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JPH0652199B2 - Optical pulse intensity distribution measuring method and apparatus - Google Patents
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JPH0652199B2 - Optical pulse intensity distribution measuring method and apparatus - Google Patents

Optical pulse intensity distribution measuring method and apparatus

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JPH0652199B2
JPH0652199B2 JP3061989A JP3061989A JPH0652199B2 JP H0652199 B2 JPH0652199 B2 JP H0652199B2 JP 3061989 A JP3061989 A JP 3061989A JP 3061989 A JP3061989 A JP 3061989A JP H0652199 B2 JPH0652199 B2 JP H0652199B2
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optical
pulse
optical pulse
intensity distribution
output
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幹雄 山下
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工業技術院長
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Publication date
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光パルスの光強度分布を光検出器をもつ固
有の分解能に制限されることない分解能で測定すること
ができる光パルス強度分布測定方法および装置に関する
ものである。
The present invention relates to an optical pulse intensity distribution capable of measuring the optical intensity distribution of an optical pulse with a resolution not limited to the resolution inherent to a photodetector. The present invention relates to a measuring method and device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

光パルス強度分布の測定の代表的な例として、従来シン
チレーション現象を利用した放射線エネルギー分布の測
定があげられる。
A typical example of the measurement of the light pulse intensity distribution is the measurement of the radiation energy distribution using the conventional scintillation phenomenon.

この場合、放射線の作用によってシンチレータから短時
間に発せられるシンチレーション光は、通常、数多くの
光子からなるものであり、個々のシンチレーション光
は、それぞれ光パルスと見なされる。シンチレーション
光の強度、すなわち光パルス強度は、放射線作用により
シンチレータに与えられたエネルギーの大きさに比例し
ていることから、光パルス強度分布の測定は、シンチレ
ーション放射線検出器を用いた放射線エネルギー分布測
定の基本技術となっている。
In this case, the scintillation light emitted from the scintillator in a short time by the action of radiation usually consists of many photons, and each scintillation light is regarded as an optical pulse. Since the intensity of scintillation light, that is, the light pulse intensity, is proportional to the amount of energy given to the scintillator by the action of radiation, the measurement of the light pulse intensity distribution is performed by measuring the radiation energy distribution using a scintillation radiation detector. Has become the basic technology of.

今日、理工学および原子力産業等のいろいろな分野にお
いて、放射線エネルギー分布を測定する技術は、重要な
放射線計測技術の1つに数えられるものであり、このた
め、光パルス強度分布の測定技術についてはその技術の
向上のために長年にわたり世界的規模で数多くの研究開
発が行われてきた。
Today, in various fields such as science and engineering and nuclear industry, the technology for measuring the radiation energy distribution is one of the important radiation measurement technologies. Therefore, regarding the measurement technology of the optical pulse intensity distribution, Over the years, many researches and developments have been conducted on a global scale to improve the technology.

従来、光パルス強度分布の測定は、何れの場合も、光検
出器から光パルス強度に比例した大きさの波高(振幅)
をもつ電気パルスを得、これを比例増幅器により適当な
大きさに増幅して得られるパルスの波高分布を、マルチ
チャネル・パルス波高分析器を使用して測定する仕方に
より行われている。この従来の方法においては、光パル
ス強度分布が直接に測定できる利点を有しているが、分
解能は光検出器の固有の分解能によって制限されてい
る。
Conventionally, in any case, the measurement of the light pulse intensity distribution is performed by a photodetector from a wave height (amplitude) of a magnitude proportional to the light pulse intensity.
Is obtained by amplifying the electric pulse having the above-mentioned value and amplifying the electric pulse to an appropriate size by a proportional amplifier, and measuring the pulse height distribution using a multi-channel pulse height analyzer. This conventional method has the advantage that the light pulse intensity distribution can be measured directly, but the resolution is limited by the inherent resolution of the photodetector.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

上述したように、従来光パルス強度分布の測定は、光検
出器から得られる電気パルスを比例増幅器により増幅し
た後、そのパルスの波高分布をマルチチャネル・パルス
波高分析器により測定しているが、 一般にマルチチャネル・パルス波高分析器は、比較
的高価である。
As described above, in the conventional measurement of the optical pulse intensity distribution, after the electric pulse obtained from the photodetector is amplified by the proportional amplifier, the pulse height distribution of the pulse is measured by the multi-channel pulse height analyzer. Multichannel pulse height analyzers are generally relatively expensive.

光検出器となる光電子増倍管のゲイン(利得)変動
のため、電気パルスの波高に高い安定性を保証すること
が容易でなく、またそれを克服するためには測定装置の
構造が複雑になるほかコストが高くなる。
It is not easy to guarantee a high stability of the pulse height of the electric pulse due to the gain fluctuation of the photomultiplier tube, which is the photodetector. To overcome this, the structure of the measuring device is complicated. In addition, the cost becomes higher.

さらに、光検出器からの電気パルスの波高分布の測
定における分解能は、光検出器の固有の分解能によって
制限されており、光検出器の固有の分解能は光パルスの
光強度が低くなるにつれて低下するため、光強度が低い
光パルスに対してはその光強度分布を高分解能で測定す
ることは不可能である等の極めて重大な問題点があっ
た。
Furthermore, the resolution in measuring the pulse height distribution of the electrical pulse from the photodetector is limited by the intrinsic resolution of the photodetector, and the intrinsic resolution of the photodetector decreases as the light intensity of the optical pulse decreases. Therefore, there is a very serious problem such that it is impossible to measure the light intensity distribution of the light pulse having a low light intensity with high resolution.

この発明は、上記の問題点を解決するためになされたも
ので、光検出器を有している非線形な応答特性(入力
(光強度)と出力(電気パルス発生確率)との間の非直
線的関係)を利用するという原理に基ずき、光強度が低
い光パルスの光強度分布を高分解能に測定できる光パル
ス強度分布測定方法および装置を得ることを目的とす
る。
The present invention has been made to solve the above problems, and has a nonlinear response characteristic (input (light intensity) and output (electric pulse generation probability)) having a photodetector. The purpose of the present invention is to obtain an optical pulse intensity distribution measuring method and device capable of measuring the optical intensity distribution of an optical pulse having a low optical intensity with high resolution, based on the principle of utilizing a (relationship).

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

この発明に係る光パルス強度分布測定方法は、平均計数
率が一定の光パルスを光学的に異なる既知の減衰率で減
衰させ、この光減衰によって得られた光パルスを非線形
関数に従って定められる入出力特性の条件の下で電気パ
ルスに変換し、これらの電気パルスの個数を測定し、異
なる光減衰率毎に得られた、一定時間当りの電気パルス
の個数を示すk個の測定データn,n,n,……
からなる1組の測定データと、m個の成分(m≦
k)をもつヒストグラムで表した光パルス強度分布の各
成分の強度H,H,H……Hm (未知数)とから
構成される連立方程式を数学的手法を用いて解くことに
より光パルス強度分布を決定する。
An optical pulse intensity distribution measuring method according to the present invention attenuates an optical pulse having a constant average count rate at known optically different attenuation rates, and an optical pulse obtained by this optical attenuation is determined according to a nonlinear function. Under the condition of the characteristic, it is converted into electric pulses, the number of these electric pulses is measured, and k pieces of measurement data n 1 showing the number of electric pulses per constant time, which are obtained for different optical attenuation rates, n 2 , n 3 , ...
A set of measurement data consisting of n k and m components (m ≦
The optical pulse is solved by using a mathematical method to solve a simultaneous equation consisting of the intensities H 1 , H 2 , H 3 ... Hm (unknown) of each component of the optical pulse intensity distribution represented by a histogram with k). Determine the intensity distribution.

また、この発明に係る光パルス強度分布測定装置は、平
均計数率が一定の光パルスを光学的に減衰させる可変の
光減衰手段または異なる減衰率をもつ複数の光減衰手段
と、この光減衰手段によって得られる光パルスを非線形
関数に従って定められる入出力特性の条件の下で電気パ
ルスに変換する光電変換手段と、この光電変換手段によ
り変換されて出力される電気パルスの個数を測定する測
定手段とから構成したものである。
Further, the optical pulse intensity distribution measuring device according to the present invention includes a variable optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate or a plurality of optical attenuating means having different attenuating rates, and the optical attenuating means. Photoelectric conversion means for converting the optical pulse obtained by the above into an electric pulse under the condition of input / output characteristics determined according to a non-linear function, and a measuring means for measuring the number of electric pulses converted and output by the photoelectric conversion means. It is composed of.

また、平均計数率が一定の光パルスを光学的に減衰させ
る可変の光減衰手段または異なる減衰率をもつ複数の光
減衰手段と、この光減衰手段によって得られる光パルス
を非線形関数に従って定められる入出力特性の条件の下
で電気パルスに変換する光電変換手段と、この光電変換
手段により変換されて出力される電気パルスの個数を測
定する測定手段とからなる測定系を複数系統備えてもよ
い。
Further, a variable optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate or a plurality of optical attenuating means having different attenuating rates, and an optical pulse obtained by the optical attenuating means are defined by a non-linear function. A plurality of measuring systems may be provided which include photoelectric conversion means for converting electric pulses under the condition of output characteristics and measuring means for measuring the number of electric pulses converted and output by the photoelectric conversion means.

さらに、各測定系統に対応する可変の光減衰手段または
異なる減衰率をもつ複数の光減衰手段から出力される各
電気パルスを同時または多重同時に計数する計数手段を
設けてもよい。
Further, it is possible to provide counting means for counting the electric pulses output from the variable optical attenuating means corresponding to each measuring system or a plurality of optical attenuating means having different attenuating rates at the same time or simultaneously.

〔作用〕[Action]

この発明の測定方法においては、平均計数率が一定の光
パルスを光学的に既知の減衰率で減衰させ、この光減衰
によって得られた光パルスを電気信号パルスに変換し、
これらの電気パルスの個数を測定し、前記光減衰の程度
に応じて得られた電気パルスの一定時間当たりの個数か
らなる1組の測定データに基づいて光パルス強度分布を
決定する。
In the measuring method of the present invention, an optical pulse having a constant average count rate is attenuated at an optically known attenuation rate, and the optical pulse obtained by this optical attenuation is converted into an electric signal pulse,
The number of these electric pulses is measured, and the light pulse intensity distribution is determined based on a set of measurement data consisting of the number of electric pulses per constant time obtained according to the degree of light attenuation.

また、この発明の測定装置において、光減衰手段によっ
て減衰出力され平均計数率が一定の光パルスが光電変換
手段により電気パルスに変換されると、測定手段が変換
されて出力される電気パルスの個数を測定し、1組の測
定データ、すなわち、異なる光減衰率毎の電気パルスの
個数を示す測定データを確保する。
Further, in the measuring device of the present invention, when the optical pulse attenuated and output by the optical attenuating means and having a constant average count rate is converted into electric pulses by the photoelectric converting means, the number of electric pulses converted and output by the measuring means is changed. And a set of measurement data, that is, measurement data indicating the number of electric pulses for different light attenuation rates is secured.

また、複数の光減衰手段によって減衰出力され平均計数
率が一定の各光パルスがそれぞれ対応する光電変換手段
によりそれぞれ電気パルスに変換されると、各測定手段
が変換されて出力されるそれぞれの電気パルスの個数を
各測定系統で測定し、1組の測定データを確保する。
Further, when each optical pulse attenuated and output by the plurality of optical attenuating means and having a constant average count rate is converted into an electric pulse by the corresponding photoelectric converting means, each measuring means converts and outputs each electric pulse. The number of pulses is measured by each measurement system, and one set of measurement data is secured.

さらに、各測定系統に対応する光減衰手段から出力され
る各電気パルスを計数手段が同時または多重同時に計数
し、1組の測定データを確保する。
Further, the counting means counts each electric pulse output from the optical attenuating means corresponding to each measuring system at the same time or multiple times simultaneously, and a set of measurement data is secured.

〔実施例〕〔Example〕

第1図はこの発明の一実施例を示す光パルス強度分布測
定装置の構成を説明するブロック図であり、1は光ファ
イバライトガイドで、着目する光源から発生する平均計
数率が一定の光パルスを可変光減衰器2に導く。可変光
減衰器2は、光ファイバライトガイド1に導かれた光パ
ルスの光強度を後述する範囲内で所望とする減衰率で減
衰させる、すなわち、いろいろな光減衰比をもつもので
ある。3は例えば光電子増倍管で構成される光検出器
(光電変換手段を兼ねる)で、減衰された光パルスを電
気パルス(出力パルス)に変換する。4は比例増幅器
で、電気信号化された電気パルスを増幅する。5は波高
分析器で、増幅された電気パルスの波高を分析する。
FIG. 1 is a block diagram for explaining the configuration of an optical pulse intensity distribution measuring apparatus showing an embodiment of the present invention. Reference numeral 1 is an optical fiber light guide, which is an optical pulse generated from a light source of interest and having a constant average count rate. To the variable optical attenuator 2. The variable optical attenuator 2 attenuates the light intensity of the optical pulse guided to the optical fiber light guide 1 at a desired attenuation rate within a range described later, that is, has various optical attenuation ratios. Reference numeral 3 denotes a photodetector (which also serves as photoelectric conversion means) composed of, for example, a photomultiplier tube, which converts the attenuated light pulse into an electric pulse (output pulse). A proportional amplifier 4 amplifies the electric pulse converted into an electric signal. A wave height analyzer 5 analyzes the wave height of the amplified electric pulse.

6は測定手段を兼ねる計数器である。可変光減衰器2に
よて減衰出力される光パルスを光検出器3により電気パ
ルスに変換し、変換されて出力される電気パルスの個数
を各光減衰比毎に測定し、その結果から後述する観測方
程式に基づいて光パルス強度分布を決定する。
6 is a counter which also serves as a measuring means. The optical pulse attenuated and output by the variable optical attenuator 2 is converted into an electric pulse by the photodetector 3, and the number of converted and output electric pulses is measured for each optical attenuation ratio, and the result will be described later. The optical pulse intensity distribution is determined based on the observation equation.

なお、光電子増倍管で構成される光検出器3は、入射光
パルスの光強度の絶対値が低強度領域のある限られた範
囲にある場合には、入射光パルス毎に、光電子増倍管の
光電陰極に1個以上の光電子を発生する確率が入射光パ
ルスの光強度を変数とする非線形関数に従って定めるこ
とが出来る特性と、その光電陰極において、入射光パル
ス1個当り1個以上の光電子が発生したときは、必ず出
力パルスを発生する特性を有している。そこで、この実
施例では、入射される光パルスを光学的に減衰せしめて
光パルスの光強度を後述するある定められた範囲内で少
しずつ変化させた際に、光電子増倍管からの出力パルス
の単位時間当たりの個数を測定して得られる一連のデー
タに基づいて光パルスの光強度分布を決定する。
The photodetector 3 composed of a photomultiplier tube has a photomultiplier for each incident light pulse when the absolute value of the light intensity of the incident light pulse is in a limited range with a low intensity region. The probability that one or more photoelectrons are generated in the photocathode of the tube can be determined according to a non-linear function with the light intensity of the incident light pulse as a variable, and in the photocathode, one or more photoelectrons per incident light pulse When photoelectrons are generated, it has a characteristic of always generating an output pulse. Therefore, in this embodiment, when the incident light pulse is optically attenuated and the light intensity of the light pulse is gradually changed within a predetermined range described later, the output pulse from the photomultiplier tube The light intensity distribution of the light pulse is determined based on a series of data obtained by measuring the number of the light pulses per unit time.

以下、第2図〜第4図を逐次参照しながら第1図の動作
について説明する。
The operation of FIG. 1 will be described below with reference to FIGS. 2 to 4.

あるヒストグラムで表される光強度分布をもつ光パルス
は、光ファイバライトガイド1を介して可変光減衰器2
に導かれる。
An optical pulse having a light intensity distribution represented by a certain histogram is transmitted through the optical fiber light guide 1 to the variable optical attenuator 2
Be led to.

そして、光学的に減衰されて光検出器3に入射され、こ
こで、その光強度に応じて決定される発生確率で電気パ
ルスに変換される。このとき、電気パルスの発生確率が
光検出器3に入射する光パルスの光強度を変数とするあ
る非線形関数に従って定められる条件の下では、光減衰
比の変化に対して各ヒストグラム成分に対応する光パル
スの電気パルス発生確率は相互に異なる割合で変化す
る。光検出器3から出力される電気パルスは、比例増幅
器4によって適当な大きさに増幅された後、波高分析器
5に入射される。そして、波高分析器5から出力される
電気パルスの単位時間当たりの個数を計数器6に計数さ
せる。各光減衰比毎に計数された、電気パルスの個数を
示すデータn,n,n,……nからなる1組の
測定データに基ずいて、ヒストグラムの各成分の強度を
未知数とする多元1次連立方程式が構成される。この多
元1次連立方程式を解くことにより光パルス強度分布を
決定する。
Then, the light is optically attenuated and is incident on the photodetector 3, where it is converted into an electric pulse with the occurrence probability determined according to the light intensity. At this time, under the condition that the occurrence probability of the electric pulse is determined according to a certain nonlinear function having the light intensity of the light pulse incident on the photodetector 3 as a variable, it corresponds to each histogram component with respect to the change of the light attenuation ratio. The electric pulse generation probability of the light pulse changes at different rates. The electric pulse output from the photodetector 3 is amplified by the proportional amplifier 4 to an appropriate size and then incident on the wave height analyzer 5. Then, the counter 6 is caused to count the number of electric pulses output from the wave height analyzer 5 per unit time. The intensity of each component of the histogram is unknown based on a set of measurement data consisting of data n 1 , n 2 , n 3 , ..., N k indicating the number of electric pulses counted for each optical attenuation ratio. A multi-dimensional simultaneous simultaneous equation is defined as The optical pulse intensity distribution is determined by solving this multi-dimensional simultaneous simultaneous equation.

第2図は、第1図に示した光検出器3の出力パルス発生
確率Pと入射光パルス強度mの関係を示す図であり、縦
軸は光検出器3の出力パルス発生確率Pを示し、横軸は
入射光パルス強度m、つまり入射光パルスの1パルス当
たり光電陰極から発生する光電子の平均個数を示す。
FIG. 2 is a diagram showing the relationship between the output pulse generation probability P of the photodetector 3 and the incident light pulse intensity m shown in FIG. 1, and the vertical axis represents the output pulse generation probability P of the photodetector 3. The horizontal axis represents the incident light pulse intensity m, that is, the average number of photoelectrons generated from the photocathode per pulse of the incident light pulse.

この図における出力パルス発生確率Pは、下記第 (1)式
により表わされる。
The output pulse generation probability P in this figure is expressed by the following equation (1).

P=1−exp(−m)……(1) なお、この図から分かるように、入射光パルス強度mが
5程度より大きくなると、すなわちm5の場合には、
出力パルス発生確率Pは実際上1になる。
P = 1-exp (-m) (1) As can be seen from this figure, when the incident light pulse intensity m becomes larger than about 5, that is, when m5,
The output pulse generation probability P is actually 1.

また、mが0.1程度より小さくなると、すなわちm
0.1の場合には、出力パルス発生確率Pは近似的にm
に等しくなる。
If m is smaller than about 0.1, that is, m
In the case of 0.1, the output pulse generation probability P is approximately m
Is equal to

第3図は、第1図に示した光検出器3の出力パルスの波
高分布を示す特性図であり、縦軸は出力パルス数を示
し、横軸は出力パルス波高を示す。なお、波高分布Aは
光検出器3の光電陰極における1パルス当りの光電子の
平均個数mが0.2程度である場合の光検出器3の出力
パルスの波高分布に対応する。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing the wave height distribution of the output pulse of the photodetector 3 shown in FIG. 1, where the vertical axis shows the number of output pulses and the horizontal axis shows the output pulse wave height. The wave height distribution A corresponds to the wave height distribution of the output pulse of the photodetector 3 when the average number m of photoelectrons per pulse in the photocathode of the photodetector 3 is about 0.2.

この図において、Aはゲインが安定した状態における出
力パルスの波高分布を示し、Bはゲインがドリフトして
増加した状態における出力パルスの波高分布(破線)を
示す。
In this figure, A shows the pulse height distribution of the output pulse when the gain is stable, and B shows the pulse height distribution (broken line) of the output pulse when the gain drifts and increases.

光検出器3の高分解能型光電子増倍管に入射する光パル
スの強度(入射光パルス強度m)が0.2程度と十分に
低い場合、その出力パルスの波高分布Aは単一光電子に
対応する顕著なピークPと2個の光電子に対応する比
較的低いピークPを有する特徴的な形をとる。なお、
入射光パルス強度mが0.2よりも高くなるにつれて、
ピークPの高さは相対的に高くなり、同時に3個の光
電子に対応する第3のピークが現れる。
When the intensity of the light pulse (incident light pulse intensity m) incident on the high resolution photomultiplier of the photodetector 3 is sufficiently low at about 0.2, the pulse height distribution A of the output pulse corresponds to a single photoelectron. With a distinctive peak P 1 and a relatively low peak P 2 corresponding to two photoelectrons. In addition,
As the incident light pulse intensity m becomes higher than 0.2,
The height of the peak P 2 becomes relatively high, and at the same time, a third peak corresponding to three photoelectrons appears.

波高分布Aと横軸とで囲まれる全面積は、光検出器3か
らの出力パルスの個数を表すが、今、出力パルス波高の
下限値としてピークPに相当する波高値よりも十分に
低い値Hを設定し、上限値としてピークPに相当す
る波高値よりも十分に高い値Hを設定すると、出力パ
ルス数を値Hから値Hまでの区間で積分した面積S
は、近似的に全面積Sに等しくなる。また、この面積
Sは光検出器3のゲイン変化が生じても、これによって
影響されることなく略一定に保たれる。この事実によっ
て、光パルス強度分布測定方法による光パルス強度分布
の測定の精度を保証することが可能となる。上述したよ
うに、光検出器3の出力パルスは比例増幅器4により適
当な大きさに増幅されて波高分析器5に加えられるが、
波高分析器5の2つの弁別レベルを前述の下限値および
上限値となる値H,Hに相当するように設定する
と、波高分析器5の出力パルスの計数率n(すなわち、
単位時間当りの個数)は、光検出器3のゲイン変化にほ
とんど影響されることなく、光検出器3の出力パルスの
計数率を表すこととなる(ただし、上記面積S,全面積
との関係が近似的に一致するとした場合に限る)。
The total area surrounded by the wave height distribution A and the horizontal axis represents the number of output pulses from the photodetector 3, but is now sufficiently lower than the wave height value corresponding to the peak P 1 as the lower limit value of the output pulse wave height. When the value H 1 is set and the upper limit value is set to a value H 2 sufficiently higher than the peak value corresponding to the peak P 2 , the area S obtained by integrating the number of output pulses in the section from the value H 1 to the value H 2 is set.
Is approximately equal to the total area S 0 . Further, even if the gain of the photodetector 3 changes, this area S is kept substantially constant without being affected by it. Due to this fact, it becomes possible to guarantee the accuracy of the measurement of the optical pulse intensity distribution by the optical pulse intensity distribution measuring method. As described above, the output pulse of the photodetector 3 is amplified to a proper size by the proportional amplifier 4 and applied to the pulse height analyzer 5.
When the two discrimination levels of the wave height analyzer 5 are set so as to correspond to the above-mentioned lower limit value and upper limit value H 1 and H 2 , the counting rate n of the output pulse of the wave height analyzer 5 (that is,
The number per unit time) represents the counting rate of the output pulse of the photodetector 3 without being affected by the change in the gain of the photodetector 3 (however, the area S, the total area S 0 and Only if the relationship is approximately equal).

そして、波高分析器5の出力パルスの計数率は、計数器
6により測定される。
Then, the counting rate of the output pulse of the wave height analyzer 5 is measured by the counter 6.

次に減衰比を可変可能な可変光減衰器2の光減衰比をい
ろいろに変化させながら波高分析器5からの電気パルス
の計数率を測定して得られる一連の測定データから、光
パルスの光強度分布に関する情報を下記のように得る。
Next, from the series of measurement data obtained by measuring the count rate of the electric pulse from the wave height analyzer 5 while changing the optical attenuation ratio of the variable optical attenuator 2 whose attenuation ratio is variable, Information about the intensity distribution is obtained as follows.

光パルスの光強度は、O〜Lm までの範囲(ただし、L
m は光強度の上限値)に分布するものとし、これをm個
の成分を有するヒストグラムで表す。また、ヒストグラ
ムの各成分の幅は等しいものとし、i番目の成分の強度
Hi(ただし、i=1,2,…,m )はその成分に対応
する光強度をもつ光パルスの単位時間当りの個数(計数
率)を示すものとする。
The light intensity of the light pulse is in the range from O to Lm (however, L
m is the upper limit of the light intensity), and this is represented by a histogram having m components. Further, the width of each component of the histogram is assumed to be equal, and the intensity Hi (where i = 1, 2, ..., M) of the i-th component per unit time of an optical pulse having a light intensity corresponding to that component. It shall indicate the number (count rate).

第4図は光強度と出力パルス発生確率との関係を示す図
であり、横軸は光強度(光強度の上限値Lm)を示し、
縦軸は出力パルス発生確率Pを示す。
FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the light intensity and the probability of occurrence of an output pulse, where the horizontal axis represents the light intensity (the upper limit value Lm of the light intensity),
The vertical axis represents the output pulse generation probability P.

この図において、mは入射光パルス強度(ただし、入射
光パルスの1パルス当り光電陰極に生じる光電子の平均
個数で示した光強度を示す)で、光パルスを可変光減衰
器2により光学的に減衰させ、光強度の上限値Lm に対
応する入射光パルス強度mが20,10,5,2,1,
0.5,0.2のそれぞれについて上記第(1) 式に基づ
いて出力パルス発生確率Pを演算して得られた関数値を
プロットしたものである。
In this figure, m is the intensity of the incident light pulse (however, it indicates the light intensity indicated by the average number of photoelectrons generated in the photocathode per pulse of the incident light pulse), and the light pulse is optically converted by the variable optical attenuator 2. The incident light pulse intensity m corresponding to the upper limit value Lm of the light intensity is attenuated to be 20, 10, 5, 2, 1,
It is a plot of the function values obtained by calculating the output pulse generation probability P based on the above equation (1) for each of 0.5 and 0.2.

これにより、光パルスを可変光減衰器2により光学的に
減衰させて光強度の上限値Lm に対応する光強度が、例
えばm=10である場合、ヒストグラムの各成分の光強
度に対する出力パルス発生確率は、第4図に示した入射
光パルス強度値m=10の曲線から容易に決定すること
ができる。
As a result, when the optical pulse is optically attenuated by the variable optical attenuator 2 and the optical intensity corresponding to the upper limit value Lm of the optical intensity is, for example, m = 10, an output pulse is generated for the optical intensity of each component of the histogram. The probability can be easily determined from the curve of the incident light pulse intensity value m = 10 shown in FIG.

そこで、ヒストグラムのi番目の成分に対応する光パル
スに対する出力パルス発生確率をε1iとすると、これら
の光パルスによる光検出器3からの出力パルスの単位時
間当りの個数は、Hi ・ε1iと表される。従って、光検
出器3からの出力パルスの単位時間当りの個数nは、
ヒストグラムの各成分毎の個数を合成したものであり、
下記第(2) 式(観測方程式)により表される。
Therefore, if the output pulse generation probability for the optical pulse corresponding to the i-th component of the histogram is ε 1i , the number of output pulses from the photodetector 3 due to these optical pulses per unit time is Hi · ε 1i . expressed. Therefore, the number n 1 of output pulses from the photodetector 3 per unit time is
It is a composite of the number of each component of the histogram,
It is expressed by the following equation (2) (observation equation).

n1 =H1・ε11+ H2・ε12+ … +Hm・ε1m …(2) また、光パルスを光学的に減衰させて、光強度の上限値
Lm に対応する光強度がm=5である場合、光検出器3
からの出力パルスの単位時間当りの個数をnとする
と、下記第(3) 式より光強度がm=5に対する観測方程
式を得る。
n 1 = H 1 · ε 11 + H 2 · ε 12 + ... + H m · ε 1 m (2) Further, the optical pulse is optically attenuated so that the light intensity corresponding to the upper limit Lm of the light intensity is increased. When m = 5, photodetector 3
Letting n 2 be the number of output pulses per unit time from, the observation equation for the light intensity m = 5 is obtained from the following equation (3).

n2 =H1・ε21+ H2・ ε22+ … + Hm・ε2m …(3) ここで、ε2i(ただし、i=1,2,…,m )はヒスト
グラムの各成分に対応する光強度を持つ光パルスに対す
る出力パルス発生確率であり、第4図のm=5の曲線か
ら直接または上記第(1) 式より計算で求めることができ
る。
n 2 = H 1 · ε 21 + H 2 · ε 22 +… + H m · ε 2m (3) where ε 2i (where i = 1, 2, ..., m) is assigned to each component of the histogram. This is the output pulse generation probability for an optical pulse having a corresponding light intensity, and can be obtained directly from the curve of m = 5 in FIG. 4 or by calculation from the above equation (1).

同様に、光パルスを光学的に減衰させて光強度の上限値
Lm に対応する光強度が、例えばm=4,3.5,3に
設定し、その都度、光検出器3からの出力パルスの単位
時間当りの個数を測定した結果をそれぞれnk-2
k-1,nで表し、それぞれの場合にヒストグラム
の各成分に対応した光強度の光パルスに対する出力パル
ス発生確率として上記第(1) 式から計算される値を、そ
れぞれε(k-2)i,ε(k-1)i,εkiで表すと、下記観測方
程式が得られる。
Similarly, the light intensity corresponding to the upper limit value Lm of the light intensity is set to, for example, m = 4, 3.5, 3 by optically attenuating the light pulse, and the output pulse from the photodetector 3 is set each time. The number of units per unit time was measured to be n k-2 ,
expressed as n k-1, n k, each of the values calculated as the output pulse generation probability for light pulses of the light intensity corresponding to each component of the histogram from the equation (1) when, respectively epsilon (k- 2) i , ε (k-1) i , ε ki gives the following observation equation.

k-2 =H1・ ε(k-2)1+ H2・ ε(k-2)2+ … + Hm・ ε(k-2)m …(4) nk-1 =H1・ ε(k-1)1+ H2・ ε(k-1)2+ … + Hm・ ε(k-1)m …(5) nk =H1・ εk1+ H2・ εk2+ … + Hm・ εkm …(6) 上記第(2) 〜(6) 式はm個の未知数H,H…,Hm
を含む多元連立方程式を構成する。
n k-2 = H 1 · ε (k-2) 1 + H 2 · ε (k-2) 2 +… + H m · ε (k-2) m … (4) n k-1 = H 1 · Ε (k-1) 1 + H 2 · ε (k-1) 2 +… + H m · ε (k-1) m … (5) nk = H 1 · ε k1 + H 2 · ε k2 +… + H m · ε km … (6) The above equations (2) to (6) are m unknowns H 1 , H 2 …, H m
Construct a multi-dimensional system of equations containing.

そして、上記多元連立方程式を下記条件(a)および条
件(b)に従って演算することにより、光パルスの強度
分布を決定する。
Then, the intensity distribution of the optical pulse is determined by calculating the above multi-dimensional simultaneous equations according to the following conditions (a) and (b).

(a)基本的条件 連立方程式は、m個以上の等式(観測方程式)で構成さ
れること。
(A) Basic conditions A simultaneous equation must be composed of m or more equalities (observation equations).

(b)各等式が独立であるための必要条件 連立方程式を構成する等式のうち、任意の2個の等式に
関して、各未知数の計数εji,εkiの比εji/εki(た
だし、i=1,2,…,mであり、j,kは任意の2個
の等式を表す)がすべてのiに対して一定になることが
ないこと。すなわち、下記第(7) 式が成立しないこと。
(B) of equations constituting the requirements simultaneous equations for each equation are independent, any respect two equations, each unknown count epsilon ji, epsilon ki ratio ε ji / ε ki ( However, i = 1, 2, ..., M, and j and k represent arbitrary two equalities) must not be constant for all i. That is, the following expression (7) must not hold.

εji≒C・εki …(7) ただし、Cは任意の定数である。ε ji ≈C · ε ki (7) However, C is an arbitrary constant.

例えば上記第(2) 式,第(3) 式の各未知数の計数間に第
(7) 式の関係が近似的に成立する場合には、出力パルス
の個数の測定値nおよびnの間にも近似的にn
C・nの関係が成立することが予想され、上記第(2)
式,第(3) 式は実質上同じ等式になる。
For example, the number of unknowns between the equations (2) and (3)
When the relationship of the equation (7) is approximately satisfied, n 1 ≈approximate between the measured values n 1 and n 2 of the number of output pulses.
It is expected that the relationship of C · n 2 will be established, and the above (2)
Equation (3) becomes substantially the same equation.

光パルスを光学的に減衰させて、光強度の上限値Lm に
対応する光強度が、例えばm=0.5またはm=0.2
となった場合、光パルス強度分布を表すヒストグラムの
各成分に対応する光パルスに対する光検出器3の出力パ
ルス発生確率は、第4図に示した入射光パルス強度mが
m=0.5およびm=0.2の曲線から決定されるが、
これらの曲線はいずれも原点を通る直線で近似的に表わ
されることから、これらの2つの場合に対する観測方程
式には上記第(7) 式の関係が成立するので、両者はほと
んど同じ等式となる。
The light pulse is optically attenuated so that the light intensity corresponding to the upper limit value Lm of the light intensity is, for example, m = 0.5 or m = 0.2.
In the case of, the output pulse generation probability of the photodetector 3 with respect to the light pulse corresponding to each component of the histogram showing the light pulse intensity distribution is as follows: the incident light pulse intensity m shown in FIG. Determined from the curve with m = 0.2,
Since each of these curves is approximately represented by a straight line passing through the origin, the observation equations for these two cases satisfy the relation of the above equation (7), so that they are almost the same equations. .

すなわち、光パルスを光学的に減衰させて、光強度の上
限値Lm に対応する入射光パルス強度mが0.5程度以
下であるようにした場合には、入射光パルス強度mの値
とは無関係に観測方程式は実際上同じになる。
That is, when the light pulse is optically attenuated so that the incident light pulse intensity m corresponding to the upper limit value Lm of the light intensity is about 0.5 or less, the value of the incident light pulse intensity m is Irrespective of, the observation equation is actually the same.

一方、光強度の上限値Lm に対応する入射光パルス強度
値mが20程度以上となるように光パルを減衰させた場
合、第4図に示した入射光パルス強度mが20の曲線か
ら予想されるように、光検出器3の出力パルス発生確率
は大部分の光パルスに対して1(確率100%)とな
り、これらの場合に対する観測方程式はすべてほとんど
同じものとなる。
On the other hand, when the optical pulse is attenuated so that the incident light pulse intensity value m corresponding to the upper limit value Lm of the light intensity is about 20 or more, it is expected from the curve of the incident light pulse intensity m of 20 shown in FIG. As described above, the output pulse generation probability of the photodetector 3 is 1 (probability 100%) for most optical pulses, and the observation equations for these cases are almost the same.

従って、上記条件(b)を満足する観測方程式を得るに
は、光パルスを光学的に減衰させ、光強度の上限値Lm
に対応する入射光パルス強度値mが0.5〜20の範囲
になるように観測方程式を作成する必要がある。そし
て、上記観測方程式を演算することにより、所望とする
光パルスの強度分布を求める。
Therefore, in order to obtain an observation equation that satisfies the above condition (b), the optical pulse is optically attenuated and the upper limit value Lm of the light intensity is set.
It is necessary to create an observation equation so that the incident light pulse intensity value m corresponding to is in the range of 0.5 to 20. Then, the intensity distribution of the desired light pulse is obtained by calculating the above observation equation.

なお、上記実施例においては、1個の光検出器3を使用
して光パルスを光学的にいろいろな程度まで減衰させ
て、光検出器3から出力パルスの個数を観測することに
より観測方程式を作成する場合について説明したが、光
検出器3の個数を増加するとともに、各光検出器3(各
光検出器3は異なり、入射光パルス強度mが0.5〜2
0の範囲内の相互に異なる種々の値になるように光減衰
比が調整される)に対応する比例増幅器4,波高分析器
5,係数器6からなる出力パルス数測定系統をそれぞれ
独立して設け、光ファイバライトガイド1等を用いるこ
とにより、1回の測定で必要な個数の観測方程式を作成
することができる。
In the above embodiment, one photodetector 3 is used to optically attenuate a light pulse to various extents, and the number of output pulses is observed from the photodetector 3 to obtain an observation equation. Although the case of creating the photodetector has been described, as the number of photodetectors 3 is increased, each photodetector 3 (each photodetector 3 is different and the incident light pulse intensity m is 0.5 to 2).
The output pulse number measuring system consisting of the proportional amplifier 4, the wave height analyzer 5, and the coefficient unit 6 corresponding to (the optical attenuation ratio is adjusted so as to have various values different from each other within the range of 0) are independently provided. By providing and using the optical fiber light guide 1 and the like, it is possible to create the required number of observation equations in one measurement.

また、多他数個の光検出器3を用いる場合には、各光検
出器3からの出力パルスの測定からそれぞれ1個の観測
方程式を作成できるほか、複数個の光検出器3の出力パ
ルスの同時計数(または多重同時計数)を行うことによ
って観測方程式を作成できる。なお、この場合のパルス
発生確率は、各光検出器3のパルス発生確率の積で与え
られる。
In addition, when multiple photodetectors 3 are used, one observation equation can be created from the measurement of the output pulses from each photodetector 3, and the output pulse of multiple photodetectors 3 can be created. An observation equation can be created by performing coincidence counting (or multiple coincidence counting). The pulse generation probability in this case is given by the product of the pulse generation probabilities of each photodetector 3.

このように、複数個の光検出器3の出力パルスの同時計
数(または多重同時計数)を行うことによって比較的多
くの観測方程式を作成できる。
In this way, a relatively large number of observation equations can be created by performing coincidence counting (or multiple coincidence counting) of the output pulses of the plurality of photodetectors 3.

例えばA,B,Cの3個の光検出器3を用いた場合に
は、各光検出器3の出力パルスに対する3個の観測方程
式に加えてAB,AC,BCのそれぞれ2個の光検出器
3の同時計数に対する3個の観測方程式およびABCの
3個の光検出器3の3重同時計数に対する1個の観測方
程式を作成できる。すなわち、1回の測定から合計7個
の観測方程式を作成できるので、7成分のヒストグラム
で表わされる光パルス強度分布を得ることができる。
For example, when three photodetectors A, B, and C are used, in addition to the three observation equations for the output pulse of each photodetector 3, two photodetectors AB, AC, and BC are detected. It is possible to create three observation equations for coincidence counting of the detector 3 and one observation equation for triple coincidence counting of the three photodetectors 3 of ABC. That is, since a total of 7 observation equations can be created from one measurement, an optical pulse intensity distribution represented by a 7-component histogram can be obtained.

同様に、A,B,C,Dの4個の光検出器3を用いた場
合には、1回の測定から多重同時計数に帯するものも含
めて15個の観測方程式を得ることができ、15成分の
ヒストグラムで表される光パルス強度分布を得ることが
できる。
Similarly, if four photodetectors A, B, C, and D are used, 15 observation equations including those involved in multiple coincidence can be obtained from one measurement. , The optical pulse intensity distribution represented by the histogram of 15 components can be obtained.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、この発明に係る光パルス強度分布
測定方法は、平均計数率が一定の光パルスを光学的に異
なる既知の減衰率で減衰させ、この光減衰によって得ら
れた光パルスを非線形関数に従って定めれる入出力特性
の条件の下で電気パルスに変換し、これらの電気パルス
の個数を測定し、異なる光減衰率毎に得られた、一定時
間当りの電気パルスの個数を示すk個の測定データ
,n,n,……nからなる1組の測定データ
と、m個の成分(m≦k)をもつヒストグラムで表した
光パルス強度分布の各成分の強度H,H,H……
(未知数)とから構成される連立方程式を数学的
手法を用いて解くことにより、光パルス強度分布を演算
決定するので、光検出機構の分解能に左右されない光強
度分布を測定することができる。
As described above, the optical pulse intensity distribution measuring method according to the present invention attenuates an optical pulse having a constant average count rate with a known attenuation rate that is optically different, and nonlinearly converts the optical pulse obtained by this optical attenuation. Converted into electric pulses under the condition of input / output characteristics determined according to a function, measured the number of these electric pulses, and obtained k for each different optical attenuation rate, indicating the number of electric pulses per constant time. Measurement data n 1 , n 2 , n 3 , ..., N k of one set, and the intensity H of each component of the optical pulse intensity distribution represented by a histogram having m components (m ≦ k) 1 , H 2 , H 3 ...
The optical pulse intensity distribution is calculated and determined by solving a simultaneous equation composed of H m (unknown number) using a mathematical method, so that the light intensity distribution that is not affected by the resolution of the photodetection mechanism can be measured. .

また、この発明に係る光パルス強度分布測定装置は、平
均計数率が一定の光パルスを光学的に減衰させる光減衰
手段と、この光減衰手段によって得られる光パルスを非
線形関数に従って定められる入出力特性の条件の下で電
気パネルに変換する光電変換手段と、この光電変換手段
により変換されて出力される電気パルスの個数を測定す
る測定手段とから構成したので、測定された光パルス強
度分布の分解能が光検出器の固有の分解能によって制限
されることがなく、強度分布を表すヒストグラムの各成
分の個数の大小として得ることができる。すなわち、パ
ルス波高測定に基づく従来の光パルス強度分布測定方法
においては、分解能は光検出器の固有の分解能によって
制限されるので、例えば光パルスの入射光強度がm=1
00程度以下の場合には、10%よりも良好な分解能を
得ることは原理的に不可能であるのに対して、この発明
の多成分のヒストグラムを用いることにより10%より
も良好な分解能で光強度分布を安価な装置で測定するこ
とができる。
Further, the optical pulse intensity distribution measuring device according to the present invention comprises an optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate, and an input / output in which the optical pulse obtained by the optical attenuating means is determined according to a non-linear function. Since the photoelectric conversion means for converting into an electric panel under the condition of characteristics and the measuring means for measuring the number of electric pulses converted and output by the photoelectric conversion means are constituted, the measured light pulse intensity distribution The resolution is not limited by the inherent resolution of the photodetector, and can be obtained as the magnitude of the number of each component of the histogram representing the intensity distribution. That is, in the conventional optical pulse intensity distribution measuring method based on pulse wave height measurement, the resolution is limited by the inherent resolution of the photodetector, so that, for example, the incident light intensity of the optical pulse is m = 1.
In the case of about 00 or less, it is impossible in principle to obtain a resolution better than 10%, whereas by using the multi-component histogram of the present invention, a resolution better than 10% can be obtained. The light intensity distribution can be measured with an inexpensive device.

また、平均計数率が一定の光パルスを光学的に減衰させ
る光減衰手段と、この光減衰手段によって得られる光パ
ルスを非線形関数に従って定められる入出力特性の条件
の下で電気パルスに変換する光電変換手段と、この光電
変換手段により変換されて出力される電気パルスの個数
を測定する測定手段とからなる測定系を複数系統備えた
ので、1回の測定により必要な個数の観測方式を効率よ
く作成できる。
In addition, an optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate, and a photoelectric converting means for converting the optical pulse obtained by the optical attenuating means into an electric pulse under the condition of input / output characteristics determined according to a non-linear function. Since a plurality of measuring systems each including a converting means and a measuring means for measuring the number of electric pulses converted and output by the photoelectric converting means are provided, it is possible to efficiently measure a necessary number of observation methods by one measurement. Can be created.

さらに、各測定系統に対応する光減衰手段から出力され
る各電気パルスを同時または多重同時に計数する計数手
段を設けたので、少ない光検出機構であっても、比較的
多くの観測方程式を作成できる等の優れた効果を奏す
る。
Furthermore, since the counting means for counting the electric pulses output from the optical attenuating means corresponding to each measuring system simultaneously or in multiplex is provided, a relatively large number of observation equations can be created even with a small number of photodetection mechanisms. And so on.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す光パルス強度分布測
定装置の構成を説明するブロック図、第2図は、第1図
に示した光検出器の出力パルス発生確率と入射光パルス
強度の関係を示す図、第3図は、第1図に示した光検出
器の出力パルスの波高分布を示す特性図、第4図は光強
度と出力パルス発生確率との関係を示す図である。 図中、1は光ファイバライトガイド、2は可変光減衰
器、3は光検出器、4は比例増幅器、5は波高分析器、
6は計数器である。
FIG. 1 is a block diagram for explaining the configuration of an optical pulse intensity distribution measuring apparatus showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an output pulse generation probability and incident optical pulse intensity of the photodetector shown in FIG. FIG. 3 is a characteristic diagram showing the pulse height distribution of the output pulse of the photodetector shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a diagram showing the relation between light intensity and output pulse generation probability. . In the figure, 1 is an optical fiber light guide, 2 is a variable optical attenuator, 3 is a photodetector, 4 is a proportional amplifier, 5 is a wave height analyzer,
6 is a counter.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】平均計数率が一定の光パルスを光学的に異
なる既知の減衰率で減衰させ、この光減衰によって得ら
れた光パルスを非線形関数に従って定められる入出力特
性の条件の下で電気パルスに変換し、これらの電気パル
スの個数を測定し、異なる光減衰率毎に得られた、一定
時間当りの電気パルスの個数を示すk個の測定データn
,n,n,……nからなる1組の測定データと
m個の成分(m≦k)をもつヒストグラムで表わした光
パルス強度分布の各成分の強度H,H,H,……
(未知数)とから構成される連立方程式を数学的手
法を用いて解くことにより光パルス強度分布を決定する
ことを特徴とする光パルス強度分布測定方法。
1. An optical pulse having a constant average count rate is attenuated at known optically different attenuation rates, and the optical pulse obtained by this optical attenuation is electrically converted under a condition of an input / output characteristic determined according to a non-linear function. Converted into pulses, the number of these electric pulses is measured, and k measurement data n indicating the number of electric pulses per constant time, which are obtained for different optical attenuation rates, are obtained.
Intensity H 1 , H 2 of each component of the optical pulse intensity distribution represented by a histogram having a set of measurement data consisting of 1 , n 2 , n 3 , ..., N k and m components (m ≦ k) H 3 , ...
An optical pulse intensity distribution measuring method, characterized in that the optical pulse intensity distribution is determined by solving a simultaneous equation composed of H m (unknown number) and a mathematical method.
【請求項2】平均計数率が一定の光パルスを光学的に減
衰させる可変の光減衰手段または異なる減衰率をもつ複
数の光減衰手段と、この光減衰手段によって得られる光
パルスを非線形関数に従って定められる入出力特性の条
件の下で電気パルスに変換する光電変換手段と、この光
電変換手段により変換されて出力される電気パルスの個
数を測定する測定手段とから構成したことを特徴とする
請求項1の方法に使用する光パルス強度分布測定装置。
2. A variable optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate, or a plurality of optical attenuating means having different attenuating rates, and an optical pulse obtained by the optical attenuating means according to a non-linear function. A photoelectric conversion means for converting into an electric pulse under a condition of a defined input / output characteristic, and a measuring means for measuring the number of electric pulses converted and output by the photoelectric conversion means. An optical pulse intensity distribution measuring device used in the method of item 1.
【請求項3】平均計数率が一定の光パルスを光学的に減
衰させる可変の光減衰手段または異なる減衰率をもつ複
数の光減衰手段と、この光減衰手段によって得られる光
パルスを非線形関数に従って定められる入出力特性の条
件の下で電気パルスに変換する光電変換手段と、この光
電変換手段により変換されて出力される電気パルスの個
数を測定する測定手段とからなる測定系を複数系統を備
えたことを特徴とする請求項1の方法に使用する光パル
ス強度分布測定装置。
3. A variable optical attenuating means for optically attenuating an optical pulse having a constant average count rate or a plurality of optical attenuating means having different attenuating rates, and an optical pulse obtained by the optical attenuating means according to a non-linear function. A plurality of measurement systems are provided, each of which includes a photoelectric conversion unit that converts an electric pulse under the condition of a specified input / output characteristic and a measurement unit that measures the number of electric pulses converted and output by the photoelectric conversion unit. An optical pulse intensity distribution measuring device for use in the method according to claim 1.
【請求項4】各測定系統に対応する可変の光減衰手段ま
たは異なる減衰率をもつ複数の光減衰手段から出力され
る各電気パルスを同時または多重同時に計数する計数手
段を具備したことを特徴とする請求項 (3)記載の光パル
ス強度分布測定装置。
4. A counting means for counting simultaneously or multiple simultaneously each electric pulse outputted from a variable optical attenuating means corresponding to each measuring system or a plurality of optical attenuating means having different attenuation factors. The optical pulse intensity distribution measuring device according to claim (3).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1313805C (en) * 2003-08-22 2007-05-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 Intense laser pulse light intensity distribution test system

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CN1313805C (en) * 2003-08-22 2007-05-02 中国科学院上海光学精密机械研究所 Intense laser pulse light intensity distribution test system

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