JPH0680413B2 - Photo detector - Google Patents
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- JPH0680413B2 JPH0680413B2 JP61114577A JP11457786A JPH0680413B2 JP H0680413 B2 JPH0680413 B2 JP H0680413B2 JP 61114577 A JP61114577 A JP 61114577A JP 11457786 A JP11457786 A JP 11457786A JP H0680413 B2 JPH0680413 B2 JP H0680413B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光検出技術、特に、隣接される複数の光−電
気変換素子に同時に受光させる光検出技術に適用して有
効な技術に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a photodetection technique, and particularly to a technique effective when applied to a photodetection technique in which a plurality of adjacent photoelectric conversion elements receive light at the same time.
[従来の技術] ダイオードアレイなどの複数の光−電気変換素子からな
る光検出技術については、株式会社オーム社書店、昭和
53年3月20日発行、「半導体・IC用語事典」P129に記載
されている。[Prior Art] Regarding the photodetection technology including a plurality of photoelectric conversion elements such as a diode array, see Ohmsha Publishing Co., Ltd.
It is described in "Semiconductor / IC Term Encyclopedia," P129, issued March 20, 1993.
ところで、本発明者は、被検査物にレーザスポツットな
どの検査光を照射する際に発生される散乱光をダイオー
ドアレイなどの複数の光−電気変換素子からなる光検出
器に受光させることによって被検査物表面に付着した異
物などを検査する異物検査装置の検出感度の調整につい
て検討した。以下は、公知とされた技術ではないが本発
明者によって検討された技術であり、その概要は次の通
りである。By the way, the present inventor causes the photodetector composed of a plurality of photoelectric conversion elements such as a diode array to receive scattered light generated when the inspection object is irradiated with inspection light such as a laser spot. We examined the adjustment of the detection sensitivity of the foreign substance inspection device that inspects foreign substances adhering to the surface of the inspection object. The following is a technology that has not been publicly known but has been studied by the present inventor, and the outline thereof is as follows.
すなわち、個々のフォトダイオードに接続される複数の
増幅器の増幅率を個別に手動で調整することにより、ダ
イオードアレイを構成する個々のフォトダイオードの特
性のばらつきや、フォトダイオードの配列方向における
入射光の光量の偏りなどに影響されることなく、すべて
のフォトダイオードにおいて異物からの散乱光などの検
出感度が一定となるようにするものである。That is, by manually adjusting the amplification factors of the plurality of amplifiers connected to the individual photodiodes individually, variations in the characteristics of the individual photodiodes forming the diode array and the incident light in the array direction of the photodiodes can be suppressed. The detection sensitivity of scattered light from foreign matter is constant in all photodiodes without being affected by the deviation of the light amount.
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記のように、個々の増幅器の増幅率を
個別に手動で調整する方法では、たとえば、ダイオード
アレイを構成するフォトダイオードの数が多い場合には
調整に長時間を要するという欠点があり、さらに作業者
の個人差などによって調整結果にばらつきがあるなどの
問題があることを本発明者は見いだした。[Problems to be Solved by the Invention] However, as described above, in the method of manually adjusting the amplification factors of the individual amplifiers, for example, when the number of photodiodes forming the diode array is large, the adjustment is performed. The present inventor has found that there is a problem that it takes a long time to perform, and there is a problem that the adjustment result varies due to individual differences among workers.
本発明の目的は、複数の光−電気変換素子の各々の検出
感度の調整を迅速かつ安定に行うことが可能な光検出技
術を提供することにある。An object of the present invention is to provide a photodetection technique capable of quickly and stably adjusting the detection sensitivity of each of a plurality of photoelectric conversion elements.
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろ
う。The above and other objects and novel characteristics of the present invention are
It will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
[問題点を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。[Means for Solving the Problems] The outline of the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
すなわち、複数の光−電気変換素子の各々に接続された
複数の増幅部の各々の出力側および制御線に第1および
第2の切換部を介して、個々の増幅部の出力値に応じた
増幅率の調整を行う制御部を接続し、第1および第2の
切換部による制御部と個々の増幅部との接続の切り換え
動作を同期させることにより、個々の増幅部の出力値に
応じた増幅率の調整が自動的に行われるようにしたもの
である。That is, according to the output value of each amplification unit via the first and second switching units on the output side and the control line of each of the amplification units connected to each of the plurality of photoelectric conversion elements. By connecting the control unit for adjusting the amplification factor and synchronizing the switching operation of the connection between the control unit and the individual amplification units by the first and second switching units, the output value of each amplification unit can be adjusted. The adjustment of the amplification factor is automatically performed.
[作用] 上記した手段によれば、たとえば手動による作業などに
比較して、複数の光−電気変換素子の各々における検出
感度の調整を比較的短時間で自動的に行うことができ、
複数の光−電気変換素子の各々の検出感度の調整を迅速
かつ安定に行うことが可能となる。[Operation] According to the above-mentioned means, it is possible to automatically adjust the detection sensitivity of each of the plurality of photoelectric conversion elements in a relatively short time, as compared with, for example, manual work.
It is possible to quickly and stably adjust the detection sensitivity of each of the plurality of photoelectric conversion elements.
[実施例] 第1図は、本発明の一実施例である光検出装置の要部を
示す説明図である。[Embodiment] FIG. 1 is an explanatory view showing a main part of a photodetector according to an embodiment of the present invention.
隣接して配設される複数のフォトダイオードなどの光−
電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnには、たとえば電圧制御
型増幅器などからなる複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥An
が、複数の入力線IN1,IN2,IN3,‥‥INnを介して接続さ
れている。Light such as a plurality of photodiodes arranged adjacent to each other
The electrical conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ... Dn include, for example, a plurality of amplification units A 1 , A 2 , A 3 ,.
, Are connected via a plurality of input lines IN 1 , IN 2 , IN 3 ,.
そして、複数の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnのそ
れぞれに入射される光Pの光量に応じて発生される光電
流や光起電力などが、複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの
各々の制御線C1,C2,C3,‥‥Cnに印加される電圧に応じ
た所定の増幅率で増幅され、複数の出力線OUT1,OUT2,OU
T3,‥‥OUTnに出力されるものである。Then, the photocurrent, the photoelectromotive force, etc. generated according to the light amount of the light P incident on each of the plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ... a 1, a 2, a 3 , ‥‥ each of the control lines C 1 to An, C 2, C 3, is amplified at a predetermined amplification factor corresponding to the voltage applied to ‥‥ Cn, a plurality of output lines OUT 1 , OUT 2 , OU
It is output to T 3 , OUTn.
この場合、複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの複数の出力
線OUT1,OUT2,OUT3,‥‥OUTnには、第1の切換部M1の複
数の入力線LIN1,LIN2,LIN3,‥‥LINnがそれぞれ接続さ
れており、第1の切換部M1に対する外部からの指令によ
り、複数の入力線LIN1,LIN2,LIN3,‥‥LINnのいずれか
一つが第1の切換部M1の出力線LOUTに接続される構造と
されている。In this case, the plurality of output lines OUT 1 , OUT 2 , OUT 3 , ... OUTn of the plurality of amplifiers A 1 , A 2 , A 3 , ... An are connected to the plurality of inputs of the first switching unit M 1. line LIN 1, LIN 2, LIN 3 , ‥‥ LINn are respectively connected, by a command from the outside to the first switching unit M 1, a plurality of input lines LIN 1, LIN 2, LIN 3 , ‥‥ LINn Any one of them is connected to the output line LOUT of the first switching unit M 1 .
また、複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの各々の制御線
C1,C2,C3,‥‥Cnには、複数の指令電圧保持部H1,H2,
H3,‥‥Hnを介して、第2の切換部M2の複数の出力線LO
UT1,LOUT2,LOUT3,‥‥LOUTnが接続されており、第2の
切換部M2に対する外部からの指令により、複数の出力線
LOUT1,LOUT2,LOUT3,‥‥LOUTnのいずれか一つが、第2
の切換部M2の入力線LINに接続されるように構成されて
いる。In addition, the control lines for each of the plurality of amplifiers A 1 , A 2 , A 3 , ...
C 1, C 2, C 3 , the ‥‥ Cn, a plurality of command voltage holding section H 1, H 2,
A plurality of output lines LO of the second switching unit M 2 via H 3 , ..., Hn
UT 1 , LOUT 2 , LOUT 3 , ... LOUTn are connected, and a plurality of output lines are output in response to an external command to the second switching unit M 2 .
Any one of LOUT 1 , LOUT 2 , LOUT 3 , ... LOUTn is the second
It is configured to be connected to the input line LIN of the switching unit M 2 .
さらに、第1の切換部M1の出力線LOUTおよび第2の切換
部M2の入力線LINは、それぞれアナログ−ディジタル変
換器ADC、およびディジタル−アナログ変換器DACを介し
て、マイクロプロセッサなどからなる制御部Cに接続さ
れている。Further, the output line LOUT of the first switching unit M 1 and the input line LIN of the second switching unit M 2 are connected from the microprocessor or the like via the analog-digital converter ADC and the digital-analog converter DAC, respectively. Is connected to the control unit C.
そして、この制御部Cは、第1の切換部M1および第2の
切換部M2に対して同期信号Sを指令することにより、複
数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anのいずれか一つに対応す
る、複数の出力線OUT1,OUT2,OUT3,‥‥OUTn、および複
数の制御線C1,C2,C3,‥‥Cnのいずれか一組を同時に選
択し、複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの複数の出力線OU
T1,OUT2,OUT3,‥‥OUTnの個々の出力値に応じて、複数
の制御線C1,C2,C3,‥‥Cnに印加される電圧を制御する
とにより、複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの増幅率が個
別に調整されるものである。Then, the control unit C issues a command to the first switching unit M 1 and the second switching unit M 2 for the synchronization signal S, so that the plurality of amplification units A 1 , A 2 , A 3 ,. Connect any one of a plurality of output lines OUT 1 , OUT 2 , OUT 3 , ... OUTn and a plurality of control lines C 1 , C 2 , C 3 , ... Cn corresponding to any one of An. Select at the same time and output multiple output lines OU of multiple amplifiers A 1 , A 2 , A 3 , ...
By controlling the voltage applied to the control lines C 1 , C 2 , C 3 , ... Cn according to the individual output values of T 1 , OUT 2 , OUT 3 ,. The amplification factors of the sections A 1 , A 2 , A 3 , ..., An are adjusted individually.
以下、本実施例の作用について説明する。The operation of this embodiment will be described below.
たとえば、所定の径のレーザスポツトなどの検査光を図
示しない被検査物の表面に照射し、被検査物の表面に存
在する異物などから散乱される光Pを本実施例の光検出
装置を用いて検出する異物検査装置について説明する。For example, the inspection light of a laser spot or the like having a predetermined diameter is applied to the surface of an object to be inspected (not shown), and the light P scattered by foreign matters existing on the surface of the object to be inspected is used by the photodetector of this embodiment. A foreign matter inspection device that detects the foreign matter will be described.
通常、レーザスポツトなどでは、光量の分布が光軸を中
心としてほぼ正規分布をなすため、レーザスポツトの中
心部と周辺部とにおける異物などからの散乱光の強度は
異物の大きさが同一であっても異なるものである。Normally, in a laser spot, etc., the distribution of the amount of light has a nearly normal distribution around the optical axis, so the intensity of scattered light from foreign matter at the center and peripheral portions of the laser spot is the same for the foreign matter. But it is different.
そこで、本実施例のような複数の光−電気変換素子D1,D
2,D3,‥‥Dnによってレーザスポツトの照射域からの所
定の幅の散乱光などの光Pを同時に検出する場合には、
複数の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnの個々の特性
のばらつきとともに、複数の光−電気変換素子D1,D2,
D3,‥‥Dnの配列方向における検査光の光量の分布の偏
りに起因する検出感度のばらつきを調整する必要があ
る。Therefore, a plurality of photoelectric conversion elements D 1 and D 1 as in this embodiment
When simultaneously detecting the light P such as scattered light of a predetermined width from the irradiation area of the laser spot by 2 , D 3 ,.
Along with variations in individual characteristics of the plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ..., Dn, the plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 ,
It is necessary to adjust the variation in the detection sensitivity caused by the uneven distribution of the light quantity of the inspection light in the array direction of D 3 , ..., Dn.
まず、表面に微細な凹凸が均一に形成された、標準とな
る被検査物からの散乱光などの光Pを複数の光−電気変
換素子D1,D2,D3,‥‥Dnに入射させると、複数の光−電
気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnから、複数の増幅部A1,A2,
A3,‥‥Anを介して複数の出力線OUT1,OUT2,OUT3,‥‥
OUTnに所定の出力値が得られ、この時、制御部Cは、第
1の切換部M1および第2の切換部M2に同期信号Sを作用
させることによって、第1の切換部M1の出力線LOUTに対
する複数の入力線LIN1,LIN2,LIN3,‥‥LINnの選択的な
接続動作と、第2の切換部M2の入力線LINに対する複数
の出力線LOUT1,LOUT2,LOUT3,‥‥の選択的な接続動作
とが、同期して行われる。First, light P such as scattered light from a standard object to be inspected, on which fine irregularities are uniformly formed, is incident on a plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ... Dn. Then, from the plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ..., Dn, the plurality of amplifiers A 1 , A 2 ,
Multiple output lines OUT 1 , OUT 2 , OUT 3 , ... via A 3
A predetermined output value is obtained at OUTn, and at this time, the control unit C causes the first switching unit M 1 and the second switching unit M 2 to act on the synchronization signal S to cause the first switching unit M 1 to operate. output lines a plurality of input lines LIN 1 for LOUT, LIN 2, LIN 3, a selective connection operation ‥‥ Linn, a plurality of output lines to the second switching input line LIN in section M 2 LOUT 1, LOUT 2 , LOUT 3 , ... Selective connection operation is performed in synchronization.
そして、たとえば、増幅部A1の出力線OUT1が第1の切換
部M1の入力線LIN1および出力線LOUT、さらにはアナログ
−ディジタル変換器ADCを介して制御部Cに接続される
時、同時に、増幅部A1の制御線C1は、指令電圧保持部H1
および第2の切換部M2の出力線LOUT1および入力線LIN、
さらにはディジタル−アナログDACを介して制御部Cに
接続され、制御部Cは、光−電気変換素子D1から増幅部
A1を介して出力線OUT1に出力される光起電力や光電流な
どの電気的な信号の出力値が、あらかじめ設定されてい
る所定の値となるように、すなわち、複数の光−電気変
換素子D1,D2,D3,‥‥Dnの検出感度が一様になるよう
に、増幅部A1の制御線C1に接続される指令電圧保持部H1
に設定される電圧などを適宜調整する操作を自動的に行
い、この検出感度の調整操作は、同期して作動される第
1の切換部M1および第2の切換部M2を順次切り換えるこ
とによって、複数の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dn
と複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anのすべての系列につい
て迅速に行われる。Then, for example, when the output line OUT 1 of the amplification unit A 1 is connected to the control unit C via the input line LIN 1 and the output line LOUT of the first switching unit M 1 and further the analog-digital converter ADC. At the same time, the control line C 1 of the amplifier a 1 is the command voltage holding section H 1
And the output line LOUT 1 and the input line LIN of the second switching unit M 2 ,
Furthermore, the control unit C is connected to the control unit C via a digital-analog DAC, and the control unit C moves from the photoelectric conversion element D 1 to the amplification unit.
The output value of the electrical signal such as the photoelectromotive force or photocurrent output to the output line OUT 1 via A 1 is set to a predetermined value that is set in advance, that is, a plurality of opto-electric The command voltage holding unit H 1 connected to the control line C 1 of the amplification unit A 1 so that the detection sensitivities of the conversion elements D 1 , D 2 , D 3 ,.
The operation of appropriately adjusting the voltage etc. set to is automatically performed, and the operation of adjusting the detection sensitivity is performed by sequentially switching the first switching section M 1 and the second switching section M 2 which are operated in synchronization. , A plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 ,.
And a plurality of amplification units A 1 , A 2 , A 3 , ... An for all sequences quickly.
その後、半導体ウエハなどの通常の被検査物について、
レーザスポットなどの検査光が照射される際の被検査物
の表面からの所定の幅の散乱光などの光Pを複数の光−
電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnに受光させることによ
り、たとえば、異物などからの散乱光などの光Pが複数
の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnのいずれに検出さ
れる場合でも、検出感度のばらつきなどを生じることが
なく、本実施例の光検出装置が装着された異物検査装置
などの信頼性が向上される。After that, for normal inspection objects such as semiconductor wafers,
Light P such as scattered light having a predetermined width from the surface of the object to be inspected when the inspection light such as a laser spot is irradiated is generated by a plurality of light beams.
By allowing the electric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ..., Dn to receive light, for example, light P such as scattered light from a foreign substance is converted into a plurality of light-electric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 ,. The detection sensitivity does not vary regardless of whether Dn is detected or not, and the reliability of the foreign matter inspection device equipped with the photodetector of this embodiment is improved.
なお、上記の説明では、複数の光−電気変換素子D1,D2,
D3,‥‥Dnに入射される光Pに、光源などに起因する統
計的な所定のばらつきが存在する状態で感度調整を行う
場合について説明したが、光検出装置の用途によって
は、たとえば、太陽光など、光軸に垂直な断面内の各部
における光量の分布が均一な光Pを複数の光−電気変換
素子D1,D2,D3,‥‥Dnに入射させた状態で、上記の感度
調整操作をおこなってもよいものである。In the above description, a plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 ,
The case where the sensitivity adjustment is performed in the state where the light P incident on D 3 , ..., Dn has a statistical predetermined variation due to the light source or the like has been described, but depending on the use of the photodetector, for example, In the state where the light P having a uniform distribution of the amount of light in each portion in the cross section perpendicular to the optical axis, such as sunlight, is incident on the plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 , ... The sensitivity adjustment operation may be performed.
このように、本実施例においては、以下の効果を得るこ
とができる。As described above, in the present embodiment, the following effects can be obtained.
(1).複数の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnの各
々に接続された複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの複数の
出力線OUT1,OUT2,OUT3,‥‥OUTnおよび複数の制御線
C1,C2,C3,‥‥Cnに第1の切換部M1および第2の切換部
M2を介して制御部Cが接続され、第1の切換部M1および
第2の切換部M2を同期して作動させることにより、複数
の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥‥Dnの各々に接続され
た複数の増幅部A1,A2,A3,‥‥Anの個々の出力値に応じ
た増幅率の調整、すなわち検出感度の調整が制御部Cに
よって自動的に行われるため、たとえば手動による作業
などに比較して、複数の光−電気変換素子D1,D2,D3,‥
‥Dnの各々における検出感度の調整を比較的短時間で自
動的に行うことができ、複数の光−電気変換素子D1,D2,
D3,‥‥Dnの各々の検出感度の調整を迅速かつ安定に行
うことが可能となる。(1). A plurality of light - electric conversion element D 1, D 2, D 3 , ‥‥ plurality of amplifier section A 1 which is connected to each of the Dn, A 2, A 3, a plurality of output lines OUT 1 of ‥‥ An, OUT 2 , OUT 3 , OUTn and multiple control lines
C 1 , C 2 , C 3 , ... Cn has a first switching unit M 1 and a second switching unit
The control unit C is connected via M 2 , and the first switching unit M 1 and the second switching unit M 2 are operated in synchronization, so that a plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D The control unit C adjusts the amplification factor according to each output value of the plurality of amplification units A 1 , A 2 , A 3 , ... An connected to each of Dn. Since it is automatically performed, a plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 , D 3 ,.
The detection sensitivity of each of Dn can be automatically adjusted in a relatively short time, and a plurality of photoelectric conversion elements D 1 , D 2 ,
It becomes possible to quickly and stably adjust the detection sensitivity of each of D 3 ,.
(2).前記(1)の結果、たとえば、所定の径のレー
ザスポツトなどの検査光を被検査物表面に照射し、該被
検査物表面に存在する異物などから散乱される光Pを本
実施例の光検出装置を用いて検出する異物検査装置にお
いて、検査に先立って行われる装置の調整に要する時間
が短縮されるとともに、被検査物に付着した異物の検出
結果の信頼性が向上され、半導体ウエハなどの異物検査
における生産性が向上される。(2). As a result of the above (1), for example, the inspection light such as a laser spot having a predetermined diameter is applied to the surface of the inspection object, and the light P scattered from the foreign matter present on the surface of the inspection object is the light of this embodiment. In a foreign matter inspection apparatus that detects using a detection apparatus, the time required for adjustment of the apparatus prior to the inspection is shortened, and the reliability of the detection result of the foreign matter adhered to the inspection object is improved. The productivity in the foreign matter inspection is improved.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。たとえば、光−電気変換
素子としては、フォトダイオードなどに限らず、他のい
かなる光−電気変換素子であってもよく、さらに、増幅
部としては、電圧制御型増幅器などに限らず、外部から
の指令によって増幅率を制御できるものであればいかな
るものであってもよい。Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the embodiments and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Nor. For example, the opto-electric conversion element is not limited to a photodiode or the like, and may be any other opto-electric conversion element. Further, the amplification unit is not limited to the voltage control type amplifier or the like, and is not limited to the one from the outside. Any one can be used as long as the amplification factor can be controlled by the command.
[発明の効果] 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りであ
る。[Effects of the Invention] The effects obtained by the representative one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
すなわち、隣接して配設される複数の光−電気変換素子
と、該光−電気変換素子の各々に接続され、制御線を介
した外部からの指令によって前記光−電気変換素子から
の電気的な信号の増幅率が可変な増幅部と、該増幅部の
各々の出力側に接続される複数の入力線と一つの出力線
とを備え、外部からの指令によって前記一つの出力線へ
の複数の入力線の接続の切り換えが行われる第1の切換
部と、前記増幅部の各々の制御線に接続される複数の出
力線と一つの入力線とを備え、外部からの指令によって
前記複数の出力線への一つの入力線の接続の切り換えが
行われる第2の切換部と、前記第1の切換部の前記出力
線および第2の切換部の前記入力線が接続され、該第1
および第2の切換部における切り換え動作を同期させて
制御することにより、前記複数の増幅部の各々の増幅率
を各々の出力値に基づいて個別に設定する制御部とから
なるため、たとえば手動による作業などに比較して、複
数の光−電気変換素子の各々における検出感度の調整を
比較的短時間で自動的に行うことができ、複数の光−電
気変換素子の各々の検出感度の調整を迅速かつ安定に行
うことが可能となる。That is, a plurality of photoelectric conversion elements arranged adjacent to each other, and an electric signal from the photoelectric conversion element connected to each of the photoelectric conversion elements, which is connected to each of the photoelectric conversion elements by a command from the outside via a control line. A plurality of input lines connected to each output side of the amplification unit and one output line, and a plurality of output lines to the one output line according to a command from the outside. A first switching unit for switching the connection of the input lines, a plurality of output lines and one input line connected to each control line of the amplifying unit, and the plurality of output lines connected to each other according to an external command. A second switching unit that switches the connection of one input line to the output line is connected to the output line of the first switching unit and the input line of the second switching unit, and the first switching unit is connected.
And a control unit for individually setting the amplification factor of each of the plurality of amplification units on the basis of each output value by controlling the switching operation in the second switching unit in synchronization with each other. Compared to work, etc., the detection sensitivity of each of the plurality of photoelectric conversion elements can be automatically adjusted in a relatively short time, and the detection sensitivity of each of the plurality of photoelectric conversion elements can be adjusted. It becomes possible to carry out quickly and stably.
第1図は、本発明の一実施例である光検出装置の要部を
示す説明図である。 D1,D2,D3,‥‥Dn……光−電気変換素子、A1,A2,A3,‥
‥An……増幅部、IN1,IN2,IN3,‥‥INn……入力線、OU
T1,OUT2,OUT3,‥‥OUTn……出力線、C1,C2,C3,‥‥Cn
……制御線、H1,H2,H3,‥‥Hn……指令電圧保持部、M1
……第1の切換部、M2……第2の切換部、LIN1,LIN2,LI
N3,‥‥LINn……第1の切換部の入力線、LOUT……第1
の切換部の出力線、LOUT1,LOUT2,LOUT3,‥‥LOUTn……
第2の切換部の出力線、LIN……第2の切換部の入力
線、ADC……アナログ−ディジタル変換器、DAC……ディ
ジタル−アナログ変換器、C……制御部、S……同期信
号。FIG. 1 is an explanatory diagram showing a main part of a photodetector according to an embodiment of the present invention. D 1 , D 2 , D 3 , ・ ・ ・ Dn …… Optical-electric conversion element, A 1 , A 2 , A 3 , ・ ・ ・
…… An …… Amplifier, IN 1 , IN 2 , IN 3 ,… INn …… Input line, OU
T 1 , OUT 2 , OUT 3 , ・ ・ ・ OUTn …… Output line, C 1 , C 2 , C 3 , ・ ・ ・ Cn
...... Control line, H 1 , H 2 , H 3 , ・ ・ ・ Hn …… Command voltage holding unit, M 1
...... First switching unit, M 2 ...... Second switching unit, LIN 1 , LIN 2 , LI
N 3 , LINn ...... Input line of the first switching unit, LOUT ...... First
Output line of the switching section, LOUT 1 , LOUT 2 , LOUT 3 , ... LOUTn ...
Output line of the second switching unit, LIN ... Input line of the second switching unit, ADC ... Analog-digital converter, DAC ... Digital-analog converter, C ... Control unit, S ... Synchronization signal .
Claims (4)
子と、該光−電気変換素子の各々に接続され、制御線を
介した外部からの指令によって前記光−電気変換素子か
らの電気的な信号の増幅率が可変な増幅部と、該増幅部
の各々の出力側に接続される複数の入力線と一つの出力
線とを備え、外部からの指令によって前記一つの出力線
への複数の入力線の接続の切り換えが行われる第1の切
換部と、前記増幅部の各々の制御線に接続される複数の
出力線と一つの入力線とを備え、外部からの指令によっ
て前記複数の出力線への一つの入力線の接続の切り換え
が行われる第2の切換部と、前記第1の切換部の前記出
力線および第2の切換部の前記入力線が接続され、該第
1および第2の切換部における切り換え動作を同期させ
て制御することにより、前記複数の増幅部の各々の増幅
率を各々の出力値に基づいて個別に設定する制御部とか
らなることを特徴とする光検出装置。1. A plurality of opto-electrical conversion elements arranged adjacent to each other, and the opto-electrical conversion elements connected to each of the opto-electrical conversion elements, in response to a command from the outside through a control line. Of an electric signal having a variable amplification factor, a plurality of input lines and one output line connected to each output side of the amplification unit, and the one output line according to a command from the outside. To a plurality of output lines and one input line connected to each control line of the amplifying unit, and a first switching unit for switching connection of a plurality of input lines to the A second switching unit for switching connection of one input line to the plurality of output lines, the output line of the first switching unit and the input line of the second switching unit are connected, Synchronizing and controlling the switching operation in the first and second switching units Ri, photodetector, characterized in that comprising a controller for individually set based on the amplification factor of each of the plurality of amplifying parts to each of the output values.
指令電圧によって増幅率が可変な電圧制御型増幅器であ
り、個々の前記増幅部の前記制御線が、前記指令電圧を
保持する指令電圧保持部を介して前記第2の切換部と接
続されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の光検出装置。2. The amplifier is a voltage control type amplifier whose amplification factor is variable according to a command voltage applied to a control line from the outside, and the control line of each of the amplifiers has a command to hold the command voltage. The photodetector according to claim 1, wherein the photodetector is connected to the second switching unit via a voltage holding unit.
トダイオードを直線的に配設して構成されるダイオード
アレイであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の光検出装置。3. The photodetector according to claim 1, wherein the plurality of photoelectric conversion elements are diode arrays formed by linearly arranging a plurality of photodiodes. .
部であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
光検出装置。4. The photodetector according to claim 1, wherein the photodetector is a photodetector of a foreign matter inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114577A JPH0680413B2 (en) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | Photo detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114577A JPH0680413B2 (en) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | Photo detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62273420A JPS62273420A (en) | 1987-11-27 |
| JPH0680413B2 true JPH0680413B2 (en) | 1994-10-12 |
Family
ID=14641320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61114577A Expired - Lifetime JPH0680413B2 (en) | 1986-05-21 | 1986-05-21 | Photo detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680413B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011075332A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hioki Ee Corp | Light-measuring apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3296286B2 (en) | 1998-04-24 | 2002-06-24 | 富士電機株式会社 | Optical sensor circuit |
-
1986
- 1986-05-21 JP JP61114577A patent/JPH0680413B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011075332A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Hioki Ee Corp | Light-measuring apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62273420A (en) | 1987-11-27 |
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