
は計算された7日平均の%として決定される(ステツプ
316)。代表的に前日の消費量が計算された平均値の
200%よりも少ない場合にはステツプ312において
計算される予約値は7日平均値に1.2を乗じて得られ
る。
ステツプ314もしくはステツプ316の実行中に前日
の消費量が計算された7日平均値の200%よりも夫々
大きいかもしくは小さいかに従つて予約値を確立した
後、マイクロコンピユータは電源消失後の始動に続いて
再生が行われたかどうかをチエツクする。電源消失後の
始動に続いて再生が行われていない場合には、マイクロ
コンピユータは飛越命令320を実行してプログラムブ
ロツクE及びステツプ324に分岐することにより再生
を開始する。ステツプ324を実行するとマイクロコン
ピユータは前記リレーフラグを設定して第1図及び第2
図のモータ48を励起し硬水軟化装置の再生を開始す
る。こうして電源消失後は常に再生が行われるが樹脂層
能力が50%減耗するまでは行われず、そのため硬水軟
化装置から常に軟水を流水することが保証されこれは従
来電源消失時に多量の軟水を消費するような場合には不
可能なことであつた。リレーフラグの設定後前の再生以
降に使用されたリツトル数を表わすデータを記憶してい
る内部マイクロコンピユータメモリ内のメモリ位置がク
リアされる(ステツプ326)。このメモリ位置がクリ
アされると、次の再生までの日数を追跡し続ける内部マ
イクロコンピユータレジスタがリセツトされる(ステツ
プ327.1)。
次の再生までの経過日数を記録している内部マイクロコ
ンピユータレジスタのリセツト後、センサフラグがクリ
アされて(ステツプ327.2)次の動作サイクル中に
ステツプ279.1〜279.9を実行する時総樹脂層
能力の後の計算を容易にする。その後スイツチ49lの
状態がチエツクされる(ステツプ327.3)。第3A
図及び第3B図のセンサ49内の特殊樹脂49cと連絡
している水は軟水でなければならないため、通常再生後
スイツチ49lは非導通となる。こうしてスイツチ49
lが非導通であることは再生後の正常な事態を表わし、
マイクロコンピユータはスイツチ49lがオフであること
を知るとステツプ328を実行してプログラムブロツク
Cに分岐する。実際上スイツチの状態は再生サイクルの
終りにチエツクされる。
ステツプ327.3の実行中にチエツクした時スイツチ
49lの導通状態がオンであれば、マイクロコンピユー
タはピン16に論理ハイレベル信号を出力して発光ダイ
オード175をトグルし、再生サイクルが開始している
事実にもかかわらず再生が行われていないことを知らせ
(再生剤を加える、もしくはユニツトを交換して適正動
作を保証する等の)適切なステツプをとるよう使用者に
警告する。発光ダイオード175のターンオフ後、マイ
クロコンピユータは飛越命令を実行して(ステツプ32
8)プログラムブロツクCに分岐する。
しかしながら電源消失後にマイクロコンピユータが始動
してから再生が行われていると、飛越命令320は実行
されずにマイクロコンピユータはステツプ321へ分岐
し、このステツプにおいてマイクロコンピユータは入力
電力の周波数が50Hzかどうかをチエツクする。周波数
が50Hzであればマイクロコンピユータは最終再生以降
7日もしくは他の任意の所定日数が経過したかどうかを
チエツクする(ステツプ322)。再生以降の日数を記
録しているレジスタのカウントが7もしくはそれ以上で
あれば、前の再生以降7日もしくはそれ以上の日数が経
過していることを示し、マイクロコンピユータは飛越命
令320を実行してプログラムブロツクE及びステツプ
324へ制御を分岐しステツプ324を実行すると硬水
軟化装置の再生を開始する。こうして米国にとつて外国
である国々の衛生法にしばしば規定されているように予
め再生が行われていない場合7日ごとに自動的に再生が
行われる。
電源周波数が50Hzでないこともしくは前の再生以降7
日間経過していないことを決定するとマイクロコンピユ
ータは樹脂層14の残存浄化能力の決定に進む(ステツ
プ334)。樹脂層14の残存処理能力はマイクロコン
ピユータにより次のように決定される。ステツプ27
9.5で決定された樹脂層の総処理能力をQTとし、ス
テツプ304で決定されこれまでに減耗された処理能力
を表わすこれまでの消費水量をQCとすると、残存能力
Rは次式で与えられる。
T−QC=QR (2) 代表的にこれらの能力の単位はリツトルである。
硬水軟化装置の残存能力を表わす値は次にステツプ31
4もしくはステツプ316で予め計算された予約値と比
較される(ステツプ336)。予約値を残存樹脂層処理
能力を表わす計算値と比較した後、マイクロコンピユー
タは再生を行うべきか否かを決定する(ステツプ34
0)。ステツプ314もしくはステツプ316で予め計
算した予約値が残存樹脂層能力よりも大きくて硬水軟化
装置が次の24時間中に消費される見込みの軟水量をほ
とんど処理できそうにもない場合には、ステツプ324
に分岐してリレーフラグを設定し第1図及び第2図のモ
ータ48を励起することにより再生が行われる。ステツ
プ334において計算された硬水軟化装置残存能力がス
テツプ314もしくは316で計算した予約値よりも大
きい場合には、再生を行う必要はない。この場合マイク
ロコンピユータは飛越命令328を実行してプログラム
ブロツクC及びステツプ216へ分岐する。ステツプ2
16の実行後マイクロコンピユータは前記したようにス
テツプ220〜265の適切なシーケンスを実行する。
前記プログラムの実行は手動で干渉することなく硬水軟
化装置の動作中に連続的に行われる。軟水消費量及び樹
脂層浄化能力に関するデータが所望により流量計110
及び樹脂層センサ49から与えられるため全動作が自動
的に行われる。停電さえも硬水軟化を制御する内部マイ
クロコンピユータプログラムの実行を完全に妨げること
はないが、制御回路50が硬水軟化装置の再生を有効に
制御するには電源を回復する必要がある。
本発明の制御回路を樹脂層硬水軟化装置に使用するもの
として説明してきたが、周期的再生を要するフイルター
層を有する他種の水処理装置の制御にも同様に有用であ
る。
実際の日平均消費量及び樹脂層浄化能力に従つて硬水軟
化装置樹脂層の再生を制御し硬水軟化装置の再生があま
り頻繁に行われたり充分な頻度で行われないことを防止
する硬水軟化装置の改良型制御回路について説明してき
た。
発明のある種の好ましい特徴についてのみ図を参照とし
て説明してきたが、本発明に習熟した人には多くの修正
や変更が可能と思われる。従つて発明の真の精神に含ま
れるこのような修正や変更は全て特許請求の範囲に入る
ものとする。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の制御器を使用した樹脂層型硬水軟化装
置を示す図、第2図は第1図の硬水軟化装置制御器の側
面図、第3図は第1図の硬水軟化装置制御器の前面図、
第3A図は膨張樹脂状態を示す残存樹脂層処理能力を感
知する樹脂層センサの断面図、第3B図は濃縮樹脂状態
を示す第3A図の粒子層センサの断面図、第4図は第1
図の硬水軟化装置制御器内の電気回路図、第4A図は第
1図の硬水軟化装置の4a−4a線に沿つた切断図、第
5A図乃至第5D図は動作中に行われる本発明の硬水軟
化装置制御器が実行するプログラムのフロー図である。 符号の説明 10……硬水軟化装置 12……硬水軟化槽 14……樹脂層 16……吸出管 18……独立層 20……管 22……チヤツキ弁 24……弁モジユール 24a〜25g……円板状弁 26a〜26g……カム 28……カムシヤフト 31……カムシヤフトサポート 32……ギア 34……制御函 36……支持案内 38……カバー 39……ねじ 42……釦 44……アイドアギア 46……ギア 48……モータ 49……樹脂層センサ 49a……外部函体 49b……内部函体 49c……特殊樹脂 49e……腕 49f……ねじ 49g……ダイアフラム 49h……スプリング 49l……リーフスイツチ 49k,49j……リーフ腕 50……制御回路 52……ハブ 56……部材 57……リーフスイツチ 57a……スプリング付勢腕 58……データ処理装置 110……流量計 111……タービン 112a……磁石 112b……カウンタウエイト 113a,113b……ベアリング 114,116……ベアリングストラツト 118……oリング 119……ホール効果スイツチ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】繰返し再生を要する処理層を有する水処理
    装置制御器において、 一日のうちの所定時刻を示す時刻データを格納するため
    の手段と、 該水処理装置を流出する処理水量を検出する流量計と、 処理層処理能力が処理層総処理能力の所定パーセントに
    減耗したことを感知する処理層センサと、 前記流量計に接続され、該水処理装置を流出する総処理
    水量を決定し且つ実際の日平均処理水量を決定して前記
    実際の日平均処理水量に従って処理水予約値を確立する
    制御器であって、前記処理層センサに接続されていて処
    理層処理能力が前記所定パーセントに減耗したことを前
    記センサが感知した時の残存処理層処理能力を決定し、
    前記残存処理層処理能力が前記確立された処理水予約値
    よりも小さい場合には前記制御器が前記格納された時刻
    データに従って前記一日の所定時刻に該水処理装置の該
    処理層の再生を開始する前記制御器と、を有する水処理
    装置制御器。
  2. 【請求項2】特許請求の範囲第1項記載の水処理装置制
    御器において、 時刻の経過を記録する内部タイマと、 所与の時間間隔中に該水処理装置から流出する処理水量
    を示す前記流量計からのデータを記録する内部メモリ
    と、 前記処理層の前回の再生以降の前記総処理水量を毎日算
    出し且つ前記総処理水量から実際の日平均処理水量を算
    出し、前記実際の日平均処理水量から前記処理水予約値
    を確立する中央処理ユニットであって、前記処理層セン
    サに接続されていてそこからの信号に応答して前記処理
    層が処理層総処理能力の前記所定パーセントに減耗した
    ことを示し、且つ前記総処理水量と前記所定パーセント
    の減耗との比に従って前記処理層総処理能力を決定し、
    前記処理層総処理能力と前記総処理水量との差に従って
    決定された前記残存処理層処理能力が前記確立された処
    理水予約値よりも小さい場合には前記所定時刻に前記処
    理層の再生を開始する前記中央処理ユニットと、を備え
    たマイクロコンピュータを有する水処理装置制御器。
  3. 【請求項3】再生を要する粒子層を有する水処理装置の
    制御方法において、 (a)所定期間中に前記水処理装置から流出する処理水量
    を測定する段階と、 (b)前記水処理装置から流出する処理水測定量に従って
    前回の再生以降の処理水総消費量を決定する段階と、 (c)前記水処理装置から流出する前記処理水測定量に従
    って実際の日平均処理水消費量を決定する段階と、 (d)前記実際の日平均処理水消費量の割合として処理水
    予約量を確立する段階と、 (e)粒子層処理能力が前記水処理装置の粒子層総処理能
    力の所定パーセントに減耗しているかどうかを決定し、
    減耗していれば前回の再生以降消費された処理水総消費
    量の割合として粒子層総処理能力を算出する段階と、 (f)決定された粒子層総処理能力及び前回の再生以降の
    処理水総消費量から残存粒子層処理能力を算出する段階
    と、 (g)算出された残存粒子層処理能力が前記確立された処
    理水予約値よりも小さい場合に前記粒子層の再生を開始
    する段階と、を有する水処理装置の制御方法。
  4. 【請求項4】特許請求の範囲第3項記載の方法におい
    て、前記粒子層総処理能力は前記処理水総消費量と前記
    所定パーセントの減耗との比に従って決定される水処理
    装置の制御方法。
  5. 【請求項5】特許請求の範囲第3項記載の方法におい
    て、前記残存粒子層処理能力は前記粒子層総処理能力と
    前記処理水総消費量との差に従って算出される水処理装
    置の制御方法。
  6. 【請求項6】特許請求の範囲第3項記載の方法におい
    て、 (a)再生開始後に粒子層処理能力は減耗したままである
    かどうかを決定する段階と、 (b)再生後に前記粒子層が減耗したままであればその表
    示を与える段階と、を更に含む水処理装置の制御方法。
  7. 【請求項7】繰返し再生を要する粒子層を有する水処理
    制御器において、 水処理装置から流出する水量を測定する流量計と、前記
    粒子層の処理能力が粒子層総処理能力の所定パーセント
    に減耗する時を感知する粒子層センサと、前記水処理装
    置を制御して前記粒子層の再生を開始する制御器であっ
    て、 時間の経過を測定するタイマと、 前記流量計の測定する水量に従って数日間の処理水使用
    量を表わすデータを記憶するメモリと、 前記タイマ及び前記メモリに接続され、前回の再生以降
    の処理水総消費量及び実際の日平均処理水消費量を決定
    して、次の再生までに消費される見込みの処理水量を表
    わす予約処理水量を前記実際の日平均処理水消費量の割
    合として確立する中央処理装置であって、前記粒子層セ
    ンサに接続されていて前回の再生以降の前記処理水総消
    費量と前記粒子層センサが感知する粒子層処理能力の前
    記所定パーセントへの減耗との間の設定関係に従って残
    存粒子層処理能力を決定し、決定された残存粒子層処理
    能力が前記確立された予約処理水量よりも小さい場合に
    前記水処理装置粒子層の再生を改正する前記中央処理装
    置と、を備えた前記制御器とを有する水処理装置制御
    器。
  8. 【請求項8】特許請求の範囲第7項記載の水処理装置制
    御器において、さらに前記中央処理装置に接続されて、
    再生を開始したにもかかわらず粒子層処理能力が減耗し
    たままであればそれを表示する表示器を具備する水処理
    装置制御器。
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