Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH07118017B2 - Mounting inspection method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH07118017B2 - Mounting inspection method - Google Patents

Mounting inspection method

Info

Publication number
JPH07118017B2
JPH07118017B2 JP3029678A JP2967891A JPH07118017B2 JP H07118017 B2 JPH07118017 B2 JP H07118017B2 JP 3029678 A JP3029678 A JP 3029678A JP 2967891 A JP2967891 A JP 2967891A JP H07118017 B2 JPH07118017 B2 JP H07118017B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip component
point
contour line
mounting
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP3029678A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0520434A (en
Inventor
長生 ▲濱▼田
一成 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP3029678A priority Critical patent/JPH07118017B2/en
Publication of JPH0520434A publication Critical patent/JPH0520434A/en
Publication of JPH07118017B2 publication Critical patent/JPH07118017B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、配線基板に半田によっ
て面実装されたチップ部品を3次元スキャナなどによっ
て計測して得た形状データに基づいてチップ部品の実装
状態を検査する実装検査方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting inspection method for inspecting a mounting state of a chip component based on shape data obtained by measuring a chip component surface-mounted on a wiring board with solder by a three-dimensional scanner or the like. It is a thing.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、配線基板に半田によって面実装
されたチップ部品の形状の良否(欠けの有無)および
装方向の良否を判定する場合には、あらかじめ設定され
た検査箇所について形状を計測しているのが現状であ
る。
In general, when determining the quality (presence or absence of chipping) and real <br/> instrumentation direction of acceptability of the shape of the chip components that are surface-mounted by soldering to the wiring board, test points that have been set in advance The current situation is to measure the shape of the.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、最近では、
配線基板に面実装されるチップ部品が小型化かつ薄型化
され、また、回路パターンが小型化されているものであ
るから、チップ部品と半田との境界を識別するのが困難
になってきているとともに、あらかじめ設定された検査
箇所を測定するだけではチップ部品の実装状態の良否を
精度よく判定できないという問題が生じてきている。
By the way, recently,
It is becoming difficult to identify the boundary between the chip component and the solder because the chip component surface-mounted on the wiring board is miniaturized and thinned and the circuit pattern is miniaturized. At the same time, there is a problem in that the quality of the mounting state of the chip component cannot be accurately determined only by measuring a preset inspection location.

【0004】本発明は上記問題点の解決を目的とするも
のであり、配線基板に半田によって面実装されたチップ
部品について、チップ部品の形状実装方向の良否を精
度よく判定し、もってチップ部品の実装状態の良否を精
度よく判定できるようにした実装検査方法を提供しよう
とするものである。
[0004] The present invention is aimed to solve the above problems, the chip component is surface-mounted by soldering to the wiring board, the acceptability of the shape and mounting direction of the tip parts is determined accurately, with it tip Examine the quality of component mounting
It is intended to provide a mounting inspection method that can be accurately determined .

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、配線基板に半
田によって面実装されたチップ部品を3次元計測して得
た形状データに基づいてチップ部品の実装状態を検査す
る実装検査方法において、上記目的を達成しようとする
ものである。すなわち、形状データに基づいてチップ部
品の輪郭線のコーナの位置を決定した後、輪郭線におけ
る隣接するコーナ間の各辺のうちで半田が付いていない
辺の上の複数の点の座標に基づく1次回帰演算によっ
て、配線基板に対して設定された基準線に対する上記辺
の傾斜角度を求め、求めた傾斜角度に基づいて実装方向
の良否を判定した後、上記辺の両端のコーナの間の距離
を求め、この距離を基準距離と比較することによりチッ
プ部品の形状の良否を判定している。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a mounting inspection method for inspecting a mounting state of a chip component based on shape data obtained by three-dimensionally measuring a chip component surface-mounted by soldering on a wiring board. It is intended to achieve the above object. That is, after determining the position of the corner of the contour line of the chip part based on the shape data, based on the coordinates of a plurality of points on the side of the contour line between the adjacent corners without solder After the inclination angle of the side with respect to the reference line set for the wiring board is obtained by the linear regression calculation, and the quality of the mounting direction is determined based on the obtained inclination angle, the angle between the corners at both ends of the side is determined . distance
Then, by comparing this distance with the reference distance,
The quality of the shape of the parts is judged .

【0006】[0006]

【0007】[0007]

【作用】上述した本発明の方法によれば、形状データに
基づいてチップ部品の輪郭線のコーナの位置を決定した
後、輪郭線における隣接するコーナ間の各辺のうちで半
田が付いていない辺についてのデータに基づいて、チッ
プ部品の実装状態の良否を判定しているのである。その
結果、半田の影響を考慮せずにチップ部品の実装状態の
良否判定が行えることになる。
According to the above-described method of the present invention, after the position of the corner of the contour line of the chip component is determined based on the shape data, no solder is attached to each side of the contour line between adjacent corners. The quality of the mounting state of the chip component is determined based on the data on the sides. As a result, the quality of the mounting state of the chip component can be determined without considering the influence of solder.

【0008】また、上記辺の複数の点の座標に基づく1
次回帰演算によって、配線基板に対して設定された基準
線に対する上記辺の傾斜角度を求め、求めた傾斜角度に
基づいて実装方向の良否を判定しているから、実装方向
のずれを精度よく判定でき、かつ、上記辺の両端のコー
ナの間の距離を求め、この距離を基準距離と比較するこ
とによりチップ部品の形状の良否を判定しているので、
チップ部品に欠けなどがあれば精度よく検出できるので
ある。つまり、チップ部品の実装方向とチップ部品の形
状との良否判定を行なうことにより、チップ部品の実装
状態を総合的かつ精度よく判定することができる。
Further , 1 based on the coordinates of a plurality of points on the above side
The inclination angle of the above side with respect to the reference line set for the wiring board is obtained by the next regression calculation, and the quality of the mounting direction is determined based on the obtained inclination angle. Therefore, the displacement of the mounting direction is accurately determined. It is possible , and the distance between the corners at both ends of the side is obtained, and the quality of the shape of the chip component is determined by comparing this distance with the reference distance.
If there is a chip in the chip, it can be detected accurately. That is, the mounting direction of the chip component and the shape of the chip component.
Of chip components by judging the quality
The state can be comprehensively and accurately determined.

【0009】[0009]

【実施例】配線基板に半田によって面実装されたチップ
部品は、3次元スキャナなどを用いて3次元形状が計測
され、計測された形状データは各座標位置の点に高さの
データを持ったディジタル信号の画像データとしてフレ
ームメモリに格納される。こうしてフレームメモリに格
納された画像データに対して、マイクロプロセッサなど
を主構成とする画像処理手段を用いて以下の処理を行
う。
Example A chip component surface-mounted by soldering on a wiring board has a three-dimensional shape measured using a three-dimensional scanner, and the measured shape data has height data at each coordinate position. The image data of the digital signal is stored in the frame memory. The image data stored in the frame memory in this way is subjected to the following processing by using an image processing means mainly composed of a microprocessor or the like.

【0010】チップ部品は、図2に示すように、長手方
向の両端に半田2が付けられているものとする。実装方
向を求めるために、まず、チップ部品1の輪郭線を抽出
する。輪郭線の抽出のためには、図2に示すように、画
像上でチップ部品1の中心の点(画素)を基準点P1
して設定し、基準点P1 よりチップ部品1の長手方向に
ほぼ直交する方向(図2では上下方向を基準として90
度の方向)に探索線Ldを設定する。図1に示すよう
に、ステップ100において動作を開始すると、基準点
1 から始めて探索線Ldの上で隣接する各点の間の高
さの差を順次求める。この差が一定値以上になった点の
一つ前の点をチップ部品1のエッジの点とみなす(ステ
ップ101)。この点が追跡開始点P2 になる。
[0010] chip component, as shown in FIG. 2, it is assumed that the solder 2 is applied to both ends of the long side direction. In order to obtain the mounting direction, first, the contour line of the chip component 1 is extracted. In order to extract the contour line, as shown in FIG. 2, the center point (pixel) of the chip component 1 is set as a reference point P 1 on the image, and the reference point P 1 extends in the longitudinal direction of the chip component 1. A direction that is almost orthogonal (in FIG.
The search line Ld is set to (degree direction). As shown in FIG. 1, when the operation is started in step 100, the height difference between adjacent points on the search line Ld is sequentially obtained starting from the reference point P 1 . The point immediately before the point where this difference exceeds a certain value is regarded as the edge point of the chip component 1 (step 101). This point becomes the tracking start point P 2 .

【0011】次に、ステップ102においてチップ部品
1の周囲に沿って左回りに探索してチップ部品1のコー
ナの位置を決定する。コーナの位置は、図4のような手
順で決定される。すなわち、まず、チップ部品1の輪郭
線Lを抽出する。このような輪郭線Lは、たとえば、チ
ップ部品1の高さ情報を用いて所定高さ以上の領域の輪
郭線Lを求めるようにすれば得ることができる。図6に
ついて言えば、コーナの位置は点A、B、C、Dにな
る。
Next, in step 102, the position of the corner of the chip component 1 is determined by searching in the counterclockwise direction along the periphery of the chip component 1. The position of the corner is determined by the procedure shown in FIG. That is, first, to extract a contour line L of the chip component 1. Such a contour line L can be obtained, for example, by using the height information of the chip component 1 to obtain the contour line L of a region having a predetermined height or more. Referring to FIG. 6, the corner positions are points A, B, C and D.

【0012】上述のようにしてチップ部品1の輪郭線L
を求めた後、基準方向コードを設定する。説明を容易に
するために、図6のように、輪郭線Lに対して探索線L
dが直交しているものと仮定する。このとき、基準点P
1 から追跡開始点P2 に向かう向きの方向コードを基準
方向コードとして設定する。また、追跡開始点P2 から
始めて、輪郭線Lの上の点を左回り、または右回りに順
次追跡するとともに、各点の方向コードと基準方向コー
ドとの差を求める。
As described above, the contour line L of the chip part 1
Then, the reference direction code is set. In order to facilitate the explanation, as shown in FIG.
Suppose d is orthogonal. At this time, the reference point P
The direction code in the direction from 1 to the tracking start point P 2 is set as the reference direction code. Further, starting from the tracking start point P 2 , points on the contour line L are sequentially tracked counterclockwise or clockwise, and the difference between the direction code of each point and the reference direction code is obtained.

【0013】ところで、方向コードは、図5に示すよう
に、一辺がn個の点列(n≧3の自然数)からなる正方
形3の最外周の点列に対して、正方形3の一つの角から
右回り、または左回りで、0から順に付与した数値によ
って表現される。たとえば、図5のように、一辺が
の点列である場合には、0〜31までの数値が、正方形
3の中心の点(斜線で示す)に対する方向コードとして
付与される。
By the way, as shown in FIG. 5, the direction code has one corner of the square 3 with respect to the outermost point sequence of the square 3 having a sequence of n points on one side (a natural number of n ≧ 3). It is represented by a numerical value given in order from 0 in the clockwise direction or in the counterclockwise direction. For example, as shown in FIG. 5, when one side is a sequence of nine dots, a numerical value from 0 to 31 is given as a direction code for the center point (indicated by diagonal lines) of the square 3.

【0014】以上の処理は、図4に示すステップ200
〜206の処理である。より詳しく説明すると、まず、
コーナを求める処理がステップ200で起動されると、
ステップ201で輪郭線Lが求められ、さらに、ステッ
プ202で基準方向コードが設定される。たとえば、図
6の例では、図5のような方向コードを用いると、基準
方向コードは12になる。次に、ステップ203で追跡
開始点P2 を始点として設定し、ステップ204では輪
郭線Lの上で始点に対して左に複数点離れた位置、また
は、右に複数点離れた位置の点を終点として設定する
(方向コードを設定する正方形3の一辺が(2n+1)
の点列である場合、nだけ離れた点。ただし、nは自然
数。)。ここでは、輪郭線Lを左回りに追跡するものと
している。次に、ステップ205において方向コードを
設定する正方形3の中心点に始点が位置するようにし、
方向コードを設定する正方形3と輪郭線Lとの交点にお
ける数値を始点における方向コードとして設定する。ま
た、ステップ206では、始点の方向コードと基準方向
コードとの差dif(=(方向コード)−(基準方向コ
ード))を求める。
The above processing is performed in step 200 shown in FIG.
It is the processing of 206. More specifically, first,
When the process for finding a corner is started in step 200,
In step 201, the contour line L is obtained, and in step 202, the reference direction code is set. For example, in the example of FIG. 6, when the direction code as shown in FIG. 5 is used, the reference direction code becomes 12. Next, in step 203, the tracking start point P 2 is set as a starting point, and in step 204, a point on the contour line L which is separated from the starting point by a plurality of points to the left or a position separated by a plurality of points to the right. Set as the end point (one side of the square 3 for which the direction code is set is (2n + 1)
Points separated by n if the sequence is a point sequence of. However, n is a natural number. ). Here, it is assumed that the contour line L is traced counterclockwise. Next, in step 205, the starting point is located at the center point of the square 3 for which the direction code is set,
The numerical value at the intersection of the square 3 for setting the direction code and the contour line L is set as the direction code at the starting point. In step 206, the difference between the direction codes and the reference direction code of the starting point dif (= (direction code) - (reference direction code)) Ru seek.

【0015】図7(a)に示すように、点aの方向コー
ドを求めたときに、方向コードが3であったとすると、
基準コードとの差difは−9になる。このように方向
コードと基準コードとの差difが負数になったときに
は(ステップ207)、方向コードの総数32と差di
fとを加算した値を方向コードの差とする(ステップ2
08)。すなわち、この例では方向コードの差は23に
なる。コーナ付近になると、図7(b)のように、方向
コードが大きく変化し、基準方向コードとの差dif
は、0≦dif≦18になる。この条件を満足すれば、
コーナの近傍であることがわかる(ステップ209)。
As shown in FIG. 7 (a), when the direction code of the point a is obtained and the direction code is 3,
The difference dif from the reference code is -9. In this way, when the difference dif between the direction code and the reference code becomes a negative number (step 207), the total number 32 of the direction codes and the difference di
The value obtained by adding f is used as the difference between the direction codes (step 2).
08). That is, in this example, the difference between the direction codes is 23. At the corner, as shown in FIG. 7 (b), the direction code changes greatly, and the difference from the reference direction code dif
Becomes 0 ≦ dif ≦ 18. If this condition is satisfied,
It is found that it is near the corner (step 209).

【0016】ここで、コーナの位置の検出の高速化をは
かるために、方向コードを設定する正方形3は一辺が5
以上の点列を有する大きさとし、また、一つの点の方向
コードを求めた後、その正方形3の外周と輪郭線Lとの
交点を次の始点として設定している(ステップ21
0)。すなわち、図7(a)における点bが次の始点に
なる。このようにして、方向コードを設定する正方形3
を大きく設定し、輪郭線Lの追跡時における1回の移動
の幅も大きくすることによって、コーナの候補になる位
置を大局的に探し出すことができる。こうしてコーナの
候補になる位置が見つかると、コーナの位置は点aと点
bとの間の線上にあると推定される。
Here, in order to speed up the detection of the corner position, the square 3 for setting the direction code has five sides.
The size is set to have the above point sequence, and after obtaining the direction code of one point, the intersection of the outer periphery of the square 3 and the contour line L is set as the next starting point (step 21).
0). That is, the point b in FIG. 7A becomes the next starting point. In this way, the square 3 that sets the direction code
Is set to be large and the width of one movement during tracking of the contour line L is also made large, so that a position that is a candidate for a corner can be searched out in a global manner. When a position that is a candidate for a corner is found in this way, the position of the corner is estimated to be on the line between the points a and b.

【0017】以上のようにして、コーナの位置を粗く探
してコーナの候補になる位置が見つかると、輪郭線Lの
上で追跡する点を1つ前の点aに戻す(ステップ21
1)。次に、図7(c)のように、輪郭線Lの上を1点
ずつ追跡し(ステップ213)、方向コードの変化量を
求めてコーナの条件(0≦dif≦18)を満たした始
点dをコーナとして決定するのである(ステップ21
4)。
As described above, when the corner position is roughly searched and a corner candidate position is found, the point to be traced on the contour line L is returned to the previous point a (step 21).
1). Next, as shown in FIG. 7C, the contour line L is traced point by point (step 213), the change amount of the direction code is obtained, and the start point satisfying the corner condition (0 ≦ dif ≦ 18) is obtained. The d is determined as the corner (step 21).
4).

【0018】なお、上述の例では、方向コードを正方形
3の最外周に沿って右回りに設定しているが、左回りに
設定してもよく、その場合には、方向コードと基準方向
コードとの差difは、(基準コード)−(方向コー
ド)により求めれば、コーナであるかどうかの判定条件
を上記条件と同じにすることができる。以上のようにし
て、チップ部品1のコーナを輪郭線Lに沿って左回りに
求めた後、ステップ103では同様の処理によって右回
りにコーナを求める。このようにして求めた2つのコー
ナA、Bは、半田2が付いていない一辺の両端のコーナ
になる。そこで、ステップ104において、この一辺が
基準線Ls(図2参照)に対して傾斜している角度を求
めれば、チップ部品1の実装方向がわかるのである。
In the above example, the direction code is set clockwise along the outermost circumference of the square 3, but it may be set counterclockwise. In that case, the direction code and the reference direction code are set. If the difference dif between and is obtained from (reference code)-(direction code), the condition for determining whether or not it is a corner can be made the same as the above condition. As described above, after the corner of the chip component 1 is obtained in the counterclockwise direction along the contour line L, in step 103, the corner is obtained in the clockwise direction by the same processing. The two corners A and B thus obtained become corners at both ends of one side where the solder 2 is not attached. Therefore, in step 104, the mounting direction of the chip component 1 can be known by obtaining the angle at which this one side is inclined with respect to the reference line Ls (see FIG. 2).

【0019】すなわち、両コーナA、Bの間の一辺の上
の各点の座標に基づいて1次回帰演算を行って、この一
辺の傾斜角度を求めるのである。1次回帰演算は、数1
のようにして行う。ただし、座標軸は図2のように設定
しているものとし、傾斜角度θとしては、半田2の位置
がチップ部品1の上下の両端であればθ1 を採用し、左
右の両端であればθ2 を採用する。このように、傾斜角
度θとして2種の値を選択的に採用するのは、チップ部
品1の実装時の方向はあらかじめわかっており、傾斜角
度θはあまり大きな値にならないからである。
That is, a linear regression operation is performed based on the coordinates of each point on one side between the two corners A and B to obtain the inclination angle of this side. The first-order regression calculation is Equation 1
Like this. However, the coordinate axes is assumed to be set as 2, the inclination angle theta, the solder 2 positions adopted theta 1 if both ends of the upper and lower chip components 1, if the right and left ends theta Adopt 2 . As described above, two types of values are selectively adopted as the tilt angle θ because the mounting direction of the chip component 1 is known in advance and the tilt angle θ does not become a very large value.

【0020】[0020]

【数1】 [Equation 1]

【0021】数1において、X、Yは図2における座標
系での輪郭線Lの上の各点の座標であり、Nは輪郭線L
の上で演算に用いた点の総数である。傾斜角度θはy軸
方向を0度とし、0〜180度の範囲の値を採用する。
傾斜角度θの演算結果の正負を判定し(ステップ10
5)、正であれば求めた傾斜角度θをそのまま採用し
(ステップ107)、負であれば求められた傾斜角度θ
に180度を加算して正数にする(ステップ106)。
また、半田2の位置がチップ部品1の左右両端であるか
どうかを判定し(ステップ108)、左右両端であれば
求めた傾斜角度θに90度を加算する(ステップ10
9)。
In Expression 1, X and Y are the coordinates of each point on the contour line L in the coordinate system in FIG. 2, and N is the contour line L.
Is the total number of points used in the calculation above. The inclination angle θ is 0 degrees in the y-axis direction, and a value in the range of 0 to 180 degrees is adopted.
Whether the calculation result of the tilt angle θ is positive or negative is determined (step 10
5) If it is positive, the calculated tilt angle θ is used as it is (step 107), and if it is negative, the calculated tilt angle θ is used.
Is added to 180 degrees to obtain a positive number (step 106).
Further, it is determined whether or not the positions of the solder 2 are at the left and right ends of the chip component 1 (step 108), and if they are at the left and right ends, 90 degrees is added to the obtained inclination angle θ (step 10).
9).

【0022】以上のようにして求めた傾斜角度θをあら
かじめ設定した基準範囲と比較することにより、チップ
部品1の実装方向が正常範囲であるかどうかを判定する
のである(ステップ110)。ここで、実装方向が基準
範囲外であると、不良品と判定するのである(ステップ
111)。次に、チップ部品1が欠けていないかどうか
の検査が行われる。すなわち、図3に示すように、上述
のようにして求めたコーナA、Bの間の距離Lcを求め
(ステップ112)、距離Lcが所定範囲内であるかど
うかを判定する(ステップ113)。図3に示すよう
に、チップ部品1に欠け4があると、距離Lcが短くな
るから、不良品と判定することができるのである(ステ
ップ114)。また、実施例では半田2を付けていない
辺が2辺あるから、各辺について上述の処理を行うよう
にする。
By comparing the tilt angle θ obtained as described above with a preset reference range, it is determined whether the mounting direction of the chip component 1 is within the normal range (step 110). Here, if the mounting direction is out of the reference range, it is determined as a defective product (step 111). Next, an inspection is performed to see if the chip component 1 is missing. That is, as shown in FIG. 3, the distance Lc between the corners A and B obtained as described above is calculated (step 112), and it is determined whether the distance Lc is within a predetermined range (step 113). As shown in FIG. 3, when the chip component 1 has a chip 4, the distance Lc becomes short, so that it can be determined as a defective product (step 114). Further, in the embodiment, since there are two sides to which the solder 2 is not attached, the above processing is performed for each side.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明は上述のように、形状データに基
づいてチップ部品の輪郭線のコーナの位置を決定した
後、輪郭線における隣接するコーナ間の各辺のうちで半
田が付いていない辺についてのデータに基づいて、チッ
プ部品の実装状態の良否を判定しているのである。その
結果、半田の影響を考慮せずにチップ部品の実装状態の
良否判定が行えるという利点がある。
As described above, according to the present invention, after the position of the corner of the contour line of the chip part is determined based on the shape data, no solder is attached to each side of the contour line between adjacent corners. The quality of the mounting state of the chip component is determined based on the data on the sides. As a result, there is an advantage that the quality of the mounting state of the chip component can be determined without considering the influence of the solder.

【0024】また、上記辺の複数の点の座標に基づく1
次回帰演算によって、配線基板に対して設定された基準
線に対する上記辺の傾斜角度を求め、求めた傾斜角度に
基づいて実装方向の良否を判定しているから、実装方向
のずれを精度よく判定でき、かつ、上記辺の両端のコー
ナの間の距離を求め、この距離を基準距離と比較するこ
とによりチップ部品の形状の良否を判定しているので、
チップ部品に欠けなどがあれば精度よく検出できるので
ある。つまり、チップ部品の実装方向とチップ部品の形
状との良否判定を行なうことにより、チップ部品の実装
状態を総合的かつ精度よく判定することができるという
効果がある。
Further , 1 based on the coordinates of a plurality of points on the above side
The inclination angle of the above side with respect to the reference line set for the wiring board is obtained by the next regression calculation, and the quality of the mounting direction is determined based on the obtained inclination angle. Therefore, the displacement of the mounting direction is accurately determined. It is possible , and the distance between the corners at both ends of the side is obtained, and the quality of the shape of the chip component is determined by comparing this distance with the reference distance.
If there is a chip in the chip, it can be detected accurately. That is, the mounting direction of the chip component and the shape of the chip component.
Of chip components by judging the quality
The state can be comprehensively and accurately determined
effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例の処理手順を示す動作説明図である。FIG. 1 is an operation explanatory diagram showing a processing procedure of an embodiment.

【図2】実施例における傾斜角度の概念を示す説明図で
ある。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a concept of an inclination angle in the embodiment.

【図3】実施例におけるコーナ間の距離と欠けとの関係
を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a relationship between a distance between corners and a chip in the embodiment.

【図4】実施例におけるコーナを求める処理手順を示す
動作説明図である。
FIG. 4 is an operation explanatory diagram showing a processing procedure for obtaining a corner in the embodiment.

【図5】実施例に用いる方向コードの設定例を示す説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a setting example of a direction code used in the embodiment.

【図6】実施例における対象物を示し、(a)は平面
図、(b)は断面図である。
6A and 6B show an object in an example, FIG. 6A is a plan view, and FIG. 6B is a sectional view.

【図7】実施例の動作説明図である。FIG. 7 is an operation explanatory diagram of the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 チップ部品 2 半田 3 方向コードを設定する正方形 4 欠け 1 Chip part 2 Solder 3 Square for setting direction code 4 Chip

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 13/08 B 8315−4E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI technical display area H05K 13/08 B 8315-4E

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 配線基板に半田によって面実装されたチ
ップ部品を3次元計測して得た形状データに基づいてチ
ップ部品の実装状態を検査する実装検査方法において、
形状データに基づいてチップ部品の輪郭線のコーナの位
置を決定した後、輪郭線における隣接するコーナ間の各
辺のうちで半田が付いていない辺の上の複数の点の座標
に基づく1次回帰演算によって、配線基板に対して設定
された基準線に対する上記辺の傾斜角度を求め、求めた
傾斜角度に基づいて実装方向の良否を判定した後、上記
辺の両端のコーナの間の距離を求め、この距離を基準距
離と比較することによりチップ部品の形状の良否を判定
することを特徴とする実装検査方法。
1. A mounting inspection method for inspecting a mounting state of a chip component based on shape data obtained by three-dimensionally measuring a chip component surface-mounted by soldering on a wiring board,
After determining the position of the corner of the contour line of the chip part based on the shape data, the primary based on the coordinates of a plurality of points on the side without solder among the sides between the adjacent corners of the contour line By the regression calculation, the inclination angle of the side with respect to the reference line set for the wiring board is obtained, and after determining the quality of the mounting direction based on the obtained inclination angle,
Find the distance between the corners at both ends of the side, and use this distance as the reference distance.
A mounting inspection method characterized by judging the quality of the shape of a chip component by comparing with the separation .
JP3029678A 1991-02-25 1991-02-25 Mounting inspection method Expired - Fee Related JPH07118017B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3029678A JPH07118017B2 (en) 1991-02-25 1991-02-25 Mounting inspection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3029678A JPH07118017B2 (en) 1991-02-25 1991-02-25 Mounting inspection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0520434A JPH0520434A (en) 1993-01-29
JPH07118017B2 true JPH07118017B2 (en) 1995-12-18

Family

ID=12282776

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3029678A Expired - Fee Related JPH07118017B2 (en) 1991-02-25 1991-02-25 Mounting inspection method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07118017B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6959128B2 (en) * 2017-12-19 2021-11-02 ヤマハ発動機株式会社 Component mounting device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8802381D0 (en) * 1988-02-03 1988-03-02 Crosfield Electronics Ltd Signal processing circuit & method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0520434A (en) 1993-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5371690A (en) Method and apparatus for inspection of surface mounted devices
EP0577080B1 (en) Inspection method of inclination of an IC-package
JP2942454B2 (en) Shape recognition method
KR900007434B1 (en) Pattern checker
US20040109599A1 (en) Method for locating the center of a fiducial mark
JP2004536300A (en) Selection of reference indices that allow quick determination of the position of the imaging device
JPH07118017B2 (en) Mounting inspection method
JP3066137B2 (en) Pattern matching method
US20030156748A1 (en) Adaptive threshold determination for ball grid array component modeling
JP3049488B2 (en) Pattern inspection method and pattern inspection device
US6571006B1 (en) Methods and apparatuses for measuring an extent of a group of objects within an image
JP2793947B2 (en) Appearance inspection method of soldering condition
JP2897439B2 (en) Corner position detection method
JP2000018920A (en) Measuring method, measuring apparatus using image recognition, and recording medium
JP3311551B2 (en) Image data input processing method and apparatus
JPH08172300A (en) Component-position recognition apparatus
JP2516844B2 (en) Parts detection method and device
CN113421239B (en) Identification method, identification device, semiconductor processing equipment and readable storage medium
JP3342171B2 (en) Component position recognition method and position recognition device
JPH11167640A (en) Measuring method due to image recognition and recording medium
JPH06117815A (en) Electronic component position and orientation measurement method
JP4150262B2 (en) Component recognition method and apparatus
JP2929710B2 (en) Character reading method
JP4130848B2 (en) Pixel inspection method and pixel inspection apparatus
JP2825359B2 (en) Pattern recognition method

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19960604

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071218

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081218

Year of fee payment: 13

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081218

Year of fee payment: 13

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091218

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091218

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101218

Year of fee payment: 15

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees