JPH0640458B2 - 弱電用開閉接点とその製造法 - Google Patents
弱電用開閉接点とその製造法Info
- Publication number
- JPH0640458B2 JPH0640458B2 JP59130683A JP13068384A JPH0640458B2 JP H0640458 B2 JPH0640458 B2 JP H0640458B2 JP 59130683 A JP59130683 A JP 59130683A JP 13068384 A JP13068384 A JP 13068384A JP H0640458 B2 JPH0640458 B2 JP H0640458B2
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- carbon fibers
- manufacturing
- carbon fiber
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
- H01H1/021—Composite material
- H01H1/027—Composite material containing carbon particles or fibres
Landscapes
- Contacts (AREA)
- Manufacture Of Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は弱電用接点に関し、特に最小電流の接続を長期
間にわたり安定して行なうことができる新規な開閉接点
とその製造法に関するものである。
間にわたり安定して行なうことができる新規な開閉接点
とその製造法に関するものである。
従来、各種電子機器のスイッチ等に用いられる電気接続
部には貴金属からなる接点が使用され、特に集積回路半
導体(IC)への信号伝達に用いられるスイッチでは、
微弱電流のON−OFFを数十乃至数千万回にわたって
正確に動作することが要求されるため、Au又はAu合
金接点が用いられている。微弱電流の電気接続部には表
面の稀薄な腐食被膜でも電気接触抵抗を顕著に高めるた
め、貴金属の中で最も安定なAuが用いられ、Agでは
硫化し易く、PbやPt族金属では塩化物を発生する傾
向があり、特に稀薄有機蒸気と触媒的に反応して絶縁性
有機ポリマーを析出し易いため、不適当な場合が多い。
部には貴金属からなる接点が使用され、特に集積回路半
導体(IC)への信号伝達に用いられるスイッチでは、
微弱電流のON−OFFを数十乃至数千万回にわたって
正確に動作することが要求されるため、Au又はAu合
金接点が用いられている。微弱電流の電気接続部には表
面の稀薄な腐食被膜でも電気接触抵抗を顕著に高めるた
め、貴金属の中で最も安定なAuが用いられ、Agでは
硫化し易く、PbやPt族金属では塩化物を発生する傾
向があり、特に稀薄有機蒸気と触媒的に反応して絶縁性
有機ポリマーを析出し易いため、不適当な場合が多い。
Au接点においても有機ポリマーなどの析出の可能性が
あり、また大気汚染ガス、例えばSO2とNH3から
(NH4)2SO4が析出することが知られている。ま
たAuは高価な貴金属であり、これを経済的に使用する
ため、Cu等の基材に可及的に局在化した小さいAu接
点を形成することが望まれているが、局在化すると基材
の腐食物、例えばCu2S等がAu表面にクリープして
絶縁被膜を迅速に生成するところからAu接点の局材化
には限界がある。またAu接点の局材化は単位面積当り
の接点荷重を増大し、これが接点部の疲労や変形の原因
となるため、長寿命のスイッチ等には不都合なものであ
った。
あり、また大気汚染ガス、例えばSO2とNH3から
(NH4)2SO4が析出することが知られている。ま
たAuは高価な貴金属であり、これを経済的に使用する
ため、Cu等の基材に可及的に局在化した小さいAu接
点を形成することが望まれているが、局在化すると基材
の腐食物、例えばCu2S等がAu表面にクリープして
絶縁被膜を迅速に生成するところからAu接点の局材化
には限界がある。またAu接点の局材化は単位面積当り
の接点荷重を増大し、これが接点部の疲労や変形の原因
となるため、長寿命のスイッチ等には不都合なものであ
った。
本発明はこれに鑑み種々研究・実線の結果、微弱電流用
として広範囲の環境、使用条件において長期間にわたり
電気接続を安定して行なうことができる新規な弱電用開
閉接点とその製造法を開発したものである。
として広範囲の環境、使用条件において長期間にわたり
電気接続を安定して行なうことができる新規な弱電用開
閉接点とその製造法を開発したものである。
即ち本発明接点は金属からなる電気接点面に、多数のカ
ーボンファイバーを突設したことを特徴とするものであ
り、本発明製造法はカーボンファイバーの少なくとも一
部を一方に配向して金属を複合し、該複合材をカーボン
ファイバーの配向方向と直角に切断し、該切断面をエッ
チングして多数のカーボンファイバーを突出させること
を特徴とするものである。
ーボンファイバーを突設したことを特徴とするものであ
り、本発明製造法はカーボンファイバーの少なくとも一
部を一方に配向して金属を複合し、該複合材をカーボン
ファイバーの配向方向と直角に切断し、該切断面をエッ
チングして多数のカーボンファイバーを突出させること
を特徴とするものである。
本発明の弱電用開閉接点は上記の如く金属からなる電気
接点面に、多数のカーボンファイバーを例えば1〜10μ
程度の高さに突設したもので、カーボンファイバーの少
なくとも一部を一方向に配向した金属との複合材をカー
ボンファイバーの配向方向と直角に切断し、該切断面を
エッチングしてカーボンファイバーを突出させることに
より造られる。複合材はカーボンファイバーに金属を被
覆し、これを少なくとも一部を一方向に配向してポット
プレスにより一体化するか、又はカーボンファイバーの
少なくとも一部を一方向に配向し、これに溶融金属を圧
入含浸して一体化することにより造られる。カーボンフ
ァイバーの配向は一部が一方向に配列され、残りはこれ
と二次元方向や三次元方向、或いはランダムに配列して
もよい。またこの複合材の切断面をエッチングしてカー
ボンファイバーを突出させるには化学薬液を用いる。こ
の薬液としてはカーボンファイバーと複合した金属によ
り任意に選定する。
接点面に、多数のカーボンファイバーを例えば1〜10μ
程度の高さに突設したもので、カーボンファイバーの少
なくとも一部を一方向に配向した金属との複合材をカー
ボンファイバーの配向方向と直角に切断し、該切断面を
エッチングしてカーボンファイバーを突出させることに
より造られる。複合材はカーボンファイバーに金属を被
覆し、これを少なくとも一部を一方向に配向してポット
プレスにより一体化するか、又はカーボンファイバーの
少なくとも一部を一方向に配向し、これに溶融金属を圧
入含浸して一体化することにより造られる。カーボンフ
ァイバーの配向は一部が一方向に配列され、残りはこれ
と二次元方向や三次元方向、或いはランダムに配列して
もよい。またこの複合材の切断面をエッチングしてカー
ボンファイバーを突出させるには化学薬液を用いる。こ
の薬液としてはカーボンファイバーと複合した金属によ
り任意に選定する。
カーボンファイバーと複合する金属としては、貴金属を
用いることが望ましいが、Cu、Ni、A、Sn又は
これ等の合金も用いることもできる。このような卑金属
を用いた場合には、切断後のエッチングに続いて該エッ
チング面にAu、Ag、Pbなどの貴金属を電気メッキ
や蒸着等により被覆することが望ましく、特にAuが不
可欠の微弱電流用においては、エッチング後にAuを所
望厚さまで被覆することが望ましい。
用いることが望ましいが、Cu、Ni、A、Sn又は
これ等の合金も用いることもできる。このような卑金属
を用いた場合には、切断後のエッチングに続いて該エッ
チング面にAu、Ag、Pbなどの貴金属を電気メッキ
や蒸着等により被覆することが望ましく、特にAuが不
可欠の微弱電流用においては、エッチング後にAuを所
望厚さまで被覆することが望ましい。
電気接点面に突設したカーボンファイバーは相手側接点
表面上に発生した被膜を破壊して電気接触抵抗を低い値
に保持し、更にカーボンファイバー自体が導電体として
作用すると共に、電気接点の機械的強度や耐摩耗性の向
上にも寄与する。即ちカーボンファイバーは直径約1〜
20μの炭素繊維であり、PAN系、ピッチ系などの製法
にもよるが、引張強度200〜300kg/mm2、弾性率10〜100
×103kg/mm2の特性を有し、通常の接点金属やその表面
被膜よりも強度が大きく、上記の作用を有効に発揮す
る。
表面上に発生した被膜を破壊して電気接触抵抗を低い値
に保持し、更にカーボンファイバー自体が導電体として
作用すると共に、電気接点の機械的強度や耐摩耗性の向
上にも寄与する。即ちカーボンファイバーは直径約1〜
20μの炭素繊維であり、PAN系、ピッチ系などの製法
にもよるが、引張強度200〜300kg/mm2、弾性率10〜100
×103kg/mm2の特性を有し、通常の接点金属やその表面
被膜よりも強度が大きく、上記の作用を有効に発揮す
る。
PAN系高弾性方カーボンファイバー(平均線径7.5
μ)にCuを4μの厚さにメッキし、これを一方向に配
列してH2雰囲気中、1000℃で30分間ホットプレスし、
外径約10mmの複合材を製造した。これを厚さ5mmに輪切
りにし、切断面の一方をテープ絶縁して、他方の切断面
をH2SO4 100g/浴中、5A/dm2の電流密度に
より電解エッチングし、厚さ約3μを溶出させてカーボ
ンファイバーを突出させた。次にカーボンファイバー突
出面に、日本エンゲルハード社製Auメッキ液E−77を
用い、電流密度、1.0A/dm2で厚さ1.25μのAuメッキ
を施した。
μ)にCuを4μの厚さにメッキし、これを一方向に配
列してH2雰囲気中、1000℃で30分間ホットプレスし、
外径約10mmの複合材を製造した。これを厚さ5mmに輪切
りにし、切断面の一方をテープ絶縁して、他方の切断面
をH2SO4 100g/浴中、5A/dm2の電流密度に
より電解エッチングし、厚さ約3μを溶出させてカーボ
ンファイバーを突出させた。次にカーボンファイバー突
出面に、日本エンゲルハード社製Auメッキ液E−77を
用い、電流密度、1.0A/dm2で厚さ1.25μのAuメッキ
を施した。
相手側接点に先端を半径10mmの曲面としたCu棒を用
い、その表面に下記条件で厚さ1.5μのNiメッキを施
し、その上にAu又はAgを1.25μの厚さにメッキし
た。
い、その表面に下記条件で厚さ1.5μのNiメッキを施
し、その上にAu又はAgを1.25μの厚さにメッキし
た。
Auメッキ E−77(日本エンゲルハード社製 Auメッキ液) 電流密度 2.5Adm2 前記両接点について、長期実用環境での劣化状況を加速
的に試験するため、下記の稀薄混合ガス試験槽内に100
時間保持した後、本発明接点上に相手側接点を25gの荷
重で押当て、10mAの直流電流を通電して接触抵抗を測定
した。これ等の結果を従来のCu板上に厚さ1.25μのA
uメッキやAメッキを施した接点の場合と比較して第
1表に示す。
的に試験するため、下記の稀薄混合ガス試験槽内に100
時間保持した後、本発明接点上に相手側接点を25gの荷
重で押当て、10mAの直流電流を通電して接触抵抗を測定
した。これ等の結果を従来のCu板上に厚さ1.25μのA
uメッキやAメッキを施した接点の場合と比較して第
1表に示す。
C2 20ppm NO2 200ppm H2S 100ppm 湿度 75% 温度 30℃ 第1表から明らかなように、従来接点NO.3,4では何れも
接触抵抗が高い値となり、使用中の劣化が著しいことが
判る。これに対し本発明接点NO.1,2では、何れも接触抵
抗が低い値にとどまり、使用中ほとんど劣化しないこと
が判る。
接触抵抗が高い値となり、使用中の劣化が著しいことが
判る。これに対し本発明接点NO.1,2では、何れも接触抵
抗が低い値にとどまり、使用中ほとんど劣化しないこと
が判る。
以上本発明接点を、固定側の接点として用いた場合を想
定した実験であるが、実際には本発明接点の小片を、基
板やばね材にろう付け等により固定されて用いられるこ
とが多く、固定接点は勿論、可動接点として使用するこ
とができる。
定した実験であるが、実際には本発明接点の小片を、基
板やばね材にろう付け等により固定されて用いられるこ
とが多く、固定接点は勿論、可動接点として使用するこ
とができる。
このように本発明によれば、各種電子機器の弱電用開閉
接点として、長期間安定した特性を維持することができ
るもので、近年のエレクトロニクスの要求に応じること
ができる顕著な効果を奏するものである。
接点として、長期間安定した特性を維持することができ
るもので、近年のエレクトロニクスの要求に応じること
ができる顕著な効果を奏するものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−74274(JP,A) 特公 昭49−12947(JP,B1)
Claims (4)
- 【請求項1】金属からなる電気接点面に、多数のカーボ
ンファイバーを突設したことを特徴とする弱電用開閉接
点。 - 【請求項2】少なくとも電気接点面を貴金属で形成する
特許請求の範囲第1項記載の弱電用開閉接点。 - 【請求項3】カーボンファイバーの少なくとも一部を一
方向に配向して金属を複合し、該複合材をカーボンファ
イバーの配向方向と直角に切断し、該切断面をエッチン
グして多数のカーボンファイバーを突出させることを特
徴とする弱電用開閉接点の製造法。 - 【請求項4】多数のカーボンファイバーを突出させたエ
ッチング面に貴金属を被覆する特許請求の範囲第3項記
載の弱電用開閉接点の製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130683A JPH0640458B2 (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 弱電用開閉接点とその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59130683A JPH0640458B2 (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 弱電用開閉接点とその製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6110815A JPS6110815A (ja) | 1986-01-18 |
| JPH0640458B2 true JPH0640458B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=15040115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59130683A Expired - Lifetime JPH0640458B2 (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | 弱電用開閉接点とその製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640458B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4912947A (ja) * | 1972-05-18 | 1974-02-04 | ||
| JPS6010410B2 (ja) * | 1976-12-15 | 1985-03-16 | 松下電工株式会社 | 複合めつき接点 |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP59130683A patent/JPH0640458B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6110815A (ja) | 1986-01-18 |
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