JPH0691116B2 - Die bonding equipment - Google Patents
Die bonding equipmentInfo
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- JPH0691116B2 JPH0691116B2 JP61237762A JP23776286A JPH0691116B2 JP H0691116 B2 JPH0691116 B2 JP H0691116B2 JP 61237762 A JP61237762 A JP 61237762A JP 23776286 A JP23776286 A JP 23776286A JP H0691116 B2 JPH0691116 B2 JP H0691116B2
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- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 22
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 2
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はダイボンデイング装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a die bonding apparatus.
[従来の技術] ダイボンデイング装置には、複数のダイに分割されたウ
エハーから直接ダイをボンデイング装置によって1個づ
つ吸着及び移送してリードフレーム又はセラミック基板
(以下リードフレームの場合について説明する)にボン
デイングする直接ダイボンデイング装置と、ダイピック
アップ位置とダイボンデイング位置との間にダイを一旦
載置するバッファ部を設け、ウエハーから移送装置によ
ってダイを1個づつ吸着及び移送して前記バッファ部に
載置し、このバッファ部のダイをボンデイング装置によ
って吸着及び移送してリードフレームにボンデイングす
る間接ダイボンデイング装置とがある。[Prior Art] In a die bonding apparatus, a die is directly attracted and transferred from a wafer divided into a plurality of dies to a lead frame or a ceramic substrate (hereinafter, the case of a lead frame will be described). A direct die bonding device for bonding and a buffer part for temporarily mounting the dies between the die pickup position and the die bonding position are provided, and the dies are picked up and transferred one by one by a transfer device from the wafer and mounted on the buffer part. There is an indirect die bonding apparatus in which the die of the buffer section is sucked and transferred by a bonding apparatus and bonded to the lead frame.
前者の直接ダイボンデイング装置は、ダイボンデイング
装置のボンデイングヘッドの吸着部が加熱される(リー
ドフレームは一定温度に加熱されてボンデイングされ
る。これによりボンデイングヘッドは加熱される)の
で、ボンデイングヘッドでダイを吸着する際に、ボンデ
イングヘッドの熱がウエハーの貼付けられている粘着シ
ートに伝わり、粘着シートがゆるんだり溶けたりする。
これにより、粘着シート上のダイの整列が乱れ、ダイピ
ックアップが不可能又はボンデイング不良が生じるとい
う問題点を有するので、最近はもっぱら後者の間接ダイ
ボンデイング装置が用いられている。In the former direct die bonding machine, the suction part of the bonding head of the die bonding machine is heated (the lead frame is heated to a certain temperature and bonded, which heats the bonding head). When adsorbing, the heat of the bonding head is transferred to the adhesive sheet on which the wafer is attached, and the adhesive sheet loosens or melts.
As a result, the alignment of the dies on the pressure-sensitive adhesive sheet is disturbed, and there is a problem that die pick-up becomes impossible or bonding failure occurs. Therefore, recently, the latter indirect die bonding apparatus is mainly used.
従来、かかる間接ダイボンデイング装置として、例えば
特公昭57-44014号公報に示すものが知られている。Conventionally, as such an indirect die bonding apparatus, for example, one shown in Japanese Patent Publication No. 57-44014 is known.
この構造は、ウエハーからのダイピックアップ位置とダ
イボンデイング位置との間に間欠的に移動される粘着テ
ープを設け、ウエハーから移送装置によってダイを一個
づつ吸着して前記粘着テープに貼付け、この粘着テープ
に貼付けられたダイをボンデイングヘッドの吸着部で吸
着及び移送してリードフレームにボンデイングするよう
になつている。In this structure, an adhesive tape that is intermittently moved is provided between a die pick-up position from the wafer and a die bonding position, and the die is sucked from the wafer one by one by a transfer device and attached to the adhesive tape. The die attached to the above is sucked and transferred by the suction portion of the bonding head and bonded to the lead frame.
[発明が解決しようとする問題点] 上記従来例は、ダイを粘着テープに貼付けるので、粘着
テープよりボンデイングヘッドでダイを吸着した後でな
ければ移送装置より粘着テープにダイを貼付けることが
できない。[Problems to be Solved by the Invention] In the above conventional example, since the die is attached to the adhesive tape, the die may be attached to the adhesive tape from the transfer device only after the die is adsorbed by the bonding head from the adhesive tape. Can not.
ところで、1枚のウエハーには約3割しか良品のダイが
ない。そこで、良品のダイが連続している時は、移送装
置の動作サイクルとボンデイングヘッドの動作サイクル
とが釣合い問題ないが、不良品のダイが連続している時
には、良品のダイを検出するまでの時間が長くなり、両
者の動作サイクルのバランスがこわれ、ボンデイングヘ
ッドの動作が一時停止し、生産性が低下するという問題
点があった。また粘着テープは再使用できなく消耗品で
あるので、この分製品のコストがアツプするという問題
点も有する。By the way, only about 30% of wafers have good dies. Therefore, when good dies are continuous, there is no balance between the operation cycle of the transfer device and the operation cycle of the bonding head, but when defective dies are continuous, until the good dies are detected. There is a problem that the time becomes longer, the balance between the operation cycles of both is broken, the operation of the bonding head is temporarily stopped, and the productivity is reduced. Further, since the adhesive tape cannot be reused and is a consumable item, there is a problem that the cost of the product is increased accordingly.
本発明の目的は、生産性の向上及びコスト低減が図れる
ダイボンデイング装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide a die bonding apparatus capable of improving productivity and reducing cost.
[問題点を解決するための手段] 上記従来技術の問題点は、複数のダイに分割されたウエ
ハーが取付けられ、直交する2方向に駆動されるウエハ
ーテーブルと、傾斜部及び平担部を有すると共に、傾斜
部及び平担部に沿ってガイド溝が形成され、かつ平担部
の傾斜部下端側にダイ位置決め穴が形成されたバッファ
と、平坦部の近くの傾斜部に設けられ、傾斜部のガイド
溝に位置する先端のダイを保持し前記ダイ位置決め穴に
ダイがない時に先端の1個のダイのみをダイ位置決め穴
に落し込むダイ供給手段と、前記ウエハーテーブルのダ
イピックアップ位置より前記バッファの傾斜部のガイド
溝にダイを移送する移送手段と、リードフレーム等を間
欠的に搬送するリードフレーム搬送ラインと、前記バッ
ファのダイ位置決め穴に位置するダイを前記リードフレ
ーム搬送ラインのボンデイング位置に移送してリードフ
レーム等にボンデイングするボンデイング手段とから構
成することにより解決される。[Means for Solving Problems] A problem of the above-mentioned conventional technique is that it has a wafer table mounted with a wafer divided into a plurality of dies and driven in two orthogonal directions, and an inclined portion and a flat portion. At the same time, a guide groove is formed along the inclined portion and the flat portion, and a buffer in which a die positioning hole is formed on the lower end side of the inclined portion of the flat portion, and the inclined portion near the flat portion are provided. Die feeding means for holding the tip die located in the guide groove and dropping only one tip die into the die positioning hole when there is no die in the die positioning hole, and the buffer from the die pickup position of the wafer table. The transfer means for transferring the die to the guide groove of the inclined portion of the, the lead frame transfer line for intermittently transferring the lead frame and the like, and the die positioned in the die positioning hole of the buffer This is solved by a bonding means for transferring the lead frame to the bonding position of the lead frame transfer line and bonding it to a lead frame or the like.
[作用] ウエハーより分割されたダイの良品は移送手段によって
バッファの傾斜部のガイド溝に供給される。この傾斜部
のガイド溝に供給されたダイは、バッファのダイ位置決
め穴にダイがない時にダイ供給手段によってダイ位置決
め穴に落し込まれる。ダイ位置決め穴のダイはボンデイ
ング手段によってボンデイング位置に移送されてリード
フレーム等にボンデイングされる。[Operation] The non-defective die that is divided from the wafer is supplied to the guide groove of the inclined portion of the buffer by the transfer means. The die supplied to the guide groove of the inclined portion is dropped into the die positioning hole by the die supply means when there is no die in the die positioning hole of the buffer. The die in the die positioning hole is transferred to the bonding position by the bonding means and bonded to the lead frame or the like.
[実施例] 以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明
する。複数のダイ1に分割されたウエハー2は、粘着テ
ープ(図示せず)に貼付けられている。ウエハー2は、
図示しない駆動手段で直交する矢印A、B方向に移動可
能なウエハーテーブル3上に取付けられており、このウ
エハーテーブル3によって整列されたダイ1は順次ダイ
ピックアップ位置4に順送り位置決めされる。[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2. The wafer 2 divided into a plurality of dies 1 is attached to an adhesive tape (not shown). Wafer 2 is
The wafer 1 is mounted on a wafer table 3 which is movable in directions A and B orthogonal to each other by a driving means (not shown), and the dies 1 aligned by the wafer table 3 are sequentially fed and positioned to a die pickup position 4.
ウエハーテーブル3の近傍にはバッファ10が設けられて
いる。バッファ10は、傾斜部11とこの傾斜部11の下端よ
り水平に伸びた平担部12とを有し、傾斜部11及び平担部
12に沿って前記ダイ1の幅よりわずかに大きいガイド溝
13が連続して形成されている。また傾斜部11のガイド溝
13には、平坦部12の近くに2個の吸着穴14、15が形成さ
れ、この吸着穴14、15は図示しない電磁弁を介して真空
ポンプに接続されている。また平担部12のガイド溝13に
は、傾斜部11の下端の近くにダイ1の大きさよりわずか
に大きなダイ位置決め穴16が形成されている。A buffer 10 is provided near the wafer table 3. The buffer (10) has an inclined part (11) and a flat part (12) extending horizontally from the lower end of the inclined part (11).
A guide groove along 12 that is slightly larger than the width of the die 1
13 are continuously formed. In addition, the guide groove of the inclined part 11
Two suction holes 14 and 15 are formed in the vicinity of the flat portion 12 on the flat portion 13, and the suction holes 14 and 15 are connected to a vacuum pump via a solenoid valve (not shown). A die positioning hole 16 slightly larger than the size of the die 1 is formed in the guide groove 13 of the flat portion 12 near the lower end of the inclined portion 11.
前記ダイピックアップ位置4のダイ1は、図示しない駆
動手段で上下動及び矢印C、D方向に回動させられる移
送アーム20によって前記バッファ10の傾斜部11のガイド
溝13に移送される。移送アーム20はダイ1を真空吸着保
持する移送ヘッド21を有する。The die 1 at the die pickup position 4 is transferred to the guide groove 13 of the inclined portion 11 of the buffer 10 by the transfer arm 20 which is moved up and down and rotated in the directions of arrows C and D by a driving means (not shown). The transfer arm 20 has a transfer head 21 that holds the die 1 by vacuum suction.
前記バッファ10の前記ウエハーテーブル3と反対側には
リードフレーム25を図示しない駆動手段で矢印E方向に
間欠的に送るリードフレーム搬送ライン26が設けられて
いる。On the side of the buffer 10 opposite to the wafer table 3, a lead frame transfer line 26 for intermittently sending the lead frame 25 in the direction of arrow E by a driving means (not shown) is provided.
前記バッファ10のダイ位置決め穴16のダイ1は、図示し
ない駆動手段で上下動及び矢印F、G方向に往復動され
るボンデイングアーム27によってリードフレーム搬送ラ
イン26のボンデイング位置28へ移送される。ボンデイン
グアーム27は先端にダイ1を真空吸着するボンデイング
ヘッド29を有する。The die 1 in the die positioning hole 16 of the buffer 10 is transferred to a bonding position 28 of the lead frame transfer line 26 by a bonding arm 27 which is vertically moved and reciprocated in the directions of arrows F and G by a driving means (not shown). The bonding arm 27 has a bonding head 29 for vacuum-sucking the die 1 at the tip thereof.
次に作用について説明する。図示しないダイ良否検出手
段によって検出された良品のダイ1がダイピックアップ
位置4に位置決めされると、移送ヘッド21がダイピック
アップ位置4の上方より下降してダイ1を真空吸着し、
再び上昇する。そして、移送アーム20は矢印C方向に回
動し、バッファ10の傾斜部11のガイド溝13の上方に位置
する。その後移送ヘッド21は下降し、またその真空が切
れてダイ1をバッファ10の傾斜部11のガイド溝13上に載
置し、再び上昇及び矢印D方向に回動してダイピックア
ップ位置4の上方に位置する。この間に、ウエハーテー
ブル3は矢印A又は矢印B方向にピツチ送りされ、新し
い良品のダイ1がダイピックアップ位置4に位置決めさ
れる。以後前記動作を繰返し、ウエハーテーブル3上の
ダイ1は順次バッファ10へ移送される。この動作は、バ
ッファ10へのダイ1が満杯にならない限り続けられる。
バッファ10が満杯の時は、バッファ10が受け入れ状態に
なるまでその動作を停止する。Next, the operation will be described. When the non-defective die 1 detected by the die pass / fail detection means (not shown) is positioned at the die pickup position 4, the transfer head 21 descends from above the die pickup position 4 to suck the die 1 in vacuum,
Rise again. Then, the transfer arm 20 rotates in the direction of arrow C and is positioned above the guide groove 13 of the inclined portion 11 of the buffer 10. After that, the transfer head 21 descends, the vacuum is broken, the die 1 is placed on the guide groove 13 of the inclined portion 11 of the buffer 10, and the die 1 is raised again and rotated in the direction of the arrow D to move above the die pickup position 4. Located in. During this time, the wafer table 3 is pitch-fed in the direction of arrow A or arrow B, and a new non-defective die 1 is positioned at the die pickup position 4. Thereafter, the above operation is repeated, and the dies 1 on the wafer table 3 are sequentially transferred to the buffer 10. This operation continues until die 1 into buffer 10 is full.
When the buffer 10 is full, the operation is stopped until the buffer 10 becomes the accepting state.
バッファ10に前記のようにして供給されたダイ1は、ダ
イ位置決め穴16にダイ1がある場合には、次の2番目の
ダイ1及びその次の3番目のダイ1は吸着穴14、15で吸
着され、その位置に保持される。4番目以降のダイ1は
前記3番目のダイ1に続いて順次整列される。ダイ位置
決め穴16にダイ1がない場合には、吸着穴14がオフとな
り、この吸着穴14に保持されていたダイ1は傾斜部11に
沿って自然落下し、ダイ位置決め穴16に入り込む。次に
吸着穴14がオンとなり、また吸着穴15がオフとなる。こ
れにより、吸着穴15に保持されていたダイ1は吸着穴14
に保持される。続いて吸着穴15がオンとなり、次のダイ
1が吸着穴15に保持される。このように、ダイ位置決め
穴16にダイ1がない時は、順次1個づつ送り込まれる。When the die 1 supplied to the buffer 10 as described above has the die 1 in the die positioning hole 16, the next second die 1 and the next third die 1 are suction holes 14, 15. It is adsorbed by and is held at that position. The fourth die 1 and subsequent die 1 are sequentially arranged following the third die 1. When the die positioning hole 16 does not have the die 1, the suction hole 14 is turned off, and the die 1 held in the suction hole 14 naturally falls along the inclined portion 11 and enters the die positioning hole 16. Next, the suction holes 14 are turned on, and the suction holes 15 are turned off. As a result, the die 1 held in the suction holes 15 will be moved to the suction holes 14
Held in. Then, the suction hole 15 is turned on, and the next die 1 is held in the suction hole 15. In this way, when there is no die 1 in the die positioning hole 16, they are sequentially fed one by one.
一方、ダイ位置決め穴16にダイ1がある場合には、ボン
デイングアーム27が矢印F方向に進んでダイ位置決め穴
16の上方に位置して下降し,ボンデイングヘッド29がダ
イ1を吸着する。次にボンデイングアーム27が上昇及び
矢印G方向に進んでダイ1をボンデイング位置28の上方
に移送する。そして、ボンデイングアーム27が下降して
ダイ1をリードフレーム25にボンデイングする。ボンデ
イング後、ボンデイングアーム27は上昇及び矢印F方向
に移動し、前記動作を繰返す。ボンデイングアーム27が
矢印F方向に進む時点でリードフレーム搬送ライン26は
リードフレーム25を1ピツチ搬送する動作を行う。On the other hand, when the die positioning hole 16 has the die 1, the bonding arm 27 advances in the direction of the arrow F to move the die positioning hole.
It is located above 16 and descends, and the bonding head 29 adsorbs the die 1. Next, the bonding arm 27 moves up and moves in the direction of arrow G to transfer the die 1 above the bonding position 28. Then, the bonding arm 27 descends to bond the die 1 to the lead frame 25. After bonding, the bonding arm 27 ascends and moves in the direction of arrow F, and the above operation is repeated. When the bonding arm 27 advances in the direction of arrow F, the lead frame carrying line 26 carries out the operation of carrying the lead frame 25 by one pitch.
このように、バッファ10には複数個のダイ1を溜ておく
ことができ、バッファ10のダイ位置決め穴16にダイ1が
なくなると、傾斜部11より即座にダイ位置決め穴16にダ
イ1を供給することができる。従って、ウエハー2のダ
イ1が連続して不良品であり、ダイ1の良否検出に時間
がかかつても、ボンデイングアーム27は停止することな
く動作を連続できる。また従来のような消耗品となるも
のを用いないので、コスト高になることもない。In this way, a plurality of dies 1 can be stored in the buffer 10, and when the dies 1 are removed from the die positioning holes 16 of the buffer 10, the sloping portions 11 immediately supply the dies 1 to the die positioning holes 16. can do. Therefore, the die 1 of the wafer 2 is continuously defective and even if it takes time to detect whether the die 1 is good or bad, the bonding arm 27 can continue its operation without stopping. In addition, since no consumable item like the conventional one is used, the cost does not increase.
なお、上記実施例においては、傾斜部11に溜られたダイ
1を1個づつダイ位置決め穴16に供給するダイ供給手段
として、吸着穴14、15を用いたが、2つの爪が交互に出
し入れする手段でもよい。また傾斜部11のダイ1をダイ
位置決め穴16に落し込む時に、ダイ1の自然落下のみで
なく、バッファ10に振動を加えると、ダイ1の落下はよ
りスムーズに行える。またダイ1の位置決め精度を要す
るものは、ダイ位置決め穴16の部分に従来公知の位置決
め手段、例えば2つ又は4つの爪がダイを挟持して位置
決めする手段を設けてもよい。In the above embodiment, the suction holes 14 and 15 were used as the die supply means for supplying the dies 1 accumulated in the inclined portion 11 to the die positioning holes 16 one by one, but two claws are alternately taken in and out. It may be a means to do. Further, when the die 1 of the inclined portion 11 is dropped into the die positioning hole 16, not only the die 1 naturally falls but also vibration is applied to the buffer 10 so that the die 1 can be dropped more smoothly. Further, in the case where the positioning accuracy of the die 1 is required, conventionally known positioning means, for example, means for positioning the die by two or four claws may be provided in the die positioning hole 16.
[発明の効果] 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、生産
性の向上及びコスト低減が図れる。[Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, productivity can be improved and cost can be reduced.
第1図は本発明の一実施例を示す概略構成平面図、第2
図は第1図のバッファの断面図である。 1:ダイ、2:ウエハー、 3:ウエハーテーブル、 4:ダイピックアップ位置、 10:バッファ、11:傾斜部、 12:平坦部、13:ガイド溝、 14、15:吸着穴、16:ダイ位置決め穴、 20:移送アーム、25:リードフレーム、 26:リードフレーム搬送ライン、 27:ボンデイングアーム、 28:ボンデイング位置。FIG. 1 is a schematic configuration plan view showing an embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a cross-sectional view of the buffer of FIG. 1: Die, 2: Wafer, 3: Wafer table, 4: Die pickup position, 10: Buffer, 11: Inclined part, 12: Flat part, 13: Guide groove, 14, 15: Suction hole, 16: Die positioning hole , 20: Transfer arm, 25: Lead frame, 26: Lead frame transfer line, 27: Bonding arm, 28: Bonding position.
Claims (1)
られ、直交する2方向に駆動されるウエハーテーブル
と、傾斜部及び平坦部を有すると共に、傾斜部及び平坦
部に沿ってガイド溝が形成され、かつ平坦部の傾斜部下
端側にダイ位置決め穴が形成されたバッファと、平坦部
の近くの傾斜部に設けられ、傾斜部のガイド溝に位置す
る先端のダイを保持し前記ダイ位置決め穴にダイがない
時に先端の1個のダイのみをダイ位置決め穴に落し込む
ダイ供給手段と、前記ウエハーテーブルのダイピックア
ップ位置より前記バッファの傾斜部のガイド溝にダイを
移送する移送手段と、リードフレーム等を間欠的に搬送
するリードフレーム搬送ラインと、前記バッファのダイ
位置決め穴に位置するダイを前記リードフレーム搬送ラ
インのボンデイング位置に移送してリードフレーム等に
ボンデイングするボンデイング手段とからなるダイボン
デイング装置。1. A wafer table, into which a plurality of dies are divided, is mounted and is driven in two directions orthogonal to each other, a sloped portion and a flat portion, and a guide groove is formed along the sloped portion and the flat portion. And a buffer in which a die positioning hole is formed on the lower end side of the inclined portion of the flat portion and a die positioning hole which is provided in the inclined portion near the flat portion and holds the tip die located in the guide groove of the inclined portion. When there is no die, only one die at the tip is dropped into the die positioning hole, transfer means for transferring the die from the die pickup position of the wafer table to the guide groove of the inclined portion of the buffer, and the lead. Bonding of the lead frame transfer line for intermittently transferring the frame and the die positioned in the die positioning hole of the buffer to the lead frame transfer line Die bonding apparatus and transported to location comprising a bonding means for bonding the lead frame or the like.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61237762A JPH0691116B2 (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Die bonding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61237762A JPH0691116B2 (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Die bonding equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6392031A JPS6392031A (en) | 1988-04-22 |
| JPH0691116B2 true JPH0691116B2 (en) | 1994-11-14 |
Family
ID=17020072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61237762A Expired - Lifetime JPH0691116B2 (en) | 1986-10-06 | 1986-10-06 | Die bonding equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0691116B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0250440A (en) * | 1988-08-12 | 1990-02-20 | Mitsubishi Electric Corp | Die bonding device |
| US6773543B2 (en) | 2002-05-07 | 2004-08-10 | Delaware Capital Formation, Inc. | Method and apparatus for the multiplexed acquisition of a bare die from a wafer |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58131700U (en) * | 1982-02-26 | 1983-09-05 | シャープ株式会社 | Chip parts feeding device |
| JPS6020199U (en) * | 1983-07-19 | 1985-02-12 | アルプス電気株式会社 | Parts feeding device for electronic parts insertion machine |
| JPS60211853A (en) * | 1984-04-05 | 1985-10-24 | Nec Kansai Ltd | Mounting device for semiconductor pellet |
-
1986
- 1986-10-06 JP JP61237762A patent/JPH0691116B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6392031A (en) | 1988-04-22 |
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