JPH0650286B2 - 発光体の残光特性測定装置 - Google Patents
発光体の残光特性測定装置Info
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- JPH0650286B2 JPH0650286B2 JP59097831A JP9783184A JPH0650286B2 JP H0650286 B2 JPH0650286 B2 JP H0650286B2 JP 59097831 A JP59097831 A JP 59097831A JP 9783184 A JP9783184 A JP 9783184A JP H0650286 B2 JPH0650286 B2 JP H0650286B2
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- afterglow
- output
- emission
- excitation light
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、たとえば蛍光体、燐光体などの発光体の発
光、残光特性を測定する発光体の残光特性測定装置に関
する。
光、残光特性を測定する発光体の残光特性測定装置に関
する。
［発明の技術的背景］ 従来、たとえば郵便切手などに塗布された蛍光体または
燐光体（以降、発光体と称す）が検出可能か否かを調べ
る場合、蛍光検査灯などの励起光源によつて励起光を被
測定物に照射し、その発光または残光を目視で観察した
り、あるいは発光体の検出器が搭載された機械にかけて
調べていた。
燐光体（以降、発光体と称す）が検出可能か否かを調べ
る場合、蛍光検査灯などの励起光源によつて励起光を被
測定物に照射し、その発光または残光を目視で観察した
り、あるいは発光体の検出器が搭載された機械にかけて
調べていた。
［背景技術の問題点］ しかしながら、目視での観察はその人の勘などにたよ
り、定量的な値として判断することができず、また機械
によつて調べても、その機械が特定の検出物の仕様で出
来ているため、真の特性がわからなかつたりして、発光
体の検出器の仕様などを定めにくく、支障をきたした。
り、定量的な値として判断することができず、また機械
によつて調べても、その機械が特定の検出物の仕様で出
来ているため、真の特性がわからなかつたりして、発光
体の検出器の仕様などを定めにくく、支障をきたした。
［発明の目的］ 本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、発光体の発光、残光特性などを定量的に
かつ正確に測定することができる発光体の残光特性測定
装置を提供することにある。
するところは、発光体の発光、残光特性などを定量的に
かつ正確に測定することができる発光体の残光特性測定
装置を提供することにある。
［発明の概要］ 本発明は上記目的を達成するために、発光体の発光出力
時の発光ピークの発光出力値および残光出力時の所定点
の残光出力値をそれぞれ数値化して表し、それを表示あ
るいは記録出力するようにしたものである。
時の発光ピークの発光出力値および残光出力時の所定点
の残光出力値をそれぞれ数値化して表し、それを表示あ
るいは記録出力するようにしたものである。
［発明の実施例］ 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図において、１は筐体で、この筐体１の上部には操
作部２が形成されている。上記操作部２の垂直面には操
作パネル３が設けられているとともに、水平面には被測
定物をセツトする測定窓４が形成されており、この測定
窓４にはカバー５が開閉自在に設けられている。そし
て、操作部２と対応する筺体１内には、水銀放電灯など
の励起光源６、ミラー７、結像レンズ８、光学フイルタ
９、光電子増倍管などの光電変換器１０がそれぞれ設け
られている。すなわち、励起光源６によつて測定窓４に
セツトされた被測定物に励起光が照射され、その励起光
の照射による被測定物からの発光はミラー７で反射さ
れ、結像レンズ８および光学フイルタ９を通つて光電変
換器１０に入射し、電気信号に変換されるようになつて
いる。なお、図中、１１は後述するように数値化された
発光出力、残光出力を用紙１２にプリントアウトするプ
リンタ、１３は電源部、１４は後述する電気回路などが
組込まれるプリント基板である。
作部２が形成されている。上記操作部２の垂直面には操
作パネル３が設けられているとともに、水平面には被測
定物をセツトする測定窓４が形成されており、この測定
窓４にはカバー５が開閉自在に設けられている。そし
て、操作部２と対応する筺体１内には、水銀放電灯など
の励起光源６、ミラー７、結像レンズ８、光学フイルタ
９、光電子増倍管などの光電変換器１０がそれぞれ設け
られている。すなわち、励起光源６によつて測定窓４に
セツトされた被測定物に励起光が照射され、その励起光
の照射による被測定物からの発光はミラー７で反射さ
れ、結像レンズ８および光学フイルタ９を通つて光電変
換器１０に入射し、電気信号に変換されるようになつて
いる。なお、図中、１１は後述するように数値化された
発光出力、残光出力を用紙１２にプリントアウトするプ
リンタ、１３は電源部、１４は後述する電気回路などが
組込まれるプリント基板である。
第２図は電気回路を示すものである。すなわち、前記光
電変換器１０の出力信号はＡ／Ｄ変換器１５に供給さ
れ、このＡ／Ｄ変換器１５の出力は演算部１６に供給さ
れる。これらＡ／Ｄ変換器１５および演算部１６は制御
部１７に接続されていて、この制御部１７によつて制御
される。また、制御部１７には、前記操作パネル３、励
起光源６、プリンタ１１、および前記操作パネル３内に
設けられた表示器１８がそれぞれ接続されている。な
お、励起光源６は、制御部１７によつて所定の周期でパ
ルス点灯されるようになつている。
電変換器１０の出力信号はＡ／Ｄ変換器１５に供給さ
れ、このＡ／Ｄ変換器１５の出力は演算部１６に供給さ
れる。これらＡ／Ｄ変換器１５および演算部１６は制御
部１７に接続されていて、この制御部１７によつて制御
される。また、制御部１７には、前記操作パネル３、励
起光源６、プリンタ１１、および前記操作パネル３内に
設けられた表示器１８がそれぞれ接続されている。な
お、励起光源６は、制御部１７によつて所定の周期でパ
ルス点灯されるようになつている。
次に、このような構成において動作を説明する。まず、
被測定物（たとえば蛍光体または燐光体などの発光体が
塗布された郵便切手）を測定窓４にセツトし、カバー５
を閉じる。この状態で、操作パネル３から測定開始命令
を入力することにより、励起光源６がパルス点灯され、
励起光が被測定物に照射される。この励起光の照射によ
り被測定物の発光体が発光し、その光はミラー７で反射
して結像レンズ８および光学フイルタ９を通り、光電変
換器１０に導かれて電気信号に変換される。この光電変
換器１０から出力される電気信号は第３図に示すような
波形のごとく現われる。すなわち、Ｖは出力値（縦
軸）、Ｔは時間（横軸）、ｔは励起時間をそれぞれ示し
ており、時間ｔ内に発光した発光体は、その発光体が燐
光体の場合、励起が終えた後も残光として発光してい
る。しかして、光電変換器１０から出力される電気信号
はＡ／Ｄ変換器１５に供給され、ここでデジタル信号に
変換されて演算部１６に供給される。演算部１６は、Ａ
／Ｄ変換器１５からのデジタル信号が発光出力であれ
ば、第３図の発光ピークである励起時間ｔの所のａ点の
値を数値化し、また残光出力であれば定められた点、た
とえば第３図のｂ，ｃ点の所の値を数値化し、制御部１
７に供給する。制御部１７は、演算部１６からの数値を
表示器１８に表示せしめるとともに、プリンタ１１でプ
リントアウトせしめる。
被測定物（たとえば蛍光体または燐光体などの発光体が
塗布された郵便切手）を測定窓４にセツトし、カバー５
を閉じる。この状態で、操作パネル３から測定開始命令
を入力することにより、励起光源６がパルス点灯され、
励起光が被測定物に照射される。この励起光の照射によ
り被測定物の発光体が発光し、その光はミラー７で反射
して結像レンズ８および光学フイルタ９を通り、光電変
換器１０に導かれて電気信号に変換される。この光電変
換器１０から出力される電気信号は第３図に示すような
波形のごとく現われる。すなわち、Ｖは出力値（縦
軸）、Ｔは時間（横軸）、ｔは励起時間をそれぞれ示し
ており、時間ｔ内に発光した発光体は、その発光体が燐
光体の場合、励起が終えた後も残光として発光してい
る。しかして、光電変換器１０から出力される電気信号
はＡ／Ｄ変換器１５に供給され、ここでデジタル信号に
変換されて演算部１６に供給される。演算部１６は、Ａ
／Ｄ変換器１５からのデジタル信号が発光出力であれ
ば、第３図の発光ピークである励起時間ｔの所のａ点の
値を数値化し、また残光出力であれば定められた点、た
とえば第３図のｂ，ｃ点の所の値を数値化し、制御部１
７に供給する。制御部１７は、演算部１６からの数値を
表示器１８に表示せしめるとともに、プリンタ１１でプ
リントアウトせしめる。
このように、発光体の発光出力を数値化して表わすこと
により蛍光体の発光強度が測定でき、残光出力の定点の
出力を数値化して表わすことにより燐光体の残光減衰率
を測定することができる。また、測定時、基準となる発
光体を定めておき、その出力と比較することにより相対
的な発光体の管理が行なえる。
により蛍光体の発光強度が測定でき、残光出力の定点の
出力を数値化して表わすことにより燐光体の残光減衰率
を測定することができる。また、測定時、基準となる発
光体を定めておき、その出力と比較することにより相対
的な発光体の管理が行なえる。
なお、前記実施例では、郵便切手に塗布された発光体の
特性を測定する場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものでなく、たとえば紙幣に塗布された発
光体の特性を測定する場合にも適用できる。
特性を測定する場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されるものでなく、たとえば紙幣に塗布された発
光体の特性を測定する場合にも適用できる。
［発明の効果］ 以上詳述したように本発明によれば、発光体の発光、残
光特性などを定量的にかつ正確に測定することができ、
きわめて便利で実用的な発光体の残光特性測定装置を提
供できる。
光特性などを定量的にかつ正確に測定することができ、
きわめて便利で実用的な発光体の残光特性測定装置を提
供できる。
図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は全体的な
構成を概略的に示す側面図、第２図は電気回路の構成
図、第３図は発光体の発光出力波形の一例を示す波形図
である。 ３……操作パネル、４……測定窓、６……励起光源、１
０……光電変換器、１１……プリンタ、１５……Ａ／Ｄ
変換器、１６……演算部、１７……制御部、１８……表
示器。
構成を概略的に示す側面図、第２図は電気回路の構成
図、第３図は発光体の発光出力波形の一例を示す波形図
である。 ３……操作パネル、４……測定窓、６……励起光源、１
０……光電変換器、１１……プリンタ、１５……Ａ／Ｄ
変換器、１６……演算部、１７……制御部、１８……表
示器。
Claims (1)
- 【請求項１】励起光の照射により発光する発光体の残光
特性を測定するものにおいて、 被測定発光体に励起光を照射する励起光源と、 この励起光源の励起光による前記発光体からの発光およ
び残光を受光し、それぞれ電気信号に変換する光電変換
手段と、 この光電変換手段から得られる電気信号をデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換手段と、 このＡ／Ｄ変換手段から得られるデジタル信号から発光
出力時の発光ピークの発光出力値および残光出力時の所
定点の残光出力値をそれぞれ数値化する演算手段と、 この演算手段で数値化された発光出力値および残光出力
値をそれぞれ出力する出力手段と を具備したことを特徴とする発光体の残光特性測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59097831A JPH0650286B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 発光体の残光特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59097831A JPH0650286B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 発光体の残光特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60242344A JPS60242344A (ja) | 1985-12-02 |
| JPH0650286B2 true JPH0650286B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=14202661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59097831A Expired - Lifetime JPH0650286B2 (ja) | 1984-05-16 | 1984-05-16 | 発光体の残光特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650286B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019146173A1 (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光測定装置及び光測定方法 |
| WO2019146172A1 (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光測定装置及び光測定方法 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2634019B1 (fr) * | 1988-07-08 | 1991-10-25 | Dosim Dev Sa | Dispositif de mesure de l'empoussierement d'une surface |
| US7391512B2 (en) * | 2004-12-22 | 2008-06-24 | Avago Technologies General Ip Pte. Ltd. | Integrated optoelectronic system for measuring fluorescence or luminescence emission decay |
| WO2018132487A1 (en) | 2017-01-10 | 2018-07-19 | Photoswitch Biosciences, Inc. | Systems and methods for detection |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56125637A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Toshiba Glass Co Ltd | Photoluminescence dosimeter |
| JPS5784339A (en) * | 1980-11-17 | 1982-05-26 | Hitachi Ltd | Fluorescence polarizing apparatus |
-
1984
- 1984-05-16 JP JP59097831A patent/JPH0650286B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019146173A1 (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光測定装置及び光測定方法 |
| WO2019146172A1 (ja) * | 2018-01-23 | 2019-08-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光測定装置及び光測定方法 |
| EP3745114A4 (en) * | 2018-01-23 | 2021-09-22 | Hamamatsu Photonics K.K. | LIGHT MEASURING DEVICE AND LIGHT MEASURING METHOD |
| US11346720B2 (en) | 2018-01-23 | 2022-05-31 | Hamamatsu Photonics K.K. | Light measurement device and light measurement method |
| TWI770312B (zh) * | 2018-01-23 | 2022-07-11 | 日商濱松赫德尼古斯股份有限公司 | 光測定裝置及光測定方法 |
| US11703389B2 (en) | 2018-01-23 | 2023-07-18 | Hamamatsu Photonics K.K. | Light measurement device and light measurement method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60242344A (ja) | 1985-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |