JPH0691018B2 - Optical excitation processor - Google Patents
Optical excitation processorInfo
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- JPH0691018B2 JPH0691018B2 JP21373985A JP21373985A JPH0691018B2 JP H0691018 B2 JPH0691018 B2 JP H0691018B2 JP 21373985 A JP21373985 A JP 21373985A JP 21373985 A JP21373985 A JP 21373985A JP H0691018 B2 JPH0691018 B2 JP H0691018B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、光励起化学反応を利用して基板上に薄膜を形
成したり、基板表面をエッチングする光励起処理装置の
改良に関する。Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an improvement in a photoexcitation processing apparatus for forming a thin film on a substrate by utilizing a photoexcited chemical reaction or etching the substrate surface.
近年、光エネルギーによる化学反応を利用し、原料ガス
を分解して半導体ウェハやガラス等の試料基板上に薄膜
を形成する方法が開発されている。この方法は光CVD法
と称され、通常の膜形成法と比較し、低温で膜形成がで
きることや荷電粒子によるダメージがない等の特長を有
しており、今後の薄膜形成技術においても重要な位置を
占めるものとして注目されている。In recent years, a method has been developed in which a chemical reaction by light energy is used to decompose a raw material gas to form a thin film on a sample substrate such as a semiconductor wafer or glass. This method is called an optical CVD method, and has the advantages of being able to form a film at a low temperature and not being damaged by charged particles, as compared with the ordinary film forming method, and will be important in future thin film forming technology. It is attracting attention as one that occupies a position.
第4図は従来の光CVD装置を模式的に示す概略構成図
で、(a)は横断面を、(b)は縦断面を示している。
石英管43内に低圧水銀ランプ44が配置されており、外部
円筒45の内面に基板46が載置されている。石英管43と外
部円筒45との間の空間を10-6[torr]台まで排気し、こ
の空間にモノシラン(SiH4)と水銀を導入する。そし
て、基板46を抵抗加熱等により加熱し、水銀ランプ44を
点灯して基板46に紫外光を照射することにより、基板46
の表面に非晶質シリコン膜を堆積形成するものとなって
いる。FIG. 4 is a schematic configuration diagram schematically showing a conventional photo-CVD apparatus, in which (a) shows a horizontal section and (b) shows a vertical section.
A low-pressure mercury lamp 44 is arranged in a quartz tube 43, and a substrate 46 is placed on the inner surface of an outer cylinder 45. The space between the quartz tube 43 and the outer cylinder 45 is evacuated to the 10 -6 [torr] level, and monosilane (SiH 4 ) and mercury are introduced into this space. Then, the substrate 46 is heated by resistance heating or the like, the mercury lamp 44 is turned on, and the substrate 46 is irradiated with ultraviolet light.
An amorphous silicon film is deposited and formed on the surface of the.
しかしながら、この種の装置にあっては次のような問題
があった。即ち、中心部に光源が存在するので、薄膜の
堆積速度を速めるためには、石英管43と外部円筒45との
間の距離を短くし、基板46上での紫外光強度を大きくす
る必要がある。しかし、距離を短くすると、外部円筒45
に載置できる基板46の枚数が少なくなる。従って、大量
の基板を短時間で処理するのは困難であり、量産に適さ
ない等の問題があった。However, this type of device has the following problems. That is, since the light source exists in the central portion, it is necessary to shorten the distance between the quartz tube 43 and the outer cylinder 45 and increase the ultraviolet light intensity on the substrate 46 in order to increase the deposition rate of the thin film. is there. However, if the distance is reduced, the external cylinder
The number of substrates 46 that can be placed on the substrate is reduced. Therefore, it is difficult to process a large amount of substrates in a short time, and there is a problem that it is not suitable for mass production.
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、その目的
とするところは、高い堆積速度或いはエッチング速度で
大量の基板を同時に処理することができ、スループット
の向上をはかり得る光励起処理装置を提供することにあ
る。The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and an object thereof is to provide a photoexcitation processing apparatus capable of simultaneously processing a large amount of substrates at a high deposition rate or etching rate and improving throughput. To do.
本発明の骨子は、複数の光源を用いると共に、該光源の
内側及び外側に基板を配置できる構成とすることによ
り、スループットの向上をはかることにある。The essence of the present invention is to improve throughput by using a plurality of light sources and arranging substrates inside and outside the light sources.
即ち本発明は、原料ガス雰囲気中に配置された被処理基
板の表面に光を照射して、該基板表面に対し薄膜形成や
エッチング等を行う光励起膜形成装置において、一軸方
向に沿って配置されその外周面に複数の被処理基板を載
置する中心物体と、光を透過する材料からなり上記中心
物体の外側に該物体と同軸的に配置された第1の透明円
筒体と、光を透過する材料からなり上記第1の円筒体の
外側に該円筒体と同軸的に配置された第2の透明円筒体
と、この第2の透明円筒体の外側に該円筒体と同軸的に
配置され、その内面に複数の被処理基板を載置する外部
円筒体と、前記第1及び第2の透明円筒体間に配置され
前記各被処理基板に光を照射する複数の光源とを設ける
ようにしたものである。That is, the present invention is a photoexcited film forming apparatus that irradiates the surface of a substrate to be processed placed in a source gas atmosphere with light to perform thin film formation, etching, etc. on the surface of the substrate, and is arranged along a uniaxial direction. A central object on which a plurality of substrates to be processed are placed on its outer peripheral surface, a first transparent cylindrical body made of a light-transmitting material and arranged coaxially with the object outside the central object, and a light-transmitting material. And a second transparent cylinder which is made of a material that is arranged coaxially with the cylinder outside the first cylinder, and is arranged coaxially with the cylinder outside the second transparent cylinder. An outer cylindrical body for mounting a plurality of substrates to be processed on its inner surface, and a plurality of light sources arranged between the first and second transparent cylinders for irradiating each of the substrates to be processed with light. It was done.
本発明によれば、光源が配置される空間の内側及び外側
に基板を配置できる構成としているので、大量の基板を
同時に処理することができる。さらに、光源と基板との
距離を近付けても、従来装置に比べ大量の基板を処理す
ることができる。つまり、薄膜の堆積速度或いは基板表
面のエッチング速度を速くでき、且つ大量の基板を同時
に処理することがきる。このため、スループットの大幅
な向上をはかり得る。According to the present invention, since the substrates can be arranged inside and outside the space where the light source is arranged, a large number of substrates can be processed at the same time. Furthermore, even if the distance between the light source and the substrate is reduced, a large amount of substrates can be processed as compared with the conventional device. That is, the deposition rate of the thin film or the etching rate of the substrate surface can be increased, and a large number of substrates can be processed at the same time. Therefore, the throughput can be significantly improved.
また、光源に対し、内側と外側とで薄膜の堆積速度を変
えることもでき、2種の堆積速度で複数の基板に同時に
薄膜を形成することができる。また、光源と中心物体及
び外部円筒体とを相対的に回転させる構成にすれば、光
強度の不均一性に起因する堆積速度の不均一化を未然に
防止することができる。Further, the deposition rate of the thin film can be changed between the inner side and the outer side with respect to the light source, and the thin film can be simultaneously formed on a plurality of substrates at two types of deposition rates. Further, if the light source is relatively rotated with respect to the central body and the outer cylindrical body, it is possible to prevent the deposition rate from becoming non-uniform due to the non-uniformity of the light intensity.
以下、本発明の詳細を図示の実施例によって説明する。 Hereinafter, details of the present invention will be described with reference to illustrated embodiments.
第1図は本発明の第1の実施例に係わる光励起膜形成装
置を模式的に示す概略構成図であり、(a)は横断面を
示し、(b)は横断面を示している。図中11は中心円筒
体であり、この円筒体11の外面には被処理基板16が載置
される。円筒体11の外側には、合成石英管からなる第1
の透明円筒体12及び該円筒体12よりも径の大きな第2の
透明円筒体13が、円筒体11と同軸的に配置されている。
透明円筒体12,13間には、例えば低圧水銀ランプからな
る複数の紫外光源14が配置される。即ち、円筒体12,13
間に、複数の棒状光源14が軸方向に沿って、且つ等間隔
に配置されている。第2の透明円筒体13の外側には、外
部円筒体15が配置されている。そして、この外部円筒体
15の内面には、被処理基板16が載置されるものとなって
いる。FIG. 1 is a schematic configuration diagram schematically showing a photoexcitation film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention, in which (a) shows a cross section and (b) shows a cross section. Reference numeral 11 in the figure denotes a central cylindrical body, and the substrate 16 to be processed is placed on the outer surface of the cylindrical body 11. On the outside of the cylindrical body 11, a first synthetic quartz tube is provided.
The transparent cylinder 12 and the second transparent cylinder 13 having a diameter larger than that of the cylinder 12 are arranged coaxially with the cylinder 11.
A plurality of ultraviolet light sources 14, which are, for example, low-pressure mercury lamps, are arranged between the transparent cylinders 12 and 13. That is, the cylindrical body 12, 13
In between, a plurality of rod-shaped light sources 14 are arranged at equal intervals along the axial direction. An outer cylindrical body 15 is arranged outside the second transparent cylindrical body 13. And this external cylinder
The substrate 16 to be processed is placed on the inner surface of 15.
次に、上記構成された本装置の作用について、アモルフ
ァスシリコン(a−Si)の形成を例にとり説明する。Next, the operation of the present apparatus configured as described above will be described by taking the formation of amorphous silicon (a-Si) as an example.
まず、中心円筒体11と第1の透明円筒体12との間の空間
17及び第2の透明円筒体13と外部円筒体15との間の空間
18をそれぞれ10-6[torr]台まで排気し、これらの空間
17,18に原料ガスとして水銀を含んだモノシラン(Si
H4)ガス流量100[sccm]、圧力1[torr]で導入す
る。次いで、基板16を抵抗加熱等により250[℃]に加
熱し、低圧水銀ランプ14を点灯し、波長254[nm],185
[nm]の紫外光を基板16の表面に照射する。First, the space between the central cylindrical body 11 and the first transparent cylindrical body 12
Space between 17 and second transparent cylinder 13 and outer cylinder 15
Evacuate 18 to 10 -6 [torr] units each, and these spaces
Monosilane containing 17 and 18 as source gas with mercury (Si
H 4 ) Gas is introduced at a flow rate of 100 [sccm] and a pressure of 1 [torr]. Then, the substrate 16 is heated to 250 [° C.] by resistance heating or the like, the low-pressure mercury lamp 14 is turned on, and the wavelength is 254 [nm], 185.
The surface of the substrate 16 is irradiated with ultraviolet light of [nm].
その結果、3[μm/h]の堆積速度で±10[%]以下の
均一性で、基板16上にa−Si膜が形成された。そしてこ
の場合、従来装置と比較して、堆積速度が速いので所望
の膜厚を短時間で得ることができ、且つ大量の基板を同
時に処理することができた。As a result, an a-Si film was formed on the substrate 16 with a deposition rate of 3 [μm / h] and a uniformity of ± 10 [%] or less. In this case, the deposition rate is higher than that of the conventional apparatus, so that a desired film thickness can be obtained in a short time, and a large number of substrates can be processed at the same time.
このように本実施例によれば、大量の基板を同時に処理
することができ、且つ速い堆積速度で薄膜形成を行うこ
とができる。このため、スループットの大幅な向上をは
かり得る。また、基板16の光源14からの距離を空間17,1
8で異ならせる、或いは空間17,18へのガス導入量を異な
らせることにより、空間17,18で薄膜の堆積速度を変え
ることも可能である。As described above, according to this embodiment, a large number of substrates can be processed at the same time, and a thin film can be formed at a high deposition rate. Therefore, the throughput can be significantly improved. In addition, the distance from the light source 14 of the substrate 16 to the space 17,1
It is also possible to change the deposition rate of the thin film in the spaces 17 and 18 by making them different in 8 or by making the amount of gas introduced into the spaces 17 and 18 different.
第2図は第2の実施例の概略構造を示す縦断面図であ
る。なお、第1図と同一部分には同一符号を付して、そ
の詳しい説明は省略する。FIG. 2 is a vertical sectional view showing the schematic structure of the second embodiment. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
この実施例が先に説明した第1の実施例と異なる点は、
光源14を取付けた透明円筒体12,13を回転するようにし
たことにある。即ち、第1及び第2の透明円筒体12,13
は、中心円筒体11及び外部円筒体15を固定した板体21,2
2に対し、ベアリング23を介して支持されている。そし
て、中心円筒体11の軸心に対し回転可能な構造となって
いる。なお、上記ベアリング23は真空に持たないため、
Oリングシール等と組合わせて用いられる。また、透明
円筒体12,13の底部は円板体24に固定されている。そし
て、この円板体24はモータ25により、中心円筒体11の軸
心として回転されるものとなっている。The difference between this embodiment and the first embodiment described above is that
This is because the transparent cylindrical bodies 12 and 13 to which the light source 14 is attached are rotated. That is, the first and second transparent cylindrical bodies 12, 13
Is a plate body 21, 2 to which the central cylinder body 11 and the outer cylinder body 15 are fixed.
2 is supported via a bearing 23. The structure is rotatable about the axis of the central cylindrical body 11. Since the bearing 23 does not have a vacuum,
Used in combination with O-ring seals. Further, the bottom portions of the transparent cylindrical bodies 12 and 13 are fixed to the disc body 24. The disc body 24 is rotated by the motor 25 as the axis of the central cylindrical body 11.
このような構成であれば、第1及び第2の透明円筒体1
2,13を回転することにより、光源14を回転させることが
できる。このため、光源14に発光強度のムラ等があって
も、基板15の表面に照射される光量の積分値を均一にす
ることができる。従って、先の第1の実施例と同様の効
果が得られるのは勿論のこと、薄膜形成速度のより均一
化をはかり得る等の利点がある。With such a configuration, the first and second transparent cylindrical bodies 1
By rotating 2, 13, the light source 14 can be rotated. Therefore, even if the light source 14 has uneven emission intensity, the integrated value of the amount of light with which the surface of the substrate 15 is irradiated can be made uniform. Therefore, not only the same effects as those of the first embodiment described above can be obtained, but also there are advantages such that the thin film formation rate can be made more uniform.
第3図は第3の実施例の概略構造を模式的に示す縦断面
図である。なお、第1図と同一部分には同一符号を付し
て、その詳しい説明は省略する。FIG. 3 is a vertical sectional view schematically showing the schematic structure of the third embodiment. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
この実施例が先に説明した第1の実施例と異なる点は、
各円筒体の片端部において封管構造を採用したことにあ
る。即ち、外部円筒体15の底部開口は、円板体31により
閉塞されている。中心円筒体11の底部開口部も同様に、
円板体32により閉塞されている。さらに、第1及び第2
の透明円筒体12,13の底部は中空円板体33により接続さ
れ、第1及び第2の透明円筒体12,13間の円環状空間の
底部側は閉塞されている。The difference between this embodiment and the first embodiment described above is that
This is because a sealed tube structure was adopted at one end of each cylinder. That is, the bottom opening of the outer cylindrical body 15 is closed by the disc body 31. Similarly for the bottom opening of the central cylindrical body 11,
It is closed by the disc body 32. Furthermore, the first and second
The bottoms of the transparent cylinders 12 and 13 are connected by a hollow disc body 33, and the bottom side of the annular space between the first and second transparent cylinders 12 and 13 is closed.
このような構成であれば、外部円筒体15と第2の透明円
筒体13との間の空間18から原料ガスを導入し、第1の透
明円筒体12と中心円筒体11との間の空間17からガスを排
気することができる。With such a structure, the raw material gas is introduced from the space 18 between the outer cylindrical body 15 and the second transparent cylindrical body 13, and the space between the first transparent cylindrical body 12 and the central cylindrical body 11 is introduced. Gas can be vented from 17.
この装置で先と同様に原料ガス流量100[sccm]で薄膜
を形成したとろこ、外部円筒体15に載置した基板で堆積
速度3[μm/h],均一性±10[%]以下、中心円筒体1
1に載置した基板で堆積速度2.5[μm/h],均一性10
[%]以下のa−Siが得られた。このとき、ガスの流路
面積は先の第1の実施例の1/2となるので、同じ流量で
あっても使用ガスの量は1/2で済むことになる。With this device, a thin film was formed with a source gas flow rate of 100 [sccm] as in the previous case, a substrate placed on the outer cylindrical body 15 had a deposition rate of 3 [μm / h], uniformity of ± 10 [%] or less, Central cylinder 1
Deposition rate of 2.5 [μm / h] and uniformity of 10 on the substrate placed on 1
[%] Or less a-Si was obtained. At this time, the flow path area of the gas is half that of the first embodiment, so that the amount of gas used can be half even at the same flow rate.
かくして本実施例によれば、先の第1の実施例と同様の
効果が得られるのは勿論のこと、原料ガスの使用量が半
分で済むことになり、原料ガスの利用効率が向上すると
云う利点がある。Thus, according to this embodiment, not only the same effects as those of the first embodiment can be obtained, but also the amount of raw material gas used can be halved and the utilization efficiency of raw material gas is improved. There are advantages.
なお、本発明は上述した各実施例に限定されるものでは
ない。例えば、前記中心物体は円筒に限るものではな
く、角筒であってもよく、更には筒体でなくてもよい。
但し、基板を加熱するためには、筒体の方が加熱機構を
設け易いので望ましい。さらに、中心物体に載置される
基板は、円筒状のAl基板等でもよい。また、光源は低圧
水銀ランプに限るものではなく、重水素ランプ等でも構
わない。さらに、圧力,ガス流量及び基板温度等の条件
は、必要とする膜厚、膜質により適宜定めればよい。The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments. For example, the central object is not limited to a cylinder, but may be a rectangular cylinder, or may not be a cylinder.
However, in order to heat the substrate, the tubular body is preferable because it is easier to provide the heating mechanism. Further, the substrate placed on the central object may be a cylindrical Al substrate or the like. Further, the light source is not limited to the low pressure mercury lamp, but may be a deuterium lamp or the like. Furthermore, conditions such as pressure, gas flow rate and substrate temperature may be appropriately determined depending on the required film thickness and film quality.
また、原料ガスはモノシラン(SiH4)に限るものではな
く、他の高次シラン{例えばジシラン(Si2H6),トリ
シラン(Si3H8)}、メチルシラン系ガス{例えばジメ
チルシラン(SiH2(CH3)2)}或いはゲルマン系ガス
{例えばゲルマン(GeH4)}でもよい。さらに、形成す
る薄膜は、a−Siに限るものではなく、シリコン酸化膜
やシリコン窒化膜等でもよい。シリコン酸化膜やシリコ
ン窒化膜等を形成する場合には、原料ガスとして亜酸化
窒素(N2O),アンモニア(NH3)等をモノシラン等と混
合して用いればよい。また、水銀を含まない直接励起で
もよい。The source gas is not limited to monosilane (SiH 4 ), but other high-order silanes {eg disilane (Si 2 H 6 ), trisilane (Si 3 H 8 )}, methylsilane-based gas {eg dimethylsilane (SiH 2). (CH 3 ) 2 )} or germane type gas {eg germane (GeH 4 )}. Further, the thin film to be formed is not limited to a-Si, but may be a silicon oxide film, a silicon nitride film, or the like. When forming a silicon oxide film, a silicon nitride film, or the like, nitrous oxide (N 2 O), ammonia (NH 3 ) or the like may be mixed with monosilane or the like as a source gas. Alternatively, direct excitation that does not include mercury may be used.
また、実施例では光CVD法による薄膜形成について説明
したが、本発明は光励起エッチングに適用することも可
能である。例えば、Siウェハ上の熱酸化SiO2膜上に成長
させたリン添加ポリSi膜に、F,Clを含むガス(例えばCl
2)中で、Hg−Xeランプからの紫外光を照射した結果、
エッチング速度0.2[μm/min],エッチングの均一性±
10[%]以下と云う値が得られた。Further, although the thin film formation by the photo CVD method is described in the embodiment, the present invention can be applied to the photoexcitation etching. For example, in a phosphorus-doped poly-Si film grown on a thermally oxidized SiO 2 film on a Si wafer, a gas containing F and Cl (for example, Cl
2 ) In, the result of irradiating the ultraviolet light from the Hg-Xe lamp,
Etching rate 0.2 [μm / min], etching uniformity ±
A value of 10% or less was obtained.
要するに、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で、種々
変形して実施することができる。In short, the present invention can be variously modified and carried out without departing from the scope of the invention.
第1図は本発明の第1の実施例に係わる光励起膜形成装
置を模式的に示す概略構成図、第2図は第2の実施例の
概略構成を示す縦断面図、第3図は第3の実施例を模式
的に示す概略構成図、第4図は従来装置を模式的に示す
概略構成図である。 11……中心円筒体(中心物体)、12……第1の透明円筒
体、13……第2の透明円筒体、14……光源、15……外部
円筒体、16……被処理基板、17,18……空間、21,22……
板体、23……ベアリング、24……円板体、25……モー
タ。FIG. 1 is a schematic configuration diagram schematically showing a photoexcitation film forming apparatus according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a vertical sectional view showing a schematic configuration of the second embodiment, and FIG. 3 is a schematic configuration diagram schematically showing the third embodiment, and FIG. 4 is a schematic configuration diagram schematically showing a conventional device. 11 ... central cylinder (central object), 12 ... first transparent cylinder, 13 ... second transparent cylinder, 14 ... light source, 15 ... external cylinder, 16 ... substrate to be processed, 17,18 …… Space, 21,22 ……
Plate, 23 …… Bearing, 24 …… Disc, 25 …… Motor.
Claims (7)
の表面に光を照射して、該基板表面に対し薄膜形成やエ
ッチング等を行う光励起処理装置において、一軸方向に
沿って配置されその外周面に複数の被処理基板を載置す
る中心物体と、光を透過する材料からなり上記中心物体
の外側に該物体と同軸的に配置された第1の透明円筒体
と、光を透過する材料からなり上記第1の円筒体の外側
に該円筒体と同軸的に配置された第2の透明円筒体と、
この第2の透明円筒体の外側に該円筒体と同軸的に配置
され、その内面に複数の被処理基板を載置する外部円筒
体と、前記第1及び第2の透明円筒体間に配置され前記
各被処理基板に光を照射する複数の光源とを具備してな
ることを特徴とする光励起処理装置。1. A photo-excitation processing apparatus for irradiating a surface of a substrate to be processed, which is placed in a source gas atmosphere, with light to form a thin film or etch the substrate surface. A central object on which a plurality of substrates to be processed are placed on the outer peripheral surface, a first transparent cylindrical body made of a light-transmitting material and arranged coaxially with the object outside the central object, and transmitting light. A second transparent cylinder made of a material and arranged coaxially with the first cylinder outside the first cylinder;
An external cylinder, which is coaxially arranged with the cylindrical body outside the second transparent cylinder and has a plurality of substrates to be processed mounted on its inner surface, and the first and second transparent cylinders. And a plurality of light sources for irradiating each of the substrates to be processed with light.
とする特許請求の範囲第1項記載の光励起処理装置。2. The optical excitation processing device according to claim 1, wherein the central object is a cylindrical body.
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光励起処
理装置。3. The optical excitation processing device according to claim 1, wherein the light source emits ultraviolet light.
れ、且つ前記第1及び第2の透明円筒体間に等間隔に配
置されたものであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の光励起処理装置。4. The light source is arranged in parallel with the central object, and is arranged at equal intervals between the first and second transparent cylinders. The optical excitation processing device according to the item.
少なくとも一方は、前記中心物体の軸心を中心として回
転されるものであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の光励起処理装置。5. The claim 1, wherein at least one of the central object and the outer cylindrical body and the light source is rotated about an axis of the central object. Optical excitation processor.
おり、前記第1及び第2の透明円筒体で囲まれた円環状
の空間の一方は閉塞されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の光励起処理装置。6. The outer cylindrical body is closed at one end, and one of the annular spaces surrounded by the first and second transparent cylindrical bodies is closed. The optical excitation processing device according to claim 1.
から原料ガスを導入し、前記中心物体と第1の透明円筒
体との間から上記ガスを排気することを特徴とする特許
請求の範囲第6項記載の光励起処理装置。7. A source gas is introduced between the outer cylindrical body and the second transparent cylindrical body, and the gas is exhausted between the central body and the first transparent cylindrical body. The optical excitation processing device according to claim 6.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21373985A JPH0691018B2 (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Optical excitation processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21373985A JPH0691018B2 (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Optical excitation processor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6273727A JPS6273727A (en) | 1987-04-04 |
| JPH0691018B2 true JPH0691018B2 (en) | 1994-11-14 |
Family
ID=16644205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21373985A Expired - Lifetime JPH0691018B2 (en) | 1985-09-27 | 1985-09-27 | Optical excitation processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0691018B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63307279A (en) * | 1987-06-05 | 1988-12-14 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Photochemical reaction treatment device |
-
1985
- 1985-09-27 JP JP21373985A patent/JPH0691018B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6273727A (en) | 1987-04-04 |
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