JPH0654347B2 - Magnetometer - Google Patents
MagnetometerInfo
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- JPH0654347B2 JPH0654347B2 JP60122526A JP12252685A JPH0654347B2 JP H0654347 B2 JPH0654347 B2 JP H0654347B2 JP 60122526 A JP60122526 A JP 60122526A JP 12252685 A JP12252685 A JP 12252685A JP H0654347 B2 JPH0654347 B2 JP H0654347B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はジョセフソンデバイスを用いた高感度の磁束計
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a highly sensitive magnetometer using a Josephson device.
ジョセフソンデバイスを使った磁束計は当技術分野では
公知であり、SQUID磁束計として知られている。従
来技術による磁束計はDC−SQUID磁束計、AC−
SQUID磁束計に代表される。DC−SQUID磁束
計は2個のジョセフソン接合とインダクタからなる超電
導ループに鎖交する磁束を該超電導ループに流れる最大
超電導電流の変化として直流で観測する装置である。r
f−SQUID磁束計は1個のジョセフソン接合とイン
ダクタからなる超電導ループに鎖交する磁束を該超電導
ループに流れる最大超電導電流の変化として交流で観測
する装置である。従来技術による何れのSQUID磁束
計も、その要となるSQUIDは超電導ループに鎖交す
る磁束を検知する受動素子であって、ジョセフソン接合
を使うSQUIDは液体ヘリウム中に浸漬され、出力信
号は配線ケーブルを介して室温中の測定回路、データ処
理回路に送られる構成である。SQIUDは非常に微弱
な磁束を測定するものであって、しかもジョセフソン素
子の出力信号もそれ自体微弱な信号である。そのためS
QUIDから室温にある測定回路に送られる信号は例え
ば1μV程度の極めて微弱な信号である。このため従来
のSQUID磁束系の感度は室温の熱雑音によって制限
されていた。Magnetometers using Josephson devices are known in the art and are known as SQUID magnetometers. Prior art magnetometers are DC-SQUID magnetometers, AC-
It is represented by the SQUID magnetometer. The DC-SQUID magnetometer is a device for observing a magnetic flux interlinking with a superconducting loop composed of two Josephson junctions and an inductor as a change in the maximum superconducting current flowing in the superconducting loop at a direct current. r
The f-SQUID magnetometer is a device for observing the magnetic flux interlinking with a superconducting loop composed of one Josephson junction and an inductor, as a change in the maximum superconducting current flowing in the superconducting loop. In any of the conventional SQUID magnetometers, the essential SQUID is a passive element that detects the magnetic flux interlinking with the superconducting loop, and the SQUID using the Josephson junction is immersed in liquid helium and the output signal is wired. It is configured to be sent to a measurement circuit and a data processing circuit at room temperature via a cable. The SQIUD measures a very weak magnetic flux, and the output signal of the Josephson element is also a weak signal itself. Therefore S
The signal sent from the QUID to the measurement circuit at room temperature is an extremely weak signal of, for example, about 1 μV. Therefore, the sensitivity of the conventional SQUID magnetic flux system is limited by the thermal noise at room temperature.
ジョセフソン接合を用い、直流磁束を信号媒体として直
流磁束パラメトロン(DC Flux Parametron:以下DCF
Pと呼ぶ)回路は液体ヘリウム中で動作し、高い回路利
得を得られる能動スイッチングデバイスである。このD
CFP回路については昭和59年度理研シンポジウム予
稿集、第1−3頁および第48−78頁、昭和60年度
理研シンポジウム予稿集、第1−13頁に詳しく記載さ
れている。このDCFP回路は磁束に対し高い感度を持
ち、極低温(液体ヘリウム温度)で動作する増幅素子な
ので熱雑音は極めて小さい。ただしDCFP回路はスイ
ッチング回路であるため、磁束系のようなアナログ計測
に使用するには2値(ON−OFF)サーボ機構を必要
とする。Direct current magnetic flux parametron (DC Flux Parametron: DCF)
The circuit (referred to as P) is an active switching device that operates in liquid helium and provides high circuit gain. This D
The CFP circuit is described in detail in RIKEN Symposium Proceedings 1984, pp. 1-3 and pp. 48-78, and RIKEN Symposium Proposal 1984, pp. 1-13. Since this DCFP circuit has high sensitivity to magnetic flux and operates at an extremely low temperature (liquid helium temperature), thermal noise is extremely small. However, since the DCFP circuit is a switching circuit, a binary (ON-OFF) servo mechanism is required for use in analog measurement such as a magnetic flux system.
本発明の目的は、DCFP回路を用し、外界の雑音に強
い高感度の磁束計を提供することにある。An object of the present invention is to provide a highly sensitive magnetic flux meter that uses a DCFP circuit and is strong against external noise.
この目的を達成するために本発明ではDCFP回路を高
感度の磁束の比較回路として使い、このDCFP回路を
使って入力磁束と他に設けた参照信号発生回路の参照信
号と比較を行い、該参照信号を出力信号とする回路制御
方式を採用した。In order to achieve this object, the present invention uses a DCFP circuit as a high sensitivity magnetic flux comparison circuit, and this DCFP circuit is used to compare the input magnetic flux with a reference signal of a reference signal generation circuit provided elsewhere. A circuit control method that uses a signal as an output signal is adopted.
以下本発明を実施例を使って説明する。第1図は本発明
に使用するDCFP回路の回路図である。このDCFP
回路は2個のジョセフソン接合101,102と2個の
励振インダクタ103,104からなる超電導ループ1
08から構成されている。入力信号電流は入力線107
を介して該超電導ループ108に注入される。この入力
電流は励振線106に流れる励振電流により増幅され出
力電流となって負荷インダクタ105に流れる。この場
合出力電流の流れる方向は入力電流の方向により決めら
れ、正の方向か、負の方向かに流れる。すなわち、この
DCFP回路は入力信号の正、又は負の極性を種信号と
して励振電流(励振電力)により入力信号を増幅する動
作を行うが、その出力電流の極性が種信号に依存して増
幅されるものである。第2図はDCFP回路を比較回路
として使う方法を示している。第2図に示す比較回路は
第1図に示したDCFP回路の入力線107に参照信号
変成器110と入力信号変成器112を直列に接続した
構成である。入力信号線113を介して入力された入力
磁束と参照信号線111を介して入力された参照磁束は
加算されDCFP回路の入力磁束となり、この磁束が種
信号となり励振電流により増幅される。第3図はDCF
P回路を比較回路として使う他の方法を示している。第
3図の回路は第1図に示すDCFP回路に参照信号変成
器110と入力信号変成器112を並列に入力線107
a,107bを介して接続された構成である。第4図は
本発明による磁束計のブロック図である。磁束計はDC
FP回路から構成された比較回路201と参照信号発生
回路202から構成される。比較回路201には入力磁
束が入力信号線113を介して、また参照信号が参照信
号線111を介して印加される。比較回路201は該D
CFP回路を使った比較回路から構成されており、入力
信号と参照信号の差が励振により増幅され出力信号とし
て配線203を介して参照信号発生回路202に入力さ
れる。参照信号発生回路202は入力信号を増幅した信
号を出力信号として出力信号線204を介して外部に出
力する。次に本発明による磁束計の構成をより具体的に
説明する。第5図は比較回路201の構成例である。第
5図に示す回路は第1図に示すDCFP回路に入力線1
07a、入力信号変成器112を介して磁束アンテナ5
01で感知した入力磁束を入力する。入力信号変成器1
12には磁束感度を校正するための校正線503が設置
されている。DCFP回路に導入された入力磁束は入力
線107bから入力された参照信号と比較され、入力信
号と参照信号の差が増幅される。DCFP回路の負荷に
は磁束結合形量子干渉素子506とバイアス線507か
らなる電流検出回路が設置されている。この磁束結合形
量子干渉素子506とDCFP回路は配線505を介し
て結合している。磁束結合形量子干渉素子506には配
線508を介してゲート電流が給電される。ここでDC
FP回路の負荷インダクタの一部が検出回路の配線50
5のインダクタとなっている。この回路の動作原理は特
願昭58−222110号公報に詳しく記載されてい
る。第6図は第5図に示す比較回路を用いた磁束計の制
御系の第一の実施例である。この系はフィードバックル
ープを構成する代表的な例である。第6図に示す実施例
では参照信号発生回路202は参照信号の値を示すレジ
スタ301、レジスタ301の値を増加、減少させるレ
ジスタ制御回路302、レジスタのディジタル信号をア
ナログ信号に変換するD/A変換回路303、減衰器3
04から構成されている。第6図に示す磁束系では該参
照電流発生回路と第5図に示す比較回路でフィードバッ
クループを構成している。すなわち比較回路201の出
力信号によりレジスタの参照信号値が更新され、その値
がD/A変換回路303、減衰器304を介して比較回
路201にフィードバックされている。第7図は第6図
に示す磁束系の動作のタイムチャートである。DCFP
回路は波形600に示す様に周期的に励振される。比較
回路201の出力は波形601に示される。この波形で
入力信号が参照信号より大きければ正の極性が、小さけ
れば負の極性が出力される。レジスタ制御回路302は
この比較回路201の出力信号の極性によりレジスタ3
01の値を波形602に示す様なタイミングで更新す
る。ここで例えば比較回路201の出力波形が正の極性
の場合はレジスタ301の値を増加(カウントアップ)
し、負の極性の場合はレジスタ301の値を減少(カウ
ントダウン)させれば、この第7図に示す構成では入力
信号と比較回路に入力される参照信号が等しい時に安定
な状態になることは明らかである。この制御系で減衰器
の減衰率を大きくすると出力信号と入力信号の比、すな
わち回路利得を大きくする事が出来るが、その反面フィ
ードバックループの利得が小さく、回路の応答が遅くな
る。第8図は第5図に示す比較回路を用いた磁束計の制
御系の第二の実施例である。この系はフィードフォワー
ド系を構成する代表的な例である。参照信号発生回路2
02は信号スイープ回路401、D/A変換回路30
3、減衰器304、ホールド回路404から構成されて
いる。第9図は第8図に示す磁束計の動作のタイムチャ
ートである。信号スイープ回路401の出力信号は参照
信号の値を示しており、各周期毎にその値は一単位だけ
増加する。D/A変換回路303はこの信号スイープ回
路401の出力信号を入力信号としているため、出力信
号は波形701に示す段階状のスイープ波形となる。こ
の段階状のスイープ波形は減衰器304を介して比較回
路201に参照信号として入力される。比較回路201
のDCFP回路は波形700に示す様に信号スイープ回
路401の周期に同期して励振される。比較回路201
の出力波形は波形702に示される。この波形で入力信
号が参照信号より大きければ正の極性が、小さければ負
の極性が出力される。比較回路201の出力波形の極性
が正から負に切り換わる時の参照信号値が入力信号に等
しい。このためこの時点でホールド回路404は波形7
03に示すホールド信号を発生し参照信号の値を保持す
る。この制御系で減衰器304の減衰率を大きくすると
出力信号と入力信号の比、すなわち回路利得を大きくす
る事が出来るが、その反面測定精度が低下する。以上の
二つの制御系では参照信号の発生源はデイジタル信号源
であったが、他にアナログ信号源でも構成出来る事は明
らかである。The present invention will be described below with reference to examples. FIG. 1 is a circuit diagram of a DCFP circuit used in the present invention. This DCFP
The circuit is a superconducting loop 1 consisting of two Josephson junctions 101 and 102 and two exciting inductors 103 and 104.
It is composed of 08. Input signal current is input line 107
Is injected into the superconducting loop 108 via. This input current is amplified by the exciting current flowing through the exciting wire 106 and becomes an output current, which flows through the load inductor 105. In this case, the flow direction of the output current is determined by the direction of the input current, and flows in the positive direction or the negative direction. That is, this DCFP circuit performs an operation of amplifying the input signal by the excitation current (excitation power) using the positive or negative polarity of the input signal as the seed signal, but the polarity of the output current is amplified depending on the seed signal. It is something. FIG. 2 shows a method of using the DCFP circuit as a comparison circuit. The comparison circuit shown in FIG. 2 has a configuration in which a reference signal transformer 110 and an input signal transformer 112 are connected in series to the input line 107 of the DCFP circuit shown in FIG. The input magnetic flux input via the input signal line 113 and the reference magnetic flux input via the reference signal line 111 are added to become the input magnetic flux of the DCFP circuit, and this magnetic flux becomes a seed signal and is amplified by the excitation current. Figure 3 shows DCF
Another method of using the P circuit as a comparison circuit is shown. The circuit shown in FIG. 3 has a DCFP circuit shown in FIG. 1 and a reference signal transformer 110 and an input signal transformer 112 connected in parallel to the input line 107.
a, 107b. FIG. 4 is a block diagram of a magnetometer according to the present invention. Magnetometer is DC
It is composed of a comparison circuit 201 composed of an FP circuit and a reference signal generation circuit 202. An input magnetic flux and a reference signal are applied to the comparison circuit 201 via the input signal line 113 and the reference signal line 111, respectively. The comparison circuit 201 uses the D
It is composed of a comparison circuit using a CFP circuit, and the difference between the input signal and the reference signal is amplified by excitation and input to the reference signal generation circuit 202 via the wiring 203 as an output signal. The reference signal generation circuit 202 outputs a signal obtained by amplifying the input signal as an output signal to the outside through the output signal line 204. Next, the configuration of the magnetometer according to the present invention will be described more specifically. FIG. 5 is a configuration example of the comparison circuit 201. The circuit shown in FIG. 5 is similar to the DCFP circuit shown in FIG.
07a, the magnetic flux antenna 5 via the input signal transformer 112
The input magnetic flux sensed at 01 is input. Input signal transformer 1
A calibration line 503 for calibrating the magnetic flux sensitivity is installed at 12. The input magnetic flux introduced into the DCFP circuit is compared with the reference signal input from the input line 107b, and the difference between the input signal and the reference signal is amplified. A current detection circuit including a magnetic flux coupling type quantum interference device 506 and a bias line 507 is installed in the load of the DCFP circuit. The magnetic flux coupling type quantum interference device 506 and the DCFP circuit are coupled via a wiring 505. A gate current is supplied to the magnetic flux coupling type quantum interference device 506 via a wiring 508. DC here
Part of the load inductor of the FP circuit is the wiring 50 of the detection circuit.
It has 5 inductors. The operating principle of this circuit is described in detail in Japanese Patent Application No. 58-222110. FIG. 6 shows a first embodiment of the control system of the magnetometer using the comparison circuit shown in FIG. This system is a typical example of a feedback loop. In the embodiment shown in FIG. 6, the reference signal generation circuit 202 includes a register 301 that indicates the value of the reference signal, a register control circuit 302 that increases or decreases the value of the register 301, and a D / A that converts the digital signal of the register into an analog signal. Conversion circuit 303, attenuator 3
It is composed of 04. In the magnetic flux system shown in FIG. 6, the reference current generating circuit and the comparison circuit shown in FIG. 5 form a feedback loop. That is, the reference signal value of the register is updated by the output signal of the comparison circuit 201, and the value is fed back to the comparison circuit 201 via the D / A conversion circuit 303 and the attenuator 304. FIG. 7 is a time chart of the operation of the magnetic flux system shown in FIG. DCFP
The circuit is excited periodically as shown by waveform 600. The output of comparator circuit 201 is shown in waveform 601. In this waveform, if the input signal is larger than the reference signal, the positive polarity is output, and if it is smaller, the negative polarity is output. The register control circuit 302 uses the polarity of the output signal of the comparison circuit 201 to register 3
The value of 01 is updated at the timing shown by the waveform 602. Here, for example, when the output waveform of the comparison circuit 201 has a positive polarity, the value of the register 301 is increased (counted up).
However, in the case of negative polarity, if the value of the register 301 is decreased (counted down), in the configuration shown in FIG. 7, a stable state is achieved when the input signal and the reference signal input to the comparison circuit are equal. it is obvious. If the attenuation factor of the attenuator is increased in this control system, the ratio of the output signal to the input signal, that is, the circuit gain can be increased, but on the other hand, the gain of the feedback loop is small and the response of the circuit becomes slow. FIG. 8 shows a second embodiment of the control system of the magnetometer using the comparison circuit shown in FIG. This system is a typical example of a feedforward system. Reference signal generation circuit 2
Reference numeral 02 designates a signal sweep circuit 401 and a D / A conversion circuit 30.
3, an attenuator 304, and a hold circuit 404. FIG. 9 is a time chart of the operation of the magnetometer shown in FIG. The output signal of the signal sweep circuit 401 indicates the value of the reference signal, and the value increases by one unit for each cycle. Since the D / A conversion circuit 303 uses the output signal of the signal sweep circuit 401 as an input signal, the output signal has a stepwise sweep waveform shown by a waveform 701. This stepwise sweep waveform is input as a reference signal to the comparison circuit 201 via the attenuator 304. Comparison circuit 201
The DCFP circuit of is excited in synchronization with the cycle of the signal sweep circuit 401 as shown by the waveform 700. Comparison circuit 201
The output waveform of is shown in waveform 702. In this waveform, if the input signal is larger than the reference signal, the positive polarity is output, and if it is smaller, the negative polarity is output. The reference signal value when the polarity of the output waveform of the comparison circuit 201 switches from positive to negative is equal to the input signal. Therefore, at this time, the hold circuit 404 outputs the waveform 7
A hold signal indicated by 03 is generated to hold the value of the reference signal. If the attenuation rate of the attenuator 304 is increased in this control system, the ratio of the output signal to the input signal, that is, the circuit gain can be increased, but on the other hand, the measurement accuracy decreases. In the above two control systems, the source of the reference signal was a digital signal source, but it is clear that it can be configured by an analog signal source.
第10図は本発明による第三の実施例である。第10図
に示す比較回路800は第2図に示す。DCFP回路を
使った比較回路と等価であるが増幅率を増すためDCF
P回路を直列に接続した構成となっている。即ちDCF
P回路による増幅器はDCFP回路801a,DCFP
回路801b,DCFP回路801cの3段をインダク
タ802a,802bで直列に接続した構成となってい
る。ここで例えばDCFP回路801aのジョセフソン
接合の最大超電導電流は10μA、DCFP回路801
bのジョセフソン接合の最大超電導電流は100μA,
DCFP回路801cのジョセフソン接合の最大超電導
電流は1000μAに設定しておけば、1μA程度の入
力磁束による微弱な信号電流でも出力には1000倍の
大きな出力電流を得ることが出来る。ここで信号が一方
のみに伝搬される様にDCFP回路は3層の励振電流に
より駆動される。即ちDCFP回路801aには励振線
106a、DCFP回路801bには励振線106b、
DCFP回路801cには励振線106cを介して位相
が120度ずれた励振電流により駆動される。第10図
の例ではDCFP回路を3段接続した増幅回路の例を示
したが、DCFP回路を任意の段数だけ直列に接続して
増幅回路を構成できることは明らか。第11図は第10
図に示した比較回路を使った磁束計の例である。この回
路では第10図に示した比較回路800とアップダウン
カウンタ回路810、D/A変換回路303で閉ループ
を構成している。アップダウンカウンタ回路810は制
御装置820によりデータの更新が行われる。ここでデ
ータの更新は第7図の実施例と同様に行えることは明ら
かである。FIG. 10 shows a third embodiment according to the present invention. The comparison circuit 800 shown in FIG. 10 is shown in FIG. It is equivalent to the comparison circuit using the DCFP circuit, but the DCF is used to increase the amplification factor.
It has a configuration in which P circuits are connected in series. That is, DCF
The amplifier by the P circuit is a DCFP circuit 801a, DCFP
The circuit 801b and the DCFP circuit 801c have three stages connected in series by inductors 802a and 802b. Here, for example, the maximum superconducting current of the Josephson junction of the DCFP circuit 801a is 10 μA, and the DCFP circuit 801
The maximum superconducting current of the Josephson junction of b is 100 μA,
If the maximum superconducting current of the Josephson junction of the DCFP circuit 801c is set to 1000 μA, even a weak signal current due to an input magnetic flux of about 1 μA can obtain a large output current of 1000 times as an output. Here, the DCFP circuit is driven by three layers of excitation current so that the signal is propagated to only one side. That is, the DCFP circuit 801a has the excitation line 106a, the DCFP circuit 801b has the excitation line 106b,
The DCFP circuit 801c is driven by an exciting current whose phase is shifted by 120 degrees via an exciting line 106c. Although the example of FIG. 10 shows the example of the amplifier circuit in which the DCFP circuits are connected in three stages, it is clear that the amplifier circuit can be configured by connecting the DCFP circuits in series by any number of stages. Fig. 11 shows 10
It is an example of the magnetometer using the comparison circuit shown in the figure. In this circuit, the comparison circuit 800 shown in FIG. 10, the up / down counter circuit 810, and the D / A conversion circuit 303 form a closed loop. The up / down counter circuit 810 is updated by the control device 820. Here, it is obvious that the data can be updated in the same manner as in the embodiment shown in FIG.
本発明によれば、微弱な入力磁束信号を液体ヘリウム中
で増幅した形で室温中の測定機、処理装置に取りだせ
る。このため本発明は熱雑音に強い、感度の高い磁束計
を構成するのに効果がある。この磁束計を使えば微弱な
磁場測定、例えば人体の発生する磁場などの測定に有用
である。According to the present invention, a weak input magnetic flux signal can be taken out to a measuring machine and a processing device at room temperature in a form amplified in liquid helium. Therefore, the present invention is effective in constructing a magnetic flux meter having high resistance to thermal noise and high sensitivity. Use of this magnetometer is useful for measuring weak magnetic fields, such as magnetic fields generated by the human body.
第1図は本発明に使用するDCFP回路の構成図、第2
図、第3図、第5図及び第10図は本発明に用いるDC
FP回路を使った比較回路を示す図、第4図は本発明に
よる磁束計を示すブロック図、第6図は本発明の磁束計
の実施例を示す図、第7図は第6図の磁束計の動作タイ
ムチャートを示す図、第8図及び第11図は本発明の磁
束計の他の実施例を示す図、第9図は第8図の磁束計の
動作タイムチャートを示す図である。 101,102…ジョセフソン接合、103,104…
励振インダクタ、105…負荷インダクタ、106…励
振線、107…入力線、108…超電導ループ、110
…参照信号変成器、112…入力信号変成器、201…
比較回路、202…参照信号発生回路、113…入力信
号線、204…入力信号線、501…磁束アンテナ、5
03…校正線、506…磁束結合形量子干渉素子、50
7…バイアス線、301…レジスタ、302…レジスタ
制御回路、303…A/D変換回路、304…減衰器、
401…信号スイープ回路、404…ホールド回路、8
00…比較回路、801…DCFP回路、802…イン
ダクタ、810…アップダウンカウンタ回路、820…
制御装置FIG. 1 is a block diagram of a DCFP circuit used in the present invention, and FIG.
FIGS. 3, 3, 5 and 10 are DCs used in the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing a comparison circuit using an FP circuit, FIG. 4 is a block diagram showing a magnetometer according to the present invention, FIG. 6 is a diagram showing an embodiment of the magnetometer of the present invention, and FIG. 7 is a magnetic flux shown in FIG. 8 shows an operation time chart of the magnetometer, FIGS. 8 and 11 show another embodiment of the magnetometer of the present invention, and FIG. 9 shows an operation time chart of the magnetometer of FIG. . 101, 102 ... Josephson junction, 103, 104 ...
Excitation inductor, 105 ... Load inductor, 106 ... Excitation line, 107 ... Input line, 108 ... Superconducting loop, 110
Reference signal transformer, 112 ... Input signal transformer, 201 ...
Comparing circuit, 202 ... Reference signal generating circuit, 113 ... Input signal line, 204 ... Input signal line, 501 ... Flux antenna, 5
03 ... Calibration line, 506 ... Magnetic flux coupling type quantum interference device, 50
7 ... Bias line, 301 ... Register, 302 ... Register control circuit, 303 ... A / D conversion circuit, 304 ... Attenuator,
401 ... Signal sweep circuit, 404 ... Hold circuit, 8
00 ... Comparison circuit, 801 ... DCFP circuit, 802 ... Inductor, 810 ... Up-down counter circuit, 820 ...
Control device
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川辺 潮 東京都国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 宮本 信雄 東京都国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (56)参考文献 実開 昭59−15973(JP,U) 昭和59年度理研シンポジウム予稿集P P.1−3,PP.48−78 昭和60年度理研シンポジウム予稿集P P.1−13 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Ushio Kawabe 1-280 Higashi Koigakubo, Kokubunji, Tokyo Metropolitan Research Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Nobuo Miyamoto 1-280 Higashi Koigakubo, Kokubunji, Tokyo Hitachi Ltd. Central Research Laboratory (56) Bibliographical Reference 59-15973 (JP, U) Proceedings of RIKEN Symposium 1984 Proc. 1-3, PP. 48-78 RIKEN Symposium Proceedings 1994 P.P. 1-13
Claims (6)
する手段と、参照信号を発生する手段と、上記入力信号
と参照信号の差を励振により増幅して出力信号として出
力するDCFP回路を用いた比較回路とからなることを
特徴とする磁束計。1. Use of means for inputting the magnetic flux to be detected as an input signal, means for generating a reference signal, and a DCFP circuit for amplifying the difference between the input signal and the reference signal by excitation and outputting it as an output signal. A magnetic flux meter characterized by comprising a comparison circuit that has been used.
路の出力信号により該参照信号の増減を制御することを
特徴とする磁束計。2. A magnetometer according to claim 1, wherein increase or decrease of the reference signal is controlled by an output signal of the comparison circuit.
号は独立にその値をスイープし、該参照信号の全部また
は一部が該DCFP回路に導入され、該DCFP回路の
出力信号により該入力信号と該参照信号による磁束が一
致する場合を見つけだして、その時の該参照信号による
磁束の値を出力とすることを特徴とする磁束計。3. The reference signal according to claim 1, wherein the reference signal independently sweeps its value, all or part of the reference signal is introduced into the DCFP circuit, and the reference signal is output by the DCFP circuit. A magnetometer, wherein a case where the input signal and the magnetic flux of the reference signal match is found, and the value of the magnetic flux of the reference signal at that time is output.
路のDCFP回路を2段以上直列に接続したことを特徴
とする磁束計。4. A magnetometer according to claim 1, wherein two or more DCFP circuits of said comparison circuit are connected in series.
べき磁束を入力信号として入力する手段は磁束アンテナ
であることを特徴とする磁束計。5. A magnetometer according to claim 1, wherein the means for inputting the magnetic flux to be detected as an input signal is a magnetic flux antenna.
ンテナは変成器を介して該比較回路に接続されたことを
特徴とする磁束計。6. The magnetometer according to claim 5, wherein the magnetic flux antenna is connected to the comparison circuit via a transformer.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60122526A JPH0654347B2 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Magnetometer |
| CA000510927A CA1268815A (en) | 1985-06-07 | 1986-06-05 | Superconducting current detecting circuit employing dc flux parametron circuit |
| EP86107693A EP0205120B1 (en) | 1985-06-07 | 1986-06-05 | Superconducting current detecting circuit employing DC flux parametron circuit |
| DE3650062T DE3650062T2 (en) | 1985-06-07 | 1986-06-05 | Superconducting current sensor circuit. |
| US07/291,338 US4866373A (en) | 1985-06-07 | 1988-12-28 | Superconducting current detecting circuit employing DC flux parametron circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60122526A JPH0654347B2 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Magnetometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61281984A JPS61281984A (en) | 1986-12-12 |
| JPH0654347B2 true JPH0654347B2 (en) | 1994-07-20 |
Family
ID=14838030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60122526A Expired - Lifetime JPH0654347B2 (en) | 1985-06-07 | 1985-06-07 | Magnetometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0654347B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2609598B2 (en) * | 1987-02-04 | 1997-05-14 | 株式会社日立製作所 | Signal detection method |
| JPH0785104B2 (en) * | 1987-05-22 | 1995-09-13 | 富士通株式会社 | Superconducting quantum interference device |
-
1985
- 1985-06-07 JP JP60122526A patent/JPH0654347B2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 昭和59年度理研シンポジウム予稿集PP.1−3,PP.48−78 |
| 昭和60年度理研シンポジウム予稿集PP.1−13 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61281984A (en) | 1986-12-12 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |