JPH0660809B2 - 継手検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、自動溶接装置や自動シーリング装置等におけ
る視覚センサを用いた継手検出方法に関し、特に継手の
継目部分にスリット光を照射してそのスリット光像を撮
像装置で撮像し同撮像装置からの画像信号を信号処理し
て上記継目部分を検出する継手検出方法に関するもので
ある。

［従来の技術］ 近年、高生産性・低コスト化を目的として、溶接作業や
シーリング作業の自動化が進められているが、高品質の
溶接継手やシールを得るためには、高精度に継手を倣い
つつ溶接あるいはシーリング作業を行なう技術が必要で
ある。

そこで、従来、継手倣いのために各種の継手検出方法が
試みられており、その中でも光切断方式は非接触・高精
度な継手倣いを可能にする有力な方式である。第４図
は、この光切断方式を用いて溶接倣いを行なう継手検出
装置(方法)の基本的な構成を示す全体構成図で、同図
は、溶接母材１ａの平面上に溶接母材１ｂをＴ字形に溶
接する開先のない水平隅肉溶接を行なう場合を示してい
る。

第４図において、３はレーザ投光器のごときスリット光
源器であって、継目部(溶接線)２にスリット光３ａを同
溶接線２と交叉する向きに照射し、溶接母材１ａ，１ｂ
上に溶接線２を切断する向きのスリット光像(光切断線
像)３ｂを形成する。４は撮像装置であって、スリット
光源器３により形成されたスリット光像３ｂを撮像して
そのスリット光像３ｂ(第７図に一例をＡ−Ｂ−Ｃで示
し屈曲点Ｂが溶接線２の位置に対応する)を含む画像信
号(ビデオ信号)を信号処理部５Ａへ送出する。この信号
処理部５Ａにおいて、入力されたビデオ信号から最輝度
レベルのアドレスを求め、このアドレスに基づいて溶接
線２の形状を得て、この形状と予め記憶された基準形状
データとの差に基づき駆動装置６が溶接トーチ７の位置
を溶接線２からずれないように設定して溶接を行なう構
成となっている。

また、第５図は上述した光切断方式の継手検出装置にお
いて用いられる従来の信号処理部５Ａの具体的な構成を
示すブロック図(特開昭５９−２０２００６号公報)であ
り、同図に示すように、信号処理部５Ａは、撮像装置４
からのビデオ信号によるスリット画像からスリット光像
を抽出する信号前処理部１１と、抽出されたスリット光
像からその形状を得る演算処理部１２とから構成されて
おり、以下に第５図により信号前処理部１１の構成およ
び同信号前処理部１１によるスリット光像の抽出方法に
ついて説明する。

信号前処理部１１の水平同期信号発生回路１３と垂直同
期信号発生回路１４とは撮像装置４と信号処理部５Ａと
の同期を取るためのものであり、ビデオ信号は、低域通
過回路１５を通って高周波ノイズ等を除去された後、ピ
ークホールド回路１６へ入力される。このピークホール
ド回路１６は、一水平走査線間におけるビデオ信号のホ
ールド値から最輝度レベルを検出し、この最輝度レベル
を示す信号をＡ／Ｄ変換回路１７およびｘ座標検出用位
置カウンタ１８へ送出する。また、１９は比較回路であ
って、Ａ／Ｄ変換回路１７が出力するディジタルビデオ
信号に基づいて、前記最輝度レベルが予め設定された、
スリット光画像における輝度レベルとなるしきい値を超
えている場合に位置カウンタ１８へトリガ信号を出力し
て同位置カウンタ１８の計数動作を停止させるものであ
る。

位置カウンタ１８は、一水平走査線間に所定数のパルス
を発生するパルス発生回路２０からのパルスを計数して
おり、比較回路１９からのトリガ信号を受けて停止した
時点での計数値を最輝度レベル点のｘ座標値として演算
処理部１２へ出力するほか、ピークホールド回路１６か
らの最輝度レベル信号をディジタル信号に変換して演算
処理部１２へ出力する。ｙ座標検出用位置カウンタ２１
は、水平同期信号のパルス数を計数し、その計数値をｙ
座標値として演算処理部１２へ出力する。

このようにして、ｘ座標検出用位置カウンタ１８および
ｙ座標検出用カウンタ２１により得られたｘ座標値とｙ
座標値との組がスリット画像を構成する一水平走査線上
におけるスリット光像最明点となる。

なお、ｘ座標検出用位置カウンタ１８は、水平同期信号
によってクリアされ、ｙ座標検出用位置カウンタ２１
は、垂直同期信号によってクリアされる。

一方、演算処理部１２は、ｘ座標検出用位置カウンタ１
８およびｙ座標検出用位置カウンタ２１からの計数値に
基づいて溶接線２の形状に関するパラメータを抽出する
もので、第６図に示すように、ｘ座標値を記憶する記憶
回路１２ａと、上記ｘ座標値と隣り合うｘ座標値との差
分値を演算する差分回路１２ｂと、その差分値が基準値
を超えた場合にその時点でのｘ，ｙ座標値を屈曲点位置
(第７図における点Ｂ)として出力する比較回路１２ｃと
から構成されている。

以上のようにして、信号処理部５Ａにおいて最輝度レベ
ルのアドレス(屈曲点)つまり溶接線２の形状が得られ、
この形状に基づいて駆動装置６が溶接トーチ７を駆動し
て、溶接線２(継手部)を倣いつつ溶接作業(あるいはシ
ーリング作業)が自動的に行なわれる。

［発明が解決しようとする問題点］ このような光切断方式を用いた従来の継手検出方法で
は、実際の溶接母材１ａ，１ｂにスリット光を照射して
これを撮像する場合に、第９図に示すような多重反射光
の問題があり、従来技術で用いられているスリット光像
抽出は不可能である。すなわち、第８図に示すようにス
リット光源器３から出てスリット光３ａを成してａの方
向に進んだ光は、溶接母材１ａの表面Ｄの位置でその溶
接母材１ａの表面性状に応じ乱反射する。この乱反射し
た光のうちｂの方向に進んだものは、１回反射光として
撮像装置４により観測される。この１回反射光の集りが
従来技術で言われるところのスリット光像を成す。しか
し、表面Ｄの位置でｃの方向に進んだものは、溶接母材
１ｂの表面Ｅの位置で再度乱反射し、そのうちｄの方向
に進んだものが２回反射光として撮像装置４により観測
されることになる。以下、同様にして３回以上の反射光
が生じて撮像装置４により観測される。このように、２
回以上の多重反射光の影響により一般にスリット画像に
は、第９図に示すように、１回反射光による部分４８
と、多重反射光による部分４７とが現われる。なお、第
９図は水平走査線方向が溶接方向にほぼ一致する場合の
シスリット光像を示している。

ここで、溶接母材１ａ，１ｂの乱反射特性と、撮像装置
４とスリット光源器３とから構成される光学系と溶接母
材１ａ，１ｂとの位置関係とにより、１回反射光よりも
多重反射光の方が光強度(輝度)が強く観測されることが
ある。この場合の水平走査線(例えば第９図のＸ−Ｘ線
に沿うもの)に沿う輝度分布を第１０図に示す。このよ
うな場合には、従来技術では、ピークホールド回路１６
によって最輝度レベルであるピークＰ_１の位置が検出さ
れ、その位置で比較回路１９からトリガ信号が出力され
るので、ｘ座標検出用位置カウンタ１８は、１回反射に
よる真のスリット光像を成すピークＰ_２ではなく、誤っ
て多重反射によるピークＰ_１の位置をスリット光像とし
て認識するおそれがある。

また、前記したように溶接母材１ａ，１ｂの乱反射特性
や光学系と溶接母材１ａ，１ｂの位置関係により、必ず
しも多重反射光が１回反射光よりも光強度が強く観測さ
れるとは限らず、従来技術のように予めスリット光像の
基準形状データを予想することは極めて困難である。

本発明は、上述のような問題点を解決しようとするもの
で、多重反射光による像を１回反射光によるスリット光
像と誤認識するのを防止して、継手部を正確に検出でき
るようにした継手検出方法を提供することを目的とす
る。

［問題点を解決するための手段］ このため、本発明の継手検出方法は、上記目的を達成す
るため、画像データの一水平走査線間で、走査方向に応
じ最初にもしくは最後に所定のしきい値を超えた信号レ
ベルとなる時点を抽出してその抽出タイミングから上記
一水平走査線内におけるスリット光像のｘ座標値を各水
平走査線ごとに求めるとともに、その時の水平走査線の
カウント値から上記一水平走査線内における上記スリッ
ト光像のｙ座標値を各水平走査線ごとに求めた後、求め
られた上記ｘ座標値と上記一水平走査線のひとつ前の水
平走査線について求められた上記スリット光像のｘ座標
値との差分値を求め、同差分値が予め設定された差分限
界値を超えない場合、新たに求めたｘ，ｙ座標値を上記
スリット光像に対応するものと判断する一方、上記差分
値が上記差分限界値を超えた場合には、新たに求めた
ｘ，ｙ座標値を異常値として上記スリット光像に対応し
ないものと判断しながら、上記画像データから上記スリ
ット光像の形状を得て、同形状から継目位置を検出する
ことを特徴としている。

［作 用］ 上述の本発明の継手検出方法では、継目位置にスリット
光を照射しこれを撮像装置により撮像した場合に、スリ
ット光像内に含まれる多重反射光は、１回反射光に対し
て常に一方向にのみ現われることを利用している。つま
り、水平走査線方向と溶接方向とがほぼ同方向である場
合には、最初に所定のしきい値を超えた信号レベルとな
る時点が、１回反射光のｘ座標に対応する一方、水平走
査線方向と溶接方向とがほぼ逆方向である場合には、最
後に所定のしきい値を超えた信号レベルとなる時点が、
１回反射光のｘ座標に対応することになるのである。

従って、走査方向に応じて、最初にもしくは最後に所定
のしきい値を超えた信号レベルとなる時点を抽出するこ
とで、スリット光像から多重反射光による像を排除し
て、真の継目位置を示す１回反射光によるスリット光像
の位置のみが抽出されることになる。

また、各水平走査線ごとに求められたスリット光像のｘ
座標値とひとつ前の水平走査線について求められたスリ
ット光像のｘ座標値との差分値が、予め設定された差分
限界値を超えたか否かを判断することで、継目位置を形
成しスリット光を反射する作業母材面上の疵や表面性状
等の影響を受けてスリット光像が途中で切断あるいは不
連続となり、誤って多重反射光をスリット光像として検
出してしまった場合などに、検出されたｘ座標値が異常
値として除外される。このようにして得られたスリット
光像の形状から継目位置が正確に検出されることにな
る。

［発明の実施例］ 以下、図面により本発明の実施例について説明すると、
第１図は本発明の第１実施例としての継手検出方法の適
用を受けた装置の信号処理部を示すブロック図である。
本実施例の装置も、基本的な全体構成は第４図に示す従
来装置とほぼ同様であるが、本実施例では、従来の信号
処理部５Ａ(第５図参照)に代わり第１図に示すような信
号処理部５が用いられている。

ただし、本実施例においては、撮像装置４として工業用
テレビカメラ等を用い、その水平走査線方向は、第９図
に示した場合と同様に溶接方向にほぼ一致するように配
置している。これにより、第９図に示すように、１回反
射光によるビデオ信号が多重反射光によるビデオ信号の
前に供給され、最初にしきい値を超えた信号レベルとな
る時点を抽出すれば、真のスリット光像が得られること
になる。

このような原理に基づき、本実施例の信号処理部５は、
第１図に示すように、多重反射光を除去し１回反射光に
よる真のスリット光像を抽出するスリット光像抽出部３
０と、同スリット光像抽出部３０により得られたスリッ
ト光像から屈曲部などの特徴を抽出して継手の継目位置
を検出する特徴抽出部３１とから構成されている。

次に、スリット光像抽出部３０の構成を詳細に説明する
と、第１図において、３２は撮像装置４からのビデオ信
号をディジタル変換するＡ／Ｄ変換器、３３，３４はそ
れぞれ水平同期信号および垂直同期信号を撮像装置４や
信号処理部５内の各回路に出力して撮像装置４と信号処
理部５との同期をとる水平同期信号発生回路および垂直
同期信号発生回路である。

また、３５は比較回路で、特徴超出部３１が予めしきい
値レジスタ４２に設定した所定のしきい値とＡ／Ｄ変換
器３２からのビデオ信号とを比較して、もしビデオ信号
がしきい値よりも大きければ後述の位置カウンタ３６，
３８へカウント停止信号を出力するものである。３６は
水平同期信号発生回路３３からの水平同期信号によりク
リアされ比較回路３５からカウント停止信号を受けるま
でパルス発生回路３７のパルスをカウントしそのカウン
ト値を今回のｘ座標値として出力するｘ座標検出用位置
カウンタ、３８は垂直同期信号発生回路３４からの垂直
同期信号によりクリアされ水平同期信号発生回路３３の
水平同期信号をカウントするｙ座標検出用位置カウンタ
で、比較回路３５からカウント停止信号を受けるとその
時点でのカウント値を今回のｙ座標値として特徴抽出部
３１へ出力するものである。

さらに、３９は位置カウンタ３６からのカウント値をｘ
座標値として供給されｘ座標値について前回のｘ座標値
との差分値を求める差分回路、４０は特徴抽出部３１が
予め差分限界値レジスタ４１に設定した所定の差分限界
値と差分回路３９からの差分値とを比較する比較回路
で、差分値が差分限界値よりも小さい場合には今回のｘ
座標値を特徴抽出部３１へバイパスする一方、差分値が
差分限界値よりも大きい場合には今回のｘ座標値を異常
値として今回のｘ，ｙ座標値をいずれも除外するもので
ある。

上述した符号３２〜４２で示す構成要素からスリット光
像抽出部３０が構成されている。

上述の構成の装置により、本発明の第１実施例による継
手検出方法は次のように実行される。

まず、撮像装置４により得られディジタル変換された画
像データの一水平走査線ごとに、ビデオ信号が、しきい
値レジスタ４２に設定された所定のしきい値を超えた信
号レベルとなる時点を比較回路３５により抽出する。そ
の抽出タイミングで比較回路３５から位置カウンタ３
６，３８へカウント停止信号が出力され、その時点での
各位置カウンタ３６，３８におけるカウント値が、今回
の水平走査線内におけるスリット光像のｘ，ｙ座標値と
して求められる。

そして、位置カウンタ３６により得られた今回のｘ座標
値は、差分回路３９において前回のｘ座標値との差分値
を求められ、その差分値と予め差分限界値レジスタ４１
に設定された差分限界値とが比較回路４０において比較
される。

比較回路４０による比較の結果、差分値が差分限界値よ
りも小さい場合には、今回のｘ座標値は、真のスリット
光像（１回反射光による光像）に対応するものであると
判断して、位置カウンタ３８からのｙ座標値とともに特
徴抽出部へ出力する。一方、差分値が差分限界値よりも
大きい場合には、今回のｘ座標値は、真のスリット光像
（１回反射光による光像）に対応せず異常値と判断し
て、今回のｘ，ｙ座標値は除外される。

なお、このとき、特徴抽出部３１内などの演算装置を用
い、１次外挿等によって、除外されたｘ，ｙ座標値の部
分を補間する。

このようにして抽出されたスリット光像のｘ，ｙ座標に
基づき、特徴抽出部３１において、スリット光像の屈曲
部や切断部等の特徴が検出し、予め与えられた各種継手
ごとの特徴データとなる継目位置となる特徴が選択さ
れ、これを求めるべきスリット光像内における継目位置
とする。特徴抽出部３１により検出された継目位置に基
づき、従来と同様に、駆動装置６が密接トーチ（第４図
の符号７参照）の位置を溶接線からずれないように設定
して溶接を行なう。

以上のように、本発明の第１実施例によれば、スリット
光を反射する作業母材（第４図の符号１ａ，１ｂ）表面
上の疵や表面性状等の影響や多重反射光による影響を受
けることなく、１回反射光のみによるスリット光像を得
ることができ、継目位置を正確に検出できるのである。

なお、この第１実施例では、撮像装置４の水平走査線方
向が溶接方向にほぼ一致する場合について説明している
が、これとは逆に、撮像装置４を、その水平走査線方向
が溶接方向の逆方向にほぼ一致するように配置してもよ
い。ただし、この場合には、１回反射光によるビデオ信
号が多重反射光によるビデオ信号の後に供給され、最後
にしきい値を超えた信号レベルとなる時点を抽出すれ
ば、真のスリット光像が得られることになるので、構成
回路に若干の変更が必要である。

すなわち、位置カウンタ３６内にバッファを設け、ビデ
オ信号が所定のしきい値を超えたことが比較回路３５に
より検出されるたびに、バッファに保持される位置カウ
ンタ３６によるカウント値を更新する。そして、次の水
平同期信号を受けた時に、バッファに保持されたカウン
ト値を差分回路３９へ供給する。

これにより、最後にしきい値を超えた信号レベルとなる
時点が抽出されて、１回反射光によるスリット光像が得
られ、上記実施例と同様の効果が得られる。

次に、第２，３図により本発明の第２実施例としての継
手検出方法を説明すると、第２図はその適用を受けた装
置の信号処理部を示すブロック図、第３図は上記装置に
おける動作を説明するためのフローチャートである。こ
の第２実施例では、第１実施例による信号処理部５に代
わり、第２図に示すような信号処理部５０が用いられて
いる。

この信号処理部５０は、撮像装置インタフェース回路４
３，画像メモリ４４および画像処理部４５から構成され
ている。撮像インタフェース回路４３は、撮像装置４に
対する垂直同期信号および水平同期信号を供給して撮像
装置４を制御するとともに、画像処理部４５からの指令
により撮像装置４からビデオ信号を取り込んで、画像メ
モリ４４にこれを順次書き込むものである。また、画像
処理部４５は、第３図に示すフローチャートに基づいて
画像メモリ４４に取り込まれたスリット画像から継目位
置を検出するものである。

次に、第３図により、上述の構成の装置による動作（継
手検出方法の実行手順）を説明する。

なお、第３図において、Ｌは所定のしきい値、Ｄは差分
限界値、Ｄi,jは画像データで添字のｉ，ｊはそれぞれ
画像データのｘ座標値，ｙ座標値、Ｈは添字ｉの最大
値、Ｖは添字ｊの最大値、Ｓｊはスリット光像をなす画
像データのうちｙ座標値がｊのもののｘ座標値である。
また、本実施例では、添字ｉの増加する方向(水平走査
線方向)は、溶接方向と同方向（つまり、１回反射光に
よるビデオ信号が多重反射光によるビデオ信号の前に供
給される場合）として、この方向に画像メモリ４４内の
画像データを参照している。

画像処理部４５において、まず、しきい値Ｌおよび差分
限界値Ｄを設定してから(ステップＳ１)、撮像装置４に
より画像データを画像メモリ４４に取り込む(ステップ
Ｓ２)。そして、原点(ｉ＝０，Ｊ＝０；画面の左上部)
を設定した後（ステップＳ３）、画像メモリ４４から画
像データＤi,jを読み込む(ステップＳ４)。

ついで、読み込んだ画像データＤi,jがしきい値Ｌより
も大きいか否かを判定する(ステップＳ５)。画像データ
Ｄi,jがしきい値Ｌよりも小さい場合には、まだスリッ
ト光像の位置に到達していないと判断し、ｘ座標である
ｉが最大値Ｈとなっているか否かの判定を行なう(ステ
ップＳ６)。このステップＳ６において、ｉ≠Ｈと判定
されれば、ステップＳ４に戻り次のｘ座標であるｉ＋１
(ステップＳ７)についての処理を行なう一方、ｉ＝Ｈと
判定されれば、このときのｙ座標であるｊについてスリ
ット光像のｘ座標は検出されなかったとして、後述する
ステップＳ１０へ進む。

一方、ステップＳ５において画像データＤi,j がしきい
値Ｌよりも大きいと判定された場合には、その時点のｉ
が、ｙ座標値がｊのもののｘ座標値Ｓｊであるとし(ス
テップＳ８)、ステップＳ９において、ｙ座標値がｊ-1
のもののｘ座標値Ｓj-1 との差分値｜Ｓｊ−Ｓj-1｜を
求め差分限界値Ｄとの比較を行なう。ここで、差分値｜
Ｓｊ−Ｓj-1｜が差分限界値Ｄよりも小さいと判定され
た場合には、後述するステップＳ１１に進む一方、差分
値｜Ｓｊ−Ｓj-1｜が差分限界値Ｄよりも大きいと判定
された場合には、ｙ座標値がｊのものについての今回の
ｘ座標値Ｓｊは、異常値であると判断して、ステップＳ
１０において、前回および前々回のｘ座標値Ｓj-1，Ｓj
-2を用いて１次外挿による補間値２Ｓj-1−Ｓj-2を今回
のｘ座標値Ｓｊとして求める。

そして、ステップＳ１１において、ｙ座標であるｊが最
大値Ｖとなっているか否かの判定を行なう。ここで、ｊ
≠Ｖと判定されれば、ステップＳ４に戻り次のｙ座標で
あるｊ＋１についてｉ＝０から(ステップＳ１２)同様の
処理を行なう一方、ｊ＝Ｖと判定されれば、１画面分の
走査を終了したと判断して、特徴抽出による継手検出を
行なう(ステップＳ１３)。

このようにして、本発明の第２実施例によっても、第１
実施例と同様の作用効果を得ることができる。

なお、この第２実施例では、添字ｉの増加する方向が溶
接方向と同方向の場合について説明しているが、これと
は逆方向に画像データを参照することによってもスリッ
ト光像の座標を抽出することは可能である。

また、上記の第１および第２実施例はいずれもスリット
画像全域に対して本発明による継手検出方法を適用して
いるが、特定のエリアに限ってこれを適用することも可
能である。

例えば、予め決定したサイズの領域を、前回の画面に対
して得られた継目位置がその領域中心となるように設定
し、スリット光像抽出操作を開始する水平走査線前後の
数本の水平走査線の同一ｘ座標値の画像データの信号レ
ベルを平均化して、最初のスリット光像をなす画像デー
タを求めるようにしてもよい。また、画像データのすべ
ての水平走査線に対して、本発明による処理を施すので
はなく、数本ごとに処理を施すようにしてもよい。

［発明の効果］ 以上詳述したように、本発明の継手検出方法によれば、
継目位置にスリット光を照射しこれを撮像装置により撮
像した場合に、スリット光像内に含まれる多重反射光
は、１回反射光に対して常に一方向にのみ現われること
を利用し、走査方向に応じて最初にもしくは最後に所定
のしきい値を超えた信号レベルとなる時点を抽出するこ
とで、スリット光像から多重反射光による像を排除し
て、真の継目位置を示す１回反射光によるスリット光像
の位置のみを抽出するとともに、今回のｘ座標値と前回
のｘ座標値との差分値からｘ座標値の異常性も判定でき
るようにしたので、スリット光を反射する作業母材表面
上の疵や表面性状等の影響や多重反射光による影響を受
けることなく、１回反射光のみによるスリット光像を得
ることができ、継目位置を正確に検出できる効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図はそれぞれ本発明の第１および第２
実施例としての継手検出方法の適用を受けた装置の信号
処理部を示すブロック図、第３図は第２実施例による装
置の動作を説明するためのフローチャートであり、第４
図は光切断方式を用いて溶接倣いを行なう従来の継手検
出装置(方法)の基本的な構成を示す全体構成図、第５図
はいずれも上記従来装置の信号処理部を示すブロック
図、第６図は同信号処理部における演算処理部を示すブ
ロック図、第７図は上記従来例における撮像画像の１フ
レームを示す図、第８図は多重反射光を説明するための
図、第９図は多重反射光を含むスリット光像を示す図、
第１０図は第９図のＸ−Ｘ線に沿う輝度分布を示すグラ
フである。 図において、４……撮像装置、５……信号処理部、６…
…駆動装置、３０……スリット光像抽出部、３１……特
徴抽出部、３２……Ａ／Ｄ変換器、３３……水平同期信
号発生回路、３４……垂直同期信号発生回路、３５……
比較回路、３６……ｘ座標検出用位置カウンタ、３７…
…パルス発生回路、３８……ｙ座標検出用位置カウン
タ、３９……差分回路、４０……比較回路、４１……差
分限界値レジスタ、４２……しきい値レジスタ、４３…
…撮像装置インタフェース回路、４４……画像メモリ、
４５……画像処理部、５０……信号処理部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】継手の継目位置にスリット光を照射して形
   成されたスリット光像を撮像装置により撮像し、同撮像
   装置から得られる画像データを信号処理して所要の位置
   情報を作成する継手検出方法において、上記画像データ
   の一水平走査線間で、走査方向に応じ最初にもしくは最
   後に所定のしきい値を超えた信号レベルとなる時点を抽
   出してその抽出タイミングから上記一水平走査線内にお
   ける上記スリット光像のｘ座標値を各水平走査線ごとに
   求めるとともに、その時の水平走査線のカウント値から
   上記一水平走査線内における上記スリット光像のｙ座標
   値を各水平走査線ごとに求めた後、求められた上記ｘ座
   標値と上記一水平走査線のひとつ前の水平走査線につい
   て求められた上記スリット光像のｘ座標値との差分値を
   求め、同差分値が予め設定された差分限界値を超えない
   場合、新たに求めたｘ，ｙ座標値を上記スリット光像に
   対応するものと判断する一方、上記差分値が上記差分限
   界値を超えた場合には、新たに求めたｘ，ｙ座標値を異
   常値として上記スリット光像に対応しないものと判断し
   ながら、上記画像データから上記スリット光像の形状を
   得て、同形状から上記継目位置を検出することを特徴と
   する継手検出方法。