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JPH07118100B2 - Information recording medium and manufacturing method thereof - Google Patents
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JPH07118100B2 - Information recording medium and manufacturing method thereof - Google Patents

Information recording medium and manufacturing method thereof

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Publication number
JPH07118100B2
JPH07118100B2 JP61203549A JP20354986A JPH07118100B2 JP H07118100 B2 JPH07118100 B2 JP H07118100B2 JP 61203549 A JP61203549 A JP 61203549A JP 20354986 A JP20354986 A JP 20354986A JP H07118100 B2 JPH07118100 B2 JP H07118100B2
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JP
Japan
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support
recording medium
layer
reflective layer
photoresist
Prior art date
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JP61203549A
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JPS6358638A (en
Inventor
ビー ハマーズリー アレン
ダブリュー ゴッフ マイケル
クマール サマラパリー ヴァイナイ
エム ホワイトワース トーマス
レディー ノムラ ラムチャンドラ
Original Assignee
レーザービデオ インコーポレーテッド
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Publication date
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  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は改良された光学的に読取られる記録媒体とかか
る媒体を作るための方法とに係る。本発明の記録媒体は
ビデオ・ディスク又はオーディオ・ディスクとしての使
用に良く適している。
FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to improved optically readable recording media and methods for making such media. The recording medium of the present invention is well suited for use as a video disc or an audio disc.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、機械式及び光蝕刻法の技術を含め、光学的に読取
られる記録媒体を製造するために様々な方法が用いられ
ている。従来のビデオ・ディスク及びオーディオ・ディ
スク(例えばコンパクト・ディスク)は、1/4波長ピッ
トが記録媒体中に物理的にスタンプされる機械的プレス
作業によって典型的に行なわれる。本出願人に譲渡され
た米国特許第4,423,137号は、光蝕刻法によって記録媒
体を製作する方法を開示している。この光蝕刻法による
方法は、従来のスタンピング技術に見い出される重大な
欠点を取り除く。
Conventionally, various methods have been used to manufacture optically readable recording media, including mechanical and photo-etching techniques. Conventional video and audio discs (e.g. compact discs) are typically performed by mechanical pressing operations in which quarter-wave pits are physically stamped into the recording medium. U.S. Pat. No. 4,423,137, assigned to the present applicant, discloses a method of making a recording medium by photoetching. This photo-etching method eliminates the significant drawbacks found in conventional stamping techniques.

米国特許第4,423,137に記載の光蝕刻法による方法は様
々な応用に良く適しているが、それは、読取り作業中に
破壊干渉に依存しない記録媒体を作り出す。これは、こ
の特許に記載された記録媒体が、読取りビームを適当な
変位された位相で反射させるのではなく該読取りビーム
を通過させる透過穴を含むからである。例えばある種の
コンパクト・ディスク・プレーヤのように、制御の目的
で記録媒体の各部分から反射される読取りビーム間の位
相差を用いた読取り装置がある。
While the photoetching method described in US Pat. No. 4,423,137 is well suited for various applications, it produces a recording medium that does not rely on destructive interference during the reading operation. This is because the recording medium described in this patent includes transmissive holes that allow the read beam to pass through rather than reflect it at the proper displaced phase. There are readers, such as some compact disc players, that use the phase difference between the read beams reflected from each portion of the recording medium for control purposes.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

本発明は、読取り過程のための位相解除技術に依存する
記録媒体を提供する一方、光蝕刻法による加工の重要な
利点を保つ改良された記録媒体を提供するものである。
The present invention provides a recording medium that relies on a dephasing technique for the reading process, while providing an improved recording medium that retains the significant advantages of photo-etching processing.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明によると、読取りビームと共に用いるようになっ
ている情報記録媒体であって、第1及び第2の面を持つ
支持体から成る情報記録媒体が提供される。ホトレジス
トの層が支持体の第1の面に付着され、このホトレジス
ト層は該ホトレジスト領域が厚さの異なる第1及び第2
の領域に分割されるようにその中で凹所の配列を画成す
る。本好適な実施例においては、第1の領域は、実際に
支持体の第1の面が開口で露出するようにホトレジスト
層に形成された該開口の配列である。第1及び第2の領
域は、例えばオーディオ情報、ビデオ情報、又は両者の
ような選択され記憶された情報を示すパターンに分配さ
れる。反射層がホトレジスト層の上に、及び凹所がホト
レジスト中で開口を形成する場合には開口における支持
体の第1の面に、付着される。凹所を有する第1の領域
と凹所間の第2の領域との双方において、支持体の第2
の面に入射する読取りビームの一部が反射層によって支
持体の外側に反射されるように、支持体とホトレジスト
層とは共に読取りビームを透過させるようになってい
る。第1及び第2の領域における反射層の間隔差は、第
1及び第2の領域における反射層によって支持体の外側
に反射される読み取りビームの部分間に破壊干渉を与え
るように選定される。
According to the present invention there is provided an information recording medium adapted for use with a read beam, the information recording medium comprising a support having first and second surfaces. A layer of photoresist is deposited on a first side of the support, the photoresist layer comprising first and second photoresist regions having different thicknesses.
Defining an array of recesses therein to be divided into regions. In the preferred embodiment, the first region is an array of openings formed in the photoresist layer such that the first surface of the support is actually exposed in the openings. The first and second areas are distributed in a pattern indicating selected and stored information, such as audio information, video information, or both. A reflective layer is deposited over the photoresist layer and, if the recess forms an opening in the photoresist, on the first surface of the support at the opening. In both the first area with the recess and the second area between the recesses, the second part of the support
Both the support and the photoresist layer are adapted to transmit the read beam so that a portion of the read beam incident on the surface of the substrate is reflected by the reflective layer to the outside of the support. The spacing difference between the reflective layers in the first and second regions is selected to provide destructive interference between the portions of the read beam that are reflected outside the support by the reflective layers in the first and second regions.

本発明の方法によれば、読取りビームによって後に読み
取られるための情報は、第1及び第2の面を有し読取り
ビームを透過させるようになっている支持体を最初に提
供することによって記録される。支持体の第1の面は次
に、読取りビームを透過させるようになっているホトレ
ジスト層で被覆される。次に、ホトレジスト層の部分
は、露出が異なる第1及び第2の領域を作り出すために
露光される。ホトレジストの厚さの少なくとも一部が、
第1及び第2の領域の間でホトレジスト差厚を作り出す
ために第1の領域において除去される。好適な実施例に
おいては、第1の領域の下に配設される支持体の第1の
面の部分を露光させるために全体の厚さのホトレジスト
が第1の領域において除去される。次に残留するホトレ
ジスト(及び支持体の第1の面の露光部分)が、読取り
ビームを反射するようになっている反射層で覆われる。
第1及び第2の領域間におけるホトレジスト層の選定さ
れた差厚は、第1及び第2の領域の上に配設される反射
層から反射される読取りビーム間で支持体の第2の面上
で破壊干渉を作り出すようになっている。
According to the method of the present invention, information to be subsequently read by the read beam is recorded by first providing a support having first and second surfaces adapted to transmit the read beam. It The first side of the support is then coated with a photoresist layer adapted to transmit the read beam. Next, portions of the photoresist layer are exposed to create first and second areas of different exposure. At least part of the thickness of the photoresist
Removed in the first region to create a photoresist differential thickness between the first and second regions. In the preferred embodiment, a full thickness of photoresist is removed in the first region to expose a portion of the first surface of the support disposed below the first region. The remaining photoresist (and the exposed portion of the first side of the support) is then covered with a reflective layer adapted to reflect the read beam.
The selected differential thickness of the photoresist layer between the first and second regions is determined by the second surface of the support between the read beams reflected from the reflective layer disposed on the first and second regions. It is designed to create destructive interference above.

〔作用〕[Action]

本発明の方法は、変調レーザ又は接触露光技術のいずれ
かと共に用いるように適合できる。この方法は、光蝕刻
法加工の重要な利点を保ち、スタンピング及びプレス加
工に関連する問題を完全に回避する。更に、下記に記載
する好適な実施例は支持体を通し、且つ残留するホトレ
ジストを通して読み取られる。一旦それが付着される
と、反射層の活性面は汚染に決して曝されることはない
という重要な利点を、この背側読取り技術は提供する。
この理由は、それが、活性を呈する反射面である反射層
の下面(ホトレジストに近接する面)であるからであ
る。一旦反射層のこの面に付着が行なわれると、それは
以降の加工作業中は決して露光されることはない。更
に、下述の好適な実施例は比較的少ない数の加工ステッ
プで実施することができ、レプリカ・ディスク及び変調
レーザで作られるシングル版の両方に経済的制作技術と
してそれは十分に適している。
The method of the present invention is adaptable for use with either modulated laser or contact exposure techniques. This method retains the important advantages of photo-etching and completely avoids the problems associated with stamping and pressing. In addition, the preferred embodiment described below is read through the support and through the remaining photoresist. This backside reading technique offers the important advantage that the active surface of the reflective layer is never exposed to contamination once it is applied.
The reason for this is that it is the lower surface of the reflective layer (the surface close to the photoresist) that is the active reflective surface. Once the deposition is made on this side of the reflective layer, it is never exposed during subsequent processing operations. Furthermore, the preferred embodiment described below can be carried out with a relatively small number of processing steps, which makes it well suited as an economical production technique for both replica discs and single plates made with modulated lasers.

他の目的を付随する利益と共に本発明自体は、添付図面
を参照した次の詳細な説明で十分にわかるであろう。
The invention itself, as well as other attendant advantages, will be more fully understood in the following detailed description in conjunction with the accompanying drawings.

〔実施例〕〔Example〕

図面について説明すると、第1a図乃至第1f図は本発明の
方法及び記録媒体の第1の実施例に関し、第2a図乃至第
2f図は本発明の方法及び記録媒体の第2の実施例に関す
る。
Referring to the drawings, FIGS. 1a to 1f relate to a first embodiment of the method and recording medium of the present invention, and FIGS.
Figure 2f relates to a second embodiment of the method and recording medium of the invention.

第1実施例 第1図の方法は、ビデオ・ディスクやオーディオ・ディ
スクのような記録媒体を形成するためにマスターによる
接触露出技術を用いている。第1図の方法の第1のステ
ップは、記録媒体として用いられる支持体を検査するこ
とである。本実施例において、支持体10は、例えばPMMA
/ポリカーボネート又は注型エポキシで形成することが
できる光学級プラスチック支持体である。支持体10がビ
デオ・ディスクとして用いることが意図される場合は、
それは、厚さが1.2mm、外径が200又は300mmのいずれか
(応用による)、並びに内径が35mmであることが好まし
い。支持体10がコンパクト・ディスクとして用いること
が意図される場合は、それは、厚さが1.2mm、外径が120
mm、並びに内径が15mmであることが好ましい。最初の検
査ステップにおいては、光学表面特性及び平坦度を調べ
るために支持体10の検査が行なわれる。
First Embodiment The method of FIG. 1 uses a contact exposure technique by a master to form a recording medium such as a video disc or an audio disc. The first step in the method of Figure 1 is to inspect the support used as the recording medium. In this embodiment, the support 10 is, for example, PMMA.
/ Optical grade plastic support that can be formed of polycarbonate or cast epoxy. If the support 10 is intended to be used as a video disc,
It preferably has a thickness of 1.2 mm, an outer diameter of either 200 or 300 mm (depending on the application), and an inner diameter of 35 mm. If the support 10 is intended for use as a compact disc, it has a thickness of 1.2 mm and an outer diameter of 120 mm.
mm, as well as an inner diameter of 15 mm is preferred. In a first inspection step, the support 10 is inspected for optical surface properties and flatness.

支持体10は次に、粒状汚染を除去するために緩和石鹸液
を用いて洗浄され、引き続き一連の脱イオン水浴が行な
われる。洗浄された支持体は次に、汚染がないか目視検
査が行なわれる。
The support 10 is then washed with a mild soap solution to remove particulate contamination, followed by a series of deionized water baths. The washed support is then visually inspected for contamination.

ホトレジスト、貯蔵、液調製、及び粘度検査と票示され
た加工ステップは、適切なホトレジストの調製に関する
ものであり、本実施例におけるホトレジストは、例えば
シップリィー1400シリーズとして市販されているような
ポジタイプのホトレジストである。好ましくは、このホ
トレジストは固形分3%に希釈すべきである。もしシッ
プリィーから直接入手する場合、適切な製品はシップリ
ィーホトレジスト1400−3である。このホトレジストの
粘度は、好ましくは25℃において1.37センチストークス
である。
The photoresist, storage, solution preparation, and processing steps labeled Viscosity Test relate to the preparation of a suitable photoresist, and the photoresist in this example is a positive-type photoresist such as those commercially available as the Shipley 1400 series. Is. Preferably, the photoresist should be diluted to 3% solids. If obtained directly from Shipley, a suitable product is Shipley photoresist 1400-3. The viscosity of this photoresist is preferably 1.37 centistokes at 25 ° C.

加工ステップ80は、第1a図に示す構造を形成すべく支持
体10がホトレジスト20の層で被覆されるホトレジスト被
覆ステップである。この実施例においては、被覆ステッ
プ80は約20℃の温度で且つ50%の相対湿度で実施され
る。約100r.p.m.の低速で回転する支持体10にホトレジ
ストを計量分配するために可動アームが使用されるスピ
ンコーティングの技法を用いることができる。次に、所
望の厚さの層を形成するためにホトレジストをスピンオ
フさせるべく、支持体10の回転速度は約350r.p.m.に加
速される。本実施例においてホトレジスト20の最終厚さ
は約1200Åである。被覆ステップ80に次いで、支持体10
とホトレジスト20はHEPA濾過熱対流炉中で約30分間70℃
の温度で焼付けられ、得られた製品は粒状汚染がないか
目視検査が行なわれる。周期的に、焼付けられたホトレ
ジストの厚さは、それが所望の1200Åの厚さであるよう
に検査される。
The processing step 80 is a photoresist coating step in which the support 10 is coated with a layer of photoresist 20 to form the structure shown in Figure 1a. In this example, coating step 80 is performed at a temperature of about 20 ° C. and 50% relative humidity. Spin-coating techniques can be used in which a moving arm is used to dispense photoresist onto a substrate 10 rotating at a low speed of about 100 rpm. The rotational speed of support 10 is then accelerated to about 350 rpm to spin off the photoresist to form a layer of the desired thickness. The final thickness of the photoresist 20 in this example is approximately 1200Å. Subsequent to the coating step 80, the support 10
And photoresist 20 at 70 ° C for about 30 minutes in a HEPA filtration convection oven.
After baking at a temperature of 100 ° C, the resulting product is visually inspected for particulate contamination. Periodically, the thickness of the baked photoresist is inspected so that it is the desired 1200Å thickness.

第1a図の被覆済み支持体は次に、第1b図に示すように、
接触露出ステップ82で露出される。此の露出ステップ82
中に、ホトレジスト層20はクロム・マスターと接触され
る。マスターの形成は本発明の一部を成さないので、こ
こでは詳述しない。適切なマスターは、本出願人に譲渡
された米国特許第4,423,137号に記載されている過程に
よって形成することができる。本実施例において、露出
ステップは、400ナノメートルの波長を持つ露出照射で
行なわれる。露光時間は約1.5秒であり、紫外線源が約4
00mw/cm2を発生させる。この露出ステップ82はホトレジ
スト20の第1及び第2の領域を作り出し、それら第1及
び第2の領域はその露出度が異なる。特に、マスター70
は、透明な支持体72とその中で開口76の配列を画成する
金属層74とを含む。開口76と整合したホトレジスト20の
領域は紫外線照射に曝されるが、金属層74と整合したホ
トレジスト20の領域は曝されない。
The coated support of FIG. 1a is then, as shown in FIG. 1b,
It is exposed in the contact exposure step 82. This exposure step 82
In it, the photoresist layer 20 is contacted with the chrome master. The formation of the master does not form a part of the present invention and is therefore not detailed here. A suitable master can be formed by the process described in commonly assigned US Pat. No. 4,423,137. In this example, the exposing step is performed with exposing radiation having a wavelength of 400 nanometers. The exposure time is about 1.5 seconds and the UV source is about 4
Generates 00mw / cm 2 . This exposing step 82 creates first and second regions of photoresist 20, which first and second regions differ in their degree of exposure. Especially the Master 70
Includes a transparent support 72 and a metal layer 74 defining an array of openings 76 therein. Areas of the photoresist 20 aligned with the openings 76 are exposed to ultraviolet radiation, but areas of the photoresist 20 aligned with the metal layer 74 are not exposed.

露光されたホトレジスト20は次に、現像ステップ84にお
いて現像浴中で除去される。好ましくは、濃度.27〜.29
N、温度20℃、及び時間25秒のマイクロポジット351とし
てシップリィーから市販されているホトレジスト現像液
が用いられる。本実施例において、露光されたホトレジ
ストは、現像液が攪拌された槽内で侵せきされる。現像
ステップ84が完了すると、得られた現像済みホトレジス
トは第1c図に示すようなパターンを形成する。このパタ
ーンは、露出され現像液の作用で除去された第1の領域
22と、非露出のホトレジスト20が残留する第2の領域と
を含む。本実施例の第1の領域22は実際には、支持体10
が露出されるホトレジスト層20における開口である。
The exposed photoresist 20 is then removed in a developing bath at a developing step 84. Preferably, the concentration .27 to .29
A photoresist developer commercially available from Shipley is used as a microposit 351 with N, temperature of 20 ° C., and time of 25 seconds. In this example, the exposed photoresist is attacked in a tank in which the developer is agitated. Upon completion of developing step 84, the resulting developed photoresist forms the pattern shown in Figure 1c. This pattern is the first area exposed and removed by the action of the developer.
22 and a second region in which the unexposed photoresist 20 remains. The first region 22 of this embodiment is actually the support 10.
Is an opening in the photoresist layer 20 where is exposed.

例えばアルミニウムのような金属の薄い反射層30が次
に、第1d図に示す構造を作り出すために付着ステップ86
において現像済みホトレジストの上に付着される。この
反射層30は第1及び第2の領域22、24の両方の上に延在
し、そしてホトレジスト層20における開口に形成された
支持体10の露出部分を覆う。反射層30が形成された後
で、ピンホールが無いかその構造が目視検査される。本
実施例において、反射層30はアルミニウムで形成され、
75〜85%の反射率を持つ。例えば銅や金のような他の金
属も他の実施例では使用することができる。本実施例に
おいて、反射層30は支持体10に蒸着される。例えば、48
インチ径のチャンバーを有するストークス・真空蒸着機
型式426−6を使用することができる。
A thin reflective layer 30 of metal such as aluminum is then deposited 86 to create the structure shown in Figure 1d.
At the top of the developed photoresist. The reflective layer 30 extends over both the first and second regions 22, 24 and covers the exposed portions of the support 10 formed in the openings in the photoresist layer 20. After the reflective layer 30 is formed, the structure is visually inspected for pinholes. In this embodiment, the reflective layer 30 is made of aluminum,
Has a reflectance of 75-85%. Other metals such as copper and gold may also be used in other embodiments. In this example, the reflective layer 30 is deposited on the support 10. For example, 48
A Stokes vacuum evaporator model 426-6 with an inch diameter chamber can be used.

加工ステップ88では、第1e図に示す構造を形成させるた
めに保護被覆40が反射層30の上に設けられる。例えば、
この保護被覆40は、スピン・コーティング又はローラ・
コーティング技術のいずれかで被覆される紫外線硬化性
ポリマーであってよい。適当なポリマーが、大日本イン
キ化学工業から「ポリマー−SD/17」として市販されて
いる。好ましくは、保護被覆40の厚さは10ミクロンに制
御される。好ましくは、このポリマーは、例えばアメリ
カンアルトラバイオレット社から市販されている、メー
トル当たり200ワットの強度、25インチのアーク長、及
び支持体10上6インチの位置を有する紫外線光源で紫外
線硬化される。好ましくは、支持体10は、分速240イン
チ直線速度を持つコンベヤー上でこの光源の下を通過さ
せる。
In processing step 88, a protective coating 40 is provided on the reflective layer 30 to form the structure shown in Figure 1e. For example,
This protective coating 40 may be spin coated or roller coated.
It may be a UV curable polymer coated by any of the coating techniques. A suitable polymer is commercially available from Dainippon Ink and Chemicals as "Polymer-SD / 17". Preferably, the thickness of protective coating 40 is controlled at 10 microns. Preferably, the polymer is UV cured with a UV light source commercially available from, for example, American Altra Violet, having an intensity of 200 watts per meter, an arc length of 25 inches, and a position 6 inches above the support 10. Preferably, the support 10 is passed under this light source on a conveyor having a linear speed of 240 inches per minute.

第1e図に示す構造は、支持体10を通して読み取ることが
可能な完成した記録媒体50である。支持体10に向けられ
た入射する読取りビームは、第1の領域22及び第2の領
域24の両方において反射層30によって反射される。これ
ら2つの領域における光路長の差は、反射層30のこれら
2つの部分から反射されたときに読取りビームの被覆干
渉を与えるべく選定される。被覆ステップ88に次いで、
記録作業の正確さに合致するように記録媒体は、記録済
み情報を読み取ることによって検査される。
The structure shown in FIG. 1e is a completed recording medium 50 readable through the support 10. An incident read beam directed at the support 10 is reflected by the reflective layer 30 in both the first area 22 and the second area 24. The difference in optical path length in these two regions is selected to provide a covering interference of the read beam when reflected from these two portions of reflective layer 30. Following the coating step 88,
The recording medium is inspected by reading the recorded information to match the accuracy of the recording operation.

本実施例において、第1e図の完成した記録媒体50は、完
成したディスクを形成すべく接着層60によって第2の完
成した記録媒体50′に接着される。これは、第1図のス
テップ90において達成される。本実施例において、接着
層60は3M社から接着在No.4696として市販されている接
着剤を用いてよい。このようにして、両面記録媒体が得
られる。
In this example, the completed recording medium 50 of Figure 1e is adhered to a second completed recording medium 50 'by an adhesive layer 60 to form a completed disc. This is accomplished in step 90 of FIG. In this embodiment, the adhesive layer 60 may be an adhesive commercially available from 3M under the trade name No. 4696. In this way, a double-sided recording medium is obtained.

接着ステップ90に続き、記録済みプログラムを確認する
ために適当な粘着テープが完成したディスクに貼られ、
そのディスク汚染や傷から保護するためにスリーブやジ
ャケットに挿入され、その完成した包装物は収縮包装さ
れる。
Following the gluing step 90, a suitable adhesive tape is applied to the finished disc to confirm the recorded program,
The finished package is shrink-wrapped, inserted into a sleeve or jacket to protect the disc from contamination and scratches.

第2実施例 第2a乃至2fについて説明すると、第2図に示す第2実施
例は、第1図の第1実施例と多くの点で類似している。
しかし、第2図の実施例は、ホトレジストを露出させる
ために変調光源と、更に異なる型式の支持体とを用いて
いる。
Second Embodiment Referring to FIGS. 2a-2f, the second embodiment shown in FIG. 2 is similar in many respects to the first embodiment of FIG.
However, the embodiment of FIG. 2 uses a modulated light source and a different type of support to expose the photoresist.

第2図に示すように、第1のステップは、入って来る支
持体110を検査することである。本実施例において、支
持体110は、前述の支持体10と同一の物理的寸法を有す
る光学級ガラス・ディスクである。受入検査の後で、支
持体110は一連の洗浄液、脱イオン水、アルコール、及
びフレオン浴中で洗浄される。
As shown in FIG. 2, the first step is to inspect the incoming support 110. In this example, the support 110 is an optical grade glass disc having the same physical dimensions as the support 10 described above. After the acceptance test, the support 110 is washed in a series of wash solutions, deionized water, alcohol, and a Freon bath.

支持体110は、次に汚染がないか目視検査され、そして
厚さ1200Åのホトレジスト層120が被覆ステップ180で支
持体10上に付着される。前述と同じホトレジストと被覆
技術を用いることができる。被覆ステップ180は第2a図
に示す構造を作り出す。この構造物は約30分間90℃でHE
PA濾過熱対流炉で焼付けられ、次に粒状汚染がないか目
視検査される。更に、ホトレジスト120の厚さが調べら
れる。
The support 110 is then visually inspected for contamination, and a 1200Å thick photoresist layer 120 is deposited on the support 10 in a coating step 180. The same photoresist and coating techniques described above can be used. The coating step 180 produces the structure shown in Figure 2a. This structure is HE at 90 ℃ for about 30 minutes
It is baked in a PA filtration convection oven and then visually inspected for particulate contamination. In addition, the thickness of photoresist 120 is examined.

本実施例において、焼付けられたホトレジスト120は、
第2b図に示すようにレーザ記録ステップ182において露
出される。このステップ182では、ホトレジスト120の選
定された領域122を露出させるために時間変調レーザ書
込みビーム170が使用される。本実施例において、変調
レーザビーム170は、350ミリワットの定格出力、75乃至
250ミリワットの作動出力を持ち、457.9ナノメートルの
波長で作動するアルゴン・イオン・レーザで発生され
る。本実施例において、.5ミクロンの半径寸法と.35ミ
クロンの接線寸法を持つ露光スポット・サイズが、.95
の解放数を有するオリンパス接眼レンズ1990のようなレ
ンズを介して発生される。レーザ・ビーム変調は、例え
ばコーヒーレント社から型式3050として市販されている
型のモジュレータを使用して得ることができる。
In this embodiment, the baked photoresist 120 is
It is exposed in a laser recording step 182 as shown in Figure 2b. In this step 182, a time modulated laser writing beam 170 is used to expose selected areas 122 of photoresist 120. In this example, the modulated laser beam 170 has a rated power of 350 milliwatts, 75 to
It is generated by an argon ion laser operating at a wavelength of 457.9 nanometers with an operating power of 250 milliwatts. In this example, the exposure spot size with a radius dimension of .5 microns and a tangential dimension of .35 microns is .95.
Generated through a lens such as the Olympus eyepiece 1990 which has a release number of. Laser beam modulation can be obtained, for example, using a modulator of the type marketed by Coffeelent as model 3050.

ホトレジスト120の露光領域122が除去されホトレジスト
120の非露光領域124が残留する第2cに示す構造を作り出
すために、露光済みホトレジストは次にステップ184に
おいて現像される。.27〜.29Nの濃度、20℃の温度、及
び13秒の時間で使用されるマイクロポジットとしてシッ
プリィー社から市販されている現像液を用いてこの現像
ステップ184は達成できる。本実施例において、現像の
噴霧法を用いることが好ましい。
The exposed area 122 of the photoresist 120 is removed and the photoresist is removed.
The exposed photoresist is then developed in step 184 to create the structure shown in 2c where the 120 unexposed areas 124 remain. This developing step 184 can be accomplished with a developer commercially available from Shipley as a microposit used at a concentration of .27 to .29 N, a temperature of 20 ° C. and a time of 13 seconds. In this embodiment, it is preferable to use the spraying method for development.

次の加工ステップ186において、第2d図に示す構造を作
り出すために、アルミニウムの薄層(厚さ約1200Å)が
ホトレジスト120の上に付着される。本実施例におい
て、上述したのと同じ蒸着技術を使用することができ、
反射層130の反射率は75〜85%に選定される。第2d図の
構造物は次にピンホールがないか目視検査が行なわれ
る。もし過度のピンホールが発見されると、グラス支持
対110は再循環される。もしそうでなければ、ステップ1
88保護被覆140が設けられる。本実施例において、スピ
ン・コーティング技術が用いられ、上述したのと同じ紫
外線硬化性ポリマーと紫外線硬化技術が用いられること
が好ましい。この時点で、第2e図に示す構造物が発生
し、それは、支持対110の露出面から読み取ることがで
きる完成した記録媒体50である。好ましくは、記録加工
の精度を確認するために記録媒体50は記憶された情報を
光学的に読み取ることにより検査される。
In a next processing step 186, a thin layer of aluminum (thickness about 1200Å) is deposited over the photoresist 120 to create the structure shown in Figure 2d. In this example, the same evaporation technique as described above can be used,
The reflectance of the reflective layer 130 is selected to be 75 to 85%. The structure of Figure 2d is then visually inspected for pinholes. If excessive pinholes are found, the glass support pair 110 is recirculated. If not, step 1
88 A protective coating 140 is provided. In this example, spin coating techniques are preferably used, and the same UV curable polymers and UV curing techniques described above are preferably used. At this point, the structure shown in FIG. 2e has developed, which is the finished recording medium 50 readable from the exposed surface of the support pair 110. Preferably, the recording medium 50 is inspected by optically reading the stored information to confirm the accuracy of the recording process.

加工ステップ190において、所望の厚さ、強度及び重量
を持つ完成ディスクを提供するために、記録媒体50はプ
ラスチック支持対165に接着される。本実施例におい
て、接着ステップ190は、3M社から接着剤No.4693として
市販されているような接着層160を用いて実施すること
ができる。前述のように、完成されたディスクは表示、
包装及びラッピングが施され、第2図の行程が完了す
る。
In processing step 190, recording medium 50 is adhered to plastic support pair 165 to provide a finished disc having the desired thickness, strength and weight. In this example, the gluing step 190 can be performed using a gluing layer 160 such as that marketed as Adhesive No. 4693 by 3M Company. As mentioned above, the completed disc is displayed,
After packaging and wrapping, the process shown in FIG. 2 is completed.

2つの実施例が記述され、その両者が、重要な利点を有
する光学的に読み取られる記録媒体を製作するために光
蝕刻法の技術を利用していることは上述の説明で明らか
であろう。本発明は、上述した具体的材料やプロセス・
パラメータに限定されないということが理解されるべき
である。更に、あらゆる応用において、全体の厚さの露
光済みホトレジストを除去することは肝要ではない。希
望すれば、上述のポジタイプのホトレジストの代わりに
ネガタイプのホトレジストを代用することができ、又読
取りビームの光路長における所望の差を作り出す凹所を
形成すべく、ホトレジストの露光領域を部分的にのみ除
去するようにホトレジストを使用することができる。更
に、ホトレジスト層として様々な材料を用いることがで
きる。本明細書及び下記の特許請求の範囲において用い
ているように、「ホトレジスト」という用語は、厚さが
異なる第1及び第2の領域を作り出すために露光作業の
後で現像可能な前種類の材量を抱合すべく広く解釈され
ることを意図している。
It will be apparent from the above description that two embodiments have been described, both of which utilize the technique of photo-etching to produce an optically readable recording medium with significant advantages. The present invention is based on the specific materials and processes described above.
It should be understood that the parameters are not limited. Furthermore, in all applications it is not essential to remove the entire thickness of exposed photoresist. If desired, a negative type photoresist can be substituted for the positive type photoresist described above, and only a portion of the photoresist exposed area is exposed to create a recess that creates the desired difference in optical path length of the read beam. Photoresist can be used to remove. Further, various materials can be used for the photoresist layer. As used herein and in the claims below, the term "photoresist" refers to a type of precursor that is developable after an exposure operation to create first and second regions of different thickness. It is intended to be broadly construed to incorporate timber volume.

従って、上記詳細な説明は限定的ではなく例示的なもの
として見倣され、且つあらゆる均等物を含め、下記の特
許請求の範囲が本発明の範囲を規定されるということが
理解されるものとして意図されている。
Accordingly, the above detailed description is to be regarded as illustrative rather than restrictive, and it is understood that the following claims, including all equivalents, define the scope of the invention. Is intended.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の制作行程の第1実施例の行程系統図で
ある。 第1a図乃至第1f図は第1図の制作行程の各段階において
取られた記録媒体の断面図である。 第2図は本発明の制作行程の第2実施例の行程系統図で
ある。 第2a図乃至第2f図は第2図の制作行程の各段階において
取られた記録媒体の断面図である。 10,110……支持体、20,120……ホトレジスト 22,122……第1の領域、24,124……第2の領域 30,130……反射層、40,140……保護層
FIG. 1 is a flow system diagram of the first embodiment of the production process of the present invention. 1a to 1f are sectional views of the recording medium taken at each stage of the production process of FIG. FIG. 2 is a flow system diagram of the second embodiment of the production process of the present invention. 2a to 2f are sectional views of the recording medium taken at each stage of the production process of FIG. 10,110 …… Support, 20,120 …… Photoresist 22,122 …… First area, 24,124 …… Second area 30,130 …… Reflective layer, 40,140 …… Protective layer

フロントページの続き (72)発明者 ヴァイナイ クマール サマラパリー アメリカ合衆国 カリフォルニア州 アナ ハイム エル204 ノース クリスデン ストリート 1275 (72)発明者 トーマス エム ホワイトワース アメリカ合衆国 カリフォルニア州 ハン ティングトン ビーチ トゥウェルブス ストリート 416 (72)発明者 ラムチャンドラ レディー ノムラ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 アー ヴィン コロンブス 32 (56)参考文献 特開 昭62−110636(JP,A)Front Page Continuation (72) Inventor Vinay Kumar Samara Parry United States Anaheim El 204 North Crisden Street 1275 (72) Inventor Thomas M Whiteworth United States Huntington Beach California Twelve's Street 416 (72) Inventor Lamb Chandler Lady Nomura United States Arvin Columbus, California 32 (56) References JP 62-110636 (JP, A)

Claims (21)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】読取りビームと併せて用いられるようにな
っている情報記録媒体であって、 第1及び第2の面を有する支持体と、 前記支持体の前記第1の面上に設けられたホトレジスト
層と、 前記ホトレジスト層上に付着された反射層とを有し、 前記ホトレジスト層はその中に凹所の配列を画成し、前
記凹所は、選定された深さを有し、且つ選定された情報
を示すパターンで分配されており、 前記凹所を含む第1の領域と凹所間の第2の領域の双方
において、前記支持体の前記第2の面に入射する前記読
取りビームの一部が前記反射層によって前記支持体の外
側に反射されるように、前記支持体と前記ホトレジスト
層とは共に前記読取りビームを透過させるようになって
おり、 (イ)前記第1の領域において前記反射層によって前記
支持体の外側に反射される前記読取りビームの部分と
(ロ)前記第2の領域において前記反射層によって前記
支持体の外側に反射される前記読取りビームの部分との
間で破壊干渉を与えるべく前記凹所の前記選定された深
さが選定されることを特徴とする情報記録媒体。
1. An information recording medium adapted to be used together with a reading beam, comprising: a support having first and second surfaces; and a support provided on the first surface of the support. A photoresist layer, and a reflective layer deposited on the photoresist layer, the photoresist layer defining an array of recesses therein, the recesses having a selected depth, And readings incident on the second surface of the support both in a first region containing the recesses and in a second region between the recesses, the readings being distributed in a pattern indicative of selected information. Both the support and the photoresist layer are configured to transmit the read beam so that a part of the beam is reflected to the outside of the support by the reflective layer, and (a) the first beam. In the area the support by the reflective layer The recess to provide destructive interference between the portion of the read beam that is reflected to the outside and (b) the portion of the read beam that is reflected to the outside of the support by the reflective layer in the second region. An information recording medium, characterized in that the selected depth is selected.
【請求項2】前記選定された記録情報はオーディオ情報
を含み、且つ前記記録媒体はオーディオディスクを含む
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の情報記
録媒体。
2. The information recording medium according to claim 1, wherein the selected recording information includes audio information, and the recording medium includes an audio disc.
【請求項3】前記選定された記憶情報はビデオ情報を含
み、且つ前記記録媒体はビデオ・ディスクを含むことを
特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の情報記録媒
体。
3. The information recording medium according to claim 1, wherein the selected storage information includes video information, and the recording medium includes a video disc.
【請求項4】前記反射層が反射性金属を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第1項に記載の情報記録媒体。
4. The information recording medium according to claim 1, wherein the reflective layer contains a reflective metal.
【請求項5】前記ホトレジスト層の前記凹所の前記選定
された深さが約.12ミクロンであることを特徴とする特
許請求の範囲第1項に記載の情報記録媒体。
5. An information recording medium according to claim 1, wherein the selected depth of the recess of the photoresist layer is about .12 microns.
【請求項6】前記反射層が75%以上の反射率を有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の情報記録
媒体。
6. The information recording medium according to claim 1, wherein the reflective layer has a reflectance of 75% or more.
【請求項7】物理的損傷から前記反射層を保護すべく前
記反射層上に付着された保護層を更に含むことを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の情報記録媒体。
7. The information recording medium according to claim 1, further comprising a protective layer deposited on the reflective layer to protect the reflective layer from physical damage.
【請求項8】前記反射層上に設けられ、且つ前記支持体
の前記第1の面から前記選定された記憶情報を読み取る
ことを抑制するのに効果的な少なくとも1つの追加層を
更に含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
の情報記録媒体。
8. Further comprising at least one additional layer provided on the reflective layer and effective to inhibit reading of the selected stored information from the first side of the support. The information recording medium according to claim 1, wherein
【請求項9】前記凹所が前記ホトジスト層を通して完全
に延在し、且つ前記反射層が前記凹所において前記支持
体の前記第1の面に付着されることを特徴とする特許請
求の範囲第1項に記載の情報記録媒体。
9. The claim, wherein the recess extends completely through the photogist layer and the reflective layer is attached to the first surface of the support in the recess. The information recording medium according to item 1.
【請求項10】前記ホトレジスト層が前記支持体の前記
第1の面に直接付着されることを特徴とする特許請求の
範囲第1項に記載の情報記録媒体。
10. The information recording medium according to claim 1, wherein the photoresist layer is directly attached to the first surface of the support.
【請求項11】読取りビームによって後に読み取るため
に情報が記録される情報記録媒体の製造方法において、 イ)第1及び第2の面を有し前記読取りビームを透過さ
せるようになっている支持体を設け、 ロ)前記読取りビームを透過させるようになっているホ
トレジスト層で前記支持体の前記第1の面を被覆し、 ハ)露光が異なる第1及び第2の領域を作り出すべく前
記ホトレジスト層の部分を露光し、 ニ)選定された深さを有する凹所を作り出すべく前記第
1の領域における前記ホトレジスト層の少なくとも1部
分を除去し、且つ ホ)前記ホトレジスト層の前記凹所と前記第2の領域と
の双方の上において前記読取りビームを反射するように
なっている反射層を付着させる工程から成り、 前記凹所の上に設けられた前記反射層から反射された前
記読取りビームと前記ホトレジスト層の前記第2の領域
の上に設けられた前記反射層から反射された前記読取り
ビームとの間において前記支持体の前記第2の面に破壊
干渉を作り出すように前記凹所の前記選定された深さが
なっていることを特徴とする情報記録媒体の製造方法。
11. A method of manufacturing an information recording medium in which information is recorded for subsequent reading by a read beam, comprising: (a) a support having first and second surfaces for transmitting the read beam. B) coating said first surface of said support with a photoresist layer adapted to transmit said read beam; and c) said photoresist layer to create first and second areas of different exposure. Exposing at least a portion of the photoresist layer in the first region to create a recess having a selected depth, and e) removing the recess of the photoresist layer and the first region of the photoresist layer. A reflective layer adapted to reflect the read beam on both the first and second areas, the reflective layer being provided on the recess. To create destructive interference in the second surface of the support between the read beam and the read beam reflected from the reflective layer overlying the second region of the photoresist layer. A method for manufacturing an information recording medium, characterized in that the selected depth of the recess is formed.
【請求項12】前記露光工程がマスターを介して前記ホ
トレジスト層を接触露出させる工程を含むことを特徴と
する特許請求の範囲第11に項記載の方法。
12. The method according to claim 11, wherein the exposing step includes a step of contact-exposing the photoresist layer through a master.
【請求項13】前記露光工程が時間変調済み光源で前記
ホトレジスト層を順次露光させる工程を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第11に項記載の方法。
13. The method of claim 11 wherein said exposing step comprises the step of sequentially exposing said photoresist layer with a time modulated light source.
【請求項14】前記反射層が金属層を含むことを特徴と
する特許請求の範囲第11項に記載の方法。
14. The method of claim 11 wherein the reflective layer comprises a metal layer.
【請求項15】前記第1及び第2の領域が、記憶された
オーディオ情報のパターンを画成し、且つ前記工程
(ホ)で形成された被覆支持体がオーディオ・ディスク
を含むことを特徴とする特許請求の範囲第11項に記載の
方法。
15. The first and second regions define a pattern of stored audio information, and the coated substrate formed in step (e) comprises an audio disc. The method according to claim 11, wherein:
【請求項16】前記第1及び第2領域が、記憶されたビ
デオ情報のパターンを画成し、且つ前記工程(ホ)の被
覆支持体がビデオ・ディスクを含むことを特徴とする特
許請求の範囲第11項に記載の方法。
16. A method according to claim 1, wherein the first and second areas define a pattern of stored video information, and the coated substrate of step (e) comprises a video disc. Scope The method according to clause 11.
【請求項17】前記ホトレジスト層の前記選定された厚
さが約.12ミクロンであることを特徴とする特許請求の
範囲第11項に記載の方法。
17. The method of claim 11 wherein the selected thickness of the photoresist layer is about .12 microns.
【請求項18】前記反射層が75%以上の反射率を有する
ことを特徴とする特許請求の範囲第11項に記載の方法。
18. The method according to claim 11, wherein the reflective layer has a reflectivity of 75% or more.
【請求項19】物理的損傷から前記反射層を保護すべく
保護層で前記反射層を被覆する工程を更に含むことを特
徴とする特許請求の範囲第11項に記載の方法。
19. The method of claim 11 further comprising the step of coating the reflective layer with a protective layer to protect the reflective layer from physical damage.
【請求項20】前記第1及び第2の領域が記憶情報のパ
ターンを画成し、且つ前記反射層に少なくとも1つの追
加層を設ける工程を更に有し、前記少なくとも1つの追
加層が前記支持体の前記第1の面から情報を読み出すこ
とを抑制するのに効果的であることを特徴とする特許請
求の範囲第11項に記載の方法。
20. The method further comprises the steps of defining a pattern of stored information in the first and second regions and providing at least one additional layer on the reflective layer, the at least one additional layer supporting the support. A method according to claim 11, characterized in that it is effective in suppressing the reading of information from the first side of the body.
【請求項21】前記工程(ニ)において作り出された前
記凹所が前記ホトレジスト層を通じて完全に延在してお
り、且つ前記反射層が前記第1の領域における前記支持
体の前記第1の面に付着されていることを特徴とする特
許請求の範囲第11項に記載の方法。
21. The recess created in step (d) extends completely through the photoresist layer, and the reflective layer in the first region of the first surface of the support. The method according to claim 11, characterized in that it is attached to
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