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JPH0690877B2 - Semiconductor memory - Google Patents
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JPH0690877B2 - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

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Publication number
JPH0690877B2
JPH0690877B2 JP59106094A JP10609484A JPH0690877B2 JP H0690877 B2 JPH0690877 B2 JP H0690877B2 JP 59106094 A JP59106094 A JP 59106094A JP 10609484 A JP10609484 A JP 10609484A JP H0690877 B2 JPH0690877 B2 JP H0690877B2
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JP
Japan
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precharge
equalizing
transistor
semiconductor memory
bit lines
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JP59106094A
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明 青野
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Toshiba Corp
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    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は半導体メモリに係り、特に同一カラムの一対の
ビット線のプリチャージ電位をイコライズ(等電位化)
するためにビット線間を短絡させるイコライズ用のMOS
(絶縁ゲート形)トランジスタを備えた半導体メモリに
関する。
Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor memory, and more particularly to equalizing precharge potentials of a pair of bit lines in the same column.
MOS for equalization to short circuit between bit lines to protect
The present invention relates to a semiconductor memory including an (insulated gate type) transistor.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

この種の従来のたとえばスタティック型の半導体メモリ
において、各カラムは第1図に示すように一対のビット
線BL,▲▼に各対応してプリチャージ用のPチャン
ネルトラジスタT1,T2が接続され、上記ビット線BL,▲
▼に接続されたメモリセルM1〜Mnよりもプリチャージ
用トランジスタT1,T2に近い位置でビット線BL,▲▼
間にイコライズ用のPチャネルトランジスタT3が接続さ
れている。LPRは上記トランジスタT1,T2およびT3の各ゲ
ートにプリチャージ信号PRを供給するためのプリチャ
ージ制御線、WL1〜WLnは前記メモリセルM1〜Mnのうち特
定行のメモリセルを選択するためのワード線である。
In this type of conventional static type semiconductor memory, for example, each column is provided with P channel transistors T 1 and T 2 for precharging corresponding to a pair of bit lines BL and ▲ ▼ as shown in FIG. Connected, above bit line BL, ▲
The bit line BL, ▲ ▼ is located closer to the precharge transistors T 1 and T 2 than the memory cells M 1 to Mn connected to ▼.
A P-channel transistor T 3 for equalization is connected between them. L PR is a precharge control line for supplying a precharge signal PR to the gates of the transistors T 1 , T 2 and T 3 , and WL 1 to WLn are memory cells of a specific row among the memory cells M 1 to Mn. Is a word line for selecting.

上記半導体メモリにおいては、読み出しあるいは書き込
みの際に各カラムではプリチャージ用トランジスタT1,T
2がオンになってビット線BL,▲▼がプリチャージ電
源VPRによってプリチャージされ、同時にイコライズ用
トランジスタT3がオンになってビット線BL,▲▼の
プリチャージ電位が等しくされる。
In the above semiconductor memory, the precharge transistors T 1 and T are used in each column when reading or writing.
2 is turned on and the bit line BL, ▲ ▼ is precharged by the precharge power supply V PR , and at the same time, the equalizing transistor T 3 is turned on and the precharge potentials of the bit lines BL, ▲ ▼ are made equal.

〔背景技術の問題点〕[Problems of background technology]

ところで、前記ビット線BL,▲▼は配線抵抗、配線
容量、各メモリセルでの接合容量などが付加されている
ので、プリチャージ用トランジスタT1,T2に近い位置で
のプリチャージおよび等電位化の動作に比べてプリチャ
ージ用トランジスタT1,T2から遠い位置ではプリチャー
ジによる電位の引き上げ及び等電位化が遅れる。このよ
うな遅れによってビット線BL,▲▼の電位が未だ均
一になっていない状態、即ちビット線BL,▲▼に電
位差がある状態で特定行のメモリセルが選択されてその
情報の読み出しが行なわれたとき、ビット線BL,▲
▼間に読み出し情報による正しい電位差が得られなくな
る。この場合、ビット線BL,▲▼間の読み出し情報
による電位差をラッチ型センスアンプ(図示せず)によ
ってセンスするものとすれば、前回の読み出しサイクル
におけるラッチデータと今回の読み出しサイクルにおけ
る読み出し情報とが異なるときにこの情報によりビット
線BL,▲▼の電位の高低関係を反転させるための所
要時間が長くなる。
By the way, since the bit line BL, ▲ ▼ is added with wiring resistance, wiring capacitance, junction capacitance in each memory cell, etc., precharging and equipotential at positions close to the precharging transistors T 1 and T 2. Compared with the operation of equalization, at a position far from the precharging transistors T 1 and T 2 , the raising of potential and equalization of potential by precharging are delayed. Due to such a delay, the potential of the bit line BL, ▲ ▼ is not uniform yet, that is, the bit line BL, ▲ ▼ has a potential difference, the memory cell of a specific row is selected and its information is read. Bit line BL, ▲
During this period, the correct potential difference due to the read information cannot be obtained. In this case, if the potential difference due to the read information between the bit lines BL and ▲ ▼ is sensed by a latch type sense amplifier (not shown), the latch data in the previous read cycle and the read information in the present read cycle are At different times, this information lengthens the time required to invert the potential relationship between the bit lines BL and ▲ ▼.

そこで、前記プリチャージの遅れによるビット線間の電
位差がなくなるようにプリチャージ時間を長くしてプリ
チャージを充分に行なう必要があった。しかし、メモリ
の大容量化に伴ない前記ビット線付加容量が大きくなる
と共に配線幅の縮少によりビット線抵抗が大きくなるの
でプリチャージ時間を一層長くする必要が生じ、このこ
とはメモリ動作の高速化を妨げる大きな要因となる。
Therefore, it is necessary to lengthen the precharge time to sufficiently perform the precharge so that the potential difference between the bit lines due to the delay of the precharge is eliminated. However, as the memory capacity increases, the bit line additional capacity increases, and the bit line resistance increases due to the reduction of the wiring width. Therefore, it is necessary to further lengthen the precharge time. It becomes a big factor to prevent the change.

〔発明の目的〕[Object of the Invention]

本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、プリチャ
ージに際してビット線対が速く等電位化し、高速の読み
出しが可能になる半導体メモリを提供するものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a semiconductor memory in which a bit line pair quickly becomes equipotential during precharge and high-speed reading is possible.

〔発明の概要〕 即ち、本発明は同一カラムの一対のビット線のプリチャ
ージ電位を等電位化するためのイコライズ用トランジス
タを備えた半導体メモリにおいて、前記ビット線に接続
されたメモリセル群のうちビット線プリチャージ用トラ
ンジスタによるプリチャージが最も遅れるメモリセル付
近でビット線間にイコライズ用トランジスタを接続し、
前記ビット線プリチャージ用トランジスタの制御端子に
プリチャージ信号を供給するプリチャージ線を分岐さ
せ、前記イコライズ用トランジスタの制御端子に接続し
たことを特徴とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION That is, the present invention provides a semiconductor memory including an equalizing transistor for equalizing the precharge potentials of a pair of bit lines in the same column, in a memory cell group connected to the bit lines. Connect the equalizing transistor between the bit lines near the memory cell where the precharge by the bit line precharging transistor is most delayed,
A precharge line for supplying a precharge signal to the control terminal of the bit line precharge transistor is branched and connected to the control terminal of the equalizing transistor.

したがって、プリチャージに際してプリチャージが最も
遅れるメモリセル付近でビット線の等電位化が行なわれ
るので、プリチャージ時間が短かくてもプリチャージ時
のビット線間電位差がなくなり、読み出し動作の高速化
を図ることができる。
Therefore, in precharging, since the bit lines are equipotentialized in the vicinity of the memory cell where precharging is most delayed, even if the precharging time is short, the potential difference between the bit lines during precharging is eliminated, and the read operation is speeded up. Can be planned.

〔発明の実施例〕Example of Invention

以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第2図はスタティック型の半導体メモリにおける各カラ
ムの一部を取り出して示しており、第1図に示した従来
例に比べてイコライズ用トラジスタT3の挿入位置が異な
っており、その他は同じであるので第1図中と同一符号
を付してその説明を省略する。
FIG. 2 shows a part of each column in the static semiconductor memory. The insertion position of the equalizing transistor T 3 is different from that of the conventional example shown in FIG. 1, and the other parts are the same. Therefore, the same reference numerals as those in FIG. 1 are given and the description thereof is omitted.

即ち、上記イコライズ用トラジスタT3は、プリチャージ
用トランジスタT1,T2から最も遠いメモリセルM2の付近
であってプリチャージ用トランジスタT1,T2から遠い側
でビット線BL,▲▼に接続されている。
That is, the equalizing Torajisuta T 3, the bit line BL by the precharge transistors T 1, T precharge transistors T 1 and in the vicinity of the memory cell farthest M 2 from 2, farther from T 2, ▲ ▼ It is connected to the.

上記構成によれば、ビット線BL,▲▼のプリチャー
ジに際してプリーチャージが最も遅れるメモリセル付近
でイコライズ用トランジスタT3によりビットBL,▲
▼の等電位化が行なわれるので、ビット線BL,▲▼
は従来例よりも速く等電位化が行なわれる。したがっ
て、プリチャージ時間を従来例ほど長くしなくてもプリ
チャージの遅れによる問題を解消することができ、この
後の特定行のメモリセルからの読み出し情報による正常
な電位差をビット線間に得ることができる。したがっ
て、上記メモリによれば従来例のメモリに比べて高速動
作が可能になり、メモリの大容量化に伴ないプリチャー
ジの遅れが大きくなるほど前述したようなプリチャージ
電源から遠い位置でのイコライズ動作による高速化の効
果が大きくなる。
According to the above configuration, the bit lines BL, ▲ ▼ bit BL by equalizing transistors T 3 pulley charge is near the most delayed memory cell during precharge, ▲
Since ▼ is equipotentialized, bit line BL, ▲ ▼
Makes the equipotentialization faster than in the conventional example. Therefore, it is possible to solve the problem due to the delay of precharge without making the precharge time longer than in the conventional example, and to obtain a normal potential difference between the bit lines due to the read information from the memory cell of a specific row after that. You can Therefore, the above memory enables higher speed operation than the conventional memory, and the larger the capacity of the memory, the larger the delay in precharge becomes, and the equalizing operation at the position farther from the precharge power source as described above. The effect of speeding up is increased.

なお、本発明は上記実施例のスタティック型メモリに限
られるものではなく、またイコライズ用トランジスタも
1個に限られるものではない。即ち、第3図に示すよう
に従来例(第1図)のT3の位置にイコライズ用トランジ
スタT4を追加し、さらには第4図に示すようにメモリセ
ルM1〜Mn内の数個(あるいは1個)のセル間隔でビット
線間にイコライズ用トランジスタT5…を追加することに
よってビット線BL,▲▼の等電位化を一層速く行な
わせることができる。
The present invention is not limited to the static type memory of the above embodiment, and the equalizing transistor is not limited to one. That is, as shown in FIG. 3, an equalizing transistor T 4 is added to the position of T 3 of the conventional example (FIG. 1), and further, several transistors in the memory cells M 1 to Mn are added as shown in FIG. By adding the equalizing transistors T 5 ... Between the bit lines at (or one) cell intervals, the potential equalization of the bit lines BL, ▲ ▼ can be made faster.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

上述したように本発明の半導体メモリによれば、プリチ
ャージに際して同一カラムのビット線対を速く等電位化
することができ、メモリの読み出し動作の高速化を図る
ことができ、メモリの大容量化に伴なうプリチャージの
遅れによる問題を解消することができる。
As described above, according to the semiconductor memory of the present invention, it is possible to quickly equalize the potentials of bit line pairs in the same column during precharging, speed up the read operation of the memory, and increase the memory capacity. It is possible to solve the problem due to the delay of precharge accompanying the above.

【図面の簡単な説明】 第1図は従来の半導体メモリの一部を示す回路図、第2
図は本発明の一実施例に係る半導体メモリの一部を示す
回路図、第3図および第4図はそれぞれ他の実施例を示
す回路図である。 BL,▲▼……ビット線、M1〜Mn……メモリセル、T1,
T2……プリチャージ用トランジスタ、T3〜T5……イコラ
イズ用トランジスタ。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a circuit diagram showing a part of a conventional semiconductor memory, and FIG.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a part of a semiconductor memory according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 and 4 are circuit diagrams showing other embodiments. BL, ▲ ▼ …… bit line, M 1 to Mn …… memory cell, T 1 ,
T 2 …… Precharge transistor, T 3 to T 5 …… Equalize transistor.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−169994(JP,A) 特開 昭56−117389(JP,A) 特開 昭56−10587(JP,A) 特開 昭60−234293(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) Reference JP-A-57-169994 (JP, A) JP-A-56-117389 (JP, A) JP-A-56-10587 (JP, A) JP-A-60- 234293 (JP, A)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】同一カラムの一対のビット線のプリチャー
ジ電位を等電位化するためのイコライズ用トランジスタ
を備えた半導体メモリにおいて、 前記ビット線の対を互いにプリチャージ電位に設定する
ため、プリチャージ電源とそれぞれのビット線との間に
電流通路が接続されるビット線プリチャージ用トランジ
スタと、 前記ビット線プリチャージ用トランジスタの制御端子に
プリチャージ信号を供給するプリチャージ線と、 前記プリチャージ線を分岐させプリチャージ信号を分配
する手段と、 前記カラム内のメモリセル間所々に設けられ、前記分岐
させたプリチャージ線がそれぞれ制御端子に、電流通路
が対のビット線間に接続された複数のイコライズ用トラ
ンジスタとを具備し、 前記イコライズ用のトランジスタのうちの1つは前記ビ
ット線プリチャージ用トランジスタによるプリチャージ
が最も遅れるメモリセルの付近に配置することを特徴と
した半導体メモリ。
1. A semiconductor memory comprising an equalizing transistor for equalizing the precharge potentials of a pair of bit lines in the same column, wherein the pair of bit lines are set to a precharge potential with respect to each other. A bit line precharge transistor having a current path connected between a power supply and each bit line; a precharge line for supplying a precharge signal to a control terminal of the bit line precharge transistor; and the precharge line And a means for branching a precharge signal to distribute the precharge signal, and a plurality of branch precharge lines connected to the control terminals and current paths connected between a pair of bit lines. And an equalizing transistor, wherein one of the equalizing transistors is Semiconductor memory characterized by precharging by Tsu preparative line precharging transistors are arranged in the vicinity of the most delayed memory cell.
【請求項2】前記イコライズ用トランジスタは前記メモ
リセルの1個あるいは複数個のセル間隔で設けられてい
ることを特徴とする前記特許請求の範囲第1項記載の半
導体メモリ。
2. The semiconductor memory according to claim 1, wherein the equalizing transistors are provided at intervals of one or a plurality of the memory cells.
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JPS595989B2 (en) * 1980-02-16 1984-02-08 富士通株式会社 Static random access memory
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