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JPH0695569B2 - Gate array LSI device - Google Patents
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JPH0695569B2 - Gate array LSI device - Google Patents

Gate array LSI device

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JPH0695569B2
JPH0695569B2 JP59243349A JP24334984A JPH0695569B2 JP H0695569 B2 JPH0695569 B2 JP H0695569B2 JP 59243349 A JP59243349 A JP 59243349A JP 24334984 A JP24334984 A JP 24334984A JP H0695569 B2 JPH0695569 B2 JP H0695569B2
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memory block
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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ゲートアレイLSI装置に関し、特にメモリ回
路専用の領域およびバルクを有するメモリ搭載ゲートア
レイLSI装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gate array LSI device, and more particularly to a memory-equipped gate array LSI device having a memory circuit dedicated area and a bulk.

(従来の技術) 従来、ランダムアクセスメモリ(以下単にRAMと称す
る)等のメモリ回路を搭載したメモリ搭載ゲートアレイ
LSI装置においては、メモリ回路の実現方法として、
(1)メモリメルおよびアドレスレジスタ,ライトアン
プ,センスアンプ等の周辺回路を論理回路を構成するた
めの基本セルと同種の基本セルを使用して実現する方
法、および(2)メモリセル用のバルクを論理回路用の
基本セル列の間に設けられた配線チャネル領域に用意
し、メモリの周辺回路は論理回路と共通の基本セルによ
り実現する等の方法が行なわれていた。
(Prior Art) Conventionally, a memory-equipped gate array equipped with a memory circuit such as a random access memory (hereinafter simply referred to as RAM)
In the LSI device, as a method of realizing the memory circuit,
(1) A method for realizing peripheral circuits such as a memory mel and address register, a write amplifier, a sense amplifier using a basic cell of the same kind as a basic cell for forming a logic circuit, and (2) a bulk for a memory cell. A method has been used in which the peripheral circuit of the memory is prepared in a wiring channel region provided between the basic cell columns for the logic circuit, and the peripheral circuit of the memory is realized by a basic cell common to the logic circuit.

ところが、このような従来形の方法においては、論理回
路部分とメモリ回路部分とが混在するため各基本セル等
の配置決定処理および配線が極めて複雑になると共に、
基本セル等の利用効率が低下し各回路の専有面積が大き
くなるという不都合があった。また、特に、上述の
(2)の方法においては、論理回路用の基本セルの間の
配線領域の下にメモリバルクが配置されるため、配線容
量が増加し動作速度が遅くなる等の不都合があった。
However, in such a conventional method, since the logic circuit portion and the memory circuit portion are mixed, the arrangement determination process and wiring of each basic cell and the like become extremely complicated,
There is a problem in that the utilization efficiency of the basic cells and the like decreases and the area occupied by each circuit increases. Further, in particular, in the above method (2), since the memory bulk is arranged under the wiring region between the basic cells for the logic circuit, there is a disadvantage that the wiring capacity increases and the operation speed becomes slow. there were.

(発明が解決しようとする問題点) 本発明は、前述の従来形における問題点に鑑み、メモリ
搭載ゲートアレイLSI装置において、各基本セル等の配
置決定処理および配線を簡略化し、各回路の実装密度を
向上させると共に、配線容量等の増加に伴う動作速度の
低下を防止することを目的とする。また、本発明は、ゲ
ートアレイLSI装置に任意の容量のメモリ回路を容易に
実現できるようにすることをも目的とする。
(Problems to be Solved by the Invention) In view of the above-mentioned problems in the conventional type, the present invention simplifies the layout determination process and wiring of each basic cell and the like in a memory-equipped gate array LSI device, and mounts each circuit. It is intended to improve the density and prevent a decrease in operating speed due to an increase in wiring capacitance and the like. Another object of the present invention is to easily realize a memory circuit of arbitrary capacity in a gate array LSI device.

(問題点を解決するための手段) 上述の問題点を解決するため本発明によれば、それぞれ
複数の論理回路セルを有する単数または複数のロジック
ブロック、および少なくとも1つのメモリブロックを具
備し、かつ、 このメモリブロックは、複数のメモリセルからなる第1
のメモリセル領域と第1の周辺回路とを備えた第1の基
本メモリブロックと、 複数のメモリセルからなる第2のメモリセル領域と第2
の周辺回路とを備えた第2の基本メモリブロックとを有
し、 前記第1の基本メモリブロックと前記第2の基本メモリ
ブロックとは第1の辺で互いに隣接してかつ鏡像関係に
なるように配置され、前記第1のメモリセル領域と前記
第2のメモリセル領域とが第1の辺で互いに隣接して、
互いのビット線同士が接続され、かつ、 前記第1の周辺回路および前記第2の周辺回路は、いず
れも前記第1の辺以外の前記第1,2の基本メモリブロッ
クの辺に沿って形成され、かつ 全ての前記メモリブロックと全ての前記ロジックブロッ
クとは実質的に同一形状を有し、これらのブロックは互
いに他のブロックに隣接してなることを特徴とするゲー
トアレイISI装置が提供される。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, according to the present invention, there are provided one or a plurality of logic blocks each having a plurality of logic circuit cells, and at least one memory block, and , The memory block includes a first memory cell
A first basic memory block having a memory cell region and a first peripheral circuit, a second memory cell region including a plurality of memory cells, and a second
A second basic memory block having a peripheral circuit, and the first basic memory block and the second basic memory block are adjacent to each other on the first side and have a mirror image relationship. And the first memory cell region and the second memory cell region are adjacent to each other on the first side,
Bit lines are connected to each other, and the first peripheral circuit and the second peripheral circuit are both formed along the sides of the first and second basic memory blocks other than the first side. And all the memory blocks and all the logic blocks have substantially the same shape, and these blocks are adjacent to each other. It

(作用) 上述のような手段を用いることにより、メモリブロック
をメモリ回路実現のための専用領域として利用すること
により、同一容量のメモリ回路を従来に比しより小さな
面積で実現することが可能となる。また、各回路素子の
配置決定および配線が簡略化され、配線容量を少なくす
ることも可能になる。さらに、互いに鏡像関係にある隣
接する基本メモリブロックを適宜組み合わせることによ
って任意に容量のメモリ回路を容易に実現することが可
能となる。
(Operation) By using the memory block as a dedicated area for realizing a memory circuit by using the above means, it is possible to realize a memory circuit of the same capacity in a smaller area than the conventional one. Become. Further, the layout determination and wiring of each circuit element are simplified, and the wiring capacitance can be reduced. Furthermore, by appropriately combining adjacent basic memory blocks that are mirror images of each other, it is possible to easily realize a memory circuit of arbitrary capacity.

(実施例) 以下、図面により本発明の実施例を説明する。第1図
は、本発明の1実施例に係わるゲートアレイLSI装置の
半導体チップ上の回路配置を示す。同図の装置は、半導
体チップ1上に2個の論理ブロック2−1,2−2と2個
のメモリブロック3−1,3−3とを有し、さらにこれら
の各回路ブロックの周辺に入出力バッファ回路4を備え
ている。各論理ブロック2−1,2−2はそれぞれ複数の
基本論理セル5aが配列された基本論理セル列5を有して
おり、これらの基本論理セル列5の周辺の領域は論理配
線領域6として使用される。各メモリブロック3−1,3
−2は各々例えば4個の基本メモリブロックを備えてな
り各基本メモリブロックの周辺の領域はメモリ用配線領
域8として使用される。さらに、論理ブロック2−1,2
−2およびメモリブロック3−1,3−2の周辺の領域は
これらの回路ブロックと入出力バッファ回路4との間の
配線領域として使用される。なお、基本セルとしては、
例えば特開昭54−93375号公報に記載されているものが
使用される。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a circuit arrangement on a semiconductor chip of a gate array LSI device according to an embodiment of the present invention. The device shown in FIG. 1 has two logic blocks 2-1 and 2-2 and two memory blocks 3-1 and 3-3 on the semiconductor chip 1, and further has peripheral circuits around these respective circuit blocks. An input / output buffer circuit 4 is provided. Each of the logic blocks 2-1 and 2-2 has a basic logic cell row 5 in which a plurality of basic logic cells 5a are arranged, and the area around these basic logic cell rows 5 is a logic wiring area 6. used. Each memory block 3-1 and 3
-2 includes, for example, four basic memory blocks, and the area around each basic memory block is used as a memory wiring area 8. Furthermore, logic blocks 2-1 and 2
-2 and the areas around the memory blocks 3-1 and 3-2 are used as wiring areas between these circuit blocks and the input / output buffer circuit 4. As a basic cell,
For example, those described in JP-A-54-93375 are used.

第1図のゲートアレイLSI装置においては、各論理ブロ
ック2−1,2−2内の各基本セルを適宜アルミ配線等に
より接続することにより所望の論理回路が実現され、ま
た各メモリブロック3−2,3−1内の各基本メモリブロ
ック7を各々単独であるいは組み合わせて使用すること
により所望の容量のメモリ回路が形成される。
In the gate array LSI device of FIG. 1, a desired logic circuit is realized by appropriately connecting each basic cell in each logic block 2-1 and 2-2 with aluminum wiring or the like, and each memory block 3- A memory circuit having a desired capacity is formed by using each of the basic memory blocks 7 in 2, 3-1 individually or in combination.

第2図は、本発明の他の実施例に係わるゲートアレイLS
I装置を示す。同図は装置は、半導体チップ1上に3個
の論理ブロック2−1,2−2,2−3と1個のメモリブロッ
ク3−1を備えたものである。
FIG. 2 shows a gate array LS according to another embodiment of the present invention.
I device. In the figure, the device comprises three logic blocks 2-1, 2-2, 2-3 and one memory block 3-1 on a semiconductor chip 1.

このように、本発明に係わるゲートアレイLSI装置にお
いては論理ブロックおよびメモリブロックの数を任意の
値に設定することが可能である。例えば、第3図(a)
に示すように1個の論理ブロック2−4と1個のメモリ
ブロック3−3を設けることも可能であり、また同図
(b)に示されるように、2個の論理ブロック2−5,2
−6および1個の論理ブロック3−4を設けることも可
能である。
As described above, in the gate array LSI device according to the present invention, the number of logic blocks and memory blocks can be set to any value. For example, FIG. 3 (a)
It is also possible to provide one logical block 2-4 and one memory block 3-3 as shown in FIG. 2, and two logical blocks 2-5, 2-5, as shown in FIG. 2
It is also possible to provide -6 and one logic block 3-4.

第4図は、上述の各実施例におけるメモリブロックに含
まれる基本メモリブロックの構成を示す。同図におい
て、10は例えば32行×48列の構成のメモリセルアレイで
あり、11はクロックバッファおよびメモリコントロール
信号回路等を含む制御回路である。メモリセルアレイ10
の一辺に沿って書き込みアンプ12、センスアンプ13およ
び試験回路14等が配置されている。また、メモリセルア
レイ10の他の辺に沿って書き込みワード線バッファ15、
第1アドレスデコーダ16、第2アドレスデコーダ17、第
1アドレスレジスタ18、第2アドレスレジスタ19等の周
辺回路が配置されている。なお、アドレスデコーダおよ
びアドレスレジスタが2系統あるのはいわゆるデュアル
ポート型のメモリ回路が構成できるようにするためであ
る。また、メモリブロック内の配線もマスタスライス化
して、一部分の配線を施さないことで、32行×48列以外
のメモリも構成できる。
FIG. 4 shows the structure of a basic memory block included in the memory block in each of the above-mentioned embodiments. In the figure, 10 is a memory cell array having a configuration of, for example, 32 rows × 48 columns, and 11 is a control circuit including a clock buffer, a memory control signal circuit, and the like. Memory cell array 10
A write amplifier 12, a sense amplifier 13, a test circuit 14, and the like are arranged along one side. In addition, the write word line buffer 15 along the other side of the memory cell array 10,
Peripheral circuits such as the first address decoder 16, the second address decoder 17, the first address register 18, the second address register 19 and the like are arranged. The address decoder and the address register are provided in two systems so that a so-called dual port type memory circuit can be configured. Further, the wiring in the memory block is also made into a master slice, and a part of the wiring is not provided, so that a memory other than 32 rows × 48 columns can be configured.

次に、上述のような基本メモリブロック7が各メモリブ
ロック内でどのように配置されているかを説明する。
今、図面の簡略化のため、基本メモリブロック7の各回
路部分を第5図に示すようにメモリセルアレイ部分MCA
と、クロックバッファおよびメモリコントロール信号回
路等を含む制御回路部分Cとローデコーダおよびアドレ
スレジスタ等を含むロー側周辺回路RWと、書き込みアン
プ、センスアンプ、およびコラムデコーダ等を含むコラ
ム側周辺回路CLMとにブロック分けして考える。
Next, how the above-mentioned basic memory block 7 is arranged in each memory block will be described.
For simplification of the drawing, each circuit portion of the basic memory block 7 is now referred to as a memory cell array portion MCA as shown in FIG.
A control circuit portion C including a clock buffer and a memory control signal circuit; a row side peripheral circuit RW including a row decoder and an address register; and a column side peripheral circuit CLM including a write amplifier, a sense amplifier, a column decoder and the like. Divide into blocks and think.

第6図は、第1図のゲートアレイLSI装置における各メ
モリブロック3−1および3−2内の基本メモリセルブ
ロックの配置を示す。第6図に示すように、例えばメモ
リブロック3−1には4個の基本メモリブロックが含ま
れるがこれらの4個の基本メモリブロックのうち互いに
隣接する2個の基本メモリブロック7および7′はメモ
リセルアレイMCA同志が隣接するように配置されてい
る。そして、基本メモリブロック7′においてはロー側
周辺回路RW、コラム側周辺回路CLMおよびクロックバッ
ファ等を含む回路Cの部分が基本メモリブロック7に対
して鏡像関係に配置されている。すなわち、第6図にお
いて、各基本メモリブロック7′は隣接する基本メモリ
ブロック7に対して隣接線を中心とした鏡像関係に構成
されている。他のメモリブロック3−2においても4つ
の基本メモリブロックのうち2個同志が互いに隣接し、
かつ隣接する基本メモリブロックの各回路要素は互いに
鏡像関係に配置されている。なお、各基本メモリブロッ
クはロー側周辺回路が論理ブロックとの境界線20側に位
置するように配置される。
FIG. 6 shows an arrangement of basic memory cell blocks in each of the memory blocks 3-1 and 3-2 in the gate array LSI device of FIG. As shown in FIG. 6, for example, the memory block 3-1 includes four basic memory blocks. Of these four basic memory blocks, two adjacent basic memory blocks 7 and 7'are The memory cell arrays MCA are arranged so as to be adjacent to each other. In the basic memory block 7 ′, the portion of the circuit C including the row side peripheral circuit RW, the column side peripheral circuit CLM, the clock buffer, etc. is arranged in a mirror image relationship with the basic memory block 7. That is, in FIG. 6, each basic memory block 7'is configured in a mirror image relationship with respect to the adjacent basic memory block 7 with the adjacent line as the center. Also in the other memory block 3-2, two of the four basic memory blocks are adjacent to each other,
Moreover, the circuit elements of the adjacent basic memory blocks are arranged in a mirror image relationship with each other. Each basic memory block is arranged such that the row-side peripheral circuit is located on the boundary line 20 side with the logic block.

第7図は、前述のような基本メモリブロックを使用して
メモリ回路すなわちメモリマクロが構成される様子を示
すものである。第7図(a)および(b)はそれぞれ2
個の基本メモリブロックを使用して構成したメモリマク
ロを示す。第7図(a)は例えば第6図におけるメモリ
ブロック3−1の各基本メモリブロックのうち論理ブロ
ックに近い側に配置された2個の基本メモリブロック7
および7′を使用したものである。この場合は、隣接す
る基本メモリブロック7および7′のロー側周辺回路RW
およびメモリセルアレイMCAが互いに接続されて1個の
基本メモリブロックの倍の容量のメモリ回路が構成され
ている。またコラム側周辺回路CLMおよびクロックバッ
ファ等の制御回路部分Cは基本メモリブロック7のもの
が使用されており基本メモリブロック7′のものは使用
されていない。また、領域21は基本メモリブロックの入
出力信号用の配線領域として使用されている。
FIG. 7 shows how a memory circuit, that is, a memory macro, is constructed by using the basic memory block as described above. 7 (a) and 7 (b) each have 2
3 shows a memory macro configured using a number of basic memory blocks. FIG. 7A shows, for example, two basic memory blocks 7 arranged on the side closer to the logical block among the basic memory blocks of the memory block 3-1 in FIG.
And 7 '. In this case, the low-side peripheral circuits RW of the adjacent basic memory blocks 7 and 7 '
The memory cell array MCA is connected to each other to form a memory circuit having a capacity double that of one basic memory block. Further, the control circuit portion C such as the column side peripheral circuit CLM and the clock buffer is of the basic memory block 7 and not of the basic memory block 7 '. The area 21 is used as a wiring area for input / output signals of the basic memory block.

第7図(b)は第6図のメモリブロック3−1等におい
て論理ブロックから遠い側に位置する2個の基本メモリ
ブロック7および7′を使用して構成したメモリマクロ
を示す。この場合においても、各基本メモリブロック7
および7′のロー側周辺回路RWおよびメモリセルアレイ
MCAが互いに接続されて基本メモリブロックの倍の容量
のメモリ回路が構成されている。また、基本メモリブロ
ック7′においてはロー側周辺回路RWおよびメモリセル
アレイMCAのみが使用され他の回路部分は基本メモリブ
ロック7のものが使用されている。また、領域21は第7
図(a)の場合と同様に基本メモリブロックの入出力信
号のための配線領域として使用されている。
FIG. 7 (b) shows a memory macro constituted by using two basic memory blocks 7 and 7'located on the side far from the logical block in the memory block 3-1 etc. of FIG. Even in this case, each basic memory block 7
And 7'low side peripheral circuit RW and memory cell array
The MCAs are connected to each other to form a memory circuit having a capacity double that of the basic memory block. In the basic memory block 7 ', only the low-side peripheral circuit RW and the memory cell array MCA are used, and the other circuit parts are those of the basic memory block 7. Area 21 is the seventh
It is used as a wiring area for input / output signals of the basic memory block as in the case of FIG.

第7図(c)および(d)はそれぞれ論理ブロックに近
い側および論理ブロックに遠い側に配置された基本メモ
リブロック7を1個使用して構成したメモリマクロの例
を示す。
FIGS. 7 (c) and 7 (d) show an example of a memory macro configured by using one basic memory block 7 arranged on the side closer to the logical block and on the side farther from the logical block.

第8図はメモリブロック内におけるメモリマクロの配置
状況を示すものである。第8図(a)は、ロジックブロ
ックに近い側の1個の基本メモリブロックを使用してメ
モリマクロ(斜線部)を構成したものであり、同図右側
のメモリブロックにおいてはロジックブロックに近い側
および遠い側の基本メモリブロックが1個ずつ使用され
ている。また、第8図(b)の左側のメモリブロックに
おいてはロジックブロックに近い側の2個の基本メモリ
ブロックを使用してメモリマクロが構成され、同図右側
のメモリブロックにおいては4個の基本メモリブロック
を組み合わせて1個の基本メモリブロックの4倍の容量
のメモリマクロが構成されている。
FIG. 8 shows the arrangement of memory macros in a memory block. FIG. 8 (a) shows that a memory macro (hatched portion) is formed by using one basic memory block on the side closer to the logic block. In the memory block on the right side of FIG. And one basic memory block on the far side is used. Further, in the memory block on the left side of FIG. 8B, a memory macro is configured by using two basic memory blocks near the logic block, and in the memory block on the right side of FIG. By combining the blocks, a memory macro having a capacity four times as large as one basic memory block is configured.

(発明の効果) このように、本発明によれば、メモリ回路を専用バルク
により実現したから、メモリ回路を論理用基本セル等を
利用して構成する従来の方法と比較して同一容量のメモ
リ回路をより小さな面積で実現できる。また、論理回路
部分とメモリ回路部分とが混在しないため、配線が簡略
化されかつ配線容量等による動作速度の低下が防止でき
る。さらに、各メモリブロックを複数の基本メモリブロ
ックで構成し、かつ隣接する基本メモリブロックの各構
成回路を互いに鏡像関係に配置したから任意の容量のメ
モリ回路を容易に実現することが可能となり、しかも配
線の複雑化および動作速度の低下を生ずることがない。
(Effect of the invention) As described above, according to the present invention, since the memory circuit is realized by the dedicated bulk, the memory having the same capacity as that of the conventional method in which the memory circuit is configured by using the logic basic cells or the like is used. The circuit can be realized in a smaller area. Further, since the logic circuit portion and the memory circuit portion do not coexist, the wiring can be simplified and the reduction of the operation speed due to the wiring capacitance or the like can be prevented. Further, since each memory block is composed of a plurality of basic memory blocks and the constituent circuits of the adjacent basic memory blocks are arranged in a mirror image relationship with each other, it is possible to easily realize a memory circuit of an arbitrary capacity, and Wiring is not complicated and operation speed is not reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図および第2図はそれぞれ本発明の実施例に係わる
ゲートアレイLSI装置の半導体チップ上における各回路
ブロックの配置を示す平面図、第3図(a)および
(b)はそれぞれメモリブロックと論理ブロックとの他
の配置態様を示す説明図、第4図は基本メモリブロック
内の各構成回路の詳細を示す説明図、第5図は基本メモ
リブロック内の各構成回路の概略を示す説明図、第6図
は第1図のゲートアレイLSI装置における各メモリブロ
ック内の基本メモリブロックの配置状況を示す説明図、
第7図(a)から(d)まではそれぞれメモリマクロの
構成態様を示す説明図、そして第8図は各メモリブロッ
ク内におけるメモリマクロの配置例を示す説明図であ
る。 1:半導体チップ、2−1,2−2,…,2−6:論理ブロック、
3−1,3−2,…,3−4:メモリブロック、4:入出力バッフ
ァ回路、5:論理用基本セル列、6:論理用配線領域、7,
7′:基本メモリブロック、8:メモリ用配線領域、10:メ
モリセルアレイ、11:制御回路、12:書き込みアンプ、1
3:センスアンプ、14:テスト回路、15:書き込みワード線
バッファ、16,17:アドレスデコーダ、18,19:アドレスレ
ジスタ、20:論理ブロック側境界線、21:入出力信号用配
線領域。
1 and 2 are plan views showing the arrangement of each circuit block on a semiconductor chip of a gate array LSI device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 3 (a) and 3 (b) are memory blocks. FIG. 4 is an explanatory diagram showing another arrangement mode with respect to the logic block, FIG. 4 is an explanatory diagram showing details of each constituent circuit in the basic memory block, and FIG. 5 is an explanatory diagram showing an outline of each constituent circuit in the basic memory block. FIG. 6 is an explanatory diagram showing the arrangement of basic memory blocks in each memory block in the gate array LSI device of FIG. 1,
7 (a) to 7 (d) are explanatory diagrams showing the configuration of the memory macros, and FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of arrangement of the memory macros in each memory block. 1: semiconductor chip, 2-1, 2-2, ..., 2-6: logic block,
3-1, 3-2, ..., 3-4: memory block, 4: input / output buffer circuit, 5: basic cell row for logic, 6: wiring area for logic, 7,
7 ': basic memory block, 8: memory wiring area, 10: memory cell array, 11: control circuit, 12: write amplifier, 1
3: Sense amplifier, 14: Test circuit, 15: Write word line buffer, 16, 17: Address decoder, 18, 19: Address register, 20: Boundary line on logical block side, 21: Input / output signal wiring area.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】それぞれ複数の論理回路セルを有する単数
または複数のロジックブロック、および少くとも1つの
メモリブロックを具備し、かつ、 該メモリブロックは、複数のメモリセルからなる第1の
メモリセル領域と第1の周辺回路とを備えた第1の基本
メモリブロックと、 複数のメモリセルからなる第2のメモリセル領域と第2
の周辺回路とを備えた第2の基本メモリブロックとを有
し、 前記第1の基本メモリブロックと前記第2の基本メモリ
ブロックとは第1の辺で互いに隣接してかつ鏡像関係に
なるように配置され、前記第1のメモリセル領域と前記
第2のメモリセル領域とが第1の辺で互いに隣接して、
互いのビット線同士が接続され、かつ、 前記第1の周辺回路および前記第2の周辺回路は、いず
れも前記第1の辺以外の前記第1,2の基本メモリブロッ
クの辺に沿って形成され、かつ 全ての前記メモリブロックと全ての前記ロジックブロッ
クとは実質的に同一形状を有し、これらのブロックは互
いに他のブロックに隣接してなることを特徴とするゲー
トアレイLSI装置。
1. A first memory cell region comprising one or a plurality of logic blocks each having a plurality of logic circuit cells, and at least one memory block, the memory block comprising a plurality of memory cells. A first basic memory block including a first peripheral circuit, a second memory cell region including a plurality of memory cells, and a second
A second basic memory block having a peripheral circuit, and the first basic memory block and the second basic memory block are adjacent to each other on the first side and have a mirror image relationship. And the first memory cell region and the second memory cell region are adjacent to each other on the first side,
Bit lines are connected to each other, and the first peripheral circuit and the second peripheral circuit are both formed along the sides of the first and second basic memory blocks other than the first side. And all of the memory blocks and all of the logic blocks have substantially the same shape, and these blocks are adjacent to each other.
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