JPH07101903B2 - Function confirmation method for monitoring test equipment - Google Patents
Function confirmation method for monitoring test equipmentInfo
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- JPH07101903B2 JPH07101903B2 JP61239366A JP23936686A JPH07101903B2 JP H07101903 B2 JPH07101903 B2 JP H07101903B2 JP 61239366 A JP61239366 A JP 61239366A JP 23936686 A JP23936686 A JP 23936686A JP H07101903 B2 JPH07101903 B2 JP H07101903B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、交換システムを監視する監視試験装置の監視
機能確認方式に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a monitoring function confirmation system of a monitoring test device for monitoring a switching system.
(従来の技術) 第2図は、従来の監視試験システムのブロック図であ
る。同図において、SYSは交換装置、STE2は監視試験装
置、ALMC2は障害制御装置、DISP2は障害表示部、ALM20
〜ALM2nは各障害表示ランプ、CK2はランプチェック用の
スイッチである。(Prior Art) FIG. 2 is a block diagram of a conventional monitoring test system. In the figure, SYS is a switching device, STE2 is a monitoring / testing device, ALMC2 is a fault control device, DISP2 is a fault display unit, and ALM20.
~ ALM2n is each fault indicator lamp, CK2 is a switch for lamp check.
監視試験装置STE2は、その障害制御装置ALMC2が交換装
置SYSの障害を収集して、障害表示部DISP2の該当する障
害表示ランプALM20〜ALM2nを点灯させる。In the monitoring test equipment STE2, the fault control device ALMC2 collects the fault of the exchange device SYS and turns on the corresponding fault display lamps ALM20 to ALM2n of the fault display part DISP2.
複数の障害が発生した場合は、障害表示ランプALM20〜A
LM2nのそれぞれ該当のランプが点灯するので、保守マニ
ュアルにより修復の優先順位に従って処置している。If multiple failures occur, the failure indicator lights ALM20 to A
Since the corresponding lamps of the LM2n are lit, the maintenance manual is performing the repair according to the priority order.
スイッチCK2はその押操作により、障害表示ランプALM20
〜ALM2nのすべてを点灯させて、全部点灯ならばランプ
が良好であると判断し、そして、消灯しているランプは
不良であるとして良品と取換えるようにしている。By pressing the switch CK2, the fault indicator lamp ALM20
~ All ALM2n are turned on, and if all are turned on, it is determined that the lamp is good, and the lamp that is off is considered defective and is replaced with a good one.
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、前記の監視試験装置は自己診断機能を有
しておらず、ランプチェック用のスイッチを操作して障
害表示ランプの良否はチェック出来るが、監視試験装置
の障害監視機能が正常かどうかについてはチェックし得
ないので、障害の不検出あるいは誤検出等が生じて障害
の早期発見、早期修復に支障を来たすことがあった。(Problems to be Solved by the Invention) However, the above-mentioned monitoring test device does not have a self-diagnosis function, and the quality of the failure display lamp can be checked by operating the lamp check switch. Since it is not possible to check whether the failure monitoring function of is normal, failure detection or erroneous detection may occur, which hinders early detection and repair of failures.
本発明は上記の問題点を解決するために、監視試験装置
に自己診断機能を持たせ、適時にチェックを指定する
と、各表示器が確認のために表示されるとともに、監視
機能についての診断結果が該表示器に表示されて、その
良否が確認されるようにすることを目的とする。In order to solve the above problems, the present invention provides a monitoring test apparatus with a self-diagnosis function, and when a check is designated in a timely manner, each display is displayed for confirmation, and the diagnostic result of the monitoring function is displayed. Is displayed on the display so that the quality can be confirmed.
(問題点を解決するための手段) 本発明は前記問題点を解決するために、交換装置の障害
を障害制御装置によって監視してその障害発生内容を複
数の表示器にそれぞれ表示する監視試験装置において、
前記障害制御装置は自己診断機能を備え、確認スイッチ
が操作されたとき前記各表示器をその表示機能確認のた
めに所定の時間にわたって表示駆動させ、前記自己診断
の結果に基づいて監視機能の正常あるいは異常なるを前
記表示器によって所定の時間にわたって表示駆動させる
ようにしたものである。(Means for Solving Problems) In order to solve the above problems, the present invention is a monitoring test device for monitoring a failure of a switching device by a failure control device and displaying the content of the failure on a plurality of display devices, respectively. At
The failure control device has a self-diagnosis function, and when the confirmation switch is operated, the respective display units are driven to display for a predetermined time to confirm the display function, and a normal monitoring function is obtained based on the result of the self-diagnosis. Alternatively, when an abnormality occurs, the display is driven by the display for a predetermined time.
(作用) 本発明によれば、確認スイッチが操作されると、障害発
生を表示するための各表示器が所定の時間にわたって確
認表示され、そして監視試験装置の監視機能が自己診断
されて、その結果が前記表示器によって所定の時間にわ
たって表示される。(Operation) According to the present invention, when the confirmation switch is operated, each display unit for displaying the occurrence of a failure is confirmed and displayed for a predetermined time, and the monitoring function of the monitoring test device is self-diagnosed. The result is displayed by the display for a predetermined time.
(実施例) 第1図は本発明の一実施例を示す監視試験システムのブ
ロック図である。(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram of a monitoring test system showing an embodiment of the present invention.
同図において、SYSは第2図におけると同一の交換装
置、STE1は監視試験装置、ALMC1は障害制御装置、DISP1
は障害発生を表示する表示部、CK1は監視試験装置STE1
が正常かどうかをチェックする確認スイッチである。In the figure, SYS is the same switching equipment as in FIG. 2, STE1 is a monitoring test equipment, ALMC1 is a fault control equipment, DISP1.
Is a display unit for displaying a failure occurrence, CK1 is a monitoring test device STE1
This is a confirmation switch that checks whether the
MPはマイクロプロセッサで、監視試験装置STE1を統括し
てプログラム制御する。DTEは障害検出回路で、マイク
ロプロセッサMPによって制御されて、交換装置SYSの障
害の発生とその内容と、確認スイッチCK1の操作を検出
する。Mは記憶回路で、障害検出回路DTEの各検出結果
等を一時記憶する。INTは割込み制御回路、TIMはタイマ
回路で、確認スイッチCK1がONとなると、割込み制御回
路INTによって後記の第3図によるプログラム実行さ
せ、そしてタイマ回路TIMによって主プログラムに戻る
ための所定時間が設定される。ALM10〜SLM1nは障害種別
表示器で、障害制御装置ALMC1によって収集、分類され
た交換装置SYSの障害情報の種別を、その種別毎にラン
プ表示する、K1は障害内容表示器で、発生した障害の最
も重要な障害内容を電光表示する。K2は障害発生数表示
器で、発生した障害数を電光表示する。DISPCは表示制
御回路で、障害制御装置ALMC1の情報に基づいて、各表
示器ALM10〜ALM1nを表示駆動する。MP is a microprocessor that controls the test equipment STE1 by program control. The DTE is a failure detection circuit, which is controlled by the microprocessor MP to detect the occurrence of the failure of the switching device SYS and its contents, and the operation of the confirmation switch CK1. M is a storage circuit, which temporarily stores each detection result of the failure detection circuit DTE and the like. INT is an interrupt control circuit, and TIM is a timer circuit. When the confirmation switch CK1 is turned on, the interrupt control circuit INT causes the program shown in FIG. 3 to be described later to be executed, and the timer circuit TIM sets a predetermined time for returning to the main program. To be done. ALM10 to SLM1n are fault type indicators, which indicate the type of fault information of the switching device SYS collected and classified by the fault control unit ALMC1 by a lamp for each type. K1 is a fault content indicator that indicates the fault that has occurred. The most important fault content is displayed electronically. K2 is a fault number indicator, which electronically displays the number of faults that have occurred. DISPC is a display control circuit, which drives the respective displays ALM10 to ALM1n for display based on the information of the fault control device ALM1.
以上の構成において、第3図のフローチャートに従って
その動作を説明する。The operation of the above configuration will be described with reference to the flowchart of FIG.
確認スイッチCK1が操作(ON)されると、障害制御装置A
LMC1、割込み制御回路INTに起動がかかる(ステップS
1)。割込み制御回路INTは、割込みがあったことをマイ
クロプロセッサMPに知らせる。マイクロプロセッサMPは
割込みレベルに応じてスイッチCK1のONを認識すると、
記憶回路Mをクリアする(S2)。タイマ回路TIMは所定
の時間にセットし起動され(S3)、障害検出回路DTEは
走査によりスイッチCK1の状態を調べる(S4,S5)。ここ
で、この走査は、確認スイッチCK1と障害検出回路DTE間
の回路の診断を行っている。手順S4では、確認スイッチ
CK1の「ON」状態を障害検出回路DTEを経由して走査し、
検出回路ルート(確認スイッチCK1、障害検出回路DTE及
びマイクロプロセッサMP)が正常であるか否かを確認す
る。検出回路ルートが正常であると確認されたときは、
手順S5においてCK1の「ON」が検出される。逆に、検出
回路ルートが正常でないと確認されたときは、CK1の「O
N」が検出されない。スイッチCK1のONが読取れないとき
は、記憶回路Mはクリアされており、表示制御回路DISP
Cの駆動により障害内容表示器K1に「診断不良」である
として、「CHK NG」のメッセージが表示され(S6)、
監視試験装置STE1は主動作を停止したままで終了(EN
D)する(S7)。When the confirmation switch CK1 is operated (ON), the fault controller A
LMC1 and interrupt control circuit INT are activated (step S
1). The interrupt control circuit INT informs the microprocessor MP that an interrupt has occurred. When the microprocessor MP recognizes that the switch CK1 is ON according to the interrupt level,
The memory circuit M is cleared (S2). The timer circuit TIM is set to a predetermined time and activated (S3), and the failure detection circuit DTE checks the state of the switch CK1 by scanning (S4, S5). Here, this scanning diagnoses the circuit between the confirmation switch CK1 and the failure detection circuit DTE. In step S4, the confirmation switch
Scan the "ON" state of CK1 via the fault detection circuit DTE,
It is confirmed whether the detection circuit route (confirmation switch CK1, fault detection circuit DTE and microprocessor MP) is normal. When it is confirmed that the detection circuit route is normal,
CK1 “ON” is detected in step S5. Conversely, when it is confirmed that the detection circuit route is not normal, CK1 “O
"N" is not detected. When the switch CK1 cannot be read ON, the memory circuit M has been cleared and the display control circuit DISP
By driving C, the message "CHK NG" is displayed on the failure content display K1 as "diagnostic failure" (S6),
The monitoring test equipment STE1 ends with the main operation stopped (EN
D) Yes (S7).
スイッチCK1のONが読取れたときはその読取り結果が記
憶回路Mに記憶され(S8)、該記憶されたことによっ
て、各表示部DISP1の良否をチェックするために、各表
示器ALM10〜ALM1n、K1,K2の全てが数秒間にわたって点
灯される(S9)。When the ON state of the switch CK1 is read, the read result is stored in the memory circuit M (S8). Due to the stored result, each display unit ALM10 to ALM1n, in order to check the quality of each display unit DISP1, All of K1 and K2 are lit for several seconds (S9).
つぎに、マイクロプロセッサMPのプログラムタイマによ
って、タイマ回路TIMより若干長い時間(プログラムタ
イム)が設定されて(S10)、タイマ回路TIMから、割込
回路INTを経て、設定された時間にマイクロプロセッサM
Pに割込んでくることを監視し(S11)、プログラムタイ
マがタイムオーバーになる前に割込んできた場合正常に
動作していると判断し(S12)、前記のスイッチCK1のON
が記憶回路Mに記憶されることを条件に、監視試験装置
STE1が「診断良好」であると判定して、各表示器ALM10
〜ALM1n、K1,K2nを消灯した後(S13)、障害内容表示器
K1に「CHK OK」のメッセージが表示され(S14)、交換
装置SYSの診断に戻って(S15)、再び前記交換装置の障
害を監視する。Next, the program timer of the microprocessor MP sets a time (program time) slightly longer than that of the timer circuit TIM (S10), and the timer circuit TIM passes through the interrupt circuit INT and reaches the microprocessor M at the set time.
It is monitored that it is interrupting P (S11), and if it interrupts before the program timer times out, it is judged to be operating normally (S12), and the switch CK1 is turned ON.
Is stored in the memory circuit M, the monitoring test device is provided.
It is judged that STE1 is "Good diagnosis", and each display ALM10
~ After turning off ALM1n, K1, K2n (S13), display the contents of failure
A message "CHK OK" is displayed on K1 (S14), and the system returns to the diagnosis of the exchange device SYS (S15) to monitor the fault of the exchange device again.
プログラムタイマがタイムオーバーになったときは(S1
1)、「診断不良」であると判定して各表示器ALM10〜AL
M1nを消灯した後(S16)障害表示器K1に「CHK NG」が
表示されて(S6)、前記同様に主動作が停止されたまま
で終了する(S7)。When the program timer times out (S1
1), each display ALM10 to AL that is judged to be "diagnostic failure"
After turning off M1n (S16), “CHK NG” is displayed on the fault indicator K1 (S6), and the main operation is terminated with the main operation stopped as described above (S7).
なお、ステップS15によって戻された交換装置SYSの診断
制御のプログラムは省略しているが、マイクロプロセッ
サMPを中心としたプログラム制御により、障害検出回路
DTEの障害検出データに基づいて、その分類、集計、表
示などの制御がなされる。Although the program for the diagnostic control of the exchange device SYS returned in step S15 is omitted, the fault detection circuit is controlled by the program control centered on the microprocessor MP.
Based on the DTE failure detection data, control such as classification, aggregation and display is performed.
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、監視試験装置は
確認スイッチの操作により、各表示器の確認を行うとと
もに、監視機能がプログラム制御によって自己診断され
て、その結果が本来の障害監視のための表示器によって
表示されるものであるから、操作が簡単であり、そして
特別な表示部や装置を追加する必要もなく、監視試験装
置の障害の早期発見、早期修復に寄与し得る。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the monitoring test device confirms each display by operating the confirmation switch, and the monitoring function is self-diagnosed by program control, and the result is Since it is displayed by the indicator for the original fault monitoring, it is easy to operate, and there is no need to add a special display unit or device. Can contribute.
第1図は本発明の実施例を示す監視試験システムのブロ
ック図、第2図は従来の監視試験システムのブロック
図、第3図は本発明の実施例を示す監視試験機能確認制
御のフローチャートである。 SYS……交換装置 STE1……監視試験装置 ALM10〜ALM1n……障害種別表示器 K1……障害内容表示器 K2……障害発生数表示器 DISPC……表示制御回路 MP……マイクロプロセッサ CK1……確認スイッチFIG. 1 is a block diagram of a supervisory test system showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a conventional supervisory test system, and FIG. 3 is a flowchart of supervisory test function confirmation control showing an embodiment of the present invention. is there. SYS …… Exchange device STE1 …… Monitoring test device ALM10 to ALM1n …… Fault type indicator K1 …… Fault content indicator K2 …… Fault occurrence indicator DISPC …… Display control circuit MP …… Microprocessor CK1 …… Confirmation switch
Claims (1)
を行いその種別に対応する障害種別表示器を点灯させる
監視試験装置の機能確認方式において、 前記監視試験装置は、該監視試験装置の監視機能が正常
であるか否かを診断する自己診断機能を有する障害制御
装置と、該自己診断機能を稼働させる確認スイッチ手段
と、前記障害種別表示器、発生した障害の中で最も重要
な障害内容を表示する障害内容表示器及び発生した障害
数を表示する障害発生数表示器を有する表示部とにより
構成され、 前記監視試験装置は、 前記確認スイッチ手段が操作された時に、検出回路ルー
トを走査して確認し、 確認の結果、前記確認スイッチ手段の操作が検出できな
いならば前記障害内容表示器に診断不良である旨を表示
させた後前記交換装置の障害監視を停止し、 前記確認スイッチ手段の操作が検出できたならば前記表
示部の各表示器を一定時間点灯させた後時間の計測を開
始すると同時に診断を行い、診断が一定時間内に完了し
た場合は前記障害内容表示器に診断良好である旨を表示
させた後再び前記交換装置の障害を監視し、一定時間内
に完了しない場合は前記障害内容表示器に診断不良であ
る旨を表示させた後前記交換装置の障害監視を停止する
ことを特徴とする監視試験装置の機能確認方式。1. A function confirmation system of a monitoring test device for monitoring a failure of a switching device, classifying failure information, and turning on a failure type indicator corresponding to the type, wherein the monitoring test device is the monitoring test device. Fault controller having a self-diagnosis function for diagnosing whether or not the monitoring function is normal, confirmation switch means for operating the self-diagnosis function, the fault type indicator, and the most important of the faults that have occurred. The monitoring test apparatus comprises a failure content display for displaying failure content and a display section having a failure occurrence display for displaying the number of failures that have occurred, wherein the monitoring test device detects a detection circuit route when the confirmation switch means is operated. If the result of the confirmation is that the operation of the confirmation switch means cannot be detected, the fault content indicator indicates that there is a failure in diagnosis, and then the fault monitoring of the exchange device is performed. If the operation of the confirmation switch means can be detected by stopping the vision, the display unit of the display unit is turned on for a certain period of time, and then the time measurement is started and the diagnosis is performed at the same time, and the diagnosis is completed within the certain period of time. In the case where the fault content indicator indicates that the diagnosis is good, the fault in the exchange device is monitored again, and when the fault is not completed within a certain time, the fault content indicator indicates that the diagnosis is defective. After that, the function check method of the monitoring and testing device is characterized in that the failure monitoring of the switching device is stopped.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61239366A JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61239366A JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6394755A JPS6394755A (en) | 1988-04-25 |
| JPH07101903B2 true JPH07101903B2 (en) | 1995-11-01 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61239366A Expired - Fee Related JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07101903B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5490663B2 (en) * | 2010-11-15 | 2014-05-14 | 株式会社ミライト | Inspection device |
-
1986
- 1986-10-09 JP JP61239366A patent/JPH07101903B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6394755A (en) | 1988-04-25 |
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