JPH0666759B2 - Data failure detection circuit - Google Patents
Data failure detection circuitInfo
- Publication number
- JPH0666759B2 JPH0666759B2 JP17344385A JP17344385A JPH0666759B2 JP H0666759 B2 JPH0666759 B2 JP H0666759B2 JP 17344385 A JP17344385 A JP 17344385A JP 17344385 A JP17344385 A JP 17344385A JP H0666759 B2 JPH0666759 B2 JP H0666759B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- parity
- information
- circuit
- check
- rule
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はパリテイ情報を使用したデータ障害検出回路に
関する。The present invention relates to a data failure detection circuit using parity information.
第2図はこの種のパリテイ情報を使用したデータ障害検
出回路の従来例の構成図である。FIG. 2 is a block diagram of a conventional example of a data failure detection circuit using this type of parity information.
パリテイ発生回路21(または22、以下同様)は、nビツ
ト(n≧1)のデータ線11(12)が引き込まれ、パリテ
イ則指定情報線71(72)からの奇数パリテイ則指定に従
いnビツトデータに対するパリテイ情報を発生し、パリ
テイ情報線31(32)に出力する。メモリ回路41(42)
は、データ線11(12)とパリテイ情報線31(32)が引き
込まれ、データおよびパリテイ情報を蓄積し、さらに蓄
積されたデータおよびパリテイ情報をそれぞれデータ線
11(12)とパリテイ情報線31(32)に出力する。パリテ
イチエツク回路51(52)はメモリ回路41(42)からのパ
リテイ情報がメモリ回路41(42)からのデータに対して
奇数パリテイになつているか否かをチエツクし、誤りの
場合のみチエツク結果出力情報線61(62)に障害情報を
出力する。つまり、メモリ回路41(42)が正常の場合チ
エツク結果出力情報線61(62)には障害情報が現われ
ず、メモリ回路41(42)がビツトスタツク等の障害にな
つた場合にチエツク結果出力情報線61(62)に障害情報
が出力されるので、パリテイ発生回路21(22)とパリテ
イチエツク回路51(52)の間に位置するメモリ回路41
(42)の正常性をチエツクしていることになる。In the parity generation circuit 21 (or 22, the same applies hereinafter), the n-bit (n ≧ 1) data line 11 (12) is pulled in, and the n-bit data is specified according to the odd parity rule designation from the parity rule designation information line 71 (72). , And outputs it to the parity information line 31 (32). Memory circuit 41 (42)
Data line 11 (12) and parity information line 31 (32) are pulled in to store data and parity information.
Output to 11 (12) and parity information line 31 (32). The parity check circuit 51 (52) checks whether the parity information from the memory circuit 41 (42) is an odd parity with respect to the data from the memory circuit 41 (42), and only if there is an error, the check result is obtained. The fault information is output to the output information line 61 (62). That is, when the memory circuit 41 (42) is normal, no fault information appears on the check result output information line 61 (62), and when the memory circuit 41 (42) becomes a fault such as a bit stack, the check result output information line is displayed. Since the failure information is output to 61 (62), the memory circuit 41 located between the parity generation circuit 21 (22) and the parity check circuit 51 (52).
This means checking the normality of (42).
さらに、パリテイ発生回路21(22)とパリテイチエツク
回路51(52)が正常に動作しているか否かをチエツクす
る必要がある。これに対しては、パリテイ則指定情報線
71(72)からのパリテイ則指定を通常の奇数パリテイ則
から偶数パリテイ則に切り替えることにより、パリテイ
情報線31(32)上のパリテイ情報はnビツトデータに対
する偶数パリテイになつているため、パリテイチエツク
回路51(52)での奇数パリテイチエツクによりチエツク
結果出力情報線61(62)に障害情報が出力される。この
偶数パリテイ則指定時の障害情報はパリテイ発生回路21
(22)とパリテイチエツク回路51(52)の動作正常性を
示すものであり、逆に障害情報が出力されない場合は障
害である。Furthermore, it is necessary to check whether the parity generation circuit 21 (22) and the parity check circuit 51 (52) are operating normally. For this, the Parity rule designation information line
By changing the parity rule designation from 71 (72) from the normal odd parity rule to the even parity rule, the parity information on the parity information line 31 (32) becomes an even parity for n-bit data. Due to the odd parity check in the check circuit 51 (52), the failure information is output to the check result output information line 61 (62). The failure information when this even parity rule is specified is the parity generation circuit 21.
(22) and the parity check circuit 51 (52) indicate normality of operation, and conversely, if no failure information is output, there is a failure.
パリテイ発生回路21(22)からパリテイチエツク回路51
(52)までの区間をパリテイ区間と称し、第2図では2
つのパリテイ区間を示している。Parity check circuit 21 (22) to Parity check circuit 51
The section up to (52) is called the parity section, and in Figure 2 it is 2
It shows two parity sections.
上述した、パリテイ情報を使用した従来のデータの障害
検出回路は、m(m≧2)個のパリテイ区間が存在する
と、m個のパリテイ則指定情報線とm個のチェック結果
出力情報線が必要となるため、各々のパリテイ区間に対
応して決められたパリテイ則指定情報を保持するための
フリップフロップを、各々のパリテイ則指定情報線の前
段に設置する必要があり、またチェック結果出力情報線
の後段にはオンラインプログラムによる保守走査読取り
オーダに対するアンサ回路がm個必要となる。The conventional data failure detection circuit using the parity information described above requires m parity rule specifying information lines and m check result output information lines when m (m ≧ 2) parity sections exist. Therefore, it is necessary to install a flip-flop for holding the parity rule designation information determined corresponding to each parity section in the preceding stage of each parity rule designation information line, and the check result output information line. In the subsequent stage, m answer circuits for the maintenance scan reading order by the online program are required.
装置が障害を検出し、保守用品と取り替える最小保守単
位は一般的にパッケージである。LSIの高集積化技術に
より、物理的な保守単位である1個のパッケージ内に複
数の異なった機能を具現する複数の回路が搭載されるた
め、1個のパッケージ内に複数個のパリテイ区間が存在
するようになっており、このため従来のデータの障害検
出回路は、パリテイ則指示情報を保持するフリップフロ
ップおよび保守走査用アンサ回路の増大によるコストア
ップや、障害表示ポイントの増加により保守が頻繁にな
るという欠点がある。The smallest maintenance unit that a device detects a fault and replaces with a maintenance item is typically a package. Due to the high integration technology of LSI, a plurality of circuits that realize a plurality of different functions are mounted in one package that is a physical maintenance unit, and therefore, a plurality of parity sections are included in one package. Therefore, the conventional data failure detection circuit requires frequent maintenance due to an increase in cost due to an increase in flip-flops that hold parity rule instruction information and an answer circuit for maintenance scanning, and an increase in failure display points. There is a drawback that
本発明のデータ障害検出回路は、パリテイ則指定情報を
共通化するための各パリテイ則指定情報線が共通に接続
され、m個(m:パリテイ区間で2以上)のパリテイチエ
ツク回路のチエツク結果出力情報の少なくとも1つが障
害有りを示しているときに所定の論理値信号を出力する
第1のゲート回路と、m個のパリテイチエツク回路のチ
エツク結果情報が全て障害有りを示しているときに所定
の論理値信号を出力する第2のゲート回路と、パリテイ
則指定情報線のパリテイ則指定情報を入力選択信号とし
て、第1のゲート回路の出力または第2のゲート回路の
出力を選択し、障害情報として出力する2−1セレクタ
を備えたことを特徴とする。In the data failure detection circuit of the present invention, each parity rule specifying information line for sharing the parity rule specifying information is commonly connected, and the check result of m (m: 2 or more in the parity section) parity check circuits is obtained. When at least one of the output information indicates a fault, the first gate circuit which outputs a predetermined logical value signal, and the check result information of the m parity check circuits all indicate a fault. A second gate circuit that outputs a predetermined logical value signal and the parity rule designating information of the parity rule designating information line are used as input selection signals to select the output of the first gate circuit or the output of the second gate circuit, It is characterized by having a 2-1 selector for outputting as failure information.
すなわち、本発明によればパリテイ則指定情報線、チエ
ツク結果出力情報線は共に1本で済むので、パリテイ則
指定情報を保持するフリツプフロツプおよび保守走査用
アンサ回路の数はそれぞれ1個になる。That is, according to the present invention, since only one parity rule specifying information line and one check result output information line are required, the number of flip-flops holding the parity rule specifying information and the number of maintenance scanning answer circuits are each one.
本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明によるデータ障害検出回路の一実施例の
構成図である。本実施例は、第2図の従来例と同様に、
パリテイ発生回路21からパリテイチエツク回路51まで
と、パリテイチエツク回路22からパリテイチエツク回路
52までの2つのパリチイ区間を示している。第1図にお
いて第2図の従来例の構成と同一の部分には同一の符号
を付して重複する説明は省略する。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a data failure detection circuit according to the present invention. This embodiment is similar to the conventional example shown in FIG.
Parity generating circuit 21 to Parity check circuit 51 and Parity check circuit 22 to Parity check circuit
It shows two Parichii sections up to 52. In FIG. 1, the same parts as those of the conventional example shown in FIG. 2 are designated by the same reference numerals, and the duplicate description will be omitted.
パリテイ発生回路21,22はパリテイ則指定情報線70が共
通に接続されている。論理和回路8a,論理積回路8bはそ
れぞれパリテイチエツク回路51,52のチエツク結果出力
情報線61,62の障害情報の論理和,論理積をとる。2−
1セレクタ9はパリテイ則指定情報線70の情報が奇数パ
リテイ則指定の場合に論理和回路8aの出力を、偶数パリ
テイ則指定の場合に論理積回路8bの出力チエツク結果出
力情報60に出力する。The parity generation circuits 21 and 22 are commonly connected to a parity rule designation information line 70. The logical sum circuit 8a and the logical product circuit 8b take the logical sum and the logical product of the fault information of the check result output information lines 61 and 62 of the parity check circuits 51 and 52, respectively. 2-
The 1-selector 9 outputs the output of the logical sum circuit 8a when the information on the parity rule designating information line 70 specifies the odd parity rule, and outputs it to the output check result output information 60 of the logical product circuit 8b when the even parity rule is specified.
次に、本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.
(1) 通常時、パリテイ則指定情報線70からの指示は
奇数パリテイ則となつており、2−1セレクタ9は論理
和回路8aを選択している。このときメモリ回路41または
42の少なくとも一方に障害があると、論理和回路8aの出
力が論理1となり、2−1セレクタ9のチエツク結果出
力情報線60に障害情報が出力される。(1) Normally, the instruction from the parity rule designation information line 70 is an odd parity rule, and the 2-1 selector 9 selects the OR circuit 8a. At this time, the memory circuit 41 or
When at least one of 42 has a fault, the output of the OR circuit 8a becomes logic 1, and fault information is output to the check result output information line 60 of the 2-1 selector 9.
(2) 次に、パリテイ発生回路21と22およびパリテイ
チエツク回路51と52の動作正常性をチエツクする場合
は、パリテイ則指定情報線70からの情報を偶数パリテイ
則に変化させる。これにより、2−1セレクタ9は論理
積回路8bを選択する。そして、チエツク結果出力情報線
61と62の両方に障害情報が出力された場合のみ論理積回
路8bの出力が論理“1"となり、2−1セレクタ9のチエ
ツク結果出力情報線60に、パリテイ発生回路21と22およ
びパリテイチエツク回路51と52の正常性が確認されたこ
とを示す障害情報が出力される。(2) Next, in order to check the operation normality of the parity generation circuits 21 and 22 and the parity check circuits 51 and 52, the information from the parity rule designation information line 70 is changed to the even parity rule. As a result, the 2-1 selector 9 selects the AND circuit 8b. And check result output information line
Only when the fault information is output to both 61 and 62, the output of the logical product circuit 8b becomes the logical "1", and the parity generation circuits 21 and 22 and the parity generation circuits 21 and 22 are connected to the check result output information line 60 of the 2-1 selector 9. Fault information indicating that the normality of the check circuits 51 and 52 has been confirmed is output.
なお、論理和回路8aの代りにノア回路,論理積回路8bの
代りにナンド回路を使用してもよい。A NOR circuit may be used instead of the OR circuit 8a, and a NAND circuit may be used instead of the AND circuit 8b.
以上説明したように本発明は、m個のパリテイ発生回路
に対してそのパリテイ則指定情報を共通化し、さらにm
個のパリテイ発生回路に対応したm個のパリテイチエツ
ク回路の障害情報のオアまたノアをとるゲート回路の出
力を一方に、同障害情報のアンドまたはナンドをとるゲ
ート回路の出力を他方に入力するように接続した2−1
セレクタを設け、このセレクタの選択指定をパリテイ則
指定情報と同一にすることにより、パリテイ則指示情報
を保持するフリツプフロツプや保守走査用アンサ回路の
ハードウエア量を削減でき、また障害表示ポイントの削
減により保守が簡易になるという効果がある。As described above, according to the present invention, the parity rule designation information is shared by m parity generation circuits, and
Input the output of the gate circuit that takes the OR or NOR of the failure information of the m parity check circuits corresponding to the number of parity generation circuits to one, and the output of the gate circuit that ANDs or NANDs the failure information to the other. 2-1 connected as
By providing a selector and making the selection designation of this selector the same as the parity rule designation information, it is possible to reduce the hardware amount of the flip-flop that holds the parity rule designation information and the maintenance scan answer circuit, and to reduce the number of fault display points. This has the effect of simplifying maintenance.
第1図は本発明によるパリテイ情報を使用したデータ障
害検出回路の一実施例の構成図、第2図はパリテイ情報
を使用したデータ障害検出回路の従来例の構成図であ
る。 11,12……データ線、 21,22……パリテイ発生回路、 31,32……パリテイ情報線、 41,42……メモリ回路、 51,52……パリテイチエツク回路、 60,61,62……チエツク結果出力情報線、 70……パリテイ則指定情報線、 8a……論理和回路、 8b……論理積回路、 9……2−1セレクタ。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a data failure detection circuit using parity information according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a conventional example of a data failure detection circuit using parity information. 11,12 …… Data line, 21,22 …… Parity generation circuit, 31,32 …… Parity information line, 41,42 …… Memory circuit, 51,52 …… Parity check circuit, 60,61,62… … Check result output information line, 70 …… Parity rule designation information line, 8a …… OR circuit, 8b …… AND circuit, 9 …… 2-1 selector.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木暮 光司 東京都武蔵野市緑町3丁目9番11号 日本 電信電話株式会社武蔵野電気通信研究所内 (72)発明者 黒田 清彦 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (72) Inventor Koji Kogure 3-9-11 Midoricho, Musashino-shi, Tokyo Inside Nippon Telegraph and Telephone Corporation Musashino Electro-Communications Research Laboratory (72) Inventor Kiyohiko Kuroda Ueda, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Address 1015 within Fujitsu Limited
Claims (1)
イ情報を発生するパリテイ発生回路と、該パリテイ情報
と前記nビツトデータを引き込み正常性のチエツクを行
うパリテイチエツク回路を有し、前記パリテイ発生回路
には発生されるパリテイ情報のパリテイ則を指定するパ
リテイ則指定情報線が引き込まれている、パリテイ区間
がm個(m≧2)のデータ障害検出回路において、 パリテイ則指定情報を共通化するために前記各パリテイ
則指定情報線が共通に接続され、 前記m個のパリテイチエツク回路のチエツク結果出力情
報の少なくとも1つが障害有りを示しているときに所定
の論理値信号を出力する第1のゲート回路と、 前記m個のパリテイチエツク回路のチエツク結果情報が
全て障害有りを示しているときに所定の論理値信号を出
力する第2のゲート回路と、 前記パリテイ則指定情報線のパリテイ則指定情報を入力
選択信号として、前記第1のゲート回路の出力または前
記第2のゲート回路の出力を選択し、障害情報として出
力する2−1セレクタを備えたことを特徴とするデータ
障害検出回路。1. A parity generation circuit for generating parity information for n-bit (n ≧ 1) data, and a parity check circuit for pulling in the parity information and the n-bit data to check normality. In the data failure detection circuit having m (m ≧ 2) parity sections, in which a parity rule specifying information line for specifying the parity rule of the generated parity information is drawn in the parity generating circuit, the parity rule specifying information is stored. The respective parity rule specifying information lines are commonly connected for common use, and a predetermined logical value signal is output when at least one of the check result output information of the m parity check circuits indicates a failure. And a predetermined logic value signal when all the check result information of the m parity check circuits indicates that there is a failure. A second gate circuit for outputting and the parity rule designating information of the parity rule designating information line as an input selection signal, and the output of the first gate circuit or the output of the second gate circuit is selected as fault information. A data failure detection circuit comprising a 2-1 selector for outputting.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17344385A JPH0666759B2 (en) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | Data failure detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17344385A JPH0666759B2 (en) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | Data failure detection circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6234436A JPS6234436A (en) | 1987-02-14 |
| JPH0666759B2 true JPH0666759B2 (en) | 1994-08-24 |
Family
ID=15960565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17344385A Expired - Lifetime JPH0666759B2 (en) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | Data failure detection circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0666759B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2559531B2 (en) * | 1990-10-18 | 1996-12-04 | 富士通株式会社 | Redundant system error check circuit |
-
1985
- 1985-08-06 JP JP17344385A patent/JPH0666759B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6234436A (en) | 1987-02-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7444540B2 (en) | Memory mirroring apparatus and method | |
| EP0225059A2 (en) | Semiconductor memory | |
| US4326290A (en) | Means and methods for monitoring the storage states of a memory and other storage devices in a digital data processor | |
| US3887901A (en) | Longitudinal parity generator for mainframe memories | |
| JP2001006395A (en) | Semiconductor memory device and reading method in test mode | |
| US4103823A (en) | Parity checking scheme for detecting word line failure in multiple byte arrays | |
| US4205301A (en) | Error detecting system for integrated circuit | |
| JP2000111618A (en) | Bist circuit and semiconductor integrated circuit | |
| US4322812A (en) | Digital data processor providing for monitoring, changing and loading of RAM instruction data | |
| JPH0666759B2 (en) | Data failure detection circuit | |
| US6510483B1 (en) | Circuit, architecture and method for reading an address counter and/or matching a bus width through one or more synchronous ports | |
| JP3266529B2 (en) | Method and apparatus for forming translation information to translate storage area addresses into memory control signals | |
| EP0409008A2 (en) | Video memory with write mask from vector or direct input | |
| JPH05165734A (en) | Fixed failure diagnostic device for main memory | |
| JPS5947394B2 (en) | Variable length two-dimensional register | |
| US5267250A (en) | Circuit arrangement for detection of an erroneous selection signal supplied to selection means | |
| JPS59151371A (en) | Semiconductor memory element | |
| JP2723843B2 (en) | Dual port memory control circuit | |
| JPS6144342B2 (en) | ||
| JP3125950B2 (en) | Application specific integrated circuits | |
| JP3092179B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JP3038618B2 (en) | Memory device with built-in test circuit | |
| JPH02142223A (en) | Parity check circuit | |
| JPH0528746A (en) | Fifo memory circuit | |
| JPH04140843A (en) | Register file |