JPH0650328B2 - 共振測定装置 - Google Patents
共振測定装置Info
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- JPH0650328B2 JPH0650328B2 JP8216387A JP8216387A JPH0650328B2 JP H0650328 B2 JPH0650328 B2 JP H0650328B2 JP 8216387 A JP8216387 A JP 8216387A JP 8216387 A JP8216387 A JP 8216387A JP H0650328 B2 JPH0650328 B2 JP H0650328B2
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は共振測定装置、特に共振回路の共振周波数を非
接触で測定する装置に関する。
接触で測定する装置に関する。
[従来技術とその問題点] 無線周波数(RF)回路の共振周波数を遠隔的に決定し
たい場合があった。1930年代から、その目的の為に
グリッドディップ発振器(GDO)がある。このGDO
(又はそのソリッドステート版であるゲートディップ発
振器)は簡単な可変周波数発振器であり、それにメータ
が付加され、発振器のグリット(又はゲート)電流を続
む構成になっている。GODのインダクタ(コイル)を
被測定共振回路に電磁結合する。GODが共振回路の共
振周波数を同調すると、インダクタから発振エネルギー
を吸収するので、発振レベルが低下して、GODのグリ
ッド電流メータの読みが減少(ディップ)する。このグ
リッド電流のディップを一層明瞭にする為、発振器を境
界発振点で動作させる。この場合、発振器が結合した回
路の共振点に同調すると、グリッド電流の変化が最大と
なる。GODには種々の欠点がある。即ち、共振回路に
GODを結合するインダクタはGODの周波数も決める
ので、このインダクタが被測定共振回路に結合すると、
このインダクタが変化し、発振周波数を変化する。これ
により、発振器の表面に予め印刷記入している周波数校
正に不正確さを生じる。
たい場合があった。1930年代から、その目的の為に
グリッドディップ発振器(GDO)がある。このGDO
(又はそのソリッドステート版であるゲートディップ発
振器)は簡単な可変周波数発振器であり、それにメータ
が付加され、発振器のグリット(又はゲート)電流を続
む構成になっている。GODのインダクタ(コイル)を
被測定共振回路に電磁結合する。GODが共振回路の共
振周波数を同調すると、インダクタから発振エネルギー
を吸収するので、発振レベルが低下して、GODのグリ
ッド電流メータの読みが減少(ディップ)する。このグ
リッド電流のディップを一層明瞭にする為、発振器を境
界発振点で動作させる。この場合、発振器が結合した回
路の共振点に同調すると、グリッド電流の変化が最大と
なる。GODには種々の欠点がある。即ち、共振回路に
GODを結合するインダクタはGODの周波数も決める
ので、このインダクタが被測定共振回路に結合すると、
このインダクタが変化し、発振周波数を変化する。これ
により、発振器の表面に予め印刷記入している周波数校
正に不正確さを生じる。
GODは更に周波数分解能が低いという欠点を有する。
GOD上に印刷記入する周波数目盛りは一般に2〜3%
以上の精度を有し得ない。
GOD上に印刷記入する周波数目盛りは一般に2〜3%
以上の精度を有し得ない。
GODには使用上の制約もある。例えば、トロイダル型
インダクタを含む共振回路には適用困難である。その理
由は、トロイダル型インダクタの磁界は殆どトロイダル
コア内に限定され、GODのインダクタと良好な結合が
行なわれない。
インダクタを含む共振回路には適用困難である。その理
由は、トロイダル型インダクタの磁界は殆どトロイダル
コア内に限定され、GODのインダクタと良好な結合が
行なわれない。
最後に、GODの発振レベルは周波数が変化すると変化
するので、メータの指示に僅かな変化を生じる。この現
象は特に発振器を境界発振点で動作させている場合に顕
著である。
するので、メータの指示に僅かな変化を生じる。この現
象は特に発振器を境界発振点で動作させている場合に顕
著である。
回路の共振周波数を求めるのに一般に使用されている他
の装置としてネットワークアナライザ(NA)がある。
NAは被測定回路に直接接続され、回路のパラメータを
詳細に求めることができる。しかし、NAは大変高価で
あり多くの場合に応用が非現実的である。それを回路に
直接接続するので、用途が制限される。
の装置としてネットワークアナライザ(NA)がある。
NAは被測定回路に直接接続され、回路のパラメータを
詳細に求めることができる。しかし、NAは大変高価で
あり多くの場合に応用が非現実的である。それを回路に
直接接続するので、用途が制限される。
よって、回路の共振周波数を遠隔的、即ち非接触で求め
られる新規な測定装置の必要性があった。
られる新規な測定装置の必要性があった。
[目的] 従って、本発明の目的は遠隔的に回路の共振周波数が求
められる改良測定装置を提供することである。
められる改良測定装置を提供することである。
本発明の他の目的は高精度の共振周波数測定装置を提供
することである。
することである。
本発明の更に他の目的はトロイダル型インダクタを含む
共振回路の共振周波数が測定できる装置を提供すること
である。
共振回路の共振周波数が測定できる装置を提供すること
である。
本発明の別の目的は周波数に影響する素子を結合回路に
使用しない共振指示回路を提供することである。
使用しない共振指示回路を提供することである。
[発明の概要] 本発明は被測定共振回路の共振周波数を遠隔的に測定す
る共振測定装置であって、ブリッジ回路を可変周波数の
RF信号源で刺激し、それを被測定共振回路に結合す
る。刺激周波数がこの回路の共振周波数を通ると、ブリ
ッジからこの回路が吸収するエネルギーが最大となる。
この吸収はブリッジ内の電圧及び電流を乱す。検出器を
用いてこの最大かく乱(不平衝)点を測定すると被測定
回路の共振周波数が求められる。
る共振測定装置であって、ブリッジ回路を可変周波数の
RF信号源で刺激し、それを被測定共振回路に結合す
る。刺激周波数がこの回路の共振周波数を通ると、ブリ
ッジからこの回路が吸収するエネルギーが最大となる。
この吸収はブリッジ内の電圧及び電流を乱す。検出器を
用いてこの最大かく乱(不平衝)点を測定すると被測定
回路の共振周波数が求められる。
[実施例] 第1図は本発明の共振測定装置の一実施例の回路図を示
す。この共振測定装置はトランス(変圧器)回路網12
と2個の等しいインダクタ14及び16を有するブリッ
ジ回路10を含んでいる。このブリッジ10はRF入力
ポート18から可変周波数RF信号源20により刺激さ
れる。オシロスコープ又はRF電圧計の如き検出器22
を検出器の出力ポート24に接続する。この出力ポート
24からブリッジの不平衝度に応じた振幅の出力が得ら
れる。
す。この共振測定装置はトランス(変圧器)回路網12
と2個の等しいインダクタ14及び16を有するブリッ
ジ回路10を含んでいる。このブリッジ10はRF入力
ポート18から可変周波数RF信号源20により刺激さ
れる。オシロスコープ又はRF電圧計の如き検出器22
を検出器の出力ポート24に接続する。この出力ポート
24からブリッジの不平衝度に応じた振幅の出力が得ら
れる。
第1図のブリッジ10は通常状態では平衝している。即
ち、ブリッジは出力ポート24とトランス12の中点に
対して平衝している。トランス12の両二次巻線の出力
は等振幅且つ逆極性であるので、出力ポート24の出力
は相殺されて略0ボルトとなる。
ち、ブリッジは出力ポート24とトランス12の中点に
対して平衝している。トランス12の両二次巻線の出力
は等振幅且つ逆極性であるので、出力ポート24の出力
は相殺されて略0ボルトとなる。
動作を説明すると、ブリッジ回路10は被測定回路28
にリアクティブ且つ不平衝結合している。第1図中、こ
れはインダクタ16と回路28間の結合として示す。こ
の結合は被測定回路28に対してインダクタ14よりも
インダクタ16を接近させることにより非対称になる。
このように結合することにより、回路28はインダクタ
16からエネルギーを吸収する。インダクタ16から回
路28へのエネルギー損失は、インダクタと直列の実効
損失抵抗としてモデル化することができる。この実効損
失抵抗はブリッジ10を不平衝とし、検出器22から何
らかの出力の読みを生じる。回路28によるエネルギー
吸収はRF信号源20の周波数が回路28の共振周波数
に同調するとき最大となる。この点で、ブリッジ10の
不平衝も最大となる。従って、回路28の共振周波数は
刺激RF信号源20の周波数を変化して検出器出力ポー
ト24の信号振幅が最大となる点で決定できる。
にリアクティブ且つ不平衝結合している。第1図中、こ
れはインダクタ16と回路28間の結合として示す。こ
の結合は被測定回路28に対してインダクタ14よりも
インダクタ16を接近させることにより非対称になる。
このように結合することにより、回路28はインダクタ
16からエネルギーを吸収する。インダクタ16から回
路28へのエネルギー損失は、インダクタと直列の実効
損失抵抗としてモデル化することができる。この実効損
失抵抗はブリッジ10を不平衝とし、検出器22から何
らかの出力の読みを生じる。回路28によるエネルギー
吸収はRF信号源20の周波数が回路28の共振周波数
に同調するとき最大となる。この点で、ブリッジ10の
不平衝も最大となる。従って、回路28の共振周波数は
刺激RF信号源20の周波数を変化して検出器出力ポー
ト24の信号振幅が最大となる点で決定できる。
斯かる最大値が検出されると、RF信号源20の周波数
は被測定回路28の共振周波数と等しくなる。信号源2
0の周波数は従来の周波数カウンタで正確に測定でき
る。
は被測定回路28の共振周波数と等しくなる。信号源2
0の周波数は従来の周波数カウンタで正確に測定でき
る。
第1図の検出器出力ポート24は通常ブリッジ回路の零
点であるが、他の点であってもよい。例えば、高周波の
加算型演算増幅器(図示せず)でRF電圧計を駆動する
検出器の入力をトランス12の二次巻線間に接続しても
よい。ブリッジが平衝すると、演算増幅器の入力には等
振幅且つ逆極性の電圧が入力されるので、この出力は0
となる。しかし、ブリッジが不平衝状態になると、演算
増幅器の両入力電圧は最早等振幅ではなくなるので、何
らかの出力が現われる。ブリッジ10の種々の点から出
力が取り出せることが理解できよう。
点であるが、他の点であってもよい。例えば、高周波の
加算型演算増幅器(図示せず)でRF電圧計を駆動する
検出器の入力をトランス12の二次巻線間に接続しても
よい。ブリッジが平衝すると、演算増幅器の入力には等
振幅且つ逆極性の電圧が入力されるので、この出力は0
となる。しかし、ブリッジが不平衝状態になると、演算
増幅器の両入力電圧は最早等振幅ではなくなるので、何
らかの出力が現われる。ブリッジ10の種々の点から出
力が取り出せることが理解できよう。
第1図のブリッジ10は他の形態とすることも可能であ
る。第2図に示す例では、ブリッジ10は支持部材30
上に構成して、トリファイラ巻きのトランス32を含ん
でいる。インダクタ14と16は相互に離間したコイル
であって、被測定回路28に非対称結合するようにす
る。インダクタ14と16間の結合を最小にする為に、
軸を相互に直交するように配置してもよい。第2図に示
す共振測定装置は手持ち型として被測定回路の共振周波
数を測定するプローブに使用するのに好適である。
る。第2図に示す例では、ブリッジ10は支持部材30
上に構成して、トリファイラ巻きのトランス32を含ん
でいる。インダクタ14と16は相互に離間したコイル
であって、被測定回路28に非対称結合するようにす
る。インダクタ14と16間の結合を最小にする為に、
軸を相互に直交するように配置してもよい。第2図に示
す共振測定装置は手持ち型として被測定回路の共振周波
数を測定するプローブに使用するのに好適である。
他の形態の例を第3図に示す。この例ではインダクタ1
4と16はプリント板34の軸対称位置にエッチング形
成されている。
4と16はプリント板34の軸対称位置にエッチング形
成されている。
第4図は本発明による共振測定装置の他の実施例の回路
図を示す。ブリッジ40は変流器回路網(CT)42と
零点調整抵抗器44とを有する。CT42は回路点46
と48に等振幅且つ逆極性の電流が流れるようにする。
この対称性により、回路点50の電圧が略0になる。こ
の電圧は0点調整ポテンションメータ44の調整により
回路に存し得る不平衝が補償できるようにする。ブリッ
ジ40の動作は他の点では第1図の実施例と同じである
ので詳細は省略する。
図を示す。ブリッジ40は変流器回路網(CT)42と
零点調整抵抗器44とを有する。CT42は回路点46
と48に等振幅且つ逆極性の電流が流れるようにする。
この対称性により、回路点50の電圧が略0になる。こ
の電圧は0点調整ポテンションメータ44の調整により
回路に存し得る不平衝が補償できるようにする。ブリッ
ジ40の動作は他の点では第1図の実施例と同じである
ので詳細は省略する。
第5図は本発明による共振測定装置の更に他の実施例で
あり、このブリッジ60ではCT42の代わりに2本の
同軸ケーブル62,64を使用している点を除き第4図
の実施例と類似する。ケーブル62、64は図示せず
も、その全長にわたり多数のフェライトビーズ又は小さ
いトロイドを配置して装荷している。RFエネルギー源
70を両ケーブルの第1端72、74の中心導体に接続
する。両ケーブルの第1端のシールド導体は接地する。
ケーブル62の第2端76の中心導体はブリッジの第1
インダクタ78に接続すると共にシールド導体は接地す
る。ケーブル64の第2端80の中心導体はブリッジの
第2インダクタ82に接続し、シールド導体は接地す
る。このケーブル構成により、回路点66と68には等
振幅且つ逆極性の電流が流れる。共振指示プローブとし
てのブリッジ60の動作は他の点では第1図の例と同じ
であるので、ここで詳細は省略する。第5図の実施例は
マイクロ波に適用するのに好適である。
あり、このブリッジ60ではCT42の代わりに2本の
同軸ケーブル62,64を使用している点を除き第4図
の実施例と類似する。ケーブル62、64は図示せず
も、その全長にわたり多数のフェライトビーズ又は小さ
いトロイドを配置して装荷している。RFエネルギー源
70を両ケーブルの第1端72、74の中心導体に接続
する。両ケーブルの第1端のシールド導体は接地する。
ケーブル62の第2端76の中心導体はブリッジの第1
インダクタ78に接続すると共にシールド導体は接地す
る。ケーブル64の第2端80の中心導体はブリッジの
第2インダクタ82に接続し、シールド導体は接地す
る。このケーブル構成により、回路点66と68には等
振幅且つ逆極性の電流が流れる。共振指示プローブとし
てのブリッジ60の動作は他の点では第1図の例と同じ
であるので、ここで詳細は省略する。第5図の実施例は
マイクロ波に適用するのに好適である。
第6図は被測定共振回路108に容量的に結合したブリ
ッジ90を有する本発明による共振測定装置の更に他の
実施例である。ブリッジ90はトランス92を含み、電
流制限抵抗器94と96に平衡信号を印加する。各脚部
98と100は抵抗器94と96を検出器出力ポート1
02に接続し、容量性結合板104と106をなす。ブ
リッジ90が被測定共振回路108に結合されていない
と、検出器出力ポート102の電圧は略0である。しか
し、回路108を板104又は106に近付けると、エ
ネルギーは対応する脚部98又は100から回路108
に容量的に結合して、ブリッジ90に不平衝を生じる。
この結合も回路108を一方の板104(又は106)
を他方より一層近付けることにより非対称とすることが
できる。上述の装置では、検出出力端102の検出器1
10の指示が最大となると、回路108の共振周波数と
刺激信号源112の周波数が一致することとなる。
ッジ90を有する本発明による共振測定装置の更に他の
実施例である。ブリッジ90はトランス92を含み、電
流制限抵抗器94と96に平衡信号を印加する。各脚部
98と100は抵抗器94と96を検出器出力ポート1
02に接続し、容量性結合板104と106をなす。ブ
リッジ90が被測定共振回路108に結合されていない
と、検出器出力ポート102の電圧は略0である。しか
し、回路108を板104又は106に近付けると、エ
ネルギーは対応する脚部98又は100から回路108
に容量的に結合して、ブリッジ90に不平衝を生じる。
この結合も回路108を一方の板104(又は106)
を他方より一層近付けることにより非対称とすることが
できる。上述の装置では、検出出力端102の検出器1
10の指示が最大となると、回路108の共振周波数と
刺激信号源112の周波数が一致することとなる。
本発明の別の実施例を第7図に示し、ここではリターン
ロス型ブリッジ150を使用している。このブリッジ1
50は未知ポート152を含み、そこに未知インピーダ
ンスを結合する。他のブリッジ素子154、156及び
158は選択済であって、所定インピーダンスが未知ポ
ート152に接続されるとき、ブリッジ150が平衝す
るようにする。例えば、ブリッジ抵抗器154乃至15
8が等しいとき、ポート152間のインピーダンスがこ
れらの抵抗器の抵抗と等しいとき平衝する。
ロス型ブリッジ150を使用している。このブリッジ1
50は未知ポート152を含み、そこに未知インピーダ
ンスを結合する。他のブリッジ素子154、156及び
158は選択済であって、所定インピーダンスが未知ポ
ート152に接続されるとき、ブリッジ150が平衝す
るようにする。例えば、ブリッジ抵抗器154乃至15
8が等しいとき、ポート152間のインピーダンスがこ
れらの抵抗器の抵抗と等しいとき平衝する。
この実施例ではプローブ160が未知ポート152に接
続され、それはポート152間に相当の誘導性インピー
ダンスを生じる。このインピーダンスはブリッジ150
に大きな不平衝を生じさせる。よって、検出器164の
指示は大きい。インダクタ162を被測定共振回路16
6に近付けると、実効損失抵抗がインダクタ162に生
じ、この損失抵抗は大変小さいが、回路166を結合し
ない場合よりも不平衝度が減少するようになる。これは
検出器164の読みを低減することとなる。RF信号源
の周波数が回路166のそれに同調すると、プローブ1
60によりポート152間に生じる抵抗は最大となる。
この点で、ブリッジ150は最小不平衝状態となり、検
出器164の検出出力は最小になる。この最小点によ
り、共振回路166の共振周波数と信号源168の周波
数とが同調したことを示す。
続され、それはポート152間に相当の誘導性インピー
ダンスを生じる。このインピーダンスはブリッジ150
に大きな不平衝を生じさせる。よって、検出器164の
指示は大きい。インダクタ162を被測定共振回路16
6に近付けると、実効損失抵抗がインダクタ162に生
じ、この損失抵抗は大変小さいが、回路166を結合し
ない場合よりも不平衝度が減少するようになる。これは
検出器164の読みを低減することとなる。RF信号源
の周波数が回路166のそれに同調すると、プローブ1
60によりポート152間に生じる抵抗は最大となる。
この点で、ブリッジ150は最小不平衝状態となり、検
出器164の検出出力は最小になる。この最小点によ
り、共振回路166の共振周波数と信号源168の周波
数とが同調したことを示す。
第8図は第7図のブリッジ150をトロイダル型インダ
クタ172を含む回路170に結合できるプローブ16
0の一例を示す。プローブ160はトロイダルコアの中
心を通る電流ループを含み、これにより回路170をブ
リッジ150と電磁結合する。この手法により、従来不
可能ないし困難であったトロイダル型インダクタを含む
共振回路の共振周波数の測定を可能にした。
クタ172を含む回路170に結合できるプローブ16
0の一例を示す。プローブ160はトロイダルコアの中
心を通る電流ループを含み、これにより回路170をブ
リッジ150と電磁結合する。この手法により、従来不
可能ないし困難であったトロイダル型インダクタを含む
共振回路の共振周波数の測定を可能にした。
以上、本発明による共振測定装置の種々の実施例を示し
たが、これらは単なる例示にすぎず、本発明をこれら実
施例に限定すべきでないこと勿論である。本発明の要旨
を逸脱することなく種々の変形変更が可能であること当
業者には容易に理解できよう。
たが、これらは単なる例示にすぎず、本発明をこれら実
施例に限定すべきでないこと勿論である。本発明の要旨
を逸脱することなく種々の変形変更が可能であること当
業者には容易に理解できよう。
[効果] 本発明の共振測定装置によると、ブリッジに可変周波数
信号源を接続して、ブリッジを構成する2つの脚の一方
に被測定共振回路をリアクティブに結合することにより
ブリッジに不平衝を生じさせて、検出器出力が最大(又
は最小)となる信号源周波数により共振周波数を求める
よう構成している。従って、回路構成が比較的簡単であ
り、既存の計測器を用いて、簡単且つ確実・高精度に共
振周波数が測定できる。尚、被測定共振回路との結合に
は発振回路の一部を使用しないので、結合度に左右され
ず略一定の高精度の測定結果が得られる等の種々の顕著
な効果を有する。
信号源を接続して、ブリッジを構成する2つの脚の一方
に被測定共振回路をリアクティブに結合することにより
ブリッジに不平衝を生じさせて、検出器出力が最大(又
は最小)となる信号源周波数により共振周波数を求める
よう構成している。従って、回路構成が比較的簡単であ
り、既存の計測器を用いて、簡単且つ確実・高精度に共
振周波数が測定できる。尚、被測定共振回路との結合に
は発振回路の一部を使用しないので、結合度に左右され
ず略一定の高精度の測定結果が得られる等の種々の顕著
な効果を有する。
第1図、第4乃至7図は本発明の共振測定装置の異なる
実施例の回路図、第2及び3図は第1図、第4図及び第
5図の実施例の結合インダクタの実施例、第8図は第7
図の実施例に使用する結合プローブの一例を示す。 20、70、112……可変周波数信号源 10、40、60、90、150……ブリッジ回路 22、110、164……検出器 14、16、78、82……インダクタ
実施例の回路図、第2及び3図は第1図、第4図及び第
5図の実施例の結合インダクタの実施例、第8図は第7
図の実施例に使用する結合プローブの一例を示す。 20、70、112……可変周波数信号源 10、40、60、90、150……ブリッジ回路 22、110、164……検出器 14、16、78、82……インダクタ
Claims (2)
- 【請求項1】ブリッジ回路の2点に等振幅且つ逆極性の
可変周波数信号を生じさせ、上記2点間の上記ブリッジ
の2つの脚部の一方に他方より被測定共振回路をリアク
ティブに密結合させ、上記ブリッジ回路の平衝状態を検
出器を用いて検出するようにして成る共振測定装置。 - 【請求項2】上記リアクティブ結合として絶縁基板に取
り付け又はエッチング形成したインダクティブ結合を用
いることを特徴とする特許請求の範囲第1項の共振測定
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US84961186A | 1986-04-08 | 1986-04-08 | |
| US849611 | 1986-04-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62237362A JPS62237362A (ja) | 1987-10-17 |
| JPH0650328B2 true JPH0650328B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=25306114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8216387A Expired - Lifetime JPH0650328B2 (ja) | 1986-04-08 | 1987-04-02 | 共振測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650328B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011137737A (ja) * | 2009-12-28 | 2011-07-14 | Fukuda Crystal Laboratory | 無線測定装置、および無線温度測定システム |
-
1987
- 1987-04-02 JP JP8216387A patent/JPH0650328B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62237362A (ja) | 1987-10-17 |
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