JPH0640068B2 - Time-resolved spectrophotometer - Google Patents
Time-resolved spectrophotometerInfo
- Publication number
- JPH0640068B2 JPH0640068B2 JP23020989A JP23020989A JPH0640068B2 JP H0640068 B2 JPH0640068 B2 JP H0640068B2 JP 23020989 A JP23020989 A JP 23020989A JP 23020989 A JP23020989 A JP 23020989A JP H0640068 B2 JPH0640068 B2 JP H0640068B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stimulus
- time
- interferometer
- interferogram
- gate circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、刺激発生手段により周期的に刺激を発生した
測定対象に繰り返し与え、ラピッドスキャン干渉計を用
いた検出器出力をサンプリングして刺激よりある遅延時
間に対するインタフェログラムを取得し、フーリエ変換
によりスペクトルを得ることによって、刺激に対して繰
り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を測定する時
分解分光測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of use] The present invention repeatedly gives a stimulus to a measurement object in which a stimulus is generated periodically by a stimulus generation means, and samples a detector output using a rapid scan interferometer to stimulate the stimulus. The present invention relates to a time-resolved spectroscopic measurement apparatus for measuring the reaction state of a measurement target that repeatedly shows the same response to a stimulus by acquiring an interferogram for a certain delay time and obtaining a spectrum by Fourier transform.
サンプルに電気やレーザその他の手段により周期的に刺
激を与え、その刺激から復帰する過程において、その反
応状態を測定しようという要求は、例えば液晶の特性を
評価する場合や、その他のいろいろな分野にある。その
測定方法としては、FT−IR(フーリエ変換赤外分光
光度計)を用いた時分解分光法がある。この方法は、広
い波数域を高いSN比で測定できるため、従来から開発
利用されているが、ラピッドスキャン干渉計を用いるも
のと、ステップスキャン干渉計を用いるものに分類でき
る。The requirement to measure the reaction state in the process of periodically stimulating a sample by electricity, laser, or other means, and in the process of returning from the stimulus is, for example, when evaluating the characteristics of liquid crystals or in various other fields. is there. As the measuring method, there is a time-resolved spectroscopy using FT-IR (Fourier transform infrared spectrophotometer). Since this method can measure a wide wave number region with a high SN ratio, it has been conventionally developed and used, but it can be classified into a method using a rapid scan interferometer and a method using a step scan interferometer.
FT−IRは、半透鏡と移動鏡と固定鏡からなる干渉計
を用い、移動鏡を移動させてインタフェログラムを得る
ものであるが、インタフェログラムは、サンプルの透過
率等の特性が一定でなければならないという条件があ
り、サンプルの特性が変わってしまうと、それをフーリ
エ変換した場合、本来の情報と違う情報が出てしまう。
したがって、時分解分光法において、与える刺激の周期
は、反応が終わってしまう時間より長いことが条件であ
るが、周期的な刺激を与える場合、移動鏡の移動と無関
係に刺激を与えると、その整合を採ることが必要にな
る。そこで、従来は、干渉計の持つ基準信号に同期して
刺激を与えるようにしている。FT-IR uses an interferometer consisting of a semi-transparent mirror, a moving mirror, and a fixed mirror, and obtains an interferogram by moving the moving mirror. The interferogram must have constant characteristics such as sample transmittance. There is a condition that it has to be, and if the characteristics of the sample change, when Fourier transforming it, information that is different from the original information will appear.
Therefore, in time-resolved spectroscopy, the period of the stimulus to be given is required to be longer than the time when the reaction ends, but when giving the periodic stimulus, when the stimulus is given regardless of the movement of the moving mirror, It will be necessary to be consistent. Therefore, conventionally, the stimulus is applied in synchronization with the reference signal of the interferometer.
第4図は時分解分光法の従来例を説明するための図であ
る。FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional example of time-resolved spectroscopy.
ラピッドスキャン干渉計を用いるものでは、上記のよう
に干渉計の持つ基準信号に同期して刺激を与えインタフ
ェログラムを採ることから、対象の反応周期の長さによ
って、次の3つの場合に分けることができる。In the case of using the rapid scan interferometer, since the interferogram is taken by applying the stimulus in synchronization with the reference signal of the interferometer as described above, it should be divided into the following three cases depending on the length of the reaction cycle of the target. You can
刺激に対する応答が非常に遅い場合 すなわち対象の反応又はそれに類する状態の変化の周期
τが移動鏡のスキャン時間T(干渉計で得られるインタ
フェログラム全体を1回測定する時間)より長い(τ>
T)場合 刺激に対する応答が比較的遅い場合 すなわち、インタフェログラムを形成する点群の各点を
測定する時間間隔(サンプリング間隔)tより長い(t
<τ<T)場合 刺激に対する応答が非常に速い場合 すなわち、τ<tの場合 例えば上記の場合には、移動鏡のスキャン時間Tより
対象の反応周期τが長いので、第4図(a)に示すように
移動鏡のスキャンを速くすると、与えた刺激の或る遅れ
のところでインタフェログラムが取れてしまうので、こ
れをフーリエ変換することによって目的とする或る状態
のスペクトルを得ることができる。When the response to the stimulus is very slow, that is, the period τ of the reaction of the object or the change of the state similar thereto is longer than the scan time T of the moving mirror (time to measure the entire interferogram obtained by the interferometer once) (τ>
T) Case When the response to the stimulus is relatively slow, that is, longer than the time interval (sampling interval) t at which each point of the point group forming the interferogram is measured (t
<Τ <T) When the response to the stimulus is very fast, that is, when τ <t For example, in the above case, the reaction period τ of the target is longer than the scan time T of the moving mirror, and therefore, FIG. As shown in (1), if the scanning of the movable mirror is accelerated, the interferogram is obtained at a certain delay of the applied stimulus, and the Fourier transform of the interferogram can be performed to obtain the spectrum of the desired certain state.
しかしの場合には、反応時間が短くなっているので、
第4図(b)に示すように複数回のスキャンを行いて1回
目の干渉計のスキャン、2回目の干渉計のスキャン、…
…で刺激を与えるタイミングを干渉計の持つ基準信号の
間隔tずつずらして測定を行い、同じ遅延時間のデータ
を識別編集してインタフェログラムにすることによって
或る状態のスペクトルを取り出すことになる。However, in that case, the reaction time is short, so
As shown in FIG. 4 (b), a plurality of scans are performed to scan the first interferometer, scan the second interferometer, ...
The measurement is performed by shifting the timing of giving the stimulus by the interval t of the reference signal of the interferometer, and the data of the same delay time is identified and edited to form an interferogram to extract a spectrum in a certain state.
そして、の場合には、サンプリング周期tに反応周期
τが入ってしまうので、第4図(c)に示すように干渉計
の基準信号に同期させて繰り返し刺激を与え、一定の遅
延時間Δτで測定を行い、同じ遅延時間のデータを編集
してインタフェログラムにすることによって或る状態の
スペクトルを取り出すことになる。Then, in the case of, since the reaction period τ is included in the sampling period t, as shown in FIG. 4 (c), repetitive stimulation is given in synchronization with the reference signal of the interferometer, and with a constant delay time Δτ. A spectrum of a certain state is taken out by making a measurement and editing the data of the same delay time to make an interferogram.
しかし、特に上記の場合には、干渉計の持つ基準信号
との同期が必要であると共に、非常に速い測定が必要で
ある。例えばサンプリグ周期tが100μSで100点
の測定を行おうとすると、1μSの時間で測定を繰り返
すことになり、移動鏡の1回のスキャンで非常に大容量
のデータを取り込み処理しなければならなくなる。しか
も、測定後に各データを識別して同じ遅延時間のデータ
を編集しなければならない。そうすると、FT−IRと
しては、高速のサンプリング機構やデータ編集機能等、
従来備えていない機能を付加しなければならなくなる。However, especially in the above case, it is necessary to synchronize with the reference signal of the interferometer and to perform very fast measurement. For example, if an attempt is made to measure 100 points with a sampling cycle t of 100 μS, the measurement will be repeated in a time of 1 μS, and a very large amount of data must be captured and processed in one scan of the moving mirror. Moreover, it is necessary to identify each data after the measurement and edit the data having the same delay time. Then, as FT-IR, high-speed sampling mechanism, data editing function, etc.
It becomes necessary to add functions that were not previously provided.
また、反応周期がサンプリング時間より短くなると、反
応終了後、次のサンプリングまで無駄時間が生じ、測定
効率が悪くなる。Further, when the reaction cycle is shorter than the sampling time, a dead time is generated until the next sampling after the reaction is completed, and the measurement efficiency is deteriorated.
さらに、上記の例の場合には、干渉計の持つ基準信号と
同期して刺激を与えているが、このような同期をとるこ
とが難しく、自然に周期的な刺激が励起されるものの場
合には、上記の方法では測定ができないという問題があ
る。Furthermore, in the case of the above example, the stimulus is given in synchronization with the reference signal of the interferometer, but it is difficult to achieve such synchronization, and in the case where a periodic stimulus is naturally excited. Has a problem that it cannot be measured by the above method.
本発明は、上記の課題を解決するものであって、干渉計
の持つ基準信号とは非同期で対象の反応周期の速いサン
プルの測定が可能な特分解分光測定装置を提供すること
を目的とする。The present invention is to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a special resolution spectroscopic measurement device capable of measuring a sample having a fast reaction cycle of an object asynchronously with a reference signal of an interferometer. .
そのために本発明は、刺激発生手段により周期的に刺激
を発生して測定対象に繰り返し与え、ラピッドスキャン
干渉計を用いた検出器出力をサンプリングして刺激より
ある遅延時間に対するインタフェログラムを取得し、フ
ーリエ変換によりスペクトルを得ることによって、刺激
に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を
測定する時分解分光測定装置であって、検出器出力をゲ
ートするゲート回路、該ゲート手段に接続されたローパ
スフィルタ、及び刺激に同期して所定時間遅らせてゲー
ト回路を制御する遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信
号と非同期で刺激を発生させ、測定したい遅延時間だけ
遅らせて検出器出力をサンプリングするように構成した
ことを特徴とするものである。Therefore, the present invention, by repeatedly generating a stimulus by the stimulus generating means to the measurement object repeatedly, sampling the detector output using a rapid scan interferometer to obtain an interferogram for a certain delay time from the stimulus, A time-resolved spectroscopic measurement device for measuring a reaction state of a measurement object that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining a spectrum by Fourier transform, and a gate circuit for gated a detector output, which is connected to the gate means. Equipped with a low-pass filter and a delay unit that controls the gate circuit by delaying for a predetermined time in synchronization with the stimulus, the stimulus is generated asynchronously with the reference signal of the interferometer, and the detector output is sampled after delaying the delay time to be measured. It is characterized in that it is configured to.
本発明の時分解分光特定装置では、検出器出力をゲート
するゲート回路、該ゲート手段に接続されたローパスフ
ィルタ、及び刺激に同期して所定時間遅らせてゲート回
路を制御する遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信号と
非同期で刺激を発生させ、測定したい遅延時間だけ遅ら
せて検出器出力をサンプリングするので、ある遅延時間
に対するインタフェログラムを取得し、フーリエ変換に
よりスペクトルを得ることができ、さらに、次々に遅延
時間を変えて同様に測定することにより、別の遅延時間
に対する一連の時系列スペクトルを得ることができる。
しかも、刺激発生器の制約がなくなるので、速い反応に
も干渉計の持つ基準信号とは関係なく刺激の周波数を上
げて測定することができる。また、ラピッドスキャン干
渉計を用いた従来の装置においても、システムの大幅な
変更をすることなく簡単な手段を付加することにより実
現することができる。The time-resolved spectroscopic spectroscope of the present invention includes a gate circuit that gates the detector output, a low-pass filter connected to the gate means, and a delay means that delays a predetermined time in synchronization with the stimulus to control the gate circuit. A stimulus is generated asynchronously with the reference signal of the meter, and the detector output is sampled with a delay time to be measured, so an interferogram for a certain delay time can be obtained and a spectrum can be obtained by Fourier transform. A series of time-series spectra for different delay times can be obtained by changing delay times one after another and performing the same measurement.
Moreover, since there is no restriction on the stimulus generator, it is possible to increase the frequency of the stimulus and measure the fast reaction regardless of the reference signal of the interferometer, even for fast reaction. Further, even in the conventional apparatus using the rapid scan interferometer, it can be realized by adding a simple means without significantly changing the system.
以下、図面を参照しつつ実施例を説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明に係る時分解分光測定装置の1実施例構
成を示す図、第2図は本発明に係る時分解分光測定装置
の動作を説明するための波形図である。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the time-resolved spectroscopic measurement device according to the present invention, and FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectroscopic measurement device according to the present invention.
第1図において、1は光源、2は干渉計、3は試料、4
は刺激発生器、5は可変型遅延回路、6は検知器、7は
プリアンプ、8はゲート回路、9はローパスフィルタ、
10はメインアンプ、11はAD変換器、12はCPU
を示す。刺激発生器4は、第2図に示すように干渉計2
の持つ基準信号(a)と非同期で一定周期t′の刺激(ト
リガー)(b)を発生するものであり、可変型遅延回路5
は、刺激発生器4の同期信号から一定時間Δτ′遅延し
たトリガーを生成してゲート回路8を制御するものであ
る。ゲート回路8は、AD変換器と同様に周期t′に対
して十分狭いゲート幅を持ったものであり、その間だけ
信号を通すことによって、同図(d)に示すように櫛状の
信号を得る。つまり、繰り返しの信号に対し刺激よりあ
る遅延時間でゲートをかけて刺激に対して一定の遅延時
間の信号のみをサンプリングし、櫛状のインタフェログ
ラムを得る。ローパスフィルタ9は、ゲート回路8の出
力から得られる高調波を除去してゲート回路8の出力の
包絡線を得るために用いるものである。この結果、櫛状
のインタフェログラムは、通常のアナログ信号に変換さ
れる。In FIG. 1, 1 is a light source, 2 is an interferometer, 3 is a sample, and 4
Is a stimulus generator, 5 is a variable delay circuit, 6 is a detector, 7 is a preamplifier, 8 is a gate circuit, 9 is a low-pass filter,
10 is a main amplifier, 11 is an AD converter, 12 is a CPU
Indicates. The stimulus generator 4 includes an interferometer 2 as shown in FIG.
The stimulus (trigger) (b) having a constant period t'is generated asynchronously with the reference signal (a) of the variable delay circuit 5
Is to control the gate circuit 8 by generating a trigger delayed from the synchronization signal of the stimulus generator 4 by Δτ ′. The gate circuit 8 has a sufficiently narrow gate width with respect to the cycle t ', like the AD converter. By passing a signal only during that period, a comb-shaped signal as shown in FIG. obtain. That is, the repetitive signal is gated with a certain delay time from the stimulus, and only the signal having a constant delay time with respect to the stimulus is sampled to obtain a comb-shaped interferogram. The low-pass filter 9 is used to remove harmonics obtained from the output of the gate circuit 8 and obtain an envelope of the output of the gate circuit 8. As a result, the comb-shaped interferogram is converted into a normal analog signal.
上記本発明のシステムに用いられる試料3は、反応が刺
激に対して繰り返し同じ応答を示す測定対象であり、対
象の反応周期τがインタフェログラムの各点のサンプリ
ング間隔tより短いものである。The sample 3 used in the system of the present invention is a measurement object in which the reaction repeatedly shows the same response to the stimulus, and the reaction cycle τ of the object is shorter than the sampling interval t at each point of the interferogram.
上記の構成によれば、試料3が変化しないときの検知器
6の出力は、 F(x)=∫B(σ)(1+ cos2πσx)dσ (σ;波数=1/λ) ……(1) となるが、試料3に刺激が与えられると、一定の遅れΔ
τ′でゲートされたときの検知器6の出力は、等間隔に
サンプリングするので、デルタ関数を等間隔にしたコム
関数IIItを含み、 F′(x)=∫B′(σ,Δτ′)IIIt′(t−Δτ′) (1+ cos2πσx)dσ ……(2) となる。ここで、干渉計の移動鏡の速度をvとすると、
x=2vtであるが、周期的に与える刺激が移動鏡との
移動と非同期であるので位相関係はない。上記(2)式の
(1+ cos2πσx)において、 cos2πσxのかかっ
ている項だけがスペクトルに変換できるので、この項の
みを抜き出すと、その出力は、 F″(x)=IIIt′(t−Δτ′) ∫B′(σ,Δτ′) cos2πσxdσ となる。そこで、この信号をローパスフィルタ9に通し
たときに得られる出力を見るため、 IIIt′(t−Δτ′) をtでフーリエ変換すると、 となり、同じくコム関数になる。しかも、サンプリング
した間隔の逆数の間隔で出る。したがって、ローパスフ
ィルタ9を通すと、 F(x)=1/t′∫B′(σ,Δτ′) cos2πσxdσ……(4) となり、これが出力として得られる。この(4)式を上記
の(1)式と比較すると、F″(x)の式は、刺激を与えてか
らΔτ′だけ遅延した時の試料の状態のインタフェログ
ラムを得たことを示している。したがって、信号の持つ
波数帯域で決まるサンプリング間隔でAD変換すればよ
い。According to the above configuration, the output of the detector 6 when the sample 3 does not change is: F (x) = ∫B (σ) (1 + cos2πσx) dσ (σ; wave number = 1 / λ) (1) However, when a stimulus is applied to the sample 3, a constant delay Δ
Since the output of the detector 6 when it is gated by τ ′ is sampled at equal intervals, it includes a comb function III t in which the delta function is equally spaced, and F ′ (x) = ∫B ′ (σ, Δτ ′ ) III t ′ (t−Δτ ′) (1 + cos2πσx) dσ (2) Here, if the speed of the moving mirror of the interferometer is v,
Although x = 2vt, there is no phase relationship because the stimulus periodically given is asynchronous with the movement with the moving mirror. In (1 + cos2πσx) of the equation (2), only the term with cos2πσx can be converted into a spectrum. Therefore, if only this term is extracted, the output is F ″ (x) = III t ′ (t−Δτ ′) ∫B ′ (σ, Δτ ′) cos2πσ × dσ Therefore, in order to see the output obtained when this signal is passed through the low-pass filter 9, III t ′ (t−Δτ ′) is Fourier-transformed by t. , And also becomes a comb function. Moreover, it appears at the reciprocal interval of the sampled interval. Therefore, when passing through the low-pass filter 9, F (x) = 1 / t′∫B ′ (σ, Δτ ′) cos2πσxdσ (4), which is obtained as an output. Comparing this expression (4) with the above expression (1), it is shown that the expression F ″ (x) gives an interferogram of the state of the sample when delayed by Δτ ′ after the stimulation is given. Therefore, AD conversion may be performed at a sampling interval determined by the wave number band of the signal.
なお、本発明は、上記の実施例に限定されるものではな
く、種々の変形が可能である。例えば上記ゲート回路そ
のものの機能をAD変換器で行わせるようにしてもよ
い。この場合には、移動鏡の各スキャン毎に位相が異な
るので、1スキャン毎のインタフェログラムをFTでフ
ェーズコレクションを行ってスペクトルにした後積算す
ることになる。また、検知器への供給電圧を刺激発生器
からのトリガー信号に同期させてオン/オフする等によ
りゲート回路の代わりを行うようにしてもよい。さらに
は、パルスレーザを試料に照射するFTラマン(τ′=
0)やFTホトルミにも同様に適用することができる。
この場合には、第3図に示すようにパルスレーザ26を
試料21に直接当て、試料21からの光を干渉計22を
通して検知器23で取り込み、第1図に示した実施例と
同様の処理を行う。また、前者では、τ′=0とするの
で、ゲート回路25と遅延回路27を省いてプリアンプ
24に直接ローパスフィルタを接続してもよいし、実質
的に同等の信号処理ができるように遅延回路27を設定
してもよい。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made. For example, the function of the gate circuit itself may be performed by the AD converter. In this case, since the phase is different for each scan of the movable mirror, the interferogram for each scan is phase-corrected by FT to obtain a spectrum and then integrated. Further, the gate circuit may be replaced by turning on / off the voltage supplied to the detector in synchronization with the trigger signal from the stimulus generator. Furthermore, FT Raman (τ ′ =) that irradiates the sample with the pulsed laser
0) and FT Hotorumi can be similarly applied.
In this case, as shown in FIG. 3, the pulse laser 26 is directly applied to the sample 21, the light from the sample 21 is taken in by the detector 23 through the interferometer 22, and the same processing as that of the embodiment shown in FIG. 1 is performed. I do. Further, in the former case, since τ ′ = 0, the gate circuit 25 and the delay circuit 27 may be omitted and the low-pass filter may be directly connected to the preamplifier 24, or the delay circuit may be provided so that substantially equivalent signal processing can be performed. 27 may be set.
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、刺激
を干渉計の持つ基準信号と非同期で与えることができる
ので、刺激に対する制約を大幅に緩和することができ
る。また、速い反応には、刺激周波数を上げることがで
きるので、測定効率の向上を計ることができる。さらに
は、一般に普及しているラピッドスキャン干渉計を持っ
た装置に刺激発生器、可変型遅延回路、ゲート回路、ロ
ーパスフィルタを加えることにより、データサンプリン
グ回路やデータ編集ソフト等、システムの大幅な変更を
必要とせず実施できる。As is clear from the above description, according to the present invention, the stimulus can be applied asynchronously with the reference signal of the interferometer, so that the constraint on the stimulus can be greatly relaxed. In addition, since the stimulation frequency can be increased for a fast reaction, the measurement efficiency can be improved. Furthermore, by adding a stimulus generator, a variable delay circuit, a gate circuit, and a low-pass filter to a device with a popularized rapid scan interferometer, the data sampling circuit, data editing software, etc. can be drastically changed. Can be implemented without the need for.
第1図は本発明に係る時分解分光測定装置の1実施例構
成を示す図、第2図は本発明に係る時分解分光測定装置
の動作を説明するための波形図、第3図は本発明の他の
実施例を示す図、第4図は時分解分光装置の従来例を説
明するための図である。 1……光源、2……干渉計、3……試料、4……刺激発
生器、5……可変型遅延回路、6……検知器、7……プ
リアンプ、8……ゲート回路、9……ローパスフィル
タ、10……メインアンプ、11……AD変換器、12
……CPU。FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the time-resolved spectroscopic measurement device according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the time-resolved spectroscopic measurement device according to the present invention, and FIG. FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the invention, and FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional example of a time-resolved spectroscopic device. 1 ... Light source, 2 ... Interferometer, 3 ... Sample, 4 ... Stimulator, 5 ... Variable delay circuit, 6 ... Detector, 7 ... Preamplifier, 8 ... Gate circuit, 9 ... … Low-pass filter, 10 …… Main amplifier, 11 …… AD converter, 12
... CPU.
Claims (2)
て測定対象に繰り返し与え、ラピッドスキャン干渉計を
用いた検出器出力をサンプリングして刺激よりある遅延
時間に対するインタフェログラムを取得し、フーリエ変
換によりスペクトルを得ることによって、刺激に対して
繰り返し同じ応答を示す測定対象の反応状態を測定する
時分解分光測定装置であって、検出器出力をゲートする
ゲート回路、該ゲート手段に接続されたローパスフィル
タ、及び刺激に同期して所定時間遅らせてゲート回路を
制御する遅延手段を備え、干渉計の持つ基準信号と非同
期で刺激を発生させ、測定したい遅延時間だけ遅らせて
検出器出力をサンプリングするように構成したことを特
徴とする時分解分光測定装置。1. A stimulus generation unit periodically generates a stimulus and repeatedly applies it to a measurement target, samples a detector output using a rapid scan interferometer to obtain an interferogram for a certain delay time from the stimulus, and Fourier A time-resolved spectroscopic measurement device for measuring a reaction state of a measurement object that repeatedly shows the same response to a stimulus by obtaining a spectrum by conversion, and a gate circuit for gated a detector output, which is connected to the gate means. Equipped with a low-pass filter and a delay unit that controls the gate circuit by delaying for a predetermined time in synchronization with the stimulus, the stimulus is generated asynchronously with the reference signal of the interferometer, and the detector output is sampled after delaying the delay time to be measured. A time-resolved spectroscopic measurement device having the above structure.
るようにしたことを特徴とする請求項1記載の時分解分
光測定装置。2. The time-resolved spectroscopic measurement device according to claim 1, wherein a pulsed laser is applied as a stimulus to the measurement target.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23020989A JPH0640068B2 (en) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Time-resolved spectrophotometer |
| US07/577,636 US5021661A (en) | 1989-09-04 | 1990-09-04 | Time-resolved infrared spectrophotometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23020989A JPH0640068B2 (en) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Time-resolved spectrophotometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0392750A JPH0392750A (en) | 1991-04-17 |
| JPH0640068B2 true JPH0640068B2 (en) | 1994-05-25 |
Family
ID=16904282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23020989A Expired - Fee Related JPH0640068B2 (en) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | Time-resolved spectrophotometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640068B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105548036B (en) * | 2015-12-08 | 2018-04-06 | 上海理工大学 | A kind of adaptive double light comb spectroscopic systems |
-
1989
- 1989-09-04 JP JP23020989A patent/JPH0640068B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0392750A (en) | 1991-04-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5251008A (en) | Fourier transform spectroscopy and spectrometer | |
| US4086652A (en) | Method and apparatus for analyzing a time-dependent phenomenon | |
| Hartland et al. | Time‐resolved Fourier transform spectroscopy with 0.25 cm− 1 spectral and< 10− 7 s time resolution in the visible region | |
| US5021661A (en) | Time-resolved infrared spectrophotometer | |
| WO2006092874A1 (en) | High-resolution high-speed terahertz spectrometer | |
| US5245406A (en) | Fourier transform spectroscopy and spectrometer | |
| JPH0640068B2 (en) | Time-resolved spectrophotometer | |
| JP2708603B2 (en) | Time-resolved spectrometer | |
| JP2708602B2 (en) | Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source | |
| JP2806615B2 (en) | Time-resolved spectroscopy | |
| US5196903A (en) | Pulsed light source spectrometer with interferometer | |
| JP2656646B2 (en) | Time-resolved spectroscopy | |
| JP2806616B2 (en) | Time-resolved spectroscopy | |
| JP2810803B2 (en) | Time-resolved Fourier transform spectroscopy | |
| JP2970697B2 (en) | Background removal Fourier transform spectroscopy | |
| JP2810802B2 (en) | Time-resolved Fourier transform spectroscopy | |
| JP2970700B2 (en) | Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source | |
| JP2810798B2 (en) | Time-resolved Fourier spectroscopy | |
| JP2970709B2 (en) | Background removal time-resolved Fourier spectroscopy | |
| JPH0579915A (en) | Time-resolved fourier spectrometry | |
| JP3214886B2 (en) | Time-resolved Fourier transform spectrometer | |
| JPH03195952A (en) | Time division spectroscopic measuring apparatus | |
| JP2818042B2 (en) | Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source | |
| JP2818043B2 (en) | Fourier transform spectroscopy using a pulsed light source | |
| Fateley et al. | Department of Chemistry, Kansas State University, Manhattan, KS 66506 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 15 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090525 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |