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JPH0678983B2 - 蛍光測定装置 - Google Patents
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JPH0678983B2 - 蛍光測定装置 - Google Patents

蛍光測定装置

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Publication number
JPH0678983B2
JPH0678983B2 JP2033786A JP2033786A JPH0678983B2 JP H0678983 B2 JPH0678983 B2 JP H0678983B2 JP 2033786 A JP2033786 A JP 2033786A JP 2033786 A JP2033786 A JP 2033786A JP H0678983 B2 JPH0678983 B2 JP H0678983B2
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JP
Japan
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light source
detector
monitor
fluorescence
changeover switch
Prior art date
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JP2033786A
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JPS62177435A (ja
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邦彦 大久保
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Shimadzu Corp
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Shimadzu Corp
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は試料セル中の蛍光を測定する蛍光測定装置に関
する。
蛍光測定装置は、例えば液体クロマトグラフの検出器と
して使用される。
蛍光測定装置は励起光や蛍光の分光手段として分光器を
使用するかフィルタを使用するかによって、分光蛍光光
度計、蛍光分光光度計及び蛍光光度計に分類されるが、
本発明の蛍光測定装置はこれらのいずれをも含むもので
ある。
(従来の技術) 液体クロマトグラフの検出器として用いられる分光蛍光
光度計の光学系を第3図に示す。
1はキセノンランプなどの光源、2は光源1からの励起
光を分光して試料セルであるフローセル5に入射させる
励起分光器、6はフローセル5を流れる試料から放出さ
れる蛍光を分光して測光用検出器7へ入射させる蛍光分
光器である。
励起分光器2からフローセル5への光路中には石英板に
てなるビームスプリッタ3が設けられ、分光された励起
光の一部を取り出している。ビームスプリッタ3で取り
出された励起光はレンズ8と、拡散板及びアッテネータ
9を通ってモニタ用検出器4へ導かれる。測光用検出器
7とモニタ用検出器4には光電子増倍管が用いられる。
モニタ用検出器4は光源モニタ用のダイノードフィード
バック回路を構成している。
ダイノードフィードバック回路は入射光量の変化に応じ
てモニタ用検出器4と測光用検出器7の光電子増倍管に
対する印加電圧を自動的に制御し、入射光量の変化が最
終出力に影響しないように作用する。
(発明が解決しようとする問題点) 蛍光測定装置で光源1を交換したとき、光源1のランプ
発光点にばらつきがあるので光源位置を調整する必要が
ある。
従来の蛍光測定装置では、光源位置調整を行うためにフ
ローセル5内に蛍光性の試料を入れ、測光用検出器7か
らの信号出力が最大になるように光源1の位置を調整し
ている。
しかしながら、蛍光測定装置が例えば液体クロマトグラ
フ用の分光蛍光光度計である場合、フローセル5は液体
クロマトグラフに接続されている。そのため、フローセ
ル5内に蛍光性試料を充填するためにはフローセル5の
配管接続をはずす必要があり、その作業は面倒である。
また、フローセル5内に蛍光性試料を入れるときに気泡
などが混入すると、気泡などからの光散乱の影響で正し
い光源位置合わせができないという問題も生じる。
本発明は、フローセル内に蛍光性試料を充填しなくても
光源位置を調整することのできる蛍光測定装置を提供す
ることを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明の蛍光測定装置は、その光学系として光源、試料
を照射する励起分光部、試料セル、蛍光分光部、試料セ
ルに入射される励起光の一部をモニタするモニタ用検出
器、及び試料セルから放出される蛍光を検出する測光用
検出器を備えた蛍光測定装置であって、前記モニタ用検
出器を用いた光源モニタ回路を作動させる状態と作動さ
せない状態とを切り換えるとともに、光源モニタ回路を
作動させない場合の前記モニタ用検出器からの信号と、
光源モニタ回路を作動させた場合の前記測光用検出器か
らの信号とを切り換えて出力するようにし、光源を交換
したときなど、モニタ用検出器からの出力が最大になる
ように光源の位置を調整することができるようにしたも
のである。
(実施例) 第1図は本発明における信号系を表わす。本実施例にお
ける光学系は第3図に示されるものと同じである。
光電子増倍管にてなるモニタ用検出器4と光電子増倍管
にてなる測光用検出器7にはDC/DCコンバータ10から負
の電圧(−HT)が印加される。DC/DCコンバータ10の入
力端子には第1の切換えスイッチSW1が接続されてお
り、その切換えスイッチSW1の一方の接点(ON側)には
モニタ用検出器4の出力につながる増幅器11の出力が接
続され、切換えスイッチSW1の他方の接点(OFF例)には
一定電圧の電源が接続されている。
モニタ用検出器4の出力につながる増幅器11の出力はま
た、第2の切換えスイッチSW2の一方の接点(モニタ
例)に接続され、測光用検出器7の出力につながる増幅
器12の出力はその第2の切換えスイッチSW2の他方の接
点(測光側)に接続されている。
本実施例において、光源交換時などにおける光源位置の
調整時には、切換えスイッチSW1をOFF側に接続する。こ
れによりモニタ用検出器4と測光用検出器7に印加され
る電圧(−HT)はモニタ用検出器4への入射光量の変動
には依存しない一定電圧となり、光源モニタ回路が作動
しなくなる。
また、切換えスイッチSW2をモニタ側に接続してレコー
ダにはモニタ用検出器4の出力が増幅器11を介して出力
されるようにする。
この状態でレコーダへの出力が最大となるように光源の
位置を調整する。
光源位置調整は、励起分光器2の出口スリットからの光
が最大となるように調整するものである。励起分光器2
の出口スリットから出てくる光のうち石英板ビームスプ
リッタ3の表面反射を用いてモニタ用検出器4でモニタ
し、この検出器4からの信号が最大となるように光源1
の位置を調整すれば、励起分光器2の出口スリットから
の光を最大とすることができる。
測定時には切換えスイッチSW1をON側に接続する。これ
により、モニタ用検出器4を用いたダイノーフィードバ
ック回路による光源モニタ回路が形成され、モニタ用検
出器4への入射光量の変化に応じてモニタ用検出器4と
測光用検出器7に印加される電圧(−HT)が自動的に制
御される。
また、切換えスイッチSW2を測定側に接続する。これに
よりレコーダには測光用検出器7の出力が増幅器12を介
して出力されるようになる。
第2図に、切換えスイッチSW1とSW2を2連スイッチとし
た例を示す。これらの切換えスイッチSW1とSW2は、切換
えスイッチSW1がOFF例に接続されたとき、切換えスイッ
チSW2がモニタ側に接続され、切換えスイッチSW1がON側
に接続されたとき、切換えスイッチSW2が測光側に接続
されるように連動して動作するように接続関係を定めて
おく。
(発明の効果) 本発明の蛍光測定装置では、光源モニタ回路を作動させ
る状態と作動させない状態とを切換えられるようにする
とともに、モニタ用検出器の出力も外部に取り出すこと
ができるようにして、光源モニタ回路を作動させない場
合のモニタ用検出器の出力と、光源モニタ回路を作動さ
せた場合の測光用検出器の出力とを切り換えて出力でき
るようにした。
そのため、光源交換時などにおいて光源位置を調整する
には光源モニタ回路を作動させないでモニタ用検出器の
出力が最大になるようにすればよいので、フローセルに
試料を注入することなく光源位置調整を行なうことがで
きる。
また、本発明の蛍光測定装置では試料セルに照射される
前の入射光量をモニタにして光源位置調整を行なうの
で、セルホルダを外した状態であっても光源位置調整を
行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一実施例における信号系を示す回路図、第2図
は他の実施例における切換えスイッチ部を示す回路図、
第3図は本発明が適用される一例としての分光蛍光光度
計を示す斜視図である。 1……光源、 2……励起分光器、 3……ビームスプリッタ、 4……モニタ用検出器、 5……フローセル、 6……蛍光分光器、 7……測光用検出器、 10……DC/DCコンバータ、 SW1、SW2……切換えスイッチ。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光源、試料を照射する励起分光部、試料セ
    ル、蛍光分光部、試料セルに入射される励起光の一部を
    モニタするモニタ用検出器、及び試料セルから放出され
    る蛍光を検出する測光用検出器を備えた光学系をもつ蛍
    光測定装置において、 前記モニタ用検出器を用いた光源モニタ回路を作動させ
    る状態と作動させない状態とを切り換える第1の切換え
    スイッチと、 光源モニタ回路を作動させない場合の前記モニタ用検出
    器からの信号と、光源モニタ回路を作動させた場合の前
    記測光用検出器からの信号とを切り換えて出力する第2
    の切換えスイッチとを設けたことを特徴とする蛍光測定
    装置。
  2. 【請求項2】前記第1の切換えスイッチと前記第2の切
    換えスイッチを多連式とし、連動して切り換えられるよ
    うにした特許請求の範囲第1項記載の蛍光測定装置。
JP2033786A 1986-01-31 1986-01-31 蛍光測定装置 Expired - Lifetime JPH0678983B2 (ja)

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JPS62177435A JPS62177435A (ja) 1987-08-04
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JP2010181205A (ja) * 2009-02-03 2010-08-19 Shimadzu Corp 分光蛍光光度計

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