JPH0675042B2 - X-ray tomography system - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、マイクロフォーカスX線発生装置をX線源と
するX線断層像撮影装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application] The present invention relates to an X-ray tomography apparatus using a microfocus X-ray generator as an X-ray source.
(従来の技術) 一般に、X線断層像撮影装置のX線源としては、高電圧
を印加し管内に発生した熱電子をこの高電圧により加速
し、タングステン等により構成されるターゲットへ当て
て、そのターゲットから制動放射によりX線を発生させ
るX線発生装置が用いられる。(Prior Art) Generally, as an X-ray source of an X-ray tomographic imaging apparatus, a high voltage is applied to accelerate thermoelectrons generated in a tube, and the thermoelectrons are applied to a target composed of tungsten or the like, An X-ray generator that generates X-rays from the target by bremsstrahlung is used.
このようなX線断層像撮影装置では、上記X線発生装置
の焦点位置を決められた位置に正確に合わせることが重
要である。この位置にずれがあると、断層像にボケやア
ーティファクト(偽像)を生じてしまうからである。In such an X-ray tomographic imaging apparatus, it is important to accurately adjust the focus position of the X-ray generation apparatus to a predetermined position. This is because if there is a deviation in this position, blurring or artifacts (false images) will occur in the tomographic image.
ところで、X線断層像撮影装置に一般的に使用されるX
線発生装置の焦点寸法は、1/10〜1mm程度である。した
がって、この焦点自身の大きさと位置の時間的変動は、
通常問題にならない。By the way, an X commonly used in an X-ray tomographic imaging apparatus is used.
The focal dimension of the line generator is about 1/10 to 1 mm. Therefore, the temporal variation of the size and position of the focus itself is
Usually not a problem.
ところが、最近では、被検査物がセラミックス等のよう
な場合には、数十μmまでの欠陥をX線断層像撮影装置
で検出したという要望が強い。However, recently, when the object to be inspected is ceramics or the like, there is a strong demand that an X-ray tomographic imaging apparatus detects a defect of up to several tens of μm.
そこで、X線発生装置の焦点寸法をほぼこの検出したい
欠陥の大きさあるいはそれ以下まで小さくするため、撮
影の拡大倍率を上げて前記程度の微小欠陥の検出を可能
とするマイクロフォーカスX線発生装置を用いることが
考えられる。Therefore, in order to reduce the focus size of the X-ray generator to about the size of the defect to be detected or to be smaller than that, the micro-focus X-ray generator capable of detecting the minute defect of the above degree by increasing the magnification of imaging. Can be used.
しかしながら、マイクロフォーカスX線発生装置では、
ターゲットに当てる電子ビームを極めて細く集束させる
ために、それ自身の焦点寸法(数〜数十μm)に対し
て、同等もしくはそれ以上に焦点の大きさと位置が時間
的に変動してしまう。そのため、焦点の大きさ及び位置
を必要以上に調整しなければならず、多大な時間と手間
を要するという課題を生じる。However, in the microfocus X-ray generator,
Since the electron beam applied to the target is focused extremely finely, the size and position of the focal point temporally fluctuates to the same or more than the focal point size (several to several tens μm) of itself. Therefore, the size and position of the focal point must be adjusted more than necessary, resulting in a problem of requiring a great deal of time and labor.
(発明が解決しようとする課題) 即ち、マイクロフォーカスX線発生装置をX線断層像撮
影装置に使用する場合、単にマイクロフォーカスX線発
生装置を従来の一般的なX線発生装置と同じように用い
たのでは、その焦点の大きさや位置を確認したり、調整
したりすることは極めて困難である。一方、焦点の大き
さや位置が不確定のままでは、X線断層像撮影装置とし
て実用的に使用することはできない。(Problems to be Solved by the Invention) That is, when the microfocus X-ray generator is used in an X-ray tomographic imaging apparatus, the microfocus X-ray generator is simply the same as a conventional general X-ray generator. When used, it is extremely difficult to confirm or adjust the size and position of the focal point. On the other hand, if the size and position of the focal point remain uncertain, it cannot be practically used as an X-ray tomographic imaging apparatus.
その理由は、次の通りである。The reason is as follows.
(1)一般にX線断層像撮影装置のX線検出器は、一次
元的に配列された多チャンネル検出器であるから、チャ
ンネル方向の焦点の大きさと位置が測定できる可能性は
あってもX線のスライス方向の焦点の大きさと位置を測
定することはできない。(1) Generally, the X-ray detector of the X-ray tomographic imaging apparatus is a one-dimensionally arranged multi-channel detector, and therefore, there is a possibility that the size and position of the focal point in the channel direction can be measured. It is not possible to measure the size and position of the focus in the slice direction of the line.
(2)一般にX線断層像撮影装置は、1スキャン(1回
の断層撮影)分のデータ収集を行った後に、断層線また
はデータ収集の結果を出力できるので、焦点の大きさ及
び位置を測定しようとすると1回当り数秒〜数100秒も
要し、焦点の大きさ及び位置を最適化するのに仮に10回
の測定でとりあえず、チャンネル方向のみ完了したとし
ても数分〜数十分もかかってしまい、実用的でない。(2) In general, an X-ray tomography apparatus can output the tomographic line or the result of data collection after collecting data for one scan (one tomography), and thus measures the size and position of the focal point. Each time it takes several seconds to several hundreds of seconds to optimize the size and position of the focal point, even if only ten measurements are required, it will take several minutes to several tens of minutes even if only the channel direction is completed. It is not practical.
(3)しかも、上記(2)における焦点の大きさと位置
の確認または調整は、少なくともマイクロフォーカスX
線発生装置の電源投入時には毎回必要である。(3) In addition, the confirmation and adjustment of the size and position of the focal point in (2) above are performed by at least the micro focus X.
It is necessary every time the power of the line generator is turned on.
(4)マイクロフォーカスX線発生装置の焦点の大きさ
および位置をX線断層像撮影装置に必要な1μm程度の
再現性および長時間安定度で維持することは、その技術
的難易度から見て当面不可能であると考えられる。(4) It is technically difficult to maintain the size and position of the focal point of the microfocus X-ray generator with the reproducibility of about 1 μm and the long-term stability required for the X-ray tomography apparatus. Considered impossible for the time being.
本発明はこのような事情に基づきなされたもので、マイ
クロフォーカスX線発生装置から放射されるX線の焦点
の大きさ及び位置の確認または調整を容易に行うことが
できるX線断層像撮影装置を提供することを目的とす
る。The present invention has been made based on such circumstances, and an X-ray tomographic imaging apparatus capable of easily confirming or adjusting the size and position of the focal point of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator. The purpose is to provide.
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明のX線断層像撮影装置は、X線を発生するマイク
ロフォーカスX線発生装置と、前記X線により内部状態
の検査なされる被検査物が設置される試料台と、前記マ
イクロフォーカスX線発生装置と前記試料台との間に配
置され、前記マイクロフォーカスX線発生装置から放射
されるX線を平行束とし、前記試料台に設置された被検
査物に照射するコリメータと、前記被検査物を透過した
X線の量を検出する第1のX線検出器と、前記マイクロ
フォーカスX線発生装置から放射されるX線の焦点の大
きさ及び位置を確認するための第2のX線検出器と、前
記マイクロフォーカスX線発生装置から放射されるX線
を前記第1のX線検出器側または前記第2のX線検出器
側のいずれか一方に照射させるため、前記マイクロフォ
ーカスX線発生装置と前記第1のX線検出器及び前記第
2のX線検出器とを相対的に移動させる移動機構とを具
備するものである。[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) An X-ray tomographic imaging apparatus of the present invention is a microfocus X-ray generator for generating X-rays, and an object to be inspected for inspecting an internal state by the X-rays. An object is placed between the microfocus X-ray generation device and the sample stage, and the X-rays emitted from the microfocus X-ray generation device are made into a parallel bundle and installed on the sample stage. A collimator for irradiating the inspected object, a first X-ray detector for detecting the amount of X-rays transmitted through the inspected object, and a focus of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator. A second X-ray detector for confirming the size and position, and X-rays emitted from the microfocus X-ray generator for the first X-ray detector side or the second X-ray detector. Irradiate on either side So therefore, those having a moving mechanism for relatively moving said microfocus X-ray generator and said first X-ray detector and the second X-ray detector.
(作用) 本発明では、マイクロフォーカスX線発生装置から放射
されるX線の焦点の大きさ及び位置を確認するための手
段として、独立した第2のX線検出器が備えられている
ので、マイクロフォーカスX線発生装置から放射される
X線の焦点の大きさ及び位置の確認または調整を容易に
行うことができる。(Operation) In the present invention, since an independent second X-ray detector is provided as a means for confirming the size and position of the focus of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator, It is possible to easily confirm or adjust the size and position of the focus of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator.
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。(Example) Hereinafter, the Example of this invention is described based on drawing.
第1図は本発明の一実施例に係るX線断層像撮影装置の
構成を示す図である。FIG. 1 is a view showing the arrangement of an X-ray tomographic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.
同図において、1はX線を発生するマイクロフォーカス
X線発生装置、2はこのX線により内部状態の検査なさ
れる例えばセラミックス等の被検査物3が設置される試
料台、4はマイクロフォーカスX線発生装置1から放射
されるX線を平行束とし被検査物3に照射するコリメー
タ、5は被検査物を透過しコリメータ6を通過したX線
の量を検出する多チャンネルX線検出器である。In the figure, 1 is a microfocus X-ray generator for generating X-rays, 2 is a sample stage on which an object to be inspected 3 such as ceramics whose internal state is inspected by the X-rays is installed, and 4 is a microfocus X-ray. A collimator 5 for collimating the X-rays emitted from the ray generator 1 and irradiating the object 3 to be inspected is a multi-channel X-ray detector for detecting the amount of X-rays passing through the object to be inspected and passing through the collimator 6. is there.
また、7はマイクロフォーカスX線発生装置1から放射
されるX線の焦点の大きさ及び位置を確認するための、
X線I,I(イメージインテンシファイア)、X線ビジコ
ン等のリアルタイムにX線を撮影できるX線撮像部、8
はマイクロフォーカスX線発生装置1を多チャンネルX
線検出器5側(以下、断層像撮影位置と呼ぶ。)または
X線撮像部7側(以下、焦点モニタ位置と呼ぶ。)にそ
れぞれ正確に移動させるX線発生装置移動架台である。Reference numeral 7 is for confirming the size and position of the focal point of the X-ray emitted from the microfocus X-ray generator 1.
X-ray I, I (image intensifier), X-ray imaging unit that can take X-rays in real time, such as X-ray vidicon, 8
Uses a micro-focus X-ray generator 1 for multi-channel X
The X-ray generator moving gantry accurately moves the X-ray detector 5 side (hereinafter, referred to as a tomographic image capturing position) or the X-ray imaging unit 7 side (hereinafter, referred to as a focus monitor position).
マイクロフォーカスX線発生装置1には、高電圧を発生
する高電圧発生装置9が接続されている。マイクロフォ
ーカスX線発生装置1及び高電圧発生装置9には、これ
らを制御するX線制御装置10が接続されている。A high voltage generator 9 that generates a high voltage is connected to the microfocus X-ray generator 1. An X-ray controller 10 for controlling the microfocus X-ray generator 1 and the high voltage generator 9 is connected to them.
多チャンネルX線検出器5により得られたX線の量に関
するデータは、データ収集装置11により収集され、計算
機12に送られる。計算機12では、予め定められた所定の
演算が行われ、その演算結果はCRT13に表示される。Data concerning the amount of X-rays obtained by the multi-channel X-ray detector 5 is collected by the data collecting device 11 and sent to the computer 12. The computer 12 performs a predetermined calculation, and the calculation result is displayed on the CRT 13.
試料台2は、被検査物3に照射されるX線の角度や位置
を変えるための可動機構を具備しており、この可動機構
は機構制御装置14により制御される。The sample table 2 is equipped with a movable mechanism for changing the angle and position of the X-rays irradiated on the inspection object 3, and this movable mechanism is controlled by the mechanism controller 14.
計算機12及び機構制御装置14は、システム全体のタイミ
ングを制御するシステム制御装置15に接続されている。The computer 12 and the mechanism control device 14 are connected to a system control device 15 that controls the timing of the entire system.
X線発生装置移動架台8は、マイクロフォーカスX線発
生装置1を、断層像撮影位置及び焦点モニタ位置で正確
に例えば焦点寸法の1/10程度の誤差で停止・固定できる
構成にされている。また、X線発生装置移動架台8の焦
点モニタ位置における開口部は、薄くX線に対する吸収
係数の大きなAu等の材質に、例えば第2図に示すよう
に、正確に細いスリットをX線のスライス面に平行およ
び垂直な方向にきざんだ焦点確認用治具16により塞がれ
ている。The X-ray generator moving base 8 is configured so that the microfocus X-ray generator 1 can be stopped and fixed accurately at the tomographic image capturing position and the focus monitor position with an error of, for example, about 1/10 of the focus size. Further, the opening at the focus monitor position of the X-ray generator moving base 8 is made of a material such as Au which is thin and has a large absorption coefficient for X-rays. For example, as shown in FIG. It is blocked by a focus confirmation jig 16 which is cut in directions parallel and perpendicular to the plane.
X線撮像部7には、このX線撮像部7からの信号を画像
として表示する例えばCRT等の表示装置17が接続されて
いる。A display device 17 such as a CRT that displays a signal from the X-ray imaging unit 7 as an image is connected to the X-ray imaging unit 7.
尚、第1図において、18は断層像を撮影する場合のマイ
クロフォーカスX線発生装置1の焦点、19は焦点位置を
確認及び調整するためにマイクロフォーカスX線発生装
置1を焦点モニタ位置に移動した場合のマイクロフォー
カスX線発生装置1の焦点である。In FIG. 1, 18 is the focus of the microfocus X-ray generator 1 when a tomographic image is taken, and 19 is the microfocus X-ray generator 1 moved to the focus monitor position to confirm and adjust the focus position. This is the focus of the microfocus X-ray generator 1 in the case.
次に、このように構成されたX線断層像撮影装置の動作
を説明する。Next, the operation of the X-ray tomographic imaging apparatus configured as described above will be described.
始めに、マイクロフォーカスX線発生装置1をその焦点
が19の位置(焦点モニタ位置)になるように移動させ
る。First, the microfocus X-ray generator 1 is moved so that its focus is at the 19th position (focus monitor position).
焦点確認用治具16の像は、拡大されてX線撮影部7に映
り、表示装置17にリアルタイムで表示される。そして、
X線制御装置10の焦点調整機能により、焦点調整用治具
16の像が表示装置17上の決められた位置に決められたボ
ケかたで映るように調整する。The image of the focus confirmation jig 16 is magnified and displayed on the X-ray imaging unit 7, and is displayed on the display device 17 in real time. And
With the focus adjustment function of the X-ray controller 10, a focus adjustment jig
The 16 images are adjusted so that they are reflected at a predetermined position on the display device 17 with a predetermined blur.
ここで、マイクロフォーカスX線発生装置1の焦点の大
きさ及び位置は決められた最適値に調整されている。Here, the size and position of the focal point of the microfocus X-ray generator 1 are adjusted to the determined optimum value.
次に、マイクロフォーカスX線発生装置1をその焦点が
18の位置(断層像撮影位置)になるように移動させ、X
線を発生させる。このX線は、コリメータ4及びコリメ
ータ6により所望の透過経路のみのX線がX線検出器5
に入射するようにコリメートされる。Next, the focus of the microfocus X-ray generator 1 is changed.
Move to position 18 (tomographic image shooting position)
Generate a line. As for this X-ray, the X-ray of only a desired transmission path is converted by the collimator 4 and the collimator 6 into the X-ray detector 5.
Is collimated to be incident on.
試料台2に設置された被検査物3はX線透過経路上に置
かれるとともに、試料台2の可動によりX線が被検査物
3の所望の角度及び位置から照射されるよう被検査物3
の位置決めがなされる。The inspection object 3 installed on the sample table 2 is placed on the X-ray transmission path, and the inspection object 3 is irradiated with X-rays from a desired angle and position of the inspection object 3 by the movement of the sample table 2.
Is positioned.
ここで、第2世代のX線断層像撮影装置の場合には、試
料台2をトラバース及びローテーションという走査を行
い、1つの断層像の撮影に必要な分だけデータを収集す
る。Here, in the case of the X-ray tomographic imaging apparatus of the second generation, the sample table 2 is scanned by traverse and rotation, and data is collected as much as necessary for imaging one tomographic image.
そして、X線検出器5から得られる電気信号は、データ
収集装置11により積分、A/D変換等の処理がなされた
後、計算機12に送られる。計算機12では、断層像を再構
成するための演算が施され、その結果がCRT13に表示さ
れる。Then, the electric signal obtained from the X-ray detector 5 is subjected to processing such as integration and A / D conversion by the data collection device 11, and then sent to the computer 12. The computer 12 performs an operation for reconstructing a tomographic image, and the result is displayed on the CRT 13.
このように、本実施例では、焦点モニタ位置において予
めマイクロフォーカスX線発生装置1の焦点の大きさ及
び位置を所望の最適値となるように合わせておけばよい
ので、マイクロフォーカスX線発生装置1の焦点の大き
さ及び位置の確認または調整を容易に行うことができ
る。As described above, in the present embodiment, the size and position of the focus of the microfocus X-ray generator 1 may be adjusted in advance to a desired optimum value at the focus monitor position. The size and position of the focal point of No. 1 can be easily confirmed or adjusted.
尚、このようなマイクロフォーカスX線発生装置1の焦
点の大きさ及び位置の確認または調整は、初期時ばかり
でなく、マイクロフォーカスX線発生装置1の性能に合
わせて使用中の適度な時期に実施するようにしてもよ
い。It should be noted that such confirmation or adjustment of the size and position of the focal point of the microfocus X-ray generator 1 is performed not only at the initial stage but also at an appropriate time during use according to the performance of the microfocus X-ray generator 1. You may make it implement.
次に、本発明の他の実施例を説明する。Next, another embodiment of the present invention will be described.
第3図は本発明の他の実施例に係るX線断層像撮影装置
の構成を示す図である。FIG. 3 is a view showing the arrangement of an X-ray tomographic imaging apparatus according to another embodiment of the present invention.
同図に示すこの装置は、X線撮影部としてX線I,I20、T
Vカメラ21及びカメラコントローラ22を用い、表示装置1
6としてCRT23を用いたものである。This device shown in the figure is used as an X-ray imaging unit for X-rays I, I20, T
Display device 1 using V camera 21 and camera controller 22
CRT23 is used as 6.
そして、焦点モニタ位置に置かれたマイクロフォーカス
X線発生装置1から照射されたX線による焦点確認用治
具16の像は、X線I,I20に入射し、可視光の像となりTV
カメラ21により撮像され、CRT23に表示される。カメラ
コントローラ22はTVカメラ21のラスタスキャンを制御す
る。Then, the image of the focus confirmation jig 16 by the X-rays emitted from the micro-focus X-ray generator 1 placed at the focus monitor position is incident on the X-rays I and I20 and becomes an image of visible light, which is a TV image.
The image is taken by the camera 21 and displayed on the CRT 23. The camera controller 22 controls the raster scan of the TV camera 21.
ここで、X線I,I20は、入射面の口径が小型の6インチ
のものであってもφ150mm程度と大きいので、X線の焦
点が多少大きくずれていても焦点調整用治具16の像を見
失うことがなく実用的である。Here, the X-rays I and I20 have a large diameter of about 150 mm even if the incident surface has a small diameter of 6 inches, so even if the X-ray focus is slightly deviated, the image of the focus adjustment jig 16 Practical without losing sight.
また、焦点調整用治具16には、第2図に示したように、
X線のスライス面に平行及び垂直な方向に各数本ずつの
所定のピッチの細いスリットが設けられているので、CR
T23上では、スライス面に平行及び垂直な2方向に対し
焦点の大きさ及び位置が同時にリアルタイムで調整可能
である。In addition, as shown in FIG.
Since several thin slits with a specified pitch are provided in each direction parallel and perpendicular to the slice plane of X-ray, CR
On T23, the size and position of the focal point can be simultaneously adjusted in real time in two directions parallel and perpendicular to the slice plane.
尚、以上の実施例では、マイクロフォーカスX線発生装
置1を移動させたが、マイクロフォーカスX線発生装置
1の位置は常に固定し、X線検出器5とX線I,I20及びT
Vカメラ21とが移動しても良い。この場合には、焦点確
認用治具16に相当するものを試料台3の中心部に固定す
る。そして、この場合には、焦点確認用治具16の像が拡
大された位置で調整可能となるので、焦点調整の精度を
上げやすいと共に、マイクロフォーカスX線発生装置1
を移動しないため、本装置に振動が加わらないという効
果もある。Although the microfocus X-ray generator 1 is moved in the above embodiment, the position of the microfocus X-ray generator 1 is always fixed and the X-ray detector 5 and the X-rays I, I20 and T are fixed.
V camera 21 and may move. In this case, a tool corresponding to the focus confirmation jig 16 is fixed to the center of the sample table 3. In this case, since the image of the focus confirmation jig 16 can be adjusted at the enlarged position, it is easy to improve the accuracy of focus adjustment, and the microfocus X-ray generator 1 is provided.
There is also an effect that vibration is not applied to the present device because it does not move.
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、マイクロフォーカ
スX線発生装置から放射されるX線の焦点の大きさ及び
位置を確認するための手段として、独立した第2のX線
検出器が備えられているので、マイクロフォーカスX線
発生装置から放射されるX線の焦点の大きさ及び位置の
確認または調整を容易に行うことができる。As described above, according to the present invention, as a means for confirming the size and position of the focal point of the X-ray emitted from the microfocus X-ray generator, an independent second X-ray is used. Since the detector is provided, it is possible to easily confirm or adjust the size and position of the focal point of the X-ray emitted from the microfocus X-ray generator.
即ち、第2のX線検出器により、具体的に焦点の大きさ
及び位置を確認または調整することを必要とするマイク
ロフォーカスX線発生装置の焦点調整がスライス面に平
行及び垂直な方向とも同時にリアルタイムで行える。し
たがって、この調整に要する時間は、数十秒程度で済む
ため、本発明を実施しない場合に比較し、所要時間は1/
100くらいに節約できる。That is, the focus adjustment of the micro-focus X-ray generator that requires specifically confirming or adjusting the size and position of the focus by the second X-ray detector is performed at the same time in the directions parallel and perpendicular to the slice plane. Can be done in real time. Therefore, the time required for this adjustment is about several tens of seconds, and the time required is 1/100 of that required when the present invention is not carried out.
You can save about 100.
第1図は本発明の一実施例に係るX線断層像撮影装置の
構成を示す図、第2図は焦点確認用治具を示す図、第3
図は本発明の他の実施例に係るX線断層像撮影装置の構
成を示す図である。 1……マイクロフォーカスX線発生装置、2……試料
台、3……被検査物、4、6……コリメータ、5……多
チャンネルX線検出器、7……X線撮像部、8……X線
発生装置移動架台、9……高電圧発生装置、10……X線
制御装置、11……データ収集装置、12……計算機、13…
…CRT、14……機構制御装置、15……システム制御装
置、16……焦点確認用治具、17……表示装置。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an X-ray tomographic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a focus confirmation jig, and FIG.
The figure is a diagram showing the configuration of an X-ray tomographic imaging apparatus according to another embodiment of the present invention. 1 ... Microfocus X-ray generator, 2 ... Sample stage, 3 ... Inspection object, 4,6 ... Collimator, 5 ... Multi-channel X-ray detector, 7 ... X-ray imaging unit, 8 ... … X-ray generator mobile stand, 9 …… High voltage generator, 10 …… X-ray controller, 11 …… Data collector, 12 …… Computer, 13…
… CRT, 14 …… Mechanism control device, 15 …… System control device, 16 …… Focus confirmation jig, 17 …… Display device.
Claims (1)
生装置と、前記X線により内部状態の検査なされる被検
査物が設置される試料台と、前記マイクロフォーカスX
線発生装置と前記試料台との間に配置され、前記マイク
ロフォーカスX線発生装置から放射されるX線を平行束
とし、前記試料台に設置された被検査物に照射するコリ
メータと、前記被検査物を透過したX線の量を検出する
第1のX線検出器と、前記マイクロフォーカスX線発生
装置から放射されるX線の焦点の大きさ及び位置を確認
するための第2のX線検出器と、前記マイクロフォーカ
スX線発生装置から放射されるX線を前記第1のX線検
出器側または前記第2のX線検出器側のいずれか一方に
照射させるため、前記マイクロフォーカスX線発生装置
と前記第1のX線検出器及び前記第2のX線検出器とを
相対的に移動させる移動機構とを具備することを特徴と
するX線断層像撮影装置。1. A microfocus X-ray generator for generating X-rays, a sample stage on which an object to be inspected whose internal state is inspected by the X-rays is installed, and the microfocus X-ray.
A collimator, which is arranged between the beam generator and the sample stage, forms a parallel bundle of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator, and irradiates an object to be inspected installed on the sample stage, and the collimator. A first X-ray detector for detecting the amount of X-rays transmitted through an inspection object, and a second X-ray for confirming the size and position of the focal point of X-rays emitted from the microfocus X-ray generator. In order to irradiate either the first X-ray detector side or the second X-ray detector side with X-rays emitted from a line detector and the microfocus X-ray generator, the microfocus An X-ray tomographic imaging apparatus comprising: an X-ray generator and a moving mechanism that relatively moves the first X-ray detector and the second X-ray detector.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63291102A JPH0675042B2 (en) | 1988-11-19 | 1988-11-19 | X-ray tomography system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63291102A JPH0675042B2 (en) | 1988-11-19 | 1988-11-19 | X-ray tomography system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02138854A JPH02138854A (en) | 1990-05-28 |
| JPH0675042B2 true JPH0675042B2 (en) | 1994-09-21 |
Family
ID=17764476
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63291102A Expired - Lifetime JPH0675042B2 (en) | 1988-11-19 | 1988-11-19 | X-ray tomography system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0675042B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345184A (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Shimadzu Corp | X-ray equipment |
Families Citing this family (4)
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|---|---|---|---|---|
| JP4699780B2 (en) * | 2005-03-04 | 2011-06-15 | 東芝Itコントロールシステム株式会社 | TR type computed tomography apparatus and radiation detection apparatus |
| DE102006032607B4 (en) * | 2006-07-11 | 2011-08-25 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH, 73447 | Arrangement for generating electromagnetic radiation and method for operating the arrangement |
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| JP2015161507A (en) * | 2014-02-26 | 2015-09-07 | 日本装置開発株式会社 | X-ray inspection device and control method of x-ray inspection device |
-
1988
- 1988-11-19 JP JP63291102A patent/JPH0675042B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005345184A (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Shimadzu Corp | X-ray equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02138854A (en) | 1990-05-28 |
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |