JPH07107510B2 - Substrate inspection device and substrate inspection method - Google Patents
Substrate inspection device and substrate inspection methodInfo
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- JPH07107510B2 JPH07107510B2 JP61031767A JP3176786A JPH07107510B2 JP H07107510 B2 JPH07107510 B2 JP H07107510B2 JP 61031767 A JP61031767 A JP 61031767A JP 3176786 A JP3176786 A JP 3176786A JP H07107510 B2 JPH07107510 B2 JP H07107510B2
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Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は、部品が実装された被検査基板に投光し受光さ
れ得られる受光データを処理して前記被検査基板上の部
品の実装状態を検査する基板検査装置および基板検査方
法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION << Industrial Application Field >> The present invention relates to a mounting state of a component on a substrate to be inspected by processing received light data obtained by projecting light on a substrate to be inspected on which a component is mounted and receiving light. The present invention relates to a board inspecting apparatus and a board inspecting method.
《従来の技術》 プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種チツプ部品
を実装するときにおいて自動実装装置を用いた場合、実
装後において実装データ通りに部品が実装されていない
ことがある。<< Prior Art >> When an automatic mounting apparatus is used for mounting various chip components such as resistors and semiconductor elements on a printed circuit board, the components may not be mounted according to the mounting data after mounting.
このため、このような自動実装装置等を用いる場合に
は、実装後にプリント基板をチエツクして、このプリン
ト基板上の正規の位置に正当なチツプ部品が正しい姿勢
(位置,方向)でマウントされているかどうか、また脱
落がないかどうかを検査する必要がある。Therefore, when using such an automatic mounting apparatus, the printed circuit board is checked after mounting, and a proper chip component is mounted in a correct position (position, direction) at a proper position on the printed circuit board. It is necessary to inspect whether or not there is any dropout.
しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なつていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。However, if such an inspection is performed by visual inspection by hand as in the conventional case, there is a problem that the occurrence of an inspection error cannot be completely eliminated and the inspection speed cannot be increased.
そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。Therefore, in recent years, various manufacturers have proposed various automatic inspection devices for printed circuit boards that can automatically perform this type of inspection.
第7図は、このような自動検査装置の一例を示すブロツ
ク図である。FIG. 7 is a block diagram showing an example of such an automatic inspection device.
この図に示す自動検査装置は、部品1が実装された被検
査プリント基板2−2を撮像するTVカメラ3と、キーボ
ード8から入力されたデータ、つまり第8図に示すよう
に基準基板となる基準プリント基板2−1の種類等に関
するデータおよびこの基準プリント基板2−1上に載つ
ている各部品1の配置位置,取付け姿勢,形状,色,反
射率に関するデータおよびこれらの各部品1の検査処理
手順等に関する情報(データ)を記憶する記憶部4と、
この記憶部4に記憶されている情報と前記TVカメラ3か
らの画像によつて示される情報とを比較して前記被検査
プリント基板2−2上に全ての部品1が有るかどうか、
またこれらの部品1が位置ずれ等を起こしているかどう
かを判定する判定回路5と、この判定回路5の判定結果
を表示する表示器6とを備えて構成されている。The automatic inspection apparatus shown in this figure serves as a reference board as shown in FIG. 8, that is, data input from the TV camera 3 that images the printed circuit board 2-2 on which the component 1 is mounted and the keyboard 8. Data on the type of the reference printed circuit board 2-1 and the like, data on the arrangement position, mounting posture, shape, color and reflectance of each component 1 mounted on the reference printed circuit board 2-1 and inspection of each of these components 1. A storage unit 4 for storing information (data) regarding processing procedures,
By comparing the information stored in the storage unit 4 with the information shown by the image from the TV camera 3, whether all the components 1 are present on the inspected printed circuit board 2-2,
Further, it is provided with a judging circuit 5 for judging whether or not the components 1 are displaced or the like, and a display 6 for displaying the judgment result of the judging circuit 5.
そしてこの自動検査装置を使用する場合、被検査プリン
ト基板2−2の検査に先立ち、まず素基板7上に各部品
1が正しく載つている基準プリント基板2−1に関する
データをキーボード8から入力(テイーチング)する。When this automatic inspection device is used, prior to the inspection of the inspected printed circuit board 2-2, first, the data of the reference printed circuit board 2-1 on which the component 1 is correctly mounted on the base board 7 is input from the keyboard 8 ( Teaching).
この場合、第9図のフローチヤートで示す如く、このテ
イーチング動作ではステツプST1でキーボード8から基
準プリント基板2−1のカードナンバが入力される。In this case, as shown in the flow chart of FIG. 9, in this teaching operation, the card number of the reference printed circuit board 2-1 is input from the keyboard 8 at step ST1.
次いで、ステツプST2でキーボード8からこの基準プリ
ント基準2−1に載つている部品1の位置,形状,特徴
(この部品1の色,反射率等の情報)および処理手順
(例えば、部品の画像を2値化するときの基準となる2
値化閾値,抽出パラメータの種類など)に関する数値デ
ータが入力される。Next, in step ST2, the position, shape, characteristics (information such as color and reflectance of the component 1) of the component 1 placed on the reference print reference 2-1 are input from the keyboard 8 and the processing procedure (for example, an image of the component is displayed). 2 which is the standard when binarizing
Numerical data regarding the threshold value, the type of extraction parameter, etc.) is input.
次いで、ステツプST3で全ての部品1に関する数値デー
タが入力されたかどうかがチエツクされ、もしまだ数値
データが入力されていない部品があれば、このステツプ
ST3から前記ステツプST2へ戻つて残りの部品に関する数
値データ入力が繰り返し実行される。Next, in step ST3, it is checked whether or not the numerical data for all the parts 1 have been input. If there is a part for which the numerical data has not been input yet, check this step.
After returning from ST3 to step ST2, the numerical data input regarding the remaining parts is repeatedly executed.
そして、全ての部品1についてデータ入力が終了すれ
ば、ステツプST4でこれらの数値データが記憶部4に記
憶される。When the data input for all the components 1 is completed, these numerical data are stored in the storage unit 4 in step ST4.
また、被検査プリント基板2−2の検査時においては、
前記TVカメラ3によつて撮像された被検査プリント基板
2−2の画像を記憶部4に記憶されている処理手順で処
理し、これによつて得られる数値データと前記記憶部4
が出力する部品1の位置,形状,特徴等に関する数値デ
ータとが判定回路5によつて比較され、この比較結果が
表示器6上に表示される。Further, when inspecting the inspected printed circuit board 2-2,
The image of the inspected printed circuit board 2-2 captured by the TV camera 3 is processed by the processing procedure stored in the storage unit 4, and the numerical data obtained thereby and the storage unit 4 are processed.
Is compared with numerical data regarding the position, shape, characteristics, etc. of the component 1 output by the determination circuit 5, and the comparison result is displayed on the display 6.
そして、前記TVカメラ3によつて撮像された被検査プリ
ント基板2−2のある部品が欠落していれば、前記TVカ
メラ3が出力する画像に基づいて得られる数値データ
と、前記記憶部4が出力する数値データとが一致しなく
なり、判定回路5がこれを検知して、欠落している部品
を表示器6上に表示する。If a part of the inspected printed circuit board 2-2 imaged by the TV camera 3 is missing, numerical data obtained based on the image output by the TV camera 3 and the storage unit 4 are obtained. The numerical value data output by the device no longer matches, and the determination circuit 5 detects this and displays the missing component on the display 6.
《発明が解決しようとする問題点》 しかしながらこのような従来の自動検査装置において
は、判定基準となる数値データの数を多くして検査精度
を高くしようとすれば、デイーチング時において、キー
ボード8から入力しなければならないデータ数が増大
し、これを入力するのに、多大な時間と労力が必要にな
るという問題がある。<< Problems to be Solved by the Invention >> However, in such a conventional automatic inspection apparatus, if it is attempted to increase the inspection accuracy by increasing the number of numerical data serving as a determination reference, the keyboard 8 is used during the teaching. There is a problem that the amount of data that must be input increases, and it takes a lot of time and labor to input this.
また、処理手順の数値データ(例えば、2値化閾値な
ど)等のように、基準プリント基板2−1の画像を処理
して得るものについては、テイーチングに先だつてこの
数値データを予め抽出しておかなければならず、作業の
容易化,迅速化を計ることができない。Further, for numerical data of the processing procedure (for example, a binarization threshold value) obtained by processing the image of the reference printed circuit board 2-1, this numerical data is extracted in advance before teaching. It must be done, and work cannot be done easily and quickly.
またこの種のデータ抽出作業は基準プリント基板2−1
の画像を処理して得られた数値分布を見ただけで、この
数値分布から直観的に解るものではないため、かなり高
度な技術力を有する作業者でなければ、各部品1に対応
する2値化閾値等のデータを抽出することができないと
いう問題があつた。In addition, this type of data extraction work is performed on the standard printed circuit board 2-1.
It is not possible to intuitively understand from the numerical distribution obtained by processing the images of the above, and it is not intuitively understood from this numerical distribution. There is a problem that data such as a threshold value cannot be extracted.
本発明は上記の事情に鑑み、検査精度を高めながらキー
ボードから入力される数値データの数を減らすことがで
きるとともに、基準プリント基板上に載せられている各
部品の2値化閾値データなども容易にティーチングする
ことができる基板検査装置および基板検査方法を提供す
ることを目的としている。In view of the above circumstances, the present invention can reduce the number of numerical data input from the keyboard while improving the inspection accuracy, and also facilitate the binarization threshold data of each component mounted on the reference printed circuit board. It is an object of the present invention to provide a substrate inspection device and a substrate inspection method capable of teaching.
《問題点を解決するための手段》 本発明による基板検査装置においては、部品が実装され
た被検査基板に投光し受光され得る受光データを処理し
て前記被検査基板状の部分の実装状態を検査する基板検
査装置において、前記被検査基板上に載せられる部品の
検査に必要な基準データを部品の種類毎に予め記憶して
いる基準データ記憶手段と、前記被検査基板上に実装さ
れる部品の位置および種類を入力する入力手段と、前記
入力手段によって入力された部品の種類に対応する基準
データを前記基準データ記憶手段によって入力された部
品の種類に対応する基準データを前記基準データ記憶手
段から読み出す基準データ読み出し手段と、前記入力手
段によって入力された部品の位置データと前記基準デー
タ読み出し手段によって読み出した基準データとに基づ
いて基準基板情報を作成する基準基板情報作成手段と、
前記受光データを処理して被検査情報を作成する被検査
情報手段と、前記基準基板情報作成手段によって作成さ
れた基準基板情報と前記被検査情報作成手段によって作
成された被検査情報とを比較することにより前記被検査
基板上の部品の実装状態を検査する判定手段と、を備え
たことを特徴としている。<< Means for Solving the Problems >> In the substrate inspection apparatus according to the present invention, the mounting state of the portion to be inspected is processed by processing received light data that can be received by receiving light from the substrate to be inspected on which components are mounted. In a board inspecting apparatus for inspecting a board, reference data storage means for storing in advance reference data necessary for inspecting a component placed on the inspected substrate for each type of component, and mounted on the inspected substrate Input means for inputting the position and type of the part, reference data corresponding to the type of the part input by the input means, reference data corresponding to the type of the part input by the reference data storage means, the reference data storage Reference data reading means for reading from the means, position data of the part inputted by the input means, and the reference read by the reference data reading means Reference board information creating means for creating reference board information based on the data,
Inspected information means for processing the received light data to create inspected information, and to compare the reference board information created by the reference board information creating means with the inspected information created by the inspected information creating means. Therefore, a determination unit for inspecting the mounting state of the component on the inspected substrate is provided.
また、本発明の基板検査方法は、部品が実装された被検
査基板に投光し受光され得る受光データを処理して被検
査基板上の部品の実装状態を検査する基板検査方法にお
いて、被検査基板上に載せられる部品の検査に必要な基
準データを部品の種類毎に予め記憶しておき、被検査基
板上に実装される部品の位置および種類を入力すること
によって部品の種類ごとに対応する前記基準データと部
品の位置とに基づき基準基板情報を作成し、前記作成さ
れた基準基板情報に従って前記受光データを処理して被
検査基板上の部品の実装状態を検査することを特徴とし
ている。Further, the board inspection method of the present invention is a board inspection method for inspecting a mounting state of a component on an inspected board by processing received light data that can be projected and received on the inspected board on which a component is mounted. The reference data necessary for inspecting the parts placed on the board are stored in advance for each kind of parts, and the position and kind of the parts to be mounted on the board to be inspected are input to correspond to each kind of parts. It is characterized in that reference board information is created based on the reference data and the position of the component, and the received light data is processed according to the created reference board information to inspect the mounting state of the component on the inspected board.
《実施例》 第1図は、この発明による部品実装基板の検査装置の一
実施例を示すブロツク図である。<< Embodiment >> FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an inspection apparatus for a component mounting board according to the present invention.
この図に示す部品実装基板の検査装置は、基準プリント
基板16−1に載せられている各部品19−1〜19−nの位
置データと、種類データとをキー入力すれば、これらの
種類データに基づいて辞書部35から各部品19−1〜19−
nに関する形状データD3と、チツプサイズデータD4と、
2値化閾値D5とが読み出されて処理テーブル37(第5図
参照)が作成され、この処理テーブル37と、キー入力さ
れた処理手順とに基づき前記基準プリント基板16−1
(または被検査プリント基板16−2)の画像が処理され
てパラメータが抽出されるように構成されたものであ
り、X−Yテーブル部10と、撮像部11と、処理部12と、
判定結果出力部26と、情報入力部27と、テーブルコント
ローラ29と、撮像コントローラ30とを備えている。The component mounting board inspection apparatus shown in this figure can be operated by inputting the position data and the type data of each of the components 19-1 to 19-n mounted on the reference printed circuit board 16-1 by key input. Based on the dictionary unit 35, each component 19-1 to 19-
shape data D3 about n, chip size data D4,
The binarization threshold value D5 is read and a processing table 37 (see FIG. 5) is created. Based on this processing table 37 and the keyed-in processing procedure, the reference printed circuit board 16-1
(Or the printed circuit board 16-2 to be inspected) is configured to be processed to extract parameters, and includes an XY table unit 10, an imaging unit 11, a processing unit 12, and
The determination result output unit 26, the information input unit 27, the table controller 29, and the imaging controller 30 are provided.
X−Yテーブル部10は、テーブルコントローラ29によつ
て制御される2つのパルスモータ13,14と、これらの各
パルスモータ13,14によつてX軸方向およびY軸方向に
駆動されるテーブル15と、このテーブル15上に載せられ
た基準プリント基板16−1または被検査プリント基板16
−2を固定するチヤツク機構17とを備えており、前記テ
ーブル15上に載せられた基準プリント基板16−1(もし
くは被検査プリント基板16−2)は前記チヤツク機構17
によつて固定された後、前記各パルスモータ13,14によ
つてX軸方向およびY軸方向の位置が決められ、撮像部
11によつて撮像される。The XY table unit 10 includes two pulse motors 13 and 14 controlled by a table controller 29, and a table 15 driven by the pulse motors 13 and 14 in the X-axis direction and the Y-axis direction. And the reference printed circuit board 16-1 or the inspected printed circuit board 16 placed on the table 15.
-2 is fixed to the check mechanism 17, and the reference printed circuit board 16-1 (or the printed circuit board 16-2 to be inspected) placed on the table 15 is the check mechanism 17.
After being fixed by the pulse motors, the pulse motors 13 and 14 determine the positions in the X-axis direction and the Y-axis direction.
Imaged by 11.
この場合、基準プリント基板16−1上には、第2図に示
す如く素基板18上に部品19−1〜19−nが正しい位置
で、かつ正しい姿勢で載せられている。In this case, as shown in FIG. 2, the components 19-1 to 19-n are placed on the reference printed circuit board 16-1 on the base substrate 18 in the correct positions and in the correct postures.
また、前記被検査プリント基板16−2は、前記基準プリ
ント基板16−1上の部品19−1〜19−nと同じくなるよ
うに、部品が配置された量産基板である。The printed circuit board 16-2 to be inspected is a mass-produced board in which components are arranged so as to be the same as the components 19-1 to 19-n on the reference printed circuit board 16-1.
また撮像部11は、前記X−Yテーブル部10の上方に配置
され、前記撮像コントローラ30が出力する制御信号によ
つてそのピント,倍率,感度等が制御されるTVカメラ20
と、このTVカメラ20に対して同軸的に配置され、前記撮
像コントローラ30が出力する制御信号によつてその明る
さ等が制御されるリング照明装置21とを備えて構成され
ており、前記TVカメラ20によつて得られた画像信号(ア
ナログ信号)は処理部12へ供給される。なお、前記撮像
部11は、TVカメラ20を用いて画像信号を得るようにした
が、この画像信号は、これに限ることなく、例えばレー
ザ光をプリント基板16−1,16−2に照射してその反射光
を発光したり、スリット光をプリント基板16−1,16−2
に照射してそのスリット光のこれらプリント基板16−1,
16−2にできるスリット模様をカメラで撮像して得られ
る受光データでも良い。The image pickup unit 11 is arranged above the XY table unit 10, and the focus, magnification, sensitivity, etc. of the TV camera 20 are controlled by a control signal output from the image pickup controller 30.
And a ring lighting device 21 coaxially arranged with respect to the TV camera 20, the brightness and the like of which are controlled by a control signal output from the image pickup controller 30. The image signal (analog signal) obtained by the camera 20 is supplied to the processing unit 12. Although the image pickup unit 11 is configured to obtain an image signal using the TV camera 20, the image signal is not limited to this, and for example, laser light is applied to the printed circuit boards 16-1 and 16-2. To emit the reflected light, or the slit light to the printed circuit boards 16-1, 16-2.
These printed circuit boards 16-1,
The received light data obtained by imaging the slit pattern formed in 16-2 with a camera may be used.
また、情報入力部27は、基準プリント基板16−1の種類
(例えば、基板ナンパ等)およびこの基準プリント基板
16−1に載つている部品19−1〜19−nの種類,部品
数,位置等に関するデータや処理手順(例えば、パラメ
ータを抽出するときの手順)等の操作情報などを入力す
るためのキーボードやマウスとを備え、ここから入力さ
れたデータや操作情報などは処理部12へ供給される。In addition, the information input unit 27 includes the type of the reference printed circuit board 16-1 (for example, board number, etc.) and the reference printed circuit board.
A keyboard for inputting operation information such as data relating to the types, the number of parts, positions, etc. of the parts 19-1 to 19-n mounted on the 16-1 and a processing procedure (for example, a procedure for extracting parameters). And a mouse, and the data and operation information input from here are supplied to the processing unit 12.
処理部12は、画像入力部22と、画像処理部23と、メモリ
24と、判定手段である判定部25と、制御部28と、基準デ
ータ記憶手段としての辞書部35とを備えている。この辞
書部35には、被検査上に搭載される部品の検査に必要の
基準データが部品の種類毎に予め記憶されている。上記
制御部28は、読み出し手段、基準基板情報作成手段およ
び被検査情報作成手段(いずれも図示せず)を備え、テ
ィーチングモードのときに、入力手段である前記情報入
力部27から供給される部品19−1〜19−nの種類データ
を用いて前記辞書部35の部品辞書36(第6図参照)から
各部品19−1〜19−nの形状データD3と、チツプサイズ
データD4と、2値化閾値データD5である基準データを読
み出し手段より読み出して、前記形状データD3と、チツ
プサイズデータD4とから第4図に示すようなウインド31
−1〜31−nを作成するとともに、前記情報入力部27か
ら供給される位置データと、前記各部品19−1〜19−n
に対するウインド31−1〜31−nと、2値化閾値データ
D5とを対応させた処理データ37(第5図参照)を基準基
板情報作成手段により作成した後、この処理テーブル37
および前記情報入力部27から供給される処理手順などを
用いて、前記撮像部11から供給される基準プリント基板
16−1の画像信号に基づいて画像入力部22から得られる
画像データを処理して基準基板情報作成手段により各部
品19−1〜19−nのパラメータ(基準パラメータ)を抽
出して作成した基準基板情報を記憶する。一方この制御
部28は、検査モードのときに、前記処理テーブル37と処
理手順などとを用いて前記撮像部11から供給される被検
査プリント基板16−2の画像信号を処理し、被検査情報
作成手段により各部品19−1〜19−nの検査パラメータ
を抽出して被検査情報を作成する。判定部25は、この被
検査情報である検査パラメータと前記基準パラメータす
なわち基準基板情報とを比較して、この比較結果から前
記被検査プリント基板16−2の部品の実装状態の良否を
判定して、これを判定結果出力部26に表示させる。The processing unit 12 includes an image input unit 22, an image processing unit 23, and a memory.
24, a determination unit 25 as a determination unit, a control unit 28, and a dictionary unit 35 as a reference data storage unit. In the dictionary unit 35, reference data necessary for inspecting a component mounted on the inspection object is stored in advance for each type of component. The control unit 28 includes a reading unit, a reference board information creating unit, and an inspected information creating unit (none of which are shown), and in the teaching mode, the parts supplied from the information input unit 27 which is the input unit. Shape data D3 of each component 19-1 to 19-n, chip size data D4, and 2 from the component dictionary 36 (see FIG. 6) of the dictionary unit 35 using the type data of 19-1 to 19-n. The reference data, which is the binarized threshold value data D5, is read by the reading means, and the window 31 as shown in FIG. 4 is obtained from the shape data D3 and the chip size data D4.
-1 to 31-n are created, and the position data supplied from the information input unit 27 and the respective parts 19-1 to 19-n are created.
31-1 to 31-n and binary threshold data
After the processing data 37 (see FIG. 5) corresponding to D5 is created by the reference board information creating means, the processing table 37 is created.
And the reference printed circuit board supplied from the image pickup section 11 using the processing procedure supplied from the information input section 27 and the like.
A reference created by processing the image data obtained from the image input unit 22 based on the image signal of 16-1 and extracting the parameters (reference parameters) of the respective parts 19-1 to 19-n by the reference board information creating means. Store board information. On the other hand, the control unit 28, in the inspection mode, processes the image signal of the inspected printed circuit board 16-2 supplied from the imaging unit 11 by using the processing table 37 and the processing procedure, and inspects information. The creation means extracts the inspection parameters of each of the components 19-1 to 19-n and creates the inspected information. The determination unit 25 compares the inspection parameter, which is the inspected information, with the reference parameter, that is, the reference board information, and determines the quality of the mounting state of the component of the inspected printed circuit board 16-2 from the comparison result. This is displayed on the determination result output unit 26.
この場合、前記画像入力部22は、前記撮像部11から供給
された画像信号をA/D変換したり、各種の補正処理(例
えば、シエーデイング補正など)をしたりして、前記基
準プリント基板16−1、被検査プリント基板16−2の画
像データ(画像信号を補正して量子化したデータ)を作
成するものであり、ここで得られた前記基準プリント基
板16−1、被検査プリント基板16−2に関する画像デー
タは前記制御部28などへ供給される。In this case, the image input unit 22 performs A / D conversion of the image signal supplied from the image pickup unit 11 and performs various correction processes (for example, shading correction), and the reference printed circuit board 16 -1, for creating image data of the inspected printed circuit board 16-2 (data obtained by correcting and quantizing the image signal), and the reference printed circuit board 16-1 and the inspected printed circuit board 16 obtained here. The image data regarding -2 is supplied to the control unit 28 and the like.
辞書部35は、第3図に示す如く検査対象となる全ての部
品に関するメーカデータD1,型式データD2,部品形状デー
タD3,チツプサイズデータD4,2値化閾値データD5等が記
された部品辞書36を備えており、前記制御部28などから
データ要求信号を供給されたときに、前記部品辞書36か
らこのデータ要求信号で要求されるデータを読み出し
て、これを前記制御部28などへ供給する。As shown in FIG. 3, the dictionary unit 35 is a parts dictionary in which maker data D1, model data D2, part shape data D3, chip size data D4, binarization threshold value data D5, etc. are written for all parts to be inspected. When the data request signal is supplied from the control unit 28 or the like, the data required by the data request signal is read from the component dictionary 36 and is supplied to the control unit 28 or the like. .
また、画像処理部23は、前記制御部28から供給される処
理手順,処理テーブル37などに基づいて、テイーチング
モードのときには前記制御部28を介して供給される前記
基準プリント基板16−1の画像データから各部品19−1
〜19−nのパラメータ(基準パラメータ)を抽出し、ま
た検査モードのときには、前記制御部28を介して供給さ
れる前記被検査プリント基板16−2の画像データから前
記被検査プリント基板16−2上にある部品19−1〜19−
nのパラメータ(被検査パラメータ)を抽出するもので
あり、ここで得られた前記基準プリント基板16−1(ま
たは、被検査プリント基板16−2)に関する各パラメー
タは前記制御部28や判定部25などへ供給される。Further, the image processing unit 23, based on the processing procedure, the processing table 37, etc. supplied from the control unit 28, the image of the reference printed circuit board 16-1 supplied via the control unit 28 in the teaching mode. Each part from data 19-1
To 19-n (reference parameters), and in the inspection mode, the inspected printed board 16-2 is supplied from the image data of the inspected printed board 16-2 supplied via the control unit 28. Parts on top 19-1 to 19-
n parameters (parameters to be inspected) are extracted, and the respective parameters relating to the reference printed circuit board 16-1 (or the printed circuit board 16-2 to be inspected) obtained here are the control unit 28 and the determination unit 25. Etc.
またメモリ24は前記制御部28から前記基準プリント基板
16−1の画像データ,この基準プリント基板16−1上に
ある各部品19−1〜19−nのパラメータ(基準パラメー
タ),位置データ,種類データや処理手順,処理テーブ
ル37などを供給されたときに、これらを記憶するもので
あり、前記制御部28から転送要求があつたときに、この
基準パラメータなどを前記画像処理部23や前記判定部25
などへ供給する。Further, the memory 24 is controlled by the controller 28 from the reference printed circuit board.
16-1 image data, parameters (reference parameters) of each component 19-1 to 19-n on the reference printed circuit board 16-1, position data, type data, processing procedure, processing table 37, etc. are supplied. At this time, these are stored, and when a transfer request is issued from the control unit 28, the reference parameters and the like are set to the image processing unit 23 and the determination unit 25.
Etc.
判定部25は、検査モードのときに前記メモリ24が出力す
る前記基準パラメータと、前記制御部28を介して供給さ
れる画像処理部23で得られた被検査パラメータとを比較
して、前記被検査プリント基板16−2の部品19−1〜19
−nが脱落しているかどうか、およびこれらの部品19−
1〜19−nが姿勢ずれを起こしているかどうかなどを判
定するものであり、この判定結果は前記制御部28などへ
供給される。The determination unit 25 compares the reference parameter output by the memory 24 in the inspection mode with the inspection parameter obtained by the image processing unit 23 supplied via the control unit 28, and determines the inspection target. Inspection printed circuit board 16-2 parts 19-1 to 19
-If n is missing, and these parts 19-
It is to determine whether or not 1 to 19-n have a posture deviation, and the determination result is supplied to the control unit 28 and the like.
制御部28は、前記情報入力部27から入力された各部品19
−1〜19−nの種類データに基づいて前記辞書部35から
部品形状データD3と、チツプサイズデータD4と、2値化
閾値データD5とを読み出すとともに、これらの部品形状
データD3と、チツプサイズデータD4とに基づいてウイン
ド31−1〜31−nを作成し、この後前記情報入力部27か
ら入力された各部品19−1〜19−nの位置データと、前
記ウインド31−1〜31−nと、2値化閾値データD5とを
対応させた処理テーブル37(第5図参照)を作成した
り、前記画像入力部22と、画像処理部23と、メモリ24
と、判定部25と、辞書部35を制御してこれらをテイーイ
ングモードで動作させたり、検査モードで動作させたり
するものであり、これら各モードのときに得られたデー
タ、処理テーブル37などは画像処理部23や判定結果出力
部26などへ供給される。The control unit 28 controls each component 19 input from the information input unit 27.
The component shape data D3, the chip size data D4, and the binarization threshold value data D5 are read out from the dictionary unit 35 based on the type data of -1 to 19-n, and the component shape data D3 and the chip size are read. The windows 31-1 to 31-n are created based on the data D4, and thereafter, the position data of each of the components 19-1 to 19-n input from the information input section 27 and the windows 31-1 to 31-31. -N and the binarization threshold value data D5 are associated with each other to create a processing table 37 (see FIG. 5), the image input unit 22, the image processing unit 23, and the memory 24.
It controls the judgment unit 25 and the dictionary unit 35 to operate them in the taing mode or the inspection mode. The data obtained in these modes, the processing table 37, etc. Is supplied to the image processing unit 23, the determination result output unit 26, and the like.
判定結果出力部26はCRT(ブラウン管表示器)やプリン
タ等を備えて構成されるものであり、前記制御部28から
基準パラメータや検査パラメータを供給されたり、基準
プリント基板16−1,検査プリント基板16−2の画像デー
タを供給されたり、判定結果を供給されたりしたときに
これを表示したり、プリントアウトしたりする。また、
前記情報入力部27より入力されるデータや操作情報等を
確認したりする。The determination result output unit 26 is configured by including a CRT (CRT display), a printer, etc., and is supplied with the reference parameters and the inspection parameters from the control unit 28, the reference printed circuit board 16-1, and the inspection printed circuit board. When the image data of 16-2 is supplied or the judgment result is supplied, it is displayed or printed out. Also,
The data input from the information input unit 27, operation information, etc. are confirmed.
また、テーブルコントローラ29は前記制御部28と前記X
−Yテーブル部10とを接続するインターフエース等を備
えて構成されるものであり、前記X−Yテーブル部10で
得られたデータを前記制御部28へ供給したり、前記制御
部28から供給される制御信号に基づいて前記X−Yテー
ブル部10を制御したりする。Further, the table controller 29 includes the control unit 28 and the X
-Y table unit 10 is configured to include an interface or the like for connection, and the data obtained by the XY table unit 10 is supplied to the control unit 28 or supplied from the control unit 28. The XY table unit 10 is controlled based on the control signal.
また、撮像コントローラ30は前記制御部28と前記撮像部
11とを接続するインターフエース等を備えて構成される
ものであり、前記制御部28から供給される制御信号に基
づいて前記撮像部11を制御したりする。The image pickup controller 30 includes the control unit 28 and the image pickup unit.
The image pickup unit 11 is controlled based on a control signal supplied from the control unit 28.
次に、この実施例の動作をテイーチングモードと検査モ
ードとに分けて説明する。Next, the operation of this embodiment will be described separately for the teaching mode and the inspection mode.
まず、テイーチングモードにおいては第6図(A)で示
されるフローチヤートのステツプST5が実行されて装置
各部がテイーチングモードにされるとともにステツプST
6で情報入力部27から基準プリント基板16−1の基板ナ
ンバと、この基準プリント基板16−1上に載せられてい
る各部品19−1〜19−nの位置データ,種類データ(メ
ーカ名と、型式名)と、処理手順等とが入力される。First, in the teaching mode, the flow chart step ST5 shown in FIG. 6 (A) is executed to set each part of the apparatus to the teaching mode and the step ST5.
At 6 from the information input unit 27, the board number of the reference printed circuit board 16-1 and the position data and kind data (manufacturer name and type data of each of the components 19-1 to 19-n mounted on the reference printed circuit board 16-1). , Model name) and processing procedure are input.
そしてこれらの各データが入力されれば、制御部28はス
テツプST7でまず前記処理手順などをメモリ24に記憶さ
せる。この後、制御部28はステツプST8に辞書部35から
前記各部品19−1〜19−nの種類データに、各々対応す
る部品形状データD3と、チツプサイズD4と、2値化閾値
データD4とを読み出すとともに、これらの各部品形状デ
ータD3と、各チツプサイズデータD4とからウインド31−
1〜31−nを作成し、この後ステツプST9でこのウイン
ド31−1〜31−nと、前記各部品19−1〜19−nの位置
データと,各2値化閾値データD5とから第4図に示すよ
うな処理テーブル37を作成し、これを前記メモリ24に記
憶させる。この後、制御部28はステツプST10でこのメモ
リ24から前記処理テーブル37と処理手順とを読み出し
て、これを画像処理部23へ供給する。When each of these data is input, the control unit 28 first causes the memory 24 to store the processing procedure and the like in step ST7. After that, the control unit 28, in step ST8, from the dictionary unit 35 to the type data of each of the components 19-1 to 19-n, the corresponding component shape data D3, the chip size D4, and the binarization threshold data D4. At the same time as reading, the window 31-is displayed from each of the parts shape data D3 and each of the chip size data D4.
1 to 31-n are created, and thereafter, in step ST9, the windows 31-1 to 31-n, the position data of each of the parts 19-1 to 19-n, and the respective binarized threshold value data D5 are used as the first data. A processing table 37 as shown in FIG. 4 is created and stored in the memory 24. After that, the control unit 28 reads the processing table 37 and the processing procedure from the memory 24 in step ST10 and supplies them to the image processing unit 23.
この場合、前記処理テーブル37にある各ウインド31−1
〜31−nは第4図に示す如く、各部品19−1〜19−nに
外接したり、1.5mm程度外側を囲んだりするように作ら
れる。In this case, each window 31-1 in the processing table 37
As shown in FIG. 4, .about.31-n are made so as to circumscribe each part 19-1 to 19-n or surround the outside by about 1.5 mm.
次いで、X−Yテーブル部10のテーブル15上に基準プリ
ント基板16−1が載せられれば、制御部28はステツプST
11でチヤツク機構17と、各パルスモータ13,14と、リン
グ照明装置21と、TVカメラ20とを制御して、このTVカメ
ラ20に基準プリント基板16−1を撮像させるとともに、
画像入力部22〜判定部25を制御して前記TVカメラ20によ
つて得られた前記基準プリント基板16−1の画像信号を
画像入力部22によつて画像データに変換させ、ステツプ
ST12でこの変換結果(基準基板画像データ)を画像処理
部23へ転送させ、パラメータ抽出ルーチン40を実行させ
る。Next, when the reference printed circuit board 16-1 is placed on the table 15 of the XY table unit 10, the control unit 28 causes the step ST.
The check mechanism 17 and the pulse motors 13 and 14, the ring illumination device 21, and the TV camera 20 are controlled by 11 to cause the TV camera 20 to image the reference printed circuit board 16-1.
By controlling the image input unit 22 to the determination unit 25, the image signal of the reference printed circuit board 16-1 obtained by the TV camera 20 is converted into image data by the image input unit 22, and the step is performed.
In ST12, this conversion result (reference board image data) is transferred to the image processing unit 23, and the parameter extraction routine 40 is executed.
このパラメータ抽出ルーチン40では、画像処理部23は第
6図(B)に示すステツプST12で前記処理テーブル37の
位置データ(X1,Y2)〜(Xn,Yn)と、各ウインド31−1
〜31−nとを用いて前記基準基板画像データから各部品
19−1〜19−n部分(部品画像)を切り出す。In this parameter extraction routine 40, the image processing unit 23 uses the position data (X1, Y2) to (Xn, Yn) of the processing table 37 and each window 31-1 in step ST12 shown in FIG. 6B.
31-n and each component from the reference board image data
Cut out parts 19-1 to 19-n (part image).
次いで、画像処理部23は、ステツプST13で各部品19−1
〜19−nに対する2値化閾値データD5によつて前記各部
品画像を2値化して、この後ステツプST14でこの2値化
結果からパラメータ(基準パラメータ)を抽出し、これ
を基準パラメータフアイルとしてまとめてメモリ24に記
憶させる。Then, the image processing unit 23, in step ST13,
To 19-n are binarized by the binarized threshold value data D5, and then, in step ST14, a parameter (reference parameter) is extracted from the binarized result, and this is used as a reference parameter file. The data is collectively stored in the memory 24.
また検査モードにおいては、制御部28は第6図(C)で
示されるフローチヤートのステツプST16を実行して装置
各部を検査モードにした後、ステツプST17で前記メモリ
24に記憶されている処理テーブル37と、処理手順とを画
像処理部23へ転送させるとともに、前記メモリ24に記憶
されている基準パラメータフアイルを判定部25へ転送さ
せる。Further, in the inspection mode, the control unit 28 executes the flow chart step ST16 shown in FIG. 6 (C) to set each part of the apparatus to the inspection mode, and then in step ST17, the memory is stored.
The processing table 37 stored in 24 and the processing procedure are transferred to the image processing unit 23, and the reference parameter file stored in the memory 24 is transferred to the determination unit 25.
次いで、X−Yテーブル部10のテーブル15上に被検査プ
リント基板16−2が載せられれば、制御部28は、ステツ
プST18でチヤツク機構17を動作させて、この被検査プリ
ント基板16−2を固定させ、次いで各パルスモータ13,1
4を制御して、被検査プリント基板16−2のX軸方向位
置およびY軸方向位置を決めるとともに、リング照明装
置21の明るさおよびTVカメラ20の撮像条件等を調整す
る。Next, when the inspected printed circuit board 16-2 is placed on the table 15 of the XY table section 10, the control section 28 operates the check mechanism 17 in step ST18 to move the inspected printed circuit board 16-2. Fixed, then each pulse motor 13,1
4 is controlled to determine the position of the printed circuit board 16-2 in the X-axis direction and the position of the Y-axis direction, and the brightness of the ring illuminator 21 and the imaging conditions of the TV camera 20 are adjusted.
次いで、制御部28は、ステツプST19で前記TVカメラ20に
被検査プリント基板16−2を撮像させるとともに、前記
画像入力部22を動作させて、前記TVカメラ20で得られた
前記被検査プリント基板16−2の画像信号から画像デー
タ(被検査基板画像データ)を作成させて、これを画像
処理部23へ転送させて、パラメータ抽出ルーチン40−2
を実行させる。Next, the control unit 28 causes the TV camera 20 to take an image of the printed circuit board 16-2 to be inspected at the step ST19, and also operates the image input unit 22 so that the printed circuit board to be inspected obtained by the TV camera 20. Image data (substrate image data to be inspected) is created from the image signal of 16-2 and is transferred to the image processing unit 23, and the parameter extraction routine 40-2
To execute.
このパラメータ抽出ルーチン40−2では、画像処理部23
が前記パラメータ抽出ルーチン40のときと、同様に動作
する。つまりこの場合、画像処理部23は前記処理テーブ
ル37の各位置データ(X1,Y1)〜(Xn,Yn)、各ウインド
31−1〜31−nに基づいて前記被検査基板画像から各部
品19−1〜19−nの部品画像を切り出すとともに、前記
処理テーブル37の各2値化閾値データ(1)〜(n)で
示される各部品19−1〜19−nの2値化閾値で前記各部
品画像を2値化する。この後、画像処理部23はテイーチ
ング時に用いた前記処理手順で前記2値化結果を処理し
て各部品19−1〜19−nのパラメータ(被検査パラメー
タ)を抽出し、これを制御部28へ供給する。In the parameter extraction routine 40-2, the image processing unit 23
Operates in the same manner as in the parameter extraction routine 40. That is, in this case, the image processing unit 23 uses the respective position data (X1, Y1) to (Xn, Yn) of the processing table 37 and the respective windows.
The component images of the components 19-1 to 19-n are cut out from the inspected board image based on 31-1 to 31-n, and the binarized threshold data (1) to (n) of the processing table 37 are cut out. Each of the component images is binarized by the binarization threshold value of each of the components 19-1 to 19-n shown in FIG. After that, the image processing unit 23 processes the binarized result by the processing procedure used at the time of teaching to extract the parameters (parameters to be inspected) of the parts 19-1 to 19-n, and the control unit 28 Supply to.
制御部28はステツプST20でこれら被検査パラメータをま
とめて、被検査パラメータフアイルを作成させるととも
に、これを判定部25へ転送させて、前記各部品19−1〜
19−nに関する基準パラメータと比較させて被検査プリ
ント基板16−2の部品が脱落しているかどうか、および
これらの部品が姿勢ずれを起こしているかどうかなどを
判定させ、ステツプST21でこの判定結果を判定結果出力
部26へ供給させて表示させる。In step ST20, the control unit 28 puts these inspected parameters together to create an inspected parameter file, and transfers the inspected parameter file to the determination unit 25 so that each of the parts 19-1 to 19-1.
19-n is compared with the reference parameters to determine whether the parts of the printed circuit board 16-2 to be inspected have fallen off, and whether or not these parts have misaligned, and this determination result is obtained in step ST21. It is supplied to the determination result output unit 26 and displayed.
また上述した実施例においては、画像処理部23や判定部
25で画像の処理やパラメータの判定処理を行なうように
しているが、これら画像処理部23や判定部25で行う処理
は、制御部28のプログラムで行うようにしても良い。Further, in the above-described embodiment, the image processing unit 23 and the determination unit
Although the image processing and the parameter determination processing are performed by 25, the processing performed by the image processing unit 23 and the determination unit 25 may be performed by the program of the control unit 28.
また上述した実施例においては、1つの部品に対して1
つのウインドを設けているが、1つの部品であつても、
その各部分の特徴が異なるものについては、1つの部品
に対して複数のウインドを設け、そのウインド毎にパラ
メータを抽出するようにしても良い。Further, in the above-described embodiment, one for one component
We have two windows, but even with one part,
For each part having different characteristics, a plurality of windows may be provided for one part and the parameters may be extracted for each window.
また上述した実施例においては、メーカデータD1と、画
式データD2と、部品形状データD3と、チップサイズデー
タD4と、2値化閾値データD5とを備えた部品辞書37を使
用しているが他のデータ、例えば全ての部品に関する基
準パラメータ、処理手順等を備えた部品辞書を使用する
ようにしても良い。Further, in the above-described embodiment, the parts dictionary 37 including the maker data D1, the image data D2, the parts shape data D3, the chip size data D4, and the binarization threshold value data D5 is used. You may make it use the other data, for example, the parts dictionary provided with the reference parameter about all the parts, a process procedure, etc.
このようにすれば、情報入力部27から基準プリント基板
16−1上に載せられる部品19−1〜19−nの位置データ
と、種類データとを入力するだけで、この基準プリント
基板16−1に関する全てのデータを入力することができ
る。By doing this, the information input unit 27 can be used as a reference printed circuit board.
All the data relating to the reference printed circuit board 16-1 can be input only by inputting the position data and the type data of the components 19-1 to 19-n placed on the 16-1.
また上述した実施例においては、情報入力部27から部品
19−1〜19−nの位置データを入力するようにしている
が、素基板を白色に塗装し、かつ部品を黒色に塗装した
テイーチング用の基板を用いて各部品19−1〜19−nの
位置データを入力するようにしても良い。Further, in the above-described embodiment, the information input unit 27
Although the position data of 19-1 to 19-n are input, each component 19-1 to 19-n is prepared by using the teaching board in which the base substrate is painted white and the components are painted black. You may make it input the position data of.
また上述した実施例においては、情報入力部27から部品
19−1〜19−nの種類データを入力するようにしている
が、基準プリント基板16−1を作成するときに、CAD
(コンピユータ・エイデド・デザイン)等を用いた場合
には、このCAD等から部品19−1〜19−nの種類データ
を得るようにしても良い。Further, in the above-described embodiment, the information input unit 27
The type data of 19-1 to 19-n is input, but when the reference printed circuit board 16-1 is created, the CAD
When (Computer Aided Design) or the like is used, the type data of the parts 19-1 to 19-n may be obtained from this CAD or the like.
《発明の効果》 以上説明したように本発明によれば、従来技術のように
部品の種類に対応した基準データをいちいち入力してい
たものを、部品の種類毎に基準データを予め記憶してい
る基準データ記憶手段を備えていることで、従来技術の
ような手作業による入力作業を一挙に解消することがで
きる。<< Effects of the Invention >> As described above, according to the present invention, the reference data corresponding to the type of component is input as in the prior art, but the reference data is stored in advance for each type of component. Since the reference data storage means is provided, the manual input work as in the prior art can be canceled at once.
第1図はこの発明による部品実装基板の検査装置の一実
施例を示すブロツク図、第2図はこの実施例で用いられ
る基準プリント基板の一例を示す平面図、第3図はこの
実施例で用いられる部品辞書の一例を示す模式図、第4
図はこの発明で用いられる部品辞書の一例を示す模式
図、第5図は、この実施例で用いられる処理テーブルの
一例を示す模式図、第6図(A)はこの実施例のテイー
チング動作例を示すフローチヤート、第6図(B)はこ
の実施例におけるテイーチング動作でのパラメータ抽出
動作例を説明するためのフローチヤート、第6図(C)
はこの実施例における検査時の動作例を示すフローチヤ
ート、第7図は従来の自動検査装置の一例を示すブロツ
ク図、第8図はこの自動検査装置の検査基準となる基準
プリント基板の一例を示す側面図、第9図はこの自動検
査装置のテイーチング動作例を示すフローチヤートであ
る。 11……撮像部、12……処理部、16−1……基準基板(基
準プリント基板)、16−2……被検査基板(被検査プリ
ント基板)、18……素基板、19−1〜19−n……部品、
25……判定部、28……制御部、35……辞書部。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a component mounting board inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view showing an example of a reference printed circuit board used in this embodiment, and FIG. 3 is a view showing this embodiment. A schematic diagram showing an example of a parts dictionary used, No. 4
FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a parts dictionary used in the present invention, FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of a processing table used in this embodiment, and FIG. 6 (A) is a teaching operation example of this embodiment. FIG. 6 (B) is a flow chart for explaining the parameter extraction operation example in the teaching operation in this embodiment, FIG. 6 (C).
FIG. 7 is a flow chart showing an operation example at the time of inspection in this embodiment, FIG. 7 is a block diagram showing an example of a conventional automatic inspection apparatus, and FIG. 8 is an example of a reference printed circuit board which is an inspection reference of this automatic inspection apparatus. The side view shown in FIG. 9 is a flow chart showing an example of the teaching operation of this automatic inspection apparatus. 11 ... Imaging unit, 12 ... Processing unit, 16-1 ... Reference board (reference printed board), 16-2 ... Inspected board (Inspected printed board), 18 ... Element board, 19-1 to 19-1 19-n ... Parts,
25 ... Judgment part, 28 ... Control part, 35 ... Dictionary part.
Claims (2)
され得る受光データを処理して前記被検査基板状の部分
の実装状態を検査する基板検査装置において、 前記被検査基板上に載せられる部品の検査に必要な基準
データを部品の種類毎に予め記憶している基準データ記
憶手段と、 前記被検査基板上に実装される部品の位置および種類を
入力する入力手段と、 前記入力手段によって入力された部品の種類に対応する
基準データを前記基準データ記憶手段によって入力され
た部品の種類に対応する基準データを前記基準データ記
憶手段から読み出す基準データ読み出し手段と、 前記入力手段によって入力された部品の位置データと前
記基準データ読み出し手段によって読み出した基準デー
タとに基づいて基準基板情報を作成する基準基板情報作
成手段と、 前記受光データを処理して被検査情報を作成する被検査
情報手段と、 前記基準基板情報作成手段によって作成された基準基板
情報と前記被検査情報作成手段によって作成された被検
査情報とを比較することにより前記被検査基板上の部品
の実装状態を検査する判定手段と、 を備えたことを特徴とする基板検査装置。1. A board inspecting apparatus for inspecting a mounting state of a portion of the board to be inspected by processing received light data that can be projected and received on a board to be inspected on which a component is mounted. Reference data storage means for storing in advance reference data required for inspection of mounted components for each type of component; input means for inputting the position and type of the component mounted on the board to be inspected; Reference data corresponding to the type of component input by the means, reference data reading means for reading reference data corresponding to the type of component input from the reference data storage means from the reference data storage means, and input by the input means Reference board information for creating reference board information based on the position data of the produced component and the reference data read by the reference data reading means Creating means, inspected information means for processing the received light data to produce inspected information, reference board information created by the reference board information creating means, and inspected information created by the inspected information creating means A board inspecting device, comprising: a determining unit that inspects a mounting state of a component on the board to be inspected by comparing
され得る受光データを処理して被検査基板上の部品の実
装状態を検査する基板検査方法において、 被検査基板上に載せられる部品の検査に必要な基準デー
タを部品の種類毎に予め記憶しておき、 被検査基板上に実装される部品の位置および種類を入力
することによって部品の種類ごとに対応する前記基準デ
ータと部品の位置とに基づき基準基板情報を作成し、 前記作成された基準基板情報に従って前記受光データを
処理して被検査基板上の部品の実装状態を検査すること を特徴とする基板検査方法。2. A substrate inspecting method for inspecting a mounting state of a component on a substrate to be inspected by processing received light data that can be projected and received on a substrate to be inspected on which a component is mounted, the substrate being inspected. The reference data necessary for the inspection of the parts are stored in advance for each type of parts, and the reference data and the parts corresponding to each type of parts are input by inputting the position and the type of the parts mounted on the board to be inspected. The board inspection method is characterized in that the reference board information is created based on the position of, and the received light data is processed according to the created reference board information to inspect the mounting state of the component on the board to be inspected.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61031767A JPH07107510B2 (en) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | Substrate inspection device and substrate inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61031767A JPH07107510B2 (en) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | Substrate inspection device and substrate inspection method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62190448A JPS62190448A (en) | 1987-08-20 |
| JPH07107510B2 true JPH07107510B2 (en) | 1995-11-15 |
Family
ID=12340193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61031767A Expired - Lifetime JPH07107510B2 (en) | 1986-02-18 | 1986-02-18 | Substrate inspection device and substrate inspection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07107510B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1322800C (en) * | 2003-05-30 | 2007-06-20 | 株式会社查纳位资讯情报 | Substrate information creating method and substrate information creating device |
| JP2018506127A (en) * | 2014-11-24 | 2018-03-01 | キトフ システムズ エルティーディー. | Automatic inspection method |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03131985A (en) * | 1989-10-18 | 1991-06-05 | Sanyo Electric Co Ltd | Device for inspecting mounted substrate |
| WO2014033815A1 (en) * | 2012-08-27 | 2014-03-06 | 富士機械製造株式会社 | Ng component display method and ng component display system |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60233900A (en) * | 1984-05-04 | 1985-11-20 | 株式会社東芝 | Device for mounting and inspecting part of printed substrate |
-
1986
- 1986-02-18 JP JP61031767A patent/JPH07107510B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1322800C (en) * | 2003-05-30 | 2007-06-20 | 株式会社查纳位资讯情报 | Substrate information creating method and substrate information creating device |
| JP2018506127A (en) * | 2014-11-24 | 2018-03-01 | キトフ システムズ エルティーディー. | Automatic inspection method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62190448A (en) | 1987-08-20 |
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |