JPH0676944B2 - Eccentricity correction method for balance testing machine and balance testing machine - Google Patents
Eccentricity correction method for balance testing machine and balance testing machineInfo
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- JPH0676944B2 JPH0676944B2 JP61067534A JP6753486A JPH0676944B2 JP H0676944 B2 JPH0676944 B2 JP H0676944B2 JP 61067534 A JP61067534 A JP 61067534A JP 6753486 A JP6753486 A JP 6753486A JP H0676944 B2 JPH0676944 B2 JP H0676944B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、回転主軸を持たない被試験体を支持する支持
アダプタの偏芯を電気的に補正する偏芯補正方法と釣合
試験機に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an eccentricity correction method and a balance tester for electrically correcting the eccentricity of a support adapter that supports an object to be tested that does not have a rotary spindle.
従来の技術 被試験体の不釣合を測定する時その測定精度を高めるに
は、被試験体を支持する支持アダプタに存在する偏芯を
補正する必要がある。そのため、被試験体を支持アダプ
タに取り付けて回転させ1度目の釣合試験を行った後、
支持アダプタに対する被試験体の取付角度を180度回転
させて取り付け2度目の釣合試験を行う。この2回の釣
合試験によって得られた不釣合を示す2つの偏芯ベクト
ルから偏芯補正ベクトルを算出し、支持アダプタの偏芯
の補正を行う電気的な方法と、1目の釣合試験を行った
時に不釣合を0とする補正を行い、2度目の釣合試験に
よって示された不釣合を0とする補正を行うにあたっ
て、被試験体に重りを取り付ける等によってその半分の
補正を行い、残りの半分を支持アダプタによって補正す
ることにより、支持アダプタの偏芯を補正する機械的な
方法とがある。2. Description of the Related Art When measuring the imbalance of a device under test, in order to improve the measurement accuracy, it is necessary to correct the eccentricity present in a support adapter that supports the device under test. Therefore, after attaching the DUT to the support adapter and rotating it to perform the first balance test,
Rotate the mounting angle of the DUT to the support adapter by 180 degrees and perform the second balancing test. An eccentricity correction vector is calculated from the two eccentricity vectors indicating the imbalance obtained by the two balance tests, and an electrical method for correcting the eccentricity of the support adapter and the first balance test are performed. When performing the correction to make the unbalance to be 0, and to make the unbalance shown in the second balance test to be 0, make a half of the correction by attaching a weight to the DUT, and There is a mechanical method of compensating for the eccentricity of the support adapter by compensating for half with the support adapter.
発明が解決しようとする問題点 被試験体が支持アダプタと接触する位置は、完全な同一
円周上にはなく僅かながらずれていること等が原因とな
って、支持アダプタと被試験体との取付角度が異なる
と、支持アダプタの偏芯に違いが生じ、上記のように、
取付角度が互いに180度異なる2回の釣合試験によって
支持アダプタの偏芯を補正する場合には、その取付角度
から外れた角度に被試験体を取り付けた時に生じる偏芯
を充分に補正できないことになる。Problems to be Solved by the Invention The position where the DUT comes into contact with the support adapter does not lie on the same circumference and is slightly deviated. If the mounting angle is different, the eccentricity of the support adapter will be different, and as described above,
When correcting the eccentricity of the support adapter by two equilibrium tests in which the mounting angles differ from each other by 180 degrees, the eccentricity that occurs when the DUT is mounted at an angle deviating from the mounting angle cannot be sufficiently corrected. become.
本発明は上記の問題点を解消するために発明されたもの
で、任意の方向に被試験体を取り付けた場合にも、精度
よく支持アダプタの偏芯を補正することのできる釣合試
験機の偏芯補正方法と、精度よく被試験体の釣合試験を
行うことのできる釣合試験機を提供することを目的とし
ている。The present invention has been invented in order to solve the above problems, and a balance tester capable of accurately correcting the eccentricity of the support adapter even when the DUT is attached in any direction. It is an object of the present invention to provide an eccentricity correction method and a balance tester capable of accurately performing a balance test of a device under test.
問題点を解決するための手段 上記目的を達成するために、本発明の釣合試験機の偏芯
補正方法は、3通り以上のN通りの取付角度によって釣
合試験を行う。そして支持アダプタの偏芯と被試験体の
不釣合とにより生じる偏芯を示しかつ釣合試験によって
得られたN個の偏芯ベクトルおよびこれらの偏芯ベクト
ルに対応する取付角度から、支持アダプタの偏芯を補正
する平均化された偏芯補正ベクトルを演算する。次にこ
の平均化された偏芯補正ベクトルを補正電気信号に変換
し、被試験体が支持アダプタを介して取に付けられ回転
する測定用主軸の回転中心の変位を示す変位信号にこの
補正電気信号の加算を行う。Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the eccentricity correction method for a balance testing machine of the present invention conducts a balance test with three or more N mounting angles. The eccentricity of the support adapter is shown from the eccentricity of the support adapter and the unbalance of the DUT, and the eccentricity of the support adapter is calculated from the N eccentricity vectors obtained by the balance test and the mounting angles corresponding to these eccentricity vectors. Compute an averaged eccentricity correction vector that corrects the core. Next, this averaged eccentricity correction vector is converted into a correction electric signal, and this correction electric signal is converted into a displacement signal indicating the displacement of the center of rotation of the main spindle for measurement, which is mounted and rotated by the DUT. Add signals.
また本発明の釣合試験機は、ピックアップからの変位信
号を直交する2方向に分離し偏芯ベクトルを示す偏芯ベ
クトル信号を生成する同期整流回路と、偏芯ベクトル信
号をデジタル化するA/D変換回路と、N通りの釣合試験
によって得られかつデジタル化された偏芯ベクトル信号
によって示されるN個の偏芯ベクトルおよびこの偏芯ベ
クトルに対応する取付角度から支持アダプタの偏芯を補
正する平均化された偏芯補正ベクトルを演算するCPU
と、この平均化された偏芯補正ベクトルに対応する補正
ベクトル信号を発生するベクトル発生回路と、補正ベク
トル信号を変位信号に加算する加算回路とを備える。Further, the balance testing machine of the present invention separates the displacement signal from the pickup into two directions orthogonal to each other, and a synchronous rectification circuit for generating an eccentricity vector signal indicating an eccentricity vector, and A / D for digitizing the eccentricity vector signal. The eccentricity of the support adapter is corrected from the D conversion circuit and the N eccentricity vectors obtained by the N-type balance test and indicated by the digitized eccentricity vector signal and the mounting angle corresponding to the eccentricity vector. CPU that calculates the averaged eccentricity correction vector
And a vector generation circuit that generates a correction vector signal corresponding to the averaged eccentricity correction vector, and an addition circuit that adds the correction vector signal to the displacement signal.
作用 被試験体を支持アダプタに対して順次取付角度を変えな
がら3回以上の測定を行い、各測定の結果を示す偏芯ベ
クトルと、この偏芯ベクトルに対応する被試験体の支持
アダプタに対する取付角度とを得る。CPUは、2つの偏
芯ベクトルによって1つの偏芯補正ベクトルを演算によ
って算出する。3つ以上の偏芯ベクトルからは2つ以上
の偏芯補正ベクトルが得られ、CPUは、さらにこれらの
偏芯補正ベクトルに演算を施し、平均化された1つの偏
芯補正ベクトルを算出する。そしてベクトル発生回路に
より、この平均化された偏芯補正ベクトルに対応する補
正ベクトル信号を発生し、ピックアップからの変位信号
に加算する。Action Perform the measurement three or more times while changing the mounting angle of the DUT to the support adapter sequentially, and attach the eccentricity vector indicating the result of each measurement and the DUT corresponding to this eccentricity vector to the support adapter. Get the angle and. The CPU calculates one eccentricity correction vector from the two eccentricity vectors. Two or more eccentricity correction vectors are obtained from the three or more eccentricity vectors, and the CPU further calculates these eccentricity correction vectors to calculate one averaged eccentricity correction vector. Then, the vector generation circuit generates a correction vector signal corresponding to the averaged eccentricity correction vector and adds it to the displacement signal from the pickup.
実施例 以下に本発明の一実施例について説明する。第1図は本
発明の釣合試験機を示すブロック線図である。図におい
て、支持アダプタ42を介して被試験体41が取り付けられ
た測定用主軸43は、図示されていない駆動部によって回
転させられる。支持アダプタ42および被試験体41の偏芯
によって測定用主軸43の回転中心が変位し、この変位は
ピックアップ11によって変位信号31に変換される。変位
信号31は加算回路12を経て同期整流回路13に達し、直交
する2つのX、Y方向の分離信号32となって出力され
る。2つの分離信号32はA/D変換回路14によってデジタ
ル化され、偏芯ベクトルを示す信号33となってCPU15に
導かれている。CPU15には、必要なデータ、例えば支持
アダプタ42に対する釣合試験機41の取付角度等を入力す
るためのキーボード18が接続されている。またCPU15は
記憶部22との間でデータのやりとりを行い、被試験体41
の不釣合の値を表示する表示部16へは測定結果を出力し
ている。またCPU15からの出力は、D/A変換回路17と、そ
の出力が入力に接続されているチョッパ回路20とから構
成されているベクトル発生回路23に導かれ、後にその詳
細を示す平均化された偏芯補正ベクトルに対応する補正
ベクトル信号となり、加算回路12によってピックアップ
11からの変位信号31に加算されている。測定用主軸43の
回転位置を検出する基準位相検出器21からの信号は、2
相パルス生成回路19に導かれている。その出力には、測
定用主軸43の回転位置と対応し、互いに位相が90度異な
る2相パルスが現れ、同期整流回路13およびチョッパ回
路20に送られている。Example One example of the present invention will be described below. FIG. 1 is a block diagram showing a balance testing machine of the present invention. In the figure, the measurement main shaft 43 to which the DUT 41 is attached via a support adapter 42 is rotated by a drive unit (not shown). Due to the eccentricity of the support adapter 42 and the DUT 41, the center of rotation of the measuring spindle 43 is displaced, and this displacement is converted into a displacement signal 31 by the pickup 11. The displacement signal 31 reaches the synchronous rectification circuit 13 through the adder circuit 12 and is output as two orthogonal X and Y separation signals 32. The two separated signals 32 are digitized by the A / D conversion circuit 14, and become a signal 33 indicating an eccentricity vector and guided to the CPU 15. A keyboard 18 for inputting necessary data, for example, a mounting angle of the equilibrium tester 41 with respect to the support adapter 42, is connected to the CPU 15. Further, the CPU 15 exchanges data with the storage unit 22, and the device under test 41
The measurement result is output to the display unit 16 that displays the unbalanced value of. The output from the CPU 15 is guided to a vector generation circuit 23 which is composed of a D / A conversion circuit 17 and a chopper circuit 20 whose output is connected to the input, and is averaged to show its details later. It becomes a correction vector signal corresponding to the eccentricity correction vector and is picked up by the adder circuit 12.
It has been added to the displacement signal 31 from 11. The signal from the reference phase detector 21 for detecting the rotational position of the measuring spindle 43 is 2
It is guided to the phase pulse generation circuit 19. Two-phase pulses corresponding to the rotational position of the measuring main shaft 43 and having phases different from each other by 90 degrees appear in the output, and are sent to the synchronous rectification circuit 13 and the chopper circuit 20.
以下に、例えば支持アダプタ42に対して4通りの取り付
け方ができ、取付角度が互いに90異なる形状を有する被
試験体41の釣合試験を行う際に、支持アダプタ42の偏芯
の補正を行う時の動作について説明する。In the following, for example, the support adapter 42 can be attached in four ways, and the eccentricity of the support adapter 42 is corrected when performing the balance test of the DUT 41 having the attachment angles different from each other by 90. The operation at that time will be described.
被試験体41を取付角度0度にて支持アダプタ42に取り付
け、測定用主軸43を回転させる。ピックアップ11からの
変位信号31は、同期整流回路13によって2つの直交する
方向の分離信号32に分離され、この分離信号32は、A/D
変換回路14によってデジタル化された後CPU15に送られ
る。この時、被試験体41の不釣合と、支持アダプタ42の
偏芯とが合成された第1の偏芯ベクトルは、デジタル化
された分離信号32によってCPU15に示され、さらにキー
ボード18から入力される取付角度0度のデータと共に、
第1の偏芯ベクトルは記憶部22に記憶される。The DUT 41 is attached to the support adapter 42 at an attachment angle of 0 degree, and the measurement spindle 43 is rotated. The displacement signal 31 from the pickup 11 is separated by the synchronous rectification circuit 13 into two orthogonal separation signals 32, which are separated by A / D.
It is sent to the CPU 15 after being digitized by the conversion circuit 14. At this time, the first eccentricity vector in which the unbalance of the DUT 41 and the eccentricity of the support adapter 42 are combined is shown to the CPU 15 by the digitized separation signal 32 and further inputted from the keyboard 18. With the data of mounting angle 0 degree,
The first eccentricity vector is stored in the storage unit 22.
次に、被試験体41を支持アダプタ42に対して90度回転さ
せて取り付け、同様にして第2の偏芯ベクトルとその取
付角度90度のデータを記憶させる。以下取付角度を90度
回転させることにより、4つの偏芯ベクトルと、この偏
芯ベクトルに対応する取付角度のデータが記憶部22に記
憶される。Next, the DUT 41 is attached by rotating it by 90 degrees with respect to the support adapter 42, and the data of the second eccentricity vector and its attachment angle of 90 degrees are stored in the same manner. By rotating the mounting angle by 90 degrees, four eccentricity vectors and mounting angle data corresponding to the eccentricity vectors are stored in the storage unit 22.
第2図は偏芯ベクトルを示す説明図である。ベクトルS
は測定によって第1の偏芯ベクトルS1と第2の偏芯ベク
トルS2とを示し、ベクトルMは被試験体41の不釣合、ベ
クトルUは支持アダプタ42の偏芯を示している。ベクト
ルM1とベクトルM2との交点の角度θは、被試験体41の取
付角度の回転角と等しく90度である。支持アダプタ42の
偏芯を示すベクトルUがU1とU2とで僅かに異なっている
のは、被試験体41の取付角度によって支持アダプタ42の
偏芯がずれるためである。ベクトルS1とS2との差異およ
びベクトルM1とM2との差異に比べると、相対的にベクト
ルU1とU2との差異は極めて小さいので、ここでは、U1と
U2とは同一ベクトルであるとみなして、計算を行う。FIG. 2 is an explanatory diagram showing an eccentricity vector. Vector S
Indicates the first eccentricity vector S1 and the second eccentricity vector S2 by measurement, the vector M indicates the unbalance of the DUT 41, and the vector U indicates the eccentricity of the support adapter 42. The angle θ of the intersection of the vector M1 and the vector M2 is equal to the rotation angle of the mounting angle of the device under test 41 and is 90 degrees. The vector U indicating the eccentricity of the support adapter 42 is slightly different between U1 and U2 because the eccentricity of the support adapter 42 shifts depending on the mounting angle of the DUT 41. Compared to the difference between the vectors S1 and S2 and the difference between the vectors M1 and M2, the difference between the vectors U1 and U2 is relatively small.
Calculation is performed assuming that U2 is the same vector.
第3図は支持アダプタ42の偏芯を同一のベクトルで示し
た説明図である。ベクトルM2はベクトルM1をθ度回転さ
せたベクトルなので M2=M1ejθ であらわされ、 S1=A1+M1 S2=A1+M1ejθ である。そして支持アダプタ42の偏芯を示すベクトルは であらわされるので、ベクトルS2およびS1と、取付角度
θとにより、ベクトルA1は求めることができる。CPU15
によって上記の演算を行い、ベクトルA1を記憶部22に記
憶させる。同様にして、第1の偏芯ベクトルs1と第3の
偏芯ベクトルおよび第4の偏芯ベクトルとの間で、支持
アダプタ42の偏芯を示す2つのベクトルが得られる。FIG. 3 is an explanatory view showing the eccentricity of the support adapter 42 with the same vector. Since the vector M2 is a vector obtained by rotating the vector M1 by θ degrees, it is represented by M2 = M1e jθ , and S1 = A1 + M1 S2 = A1 + M1e jθ . And the vector showing the eccentricity of the support adapter 42 is Therefore, the vector A1 can be obtained from the vectors S2 and S1 and the mounting angle θ. CPU15
The above calculation is performed according to to store the vector A1 in the storage unit 22. Similarly, two vectors indicating the eccentricity of the support adapter 42 are obtained between the first eccentricity vector s1 and the third eccentricity vector and the fourth eccentricity vector.
第4図は偏芯補正ベクトルを求めるための説明図であ
る。上記の方法により支持アダプタ42の偏芯を示す3つ
のベクトルAが得られ、これら3つのベクトルが異なっ
ているのは、支持アダプタ42に対する被試験体41の取付
角度によって、支持アダプタ42の偏芯が違ってくること
を示している。すなわち、上記計算においては、ベクト
ルU1を基準として、U1とU2、U1とU3、U1とU4をそれぞれ
同一ベクトルであるとみなしてベクトルA1、A2、A3を計
算したが、各々の計算で求めたベクトルA1、A2、A3に
は、ベクトルU1、U2、U3、U4間に存在する誤差が反映さ
れているので、ベクトルA1、A2、A3を平均化して求めた
ベクトルは、ベクトルU1、U2、U3、U4を平均したベクト
ルと近似する。第4図において、ベクトルVは、ベクト
ルA1、A2、A3を平均化した支持アダプタ42の平均化され
た偏芯を示すベクトルであり、このベクトルVを180度
回転させると平均化された偏芯補正ベクトルとなる。以
上の演算をCPU15によって行う。FIG. 4 is an explanatory diagram for obtaining the eccentricity correction vector. By the above method, three vectors A indicating the eccentricity of the support adapter 42 are obtained, and these three vectors are different because the eccentricity of the support adapter 42 depends on the attachment angle of the DUT 41 to the support adapter 42. Is different. That is, in the above calculation, using the vector U1 as a reference, U1 and U2, U1 and U3, U1 and U4 were regarded as the same vector, and the vectors A1, A2, and A3 were calculated, but they were calculated by each calculation. Since the errors existing between the vectors U1, U2, U3, and U4 are reflected in the vectors A1, A2, and A3, the vector obtained by averaging the vectors A1, A2, and A3 is the vector U1, U2, and U3. , U4 is approximated with the averaged vector. In FIG. 4, a vector V is a vector showing an averaged eccentricity of the support adapter 42 obtained by averaging the vectors A1, A2, A3, and an eccentricity averaged by rotating the vector V by 180 degrees. It becomes a correction vector. The above calculation is performed by the CPU 15.
第1図に戻る。上記の方法によって求まった平均化され
た偏芯補正ベクトルに対応した補正ベクトル信号を、D/
A変換回路17およびチョッパ回路20によって発生させ、
ピックアップ11からの変位信号31に加算させることによ
り、支持アダプタ42の偏芯の補正を行う。表示部16は、
その補正された値を表示する。Return to FIG. The correction vector signal corresponding to the averaged eccentricity correction vector obtained by the above method is
Generated by the A conversion circuit 17 and the chopper circuit 20,
By adding it to the displacement signal 31 from the pickup 11, the eccentricity of the support adapter 42 is corrected. The display unit 16 is
The corrected value is displayed.
なお本発明は上記実施例に限定されず、ベクトル演算に
ついては、第1の偏芯ベクトルs1との関係から支持アダ
プタ42の偏芯を示すベクトルAを演算したが、第2、第
3および第4の任意の偏芯ベクトルとの関係から支持ア
ダプタ42の偏芯を示すベクトルAを演算することが可能
である。Note that the present invention is not limited to the above embodiment, and in the vector calculation, the vector A indicating the eccentricity of the support adapter 42 is calculated from the relationship with the first eccentricity vector s1. It is possible to calculate the vector A indicating the eccentricity of the support adapter 42 from the relationship with the arbitrary eccentricity vector of 4.
また被試験体41の支持アダプタ42に対する取付角度は、
3通り以上であれば任意の取付角度によって取り付ける
ことのできる被試験体の場合に適用することが可能であ
る。The mounting angle of the DUT 41 to the support adapter 42 is
If there are three or more types, it can be applied to the case of the DUT that can be attached at any attachment angle.
発明の効果 本発明の動釣合試験機は、被試験体を支持アダプタに取
り付ける取付角度が異なる3回以上の釣合試験により得
られた偏芯ベクトルと、その偏芯ベクトルに対応する取
付角度とから、支持アダプタの偏芯の平均値を演算し、
その値に基づいて補正を行うようにしたので、任意の方
向に被試験体を取り付けた場合にも精度よく支持アダプ
タの偏芯を補正することが可能となる。EFFECTS OF THE INVENTION The dynamic balance tester of the present invention has an eccentricity vector obtained by three or more balancing tests with different attachment angles for attaching a DUT to a support adapter, and an attachment angle corresponding to the eccentricity vector. From, calculate the average value of the eccentricity of the support adapter,
Since the correction is performed based on the value, it is possible to accurately correct the eccentricity of the support adapter even when the DUT is attached in any direction.
第1図は本発明の釣合試験機の一実施例を示すブロック
線図、第2図は偏芯ベクトルを示す説明図、第3図は支
持アダプタ42の偏芯を同一のベクトルで示した説明図、
第4図は偏芯補正ベクトルを求めるための説明図であ
る。 11……ピックアップ、12……加算回路、13……同期整流
回路、14……A/D変換回路、15……CPU、16……表示部、
23……ベクトル発生回路、41……被試験体、42……支持
アダプタ、43……測定用主軸。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the balance tester of the present invention, FIG. 2 is an explanatory view showing an eccentricity vector, and FIG. 3 shows the eccentricity of the support adapter 42 with the same vector. Illustration,
FIG. 4 is an explanatory diagram for obtaining the eccentricity correction vector. 11 …… Pickup, 12 …… Adding circuit, 13 …… Synchronous rectification circuit, 14 …… A / D conversion circuit, 15 …… CPU, 16 …… Display section,
23 …… Vector generator circuit, 41 …… DUT, 42 …… Support adapter, 43 …… Measuring spindle.
Claims (2)
転主軸を持たない被試験体を支持する支持アダプタの偏
芯を補正する偏芯補正方法において、前記N通りの各々
の取付角度によって釣合試験を行う工程と、前記支持ア
ダプタの偏芯と前記被試験体の不釣合とにより生じる偏
芯を示しかつ前記釣合試験によって得られるN個の偏芯
ベクトルおよびこれらの偏芯ベクトルに対応する前記取
付角度から、前記支持アダプタの偏芯を補正する平均化
された偏芯補正ベクトルを演算する工程と、前記の平均
化された偏芯補正ベクトルを補正ベクトル信号に変換す
る工程と、前記被試験体が前記支持アダプタを介して取
り付けられかつ回転する測定用主軸の回転中心の変位を
示す変位信号に前記補正ベクトル信号を加算する工程と
により構成されたことを特徴とする釣合試験機の偏芯補
正方法。1. An eccentricity correction method for correcting eccentricity of a support adapter for supporting a device under test which has three or more N mounting angles and does not have a main spindle of rotation. Shows the eccentricity caused by the step of performing the balance test and the eccentricity of the support adapter and the unbalance of the DUT, and corresponds to N eccentricity vectors obtained by the balance test and these eccentricity vectors. Calculating an averaged eccentricity correction vector for correcting the eccentricity of the support adapter from the mounting angle, and converting the averaged eccentricity correction vector to a correction vector signal, And a step of adding the correction vector signal to a displacement signal indicating a displacement of a rotation center of a measuring main shaft to which a DUT is attached via the support adapter and rotating. Eccentricity correction method of balancing tester characterized and.
上のN通りありかつ回転主軸を持たない被試験体の釣合
試験を行う釣合試験機において、ピックアップからの変
位信号を直交する2方向に分離し偏芯ベクトルを示す偏
芯ベクトル信号を生成する同期整流回路と、前記偏芯ベ
クトル信号をデジタル化するA/D変換回路と、前記N通
りの釣合試験によって得られかつ前記のデジタル化され
た偏芯ベクトル信号によって示されるN個の偏芯ベクト
ルおよびこれらの偏芯ベクトルに対応する前記取付角度
から前記支持アダプタの偏芯を補正する平均化された偏
芯補正ベクトルを演算するCPUと、前記の平均化された
偏芯補正ベクトルに対応する補正ベクトル信号を発生す
るベクトル発生回路と、前記補正ベクトル信号を前記変
位信号に加算する加算回路とを備えたことを特徴とする
釣合試験機。2. A balance testing machine for performing a balance test of an object under test having N or more mounting angles with respect to a support adapter and no rotating spindle, in two directions orthogonal to displacement signals from a pickup. A synchronous rectification circuit that separates and generates an eccentricity vector signal indicating an eccentricity vector, an A / D conversion circuit that digitizes the eccentricity vector signal, and the digitization obtained by the N-type balance test. A CPU that calculates an averaged eccentricity correction vector that corrects the eccentricity of the support adapter from the N eccentricity vectors indicated by the eccentricity vector signals and the mounting angles corresponding to these eccentricity vectors. A vector generating circuit for generating a correction vector signal corresponding to the averaged eccentricity correction vector, and an addition for adding the correction vector signal to the displacement signal Balancing machine, characterized in that a road.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61067534A JPH0676944B2 (en) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | Eccentricity correction method for balance testing machine and balance testing machine |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP61067534A JPH0676944B2 (en) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | Eccentricity correction method for balance testing machine and balance testing machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62223639A JPS62223639A (en) | 1987-10-01 |
| JPH0676944B2 true JPH0676944B2 (en) | 1994-09-28 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP61067534A Expired - Lifetime JPH0676944B2 (en) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | Eccentricity correction method for balance testing machine and balance testing machine |
Country Status (1)
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| JP (1) | JPH0676944B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6029711U (en) * | 1983-08-04 | 1985-02-28 | 財団法人鉄道総合技術研究所 | Vehicle hot air heating system |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61067534A patent/JPH0676944B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62223639A (en) | 1987-10-01 |
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