JPH07113535B2 - Surface inclination measuring device - Google Patents
Surface inclination measuring deviceInfo
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- JPH07113535B2 JPH07113535B2 JP4794783A JP4794783A JPH07113535B2 JP H07113535 B2 JPH07113535 B2 JP H07113535B2 JP 4794783 A JP4794783 A JP 4794783A JP 4794783 A JP4794783 A JP 4794783A JP H07113535 B2 JPH07113535 B2 JP H07113535B2
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- camera
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は、2本の相異なる向きのスリット光を3次元物
体面上に同時に投影し、投影像をテレビジョンカメラで
撮影し撮像面上の像から面ベクトルを導出して3次元物
体の面の傾度を測定する面傾度測定装置に関する。Description: (1) Technical Field of the Invention According to the present invention, two slit lights in different directions are simultaneously projected onto a three-dimensional object plane, and a projected image is taken by a television camera to be taken on an image pickup plane. The present invention relates to a surface inclination measuring device for deriving a surface vector from an image and measuring the inclination of the surface of a three-dimensional object.
(2) 技術の背景 近年、産業用ロボットの発展はめざましいものがある
が、ロボットの移動あるいはロボットに作業を行なわせ
る場合、作業領域内の物体を3次元的に認識することが
必要になる。3次元物体認識では、対象物までの距離と
対象物の面の傾き情報を得ることが特に重要な課題であ
る。(2) Background of Technology Although industrial robots have been remarkably developed in recent years, it is necessary to three-dimensionally recognize an object in a work area when moving the robot or causing the robot to perform work. In three-dimensional object recognition, obtaining the distance to the object and the tilt information of the surface of the object is a particularly important issue.
(3) 従来技術と問題点 従来、3次元物体の面ベクトルを検出する方式として
は、第1図に示すような原理によつて行われている。す
なわち、光源1をZ軸を中心にして回転運動させたとき
の物体面2の輝度の変化をカメラ3にてとらえ解析する
ものである。この場合輝度IRが次の関係式、 IR(β)=a+bcosβ+csinβ …(1) で表わせる直流分をもつた正弦波状の変化をするものと
して、それの位相と振幅から面ベクトルを導出する方法
として提案されている。この方式では、光源1をZ軸回
りに回転してそれに伴うIRの変化を逐一測定しなければ
ならないため非常に時間を要するという問題があり、ま
た物体面2が完全な拡散面でない場合にはIRの正弦波に
歪が生じて測定誤差が大きくなる等の問題点を有してい
る。他方、光源と物体面とカメラとの距離によつて面ベ
クトルを算出する方式も提案されているがこの場合には
3点が一直線上にない場合の距離を測定しなければなら
ないためデータ処理に時間を要するという問題点を有し
ている。(3) Conventional Technology and Problems Conventionally, a method for detecting the surface vector of a three-dimensional object is performed based on the principle shown in FIG. That is, the change in the brightness of the object plane 2 when the light source 1 is rotated around the Z axis is captured and analyzed by the camera 3. In this case, it is assumed that the brightness I R has a sine wave-like change with a direct current component represented by the following relational expression, I R (β) = a + bcosβ + csinβ (1), and the surface vector is derived from its phase and amplitude. Proposed as a method. This method has a problem that it takes a very long time because the light source 1 has to be rotated around the Z-axis and changes in I R accompanying it have to be measured step by step, and when the object surface 2 is not a perfect diffusing surface. Has a problem that the sine wave of I R is distorted and the measurement error increases. On the other hand, a method of calculating a surface vector based on the distance between the light source, the object surface, and the camera has also been proposed, but in this case, the distance when three points are not on a straight line must be measured, and therefore data processing is performed. It has a problem that it takes time.
(4) 発明の目的 本発明の目的は上述の問題点に鑑み、2本の相異なる向
きのスリット光を同時に3次元物体面上に投影し、撮影
面上で投影像のx,y成分を求めることによつて面ベクト
ルを導出することにより3次元空間内に任意に置かれた
物体の面の傾きを測定する面傾度測定装置を提供するこ
とにある。(4) Object of the invention In view of the above problems, the object of the present invention is to project two slit light beams in different directions at the same time onto a three-dimensional object plane, and to obtain the x and y components of the projected image on the photographing plane. It is an object of the present invention to provide a surface inclination measuring device that measures the inclination of the surface of an object arbitrarily placed in a three-dimensional space by deriving a surface vector by obtaining it.
(5) 発明の構成 この目的は、本発明によれば、2本の相異なる向きのス
リット光を3次元物体上にスリット光を投影する投影機
と、該3次元物体上に投影された該スリット光による投
影像を撮影するテレビジョンカメラと、該テレビジョン
カメラによる撮影像を2値化データとして処理する画像
処理部と、該投影機と該テレビジョンカメラとの位置座
標を校正する座標校正演算部と、前記撮影像面上の投影
像の面ベクトルを計算する面ベクトル演算部と、該投影
機と該テレビジョンカメラとの方向を制御する制御部と
を具備する面傾度測定装置を提供することにより達成さ
れる。(5) Structure of the Invention According to the present invention, the object is to provide a projector for projecting two slit light beams having different directions onto a three-dimensional object, and a projector for projecting the slit light beam onto the three-dimensional object. A television camera that captures a projected image of slit light, an image processing unit that processes the captured image of the television camera as binarized data, and coordinate calibration that calibrates the position coordinates of the projector and the television camera. Provided is a surface inclination measuring device comprising a calculation section, a surface vector calculation section for calculating a surface vector of a projection image on the photographed image plane, and a control section for controlling directions of the projector and the television camera. It is achieved by
(6) 発明の実施例 第2図は、本発明による面傾度測定装置の一実施例を示
すブロック線図である。第2図において、4は2本の互
に直交するスリットを有し該スリットから3次元物体上
にスリット光を投影する投影機(プロジェクタ)であ
り、5は投影されたスリット光による投影像を撮影する
テレビカメラであり、6はテレビカメラの撮影像を2値
化データとして処理する画像処理部であり、7はプロジ
ェクタ4とテレビカメラ5の位置座標の校正(キャリブ
レーション)をする座標校正演算部であり、8は撮影像
面上でのx,y成分によつて面ベクトルを導出する面ベク
トル演算部であり、そして9はプロジェクタ4とテレビ
カメラ5の方向を制御する制御部である。また第3図は
プロジェクタ4とテレビカメラ5の空間配置関係を示す
斜視図であり、第4図は、第3図の空間配置におけるキ
ャリブレーション時の座標関係を示し、第5図は、第3
図の空間配置におけるテレビカメラの撮像面上の像の座
標を示し、第6図は第2図に示す装置を用いて3次元物
体が任意の傾きを有するときの座標関係を示す図であ
る。(6) Embodiment of the Invention FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the surface inclination measuring device according to the present invention. In FIG. 2, 4 is a projector (projector) which has two mutually orthogonal slits and projects slit light onto a three-dimensional object from the slits, and 5 shows a projection image by the projected slit light. Reference numeral 6 denotes a TV camera for photographing, 6 is an image processing unit for processing a photographed image of the TV camera as binary data, and 7 is a coordinate calibration calculation for calibrating position coordinates of the projector 4 and the TV camera 5. 8 is a plane vector calculation unit for deriving a plane vector from the x and y components on the photographic image plane, and 9 is a control unit for controlling the directions of the projector 4 and the television camera 5. FIG. 3 is a perspective view showing a spatial arrangement relationship between the projector 4 and the television camera 5, FIG. 4 shows a coordinate relationship at the time of calibration in the spatial arrangement shown in FIG. 3, and FIG.
The coordinates of the image on the image pickup surface of the television camera in the spatial arrangement of the figure are shown, and FIG. 6 is a diagram showing the coordinate relationship when a three-dimensional object has an arbitrary inclination by using the apparatus shown in FIG.
このような構成において、プロジェクタ4の座標系Op−
xpypzpについて光軸をzpとしこれに直交するようにxp,y
p軸を定める。一方、カメラ5の座標系Oc−xcyczcにつ
いて撮像面の横軸をxc、縦軸をycに選びzcをこれらに直
交するように定める(第4図参照)。そしてOp−xpypzp
がOc−xcyczcに対して、zc軸回りにα、yc軸回りにβ、
xc軸回りにγ回転しているとする。最初に行なう両座標
系のキャリブレーションはこのオイラー角α,β,γを
求めることである。In such a configuration, the coordinate system O p − of the projector 4 is
x p y p z p x p to the optical axis and z p perpendicular to the, y
Determine the p- axis. On the other hand, with respect to the coordinate system O c −x c y c z c of the camera 5, the horizontal axis of the imaging surface is selected as x c and the vertical axis is selected as y c , and z c is determined to be orthogonal to these (see FIG. 4). And O p −x p y p z p
Is O c −x c y c z c , α around the z c axis, β around the y c axis,
It is supposed to rotate γ around the x c axis. The first calibration of both coordinate systems is to obtain the Euler angles α, β, γ.
ここで平面πoをzp軸に直交するように設定する。すな
わち、 πo⊥zp …(2) プロジェクタ4のスリット光としては解析を容易にする
ために第4図に示すようにxp軸上に長さsのスリット
を、yp軸上に長さtのスリットを考える。すなわち、 =sp …(3) =tp …(4) ここでドット・はそれがベクトル量であることを示す。
i,j,kは単位ベクトルとする。この直交する2本のスリ
ット光を面πoに投影し、その時のπo上にできる投影
像を,に対応して各々,とする。式(2)によ
り、 =sp …(5) =tp …(6) ここで、Op−xpypzp系はOc−xcyczc系に対してオイラー
角α,β,γの関係にあり、変換行列を(α,β,
γ)とすれば次式のようになる。Here, the plane π o is set to be orthogonal to the z p axis. That is, π o ⊥z p (2) For the slit light of the projector 4, as shown in FIG. 4, a slit having a length s on the x p axis and a long light on the y p axis are provided as shown in FIG. Consider a slit of size t. That is, = sp (3) = tp (4) where dot · indicates that it is a vector quantity.
i, j, k are unit vectors. The two slit light beams that are orthogonal to each other are projected on the surface π o , and the projected images formed on π o at that time are respectively defined as and. According to the equation (2), = sp (5) = tp (6) where the O p −x p y p z p system is the Euler angles α, β with respect to the O c −x c y c z c system. , Γ, and the transformation matrix is (α, β,
If γ), the following equation is obtained.
この関係式を使用すると、式(5),(6)は、 =s cosα cosβc+s sinα cosβc−s sinβ
c …(9) =t(−sinα cosγ+cosα sinβ sinγ)c +t(cosα cosγ+sinα sinβ sinγ)c +t cosβ sinγc …(10) 一方、,のOc−xcyczc系上での表現を、 =Xec+Yec+Zec …(11) =Xfc+Yfc+Zfc …(12) とすれば、(9)と(10)との関係から Xe=s cosα cosβ …(13) Ye=s sinα cosβ …(14) Ze=−s sinβ …(15) Xf=t(−sinαcosγ+cosα sinβ sinγ) …(16) Yf=t(cosα cosγ+sinα sinβ sinγ) …(17) Zf=t cosβsinγ …(18) ここで、XeとYeは各々の撮像面上のxc,yc成分であ
り、XfとYfはのxc,yc成分であるため測定することが
できる(第5図参照)。 Using this relational expression, the expressions (5) and (6) are: = s cosα cosβc + s sinα cosβc−s sinβ
c (9) = t (-sinα cosγ + cosα sinβ sinγ) c + t (cosα cosγ + sinα sinβ sinγ) c + t cosβ sinγc (10) On the other hand, the expression of, on the O c −x c y c z c system, = Xec + Yec + Zec ... (11) = Xfc + Yfc + Zfc ... (12) From the relationship between (9) and (10), Xe = s cosα cosβ (13) Ye = s sinα cosβ (14) Ze = -s sinβ (15) Xf = t (-sinαcosγ + cosα sinβ sinγ) (16) Yf = t (cosα cosγ + sinα sinβ sinγ) (17) Zf = t cosβsinγ (18) where Xe and Ye are on the respective imaging planes. Since x c and y c components of Xf and Yf are x c and y c components of, they can be measured (see FIG. 5).
(13)と(14)から、Ye/Xe=tanα、 ∴α=tan-1Ye/Xe …(19) また(13)〜(15)式から Ze2/A2=s2sin2β/s2cos2β さらに(16)〜(18)から 従つて(19)〜(21)を用いてα,β,γを求めること
ができる。但しβ,γの復号についてはOp−xpypzp系、
Oc−xcyczcの位置関係で決定できる。From (13) and (14), Ye / Xe = tanα, ∴α = tan -1 Ye / Xe… (19) Also, from Eqs. (13) to (15), Ze 2 / A 2 = s 2 sin 2 β / s 2 cos 2 β From (16) to (18) Therefore, α, β, γ can be obtained by using (19) to (21). However, for decoding β and γ, the O p −x p y p z p system,
It can be determined by the positional relationship of O c −x c y c z c .
以上でキャリブレーションが終了したので任意の傾きを
もつ物体面π1に、プロジェクタとテレビカメラをそれ
ぞれ基準面からオイラー角αp,βp,γp,αc,βc,γcだ
け回転させて,のスリット光を投影したときのと
の導出を第6図を参照しつゝ行う。Since the calibration is completed, the projector and the TV camera are rotated by Euler angles α p , β p , γ p , α c , β c , γ c from the reference plane to the object plane π 1 having an arbitrary inclination. Then, the derivation from and when the slit light is projected is performed with reference to FIG.
まず、プロジェクタとカメラの回転後の座標系をそれぞ
れOp′−xp′yp′zp′とOc′−xc′yc′zc′とする。
Op′−xp′yp′zp′はOp−xpypzpに対して また、Oc′−xc′yc′zc′はOc−xcyczcに対して であり、この式は と書き替えられる。ここで′のダッシュ“′”はの
転置行列を示す。従つてOp′−xp′yp′zp′はOc′−
xc′yc′zc′に対して ここで、 であると仮定する。First, the coordinate systems after rotation of the projector and the camera are respectively O p ′ −x p ′ y p ′ z p ′ and O c ′ −x c ′ y c ′ z c ′.
O p ′ −x p ′ y p ′ z p ′ is for O p −x p y p z p Also, O c ′ −x c ′ y c ′ z c ′ is O c −x c y c z c And this formula is Can be rewritten as Here, the dash "'" indicates the transposed matrix of. Therefore, O p ′ −x p ′ y p ′ z p ′ is O c ′ −
For x c ′ y c ′ z c ′ here, Suppose that
一方、物体面上の撮影像はOp′−xp′yp′zp′系の
xp′zp′平面内にあるので、 但し (28)式を(27)式に代入すると Xeh21+Yeh22+Zeh23=0 …(29) 測定できないZeは ただし、h23≠0とする。また物体面上の撮影像は
Op′−xp′yp′zp′系のyp′zp′平面内にあるので、 但し、 を上式に代入すると Xfh11+Yfh12+Zfh13=0 …(33) 測定できないZfは ただし、h13≠0とする。On the other hand, the captured image on the object plane is of the O p ′ −x p ′ y p ′ z p ′ system.
Since it is in the x p ′ z p ′ plane, However Substituting equation (28) into equation (27), Xeh 21 + Yeh 22 + Zeh 23 = 0 (29) Ze that cannot be measured However, h 23 ≠ 0. Also, the captured image on the object plane
Since it is in the y p ′ z p ′ plane of the O p ′ −x p ′ y p ′ z p ′ system, However, When is substituted into the above formula, Xfh 11 + Yfh 12 + Zfh 13 = 0 (33) However, h 13 ≠ 0.
最後に、π1の面ベクトルの導出を行なうと面ベクトル
はとの外積で与えられる。従つて、 従つて、π1のOc′−xc′yc′zc′系に対する方向余弦
は、 第7図、第8図は本発明による装置の演算流れを示す。
第7図、第8図においてキャリプレーション時には、基
準点に設置されたプロジェクタとカメラの各座標系のキ
ャリブレーションを行なう。ここでは解析上簡単化のた
め、直交する2本のスリット光を基準面π0に投影す
る。画像処理部6においてしきい値処理を行い,の
検出をして、x,y成分を求める。次に座標校正演算部7
において、式(19)〜(21)を用いてオイラー角α,
β,γを算出する。このキャリブレーションは最初行え
ばその位置関係を変えない限り行う必要はない。Finally, when the surface vector of π 1 is derived, the surface vector is given by the outer product of and. Therefore, Therefore, the direction cosine for the O c ′ −x c ′ y c ′ z c ′ system of π 1 is 7 and 8 show the operational flow of the device according to the present invention.
In FIGS. 7 and 8, at the time of calibration, the coordinate systems of the projector and the camera installed at the reference point are calibrated. Here, for simplification in analysis, two orthogonal slit lights are projected onto the reference plane π 0 . The image processing unit 6 performs threshold processing to detect and obtain x and y components. Next, the coordinate calibration calculation unit 7
In equation (19) to (21), the Euler angle α,
Calculate β and γ. This calibration does not need to be performed if it is performed first unless the positional relationship is changed.
次に任意の面の傾きを導出する場合について説明する。
プロジェクタとカメラの姿勢を制御して向きを目標点に
向ける。制御部9はプロジェクタとカメラの姿勢をx,y,
z,軸回りに自由に姿勢を変えられるような機能をもたせ
るために設けられるものである。この制御部9によつて
基準点からの回転角を読み取ることができる。座標校正
演算部7では、α,β,γ,αp,βp,γp,αc,βc,γc
からoを求める。次に画像処理部6において、しきい
値処理によつて撮像面上での,を検出してx,y成分
の長さを算出する。さらに面ベクトル演算部8におい
て、式(30),(34)を使いZe,Zfを導出し、式(3
6),(37)からu,v,wを求め式(38)からπ1の方向余
弦を導出する。Next, the case of deriving the inclination of an arbitrary surface will be described.
Control the orientation of the projector and camera to point the target at the target point. The control unit 9 sets the postures of the projector and the camera to x, y,
It is provided to have a function that allows the posture to be freely changed around the z and axis. The control unit 9 can read the rotation angle from the reference point. In the coordinate calibration calculation unit 7, α, β, γ, α p , β p , γ p , α c , β c , γ c
From o . Next, in the image processing unit 6, the value on the image pickup surface is detected by threshold processing to calculate the lengths of the x and y components. Further, in the surface vector calculation unit 8, Ze and Zf are derived using the equations (30) and (34), and the equation (3
6), u, v, w are obtained from (37) and the direction cosine of π 1 is derived from Eq. (38).
(7) 発明の効果 本発明による面傾度測定装置によつて物体面の傾き計測
が比較的短い時間、例えば数秒のオーダで実現できる。(7) Effects of the Invention With the surface inclination measuring device according to the present invention, the inclination of the object surface can be measured in a relatively short time, for example, on the order of several seconds.
第1図は、従来の方式を説明する図、 第2図は、本発明の一実施例としての面傾度測定装置の
ブロック線図、 第3図は、第2図の装置におけるプロジェクタとテレビ
カメラの空間配置を示す斜視図、 第4図は、第3図の空間配置におけるキャリブレーショ
ン時の座標関係の説明用の図、 第5図は、第3図の空間配置におけるテレビカメラ撮像
面上の像の座標関係の説明用の図、 第6図は、第2図の装置における3次元物体の面が任意
の傾きをもつた場合の空間配置における座標関係の説明
用の図、 第7図は、第2図の装置におけるキャリブレーション時
の演算流れを示す流れ図、および 第8図は、第2図の装置における物体面の傾きを導出す
る演算流れを示す流れ図である。 1……光源、2……3次元物体面、3,5……テレビカメ
ラ、4……プロジェクタ、6……画像処理部、7……座
標校正演算部、8……面ベクトル演算部、9……制御
部。FIG. 1 is a diagram for explaining a conventional method, FIG. 2 is a block diagram of a surface inclination measuring device as an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a projector and a television camera in the device of FIG. FIG. 4 is a perspective view showing the spatial arrangement of FIG. 4, FIG. 4 is a diagram for explaining the coordinate relationship at the time of calibration in the spatial arrangement of FIG. 3, and FIG. 5 is the image pickup surface of the television camera in the spatial arrangement of FIG. FIG. 6 is a diagram for explaining the coordinate relation of the images, FIG. 6 is a diagram for explaining the coordinate relation in the spatial arrangement when the surface of the three-dimensional object in the apparatus of FIG. 2 has an arbitrary inclination, and FIG. 2 is a flow chart showing a calculation flow at the time of calibration in the apparatus of FIG. 2, and FIG. 8 is a flow chart showing a calculation flow of deriving the inclination of the object plane in the apparatus of FIG. 1 ... Light source, 2 ... 3D object plane, 3, 5 ... TV camera, 4 ... Projector, 6 ... Image processing unit, 7 ... Coordinate calibration calculation unit, 8 ... Plane vector calculation unit, 9 ...... Control unit.
Claims (1)
物体上に投影する投影機と、該3次元物体上に投影され
た該スリット光による投影像を撮影するテレビジョンカ
メラと、該テレビジョンカメラによる撮影像を2値化デ
ータとして処理する画像処理部と、該投影機と該テレビ
ジョンカメラとの位置座標を校正する座標校正演算部
と、前記撮影像面上の投影像の面ベクトルを計算する面
ベクトル演算部と、該投影機と該テレビジョンカメラと
の方向を制御する制御部とを具備する面傾度測定装置。1. A projector for projecting two slit lights in different directions onto a three-dimensional object, a television camera for photographing a projected image of the slit light projected on the three-dimensional object, An image processing unit that processes an image captured by a television camera as binary data, a coordinate calibration calculation unit that calibrates the position coordinates of the projector and the television camera, and a plane of the projected image on the captured image plane. A surface inclination measuring device comprising a surface vector calculation unit for calculating a vector and a control unit for controlling the directions of the projector and the television camera.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4794783A JPH07113535B2 (en) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | Surface inclination measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4794783A JPH07113535B2 (en) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | Surface inclination measuring device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59173716A JPS59173716A (en) | 1984-10-01 |
| JPH07113535B2 true JPH07113535B2 (en) | 1995-12-06 |
Family
ID=12789555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4794783A Expired - Lifetime JPH07113535B2 (en) | 1983-03-24 | 1983-03-24 | Surface inclination measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07113535B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH071164B2 (en) * | 1985-02-28 | 1995-01-11 | ソニー株式会社 | 3D shape recognition device |
| US5531087A (en) * | 1990-10-05 | 1996-07-02 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Metal sheet bending machine |
| WO1992005892A1 (en) * | 1990-10-05 | 1992-04-16 | Komatsu Ltd. | Metal sheet bending machine |
| WO1994027756A1 (en) * | 1993-05-24 | 1994-12-08 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Angle of bend detector and straight line extractor used therefor, and angle of bend detecting position setting apparatus |
-
1983
- 1983-03-24 JP JP4794783A patent/JPH07113535B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59173716A (en) | 1984-10-01 |
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