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JPH0638092B2 - Capacitor disconnection short circuit detector - Google Patents
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JPH0638092B2 - Capacitor disconnection short circuit detector - Google Patents

Capacitor disconnection short circuit detector

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JPH0638092B2
JPH0638092B2 JP62089685A JP8968587A JPH0638092B2 JP H0638092 B2 JPH0638092 B2 JP H0638092B2 JP 62089685 A JP62089685 A JP 62089685A JP 8968587 A JP8968587 A JP 8968587A JP H0638092 B2 JPH0638092 B2 JP H0638092B2
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circuit
disconnection
short
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徳一 大野
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
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    • G01P21/02Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups of speedometers

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、コンデンサの断線短絡検出装置に関し、特
に、MIL規格並びにJIS規格に規定されている試験項目の
中でコンデンサの衝撃試験及び振動試験におけるコンデ
ンサの断線、短絡の良否判定試験を多量にかつ高精度で
行なう装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for detecting a short circuit in a capacitor, and more particularly, to a capacitor in a shock test and a vibration test of a capacitor among the test items specified in MIL standard and JIS standard. The present invention relates to a device for conducting a large amount and a high accuracy of the quality judgment test of disconnection and short circuit.

従来の技術 従来、コンデンサの衝撃試験及び振動試験におけるコン
デンサの瞬時的な断線又は短絡の発生の有無を検査する
場合には、インピーダンスブリツジにより被測定コンデ
ンサの静電容量値及び損失角のバランスをとつておき、
インピーダンスブリツジの交流平衡電圧出力を整流し、
直流電圧に変換した後に、オシロスコープ、パルス検出
器等を用いて被測定コンデンサに衝撃又は振動を加えた
時、試験中に瞬時的な断線又は短絡の状態が発生したか
否かを目視にて観測又は記憶回路を用いて現象を観測す
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, when inspecting a capacitor for a momentary disconnection or short circuit in a shock test or vibration test, the impedance value is used to balance the capacitance value and loss angle of the measured capacitor. Anyway,
Rectify the AC balanced voltage output of the impedance bridge,
After converting to DC voltage, visually observe if momentary disconnection or short circuit occurs during the test when shock or vibration is applied to the capacitor to be measured using an oscilloscope, pulse detector, etc. Alternatively, the phenomenon is observed using a memory circuit.

その際、瞬時的な断線又は短絡の状態が発生した発生時
間をMIL規格並びにJIS規格に規定されている判定時間を
もつて判定することは困難であり、コンデンサを多量に
試験する場合には、インピーダンスブリツジ、オシロス
コープ、パルス検出器等を被測定コンデンサの試験数量
に対応しただけ準備する必要があり、従つて多大な工数
と多大な費用を用していた。
At that time, it is difficult to judge the occurrence time of the momentary disconnection or short-circuit condition with the judgment time stipulated in MIL standard and JIS standard. It is necessary to prepare impedance bridges, oscilloscopes, pulse detectors, etc., in an amount corresponding to the test quantity of the capacitor to be measured, and accordingly, a lot of man-hours and a lot of cost are required.

発明が解決しようとする問題点 従つて、上述した従来のコンデンサの断線短絡検出装置
では、 (1)、試験を行なうために、インピーダンスブリツジ、
オシロスコープ、パルス検出器等の特殊な機器を準備し
なければならない、 (2)、MIL規格並びにJIS規格で規定された絶対値による
判定を行なうには検出の精度が悪い、 (3)、多量の被測定コンデンサを試験するには多大な費
用と多大な工数を要する。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention Accordingly, in the above-mentioned conventional capacitor disconnection short-circuit detection device, (1), in order to perform a test, an impedance bridge,
Special equipment such as an oscilloscope, pulse detector, etc. must be prepared, (2), detection accuracy is poor for making judgments based on the absolute values specified by the MIL standard and JIS standard, (3), a large amount of Testing a capacitor to be measured requires a great deal of cost and a great number of man-hours.

等の欠点があつた。There were drawbacks such as.

本発明は従来の上記実情に鑑みてなされたものであり、
従つて本発明の目的は、従来の技術に内在する上記諸欠
点を解消することを可能としたコンデンサの新規な断線
短絡検出方式を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional circumstances,
Therefore, it is an object of the present invention to provide a novel open-circuit short-circuit detection system for a capacitor, which makes it possible to eliminate the above-mentioned drawbacks inherent in the prior art.

問題点を解決するための手段 上記目的を達成する為に、本発明に係るコンデンサの断
線短絡検出装置は交流信号を発する発振器が一次側巻線
端子に接続され、二次側巻線端子に直流試験電源と被測
定コンデンサの一端が接続された重畳変成器を備え、被
測定コンデンサのもう一端は保護抵抗、検出変成器の一
次側巻線を経て積分型電流−電圧変換増幅器と接続さ
れ、又前記検出変成器の二次側巻線端子には交流増幅
器、交流−直流変換増幅器を介して第1のスレツシユホ
ールド値設定部を持つ第1の比較増幅器を設け、この第
1の比較増幅器出力から信号抑制ゲートなる第1の3入
力アンドゲートを設け、同じくこの第1の3入力アンド
ゲートにはクロツク信号発生器が接続され、断線状態時
にのみクロツク信号を送り出し、これを第1のカウンタ
回路で断線時間を計数し、この断線時間と断線判定時間
設定値とを第1のデイジタルコンパレータ部にて比較し
て比較結果を出力し、初めの断線不良判定時にのみ前記
第1のカウンタ回路のデータを保持して断線時間表示部
でデータ表示し、断線不良表示部にて断線不良と表示
し、さらに、前記積分型電流−電圧変換器の出力は第2
のスレツシュホールド値を持つ第2の比較増幅器に接続
され、この第2の比較増幅器の出力から信号抑制ゲート
なる第2の3入力アンドゲートを設け、同じくこの第2
の3入力アンドゲートには前記クロツク信号発生器が接
続され、短絡時間時にのみクロツク信号を送り出し、こ
れを第2のカウンタ回路で短絡時間を計数し、この短絡
時間を短絡判定時間設定値とを第2のデイジタルコンパ
レータ部にて比較して比較結果を出力し、初めの短絡不
良判定時にのみ前記第2のカウンタ回路のデータを保持
して短絡時間表示部でデータ表示し、短絡不良表示部に
て短絡不良と表示するように構成される。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, in the capacitor disconnection short-circuit detection device according to the present invention, an oscillator that emits an AC signal is connected to the primary side winding terminal, and the secondary side winding terminal is connected to the DC side. It is equipped with a superposition transformer in which one end of the test power source and the capacitor to be measured is connected, and the other end of the capacitor to be measured is connected to the integral type current-voltage conversion amplifier via the protection resistor and the primary winding of the detection transformer. A secondary comparison winding terminal of the detection transformer is provided with a first comparison amplifier having a first threshold value setting unit via an AC amplifier and an AC-DC conversion amplifier, and the output of the first comparison amplifier. Is provided with a first 3-input AND gate serving as a signal suppression gate, and a clock signal generator is also connected to the first 3-input AND gate. The clock signal is sent out only when the wire is disconnected. The disconnection circuit counts the disconnection time, the disconnection time and the disconnection determination time set value are compared by the first digital comparator unit, and the comparison result is output. Only when the disconnection failure is determined for the first time, the first counter circuit is provided. Data is displayed on the disconnection time display section, data is displayed as disconnection failure on the disconnection failure display section, and the output of the integrating type current-voltage converter is the second
A second 3-input AND gate, which is connected to a second comparator having a threshold value of, and serves as a signal suppression gate from the output of the second comparator,
The clock signal generator is connected to the 3-input AND gate of, and the clock signal is sent out only during the short circuit time, and the second counter circuit counts the short circuit time, and this short circuit time is set as the short circuit judgment time set value. The second digital comparator section compares and outputs the comparison result, and holds the data of the second counter circuit and displays the data on the short-circuit time display section only when the first short-circuit failure determination is made, and the short-circuit failure display section displays the data. Is configured to indicate a short circuit failure.

発明の独創性 上述した従来のコンデンサの断線短絡検出装置では、特
に一度に多量の検出を行なうことは、非常に費用がかさ
み、検出装置全体が大型化となり、作業性も非常に悪く
なる。これに対し、本発明は、回路のモジユール化が容
易にでき、小型化することが可能となり、検出した断線
及び短絡のそれぞれの時間がデイジタルで表示、記憶す
ることができ、試験の無人化が可能となる。又、極めて
容易にして廉価にしかも的確に多量のコンデンサの断
線、短絡の検出を一度に行なうことができるという独創
的内容を有する。
Originality of the Invention In the above-described conventional capacitor disconnection and short-circuit detection device, performing a large amount of detection at one time is very expensive, the detection device becomes large in size, and the workability is significantly deteriorated. On the other hand, according to the present invention, the circuit can be easily modularized, the size can be reduced, and the detected disconnection time and short circuit time can be digitally displayed and stored. It will be possible. Further, it has an original content that it is possible to detect disconnection and short circuit of a large number of capacitors accurately and easily at a low cost.

実施例 以下、本発明をその好ましい一実施例について図面を参
照しながら具体的に説明する。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to the drawings with respect to a preferred example thereof.

第1図は本発明によるコンデンサの断線短絡検出装置の
一実施例を示すブロツク構成図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a capacitor disconnection and short circuit detection device according to the present invention.

第1図において、発振器1の高インピーダンス側の出力
端子は、緩衝増幅器2の一方の入力端子に接続され、緩
衝増幅器2の他方の入力端子は接地された上に発振器1
の接地端子側に接続される。
In FIG. 1, the output terminal on the high impedance side of the oscillator 1 is connected to one input terminal of the buffer amplifier 2, and the other input terminal of the buffer amplifier 2 is grounded and the oscillator 1
Connected to the ground terminal side of.

次に緩衝増幅器2の出力端子は重畳変成器3の一次側の
一方の端子に接続され、重畳変成器3の一次側の他方の
端子は接地される。重畳変成器3の二次側の一方の端子
は被測定コンデンサ5の一方の端子側に接続される(被
測定コンデンサ5が有極性の場合には被測定コンデンサ
5の+側端子に接続される)。重畳変成器3の二次側端
子の他方の端子は直流試験電源4の+側の出力端子に接
続され、直流試験電源4の−側の出力端子は接地され
る。
Next, the output terminal of the buffer amplifier 2 is connected to one terminal of the primary side of the superposition transformer 3, and the other terminal of the primary side of the superposition transformer 3 is grounded. One terminal on the secondary side of the superposition transformer 3 is connected to one terminal side of the measured capacitor 5 (when the measured capacitor 5 has polarity, it is connected to the + side terminal of the measured capacitor 5). ). The other terminal of the secondary side terminal of the superposition transformer 3 is connected to the + side output terminal of the DC test power supply 4, and the − side output terminal of the DC test power supply 4 is grounded.

被測定コンデンサ5の他方の端子側(被測定コンデンサ
5が有極性の場合には被測定コンデンサ5の一側端子)
は保護抵抗6の一方の端子と接続され、保護抵抗6の他
方の端子は検出変成器7の一次側の一方の端子に接続さ
れ、検出変成器7の一次側の他方の端子は、積分型電流
−電圧変換増幅器26の一方の入力端子に接続され、積分
型電流−電圧変換増幅器26の他方の入力端子は接地され
る。検出変成器7の二次側の一方の端子は、交流電圧増
幅器8の一方の入力端子と接続され、検出変成器7の二
次側の他方の端子は交流電圧増幅器8の他方の入力端子
と接続の上、接地される。
The other terminal side of the measured capacitor 5 (one side terminal of the measured capacitor 5 when the measured capacitor 5 has polarity)
Is connected to one terminal of the protection resistor 6, the other terminal of the protection resistor 6 is connected to one terminal of the primary side of the detection transformer 7, and the other terminal of the primary side of the detection transformer 7 is an integral type. It is connected to one input terminal of the current-voltage conversion amplifier 26, and the other input terminal of the integration type current-voltage conversion amplifier 26 is grounded. One terminal on the secondary side of the detection transformer 7 is connected to one input terminal of the AC voltage amplifier 8, and the other terminal on the secondary side of the detection transformer 7 is connected to the other input terminal of the AC voltage amplifier 8. Connected and grounded.

次に交流電圧増幅器8の出力端子は交流−直流変換増幅
器9の一方の入力端子と接続され、交流−直流変換増幅
器9の他方の入力端子は接地される。交流−直流変換増
幅器9の出力端子は比較増幅器A11の一方の入力端子と
接続され、比較増幅器A11の他方の入力端子はスレツシ
ュホールド値設定部A10に接続される。比較増幅器A11
の出力端子は、単安定マルチバイブレータA17の入力端
子と接続された上、アンドゲート−A(以下AND−Aと
略記する)13の2番目の入力端子に接続される。AND−
A13の1番目の入力端子は、フリツプフロツプ−B(以
下FF−Bと略記する)22の出力端子と接続され、AND
−A13の3番目の入力端子は後述するAND−E29の3番
目の入力端子と接続された上、クロツク信号発生回路12
に接続される。
Next, the output terminal of the AC voltage amplifier 8 is connected to one input terminal of the AC-DC conversion amplifier 9, and the other input terminal of the AC-DC conversion amplifier 9 is grounded. The output terminal of the AC-DC conversion amplifier 9 is connected to one input terminal of the comparison amplifier A11, and the other input terminal of the comparison amplifier A11 is connected to the threshold value setting unit A10. Comparative amplifier A11
Is connected to the input terminal of the monostable multivibrator A17, and is also connected to the second input terminal of an AND gate-A (hereinafter abbreviated as AND-A) 13. AND-
The first input terminal of A13 is connected to the output terminal of flip-flop-B (hereinafter abbreviated as FF-B) 22 and AND
The third input terminal of -A13 is connected to the third input terminal of AND-E29 which will be described later, and the clock signal generating circuit 12
Connected to.

カウンタ回路A14の入力端子CはAND−A13の出力端子
と接続され、カウンタ回路A14の入力端子Rはオアゲー
ト−A(以下OR−Aと略記する)18の出力端子と接続さ
れる。カウンタ回路A14の出力端子は断線時間表示部24
と接続された上、デイジタルコンパレータ部A15の入力
端子Aに接続される。
The input terminal C of the counter circuit A14 is connected to the output terminal of the AND-A13, and the input terminal R of the counter circuit A14 is connected to the output terminal of an OR gate-A (hereinafter abbreviated as OR-A) 18. The output terminal of the counter circuit A14 is the disconnection time display unit 24
In addition, it is connected to the input terminal A of the digital comparator section A15.

次にデイジタルコンパレータ部A15の入力端子Bは断線
判定時間設定部16に接続され、デイジタルコンパレータ
部A15の出力端子はフリツプフロツプ−A(略称FF−
A)20の入力端子CKと接続される。FF−A20の入力端子
Rはリセツト信号42と接続され、FF−A20の出力端子Q
はアンドゲート−D(略称AND−D)23の一方の入力端
子と接続された上アンドゲート−C(略称AND−C)21
の一方の入力端子と接続される。FF−A20の出力端子
は後述するアンドゲート−H(略称AND−H)39の一方
の入力端子と接続されたアンドゲート−B(略称AND−
B)19の一方の入力端子と接続される。AND−B19の他
方の入力端子は単安定マルチバイブレータA17の出力端
子と接続され、AND−B19の出力端子はAND−C21の他方
の入力端子と接続された上、OR−A18の一方の入力端子
と接続される。OR−A18の他方の端子はリセツト信号42
に接続される。単安定マルチバイブレータA17の入力端
子Rはリセツト信号42に接続される。
Next, the input terminal B of the digital comparator section A15 is connected to the disconnection determination time setting section 16, and the output terminal of the digital comparator section A15 has a flip-flop-A (abbreviation FF-).
A) Connected to the input terminal CK of 20. The input terminal R of the FF-A20 is connected to the reset signal 42, and the output terminal Q of the FF-A20.
Is an upper AND gate-C (abbreviation AND-C) 21 connected to one input terminal of an AND gate-D (abbreviation AND-D) 23.
Connected to one of the input terminals. The output terminal of the FF-A 20 is connected to one input terminal of an AND gate-H (abbreviation AND-H) 39 described later and the AND gate-B (abbreviation AND-H).
B) Connected to one input terminal of 19. The other input terminal of AND-B19 is connected to the output terminal of monostable multivibrator A17, the output terminal of AND-B19 is connected to the other input terminal of AND-C21, and one input terminal of OR-A18 Connected with. The other terminal of OR-A18 is reset signal 42
Connected to. The input terminal R of the monostable multivibrator A17 is connected to the reset signal 42.

FF−B22の入力端子CKはAND−C21の出力端子と接続さ
れ、FF−B22の入力端子Rはリセツト信号42に接続され
る。
The input terminal CK of FF-B22 is connected to the output terminal of AND-C21, and the input terminal R of FF-B22 is connected to the reset signal 42.

次にAND−D23の他方の入力端子は後述するアンドゲー
ト−F(略称AND−F)35の一方の入力端子と接続さ
れ、AND−D23の出力端子は断線不良表示部25に接続さ
れる。
Next, the other input terminal of the AND-D23 is connected to one input terminal of an AND gate-F (abbreviated as AND-F) 35 which will be described later, and the output terminal of the AND-D23 is connected to the disconnection defect display portion 25.

一方、比較増幅器B27の一方の入力端子は積分型電流−
電圧変換増幅器26の出力端子と接続され、比較増幅器B
27の他方の入力端子はスレツシュホールド値設定部B28
と接続される。比較増幅器B27の出力端子は単安定マル
チバイブレータB33の入力端子と接続された上、アンド
ゲート−E(略称AND−E)29の2番目の入力端子に接
続される。AND−E29の1番目の入力端子は、フリツプ
フロツプ−D(略称FF−D)38の出力端子と接続さ
れ、AND−E29の3番目の入力端子は前述したAND−A13
の3番目の入力端子と接続された上、クロツク信号発生
回路12に接続される。
On the other hand, one input terminal of the comparison amplifier B27 has an integrated current −
Connected to the output terminal of the voltage conversion amplifier 26, the comparison amplifier B
The other input terminal of 27 is the threshold value setting section B28.
Connected with. The output terminal of the comparison amplifier B27 is connected to the input terminal of the monostable multivibrator B33, and is also connected to the second input terminal of an AND gate-E (abbreviation AND-E) 29. The first input terminal of AND-E29 is connected to the output terminal of flip-flop-D (abbreviation FF-D) 38, and the third input terminal of AND-E29 is AND-A13 described above.
Is connected to the clock signal generating circuit 12 as well as being connected to the third input terminal.

次に、カウンタ回路B30の入力端子CはAND−E29の出
力端子と接続され、カウンタ回路B30の入力端子Rはオ
アゲート−B(略称OR−B)34の出力端子と接続され
る。カウンタ回路B30の出力端子は短絡時間表示部40に
接続された上、デイジタルコンパレータ部B31の入力端
子Aに接続される。デイジタルコンパレータ部B31の入
力端子Bは短絡判定時間設定部32に接続され、デイジタ
ルコンパレータ部B31の出力端子はフリツプフロツプ−
C(略称FF−C)36の入力端子CKと接続される。
Next, the input terminal C of the counter circuit B30 is connected to the output terminal of the AND-E29, and the input terminal R of the counter circuit B30 is connected to the output terminal of the OR gate-B (abbreviation OR-B) 34. The output terminal of the counter circuit B30 is connected to the short-circuit time display section 40, and is also connected to the input terminal A of the digital comparator section B31. The input terminal B of the digital comparator section B31 is connected to the short-circuit determination time setting section 32, and the output terminal of the digital comparator section B31 is flip-flop.
It is connected to the input terminal CK of C (abbreviation FF-C) 36.

FF−C36の入力端子Rはリセツト信号42と接続され、FF
−C36の出力端子QはAND−H39の一方の入力端子と接
続された上、アンドゲート−G(略称AND−G)37の一
方の入力端子と接続される。FF−C36の出力端子は前
述したAND−D23の他方の入力端子と接続された上にAND
−F35の一方の入力端子と接続される。
The input terminal R of the FF-C36 is connected to the reset signal 42,
The output terminal Q of -C36 is connected to one input terminal of AND-H39 and is also connected to one input terminal of AND gate-G (abbreviated as AND-G) 37. The output terminal of FF-C36 is connected to the other input terminal of AND-D23 described above, and AND
-Connected to one input terminal of F35.

AND−F35の他方の入力端子は単安定マルチバイブレー
タB33の出力端子と接続され、AND−F35の出力端子はA
ND−G37の他方の入力端子と接続された上、OR−B34の
一方の入力端子と接続される。OR−B34の他方の入力端
子はリセツト信号42に接続される。単安定マルチバイブ
レータB33の入力端子Rはリセツト信号42に接続され
る。
The other input terminal of AND-F35 is connected to the output terminal of monostable multivibrator B33, and the output terminal of AND-F35 is A
In addition to being connected to the other input terminal of ND-G37, it is also connected to one input terminal of OR-B34. The other input terminal of the OR-B 34 is connected to the reset signal 42. The input terminal R of the monostable multivibrator B33 is connected to the reset signal 42.

次に上述したように構成されたコンデンサの断線短絡検
出装置の作用について第2図、第3図、第4図、第5
図、第6図、第7図を参照しながら説明する。
Next, the operation of the capacitor disconnection short-circuit detecting device configured as described above will be described with reference to FIGS. 2, 3, 4, and 5.
This will be described with reference to FIGS. 6, 6 and 7.

第2図は、本発明の第1図の回路を動作させるためのリ
セツト信号42と測定、停止状態を時間軸上に表現したタ
イミングチヤートである。
FIG. 2 is a timing chart showing the reset signal 42 for operating the circuit of FIG. 1 of the present invention and the measurement and stop states on the time axis.

第1図、第2図を参照するに、まず、リセツト信号42の
“0”→“1”への立上がりのタイミングによりカウン
タ回路A14、カウンタ回路B30、FF−A20、FF−C36、
単安定マルチバイブレータA17、単安定マルチバイブレ
ータB33、FF−B22、FF−D38のそれぞれをリセツトし
て初期状態にさせる。
Referring to FIG. 1 and FIG. 2, first, the counter circuit A14, the counter circuits B30, FF-A20, FF-C36, and the counter circuit B30 are set in accordance with the rising timing of the reset signal 42 from "0" to "1".
Each of the monostable multivibrator A17, the monostable multivibrator B33, FF-B22, and FF-D38 is reset to the initial state.

測定、停止状態の“停止”とは第1図の回路の動作は全
て無効の状態であることを示し、“測定”とは有効であ
ることを示す。従つて、被測定コンデンサ5への直流試
験電圧4による直流印加電圧Eの印加動作は“測定”前
の“停止”の時点で実行され被測定コンデンサ5へ充電
された電荷の放電動作は“測定”後の“停止”の時点で
実行されるものとする。
“Stop” in the measurement / stop state means that all the operations of the circuit in FIG. 1 are in an invalid state, and “measurement” means that the operation is valid. Therefore, the operation of applying the DC applied voltage E by the DC test voltage 4 to the capacitor to be measured 5 is executed at the time of "stop" before the "measurement", and the operation of discharging the charge charged in the capacitor to be measured 5 is "measurement". It shall be executed at the time of "Stop" later.

次に被測定コンデンサ5が正常な場合について第3図を
参照し説明する。
Next, the case where the measured capacitor 5 is normal will be described with reference to FIG.

まず、発振器1より緩衝増幅器2を介して交流電圧を重
畳変成器3の一次側に供給すると、重畳変成器3の二次
側に重畳変成器3の一次と二次の巻数比に対応した交流
印加電圧eが発生する(第3図(a))。さらに、被測定
コンデンサ5に直流電圧を印加するために重畳変成器3
の二次側に直列に接続されている直流試験電源4により
直流印加電圧E(第3図(b))が供給され、被測定コン
デンサ5には、直流印加電圧Eに交流印加電圧eが重畳
された信号が保護抵抗6を介して印加される。
First, when an AC voltage is supplied from the oscillator 1 to the primary side of the superimposition transformer 3 via the buffer amplifier 2, an AC voltage corresponding to the primary and secondary turns ratio of the superimposition transformer 3 is supplied to the secondary side of the superimposition transformer 3. An applied voltage e is generated (Fig. 3 (a)). Furthermore, in order to apply a DC voltage to the measured capacitor 5, the superposition transformer 3
DC applied voltage E (Fig. 3 (b)) is supplied from the DC test power supply 4 connected in series to the secondary side of the capacitor, and the AC applied voltage e is superimposed on the DC applied voltage E on the measured capacitor 5. The generated signal is applied via the protection resistor 6.

ここで、被測定コンデンサ5が正常であるために、交流
的にみると、被測定コンデンサ5のインピーダンスは、
次の(1)式により表わされる。
Here, since the measured capacitor 5 is normal, the impedance of the measured capacitor 5 is:
It is expressed by the following equation (1).

ただし、Zc:被測定コンデンサ5のインピーダンス(Ω) f:交流印加電圧の周波数(Hz) c:被測定コンデンサ5の静電容量値(F) ここで、本発明では交流印加電圧の周波数f(Hz)を20(K
Hz)とし、さらに被測定コンデンサ5の静電容量値C
(F)の適用範囲を0.01(μF)〜1000(μF)とした。
However, Zc: impedance of measured capacitor 5 (Ω) f: frequency of AC applied voltage (Hz) c: capacitance value of measured capacitor 5 (F) Here, in the present invention, frequency f of AC applied voltage ( Hz) to 20 (K
Hz), and the capacitance value C of the measured capacitor 5
The applicable range of (F) was set to 0.01 (μF) to 1000 (μF).

上述の条件を(1)式にあてはめると(1)式は次の(2)式に
より表わされる。
Applying the above conditions to the equation (1), the equation (1) is expressed by the following equation (2).

Zc≒0(Ω) ……(2) 次に検出変成器7の二次側には次の(3)式により表わさ
れる交流電圧e0(第3図(c))が発生する。
Zc≈0 (Ω) (2) Next, an AC voltage e 0 (FIG. 3 (c)) represented by the following equation (3) is generated on the secondary side of the detection transformer 7.

e0∝e ……(3) つづいて、直流的にみると被測定コンデンサ5の漏れ電
流は次の(4)式により表わされる。
e 0 ∝e (3) Continuing, in terms of direct current, the leakage current of the measured capacitor 5 is expressed by the following equation (4).

ただし、IL:被測定コンデンサ5を流れる直流電流値
(A) Rc:被測定コンデンサ5の絶縁抵抗値(Ω) R:保護抵抗6の抵抗値(Ω) E:直流印加電圧(V) ここで、本発明では、保護抵抗6の抵抗値を1(KΩ)と
し、直流印加電圧E(V)を最大150(V)とした。さら
に、被測定コンデンサ5の絶縁抵抗値Rc(Ω)は、通常数
(MΩ)〜数10,,000(MΩ)の値である。
However, I L : DC current value flowing through the measured capacitor 5
(A) Rc: Insulation resistance value of the measured capacitor 5 (Ω) R: Resistance value of the protection resistor 6 (Ω) E: DC applied voltage (V) Here, in the present invention, the resistance value of the protection resistor 6 is 1 (KΩ) and the maximum direct current applied voltage E (V) was 150 (V). Furthermore, the insulation resistance value Rc (Ω) of the measured capacitor 5 is usually
(MΩ) to several 10,000 (MΩ).

上述の条件を(4)式にあてはめると(4)式は次の(5)式に
より表わされる。
Applying the above conditions to the equation (4), the equation (4) is expressed by the following equation (5).

IL≒0(A) ……(5) 検出変成器7の二次側に発生した交流電圧e0は、交流電
圧増幅器8により設定された増幅率だけ電圧増幅され、
交流−直流変換増幅器9により交流から直流に変換さ
れ、設定された増幅率だけ電圧増幅される。交流−直流
変換増幅器9の出力電圧E0(第3図(d))は次の関係を
有する(6)式で表わされる。
I L ≈0 (A) (5) The AC voltage e 0 generated on the secondary side of the detection transformer 7 is amplified by the amplification factor set by the AC voltage amplifier 8,
The AC-DC conversion amplifier 9 converts the AC into the DC, and the voltage is amplified by the set amplification factor. The output voltage E 0 (FIG. 3 (d)) of the AC-DC conversion amplifier 9 is represented by the equation (6) having the following relationship.

E0∝e0 ……(6) 次に出力電圧E0は比較増幅器A11でスレツシュホールド
値設定部A10の出力電圧Vref−Aと電圧比較され、E0
Vref−Aとなり、第3図(e)で示すように、比較増幅器
A11の出力は“0”となる。次にAND−A13の3入力ア
ンドゲートでは、比較増幅器A11の出力、FF−B22の出
力()、クロツク信号発生回路12の出力に対し論理積が
構成されず、AND−A13の出力は“0”であり、断線不
良表示部25は“良品”(第3図(f))の結果を表示す
る。
E 0 ∝e 0 (6) Next, the output voltage E 0 is compared with the output voltage Vref−A of the threshold value setting unit A 10 by the comparison amplifier A 11, and E 0 >
It becomes Vref-A, and the output of the comparison amplifier A11 becomes "0" as shown in FIG. 3 (e). Next, in the 3-input AND gate of AND-A13, the AND of the output of the comparison amplifier A11, the output () of the FF-B22 and the output of the clock signal generation circuit 12 is not formed, and the output of the AND-A13 is "0". ", And the disconnection failure display unit 25 displays the result of" non-defective product "(Fig. 3 (f)).

一方、積分型電流−電圧変換増幅器26の入力端子には、
前述の(5)式による直流電流IL(A)が入力され、電流−
電圧変換、積分がなされ、設定増幅率だけ電圧増幅さ
れ、交流分は積分されて出力されず、積分型電流−電圧
変換増幅器26の出力端子には次の関係を有する(7)式で
表わされる出力電圧Es(第3図(g))が出力される。
On the other hand, at the input terminal of the integral type current-voltage conversion amplifier 26,
DC current I L (A) according to the above equation (5) is input, and current −
The voltage is converted and integrated, the voltage is amplified by the set amplification factor, the AC component is integrated and is not output, and the output terminal of the integral type current-voltage conversion amplifier 26 is expressed by the equation (7) having the following relationship. The output voltage Es (Fig. 3 (g)) is output.

Es∝IL ……(7) 出力電圧Esは比較増幅器B27でスレツシュホールド値設
定部B28の出力電圧Vref−Bと電圧比較され、Es<Vref
−Bとなり、第3図(h)で示すように、比較増幅器B27
の出力は“0”となる。AND−E29の3入力アンドゲー
トでは、比較増幅器B27の出力、FF−Dの出力()、ク
ロツク信号発生回路12の出力に対し論理積が構成されず
AND−E29の出力は“0”であり、短絡不良表示部41は
“良品”(第3図(i))の結果を表示する。
Es∝I L (7) The output voltage Es is compared with the output voltage Vref−B of the threshold value setting unit B28 by the comparison amplifier B27, and Es <Vref
-B, and as shown in FIG. 3 (h), the comparison amplifier B27
Output becomes "0". The AND-E29 three-input AND gate does not form a logical product for the output of the comparison amplifier B27, the output of the FF-D (), and the output of the clock signal generation circuit 12.
The output of AND-E29 is "0", and the short-circuit defect display portion 41 displays the result of "non-defective product" (Fig. 3 (i)).

続いて、被測定コンデンサ5が断線判定時間設定値未満
の瞬時断線状態を発生したが良品と判定する場合につい
て第4図を参照し説明する。
Next, a case will be described with reference to FIG. 4 in which the capacitor 5 to be measured has a momentary disconnection state that is less than the set value for the disconnection determination time, but is determined to be a good product.

まず、被測定コンデンサ5がT1(SEC)断線状態になる
と、第4図(c)に示すように検出変成器7の二次側出力e
0は、T1(SEC)間だけほぼ無出力に近いレベルになり、第
4図(d)に示すように交流−直流変換増幅器9の出力E0
はE0≒0となる。
First, when the measured capacitor 5 is in the T 1 (SEC) disconnection state, the secondary output e of the detection transformer 7 as shown in FIG. 4 (c).
0 becomes a level close to almost no output only during T 1 (SEC), and the output E 0 of the AC-DC conversion amplifier 9 as shown in FIG. 4 (d).
Is E 0 ≈0.

次に出力電圧E0は比較増幅器A11でスレツシュホールド
値設定部A10の出力電圧Vref−Aと電圧比較され、E0
Vref−Aとなり、第4図(e)で示すように、比較増幅器
A11の出力はT1(SEC)間“1”となる。従つて、AND−A
13の3入力アンドゲートでは、比較増幅器A11の出力
“1”、FF−B22の()出力“1”、クロツク信号発生
回路12の出力“0”→“1”→“0”→“1”の連続信
号(第4図(f))と論理積が構成されたT(SEC)間だけ
AND−A13の出力にクロツク信号が出力される(第4図
(g))。
Next, the output voltage E 0 is compared with the output voltage Vref-A of the threshold value setting unit A 10 by the comparison amplifier A 11, and E 0 <
It becomes Vref-A, and as shown in FIG. 4 (e), the output of the comparison amplifier A11 becomes "1" during T 1 (SEC). Therefore, AND-A
In the 3-input AND gate of 13, the output of the comparison amplifier A11 is "1", the output of () of the FF-B22 is "1", and the output of the clock signal generation circuit 12 is "0" → "1" → "0" → "1". Only between T 1 (SEC) where the logical product of the continuous signal (Fig. 4 (f)) is configured.
A clock signal is output to the output of AND-A13 (Fig. 4).
(g)).

次にAND−A13の出力信号の“0”→“1”へ立上がり
タイミング毎にカウンタ回路A14は計数を行ない加算す
る。
Next, the counter circuit A14 counts and adds each time the output signal of the AND-A13 rises from "0" to "1".

ここでクロツク信号発生回路12の1周期期間Tcは次の
(8)式で表わされる。
Here, one cycle period Tc of the clock signal generation circuit 12 is
It is expressed by equation (8).

ただし、Tc:クロツク信号発生回路12の1周期時間(SE
C) fc:クロツク信号発生回路12の発振周波数(Hz) 次いでデイジタルコンパレータ部A15では、カウンタ回
路A14の出力を断線判定時間設定部16の“設定時間”t1
(SEC)(第4図(h))を比較する。
However, Tc: 1 cycle time of the clock signal generation circuit 12 (SE
C) fc: Oscillation frequency (Hz) of the clock signal generation circuit 12 Next, in the digital comparator section A15, the output of the counter circuit A14 is set to the "set time" t 1 of the disconnection determination time setting section 16
Compare (SEC) (Fig. 4 (h)).

ここで、カウンタ回路A14の計数値と“断線状態”時間
T1(SEC)の関係は次の(9)式により表わされる。
Here, the count value of the counter circuit A14 and the "disconnection state" time
The relationship of T 1 (SEC) is expressed by the following equation (9).

ただし、NA:カウンタ回路A14の計数値 T1:被測定コンデンサ5の“断線状態”時間(SEC) Tc:クロツク信号発生回路12の1周期時間(SEC) デイジタルコンパレータ部A15で比較の結果、T1<t1
なり、デイジタルコンパレータ部A15の出力は“0”と
なる(第4図(i))。次に比較増幅器A11の出力が
“1”→“0”への立下がりタイミング(第4図(e))
で単安定マルチバイブレータA17が動作し、“0”→
“1”→“0”とパルス信号を発生する(第4図
(j))。単安定マルチバイブレータA17の出力信号が
“0”→“1”への立下がりタイミング時に、FF−A20
の()出力の“1”とAND−B19にし論理積がとられ、O
R−A18を介して(第4図(k))カウンタ回路A14の入力
(R)信号となり、カウンタ回路A14はリセットされて初
期状態になる。
However, N A : Count value of the counter circuit A14 T 1 : "Disconnection state" time (SEC) of the measured capacitor 5 Tc: One cycle time of the clock signal generation circuit 12 (SEC) As a result of comparison by the digital comparator unit A15, Since T 1 <t 1 , the output of the digital comparator A15 becomes “0” (FIG. 4 (i)). Next, the output timing of the comparison amplifier A11 falls from "1" to "0" (Fig. 4 (e)).
Then, the monostable multivibrator A17 operates and "0" →
A pulse signal of "1" → "0" is generated (Fig. 4).
(j)). When the output signal of the monostable multivibrator A17 falls from "0" to "1", FF-A20
(1) of the output of () and AND-B19 are taken and the logical product is taken.
Input of counter circuit A14 via R-A18 (Fig. 4 (k))
(R) signal, and the counter circuit A14 is reset to the initial state.

次にAND−D23は論理積が構成されず、第4図(l)に示す
ように断線不良表示部25の表示は“良品”となる。
Next, the AND-D23 does not have a logical product, and the display of the disconnection defect display section 25 is "non-defective" as shown in FIG. 4 (l).

一方、断線時間表示部24の表示は、カウンタ回路A14が
リセツトされて初期状態となつているために表示はされ
ない。
On the other hand, the display of the disconnection time display section 24 is not displayed because the counter circuit A14 is reset and is in the initial state.

次に、被測定コンデンサ5が断線判定時間設定値以上の
断線状態が発生し、断線不良と判定する場合について第
5図を参照して説明する。
Next, a case will be described with reference to FIG. 5 in which the measured capacitor 5 has a disconnection state that is equal to or greater than the disconnection determination time set value and is determined to be a disconnection defect.

まず、被測定コンデンサ5がT1(SEC)断線状態になる
と、第5図(c)に示すように検出変成器7の二次側出力e
0はT1(SEC)間だけほぼ無出力に近いレベルとなり、第5
図(d)に示すように交流−直流変換増幅器9の出力E0はE
0≒0となる。
First, when the measured capacitor 5 is in the T 1 (SEC) disconnection state, as shown in FIG. 5 (c), the secondary output e of the detection transformer 7
0 is a level close to almost no output only during T 1 (SEC),
As shown in the figure (d), the output E 0 of the AC-DC conversion amplifier 9 is E
0 ≈ 0.

出力電圧E0は、比較増幅器A11でスレツシュホールド値
設定部A10の出力電圧Vref−Aと電圧比較されてE0<Vr
ef−Aとなり、第5図(e)で示すように比較増幅器A11
の出力は“1”となる。
The output voltage E 0 is compared with the output voltage Vref−A of the threshold value setting unit A 10 by the comparison amplifier A 11 and E 0 <Vr
ef-A, as shown in FIG. 5 (e), the comparison amplifier A11
Output is "1".

従つて、AND−A13の3入力アンドゲートでは比較増幅
器A11の出力、FF−B22の()出力、クロツク信号発生
回路12の出力と論理積が構成され、T1(SEC)間だけAND−
A13の出力にクロツク信号が出力される(第5図
(g))。このAND−A13の出力のクロツク信号によりカウ
ンタ回路A14は計数を行ない加算する。
Accordance connexion, the output of the comparison amplifier A11 is a 3-input AND gate of the AND-A13, of FF-B22 () output is configured output the logical product of the clock signal generating circuit 12, T 1 (SEC) between only AND-
A clock signal is output to the output of A13 (Fig. 5)
(g)). The counter circuit A14 counts and adds by the clock signal of the output of the AND-A13.

次にデイジタルコンパレータ部A15ではカウンタ回路A
14の出力と断線判定時間設定部16の“設定時間”t1(SE
C)を比較する。比較の結果、T1≧t1となり、デイジタル
コンパレータ部A15の出力は“1”となる(第5図
(i))。デイジタルコンパレータ部A15の出力が“0”
→“1”の立上がりタイミングでFF−A20の(Q)出力は
“0”→“1”となり、リセツト信号42が入力されるま
で“1”を保持し(第5図(j))、FF−A20の()出力
は“0”を保持する(第5図(k))。
Next, in the digital comparator section A15, the counter circuit A
14 output and disconnection determination time setting section 16 “setting time” t 1 (SE
Compare C). As a result of the comparison, T 1 ≧ t 1 and the output of the digital comparator A15 becomes “1” (see FIG. 5).
(i)). The output of digital comparator A15 is "0".
→ The (Q) output of FF-A20 changes from "0" to "1" at the rising timing of "1" and holds "1" until reset signal 42 is input (Fig. 5 (j)), and FF -(20) output of A20 holds "0" (Fig. 5 (k)).

一方、比較増幅器A11の出力が“1”→“0”への立下
がりタイミング(第5図(e))で単安定マルチバイブレ
ータA17が動作し“0”→“1”→“0”とパルス信号
を発生する(第5図(l))。単安定マルチバイブレータ
A17の出力信号の“0”→“1”への立上り信号とFF−
A20の(Q)出力の“1”とでAND−C21にて論理積がと
られ、AND−C21の出力の“0”→“1”への立上がり
信号によりFF−B22は動作し、()出力を“1”→
“0”にし(第5図(n))、AND−A13の論理積の構成が
とれないように禁止し、次に起こる被測定コンデンサ5
の断線状態に対する測定を禁止し、FF−B22は、リセツ
ト信号42が入力されるまで保持している。
On the other hand, when the output of the comparison amplifier A11 falls from "1" to "0" (Fig. 5 (e)), the monostable multivibrator A17 operates to pulse "0" → "1" → "0". A signal is generated (Fig. 5 (l)). The output signal of the monostable multivibrator A17 rises from "0" to "1" and FF-
The AND of the (Q) output of A20 and "1" is ANDed in the AND-C21, and the FF-B22 operates by the rising signal of the output of the AND-C21 from "0" to "1". Output is "1" →
Set it to "0" (Fig. 5 (n)), prohibit it so that the AND-A13 logical AND configuration cannot be taken, and cause the next capacitor to be measured 5
The measurement for the disconnection state is prohibited, and the FF-B22 holds it until the reset signal 42 is input.

一方、単安定マルチバイブレータA17の出力とFF−A20
の()出力とはAND−B19で論理積が構成されず、OR−
A18の出力は“0”であり(第5図(m))、カウンタ回
路A14は、リセツト信号42が入力されるまで計数した状
態を保持している。
On the other hand, the output of monostable multivibrator A17 and FF-A20
(-) Output does not form a logical product with AND-B19, and OR-
The output of A18 is "0" (FIG. 5 (m)), and the counter circuit A14 holds the counted state until the reset signal 42 is input.

次に、AND−A23は、FF−A20の(Q)出力“1”とFF−
C36の()出力“1”とで論理和が構成され、断線不良
表示部25の表示は“断線不良”となる。
Next, AND-A23 outputs the (Q) output "1" of FF-A20 and FF-
The logical sum is formed by the () output of C36 and "1", and the display of the disconnection defect display section 25 indicates "disconnection defect".

一方、断線時間表示部24の表示は、カウンタ回路A14の
出力の値T1(SEC)を表示し、被測定コンデンサ5の断線
状態の時間はT1(SEC)であつたことを示している。
On the other hand, the display of the disconnection time display unit 24 displays the value T 1 (SEC) of the output of the counter circuit A14 and indicates that the time of the disconnection state of the measured capacitor 5 is T 1 (SEC). .

次に、被測定コンデンサ5が短絡時間設定値未満の瞬時
短絡状態を発生したが良品と判定する場合について第6
図を参照し説明する。
Next, the case in which the measured capacitor 5 has a momentary short-circuit state of less than the short-circuit time set value but is judged to be non-defective
Description will be made with reference to the drawings.

まず、第6図(c)に示すように被測定コンデンサ5に短
絡電流IsがT2(SEC)間流れると、第6図(d)に示すように
積分型電流−電圧変換増幅器26の出力電圧はEsとなり、
比較増幅器B27でスレツシュホールド値設定部B28の出
力電圧Vref−Bと電圧比較され、Es>Vref−Bであるの
で、比較増幅器B27の出力はT2(SEC)間“1”となる
(第6図(e))。
First, as shown in FIG. 6 (c), when the short circuit current Is flows through the measured capacitor 5 for T 2 (SEC), the output of the integral type current-voltage conversion amplifier 26 is output as shown in FIG. 6 (d). The voltage is Es,
The output voltage Vref-B of the threshold value setting unit B28 is compared by the comparison amplifier B27, and since Es> Vref-B, the output of the comparison amplifier B27 becomes "1" during T 2 (SEC) (first). Figure 6 (e)).

次にAND−E29の3入力アンドゲートでは、比較増幅器
B27の出力“1”、FF−D38の()出力“1”、クロツ
ク信号発生回路12の出力(第6図(f))で論理積がとら
れ、AND−E29の出力(第6図(g))によりカウンタ回路
B30は計数を行ない加算する。
Next, in the 3-input AND gate of AND-E29, the logical product of the output "1" of the comparison amplifier B27, the output "1" of FF-D38 and the output of the clock signal generation circuit 12 (Fig. 6 (f)). Then, the counter circuit B30 counts and adds by the output of the AND-E29 (Fig. 6 (g)).

ここで、カウンタ回路B30の計数値と“短絡状態”時間
T2(SEC)の関係は次の(10)式により表わされる。
Here, the count value of the counter circuit B30 and the "short-circuit state" time
The relationship of T 2 (SEC) is expressed by the following equation (10).

ただし、NB:カウンタ回路B30の計数値 T2:被測定コンデンサ5の“短絡状態”時間(SEC) Tc:クロツク信号発生回路12の1周期時間(SEC) デイジタルコンパレータ部B31でカウンタ回路B30の出
力と短絡判定時間設定部32の“設定時間”t2(SEC)(第
6図(h))と比較され、T2<t2であるので、デイジタル
コンパレータ部B31の出力は“0”となる(第6図
(i))。
However, N B: counter circuit B30 count value T 2: the measured capacitor 5 "short circuit condition" Time (SEC) Tc: 1 cycle time of the clock signal generating circuit 12 (SEC) in digital comparator unit B31 of the counter circuit B30 The output is compared with the “set time” t 2 (SEC) (FIG. 6 (h)) of the short circuit determination time setting unit 32, and T 2 <t 2 , so the output of the digital comparator unit B31 is “0”. (Fig. 6
(i)).

次に比較増幅器B27の出力が“1”→“0”への立下が
りタイミング(第6図(e))で単安定マルチバイブレー
タB33が動作し、“0”→“1”→“0”とパルス信号
を発生する(第6図(j))。単安定マルチバイブレータ
B33の出力信号が“0”→“1”への立上がりタイミン
グ時に、FF−Cの()出力の“1”とAND−F35にて論
理積がとられ、OR−B34を介して(第6図(k))カウン
タ回路B30の入力(R)信号となり、カウンタ回路B30は
リセツトされ初期状態になる。
Next, the monostable multivibrator B33 operates at the falling timing (Fig. 6 (e)) of the output of the comparison amplifier B27 from "1" to "0", and "0" → "1" → "0". A pulse signal is generated (Fig. 6 (j)). When the output signal of the monostable multivibrator B33 rises from "0" to "1", the AND of "1" of () output of FF-C is taken by AND-F35, and it is output through OR-B34. (FIG. 6 (k)), it becomes an input (R) signal of the counter circuit B30, and the counter circuit B30 is reset to the initial state.

AND−H39は論理和が構成されず、第6図(l)に示すよう
に短絡不良表示部41の表示は、“良品”となる。
The AND-H39 does not form a logical sum, and the display of the short-circuit defect display section 41 is "non-defective" as shown in FIG. 6 (l).

一方、短絡時間表示部40の表示は、カウンタ回路Bがリ
セツトされ初期状態となつているために表示されない。
On the other hand, the display of the short circuit time display section 40 is not displayed because the counter circuit B is reset and is in the initial state.

次に被測定コンデンサ5が短絡判定時間設定値以上の短
絡状態が発生し、短絡不良と判定する場合について第7
図を参照して説明する。
Next, in the case where the measured capacitor 5 has a short circuit condition of the short circuit judgment time set value or more and is judged to be a short circuit defect,
It will be described with reference to the drawings.

まず、被測定コンデンサ5がT2(SEC)短絡状態になる
と、第7図(c)に示すように、被測定コンデンサ5に短
絡電流IsがT2(SEC)間流れると、第7図(d)に示すように
積分型電流−電圧変換増幅器26の出力電圧はEsとなり、
比較増幅器B27でスレツシュホールド値設定部B28の出
力電圧Vref−Bと電圧比較されEs>Vref−Bであるの
で、比較増幅器B27の出力はT2(SEC)間“1”となる
(第7図(e))。
First, when the capacitor 5 to be measured is short-circuited to T 2 (SEC), as shown in FIG. 7 (c), when the short-circuit current Is flows through the capacitor 5 to be measured for T 2 (SEC), as shown in FIG. As shown in d), the output voltage of the integration type current-voltage conversion amplifier 26 becomes Es,
In the comparison amplifier B27, the output voltage Vref-B of the threshold value setting unit B28 is compared with Es> Vref-B, so that the output of the comparison amplifier B27 becomes "1" during T 2 (SEC) (seventh). (Figure (e)).

次にAND−E29の3入力アンドゲートでは、比較増幅器
B27の出力、FF−D38の()出力、クロツク信号発生回
路12の出力(第7図(f))で論理積がとられ、AND−E29
の出力によりカウンタ回路B30は計数を行ない加算す
る。
Then, in the AND-E29 three-input AND gate, the output of the comparison amplifier B27, the () output of the FF-D38, and the output of the clock signal generation circuit 12 (FIG. 7 (f)) are ANDed, and AND- E29
The counter circuit B30 counts and adds the output.

デイジタルコンパレータ部B31でカウンタ回路B30の出
力と短絡判定時間設定部32の“設定時間”t2(SEC)(第
7図(h))と比較され、T2≧t2であるので、デイジタル
コンパレータ部B31の出力は“1”となる(第7図
(i))。
The digital comparator B31 compares the output of the counter circuit B30 with the "set time" t 2 (SEC) (Fig. 7 (h)) of the short circuit determination time setting unit 32, and since T 2 ≥t 2 , the digital comparator The output of section B31 becomes "1" (Fig. 7).
(i)).

次にデイジタルコンパレータ部B31の出力が“0”→
“1”の立上がりタイミングでFF−C36の(Q)出力は
“0”→“1”となりリセツト信号42が入力されるまで
“1”を保持し(第7図(j))、FF−C36の()出力は
“0”を保持する(第7図(k))。
Next, the output of the digital comparator section B31 is "0" →
At the rising timing of "1", the (Q) output of FF-C36 changes from "0" to "1" and holds "1" until reset signal 42 is input (Fig. 7 (j)), and FF-C36. The () output of is held at "0" (Fig. 7 (k)).

一方、比較増幅器B27の出力が“1”→“0”への立下
がりタイミング(第7図(e))で単安定マルチバイブレ
ータB33が動作し“0”→“1”→“0”とパルス信号
を発生する(第7図(l))。単安定マルチバイブレータ
B33の出力信号の“0”→“1”への立上がり信号とFF
−C36の(Q)出力の“1”とでAND−G37にて論理積が
とられ、AND−G37の出力の“0”→“1”への立上が
り信号によりFF−D38は動作して()出力を“1”→
“0”にし(第7図(n))、AND−E29の論理積の構成が
とれないように禁止し、次に起こる被測定コンデンサ5
の短絡状態に対る測定を禁止し、FF−D38はリセツト信
号42が入力されるまで保持している。
On the other hand, the monostable multivibrator B33 operates at the timing of the output of the comparison amplifier B27 falling from "1" to "0" (Fig. 7 (e)), and pulses "0" → "1" → "0". A signal is generated (Fig. 7 (l)). The rising signal of the output signal of the monostable multivibrator B33 from "0" to "1" and FF
AND-G37 ANDs with (1) of (Q) output of -C36, and FF-D38 operates by rising signal of output of AND-G37 from "0" to "1" ( ) Output is "1" →
Set it to "0" (Fig. 7 (n)), and prohibit it so that the AND-E29 logical AND structure cannot be taken.
The FF-D38 holds the reset signal 42 until the reset signal 42 is input.

一方、単安定マルチバイブレータB33の出力とFF−C36
の()出力とはAND−F35で論理積が構成されず、OR−
B34の出力は“0”であり(第7図(m))、カウンタ回
路B30はリセツト信号42が入力されるまで計数した状態
を保持している。
On the other hand, the output of monostable multivibrator B33 and FF-C36
(-) Output of AND-F35 does not form a logical product, and OR-
The output of B34 is "0" (FIG. 7 (m)), and the counter circuit B30 holds the counted state until the reset signal 42 is input.

次にAND−H39はFF−C36の(Q)出力“1”とFF−A20
の()出力“1”とで論理積が構成され、短絡不良表示
部41の表示は“短絡不良”となる。
Next, AND-H39 outputs FF-C36 (Q) output "1" and FF-A20.
() Output "1" forms a logical product, and the short-circuit defect display section 41 displays "short-circuit defect".

一方、短絡時間表示部40の表示は、カウンタ回路B30の
出力の値T2(SEC)を表示し、被測定コンデンサ5の短絡
状態の時間がT2(SEC)であつたことを示している。
On the other hand, the display of the short circuit time display section 40 displays the value T 2 (SEC) of the output of the counter circuit B30, indicating that the time of the short circuit state of the measured capacitor 5 is T 2 (SEC). .

以上説明したように、被測定コンデンサの断線又は短絡
の発生時に、規定時間とデイジタルにて比較して判定を
行なうとともに、検出した断線又は短絡のそれぞれの時
間をデイジタル値にて表示、記憶することができる。ま
た、発振器、緩衝増幅器、重畳変成器、直流試験電源、
クロック信号発生回路を共通として他の回路を被測定コ
ンデンサの試験数に対応して増設することにより、同時
に多量の検出を行なうことが出来る。
As explained above, when a disconnection or short circuit occurs in the capacitor to be measured, the specified time is compared with the digital value for judgment, and each detected disconnection or short circuit time is displayed and stored as a digital value. You can Also, oscillator, buffer amplifier, superposition transformer, DC test power supply,
A large amount of detection can be performed at the same time by making the clock signal generation circuit common and adding another circuit corresponding to the number of tested capacitors to be measured.

さらに、断線時間表示部及び短絡時間表示部を共通と
し、カウンタ回路A及びカウンタ回路Bの出力データを
信号切換用IC等により、各被測定コンデンサとの対応を
させることにより、容易にかつ廉価に多量の検出を同時
に行なえる装置が提供できる。
Further, the disconnection time display section and the short circuit time display section are commonly used, and the output data of the counter circuit A and the counter circuit B are made to correspond to each capacitor to be measured by a signal switching IC or the like, so that it is easy and inexpensive. It is possible to provide a device capable of simultaneously performing a large amount of detection.

発明の効果 以上説明したように、本発明によるコンデンサの断線短
絡検出装置は以下の効果を有する。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, the capacitor disconnection short-circuit detection device according to the present invention has the following effects.

(1)、特殊な機器を準備する必要がない。(1) There is no need to prepare special equipment.

(2)、絶対値による判定ができ、検出の精度が高い。(2) The judgment can be made by the absolute value, and the detection accuracy is high.

(3)、一度に多量のコンデンサを検査することができ
る。
(3) A lot of capacitors can be inspected at one time.

(4)、保守が容易でかつ廉価な装置を提供することがで
きる。
(4) It is possible to provide an inexpensive device that is easy to maintain.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明によるコンデンサの断線短絡検出装置の
一実施例を示すブロツク構成図、第2図は第1図に示す
回路を動作させるための信号及び測定、停止のタイミン
グを示す図、第3図は被測定コンデンサが正常な場合の
各部の信号波形図、第4図は被測定コンデンサが断線判
定時間設定値未満の瞬時断線状態を発生したが良品と判
定する場合の各部の信号波形図、第5図は被測定コンデ
ンサが断線判定時間設定値以上の断線状態を発生し、断
線不良を判定する場合の各部の信号波形図、第6図は被
測定コンデンサが短絡判定時間設定未満の瞬時短絡状態
を発生したが良品を判定する場合の各部の信号波形図、
第7図は被測定コンデンサが短絡判定時間設定値以上の
短絡状態を発生し、短絡不良と判定する場合の各部の信
号波形図である。 1……発振器、2……緩衝増幅器、3……重畳変成器、
4……直流試験電源、5……被測定コンデンサ、6……
保護抵抗、7……検出変成器、8……交流電圧増幅器、
9……交流−直流変換増幅器、10……スレツシュホール
ド値設定部A、11……比較増幅器A、12……クロツク信
号発生回路、13……AND−A、14……カウンタ回路A、1
5……デイジタルコンパレータ部A、16……断線判定時
間設定部、17……単安定マルチバイブレータA、18……
OR−A、19……AND−B、20……FF−A、21……AND−
C、22……FF−B、23……AND−D、24……断線時間表
示部、25……断線不良表示部、26……積分型電流−電圧
変換増幅器、27……比較増幅器B、28……スレツシュホ
ールド値設定部B、29……AND−E、30……カウンタ回
路B、31……デイジタルコンパレータ部B、32……短絡
判定時間設定部、33……単安定マルチバイブレータB、
34……OR−B、35……AND−F、36……FF−C、37……A
ND−G、38……FF−D、39……AND−H、40……短絡時
間表示部、41……短絡不良表示部、42……リセツト信
号、e……交流印加電圧、E……直流印加電圧、e0……
検出変成器7の二次側の出力電圧、E0……交流−直流変
換増幅器9の出力電圧、Is……被測定コンデンサ5の短
絡時の電流、IL……被測定コンデンサ5の漏れ電流、Es
……積分型電流−電圧変換増幅器26の出力電圧、Vref−
A……スレツシュホールド値設定部A10の出力電圧、Vr
ef−B……スレツシュホールド値設定部B28の出力電圧
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a capacitor disconnection short-circuit detection device according to the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing signals for operating the circuit shown in FIG. Fig. 3 is a signal waveform diagram of each part when the capacitor to be measured is normal, and Fig. 4 is a signal waveform diagram of each part when the capacitor to be measured has an instantaneous disconnection state that is less than the set value for the disconnection determination time, but is judged to be a good product. Fig. 5 is a signal waveform diagram of each part when the measured capacitor has a disconnection state that is equal to or greater than the set value for the disconnection determination time and determines disconnection failure. Fig. 6 shows the measured capacitor's instantaneous value below the short circuit determination time setting. A signal waveform diagram of each part when a short circuit occurs but a good product is judged,
FIG. 7 is a signal waveform diagram of each part in the case where the capacitor to be measured has a short circuit state of the short circuit determination time set value or more and it is determined that there is a short circuit failure. 1 ... Oscillator, 2 ... Buffer amplifier, 3 ... Superposition transformer,
4 ... DC test power supply, 5 ... Capacitor to be measured, 6 ...
Protective resistance, 7 ... Detection transformer, 8 ... AC voltage amplifier,
9 ... AC-DC conversion amplifier, 10 ... Threshold value setting unit A, 11 ... Comparison amplifier A, 12 ... Clock signal generation circuit, 13 ... AND-A, 14 ... Counter circuit A, 1
5 …… Digital comparator A, 16 …… Disconnection judgment time setting unit, 17 …… Monostable multivibrator A, 18 ……
OR-A, 19 …… AND-B, 20 …… FF-A, 21 …… AND-
C, 22 ... FF-B, 23 ... AND-D, 24 ... disconnection time display section, 25 ... disconnection failure display section, 26 ... integral type current-voltage conversion amplifier, 27 ... comparison amplifier B, 28: Threshold value setting section B, 29 ... AND-E, 30 ... Counter circuit B, 31 ... Digital comparator section B, 32 ... Short circuit judgment time setting section, 33 ... Monostable multivibrator B ,
34 …… OR-B, 35 …… AND-F, 36 …… FF-C, 37 …… A
ND-G, 38 ... FF-D, 39 ... AND-H, 40 ... Short circuit time display section, 41 ... Short circuit failure display section, 42 ... Reset signal, e ... AC applied voltage, E ... DC applied voltage, e 0 ...
The secondary side of the output voltage of the detector transformer 7, E 0 ...... AC - output voltage of the DC converter amplifier 9, Is ...... current during short-circuit of the measuring capacitor 5, leakage current I L ...... measured capacitor 5 , Es
The output voltage of the integral-type current-voltage conversion amplifier 26, Vref-
A: Output voltage of threshold value setting unit A10, Vr
ef−B …… Output voltage of threshold value setting section B28

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】交流信号を発する発振器が一次側巻線端子
に接続され二次側巻線に端子に直流試験電源と被測定コ
ンデンサの一端が接続された重畳変成器を備え、被測定
コンデンサのもう一端は保護抵抗、検出変成器の一次側
巻線を経て積分型電流−電圧変換増幅器と接続され、前
記検出変成器の二次側巻線端子には交流増幅器、交流−
直流変換増幅器を介して第1のスレツシユホールド値設
定部を持つ第1の比較増幅器を設け、この第1の比較増
幅器の出力から信号抑制ゲートなる第1の3入力アンド
ゲートを設け、この第1の3入力アンドゲートには断線
状態時にのみクロツク信号を送り出すクロツク信号発生
器が接続され、前記第1の3入力アンドゲートの出力に
断線時間を計数する第1のカウンタ回路が接続され、断
線判定時間設定値と、前記第1のカウンタ回路から出力
される断線時間とを比較して比較結果を出力する第1の
デイジタルコンパレータ部が設けられ初めの断線不良判
定時にのみ前記第1のカウンタ回路のデータを保持して
断線時間表示部でデータ表示し、断線不良表示部にて断
線不良と表示し、さらに、前記積分型電流−電圧変換器
の出力は第2のスレツシュホールド値を持つ第2の比較
増幅器に接続され、この比較増幅器の出力から信号抑制
ゲートなる第2の3入力アンドゲートを設け、この第2
の3入力アンドゲートに短絡状態時にのみクロツク信号
を送り出す前記クロツク信号発生器が接続され、前記第
2の3入力アンドゲートの出力に短絡時間を計数する第
2のカウンタ回路が接続され、短絡判定時間設定値と前
記第2のカウンタ回路から出力される短絡時間とを比較
して比較結果を出力する第2のデイジタルコンパレータ
部が設けられ、初めの短絡不良判定時にのみ前記第2の
カウンタ回路のデータを保持して短絡時間表示部でデー
タ表示し、短絡不良表示部にて短絡不良と表示すること
を特徴とするコンデンサの断線短絡検出装置。
1. An oscillator for generating an AC signal is connected to a primary winding terminal, and a secondary winding is provided with a superposition transformer in which a DC test power source and one end of a capacitor to be measured are connected to the terminal. The other end is connected to an integral type current-voltage conversion amplifier via a protection resistor and a primary winding of the detection transformer, and an AC amplifier and an AC-AC are connected to a secondary winding terminal of the detection transformer.
A first comparison amplifier having a first threshold value setting unit is provided via a DC conversion amplifier, and a first 3-input AND gate serving as a signal suppression gate is provided from the output of the first comparison amplifier. A clock signal generator for sending a clock signal only in the disconnection state is connected to the 3-input AND gate 1 and a first counter circuit for counting the disconnection time is connected to the output of the first 3-input AND gate. A first digital comparator section is provided for comparing the set value of the judgment time with the disconnection time output from the first counter circuit and outputting a comparison result. The first counter circuit is provided only when the first disconnection defect is judged. Data is displayed on the disconnection time display section, data is displayed on the disconnection failure display section as disconnection failure, and the output of the integral type current-voltage converter is set to the second switch. It is connected to a second comparator amplifier having Tsushuhorudo value, provided the second 3-input AND gate composed signal suppression gate from the output of the comparison amplifier, the second
To the 3-input AND gate of the above-mentioned clock signal generator which outputs a clock signal only in the case of a short circuit, and to the output of the second 3-input AND gate of the second counter circuit for counting the short-circuit time, A second digital comparator section is provided which compares the time set value with the short circuit time output from the second counter circuit and outputs a comparison result, and the second digital comparator section of the second counter circuit is provided only when the first short circuit failure is determined. A capacitor disconnection short-circuit detection device, which holds data and displays the data on a short-circuit time display unit and displays a short-circuit defect on the short-circuit defect display unit.
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