JPH0687045B2 - Automatic pit inspection system for transparent objects - Google Patents
Automatic pit inspection system for transparent objectsInfo
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- JPH0687045B2 JPH0687045B2 JP18008288A JP18008288A JPH0687045B2 JP H0687045 B2 JPH0687045 B2 JP H0687045B2 JP 18008288 A JP18008288 A JP 18008288A JP 18008288 A JP18008288 A JP 18008288A JP H0687045 B2 JPH0687045 B2 JP H0687045B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、透明な物体の表面に発生している微細な穴様
の欠陥、すなわち、ピットを検査する透明物体のピット
自動検査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic pit inspection apparatus for a transparent object for inspecting pits, that is, pits, which are fine holes occurring on the surface of a transparent object. .
従来の技術 顕微鏡による物体表面の微細な欠陥などの検査作業は、
顕微鏡像を目視検査する場合が多く、非常な労力と時間
を要している。かつ、測定者による個人誤差や、疲労が
おおきく、目視検査の自動化の要請はつよかった。Conventional technology Inspection work for microscopic defects on the surface of an object with a microscope
In many cases, a microscopic image is visually inspected, which requires a lot of labor and time. Moreover, there was a great deal of personal error and fatigue by the measurer, and there was a great demand for automation of visual inspection.
これに応える装置として、最近、自動焦点合わせ機構の
付いた自動X−Yステージを持つ光学顕微鏡と、テレビ
カメラと、コンピュータとを組み合わせた自動検査シス
テムが発表されている(西塚 広著:最新目視検査の自
動化:151〜163頁:1986・8・28(株)テクノシステム
刊)。この装置では、顕微鏡像をディジタル変換し、2
値化して、物体表面の画像として認識している。An automatic inspection system combining an optical microscope with an automatic XY stage with an automatic focusing mechanism, a TV camera, and a computer has recently been announced as a device that responds to this (Hiroshi Nishizuka: Latest Visual Inspection). Inspection automation: Pages 151-163: 1986/8/28 published by Techno System Co., Ltd. This device converts a microscope image into a digital image and
It is digitized and recognized as an image of the object surface.
しかし、従来の顕微鏡による目視検査の自動化は、対象
が主にIC用ウェハの結晶構造や、ICチップの表面欠陥の
ように単に物体の表面を検査するにとどまり、表面から
内部に向かって生じた欠陥、すなはち、ピットを検査し
ようとしても、単に表面に付着した異物とピットとの識
別が出来ず、この様な目的に利用することは不可能であ
った。However, the automation of visual inspection by conventional microscopes was limited to simply inspecting the surface of the object such as the crystal structure of the IC wafer and the surface defects of the IC chip. Even if an attempt was made to inspect a defect, that is, a pit, it was impossible to simply distinguish the foreign matter adhering to the surface from the pit, and it was impossible to use for such a purpose.
ピット検査が要求される一例として、放射線、特に中性
子を利用する設備とか、中性子が二次的に発生する機器
を扱う機会が増えているが、その際、使用される速中性
子用個人被ばく線量測定用の固体飛跡検出器が挙げられ
る(道家;応用物理vol.53 no.8 p681 1984)。As an example where pit inspection is required, there are increasing opportunities to handle equipment that uses radiation, especially neutrons, and equipment that secondarily generates neutrons, but at that time, personal exposure dose measurement for fast neutrons used Solid state track detectors for home use (Michika; Applied Physics vol.53 no.8 p681 1984).
測定は、プラスチック板上に生じた小さな放射線損傷
を、例えば、水酸化ナトリウムでエッチングし、そのエ
ッチピットを顕微鏡で拡大し、目視で数えることによっ
てなされている。しかし、顕微鏡の視野で観察するの
は、被検査体表面像であって、エッチピット以外の異物
や、速中性子以外の放射線の軌跡も含まれ、その判別は
困難である。The measurement is carried out by etching the small radiation damage produced on the plastic plate with, for example, sodium hydroxide, enlarging the etch pits under a microscope, and visually counting. However, what is observed in the field of view of the microscope is the surface image of the object to be inspected, and foreign matter other than the etch pits and the trajectory of radiation other than fast neutrons are also included, and their determination is difficult.
そこで、目視検査に際しては、顕微鏡の焦点を被検査体
の内部に向かって約10〜50ミクロンずらせ観察すれば、
ピットとピット以外の画像が容易に判別できることを利
用して、両者を判別している。すなわち、被検査体表面
のピットと異物の画像は、ともに周辺部に対して、円
形、または環状の暗部として観察されるが、顕微鏡の焦
点を被検査体の内部に向かって10〜50ミクロンずらせる
と、ピットの内部画像にあっては、その中心部の輝度が
大きくなる、すなわち、明るくなるが、表面に付着した
異物では中心部も黒色領域として観察されるからであ
る。Therefore, at the time of visual inspection, if you observe by displacing the focus of the microscope toward the inside of the object to be inspected by about 10 to 50 microns,
The pits and the images other than the pits can be easily discriminated from each other, and thus both are discriminated. That is, both the pit and foreign matter images on the surface of the object to be inspected are observed as a circular or annular dark part with respect to the peripheral part, but the focus of the microscope is shifted toward the inside of the object to be inspected by 10 to 50 microns. Then, in the internal image of the pit, the brightness of the central portion becomes large, that is, it becomes bright, but the central portion is also observed as a black region in the foreign matter adhering to the surface.
典型的な例を第2図に示す。第2図において、左側の列
には、被検査体表面における画像を、中央の列には、左
側の列の画像に対応する、焦点をずらした内部の画像
を、右側の列には、判定結果を示したものである。A typical example is shown in FIG. In FIG. 2, the image on the surface of the object to be inspected is shown in the left column, the defocused internal image corresponding to the image in the left column is shown in the center column, and the judgment is shown in the right column. The results are shown.
発明が解決しようとする課題 本発明は、透明物体表面の異物とピットとを識別し、ピ
ットのみを自動的に検出する装置を提供することを目的
とする。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a device for identifying foreign matter and pits on the surface of a transparent object and automatically detecting only the pits.
課題を解決するための手段 上記課題を解決するための本願第1の発明の構成は、次
の通りである。Means for Solving the Problems The constitution of the first invention of the present application for solving the above problems is as follows.
イ.透明物体からなる被検査体が載置されるステージ
と、 ロ.該ステージに載置される被検査体に対向して設けら
れた顕微鏡と、 ハ.該ステージに対して、前記顕微鏡とは反対側に設け
られ、前記被検査体の透過光を顕微鏡に投ずる光源と ニ.前記ステージと前記顕微鏡とを相対的に、前記被検
査体表面の面方向、およびこれと垂直な方向に移動せし
める移動機構と、 ホ.前記顕微鏡にて取り込まれた前記被検査体の被検査
部分の画像を、ビデオ信号として出力するテレビカメラ
と、 ヘ.該ビデオ信号を、ディジタル変換するA/D変換器
と、前記画像の輝度が所定のしきい値以下である黒色領
域を抽出する2値化回路と、各黒色領域の中心座標を求
める演算器と、前記ディジタル変換によって得られたデ
ィジタルデータと前記2値化回路で得られた2値化デー
タと前記移動機構により焦点を被検査体の内方に移動せ
しめて得られる内部画像の輝度のデータとを記憶するメ
モリとからなる画像処理装置と、 ト.被検査体表面の黒色領域の中心部近傍における輝度
と、これに対応する領域における被検査体内部画像の輝
度とを比較して、内部画像の輝度のほうが明るい場合を
ピットと判定する判定器と、 チ.前記判定器により順次得られるピット判定結果を加
算する加算器と、 からなる透明物体のピット自動検査装置である。I. A stage on which an object to be inspected made of a transparent object is placed, and b. A microscope provided to face the object to be inspected mounted on the stage, and c. A light source which is provided on the opposite side of the stage with respect to the stage, and which projects the transmitted light of the object to be inspected into the microscope. A moving mechanism for moving the stage and the microscope relative to each other in a plane direction of the surface of the object to be inspected and in a direction perpendicular to the surface direction; A television camera that outputs an image of the inspected portion of the inspected object captured by the microscope as a video signal; An A / D converter for digitally converting the video signal, a binarization circuit for extracting a black area in which the brightness of the image is equal to or less than a predetermined threshold value, and an arithmetic unit for obtaining the center coordinates of each black area. , The digital data obtained by the digital conversion, the binarized data obtained by the binarization circuit, and the brightness data of the internal image obtained by moving the focus inward of the inspection object by the moving mechanism. And an image processing device including a memory for storing A discriminator that compares the luminance in the vicinity of the center of the black area on the surface of the inspection object with the luminance of the internal image of the inspection object in the corresponding area, and determines that the internal image is brighter when it is a pit. Ji. An pit automatic inspection apparatus for a transparent object, comprising: an adder that adds the pit determination results sequentially obtained by the determination unit.
被検査体のピットの状況が、一定のパターンにある場合
には、上記本第1の発明を、さらに、合理化することが
可能であり、これが次に示す構成からなる本第2の発明
である。When the pits of the object to be inspected have a certain pattern, it is possible to further rationalize the above first invention, and this is the second invention having the following configuration. .
イ.透明物体からなる被検査体が載置されるステージ
と、 ロ.該ステージに載置される被検査体に対向して設けら
れた顕微鏡と、 ハ.前記ステージに対して、前記顕微鏡とは反対側に設
けられ、前記被検査体の透過光を顕微鏡に投ずる光源と ニ.前記ステージと前記顕微鏡とを相対的に、前記被検
査体表面の面方向、およびこれと垂直な方向に移動せし
める移動機構と、 ホ.前記顕微鏡にて取り込まれた前記被検査体の被検査
部分の画像を、ビデオ信号として出力するテレビカメラ
と、 ヘ.該ビデオ信号を、ディジタル変換するA/D変換器
と、前記画像の輝度が所定のしきい値以下である黒色領
域を抽出する2値化回路と、各黒色領域の中心座標を求
める演算器と、前記ディジタル変換によって得られたデ
ィジタルデータと前記移動機構により焦点を被検査体の
内方に移動せしめて得られる内部の2値化画像のデータ
を記憶するメモリとからなる画像処理装置と、 ト.被検査体表面の黒色領域の中心部近傍に対応する被
検査体の内部領域が、2値化画像において白色である場
合をピットと判定する判定器と、 チ.前記判定器により順次得られるピット判定結果を加
算する加算器と、 からなる透明物体のピット自動検査装置である。I. A stage on which an object to be inspected made of a transparent object is placed, and b. A microscope provided to face the object to be inspected mounted on the stage, and c. A light source that is provided on the side opposite to the microscope with respect to the stage, and that projects the transmitted light of the object to be inspected into the microscope. A moving mechanism for moving the stage and the microscope relative to each other in a plane direction of the surface of the object to be inspected and in a direction perpendicular to the surface direction; A television camera that outputs an image of the inspected portion of the inspected object captured by the microscope as a video signal; An A / D converter for digitally converting the video signal, a binarization circuit for extracting a black area in which the brightness of the image is equal to or less than a predetermined threshold value, and an arithmetic unit for obtaining the center coordinates of each black area. An image processing device comprising a digital data obtained by the digital conversion and a memory for storing data of an internal binary image obtained by moving a focal point inward of the object by the moving mechanism; . A judging device for judging a pit when the internal region of the inspection object corresponding to the vicinity of the center of the black region on the inspection object surface is white in the binarized image; An pit automatic inspection apparatus for a transparent object, comprising: an adder that adds the pit determination results sequentially obtained by the determination unit.
からなる透明物体のピット自動検査装置である。It is an automatic pit inspection device for transparent objects.
本第1の発明においては、被検査体の表面近傍におい
て、黒色領域として抽出された領域の中心座標近傍にお
ける輝度と、同一領域において顕微鏡の焦点を被検査体
の内方にずらして測定される輝度とが比較され、ピット
が判定される。In the first aspect of the invention, in the vicinity of the surface of the object to be inspected, the brightness in the vicinity of the center coordinates of the area extracted as the black area and the focus of the microscope in the same area are measured inwardly of the object to be inspected. The brightness is compared to determine the pit.
これに対し、本第2の発明においては、被検査体表面近
傍において抽出された黒色領域の中心座標近傍におい
て、顕微鏡の焦点を被検査体内方にずらし、対応する中
心座標近傍の2値化画像が白色であれば、ピットと判定
される。On the other hand, in the second aspect of the present invention, in the vicinity of the center coordinates of the black region extracted near the surface of the object to be inspected, the focus of the microscope is shifted toward the inside of the object to be inspected, and the binarized image near the corresponding center coordinates. If is white, it is determined to be a pit.
作用 前記のように構成された本第1の発明にかかる装置にお
いて、被検査体表面の各欠陥をまず表面画像の黒色領域
として補足し、補足された各黒色領域の中心座標近傍の
輝度をもとめ、次いでこれに対応する各黒色領域の中心
点において、顕微鏡の焦点を被検査体の内方にずらし、
中心座標近傍における内部画像の輝度を測定し、もとの
輝度と比較して、後者の輝度のほうが明るいときその欠
陥はピットと判定され、それ以外の画像は、他の欠陥で
あると判定される。Function In the apparatus according to the first aspect of the present invention configured as described above, each defect on the surface of the object to be inspected is first supplemented as a black region of the surface image, and the luminance near the center coordinates of each supplemented black region is obtained. , Then, at the center point of each corresponding black area, the focus of the microscope is shifted inward of the object to be inspected,
The brightness of the internal image in the vicinity of the center coordinates is measured, and compared with the original brightness, when the latter brightness is brighter, the defect is determined to be a pit, and the other images are determined to be other defects. It
さらに、本第2のの発明にあっては、上記黒色領域の中
心座標近傍に対応する内部2値化画像が白色のときには
ピットとして処理され、黒色のときには他の欠陥である
と判定される。Furthermore, in the second aspect of the present invention, when the internal binarized image corresponding to the vicinity of the center coordinates of the black area is white, it is processed as a pit, and when it is black, it is determined to be another defect.
実施例 以下、図面を参照しながら本発明を説明する。Examples Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例の構成を説明するための全
体構成図である。FIG. 1 is an overall configuration diagram for explaining the configuration of an embodiment of the present invention.
第3図は、本第1の発明の実施例における、各画面ごと
の画像処理手順を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flow chart showing an image processing procedure for each screen in the embodiment of the first invention.
第1図において、X,Y,Z軸方向に自動的に移動可能なX
−Y−Zステージ3上にセットされた被検査体1は、前
記ステージ3に対して顕微鏡2の反対側に設けられた光
源5によって、透過照明される。駆動装置4の自動操作
によって、顕微鏡2の焦点が、被検査体の所定の画像の
表面に合わせられる(第3図,s2)。顕微鏡2は、被検
査体の表面像を撮像・拡大する。テレビカメラ6は、受
像した顕微鏡像を、ビデオ信号に変換する。In Fig. 1, X that can be automatically moved in the X, Y, and Z axis directions
The to-be-inspected object 1 set on the -Y-Z stage 3 is transmitted and illuminated by a light source 5 provided on the opposite side of the microscope 2 with respect to the stage 3. By the automatic operation of the driving device 4, the focus of the microscope 2 is adjusted to the surface of a predetermined image of the inspection object (FIG. 3, s2). The microscope 2 captures and magnifies the surface image of the inspection object. The television camera 6 converts the received microscopic image into a video signal.
画像処理装置7において、テレビカメラ6からのビデオ
信号は、A/D変換器(アナログ/ディジタル変換器)8
によってディジタル信号に変換され、メモリ9に記憶さ
れる(s3)。画像情報を2次元ディジタルデータにする
には、空間的にM×N画素に標本化し、各画素の濃度情
報を、Lビットに量子化する。また、取り込んだディジ
タルデータは、2値化回路10で所定のしきい値で2値化
され、黒色領域として抽出される(s4)。2値化された
データもまた、メモリ9に記憶される。演算器11は、メ
モリ9から2値化データを読みだし、各領域の重心座標
をもとめ(s5)、その輝度を測定する(s6)。本実施例
では、中心座標に重心を採用した。黒色領域として認識
される画像には、ピットの他に異物も含まれている。In the image processing device 7, the video signal from the television camera 6 is converted into an A / D converter (analog / digital converter) 8
Is converted into a digital signal by and stored in the memory 9 (s3). To make the image information into two-dimensional digital data, it is spatially sampled into M × N pixels, and the density information of each pixel is quantized into L bits. Further, the digital data taken in is binarized by a binarization circuit 10 with a predetermined threshold value and is extracted as a black area (s4). The binarized data is also stored in the memory 9. The arithmetic unit 11 reads the binarized data from the memory 9, finds the barycentric coordinates of each area (s5), and measures the brightness thereof (s6). In this embodiment, the center of gravity is used as the center coordinate. The image recognized as a black area contains foreign matter in addition to the pits.
X−Y−Zステージ3はZ軸方向に移動し、顕微鏡の焦
点が被検査体内方にずらされ(s7)、輝度が測定される
(s8)。移動は、駆動装置4で自動的に行われる。移動
量は、ピットの深さによるが、放射線エッチピットの場
合では、10ないし50ミクロンが適当である。得られた内
部画像は、表面画像の場合と同様に処理されて、ディジ
タルデータとしてメモリ9に記憶される。The XYZ stage 3 moves in the Z-axis direction, the focus of the microscope is shifted toward the inside of the body to be inspected (s7), and the brightness is measured (s8). The movement is automatically performed by the drive device 4. The amount of movement depends on the depth of the pit, but in the case of the radiation etch pit, 10 to 50 μm is suitable. The obtained internal image is processed in the same manner as the case of the surface image and stored in the memory 9 as digital data.
判定器12においては、メモリ9から表面画像における黒
色領域の重心部の輝度と、これに対応する内部画像の輝
度とを読み出して、比較し、内部画像の輝度のほうが、
指定した一定のしきい値ε以上に明るい場合をピットと
判定する(s9)。すべての黒色領域について、判定を繰
返し(s9)。すべての黒色領域について、判定を繰返し
(s11)、判定結果がピットであるときには、加算器13
において順次加算しピットの総数を求める(s10)。In the determiner 12, the brightness of the center of gravity of the black area in the surface image and the brightness of the internal image corresponding to this are read from the memory 9 and compared, and the brightness of the internal image is
If it is brighter than a specified threshold value ε, it is judged as a pit (s9). The judgment is repeated for all black areas (s9). The determination is repeated for all black areas (s11). If the determination result is a pit, the adder 13
In step S10, the total number of pits is sequentially added to obtain the total number (s10).
X−Y−Zステージ3の自動操作により、顕微鏡2の視
野を変えながら、第3図に示したフローチャートの操作
を繰り返すことにより、被検査体上のある定められた面
積内にあるピットを自動的に計数し、結果を出力装置1
4、たとえばプリンタに出力する。By automatically operating the X-Y-Z stage 3 while changing the field of view of the microscope 2, the operation of the flowchart shown in FIG. Output device 1
4, output to a printer, for example.
第4図は、本第2の発明の実施例を示すフローチャート
である。FIG. 4 is a flowchart showing an embodiment of the second invention.
顕微鏡2と、テレビカメラ6で撮像された被検査体1の
表面の顕微鏡像は(第4図,s22,s23)、ディジタル変換
され、2値化されて黒色領域として抽出される(s2
4)。この中には、検出すべきピット以外の欠陥も含ま
れている。The microscope image of the surface of the inspected object 1 taken by the microscope 2 and the television camera 6 (s22, s23 in Fig. 4) is digitally converted, binarized and extracted as a black area (s2).
Four). This includes defects other than the pits to be detected.
抽出された黒色領域の中心座標として重心が求められる
(s25)。X−Y−Zステージ3の自動操作により、顕
微鏡2の焦点は、被検査体1の内方に移行され(s2
6)、取り込まれた画像(s27)は、所定のしきい値で2
値化される(s28)。さきに抽出された被検査体表面の
黒色領域の中心座標近傍に対応する被検査体内部の2値
化画像の色が判定され(s29)、白色の場合、ピットと
して計数される(s30)。画面内の全ての黒色領域につ
いて、同じ操作が繰り返される(s31)。The center of gravity is obtained as the center coordinates of the extracted black area (s25). By the automatic operation of the XYZ stage 3, the focus of the microscope 2 is moved to the inside of the DUT 1 (s2
6), the captured image (s27) is 2 at the specified threshold.
It is valued (s28). The color of the binarized image inside the inspection object corresponding to the vicinity of the center coordinates of the black region on the inspection object surface extracted earlier is determined (s29), and if it is white, it is counted as a pit (s30). The same operation is repeated for all black areas on the screen (s31).
発明の効果 以上に説明したように、本発明によれば、従来目視に頼
っていた透明物体のピットの数を、他の欠陥と識別しつ
つ、自動的に計数することができる。EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, it is possible to automatically count the number of pits of a transparent object, which has conventionally relied on visual inspection, while distinguishing it from other defects.
さらに、ピットの画像が円形であることから、被検査体
表面の黒色領域の形状の、たとえば真円度を求め、一定
の基準のもとに識別、判定させる操作を組み合わせるこ
とにより、同時に表面傷などの識別が可能になる。Furthermore, since the image of the pit is circular, by combining the operations of obtaining the roundness of the shape of the black area on the surface of the object to be inspected, and identifying and judging based on a certain standard, surface scratches can be made simultaneously. Etc. can be identified.
本第2の発明では、濃淡画像処理装置よりも製作が容易
で、安価な、2値画像処理装置を利用することができ
る。In the second aspect of the present invention, it is possible to use a binary image processing device that is easier and cheaper to manufacture than the grayscale image processing device.
第1図〜第4図は本発明の一実施例を示し、第1図は、
全体の概念を示すブロック図、第2図は、2値化された
画像と、その判定の例を示し、第3図は、本第1の発明
の操作フローチャート、第4図は、本第2の発明におけ
る操作フローチャートである。1 to 4 show an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 2 is a block diagram showing the overall concept, FIG. 2 shows a binarized image and an example of its determination, FIG. 3 is an operation flowchart of the first invention, and FIG. 3 is an operation flowchart in the invention of FIG.
Claims (2)
るステージと、 ロ.該ステージに載置される被検査体に対向して設けら
れた顕微鏡と、 ハ.該ステージに対して、前記顕微鏡とは反対側に設け
られ、前記被検査体の透過光を顕微鏡に投ずる光源と ニ.前記ステージと前記顕微鏡とを相対的に、前記被検
査体表面の面方向、およびこれと垂直な方向に移動せし
める移動機構と、 ホ.前記顕微鏡にて取り込まれた前記被検査体の被検査
部分の画像を、ビデオ信号として出力するテレビカメラ
と、 ヘ.該ビデオ信号を、ディジタル変換するA/D変換器
と、前記画像の輝度が所定のしきい値以下である黒色領
域を抽出する2値化回路と、各黒色領域の中心座標を求
める演算器と、前記ディジタル変換によって得られたデ
ィジタルデータと前記2値化回路で得られた2値化デー
タと前記移動機構により焦点を被検査体の内方に移動せ
しめて得られる内部画像の輝度のデータとを記憶するメ
モリとからなる画像処理装置と、 ト.被検査体表面の黒色領域の中心部近傍における輝度
と、これに対応する領域における被検査体内部画像の輝
度とを比較して、内部画像の輝度のほうが明るい場合を
ピットと判定する判定器と、 チ.前記判定器により順次得られるピット判定結果を加
算する加算器と、 からなる透明物体のピット自動検査装置。1. A. A stage on which an object to be inspected made of a transparent object is placed, and b. A microscope provided to face the object to be inspected mounted on the stage, and c. A light source which is provided on the opposite side of the stage with respect to the stage, and which projects the transmitted light of the object to be inspected into the microscope. A moving mechanism for moving the stage and the microscope relative to each other in a plane direction of the surface of the object to be inspected and in a direction perpendicular to the surface direction; A television camera that outputs an image of the inspected portion of the inspected object captured by the microscope as a video signal; An A / D converter for digitally converting the video signal, a binarization circuit for extracting a black area in which the brightness of the image is equal to or less than a predetermined threshold value, and an arithmetic unit for obtaining the center coordinates of each black area. , The digital data obtained by the digital conversion, the binarized data obtained by the binarization circuit, and the brightness data of the internal image obtained by moving the focus inward of the inspection object by the moving mechanism. And an image processing device including a memory for storing A discriminator that compares the luminance in the vicinity of the center of the black area on the surface of the inspection object with the luminance of the internal image of the inspection object in the corresponding area, and determines that the internal image is brighter when it is a pit. Ji. An automatic pit pit inspection apparatus for transparent objects, comprising: an adder that adds the pit determination results sequentially obtained by the determination unit.
るステージと、 ロ.該ステージに載置される被検査体に対向して設けら
れた顕微鏡と、 ハ.前記ステージに対して、前記顕微鏡とは反対側に設
けられ、前記被検査体の透過光を顕微鏡に投ずる光源と ニ.前記ステージと前記顕微鏡とを相対的に、前記被検
査体表面の面方向、およびこれと垂直な方向に移動せし
める移動機構と、 ホ.前記顕微鏡にて取り込まれた前記被検査体の被検査
部分の画像を、ビデオ信号として出力するテレビカメラ
と、 ヘ.該ビデオ信号を、ディジタル変換するA/D変換器
と、前記画像の輝度が所定のしきい値以下である黒色領
域を抽出する2値化回路と、各黒色領域の中心座標を求
める演算器と、前記ディジタル変換によって得られたデ
ィジタルデータと前記移動機構により焦点を被検査体の
内方に移動せしめて得られる内部の2値化画像のデータ
を記憶するメモリとからなる画像処理装置と、 ト.被検査体表面の黒色領域の中心部近傍に対応する被
検査体の内部領域が、2値化画像において白色である場
合をピットと判定する判定器と、 チ.前記判定器により順次得られるピット判定結果を加
算する加算器と、 からなる透明物体のピット自動検査装置。2. A. A stage on which an object to be inspected made of a transparent object is placed, and b. A microscope provided to face the object to be inspected mounted on the stage, and c. A light source that is provided on the side opposite to the microscope with respect to the stage, and that projects the transmitted light of the object to be inspected into the microscope. A moving mechanism for moving the stage and the microscope relative to each other in a plane direction of the surface of the object to be inspected and in a direction perpendicular to the surface direction; A television camera that outputs an image of the inspected portion of the inspected object captured by the microscope as a video signal; An A / D converter for digitally converting the video signal, a binarization circuit for extracting a black area in which the brightness of the image is equal to or less than a predetermined threshold value, and an arithmetic unit for obtaining the center coordinates of each black area. An image processing device comprising a digital data obtained by the digital conversion and a memory for storing data of an internal binary image obtained by moving the focal point inwardly of the inspection object by the moving mechanism; . A judging device for judging a pit when the internal area of the object under test corresponding to the vicinity of the center of the black area on the surface of the object under test is white in the binarized image; An automatic pit pit inspection apparatus for transparent objects, comprising: an adder that adds the pit determination results sequentially obtained by the determination unit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18008288A JPH0687045B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Automatic pit inspection system for transparent objects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18008288A JPH0687045B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Automatic pit inspection system for transparent objects |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0231141A JPH0231141A (en) | 1990-02-01 |
| JPH0687045B2 true JPH0687045B2 (en) | 1994-11-02 |
Family
ID=16077140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18008288A Expired - Lifetime JPH0687045B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Automatic pit inspection system for transparent objects |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0687045B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0528031A4 (en) * | 1991-03-06 | 1993-10-20 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method of automatically detecting defects of object to be inspected |
| JP6531579B2 (en) * | 2015-09-10 | 2019-06-19 | 株式会社Sumco | Wafer inspection method and wafer inspection apparatus |
-
1988
- 1988-07-19 JP JP18008288A patent/JPH0687045B2/en not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| NUCLEARINSTRUMENTSANDMETHODSINPHYSICS;RESEARCHB23(’87)369−373 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0231141A (en) | 1990-02-01 |
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