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JPH0666377B2 - Processing apparatus, processing method, and resist processing apparatus - Google Patents
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JPH0666377B2 - Processing apparatus, processing method, and resist processing apparatus - Google Patents

Processing apparatus, processing method, and resist processing apparatus

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JPH0666377B2
JPH0666377B2 JP28080090A JP28080090A JPH0666377B2 JP H0666377 B2 JPH0666377 B2 JP H0666377B2 JP 28080090 A JP28080090 A JP 28080090A JP 28080090 A JP28080090 A JP 28080090A JP H0666377 B2 JPH0666377 B2 JP H0666377B2
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JP
Japan
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processing
cassette mounting
processed
cassette
processing unit
Prior art date
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JP28080090A
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宏利 大城
正巳 飽本
修 平河
徳行 穴井
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、処理装置および処理方法およびレジスト処理
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a processing apparatus, a processing method, and a resist processing apparatus.

(従来の技術) 近年、半導体装置においては、急速に高集積化が進めら
れており、その回路パターンは微細化される傾向にあ
る。このため、半導体製造工程においては、クリーンル
ーム中の雰囲気の塵埃を従来にも増して低減し、さらに
クリーン化することが求められている。そこで、各工程
を自動化し無人化を図ることにより、クリーン化の要求
に対応することが行われている。
(Prior Art) In recent years, semiconductor devices have been rapidly highly integrated, and their circuit patterns tend to be miniaturized. For this reason, in the semiconductor manufacturing process, it is required to further reduce the dust in the atmosphere in the clean room as compared with the conventional one, and to make it cleaner. Therefore, it has been attempted to meet the demand for cleanliness by automating each process and unmanned.

ところで、一般に半導体製造工程においては、被処理物
としての半導体ウエハは、ウエハカセット等と称される
搬送用治具内に複数例えば25枚程度収容されて搬送され
る。そこで、上述した自動化の一つとして、このような
ウエハカセットを自動的に搬送するロボット搬送も取り
入れられつつある。
By the way, generally, in a semiconductor manufacturing process, a plurality of semiconductor wafers, for example, about 25 semiconductor wafers as an object to be processed are housed and carried in a carrying jig called a wafer cassette or the like. Therefore, as one of the above-mentioned automations, robot transfer that automatically transfers such a wafer cassette is being adopted.

(発明が解決しようとする課題) 上述したように、半導体製造工程においては、ロボット
搬送によるウエハカセット等の自動搬送が実施されてい
る。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, in the semiconductor manufacturing process, automatic transfer of wafer cassettes and the like is carried out by robot transfer.

しかしながら、このようなロボット搬送により、ウエハ
カセット等を各種半導体処理装置に搬送する場合、上記
各種半導体処理装置のウエハカセット搬入口の高さが装
置毎に異ると搬送が困難になる。このため、各種半導体
処理装置のウエハカセットの搬入口高さが一致するよう
に調節しなければならず、半導体処理装置によっては大
幅な設計変更等を必要とする場合があった。
However, when a wafer cassette or the like is transferred to various semiconductor processing apparatuses by such robot transfer, the transfer becomes difficult if the height of the wafer cassette loading port of the various semiconductor processing apparatuses is different for each apparatus. Therefore, it is necessary to adjust the heights of the wafer inlets of the wafer cassettes of various semiconductor processing apparatuses so as to match with each other, and depending on the semiconductor processing apparatus, there are cases where a large design change or the like is required.

また、近年半導体ウエハは直径例えば8インチ等と大口
径化される傾向にあり、これに対応してウエハカセット
等の搬送用治具も大形化し、その重量も重くなる傾向に
あり、このような搬送用治具の大形化に対応することも
半導体製造装置として要求されている。
Further, in recent years, the diameter of semiconductor wafers has tended to be increased to a diameter of, for example, 8 inches, and in response to this, jigs for transportation such as wafer cassettes have been increased in size and the weight thereof tends to be heavy. It is also required as a semiconductor manufacturing apparatus to cope with the increase in size of various transport jigs.

さらにウエハ径が変わると、クリーンルーム内の処理装
置の入れ換えを実行するが、クリーンルームの電源容量
は既設済みであり、特に8インチについては歩留まり等
の面から移行したいと言われ、夫々動力を大容量化する
ことは大工事となり問題とされていた。
When the wafer diameter further changes, the processing equipment in the clean room is replaced, but the power supply capacity of the clean room is already installed. Especially, it is said that it is desired to shift 8 inches from the aspect of yield etc. It was a big construction and it was a problem.

本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、プロセス処理部のクリーン度を高く維持でき、被処
理体に対するクリーン度の高い処理を行うことができ、
また、メンテナンス効率を向上させることのできる処理
装置および処理方法およびレジスト処理装置を提供しよ
うとするものである。
The present invention has been made in response to such conventional circumstances, it is possible to maintain a high degree of cleanliness of the process processing unit, it is possible to perform a high degree of cleanliness processing to the object to be processed,
Further, another object of the present invention is to provide a processing apparatus, a processing method, and a resist processing apparatus that can improve maintenance efficiency.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち、本発明は、複数の被処理体を収容するカセッ
トを少なくとも1つ載置する載置面を有するカセット載
置台を備えたカセット載置部と、このカセット載置部に
設けられ前記カセットから前記被処理体を搬入搬出する
第1の搬送手段と、前記被処理体を処理する複数の処理
ユニットを具備する処理部と、この処理部に設けられ前
記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに対し
て前記被処理体を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記
第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬
出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置
における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備
してなることを特徴とする。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) That is, the present invention provides a cassette mounting device including a cassette mounting table having a mounting surface on which at least one cassette that accommodates a plurality of objects to be processed is mounted. Section, a first transfer means provided in the cassette mounting section for loading and unloading the object to be processed from the cassette, a processing section including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and the processing section Second carrying means for carrying in and carrying out the object to be processed to and from a predetermined processing unit of the plurality of processing units, and carrying in and carrying out to and from the plurality of processing units by the second carrying means. And a means for setting a height position of the object to be processed in the main processing apparatus to a position higher than a height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing apparatus.

また、前記第1の搬送手段は、X,Y,θ方向に移動可
能に構成されていることを特徴とする。
Further, the first conveying means is configured to be movable in X, Y, and θ directions.

また、前記第2の搬送手段は、X,Y,Z,θ方向に移
動可能に構成されていることを特徴とする。
Further, the second transport means is configured to be movable in X, Y, Z, and θ directions.

また、前記カセット載置台は、上下方向に移動可能に構
成されていることを特徴とする。
Further, the cassette mounting table is configured to be movable in the vertical direction.

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第1の搬送手段
と前記第2の搬送手段との間で、前記被処理体を受け渡
す受渡し手段と、前記第2の搬送手段により前記複数の
処理ユニットに搬入排出される前記被処理体の本処理装
置における高さ位置を、前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
Further, a cassette mounting portion having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the object to be processed from the cassette provided on the cassette mounting part. A first transporting means for loading and unloading, a processing section including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and a predetermined processing unit of the plurality of processing units provided in the processing section for the predetermined processing unit. The second transfer means for loading and unloading the object to be processed, the transfer means for transferring the object to be processed between the first transfer means and the second transfer means, and the second transfer means Means for setting the height position in the main processing device of the object to be carried in and discharged to the plurality of processing units to a position higher than the height position in the main processing device of the cassette mounting surface of the cassette mounting table. Ingredient Characterized in that by comprising.

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、この第2の搬送手段
に設けられ前記複数の処理ユニットに対して前記被処理
体を搬入搬出する少なくとも2つの保持手段と、前記第
2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出
される前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、
前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置にお
ける高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備して
なることを特徴とする。
Further, a cassette mounting portion having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the object to be processed from the cassette provided on the cassette mounting part. A first transporting means for loading and unloading, a processing section including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and a predetermined processing unit of the plurality of processing units provided in the processing section for the predetermined processing unit. Second transport means for loading and unloading the object to be processed, at least two holding means provided in the second transport means for loading and unloading the object to and from the plurality of processing units, and the second The height position in the processing apparatus of the object to be processed that is carried in and out of the plurality of processing units by the transfer unit is
And a means for setting the cassette mounting surface of the cassette mounting table to a position higher than a height position in the present processing apparatus.

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体を搬入
搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段により
前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被処理体
の本処理装置における高さ位置を、前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
Further, a cassette mounting portion having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the object to be processed from the cassette provided on the cassette mounting part. And a resist coating processing unit and a resist developing processing unit, a baking processing unit, and a cooling processing unit for performing resist processing on the object to be processed, or a processing unit including at least two of them. A second step of loading / unloading the object to / from the resist coating processing unit, the resist developing processing unit, the baking processing unit, the cooling processing unit, or at least two of these units provided in this processing unit Of the plurality of processing units by the second conveying unit and the second conveying unit. And a means for setting the height position of the object to be carried in and out of the cassette in the main processing device to a position higher than the height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing device. It is characterized by

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体の裏面
(下面)周縁部を支持して搬入搬出する第2の搬送手段
と、前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニット
に搬入搬出される前記被処理体の本処理装置における高
さ位置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処
理装置における高さ位置より高い位置に設定する手段と
を具備してなることを特徴とする。
Further, a cassette mounting portion having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the object to be processed from the cassette provided on the cassette mounting part. And a resist coating processing unit and a resist developing processing unit, a baking processing unit, and a cooling processing unit for performing resist processing on the object to be processed, or a processing unit including at least two of them. A resist coating processing unit, a resist developing processing unit, a baking processing unit, and a cooling processing unit provided in this processing unit, or at least two of these units, the back surface (lower surface) peripheral edge of the object to be processed. Second carrying means for carrying in and out while supporting a part, and the second carrying means. Means for setting the height position in the main processing device of the object to be carried in and out of the plurality of processing units by means to a position higher than the height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing device It is characterized by comprising:

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、この第2の
搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出され
る前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記
第1の筐体に設けられる前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
In addition, a cassette mounting portion having a cassette mounting base for mounting at least one cassette that accommodates a plurality of objects to be processed, a first housing in which the cassette mounting portion is provided, and the first housing. A first transfer unit provided on the body for loading and unloading the object to be processed from the cassette, a processing unit including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and a second casing provided with the processing unit. A body, a second carrying unit provided in the second casing for carrying the object to be processed to a predetermined processing unit among the plurality of processing units, and the plurality of processing units by the second carrying unit. The height position in the main processing device of the object to be carried in and out is set to a position higher than the height position in the main processing device of the cassette mounting surface of the cassette mounting table provided in the first housing. And means for Characterized in that it comprises Te.

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、前記第1の
筐体に設けられ前記第1の搬送手段と前記第2の搬送手
段との間で、前記被処理体を受け渡す受渡し手段と、こ
の第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入
搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台の
カセット載置面の本処理装置における高さ位置より高い
位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
In addition, a cassette mounting portion having a cassette mounting base for mounting at least one cassette that accommodates a plurality of objects to be processed, a first housing in which the cassette mounting portion is provided, and the first housing. A first transfer unit provided on the body for loading and unloading the object to be processed from the cassette, a processing unit including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and a second casing provided with the processing unit. A body, a second carrying means provided in the second housing for carrying the object to be processed to a predetermined processing unit among the plurality of processing units, and the first housing provided in the first housing. Delivery means for delivering the object to be processed between the second conveying means and the second conveying means, and the main processing of the object to be carried in and out of the plurality of processing units by the second conveying means. The height position in the device is defined by the first housing. By comprising and means for setting higher than the height position of the processing apparatus of the cassette mounting surface of the cassette mounting table provided position characterized.

また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段
により前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被
処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセット
載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ位置
より高い位置に設定する手段とを具備してなる処理装置
において、前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前
記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセ
ット載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ
位置より高い位置で、前記第2の搬送手段により前記被
処理体を搬送することを特徴とする。
Further, a cassette mounting portion having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the object to be processed from the cassette provided on the cassette mounting part. A first transporting means for loading and unloading, a processing section including a plurality of processing units for processing the object to be processed, and a predetermined processing unit of the plurality of processing units provided in the processing section for the predetermined processing unit. The second carrying means for carrying in and carrying out the object to be processed, and the height position in the main processing apparatus of the object to be carried in and carried out to and from the plurality of processing units by the second carrying means are set on the cassette mounting table. In the processing device, which comprises means for setting the cassette mounting surface to a position higher than the height position of the processing device, the main processing of the object to be carried in and out of the plurality of processing units. The height position of the device, at a position higher than the height position of the processing apparatus of the cassette mounting surface of said cassette table, characterized by transporting said object to be processed by said second conveying means.

(作用) 本発明の処理装置および処理方法およびレジスト処理装
置では、被処理体を保持して処理ユニットに搬入搬出す
る保持手段が、カセット載置台のカセット載置面よりも
高い位置で、前記複数の処理ユニットに前記被処理体を
搬入搬出することができるので、プロセス処理部のクリ
ーン度を高く維持でき、被処理体に対するクリーン度の
高い処理を行うことができる。
(Operation) In the processing apparatus, the processing method, and the resist processing apparatus of the present invention, the holding means that holds the object to be processed and carries it into and out of the processing unit is located at a position higher than the cassette mounting surface of the cassette mounting table. Since the object to be processed can be loaded and unloaded into and from the processing unit, the cleanliness of the process processing unit can be maintained high, and the cleanliness of the object can be processed.

(実施例) 以下、本発明処理装置をレジスト塗布現像処理装置に適
用した実施例を図面を参照して説明する。
(Example) Hereinafter, an example in which the processing apparatus of the present invention is applied to a resist coating and developing processing apparatus will be described with reference to the drawings.

第1図に示すように、レジスト塗布現像処理装置1は、
例えばそれぞれ別体の筐体で構成された処理部2および
ローダー部3を、水平方向(図示X方向)に配列し、こ
れらを接続して構成されている。
As shown in FIG. 1, the resist coating and developing treatment apparatus 1 is
For example, the processing unit 2 and the loader unit 3 each of which is composed of a separate body are arranged in the horizontal direction (X direction in the drawing) and are connected to each other.

上記処理部2は、被処理体例えば半導体ウエハ10にフ
ォトリソグラフィーのための一連の処理を施す各処理ユ
ニット11a〜11fと、半導体ウエハ10をこれらの
処理ユニット11a〜11fに搬送するための搬送ユニ
ット12を組み合せて構成されている。
The processing unit 2 includes processing units 11a to 11f that perform a series of processes for photolithography on an object to be processed, for example, a semiconductor wafer 10, and a transfer unit that transfers the semiconductor wafer 10 to these processing units 11a to 11f. 12 are combined.

この実施例の場合は、搬送路ユニット12が筐体を中央
部を走行する如く設けられており、この搬送ユニット路
12によって分断された一方側(第1図の下方)には、
レジスト塗布処理ユニット11a、現像処理ユニット1
1bが並列して設けられ、また、他方側(第1図の上
方)には、ローダー部3側から複数の処理部例えばポス
トベーク処理ユニット11c、11d、および2段積み
する如く構成されたポストエクスポージャーベークユニ
ット11eと冷却温調処理ユニット11fが並列に設け
られている。
In the case of this embodiment, the transport path unit 12 is provided so as to run in the central portion of the housing, and one side (downward in FIG. 1) divided by the transport unit path 12 is
Resist coating processing unit 11a, development processing unit 1
1b are provided in parallel, and on the other side (upper side in FIG. 1), a plurality of processing units such as post-baking processing units 11c and 11d from the loader unit 3 side, and posts configured to be stacked in two stages. The exposure bake unit 11e and the cooling temperature control processing unit 11f are provided in parallel.

また、上記搬送路ユニット12には、第2図にも示すよ
うに、半導体ウエハ10を支持して搬送するためのウエ
ハピンセット12aが上下に重なる如く複数例えば2つ
設けられている。これらのウエハピンセット12aは、
円弧状に形成され、半導体ウエハ10の裏面周縁部を支
持するよう構成されており、図示しない駆動機構によ
り、X、Y、Z、θ方向に移動自在に構成されている。
ここで、上記2つのウエハピンセット12aは、例えば
一方が処理部2の各処理ユニット11a〜11fに半導
体ウエハ10を受け渡し、他方は処理が終了した半導体
ウエハ10を受け取るように構成されている。
Further, as shown in FIG. 2, the transfer path unit 12 is provided with a plurality of, for example, two wafer tweezers 12a for supporting and transferring the semiconductor wafer 10 so as to be vertically stacked. These wafer tweezers 12a are
It is formed in an arc shape and is configured to support the peripheral portion of the back surface of the semiconductor wafer 10, and is configured to be movable in the X, Y, Z, and θ directions by a drive mechanism (not shown).
Here, for example, one of the two wafer tweezers 12a transfers the semiconductor wafer 10 to each of the processing units 11a to 11f of the processing unit 2, and the other receives the processed semiconductor wafer 10.

一方、ローダー部3には、半導体ウエハ10が複数枚例
えば25枚収容可能に構成されたウエハカセット(搬送用
治具)13を載置して、上下方向(Z方向)に移動させ
るように構成された複数例えば4つのカセット載置部1
4が設けられている。また、このローダー部3には、
X、Y、θ方向に移動自在とされたウエハピンセット1
5aにより、上記ウエハカセット13に半導体ウエハ1
0を搬入・搬出するための搬送機構15が設けられてい
る。
On the other hand, in the loader unit 3, a wafer cassette (conveying jig) 13 configured to accommodate a plurality of semiconductor wafers 10, for example, 25 semiconductor wafers 10 is placed and configured to move in the vertical direction (Z direction). A plurality of, for example, four cassette mounting portions 1
4 are provided. In addition, this loader unit 3 has
Wafer tweezers 1 that can be moved in the X, Y, and θ directions
5a allows the semiconductor wafer 1 to be placed in the wafer cassette 13.
A transport mechanism 15 for loading and unloading 0 is provided.

さらに、この実施例では、ローダー部3に、搬送機構1
5と搬送路ユニット12との間における半導体ウエハ1
0の受け渡しを行うウエハ受け渡し機構16として、図
示しない駆動機構例えばステッピングモータとボールネ
ジによって上下動可能に構成され、その上部に半導体ウ
エハ10を支持可能に構成された2本のステージピン1
6aが設けられている。なお、これらのステージピン1
6aは、図示しない駆動機構例えばエアシリンダにより
その間隔を変更可能に構成されている。
Further, in this embodiment, the loader unit 3 is provided with the transfer mechanism 1
5 and the semiconductor wafer 1 between the transfer path unit 12
As a wafer transfer mechanism 16 for transferring 0, two stage pins 1 are configured to be movable up and down by a driving mechanism (not shown) such as a stepping motor and a ball screw, and the semiconductor wafer 10 can be supported above the stage pins 1.
6a is provided. In addition, these stage pins 1
6a is configured so that its interval can be changed by a drive mechanism (not shown) such as an air cylinder.

また、これらのステージピン16aの上部位置には、半
導体ウエハ10の位置合せを行うための2本のセンタリ
ングガイド17が設けられている。このセンタリングガ
イド17は、半導体ウエハ10の外形に合せて内側が半
円状に形成されており、図示しない駆動機構例えばエア
シリンダにより開閉制御して半導体ウエハ10を挟持す
ることにより位置合せする如く構成されている。そし
て、開状態でこれらのセンタリングガイド17の間に半
導体ウエハ10を搬入し、これらのセンタリングガイド
17を閉じる操作(間隔を狭める方向に移動させる)こ
とにより、ステージピン16aの所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めすることができるよう構成されてい
る。
Further, two centering guides 17 for aligning the semiconductor wafer 10 are provided above the stage pins 16a. The centering guide 17 is formed in a semicircular shape on the inside according to the outer shape of the semiconductor wafer 10, and is configured to be positioned by holding the semiconductor wafer 10 by controlling the opening / closing by a drive mechanism (not shown) such as an air cylinder. Has been done. Then, the semiconductor wafer 10 is loaded between the centering guides 17 in the open state, and an operation of closing the centering guides 17 (moving the centering guides 17 in a direction to narrow the gap) causes the semiconductor wafer 10 to reach a predetermined position of the stage pin 16a. Can be positioned.

次に、上記構成のレジスト処理装置1の動作(処理工
程)について説明する。
Next, the operation (processing step) of the resist processing apparatus 1 having the above configuration will be described.

まず、クリーンルーム内を搬送する無塵ロボット搬送例
えばハンドリングアーム等で半導体ウエハ10が収容さ
れたウエハカセット13をローダ部3の予め定められ
た、カセット載置部14の載置台に載置する。載置され
た情報は自動的にコンピュータに入力される。
First, the wafer cassette 13 in which the semiconductor wafers 10 are accommodated is placed on a predetermined mounting table of the cassette mounting section 14 of the loader section 3 by a dust-free robot transfer, such as a handling arm, which transfers in a clean room. The placed information is automatically input to the computer.

その後予め組まれたプログラムにより、搬送機構15の
ウエハピンセット15aを、例えばウエハカセット13
と位置対応させ、対応したウエハカセット13内の半導
体ウエハ10の下部に挿入し、この後、カセット載置部
14によって、上記ウエハカセット13を上記ピンセッ
ト15と相対的に所定ストローク降下させて、ウエハピ
ンセット15a上に半導体ウエハ10を載置する。な
お、ウエハピンセット15aは、例えば真空チェックに
より半導体ウエハ10の裏面を吸着仮固定する。
After that, the wafer tweezers 15a of the transfer mechanism 15 are set to, for example, the wafer cassette 13 according to a program that has been assembled in advance.
The wafer cassette 13 is inserted into the lower part of the semiconductor wafer 10 in the corresponding wafer cassette 13, and then the wafer cassette 13 is lowered by a predetermined stroke relative to the tweezers 15 by the cassette mounting portion 14 to move the wafer. The semiconductor wafer 10 is placed on the tweezers 15a. In addition, the wafer tweezers 15a sucks and temporarily fixes the back surface of the semiconductor wafer 10 by, for example, a vacuum check.

次に、半導体ウエハ10を支持したウエハピンセット1
5aをX方向に移動させてウエハカセット13内から引
き抜き、この後ウエハピンセット15aをθ方向に回転
させてステージピン16上方に位置させる。なお、この
時ステージピン16は予め初期状態(下降位置でかつス
テージピン16の間隔が開となった状態)に設定され待
機している。
Next, the wafer tweezers 1 supporting the semiconductor wafer 10
5a is moved in the X direction and pulled out from the inside of the wafer cassette 13, and then the wafer tweezers 15a is rotated in the θ direction to be positioned above the stage pin 16. At this time, the stage pin 16 is set in the initial state (in the lowered position and the gap between the stage pins 16 is open) in advance and is on standby.

しかる後、ステージピン16aを上昇させ、ウエハピン
セット15aからステージピン16a上に半導体ウエハ
10を受け渡す。この時、2本のステージピン16aの
間をウエハピンセット15aが通り抜けるようにステー
ジピン16aとウエハピンセット15aとが上下方向に
すれ違う。
Thereafter, the stage pin 16a is raised and the semiconductor wafer 10 is transferred from the wafer tweezers 15a onto the stage pin 16a. At this time, the stage pins 16a and the wafer tweezers 15a pass in the vertical direction so that the wafer tweezers 15a pass through between the two stage pins 16a.

そして、さらに、ステージピン16aを上昇させて半導
体ウエハ10を、予め開とされたセンタリングガイド1
7の間に位置させ、ここで、センタリングガイド17を
閉とし、ステージピン16a上の所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めする。
Then, the stage pins 16a are further raised to move the semiconductor wafer 10 to the centering guide 1 which has been opened in advance.
7, the centering guide 17 is closed, and the semiconductor wafer 10 is positioned at a predetermined position on the stage pin 16a.

なお、この時、ステージピン16aも同時に閉とする。
これは、この後受け渡しを行う搬送路ユニット12のウ
エハピンセット12aが、半導体ウエハ10の外周を保
持するようほぼ環状に形成され、その先端部に形成され
たステージピン16a挿入用開口が狭いので、ステージ
ピン16aとウエハピンセット12aが干渉することを
防止するためである。したがって、ウエハピンセット1
2aの形状(ステージピン16a挿入用開口の形状)に
よっては、上記ステージピン16の閉動作は行わなくて
よい。
At this time, the stage pin 16a is also closed.
This is because the wafer tweezers 12a of the transfer path unit 12 to be subsequently transferred are formed in a substantially annular shape so as to hold the outer periphery of the semiconductor wafer 10, and the opening for inserting the stage pin 16a formed at the tip thereof is narrow. This is to prevent the stage pins 16a and the wafer tweezers 12a from interfering with each other. Therefore, the wafer tweezers 1
Depending on the shape of 2a (the shape of the opening for inserting the stage pin 16a), the closing operation of the stage pin 16 may not be performed.

次に、ステージピン16aを、半導体ウエハ10のウエ
ハピンセット12aへの受け渡しが可能な予め定められ
た所定高さまで上昇させ、ここで待機する。
Next, the stage pin 16a is raised to a predetermined height that allows the semiconductor wafer 10 to be transferred to the wafer tweezers 12a, and the stage pin 16a stands by here.

そして、半導体ウエハ10の下部にウエハピンセット1
2aが挿入されると、ステージピン16aを下降させ、
ステージピン16a上の半導体ウエハ10をウエハピン
セット12aに受け渡す。ウエハピンセット12aに受
け渡された半導体ウエハ10は、この後、予め定められ
たプログラムにより順次所定の処理ユニット11a〜1
1fに搬送し、夫々所定の処理が施される。
Then, the wafer tweezers 1 are provided under the semiconductor wafer 10.
When 2a is inserted, the stage pin 16a is lowered,
The semiconductor wafer 10 on the stage pins 16a is transferred to the wafer tweezers 12a. The semiconductor wafer 10 transferred to the wafer tweezers 12a is then sequentially processed into predetermined processing units 11a to 1 by a predetermined program.
The sheet is conveyed to 1f and subjected to predetermined processing.

また、上記受け渡し時に、上下2段に設けられたウエハ
ピンセット12aのどちらか一方に、処理済みの半導体
ウエハ10が支持されている場合は、上記受け渡しに続
いて、この処理済みの半導体ウエハ10をステージピン
16aに受け渡す。すなわち、このウエハピンセット1
2aを前進させてステージピン16a上に処理済みの半
導体ウエハ10を位置させ、この後、ステージピン16
aを上昇させてステージピン16a上にこの半導体ウエ
ハ10を支持し、ウエハピンセット12aを後退させる
ことにより、処理済みの半導体ウエハ10をステージピ
ン16aに受け渡す。
Further, when the processed semiconductor wafer 10 is supported by either one of the wafer tweezers 12a provided in the upper and lower two stages at the time of the transfer, the processed semiconductor wafer 10 is transferred after the transfer. It is delivered to the stage pin 16a. That is, this wafer tweezers 1
2a is moved forward to position the processed semiconductor wafer 10 on the stage pin 16a.
The semiconductor wafer 10 is transferred to the stage pins 16a by raising a to support the semiconductor wafer 10 on the stage pins 16a and retracting the wafer tweezers 12a.

ステージピン16aに受け渡された処理済みの半導体ウ
エハ10は、この後上述した動作とは反対の動作によ
り、センタリングガイド17によって位置決めされた
後、ステージピン16aから搬送機構15のウエハピン
セット15aに受け渡され、しかる後、所定のウエハカ
セット13内に収容される。
The processed semiconductor wafer 10 transferred to the stage pin 16a is then positioned by the centering guide 17 by an operation opposite to the above-described operation, and then received from the stage pin 16a to the wafer tweezers 15a of the transfer mechanism 15. The wafers are handed over, and then housed in a predetermined wafer cassette 13.

このような一連の動作を繰り返して行うことにより、ウ
エハカセット13内の各半導体ウエハ10に順次所定の
処理を施す。
By repeating such a series of operations, each semiconductor wafer 10 in the wafer cassette 13 is sequentially subjected to predetermined processing.

そして、ウエハカセット13内の全ての半導体ウエハ1
0の処理が終了すると、このウエハカセット13が搬出
され、新たなウエハカセット13が搬入されるが、この
ようなウエハカセット13の搬入・搬出をロボット搬送
により自動的に行う場合、この実施例のレジスト処理装
置1では、ローダー部3の高さをロボット搬送による搬
送高さに調節することにより、容易に実施することがで
きる。
Then, all the semiconductor wafers 1 in the wafer cassette 13
When the processing of 0 is completed, the wafer cassette 13 is unloaded, and a new wafer cassette 13 is loaded. When such loading / unloading of the wafer cassette 13 is automatically carried out by the robot transfer, the operation of this embodiment is performed. The resist processing apparatus 1 can be easily implemented by adjusting the height of the loader unit 3 to a transfer height by robot transfer.

すなわち、処理部2の高さを固定したまま、ローダー部
3の高さをロボット搬送による搬送高さに調節し、この
ローダー部3の高さによって、ステージピン16aによ
る上下方向の半導体ウエハ10の搬送距離を調節する。
したがって、装置全体の高さ等を調節したり、大幅な設
計変更等をする必要もなく、搬送高さの異なるロボット
に柔軟に対応することができる。
That is, while the height of the processing unit 2 is fixed, the height of the loader unit 3 is adjusted to the conveyance height by robot conveyance, and the height of the loader unit 3 causes the stage pins 16 a to vertically move the semiconductor wafer 10. Adjust the transport distance.
Therefore, it is not necessary to adjust the height or the like of the entire apparatus or make a large design change, and it is possible to flexibly cope with robots having different conveyance heights.

第3図は他の実施例のレジスト処理装置1aの構成を示
すもので、第1図および第2図に示した上述のレジスト
処理装置1と同一部分には同一符号が付してある。
FIG. 3 shows the construction of a resist processing apparatus 1a according to another embodiment. The same parts as those of the resist processing apparatus 1 shown in FIGS. 1 and 2 are designated by the same reference numerals.

この実施例のレジスト処理装置1aでは、ローダー部3
のカセット載置部14が、処理部2の処理ユニット11
a〜11fに較べて低位置に設けられている。また、こ
のカセット載置部14は、駆動機構を備えておらず、搬
送機構15のウエハピンセット15aがX−Y−Z−θ
方向に移動可能に構成されている。
In the resist processing apparatus 1a of this embodiment, the loader unit 3
The cassette mounting unit 14 of the processing unit 11 of the processing unit 2
It is provided at a lower position than a to 11f. In addition, the cassette mounting portion 14 does not include a drive mechanism, and the wafer tweezers 15a of the transfer mechanism 15 are XYZ-θ.
It is configured to be movable in any direction.

そして、カセット載置部14に載置されたウエハカセッ
ト13からウエハピンセット15aによって半導体ウエ
ハ10を取り出し、このウエハピンセット15aによっ
て半導体ウエハ10を上部に搬送して、ステージピン1
6aに受け渡す。
Then, the semiconductor wafer 10 is taken out from the wafer cassette 13 mounted on the cassette mounting portion 14 by the wafer tweezers 15a, and the semiconductor wafer 10 is conveyed to the upper part by the wafer tweezers 15a, and the stage pins 1
Hand over to 6a.

このように構成されたレジスト処理装置1aでは、カセ
ット載置部14へのウエハカセット13の搬入・搬出を
低位置で実施することができ、また、ウエハカセット1
3を上下動させないので、装置高さが高くなることも抑
制することができ、例えば8インチ径等大径の半導体ウ
エハ10の処理を行う場合等、ウエハカセット13が大
形の場合に好適である。
In the resist processing apparatus 1a configured as described above, the loading / unloading of the wafer cassette 13 to / from the cassette mounting portion 14 can be performed at a low position, and the wafer cassette 1
Since 3 is not moved up and down, it is possible to suppress the height of the apparatus from increasing, which is suitable when the wafer cassette 13 is large, for example, when processing a semiconductor wafer 10 having a large diameter such as an 8-inch diameter. is there.

なお、上記実施例では、本発明を半導体ウエハのレジス
ト処理装置に適用した例について説明したが、本発明は
かかる実施例に限定されるものではなく、あらゆる装置
例えば半導体ウエハ表面を洗浄する洗浄装置、エッチン
グ装置、レジスト塗布された半導体ウエハを露光する露
光処理装置、露光処理された半導体ウエハを現像処理す
る現像装置等に適用することができる。さらに被処理体
として半導体ウエハに限らずLCD基板プリント基板の
処理工程にも適用できる。
In the above embodiment, an example in which the present invention is applied to a semiconductor wafer resist processing apparatus has been described. However, the present invention is not limited to such an embodiment, and any apparatus such as a cleaning apparatus for cleaning the surface of a semiconductor wafer may be used. The present invention can be applied to an etching apparatus, an exposure processing apparatus that exposes a resist-coated semiconductor wafer, a developing apparatus that develops an exposed semiconductor wafer, and the like. Further, the object to be processed is not limited to a semiconductor wafer, but can be applied to a process of processing an LCD substrate or a printed circuit board.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明の処理装置および処理方法
およびレジスト処理装置によれば、プロセス処理部での
被処理体に対するクリーンな処理を行うことができる。
さらに、請求項9と請求項10の発明によれば、メンテ
ナンス効率を向上させることができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the processing apparatus, the processing method, and the resist processing apparatus of the present invention, it is possible to perform clean processing on the object to be processed in the process processing unit.
Furthermore, according to the ninth and tenth aspects of the invention, maintenance efficiency can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例のレジスト処理装置の構成を
示す図、第2図は第1図に示すレジスト処理装置の側面
図、第3図は他の実施例のレジスト処理装置の要部構成
を示す図である。 1……レジスト処理装置、2……処理部、3……ローダ
ー部、10……半導体ウエハ、11a〜11f……処理
ユニット、12……搬送路ユニット、12a……ウエハ
ピンセット、13……ウエハカセット、14……カセッ
ト載置部、15……搬送機構、15a……ウエハピンセ
ット、16……ウエハ受け渡し機構、16a……ステー
ジピン、17……センタリングガイド。
FIG. 1 is a diagram showing the structure of a resist processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view of the resist processing apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a schematic view of a resist processing apparatus according to another embodiment. It is a figure which shows a part structure. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Resist processing apparatus, 2 ... Processing section, 3 ... Loader section, 10 ... Semiconductor wafer, 11a-11f ... Processing unit, 12 ... Transport path unit, 12a ... Wafer tweezers, 13 ... Wafer Cassette, 14 ... Cassette mounting section, 15 ... Transfer mechanism, 15a ... Wafer tweezers, 16 ... Wafer transfer mechanism, 16a ... Stage pin, 17 ... Centering guide.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平河 修 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 (72)発明者 穴井 徳行 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−318247(JP,A) 特開 平1−227451(JP,A) 特開 昭63−28047(JP,A) 特開 昭62−181440(JP,A) 特開 平1−179413(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Osamu Hirakawa 2655 Tsukyu, Kikuyo-machi, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture, Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd. (72) Noriyuki Anai, 2655 Tsukyu, Kikuyo-machi, Kikuchi-gun, Kumamoto Incorporated (56) Reference JP-A-1-318247 (JP, A) JP-A-1-227451 (JP, A) JP-A-63-28047 (JP, A) JP-A-62-181440 (JP, A) JP-A-1-179413 (JP, A)

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。
1. A cassette mounting section having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the cassette mounting section provided on the cassette mounting section, First transfer means for loading and unloading the object to be processed, a processing section including a plurality of processing units for processing the object, and a predetermined processing unit among the plurality of processing units provided in the processing section On the other hand, the second carrying means for carrying in and carrying out the object to be processed, and the height position in the main processing apparatus of the object to be carried in and carried out to and from the plurality of processing units by the second carrying means are set to the cassette. And a means for setting the cassette mounting surface of the mounting table to a position higher than the height position of the processing apparatus.
【請求項2】前記第1の搬送手段は、X,Y,θ方向に
移動可能に構成されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の処理装置。
2. The processing apparatus according to claim 1, wherein the first transfer means is configured to be movable in X, Y, and θ directions.
【請求項3】前記第2の搬送手段は、X,Y,Z,θ方
向に移動可能に構成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の処理装置。
3. The processing apparatus according to claim 1, wherein the second transfer means is configured to be movable in X, Y, Z, and θ directions.
【請求項4】前記カセット載置台は、上下方向に移動可
能に構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の処理装置。
4. The processing apparatus according to claim 1, wherein the cassette mounting table is configured to be movable in the vertical direction.
【請求項5】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第1の搬送手段と前記第2の搬送手段との間で、前
記被処理体を受け渡す受渡し手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。
5. A cassette mounting section having a cassette mounting table having a mounting surface on which at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed is mounted, and the cassette mounting section provided on the cassette mounting section, First transfer means for loading and unloading the object to be processed, a processing section including a plurality of processing units for processing the object, and a predetermined processing unit among the plurality of processing units provided in the processing section On the other hand, second transfer means for loading and unloading the object to be processed, delivery means for transferring the object to be processed between the first transfer means and the second transfer means, and the second transfer means. The height position in the main processing device of the object to be carried in and out of the plurality of processing units by the transfer means is set to a position higher than the height position in the main processing device of the cassette mounting surface of the cassette mounting table. Processing apparatus characterized by comprising; and a stage.
【請求項6】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 この第2の搬送手段に設けられ前記複数の処理ユニット
に対して前記被処理体を搬入搬出する少なくとも2つの
保持手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。
6. A cassette mounting section having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the cassette mounting section provided on the cassette mounting section, First transfer means for loading and unloading the object to be processed, a processing section including a plurality of processing units for processing the object, and a predetermined processing unit among the plurality of processing units provided in the processing section On the other hand, second transfer means for loading and unloading the object to be processed, and at least two holding means provided in the second transfer means for loading and unloading the object to be processed with respect to the plurality of processing units, The height position in the main processing apparatus of the object to be processed that is carried in and out of the plurality of processing units by the second transport means is defined as the height of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing apparatus. Processing apparatus characterized by comprising comprises a means for setting a higher position position.
【請求項7】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理ユニ
ットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング
処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらの
うち少なくとも2つを具備する処理部と、 この処理部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットお
よびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユ
ニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少
なくとも2つのいずれかのユニットに対して前記被処理
体を搬入搬出する第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とするレジスト処理装置。
7. A cassette mounting portion having a cassette mounting base having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the cassette mounting portion provided in the cassette mounting portion, It is provided with a first conveying means for carrying in and out the object to be processed, a resist coating processing unit and a resist developing processing unit, a baking processing unit and a cooling processing unit for resist processing the object, or at least two of them. A processing unit, and the resist coating processing unit, the resist developing processing unit, the baking processing unit, and the cooling processing unit, which are provided in the processing unit, or at least two of these units, carry in and carry out the object to be processed. A second transporting means, and the plurality of the second transporting means. And a means for setting the height position of the object to be carried in and out of the processing unit in the main processing device to a position higher than the height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing device. A resist processing apparatus characterized by the following.
【請求項8】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理ユニ
ットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング
処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらの
うち少なくとも2つを具備する処理部と、 この処理部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットお
よびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユ
ニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少
なくとも2つのいずれかのユニットに対して前記被処理
体の裏面(下面)周縁部を支持して搬入搬出する第2の
搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とするレジスト処理装置。
8. A cassette mounting section having a cassette mounting table having a mounting surface on which at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed is mounted, and the cassette mounting section provided on the cassette mounting section, It is provided with a first conveying means for carrying in and out the object to be processed, a resist coating processing unit and a resist developing processing unit, a baking processing unit and a cooling processing unit for resist processing the object, or at least two of them. The processing section, the resist coating processing unit, the resist developing processing unit, the baking processing unit, and the cooling processing unit, which are provided in the processing section, or at least any two of these units, have a back surface ( Lower surface) second transporting means for carrying in and out by supporting a peripheral portion, The height position in the main processing device of the object to be carried in and out of the plurality of processing units by the second transport means is higher than the height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing device. A resist processing apparatus, comprising:
【請求項9】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載
置部と、 このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、 この第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理
体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部が設けられる第2の筐体と、 この第2の筐体に設けられ前記複数の処理ユニットのう
ち所定の処理ユニットに前記被処理体を搬送する第2の
搬送手段と、 この第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る処理装置。
9. A cassette mounting section having a cassette mounting table for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, a first housing provided with the cassette mounting section, and A first transporting unit that is provided in one housing for loading and unloading the object to be processed from the cassette; a processing unit including a plurality of processing units for processing the object to be processed; and a processing unit including the processing unit. A second housing, a second carrying means provided in the second housing and carrying the object to be processed to a predetermined processing unit among the plurality of processing units, and the second carrying means The height position of the object to be processed carried in and out of the processing unit in the main processing device is higher than the height position of the cassette mounting surface of the cassette mounting table provided in the first housing in the main processing device. Hand set in position Processing apparatus characterized by comprising comprises a and.
【請求項10】複数の被処理体を収容するカセットを少
なくとも1つ載置するカセット載置台を備えたカセット
載置部と、 このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、 この第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理
体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部が設けられる第2の筐体と、 この第2の筐体に設けられ前記複数の処理ユニットのう
ち所定の処理ユニットに前記被処理体を搬送する第2の
搬送手段と、 前記第1の筐体に設けられ前記第1の搬送手段と前記第
2の搬送手段との間で、前記被処理体を受け渡す受渡し
手段と、 この第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る処理装置。
10. A cassette mounting section having a cassette mounting table for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, a first housing in which the cassette mounting section is provided, and A first transporting unit that is provided in one housing for loading and unloading the object to be processed from the cassette; a processing unit including a plurality of processing units for processing the object to be processed; and a processing unit including the processing unit. Two housings, a second transfer unit that is provided in the second housing and transfers the object to be processed to a predetermined processing unit among the plurality of processing units, and is provided in the first housing. Delivery means for delivering the object to be processed between the first carrying means and the second carrying means, and the object to be carried in and out of the plurality of processing units by the second carrying means The height position of the A processing device, comprising means for setting the cassette mounting surface of the cassette mounting table provided in the first housing to a position higher than a height position in the present processing device.
【請求項11】複数の被処理体を収容するカセットを少
なくとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を
備えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなる処理装置において、 前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被処理体
の本処理装置における高さ位置を、前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置で、前記第2の搬送手段により前記被処理体を搬
送することを特徴とする処理方法。
11. A cassette mounting section having a cassette mounting table having a mounting surface for mounting at least one cassette for accommodating a plurality of objects to be processed, and the cassette mounting section provided on the cassette mounting section, First transfer means for loading and unloading the object to be processed, a processing section including a plurality of processing units for processing the object, and a predetermined processing unit among the plurality of processing units provided in the processing section On the other hand, the second carrying means for carrying in and carrying out the object to be processed, and the height position in the main processing apparatus of the object to be carried in and carried out to and from the plurality of processing units by the second carrying means are set to the cassette. In the processing device, which comprises means for setting the cassette mounting surface of the mounting table to a position higher than the height position in the present processing device, the object to be carried in and out of the plurality of processing units. The height of the physical object in the main processing apparatus is higher than the height of the cassette mounting surface of the cassette mounting table in the main processing apparatus. Characterized processing method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5984540A (en) * 1982-11-08 1984-05-16 Sony Corp Heat treatment device
JPS62139341A (en) * 1985-12-13 1987-06-23 Plasma Syst:Kk Treating device for substrate and wafer surface
JPS62169341A (en) * 1986-01-21 1987-07-25 Tokyo Electron Ltd Automatic replacing prober for probe card
JPS6313332A (en) * 1986-07-04 1988-01-20 Canon Inc Device for manufacturing semiconductor
JPS6328047A (en) * 1986-07-22 1988-02-05 Tdk Corp Cleanly conveying method
JPH0517885Y2 (en) * 1986-10-20 1993-05-13
JP2742572B2 (en) * 1987-10-29 1998-04-22 東芝セラミックス株式会社 Vertical heat treatment equipment for semiconductor wafers
JP2526267B2 (en) * 1988-03-07 1996-08-21 東京エレクトロン株式会社 Processing equipment
JP2845400B2 (en) * 1988-03-09 1999-01-13 東京エレクトロン株式会社 Resist processing apparatus and processing apparatus
JP2996299B2 (en) * 1988-05-09 1999-12-27 東京エレクトロン株式会社 Etching apparatus, etching method and alignment method
JPH0628278B2 (en) * 1988-06-17 1994-04-13 大日本スクリーン製造株式会社 Elevator for substrate transfer
JPH025520A (en) * 1988-06-24 1990-01-10 Deisuko Haitetsuku:Kk Vertical semiconductor heat treatment device
JPH0268923A (en) * 1988-09-02 1990-03-08 Tel Sagami Ltd Vertical heat treatment device

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