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JPH0682145B2 - Burn-in device - Google Patents
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JPH0682145B2 - Burn-in device - Google Patents

Burn-in device

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JPH0682145B2
JPH0682145B2 JP7435189A JP7435189A JPH0682145B2 JP H0682145 B2 JPH0682145 B2 JP H0682145B2 JP 7435189 A JP7435189 A JP 7435189A JP 7435189 A JP7435189 A JP 7435189A JP H0682145 B2 JPH0682145 B2 JP H0682145B2
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JP
Japan
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base body
substrate
bodies
test chamber
arm
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孝 藤井
真 巻島
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Yuasa Shoji Co
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Yuasa Shoji Co
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、試験室内で半導体デバイスなどの供試品のス
クリーニング、エージングあるいは信頼性の試験を行う
バーイン装置に係わり、とくに、供試品を搭載した基板
を試験室内に挿入する挿入機構に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Industrial field of application) The present invention relates to a burn-in apparatus for performing screening, aging or reliability test of a sample such as a semiconductor device in a test chamber, The present invention relates to an insertion mechanism for inserting a board on which a sample is mounted into a test chamber.

(従来の技術) この種のバーイン装置は、供試品が搭載された基板が上
下複数段に並べて試験室内に挿入され、それに伴って、
各基板が試験室内に配設されたコネクタに接続されるよ
うになっている。そして、基板を自動的に挿入するため
に、従来、たとえば特開昭62−2176号公報に記載されて
いるように、基板の挿入機構を設けたバーイン装置が知
られている。この従来の挿入機構は、モータにより駆動
される回転軸に複数のアーム体を固定した構造になって
おり、これら各アーム体により各基板を同時にそれぞれ
押込むようになっている。
(Prior Art) In this type of burn-in device, the boards on which the sample is mounted are arranged in a plurality of upper and lower rows and inserted into the test chamber.
Each board is connected to a connector arranged in the test chamber. In order to automatically insert a substrate, a burn-in device is conventionally known which is provided with a substrate insertion mechanism as described in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 62-2176. This conventional insertion mechanism has a structure in which a plurality of arm bodies are fixed to a rotary shaft driven by a motor, and the respective board members are simultaneously pushed by the respective arm bodies.

(発明が解決しようとする課題) しかし、上記従来の構造では、複数の基板を同時に押込
むため、駆動源であるモータに大きな負荷がかかるとと
もに、大きな動力を要する問題があった。しかも、モー
タに連結された回転軸にアーム体が固定されているた
め、基板あるいはコネクタに異常があって、両者間に位
置ずれがあるような場合でも、アーム体が強引に押し込
み動作を続け、破損をきたすことがある問題があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the above-described conventional structure, since a plurality of substrates are pushed in at the same time, a large load is applied to the motor, which is a drive source, and a large amount of power is required. Moreover, since the arm body is fixed to the rotary shaft connected to the motor, even if there is a board or connector abnormality and there is a positional displacement between the two, the arm body continues to push in force, There was a problem that could cause damage.

本発明は、このような問題点を解決しようとするもの
で、基板の挿入機構の駆動源に大きな負荷がかかること
がないとともに、基板およびコネクタに位置ずれがある
ような場合でも、無理な力がかかることがなく、破損を
きたすことのないバーイン装置を提供することを目的と
するものである。
The present invention is intended to solve such a problem, in that a large load is not applied to the drive source of the board insertion mechanism, and even if the board and the connector are misaligned, an excessive force is applied. It is an object of the present invention to provide a burn-in device that is free from damage and does not cause damage.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、上記目的を達成するために、半導体デバイス
などの供試品が搭載された基板が複数段に並べて挿脱自
在に収納される試験室と、この試験室内に配設され前記
基板が着脱自在に接続されるコネクタと、前記各基板を
前記試験室内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタに接
続させる挿入機構とを備えたバーイン装置において、こ
の挿入機構が、前記複数の基板の配列方向に延びモータ
などの駆動源により正逆回転駆動される回転軸と、この
回転軸に前記各基板にそれぞれ対応して固定された複数
のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ねられて前
記回転軸にそれぞれ回動自在に支持され前記各基板をそ
れぞれ挿入方向へ押込む複数のアーム体とを有するもの
とし、また、前記各ベース体およびこのベース体と対を
なす前記各アーム体の対向部の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を可動にかつ他方へ向けて付勢して設
けるとともに、他方に前記係合子の係合部が係脱自在に
係合される受け孔を設け、さらに、前記ベース体に設け
られた前記係合子または受け孔の前記回転軸の回転方向
における位置を、前記各基板にそれぞれ対応する各ベー
ス体で互いに偏位させたものである。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above-mentioned object, the present invention accommodates a substrate on which a sample such as a semiconductor device is mounted, arranged in a plurality of stages and detachably housed. A test chamber, a connector arranged in the test chamber to which the substrate is detachably connected, and an insertion mechanism for inserting each substrate toward the inner part of the test chamber and connecting to the connector In the burn-in device, the insertion mechanism extends in the array direction of the plurality of substrates and is driven to rotate forward and backward by a drive source such as a motor, and a plurality of rotation shafts fixed to the respective rotation shafts corresponding to the respective substrates. And a plurality of arm bodies that are respectively stacked on the base bodies and rotatably supported by the rotation shafts and that push in the respective substrates in the inserting direction, respectively. An engaging member having a substantially spherical engaging portion is movably provided on one of the facing portions of the body and the arm member forming a pair with the base member and biased toward the other, and the engaging member is provided on the other side. Is provided with a receiving hole into which the engaging portion of the base member is detachably engaged, and the position of the engaging element or the receiving hole provided in the base body in the rotation direction of the rotation shaft corresponds to each of the substrates. The base bodies are deviated from each other.

(作用) 本発明のバーイン装置では、供試品が搭載された基板が
試験室内に複数段に並べて収納されるが、このとき、挿
入機構が各基板を試験室内の奥部へ向けて挿入して、コ
ネクタに接続させる。挿入機構にあっては、駆動源によ
り回転軸が回転駆動されるが、この回転軸に固定された
複数のベース体も一体的に回転する。ベース体およびこ
のベース体に対応するアーム体の対向部の一方に設けら
れた係合子が他方に設けられた受け孔に係合されていな
い間は、ベース体のみが回転し、アーム体は回転しない
が、係合子が受け孔に臨む位置に達すると、この受け孔
の方へ付勢された係合子の係合部が受け孔に係合され、
その後は、ベース体と一体的にアーム体が回転し、この
回転するアーム体が対応する基板を挿入方向へ押込む。
そして、ベース体に設けられた係合子または受け孔の回
転方向における位置は、各ベース体で互いに偏位してい
るので、各基板に対応する各ベース体およびアーム体で
係合子が受け孔に係合される時間がずれ、その結果、複
数の基板は互いに時間差をもって押込まれることにな
る。また、ある基板の押込みが完了したとき、あるい
は、ある基板とコネクタとに位置ずれがあって過大荷重
がかかったようなときには、係合部がほぼ球面状の係合
子が受け孔から外れ、アーム体は回転せずに、ベース体
のみが回転する。
(Operation) In the burn-in apparatus of the present invention, the substrates on which the sample is mounted are arranged in a plurality of stages in the test chamber, and at this time, the insertion mechanism inserts each substrate toward the inner part of the test chamber. Connect it to the connector. In the insertion mechanism, the rotary shaft is rotationally driven by the drive source, and the plurality of base bodies fixed to the rotary shaft also integrally rotate. While the engaging element provided on one of the base body and the facing portion of the arm body corresponding to the base body is not engaged with the receiving hole provided on the other side, only the base body rotates and the arm body rotates. However, when the engaging element reaches the position facing the receiving hole, the engaging portion of the engaging element biased toward the receiving hole is engaged with the receiving hole,
After that, the arm body rotates integrally with the base body, and the rotating arm body pushes the corresponding substrate in the insertion direction.
Since the positions of the engaging elements or the receiving holes provided in the base body in the rotational direction are deviated from each other in the respective base bodies, the engaging elements in the receiving holes of the respective base bodies and arm bodies corresponding to the respective substrates are arranged. The engagement times are offset, resulting in multiple substrates being pushed in lag with respect to each other. Also, when pushing of a certain board is completed, or when a certain board and the connector are misaligned and an excessive load is applied, the engaging portion with a substantially spherical engaging portion is disengaged from the receiving hole, and the arm is released. The body does not rotate, only the base body rotates.

(実施例) 以下、本発明のバーイン装置の一実施例の構成につい
て、図面を参照して説明する。
(Embodiment) Hereinafter, a configuration of an embodiment of the burn-in device of the present invention will be described with reference to the drawings.

第2図および第3図において、11は試験室で、この試験
室11は、前面を開口した箱状の断熱材12により囲まれて
形成されている。また、前記試験室11の前面開口部13に
は断熱扉14が開閉自在に設けられている。そして、前記
試験室11内の後側の奥部には複数のコネクタ15が上下方
向に並べて配設されている。また、前記試験室11内の左
右両側部には前後一対の支柱16がそれぞれ配設されてい
る。そして、これら左右の支柱16の対向面には、左右方
向で相対向させてかつ上下方向に並べて、複数の案内部
17がそれぞれ設けられており、これら案内部17は、断面
ほぼコ字形状で前後方向に延びている。
In FIG. 2 and FIG. 3, 11 is a test chamber, and this test chamber 11 is formed by being surrounded by a box-shaped heat insulating material 12 having an open front surface. A heat insulating door 14 is provided at the front opening 13 of the test chamber 11 so as to be openable and closable. A plurality of connectors 15 are arranged side by side in the up-down direction in the inner part on the rear side in the test chamber 11. Further, a pair of front and rear columns 16 are arranged on both left and right sides inside the test chamber 11. Then, on the facing surfaces of the left and right columns 16, a plurality of guide portions are arranged so as to face each other in the left-right direction and are arranged in the vertical direction.
17 are provided respectively, and these guide portions 17 have a substantially U-shaped cross section and extend in the front-rear direction.

また、21は基板で、この基板21は、上面に半導体デバイ
スなどの供試品22が搭載されるとともに、左右両側縁部
が前記左右の案内部17に係合されて、前記試験室11内に
上下複数段に並べて挿脱自在に収納されるとともに、後
端縁部が前記コネクタ15に着脱自在に接続されるもので
ある。なお、前記基板21の下面には補強材23が設けられ
ている。
Further, reference numeral 21 denotes a substrate, and the substrate 21 has a sample 22 such as a semiconductor device mounted on the upper surface thereof, and left and right side edge portions thereof are engaged with the left and right guide portions 17 so that the inside of the test chamber 11 is Are arranged in a plurality of upper and lower rows, and are removably housed, and the rear edge portion is detachably connected to the connector 15. A reinforcing material 23 is provided on the lower surface of the substrate 21.

さらに、前記試験室11内の前部には、前記基板21を前記
試験室11内の奥部へ向けて挿入して前記コネクタ15にそ
れぞれ接続させる挿入機構26が配設されている。一方、
前記試験室11の後部には、前記基板21を前方へ抜去して
コネクタ15から外す抜去機構27が配設されている。
Further, an insertion mechanism 26 for inserting the substrate 21 toward the inner part of the test chamber 11 and connecting it to the connector 15 is provided at the front part of the test chamber 11. on the other hand,
At the rear part of the test chamber 11, an extraction mechanism 27 for removing the board 21 forward and removing it from the connector 15 is provided.

つぎに、前記挿入機構26の構成について説明する。Next, the structure of the insertion mechanism 26 will be described.

第3図に示すように、前記試験室11の最上部には左右方
向に延びる駆動軸31が軸支されており、試験室11外に突
出したこの駆動軸31の一端部にギヤ32が固定されてい
る。そして、前記試験室11外に配設された駆動源として
のモータ33の正逆回転する出力軸34に固定されたギヤ35
が前記ギヤ32に歯合されている。一方、前記前側の左右
の支柱16の前方には、上下方向に延びる回転軸36がそれ
ぞれ軸支されており、これら回転軸36の上端部にはそれ
ぞれベベルギヤ37が固定されている。そして、前記駆動
軸31に互いに逆向きに固定されたベベルギヤ38が前記両
回転軸36のベベルギヤ37にそれぞれ歯合されている。し
たがって、これら両回転軸36は、前記駆動軸31の正逆回
転により互いに逆方向へ正逆回転駆動される。
As shown in FIG. 3, a drive shaft 31 extending in the left-right direction is pivotally supported at the uppermost portion of the test chamber 11, and a gear 32 is fixed to one end of the drive shaft 31 protruding outside the test chamber 11. Has been done. Then, a gear 35 fixed to the output shaft 34 of the motor 33 as a drive source arranged outside the test chamber 11 which rotates in forward and reverse directions.
Are meshed with the gear 32. On the other hand, in front of the left and right front columns 16, rotary shafts 36 extending in the vertical direction are respectively supported, and bevel gears 37 are fixed to the upper ends of the rotary shafts 36, respectively. The bevel gears 38 fixed to the drive shaft 31 in opposite directions are meshed with the bevel gears 37 of the rotary shafts 36, respectively. Therefore, the both rotary shafts 36 are normally and reversely rotated in the opposite directions by the normal and reverse rotations of the drive shaft 31.

そして、前記両回転軸36には、前記複数の案内部17の下
方にそれぞれ位置して、複数のベース体41が固定されて
いる。このベース体41は、第1図に示すように、一側に
切溝42を有する円筒形状になっており、割り締めにより
前記回転軸36にそれぞれ固定されている。すなわち、前
記回転軸36がベース体41内に貫通されており、このベー
ス体41がその切溝42を貫通したボルト43により、回転軸
36に締め付けられている。割り締めにより固定されてい
ることにより、回転軸36に対するベース体41の固定角度
は自在に調整できる。
A plurality of base bodies 41 are fixed to the rotary shafts 36 below the plurality of guide portions 17, respectively. As shown in FIG. 1, the base body 41 has a cylindrical shape having a cut groove 42 on one side, and is fixed to the rotary shaft 36 by split tightening. That is, the rotary shaft 36 is penetrated into the base body 41, and the base body 41 is rotated by the bolt 43 penetrating the cut groove 42.
It is tightened to 36. By being fixed by split tightening, the fixing angle of the base body 41 with respect to the rotating shaft 36 can be freely adjusted.

また、このベース体41の上面に突出形成された軸部44に
アーム体45が前記回転軸36の中心軸を回動中心として回
動自在に支持されている。なお、このアーム体45は、前
記軸部44の上部に嵌着されたCリング46により抜け止め
されており、このCリング46とアーム体45との間にはス
ペーサ47が介在されている。そして、前記アーム体45の
先端部には、前記基板21を後方へ押圧するローラ48が支
軸49により軸着されている。
Further, an arm body 45 is rotatably supported by a shaft portion 44 formed on the upper surface of the base body 41 so as to rotate about the central axis of the rotary shaft 36. The arm body 45 is prevented from coming off by a C ring 46 fitted on the upper portion of the shaft portion 44, and a spacer 47 is interposed between the C ring 46 and the arm body 45. A roller 48 that presses the substrate 21 rearward is pivotally attached to a tip end portion of the arm body 45 by a support shaft 49.

前記ベース体41とアーム体45とには、前記回転軸36の中
心軸から等距離離れてかつ互いに120°ずつ離間して、
複数の貫通孔51と受け孔52とがそれぞれ貫通形成されて
いる。そして、前記各貫通孔51には、外面が係合部をな
す係合子としての球形のボール53が上部にそれぞれ上下
動自在に嵌合されているとともに、押しねじ54が下部に
進退自在に螺合されており、これら押しねじ54とボール
53との間に装着されたばね55により、このボール53は常
時上方へ付勢されている。前記アーム体45の受け孔52
は、前記ボール53が下方から係脱自在に係合されるもの
であるが、このボール53よりも径が小さくなっている。
なお、前記貫通孔51は、ボール53とほぼ同じ径で、少し
大きくなっている。
The base body 41 and the arm body 45 are equidistant from the central axis of the rotating shaft 36 and are spaced 120 ° apart from each other,
A plurality of through holes 51 and a plurality of receiving holes 52 are formed so as to penetrate therethrough. In each of the through holes 51, a spherical ball 53 as an engaging member having an outer surface as an engaging portion is fitted in an upper part so as to be vertically movable, and a push screw 54 is screwed in a lower part so as to be able to advance and retreat. And these push screws 54 and balls
The ball 53 is constantly urged upward by a spring 55 mounted between the ball 53 and the ball 53. The receiving hole 52 of the arm body 45
The ball 53 is engaged with the ball 53 so as to be engageable and disengageable from below, and has a smaller diameter than the ball 53.
The through hole 51 has almost the same diameter as the ball 53 and is slightly larger.

そして、前記ベース体41に設けられた前記ボール53の前
記回転軸36の回転方向における位置は、前記各基板21に
それぞれ対応する各ベース体41で互いに偏位している。
たとえば、第3図図示の右側の5つのベース体41で、任
意のベース体41のボール53は、このベース体41の上側に
隣接するベース体41のボール53よりも、上から見て反時
計回り方向へ20°ずれている。また、左右で対をなすベ
ース体41のボール53は、面対称な位置にある。
The positions of the balls 53 provided on the base body 41 in the rotation direction of the rotation shaft 36 are deviated from each other on the base bodies 41 corresponding to the substrates 21.
For example, in the five base bodies 41 on the right side in FIG. 3, the balls 53 of an arbitrary base body 41 are counterclockwise when viewed from above than the balls 53 of the base body 41 adjacent to the upper side of the base body 41. It is offset by 20 ° in the direction of rotation. In addition, the balls 53 of the base body 41 forming a pair on the left and right are in plane-symmetrical positions.

さらに、第2図に示すように、前記前側の左右の支柱16
の外側面には、前記各アーム体45が前方へ突出した状態
で内側面に当接するストッパ56が固定されている。
Further, as shown in FIG. 2, the left and right front columns 16 are provided.
A stopper 56 is fixed to the outer surface of the stopper 56, which comes into contact with the inner surface of the arm body 45 in a state of protruding forward.

つぎに、前記抜去機構27の構成について説明する。Next, the structure of the removal mechanism 27 will be described.

第2図に示すように、前記後側の左右の支柱16の後方に
は、上下方向に延びる支軸61がそれぞれ設けられてお
り、これら支軸61には、前記挿入機構26の各アーム体45
とそれぞれほぼ同じ高さで、複数のアーム体62がそれぞ
れ回動自在に支持されている。そして、これら各アーム
体62の先端部には、前記基板21を前方へ押圧するローラ
63が支軸64により軸着されている。
As shown in FIG. 2, support shafts 61 extending in the up-down direction are provided behind the left and right supporting columns 16 on the rear side, and these support shafts 61 support the arm bodies of the insertion mechanism 26. 45
A plurality of arm bodies 62 are rotatably supported at substantially the same height. A roller for pressing the substrate 21 forward is provided at the tip of each of the arm bodies 62.
63 is pivotally attached by a support shaft 64.

また、前記各支軸61の後側に隣接して、上下方向に延び
る回転軸65がそれぞれ軸支されている。そして、これら
回転軸65には、前記各アーム体62をそれぞれ後側から押
圧して揺動させる複数の偏心カム66が固定されている。
なお、図示していないが、前記両回転軸65は、前記挿入
機構26と全く同様にして、ベベルギヤ、駆動軸およびギ
ヤを介して、前記モータ33とは別のモータに連結されて
おり、このモータにより正逆回転駆動されるようになっ
ている。
Further, adjacent to the rear side of each of the support shafts 61, a rotating shaft 65 extending in the up-down direction is axially supported. A plurality of eccentric cams 66 that press and swing the respective arm bodies 62 from the rear side are fixed to the rotary shafts 65.
Although not shown, the both rotary shafts 65 are connected to a motor different from the motor 33 via a bevel gear, a drive shaft and a gear in the same manner as the insertion mechanism 26. The motor is driven to rotate forward and backward.

つぎに、上記実施例の作用について説明する。Next, the operation of the above embodiment will be described.

挿入機構26および抜去機構27がすべて初期状態になって
いるときに、供試品22が搭載された複数の基板21を試験
室11内に複数段に並べて収納する。すなわち、各基板21
の左右両側縁部を左右の案内部17にそれぞれ差し込む。
なお、前記初期状態にあっては、各アーム体45,62は戻
しの位置にある。すなわち、挿入機構26のアーム体45
は、前方に向いてストッパ56に当接しており、抜去機構
27のアーム体62は、左右方向内方に向いている。
When the insertion mechanism (26) and the removal mechanism (27) are all in the initial state, the plurality of substrates (21) on which the sample (22) is mounted are arranged in the test chamber (11) in a plurality of stages. That is, each substrate 21
Insert the left and right side edges of each of the two into the left and right guide portions 17, respectively.
In the initial state, each arm body 45, 62 is in the return position. That is, the arm body 45 of the insertion mechanism 26.
Is facing the front and is in contact with the stopper 56.
The arm body 62 of 27 faces inward in the left-right direction.

つぎに、挿入機構26のモータ33を駆動する。このモータ
33の出力軸34の回転は、ギヤ35,32、駆動軸31およびベ
ベルギヤ37,38を介して回転軸36に伝達され、これら回
転軸36が互いに逆方向でかつ挿入方向へ回転し、これら
回転軸36と一体的に各ベース体41も回転する。
Next, the motor 33 of the insertion mechanism 26 is driven. This motor
The rotation of the output shaft 34 of 33 is transmitted to the rotary shaft 36 via the gears 35, 32, the drive shaft 31, and the bevel gears 37, 38, and these rotary shafts 36 rotate in opposite directions to each other and in the insertion direction. Each base body 41 also rotates integrally with the shaft 36.

最初、最上側のベース体41およびアーム体45のみで、ボ
ール53と受け孔52とが係合しているが、このようにボー
ル53と受け孔52とが係合している状態で、ベース体41か
らアーム体45に最大の力が加わり、このアーム体45のロ
ーラ48が基板21に当接していても、ベース体41と一体的
にアーム体45が回転する。したがって、最上側の左右の
ローラ48が最上側の基板21の前縁の左右両側部に当接し
て、この基板21を後方へ押し込む。これによって、この
基板21がコネクタ15に接続される。
Initially, the ball 53 and the receiving hole 52 are engaged only with the uppermost base body 41 and the arm body 45, but with the ball 53 and the receiving hole 52 thus engaged, Even if the maximum force is applied from the body 41 to the arm body 45 and the roller 48 of the arm body 45 is in contact with the substrate 21, the arm body 45 rotates integrally with the base body 41. Therefore, the uppermost left and right rollers 48 come into contact with the left and right side portions of the front edge of the uppermost substrate 21 and push the substrate 21 backward. As a result, the board 21 is connected to the connector 15.

この基板21の押込みが完了すると、アーム体45に過大荷
重がかかるので、ボール53が受け孔52から外れて、ベー
ス体41とアーム体45との結合が解除され、その後は、ア
ーム体45は回転せず、ベース体41のみが回転する。
When the pushing of the substrate 21 is completed, an excessive load is applied to the arm body 45, so that the ball 53 is disengaged from the receiving hole 52 and the coupling between the base body 41 and the arm body 45 is released. Only the base body 41 rotates without rotating.

一方、下側のベース体41およびアーム体45においては、
最初ボール53が受け孔52に係合しておらず、そのため、
少なくともローラ48が基板21に当接しているときには、
当初、ベース体41のみが回転し、アーム体45は回転しな
い。ところが、両者の相対的な回転に伴って、ボール53
が受け孔52に臨む位置に達すると、この受け孔52のほう
へ付勢されたボール53が受け孔52に係合され、その後
は、ベース体41と一体的にアーム体45が回転し、このア
ーム体45が対応する基板21を後方へ押し込む。
On the other hand, in the lower base body 41 and the arm body 45,
Initially the ball 53 is not engaged in the receiving hole 52, so
At least when the roller 48 is in contact with the substrate 21,
Initially, only the base body 41 rotates, and the arm body 45 does not rotate. However, the ball 53
When reaches a position facing the receiving hole 52, the ball 53 urged toward the receiving hole 52 is engaged with the receiving hole 52, and thereafter, the arm body 45 rotates integrally with the base body 41, This arm body 45 pushes the corresponding substrate 21 backward.

こうして、上下の各ベース体41でボール53の位置がたと
えば20°ずつずれていることにより、各ベース体41およ
びアーム体45でボール53が受け孔52に係合される時間が
ずれ、その結果、たとえば上下6段の基板21は、上から
下へ時間差をもって順次押込まれていく。このように押
込みを分散して行うことにより、モータ33などに大きな
負荷がかからないとともに、1回の押込みに要する力が
小さくてすみ、大きな動力を必要としない。
In this way, the positions of the balls 53 in the upper and lower base bodies 41 are deviated by, for example, 20 °, so that the time in which the balls 53 are engaged with the receiving holes 52 in the base bodies 41 and the arm bodies 45 is deviated. For example, the upper and lower six-tiered substrates 21 are pushed in sequentially from top to bottom with a time difference. By distributing the pushing in this way, a large load is not applied to the motor 33 and the like, and the force required for one pushing is small, so that large power is not required.

また、基板21の押込み時に、基板21あるいはコネクタ15
などの異常により、両者間に位置ずれがあって、基板21
が最後まで挿入されなかった場合のように、異常な過大
荷重がかかったときにも、ボール53が受け孔52から外
れ、アーム体45は回転せずに、ベース体41のみが回転す
ることになる。したがって、これら両者間で働く力が弱
くなるので、無理な力がかかることがなく、モータ33な
どに過大な負荷がかかることがないとともに、破損をき
たすことがない。
When the board 21 is pushed in, the board 21 or the connector 15
Due to an abnormality such as
Even when an abnormally large load is applied, as in the case where is not inserted all the way, the ball 53 comes off the receiving hole 52, the arm body 45 does not rotate, and only the base body 41 rotates. Become. Therefore, since the force acting between them is weakened, an unreasonable force is not applied, an excessive load is not applied to the motor 33 and the like, and damage is not caused.

なお、第3図は、上側2段のアーム体45が横に向き、他
のアーム体45が前方に向いた状態を示している。
Note that FIG. 3 shows a state in which the upper two stages of the arm bodies 45 are oriented sideways and the other arm bodies 45 are oriented forward.

全部の基板21の挿入が終わったら、モータ33を逆転さ
せ、挿入機構26を初期状態に戻す。
When all the boards 21 have been inserted, the motor 33 is rotated in the reverse direction to return the insertion mechanism 26 to the initial state.

その後、断熱扉14を閉じる。Then, the heat insulation door 14 is closed.

そして、試験室11内で、供試品22のスクリーニング、エ
ージングあるいは信頼性の試験が行われる。
Then, screening, aging, or reliability test of the sample 22 is performed in the test room 11.

この試験が終了したら、もう1つのモータにより、抜去
機構27の両回転軸65を回転させる。そうすると、これら
回転軸65とともに回転する偏心カム66により、抜去機構
27の左右のアーム体62が互いに反対方向でかつ前方へ回
転し、これらアーム体62のローラ63が基板21の後縁の左
右両側部に当接して、これら基板21を同時に前方へ押出
す。これによって、基板21がコネクタ15から外れる。
Upon completion of this test, the other rotating shaft 65 of the removing mechanism 27 is rotated by another motor. Then, the eccentric cam 66 that rotates together with the rotary shaft 65 causes the removal mechanism.
The left and right arm bodies 62 of 27 rotate in opposite directions and forward, and the rollers 63 of these arm bodies 62 contact both left and right sides of the rear edge of the substrate 21 to push the substrates 21 forward simultaneously. As a result, the board 21 is detached from the connector 15.

基板21がコネクタ15から外れたならば、モータを逆転さ
せて、抜去機構27を初期状態に戻す。
When the board 21 is detached from the connector 15, the motor is reversely rotated to return the extraction mechanism 27 to the initial state.

さらに、断熱扉14を開けて、試験室11内の案内部17から
基板21を抜き取る。
Further, the heat insulating door 14 is opened, and the substrate 21 is pulled out from the guide portion 17 in the test chamber 11.

なお、上記実施例では、上下のベース体41でボール53の
位置を20°ずつずらしたが、ずらす角度は、基板21の数
に応じて、30°あるいは40°などにしてもよい。たとえ
ば30°にすれば、ボール53間間隔が120°である場合、
4位置がとれる。
In the above embodiment, the position of the ball 53 is shifted by 20 ° between the upper and lower base bodies 41, but the angle of shift may be 30 ° or 40 ° depending on the number of substrates 21. For example, if it is set to 30 °, and the distance between the balls 53 is 120 °,
4 positions can be taken.

また、上記実施例では、円周を3等分する位置にボール
53および受け孔52を設けたが、ボール53および受け孔52
の配置は、それに限るものではない。
Further, in the above embodiment, the ball is placed at a position that divides the circumference into three equal parts.
Although 53 and the receiving hole 52 are provided, the ball 53 and the receiving hole 52
The arrangement of is not limited to that.

また、各ベース体41のボール53の位置は、上記実施例の
ように上から下へ順次ずらす必要はなく、全体として互
いにずれていればよい。
Further, the positions of the balls 53 of each base body 41 do not have to be sequentially shifted from top to bottom as in the above-mentioned embodiment, but may be displaced from each other as a whole.

さらに、複数の基板21を複数群に分け、1つの群に対応
するベース体41ではボール53の位置を同一位相とし、各
群間でベース体41におけるボール53の位置を互いに偏位
させてもよい。たとえば、1つの群の基板21を4枚と
し、この群を6つ設ければ、全部で24枚の基板21を挿入
することができる。
Furthermore, even if the plurality of substrates 21 are divided into a plurality of groups, the positions of the balls 53 in the base body 41 corresponding to one group are in the same phase, and the positions of the balls 53 in the base body 41 are deviated between the groups. Good. For example, if there are four substrates 21 in one group and six groups 21 are provided, a total of 24 substrates 21 can be inserted.

また、上記実施例では、ベース体41にボール53を設け、
アーム体45に受け孔52を設けたが、逆に、ベース体に受
け孔を設け、アーム体にボールを設けてもよい。
Further, in the above embodiment, the base body 41 is provided with the ball 53,
Although the receiving hole 52 is provided in the arm body 45, conversely, the receiving hole may be provided in the base body and the ball may be provided in the arm body.

また、上記実施例では、係合子をボール53としたが、係
合子は、受け孔52への係合部が球面をなすほぼ半球状の
ものなどにしてもよい。
Further, in the above embodiment, the ball 53 is used as the engaging element, but the engaging element may be a substantially hemispherical shape in which the engaging portion with the receiving hole 52 is spherical.

[発明の効果] 本発明によれば、各基板を挿入してコネクタに接続させ
る挿入機構を、モータなどの駆動源により駆動される回
転軸と、この回転軸に各基板にそれぞれ対応して固定さ
れた複数のベース体と、これらベース体にそれぞれ重ね
られて回転軸にそれぞれ回動自在に支持され各基板をそ
れぞれ押込む複数のアーム体とにより構成し、対をなす
各ベース体および各アーム体の一方にほぼ球面状の係合
部を有する係合子を他方へ向けて付勢して設けるととも
に、他方に係合子の係合部が係脱自在に係合される受け
孔を設け、ベース体に設けられた係合子または受け孔の
回転軸の回転方向における位置を各基板に対応する各ベ
ース体で互いに偏位させたので、ベース体およびアーム
体の係合子と受け孔とが係合されて各アーム体が各基板
を押し込む時間が互いにずれることにより、駆動源など
にかかる負荷を軽減させることができるとともに、小さ
な動力で駆動することができ、また、たとえば基板とコ
ネクタとに位置ずれがあっても、これを原因とする過大
荷重がかかると、係合子が受け孔から外れて、ベース体
とアーム体との結合が解除されることにより、無理な力
が加わることを防止でき、破損を防止することができ
る。
[Effects of the Invention] According to the present invention, the insertion mechanism for inserting each board and connecting it to the connector is fixed to the rotating shaft driven by a drive source such as a motor, and the rotating shaft corresponding to each board. A plurality of base bodies and a plurality of arm bodies that are superposed on the base bodies and are rotatably supported by rotation shafts and press the respective substrates, respectively, and each pair of base bodies and each arm An engaging member having a substantially spherical engaging portion is urged toward the other on one side of the body, and a receiving hole at which the engaging portion of the engaging element is removably engaged is provided on the other side of the base. Since the position of the engaging element or the receiving hole provided in the body in the rotation direction of the rotation axis is deviated from each other in each base body corresponding to each substrate, the engaging element of the base body and the arm body and the receiving hole engage with each other. Each arm body is attached to each substrate By deviating the pushing times from each other, it is possible to reduce the load applied to the drive source and the like, and it is possible to drive with a small amount of power, and even if there is a positional deviation between the board and the connector, this can cause When an excessive load is applied, the engaging element is disengaged from the receiving hole and the connection between the base body and the arm body is released, so that it is possible to prevent an excessive force from being applied and prevent damage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図(a)は本発明のバーイン装置の一実施例を示す
ベース体およびアーム体の平面図、第1図(b)は同上
ベース体およびアーム体の断面図、第1図(c)は同上
ベース体およびアーム体の底面図、第2図は同上全体の
水平断面図、第3図は同上全体の一部を切欠いた正面図
である。 11……試験室、15……コネクタ、21……基板、22……供
試品、26……挿入機構、33……駆動源としてのモータ、
36……回転軸、41……ベース体、45……アーム体、52…
…受け孔、53……係合子としてのボール。
FIG. 1 (a) is a plan view of a base body and an arm body showing an embodiment of the burn-in device of the present invention, FIG. 1 (b) is a sectional view of the base body and the arm body, and FIG. 1 (c). Is a bottom view of the same base body and arm body, FIG. 2 is a horizontal sectional view of the same as above, and FIG. 3 is a front view in which a part of the same is cut away. 11 …… Test room, 15 …… Connector, 21 …… Board, 22 …… Sample, 26 …… Insertion mechanism, 33 …… Motor as drive source,
36 …… Rotary axis, 41 …… Base body, 45 …… Arm body, 52…
… Receiving hole, 53 …… Ball as an engaging element.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】供試品が搭載された基板が複数段に並べて
挿脱自在に収納される試験室と、この試験室内に配設さ
れ前記基板が着脱自在に接続されるコネクタと、前記各
基板を前記試験室内の奥部へ向けて挿入して前記コネク
タに接続させる挿入機構とを備え、 この挿入機構は、前記複数の基板の配列方向に延び駆動
源により正逆回転駆動される回転軸と、この回転軸に前
記各基板にそれぞれ対応して固定された複数のベース体
と、これらベース体にそれぞれ重ねられて前記回転軸に
それぞれ回動自在に支持され前記各基板をそれぞれ挿入
方向へ押込む複数のアーム体とを有し、 前記各ベース体およびこのベース体と対をなす前記各ア
ーム体の対向部の一方にほぼ球面状の係合部を有する係
合子を可動にかつ他方へ向けて付勢して設けるととも
に、他方に前記係合子の係合部が係脱自在に係合される
受け孔を設け、 前記ベース体に設けられた前記係合子または受け孔の前
記回転軸の回転方向における位置は、前記各基板にそれ
ぞれ対応する各ベース体で互いに偏位させた ことを特徴とするバーイン装置。
1. A test chamber in which a substrate on which a sample is mounted is arranged in a plurality of stages and is removably accommodated, a connector which is arranged in the test chamber and to which the substrate is detachably connected, and An insertion mechanism for inserting the board toward the inner part of the test chamber and connecting it to the connector, wherein the insertion mechanism extends in the arrangement direction of the plurality of boards and is driven to rotate in the forward and reverse directions by a drive source. A plurality of base bodies fixed to the rotary shafts corresponding to the respective substrates, and superposed on the base bodies and rotatably supported by the rotary shafts, the respective substrates in the insertion direction. A plurality of arm bodies to be pushed in, and movably an engaging element having a substantially spherical engaging portion on one of the base bodies and one of the facing portions of the arm bodies forming a pair with the base body. When it is urged toward On the other hand, a receiving hole into which the engaging portion of the engaging element is detachably engaged is provided, and the position of the engaging element or the receiving hole provided in the base body in the rotation direction of the rotating shaft is A burn-in device in which each base body corresponding to each substrate is displaced from each other.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08338014A (en) * 1995-06-12 1996-12-24 Maeda Seikan Kk Constructing method of acidproof check-dam and foundation bed block
JP2001339138A (en) * 2000-05-26 2001-12-07 Fujitsu Ten Ltd Inspection apparatus for substrate

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