JPH0652189B2 - 計数はかり - Google Patents
計数はかりInfo
- Publication number
- JPH0652189B2 JPH0652189B2 JP13766989A JP13766989A JPH0652189B2 JP H0652189 B2 JPH0652189 B2 JP H0652189B2 JP 13766989 A JP13766989 A JP 13766989A JP 13766989 A JP13766989 A JP 13766989A JP H0652189 B2 JPH0652189 B2 JP H0652189B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は電子物品や機械部品、あるいは事務用物品等の
同一物品の個数をその重量から求める計数はかりに関す
る。
同一物品の個数をその重量から求める計数はかりに関す
る。
＜従来の技術＞ 計数はかりでは、一般に、既知個数の物品の重量からそ
の物品の単重値（平均重量）を求め、未知個数の物品の
重量をその単重値で除して個数を求める。
の物品の単重値（平均重量）を求め、未知個数の物品の
重量をその単重値で除して個数を求める。
ところで、このような計数手法によれば、物品の重量ば
らつきに応じた計数誤差が生じ、その誤差の大きさは一
度に計数する個数にも関連する。
らつきに応じた計数誤差が生じ、その誤差の大きさは一
度に計数する個数にも関連する。
従って、ある一定の目標個数をはかり取る場合、表示値
がその目標個数に達するまで何回かにわたって物品を重
量検出部に載せてゆくわけであるが、その載せ方、つま
り一度に載せた物品の多さによって最終的な計数誤差も
変わってくることになる。
がその目標個数に達するまで何回かにわたって物品を重
量検出部に載せてゆくわけであるが、その載せ方、つま
り一度に載せた物品の多さによって最終的な計数誤差も
変わってくることになる。
従来の計数はかりでは、このような誤差の発生を無視す
るか、あるいは、ある一定の確率以上で計数誤差の生じ
ない最大の計数可能数Ｌ０をあらかじめ求めておき、そ
のＬ０以下の個数づつを一度に載せてゆくような対策を
採ったものもある。
るか、あるいは、ある一定の確率以上で計数誤差の生じ
ない最大の計数可能数Ｌ０をあらかじめ求めておき、そ
のＬ０以下の個数づつを一度に載せてゆくような対策を
採ったものもある。
＜発明が解決しようとする課題＞ 従来の計数はかりで、誤差を無視するものについては当
然その計数結果に信頼性がなく、また、誤差なしで計数
可能な最大個数Ｌ０以下づつ載せてゆくものでは、計数
作業の能率が悪い。
然その計数結果に信頼性がなく、また、誤差なしで計数
可能な最大個数Ｌ０以下づつ載せてゆくものでは、計数
作業の能率が悪い。
目標個数のはかり取り作業では、そのはかり取り数に対
して最大の許容計数誤差（ないしは平均許容誤差）与え
られる場合が多く、本発明では、このような場合におい
てその許容最大計数誤差内に誤差が収まっていることを
保証しつつ、効率的に計数作業を行うことのできる計数
はかりを実現する。
して最大の許容計数誤差（ないしは平均許容誤差）与え
られる場合が多く、本発明では、このような場合におい
てその許容最大計数誤差内に誤差が収まっていることを
保証しつつ、効率的に計数作業を行うことのできる計数
はかりを実現する。
＜課題を解決するための手段＞ 本発明では、第１図の基本概念図に示すように、重量検
出部ａで計量された重量値Ｗを物品の単重値μで除して
その物品の個数を算出する個数演算手段ｂを備えたはか
りにおいて、単重値μの計算に使用したサンプル個数ｎ
の設定手段ｃと、被計数物品の変動係数εの設定手段ｄ
と、計数しようとする目標個数Ｎとその目標個数Ｎに対
する許容最大計数誤差Ｅを入力する入力手段ｅと、変動
係数ε，サンプル個数ｎおよび個数演算手段ｂによる個
数算出結果ｋを用いて、あらかじめ与えられている確率
以上でその個数ｋに含まれる最大の計数誤差Ｉを算出す
る計数誤差演算手段ｆと、上記ｋとｎ，およびＩとＥを
それぞれ比較する比較手段ｇと、その比較結果に基づい
て Ｋ＞Ｎ、もしくは、Ｉ＞Ｅ‥‥(1) の場合にはその旨を報知する報知手段ｈを設け、比較結
果が ｋ≦Ｎ、かつ、Ｉ≦Ｅ ‥‥(2) の場合には次の目標個数をＮ−ｋ、次の許容最大計数誤
差をＥ−Ｉとして計数の続行が可能なように構成してい
る。
出部ａで計量された重量値Ｗを物品の単重値μで除して
その物品の個数を算出する個数演算手段ｂを備えたはか
りにおいて、単重値μの計算に使用したサンプル個数ｎ
の設定手段ｃと、被計数物品の変動係数εの設定手段ｄ
と、計数しようとする目標個数Ｎとその目標個数Ｎに対
する許容最大計数誤差Ｅを入力する入力手段ｅと、変動
係数ε，サンプル個数ｎおよび個数演算手段ｂによる個
数算出結果ｋを用いて、あらかじめ与えられている確率
以上でその個数ｋに含まれる最大の計数誤差Ｉを算出す
る計数誤差演算手段ｆと、上記ｋとｎ，およびＩとＥを
それぞれ比較する比較手段ｇと、その比較結果に基づい
て Ｋ＞Ｎ、もしくは、Ｉ＞Ｅ‥‥(1) の場合にはその旨を報知する報知手段ｈを設け、比較結
果が ｋ≦Ｎ、かつ、Ｉ≦Ｅ ‥‥(2) の場合には次の目標個数をＮ−ｋ、次の許容最大計数誤
差をＥ−Ｉとして計数の続行が可能なように構成してい
る。
なお、本明細書でいうサンプル個数の設定手段ｃおよび
変動係数の設定手段ｄとは、それぞれサンプル個数ｎも
しくは変動係数εを外部から入力する手段か、あるい
は、はかり自体が単重値を算出する過程で被計数物品の
サンプル個数ｎないしは変動係数εを求めて記憶する機
能であってもよい。
変動係数の設定手段ｄとは、それぞれサンプル個数ｎも
しくは変動係数εを外部から入力する手段か、あるい
は、はかり自体が単重値を算出する過程で被計数物品の
サンプル個数ｎないしは変動係数εを求めて記憶する機
能であってもよい。
＜作用ならびに発明の原理＞ 物品の単重値μを求めるときに用いたサンプル数ｎと、
物品の変動係数εが判明しておれば、あらかじめ与えら
れた確率Ｐ以上で、一度に計数した個数ｋに含まれる最
大の計数誤差Ｉを算出することができる。
物品の変動係数εが判明しておれば、あらかじめ与えら
れた確率Ｐ以上で、一度に計数した個数ｋに含まれる最
大の計数誤差Ｉを算出することができる。
すなわち、ｎ，ε，ｋから、計数誤差が０となる確率
p0,同じくｊ個（ｊは任意の整数）となる確率piを算出
し、 ｐ０または （ただしＩは正の整数） があらかじめ与えられた確率Ｐよりも小さくならないＩ
を求めると、このＩがｋに含まれる最大の計数誤差とな
る。
p0,同じくｊ個（ｊは任意の整数）となる確率piを算出
し、 ｐ０または （ただしＩは正の整数） があらかじめ与えられた確率Ｐよりも小さくならないＩ
を求めると、このＩがｋに含まれる最大の計数誤差とな
る。
つまり、 ｐ０≧ＰならばＩ＝０ とし、そうでない場合には、 となる最小のｉをＩとするわけである。
このようにして一度の計数毎に確率的に発生が予想され
る最大の誤差Ｉを求め、このＩと先に入力されている許
容最大計数誤差Ｅ、および目標個数Ｎとその今回の計数
結果ｋをそれぞれ比較し、(2)を満足している場合には
次の目標個数および許容最大計数誤差をそれぞれＮ−ｋ
およびＥ−Ｉとして同様に次の計数動作を可能とし、ま
た、(1)の状態であればその旨を報知して物品の載せ過
ぎを作業者に知らせることにより、最終的な計数誤差が
Ｅ以内に収まっていることを保証し、かつ、一度に計数
する個数も許されている計数誤差の範囲内で可能な限り
多くすることができる。
る最大の誤差Ｉを求め、このＩと先に入力されている許
容最大計数誤差Ｅ、および目標個数Ｎとその今回の計数
結果ｋをそれぞれ比較し、(2)を満足している場合には
次の目標個数および許容最大計数誤差をそれぞれＮ−ｋ
およびＥ−Ｉとして同様に次の計数動作を可能とし、ま
た、(1)の状態であればその旨を報知して物品の載せ過
ぎを作業者に知らせることにより、最終的な計数誤差が
Ｅ以内に収まっていることを保証し、かつ、一度に計数
する個数も許されている計数誤差の範囲内で可能な限り
多くすることができる。
＜実施例＞ 第２図は本発明実施例の構成を示すブロック図である。
重量検出部１は皿１ａに係合する荷重センサおよびＡ−
Ｄ変換器等を内蔵しており、皿１ａ上の荷重に対応する
デジタルデータを出力することができる。
Ｄ変換器等を内蔵しており、皿１ａ上の荷重に対応する
デジタルデータを出力することができる。
重量検出部１からのデータは、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２
およびＲＡＭ２３等を備えたマイクロコンピュータ２に
刻々と採り込まれる。
およびＲＡＭ２３等を備えたマイクロコンピュータ２に
刻々と採り込まれる。
このマイクロコンピュータ２には、計数結果をデジタル
表示するための表示器３と、後述するように皿１ａ上へ
の物品の載せ過ぎを作業者に報知するための発光ダイオ
ード４、目標個数Ｎや許容最大計数誤差Ｅ、さらには被
計数物品の単重値μおよびその単重値μの算出に供した
サンプル個数ｎ、そして被計数物品の変動係数ε等を入
力するためのテンキーを主体とするキーボード５が接続
されているとともに、プリンタやパソコン等の外部機器
との接続のための入出力ポート６等が設けられている。
表示するための表示器３と、後述するように皿１ａ上へ
の物品の載せ過ぎを作業者に報知するための発光ダイオ
ード４、目標個数Ｎや許容最大計数誤差Ｅ、さらには被
計数物品の単重値μおよびその単重値μの算出に供した
サンプル個数ｎ、そして被計数物品の変動係数ε等を入
力するためのテンキーを主体とするキーボード５が接続
されているとともに、プリンタやパソコン等の外部機器
との接続のための入出力ポート６等が設けられている。
このマイクロコンピュータ２のＲＯＭ２２には後述する
ようなプログラムが書き込まれているとともに、ＲＡＭ
２３にはワークエリアや、キーボード５からの上記した
各種の入力データを記憶するエリアのほか、このデータ
の入力によって演算される後述するような計数誤差ｉ個
で計数可能な最大個数列｛Ｌｉ｝(i=0,1,2,3・・・・)を記
憶するエリアが設定されている。
ようなプログラムが書き込まれているとともに、ＲＡＭ
２３にはワークエリアや、キーボード５からの上記した
各種の入力データを記憶するエリアのほか、このデータ
の入力によって演算される後述するような計数誤差ｉ個
で計数可能な最大個数列｛Ｌｉ｝(i=0,1,2,3・・・・)を記
憶するエリアが設定されている。
第３図はＲＯＭ２２に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発
明実施例の作用を使用方法とともに述べる。
示すフローチャートで、以下、この図を参照しつつ本発
明実施例の作用を使用方法とともに述べる。
計数作業に先立って、被計数物品の単重値μ、その単重
値μの算出に供したサンプル個数ｎ、被計数物品の変動
係数ε、計数しようとする目標個数Ｎ、およびその目標
個数Ｎに対する許容最大計数誤差Ｅをキーボード５によ
って入力する。
値μの算出に供したサンプル個数ｎ、被計数物品の変動
係数ε、計数しようとする目標個数Ｎ、およびその目標
個数Ｎに対する許容最大計数誤差Ｅをキーボード５によ
って入力する。
なお、この入力は、例えば入出力ポート６に接続された
パソコン等からデータ転送してもよい。
パソコン等からデータ転送してもよい。
そて、このような各種のデータが入力されると、このう
ちサンプル個数ｎと変動係数εを用いて、あらかじめ与
えられた充分に１に近い確率Ｐ以上で計数誤差ｉ個以内
で計数可能な最大個数Ｌｉの数列｛Ｌｉ｝(i=0,1,2,3,・
・・・)を算出して、その数列をＲＡＭ２３内に格納する。
ちサンプル個数ｎと変動係数εを用いて、あらかじめ与
えられた充分に１に近い確率Ｐ以上で計数誤差ｉ個以内
で計数可能な最大個数Ｌｉの数列｛Ｌｉ｝(i=0,1,2,3,・
・・・)を算出して、その数列をＲＡＭ２３内に格納する。
数列｛Ｌｉ｝の求め方は以下の通りである。
正規分布表から、 となるβ０を求める。
このとき、確率Ｐ以上で、計数誤差ｉ以内で計数可能な
最大個数Ｌｉは、 を満足する最大の整数ｋとして求まる。
最大個数Ｌｉは、 を満足する最大の整数ｋとして求まる。
すなわち、 となる。なお、〔 〕はガウスの記号で、内部の数値を
越えない最大の整数を意味する。
越えない最大の整数を意味する。
この数列｛Ｌｉ｝は、 ０＜Ｌ０＜Ｌ１＜Ｌ２＜‥‥＜Ｌｉ＜‥‥ となるが、例えば任意個数ｋ個の試料を計数した結果が
ｋであれば、 Li-1＜ｋ≦Li0 ‥‥(6) となるｉ０が一意的に定まり、この場合、計数誤差がｉ
０個以下である確率はＰ以上ということができる（計数
誤差がｉ０であるということではない）。
ｋであれば、 Li-1＜ｋ≦Li0 ‥‥(6) となるｉ０が一意的に定まり、この場合、計数誤差がｉ
０個以下である確率はＰ以上ということができる（計数
誤差がｉ０であるということではない）。
さて、このような数列｛Ｌｉ｝を求めた後に皿１ａ上に
被計数物品が載せられると、通常の計数はかりと同様
に、重量検出部１からのデータに基づいて皿１ａ上の増
加重量Ｗを算出し、次にその重量ＷをＲＡＭ２３内の単
重値μで除して丸めることによって、物品の個数ｋを算
出する。
被計数物品が載せられると、通常の計数はかりと同様
に、重量検出部１からのデータに基づいて皿１ａ上の増
加重量Ｗを算出し、次にその重量ＷをＲＡＭ２３内の単
重値μで除して丸めることによって、物品の個数ｋを算
出する。
そして、その個数ｋを目標個数Ｎと比較し、ｋがＮを越
えている場合には発光ダイオード４を点灯してその旨を
報知する。ｋがＮ以下であれば次のステップに進み、そ
の個数ｋと数列｛Ｌｉ｝とから確率Ｐ以上でその個数ｋ
に含まれる最大の計数誤差Ｉ（上記(6)式のｉ０に相当
する）を求める。
えている場合には発光ダイオード４を点灯してその旨を
報知する。ｋがＮ以下であれば次のステップに進み、そ
の個数ｋと数列｛Ｌｉ｝とから確率Ｐ以上でその個数ｋ
に含まれる最大の計数誤差Ｉ（上記(6)式のｉ０に相当
する）を求める。
次に、このＩと許容最大計数誤差Ｅとを比較し、ＩがＥ
を越えている場合には、発光ダイオード４を点灯して作
業者に載せ過ぎである旨を知らせる。
を越えている場合には、発光ダイオード４を点灯して作
業者に載せ過ぎである旨を知らせる。
ＩがＥ以下であれば、目標個数をＮ−ｋに、また、同じ
く許容最大計数誤差をＥ−Ｉとして、次回の物品の追加
を待つ。
く許容最大計数誤差をＥ−Ｉとして、次回の物品の追加
を待つ。
このような本発明実施例によると、作業者は計数の最初
から任意個数の物品を自由に皿１ａ上に載せていき、発
光ダイオード４が点灯した場合に限って載せ過ぎであっ
たとして幾らかの物品を降ろし、表示値が目標値Ｎに一
致した時点で計数動作を停止すれば、得られた計数結果
に含まれる誤差は許容最大計数誤差Ｅ以内であることが
保証されることになる。
から任意個数の物品を自由に皿１ａ上に載せていき、発
光ダイオード４が点灯した場合に限って載せ過ぎであっ
たとして幾らかの物品を降ろし、表示値が目標値Ｎに一
致した時点で計数動作を停止すれば、得られた計数結果
に含まれる誤差は許容最大計数誤差Ｅ以内であることが
保証されることになる。
つまり、何回かの物品の追加によってＩがＥを越えたと
いうことは、それまで全てのＩの合計が当初に与えられ
た許容最大計数誤差Ｅを越えたということになるが、こ
の場合には現時点の計数表示値に含まれる誤差が、許容
されている最大の計数誤差Ｅを越える可能性が皆無とは
限らないことになり、この場合に限って発光ダイオード
４を点灯するわけである。従って、発光ダイオード４が
点灯しない限り、一度に皿１ａ上に載せる個数に関係な
く、最終的な計数結果には許容最大計数誤差Ｅ以内の誤
差しか含まれていないことが保証されることになる。
いうことは、それまで全てのＩの合計が当初に与えられ
た許容最大計数誤差Ｅを越えたということになるが、こ
の場合には現時点の計数表示値に含まれる誤差が、許容
されている最大の計数誤差Ｅを越える可能性が皆無とは
限らないことになり、この場合に限って発光ダイオード
４を点灯するわけである。従って、発光ダイオード４が
点灯しない限り、一度に皿１ａ上に載せる個数に関係な
く、最終的な計数結果には許容最大計数誤差Ｅ以内の誤
差しか含まれていないことが保証されることになる。
作業者は従って、何個以内の試料を載せなければならな
い等を気にすることなく、自由な個数だけ載せていき、
発光ダイオード４の点灯があった場合に、それが消灯す
るまで試料を降ろしさえすれば良く、このようにして表
示値がＮに一致するまで作業を続ければ良いことにな
る。
い等を気にすることなく、自由な個数だけ載せていき、
発光ダイオード４の点灯があった場合に、それが消灯す
るまで試料を降ろしさえすれば良く、このようにして表
示値がＮに一致するまで作業を続ければ良いことにな
る。
なお、載せ過ぎを報知する手段としては、上記した発光
ダイオード等のランプ類の点灯のほか、ブザー等の鳴
奏、あるいは計数表示値の点滅等で行うことができる。
ダイオード等のランプ類の点灯のほか、ブザー等の鳴
奏、あるいは計数表示値の点滅等で行うことができる。
また、表示器３に表示する個数は、トータル個数とし、
載せ過ぎを報知する場合には、例えば、“Ｓｕｂ ｘ”
とか、“Ｏｖｅｒ ｘ”等の表示に切り換えるようにす
ることもできる。さらにこのような表示器をトータルの
表示器と併せて設けることもできる。
載せ過ぎを報知する場合には、例えば、“Ｓｕｂ ｘ”
とか、“Ｏｖｅｒ ｘ”等の表示に切り換えるようにす
ることもできる。さらにこのような表示器をトータルの
表示器と併せて設けることもできる。
ところで、前記した、計数誤差ｉ以内で計数可能な最大
個数Ｌｉという事前情報を、さらに詳しく解析して、 ０個の計数誤差の生じる確率 ｑ０ ＋１個 〃 ｑ１ −１個 〃 ｑ-1 ・ ・ ＋ｉ個 〃 ｑｉ −ｉ個 〃 ｑ-i を求めておき（通常は対称性によりq-i=qi)、 ei=0・q0+1・(q1+q-1)+・・・+i・(qi+q-1) =2Σjqj ‥‥ を、最大計数誤差ｉの代わりに平均計数誤差ｅｉとして
求めておく。そして、 Ｅ−Ｉ の代わりに、 Ｅ−ｅi0 として前記の実施例と同様の操作を行えば効率はさらに
良くなる。
個数Ｌｉという事前情報を、さらに詳しく解析して、 ０個の計数誤差の生じる確率 ｑ０ ＋１個 〃 ｑ１ −１個 〃 ｑ-1 ・ ・ ＋ｉ個 〃 ｑｉ −ｉ個 〃 ｑ-i を求めておき（通常は対称性によりq-i=qi)、 ei=0・q0+1・(q1+q-1)+・・・+i・(qi+q-1) =2Σjqj ‥‥ を、最大計数誤差ｉの代わりに平均計数誤差ｅｉとして
求めておく。そして、 Ｅ−Ｉ の代わりに、 Ｅ−ｅi0 として前記の実施例と同様の操作を行えば効率はさらに
良くなる。
あるいは、効率の良い分だけ計数誤差は大きくなりうる
のであるから、全二者をミックスさせて、ｅi0を用いる
回数にあらかじめ例えば３回までと制限を設けておき、
４回目からはｉ０の方を用いるという方法を採用するこ
とができる。
のであるから、全二者をミックスさせて、ｅi0を用いる
回数にあらかじめ例えば３回までと制限を設けておき、
４回目からはｉ０の方を用いるという方法を採用するこ
とができる。
さらにこれを改善して、ｅｉの値がある値を越える場合
（例えば０．５）のみのｅi0を用いる回数を制限しても
よい。
（例えば０．５）のみのｅi0を用いる回数を制限しても
よい。
なお、(6)式に代えて通常の期待値 0・q0+1・q1+(-1)・q-1+・・・ i・qi+(-i)・q -i ‥‥(7) を求めると０となるので用をなさなくなる。
さらに以上の各実施例において、安全のため、目標個数
ＮをＮ＋Ｅに訂正し、Ｎ＋Ｅ個を計数するようにしても
よい。
ＮをＮ＋Ｅに訂正し、Ｎ＋Ｅ個を計数するようにしても
よい。
さらには、許容最大計数誤差Ｅが入力されていなくて
も、自動的に一定の個数、例えばＥ＝５として前述の動
作を行ってもよい。
も、自動的に一定の個数、例えばＥ＝５として前述の動
作を行ってもよい。
このＥの決定に際しては、つねに同数とするのではな
く、目標個数Ｎに応じて、 Ｎ≦１０００‥‥‥Ｅ＝５ １０００＜Ｎ≦１００００‥‥Ｅ＝１０ 等とＮに関連してある一定のルールのもとに決定するよ
うにしてもよい。
く、目標個数Ｎに応じて、 Ｎ≦１０００‥‥‥Ｅ＝５ １０００＜Ｎ≦１００００‥‥Ｅ＝１０ 等とＮに関連してある一定のルールのもとに決定するよ
うにしてもよい。
なお、単重値の算出に供したサンプル個数ｎについて
は、あらかじめ定められた一定個数を計数はかりに載せ
ることによって、このはかりが自動的に算出するタイプ
のものである場合には、特に設定する必要はない。ま
た、変動係数εについても、この単重値の算出の過程
で、例えば計数はかりに一個づつ載せてゆくことによっ
てはかりが自動的に算出する機能を有していれば、特に
外部から入力する必要もない。
は、あらかじめ定められた一定個数を計数はかりに載せ
ることによって、このはかりが自動的に算出するタイプ
のものである場合には、特に設定する必要はない。ま
た、変動係数εについても、この単重値の算出の過程
で、例えば計数はかりに一個づつ載せてゆくことによっ
てはかりが自動的に算出する機能を有していれば、特に
外部から入力する必要もない。
＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、載せ過ぎの報知
があるまでは一度に載せる個数に余り気を使うことなく
計数作業を実行しても、最終的な計数結果にはあらかじ
め許容することを指定した計数誤差の範囲内の誤差しか
含まれていないことが保証される。
があるまでは一度に載せる個数に余り気を使うことなく
計数作業を実行しても、最終的な計数結果にはあらかじ
め許容することを指定した計数誤差の範囲内の誤差しか
含まれていないことが保証される。
また、逆に作業者が１，２‥‥と許容最大計数誤差を設
定してみて、自分が最も使用しやすい許容計数誤差はど
の程度のものかと見当をつけることも可能となる。その
ことによって、作業者はもっと注意深く計数したほうが
よいとか、このペースでよいとかという判断をすること
ができる。
定してみて、自分が最も使用しやすい許容計数誤差はど
の程度のものかと見当をつけることも可能となる。その
ことによって、作業者はもっと注意深く計数したほうが
よいとか、このペースでよいとかという判断をすること
ができる。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、第２図は本発
明実施例の構成を示すブロック図、第３図はそのＲＯＭ
２２に書き込まれたプログラムの内容を示すフローチャ
ートである。 １……重量検出部 ２……マイクロコンピュータ ２１……ＣＰＵ ２２……ＲＯＭ ２３……ＲＡＭ ３……表示器 ４……発光ダイオード ５……キーボード
明実施例の構成を示すブロック図、第３図はそのＲＯＭ
２２に書き込まれたプログラムの内容を示すフローチャ
ートである。 １……重量検出部 ２……マイクロコンピュータ ２１……ＣＰＵ ２２……ＲＯＭ ２３……ＲＡＭ ３……表示器 ４……発光ダイオード ５……キーボード
Claims (1)
- 【請求項１】重量検出部で計量された重量値を物品の単
重値で除してその物品の個数を算出する個数演算手段を
備えたはかりにおいて、上記単重値の計算に使用したサ
ンプル個数ｎの設定手段と、被計数物品の変動係数εの
設定手段と、計数しようとする目標個数Ｎとその目標個
数Ｎに対する許容最大計数誤差Ｅを入力する入力手段
と、上記変動係数ε，サンプル個数ｎおよび上記個数演
算手段による個数算出結果ｋを用いて、あらかじめ与え
られている確率以上でその個数ｋに含まれる最大の計数
誤差Ｉを算出する計数誤差演算手段と、上記ｋとｎ，お
よびＩとＥをそれぞれ比較する比較手段と、その比較結
果に基づいて ｋ＞Ｎ、もしくは、Ｉ＞Ｅ の場合にはその旨を報知する報知手段を有し、上記比較
結果が ｋ≦Ｎ、かつ、Ｉ≦Ｅ の場合には次の目標個数をＮ−ｋ、次の許容最大計数誤
差をＥ−Ｉとして計数の続行が可能なように構成されて
いることを特徴とする計数はかり。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13766989A JPH0652189B2 (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 計数はかり |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13766989A JPH0652189B2 (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH032629A JPH032629A (ja) | 1991-01-09 |
| JPH0652189B2 true JPH0652189B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=15204049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13766989A Expired - Fee Related JPH0652189B2 (ja) | 1989-05-31 | 1989-05-31 | 計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652189B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104142175A (zh) * | 2013-05-08 | 2014-11-12 | 株式会社百利达 | 测量装置 |
-
1989
- 1989-05-31 JP JP13766989A patent/JPH0652189B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104142175A (zh) * | 2013-05-08 | 2014-11-12 | 株式会社百利达 | 测量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH032629A (ja) | 1991-01-09 |
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