JPH0714455B2 - Exhaust gas treatment device - Google Patents
Exhaust gas treatment deviceInfo
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- JPH0714455B2 JPH0714455B2 JP61278349A JP27834986A JPH0714455B2 JP H0714455 B2 JPH0714455 B2 JP H0714455B2 JP 61278349 A JP61278349 A JP 61278349A JP 27834986 A JP27834986 A JP 27834986A JP H0714455 B2 JPH0714455 B2 JP H0714455B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は排ガスの処理装置に関し、特に半導体のエッチ
ング排ガス中の有害成分を除去するのに適した排ガス処
置装置に関するものである。さらに詳しくは六フッ化硫
黄及びフッ素化炭化水素系等のフロン類などを半導体の
エッチングに用いた場合に生ずる排ガス中に含まれるSF
4,HF,SiF4,WF6,SO2F2,SOF2等の有害成分を効率良く
除去する装置に関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an exhaust gas treatment apparatus, and more particularly to an exhaust gas treatment apparatus suitable for removing harmful components in semiconductor etching exhaust gas. More specifically, SF contained in the exhaust gas generated when sulfur hexafluoride and fluorocarbon-based CFCs are used for semiconductor etching.
The present invention relates to an apparatus for efficiently removing harmful components such as 4 , HF, SiF 4 , WF 6 , SO 2 F 2 , and SOF 2 .
近年の半導体産業における微細加工技術の進歩には目覚
ましいものがあり、この技術の進歩に伴い使用されるガ
スの種類も多様化して来ている。特に半導体のエッチン
グにはCF4,C2F4,C3F8等のフッ素化炭素、CF3Cl,CF2C
l2,CFCl3等のハロゲン化フッ素化炭素、CHF3等のフッ
素化炭化水素及びSF6,WF6等フッ素を含有する種々の化
合物が大量に使用されている。Recent progress in fine processing technology in the semiconductor industry has been remarkable, and the types of gases used have been diversified with the progress of this technology. Especially for semiconductor etching, fluorinated carbon such as CF 4 , C 2 F 4 , C 3 F 8 , CF 3 Cl, CF 2 C
A large amount of various compounds containing halogenated fluorinated carbons such as l 2 and CFCl 3 , fluorinated hydrocarbons such as CHF 3 and fluorine such as SF 6 and WF 6 are used.
エッチングは被加工材料の上にガスを供給し、プラズマ
等により反応を起こさせ、蒸気圧の高い物質、揮発性の
高い物質を生成させることにより行う。従って、その排
ガスには種々の物質が含まれ、その中には有害成分も存
在する。例えばSF6を用いた場合にはHF,SOF2,SF4等が
含まれている。Etching is performed by supplying a gas onto the material to be processed and causing a reaction by plasma or the like to generate a substance having a high vapor pressure and a substance having a high volatility. Therefore, the exhaust gas contains various substances, and harmful components are also present therein. For example, when SF 6 is used, HF, SOF 2 , SF 4, etc. are included.
このため、エッチング排ガスは系外に排出する前に、こ
れら有害成分を除去することが必要であるが、今迄の所
好ましい処理装置が存在しないのが実情である。例え
ば、現在使用されている塔式の処理装置は塔内部に吸着
剤又はこれら有害成分と反応をする薬剤を充填し、吸着
もしくは化学反応により有害成分を除去するものである
が、吸着剤もしくは薬剤が一種に限定されるため、特定
成分のみの除去に止まる欠点がある。そのため、二塔、
三塔と直列に塔を配置し、充填物の種類を変え、排ガス
中の有害成分総てを除去する工夫がなされているが、装
置的に大がかりなものとなり、クリーンルームの様な単
位体積当たりが非常に高価な場所で使用するには適さな
い。さらに、この様な方式ではガスの片流れが生じるこ
とがあり、吸着剤或いは薬剤が平均して消費されないば
かりか、有害ガスインジケーターが作動せずに有害ガス
が系外に出る危険性も有している。For this reason, it is necessary to remove these harmful components from the etching exhaust gas before it is discharged out of the system. However, the actual situation is that there is no preferable processing apparatus until now. For example, a tower-type processing apparatus currently used is one in which the inside of the tower is filled with an adsorbent or a chemical that reacts with these harmful components, and the harmful components are removed by adsorption or chemical reaction. Since it is limited to one type, there is a drawback that only specific components can be removed. Therefore, the two towers,
Although the towers are arranged in series with the three towers and the type of packing is changed to remove all the harmful components in the exhaust gas, it is a large-scale device and the unit volume per clean room is similar. Not suitable for use in very expensive places. Furthermore, in such a method, a partial gas flow may occur, and not only the adsorbent or the chemical agent is not consumed on average, but there is also a risk that the harmful gas indicator does not operate and the harmful gas goes out of the system. There is.
また、インジケーターが排ガス出口付近に取り付けられ
ている場合は、インジケーターが作動したときは既に有
害ガスが系外に出ているという問題がある。そのため、
鋭敏な感度を有するインジケーターが望まれているが、
現在では未だ満足できるものは提供されていない。Further, when the indicator is attached near the exhaust gas outlet, there is a problem that harmful gas has already exited the system when the indicator operates. for that reason,
Although an indicator with a sharp sensitivity is desired,
At present, there is still no satisfactory product.
本発明の目的は従来の排ガス処理装置の問題点を解決
し、エッチング排ガス中に含まれる有害成分を効果的に
除去するコンパクトな装置の提供及びこの装置に使用す
る高感度なインジケーターの提供にある。An object of the present invention is to solve the problems of the conventional exhaust gas treating apparatus, to provide a compact apparatus for effectively removing harmful components contained in etching exhaust gas, and to provide a highly sensitive indicator used in this apparatus. .
本発明は、装置内部が仕切り板により少なくとも3室に
分割され、該仕切り板にはガスが順次各室を通過する様
にガス流通口が設けてあり、且つ、少なくとも1つのガ
ス流通口には有害ガスインジケーターが取り付けてある
ことを特徴とする排ガス処理装置である。According to the present invention, the inside of the apparatus is divided into at least three chambers by a partition plate, the partition plate is provided with a gas flow port so that gas sequentially passes through each chamber, and at least one gas flow port is provided. This is an exhaust gas treatment device having a harmful gas indicator attached.
以下に図を用いて本発明を詳しく説明する。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は処理装置が円筒型である場合の構造図である。
1は本体、2は仕切り板である。排ガスの流れは太い矢
印で示してある。排ガスは3のガス入口ノズルより、D
室に入る。D室はオイルミストコレクタ室であり、場合
により細かなステンレス製デミスターが入っており、減
速されることによりオイルミストが捕集される。オイル
ミストが除去されたガスはガス流通口X1を通りS室に入
る。S室は化学反応室であり、有害ガスと反応する薬
剤、例えばソーダライム、ソーダライムとアルミナの混
合物、亜硫酸ソーダ含浸アルミナ等が充填されており、
SO2F2,SOF2,WF6,HF等と反応、除去する様になってい
る。A室及びC室は物理吸着室であり、アルミナ、活性
炭、亜硫酸ソーダ含浸アルミナ等が充填されている。S
室を出たガスはガス流通口X2及びX3を通り、A室、次い
でC室に入り、SF5,CF3等の不活性ガスが吸着された
後、4のガス出口ノズルより系外に排出される。FIG. 1 is a structural diagram when the processing device is a cylindrical type.
Reference numeral 1 is a main body, and 2 is a partition plate. Exhaust gas flow is indicated by thick arrows. Exhaust gas is discharged from the gas inlet nozzle 3 at D
Enter the room. The chamber D is an oil mist collector chamber, which contains a fine stainless steel demister in some cases, and the oil mist is collected by deceleration. The gas from which the oil mist has been removed enters the S chamber through the gas flow port X 1 . The S chamber is a chemical reaction chamber and is filled with a chemical that reacts with harmful gases, such as soda lime, a mixture of soda lime and alumina, and sodium sulfite-impregnated alumina.
It reacts with and removes SO 2 F 2 , SOF 2 , WF 6 , HF, etc. Chambers A and C are physical adsorption chambers filled with alumina, activated carbon, sodium sulfite impregnated alumina, and the like. S
The gas leaving the chamber passes through the gas flow ports X 2 and X 3 , enters the chamber A and then the chamber C, and after the inert gas such as SF 5 and CF 3 is adsorbed, the gas is discharged from the gas outlet nozzle 4 outside the system. Is discharged to.
11,12は有害ガスインジケーターであり、出口部及びA
室とC室の境界にあるガス流通口X3に設置してある。イ
ンジケーターはガス出口部だけに設置しても良いが、イ
ンジケーターが作動(変色)したときは既に有害ガスが
系外に出ている可能性があり、他の各室間のガス流通口
部分X1及びX2にも設置するのが好ましい。11 and 12 are harmful gas indicators, which are at the outlet and A
It is installed at the gas flow port X 3 on the boundary between the chamber and the C chamber. The indicator may be installed only at the gas outlet, but when the indicator is activated (discolored), there is a possibility that harmful gas has already exited the system, and the gas flow port between other chambers X 1 It is also preferable to install at X 2 and X 2 .
尚、図中、5及び9はボールバルブ、6はガス入口管、
7はガス出口管、8は抜口ノズル、10は薬剤出入口ノズ
ル、13は液面計、14は吊り金具、15はキャスター、16は
取手である。In the figure, 5 and 9 are ball valves, 6 is a gas inlet pipe,
Reference numeral 7 is a gas outlet pipe, 8 is an outlet nozzle, 10 is a medicine inlet / outlet nozzle, 13 is a liquid level gauge, 14 is a hanging fitting, 15 is a caster, and 16 is a handle.
インジケーターはNaFペレットにプロモクレゾールグリ
ーン又はブロムチモールブルーを0.01〜1wt%含浸させ
たものよりなり、HF濃度1〜10ppmのガスが接触すると
速やかに黄色から青色に変色する。尚、従来用いられて
いるインジケーターはアルミナにpH指示薬を含浸させた
ものが一般的であるが、アルミナが排ガス中の成分と反
応をする場合があり、そのため感応が遅く、また一度変
色をしても時間の経過により色が元に戻ってしまう欠点
がある。本発明に用いるインジケーターはこれらの欠点
を改良してある。The indicator is composed of NaF pellets impregnated with promocresol green or bromthymol blue in an amount of 0.01 to 1 wt%, and rapidly changes color from yellow to blue when a gas with an HF concentration of 1 to 10 ppm comes into contact. Incidentally, the conventionally used indicator is generally one in which a pH indicator is impregnated in alumina, but alumina may react with components in the exhaust gas, so that the reaction is slow and the color changes once. However, there is a drawback that the color returns to the original with the passage of time. The indicators used in the present invention remedy these drawbacks.
このインジケーターが作動(変色)したときは、充填薬
剤が寿命であることを示している。従って、この場合に
は別の処理装置と交換し、薬剤の入れ換えを行う。処理
装置自体がコンパクトであるので、この交換が容易にで
きるのも本発明の利点の1つである。When this indicator is activated (discolored), it indicates that the filled drug is at the end of its life. Therefore, in this case, the processing device is replaced with another processing device to replace the medicine. It is one of the advantages of the present invention that the replacement is easy because the processing apparatus itself is compact.
以上、図に基づいて本発明を具体的に説明したが、本体
は必ずしも円筒形である必要はなく、角柱、立方体、直
方体いずれの形式であっても良い。また仕切り板により
分割された室はオイルミストコレクタ室、化学反応室、
物理吸着室の順になっていなくても良く、また場合によ
り化学反応室又は物理吸着室のいずれかが省略されてい
ても良い。しかし、室数は3以上であることが好まし
い。また、エッチングは通常真空(減圧)下で行われる
ことから、真空ポンプを使用するので、このポンプに使
用するオイルがミストとなって排ガス中に含まれるので
オイルミストコレクタ室は必須であり、第1室を当該室
とすることが好ましい。Although the present invention has been specifically described with reference to the drawings, the main body does not necessarily have to have a cylindrical shape, and may have a prismatic shape, a cubic shape, or a rectangular parallelepiped shape. Also, the chamber divided by the partition plate is an oil mist collector chamber, a chemical reaction chamber,
The physical adsorption chambers may not be arranged in order, and in some cases, either the chemical reaction chamber or the physical adsorption chamber may be omitted. However, it is preferable that the number of rooms is three or more. Moreover, since the etching is usually performed under vacuum (reduced pressure), a vacuum pump is used. Therefore, the oil used for this pump becomes mist and is contained in the exhaust gas, so the oil mist collector chamber is essential. It is preferable to set one room as the room.
本装置はエッチング排ガス処理用として発明されたもの
ではあるが、同様な有害成分を含むガス、例えば化学蒸
着排ガスの処理等にも使用し得るものである。Although this apparatus was invented for treating an etching exhaust gas, it can also be used for treating a gas containing a similar harmful component, for example, a chemical vapor deposition exhaust gas.
以下、実施例及び比較例により、本発明の効果を具体的
に説明する。Hereinafter, the effects of the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples.
実施例1 第1図に示した排ガス処理装置を使用した。この処理装
置はSUS 304製であり、円筒の高さ500mm、内径350mmで
ある。充填物はD室にステンレス製オイルデミスタ、S
室にソーダライム(キシダ化学製,JIS 2号品)、A室に
アルミナ(住友化学製,活性アルミナKHD−46)、C室
に活性炭(タケダ薬品製,白鷺C2x)を用いた。Example 1 The exhaust gas treating apparatus shown in FIG. 1 was used. This processing device is made of SUS 304, and has a cylindrical height of 500 mm and an inner diameter of 350 mm. Filled with stainless oil demister, S in chamber D
Soda lime in the chamber (Kishida Chemical Ltd., JIS 2 No. products), alumina A chamber (Sumitomo Chemical Co., activated alumina KHD-46), activated carbon was used (Takeda Pharmaceutical Co., Ltd., Shirasagi C 2x) to C chamber.
半導体集積回路素子の高集積化、高微細化に用いられる
エッチングガスの一つにSF6ガスがあるが、この場合の
エッチング排ガスを本排ガス処理装置で処理した場合の
実施例について記載する。SF 6 gas is one of the etching gases used for high integration and miniaturization of semiconductor integrated circuit elements. An example in which etching exhaust gas in this case is processed by the present exhaust gas processing apparatus will be described.
シリコン基板上にSF6200ml/Mを流し、プラズマエッチン
グを6ヶ月間行い、本排ガス処理装置による有害物質の
除去効果について調べた。SF 6 200 ml / M was flown on a silicon substrate, plasma etching was performed for 6 months, and the effect of removing harmful substances by this exhaust gas treatment device was examined.
6ヶ月後の処理装置入口、出口ガスの平均的組成を表1
に示した。Table 1 shows the average composition of the gas at the inlet and outlet of the processing equipment after 6 months.
It was shown to.
表1から明らかなように、酸性成分と高分子量の物質が
良く除去されていた。 As is clear from Table 1, the acidic component and the high molecular weight substance were well removed.
又、ガス出口の前に取り付けられたインジケーター(プ
レインジケーター)はガス出口インジケーターの変色よ
りも約1ヶ月早く変色し、薬剤変換時期の目処もたてや
すかった。Further, the indicator (pre-indicator) attached in front of the gas outlet was discolored about 1 month earlier than the discoloration of the gas outlet indicator, and it was easy to set the timing of drug conversion.
又、比較例として、断面積が同じになるようなパイプ
(内径約19cm)で同様の実験を行ったが、吸着ゾーン界
面が一定でなく、インジケーターの指示が同じ高さでも
一定の値が得られなかった。In addition, as a comparative example, the same experiment was conducted using a pipe (internal diameter of about 19 cm) with the same cross-sectional area. I couldn't do it.
又、薬剤ライフも単筒式では破過曲線の部分が短くな
り、薬剤も充分に活用できない状態で交換が必要になっ
た。Further, the single-cylinder type has a shorter breakthrough curve in terms of the life of the drug, and the drug must be replaced while the drug cannot be fully utilized.
以上の記述でも明らかなように、本装置は単筒式より薬
剤が有効に利用でき、プレインジケーターの設置によ
り、破過が予測でき、更にインジケーター部でのガス片
流れがないため、インジケーターの色相変化が信用でき
るという利点がある。As is clear from the above description, this device can effectively use the medicine than the single-cylinder type, the breakthrough can be predicted by installing the pre-indicator, and there is no gas fragment flow in the indicator part, so the hue change of the indicator Has the advantage of being credible.
実施例2 タングステンシリサイド薄膜形成装置のクリーニングに
SF6/O2ガスを使用した場合の排ガス処理についての実
施例を記述する。Example 2 For cleaning a tungsten silicide thin film forming apparatus
An example of exhaust gas treatment when SF 6 / O 2 gas is used will be described.
SF61,000ml/MとO2200ml/Mとの混合ガスをプラズマCVD装
置に送入し、内部のクリーニングを行った。CVD装置出
口(真空ポンプOut側)に本排ガス処理装置を取り付
け、2ヶ月間試験を行った。結果を表2に示した。A mixed gas of SF 6 1,000 ml / M and O 2 200 ml / M was fed into the plasma CVD apparatus to clean the inside. This exhaust gas treatment device was attached to the CVD device outlet (vacuum pump Out side) and a test was conducted for 2 months. The results are shown in Table 2.
この結果から明らかなように、SF6,CF4以外のガスはほ
とんど除去されていた。 As is clear from this result, most of the gases other than SF 6 and CF 4 were removed.
なお、このとき使用した充填薬剤はソーダライム〜アル
ミナの混合物である。(S,A,C室に充填)。The filling agent used at this time was a mixture of soda lime and alumina. (Fill S, A, C chambers).
実施例3 RIE(Reactive Ion Etching,反応性イオンエッチング)
ガスとしてCF4とH2を用いた場合の排ガス処理を本排ガ
ス処理装置を用いて行った。Example 3 RIE (Reactive Ion Etching)
Exhaust gas treatment using CF 4 and H 2 as gas was performed using this exhaust gas treatment device.
ウェハの素材はSiO2である。The material of the wafer is SiO 2 .
100ml/MのCF4と50ml/MのH2でエッチングを行った場合の
排ガス組成及び排ガス処理装置出口ガスの組成を表3に
示した。Table 3 shows the exhaust gas composition and the composition of the exhaust gas treatment apparatus outlet gas when etching was performed with 100 ml / M CF 4 and 50 ml / M H 2 .
有害ガスの殆どは本処理装置で除害されるがCOのみは取
り除けなかった。 Most of the harmful gases were removed by this treatment equipment, but only CO could not be removed.
なお、実施例3で使用した薬剤はアルミナ(A,C室)、
ソーダライム(S室)で実施期間は6ヶ月間である。The chemicals used in Example 3 were alumina (rooms A and C),
The implementation period for soda lime (S room) is 6 months.
第1図は処理装置が同筒型である場合の構造図、第2図
はその横断面略示図、第3図はその縦断面略示図であ
る。 1……本体、2……仕切り板、11……インジケーター、
12……インジケーター、D……オイルミストコレクタ
室、S……化学反応室、A……物理吸着室、C……物理
吸着室、X1,X2,X3……ガス流通口FIG. 1 is a structural view of the case where the processing apparatus is of the same cylinder type, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the same, and FIG. 1 …… Main body, 2 …… Partition plate, 11 …… Indicator,
12 ... Indicator, D ... Oil mist collector chamber, S ... Chemical reaction chamber, A ... Physical adsorption chamber, C ... Physical adsorption chamber, X 1 , X 2 , X 3 ... Gas flow port
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B01D 53/34 ZAB ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location B01D 53/34 ZAB
Claims (2)
ルミストコレクタ室、化学反応室及び物理吸着室の少な
くとも3室に分割され、該仕切り板にはガスが順次各室
を通過する様にガス流通口が設けてあり、且つ、少なく
とも1つのガス流通口には、フッ化ナトリウムにブロモ
クレゾールグリーン又はブロムチモールブルーを含浸さ
せたものよりなる有害ガスインジケーターが取り付けて
あることを特徴とする半導体エッチング排ガスの処理装
置。1. The inside of the apparatus is divided into at least three chambers, one or more oil mist collector chambers, a chemical reaction chamber, and a physical adsorption chamber, by a partition plate, and the gas is sequentially passed through the partition plates. A semiconductor, characterized in that a gas flow port is provided, and that at least one gas flow port is provided with a harmful gas indicator made of sodium fluoride impregnated with bromocresol green or bromthymol blue. Etching exhaust gas treatment device.
ム、アルミナ、活性炭及び亜硫酸ソーダ含浸アルミナの
いずれかが充填されている特許請求の範囲第1項記載の
半導体エッチング排ガスの処理装置。2. The semiconductor etching exhaust gas treatment apparatus according to claim 1, wherein the chemical reaction chamber and the physical adsorption chamber are filled with any one of soda lime, alumina, activated carbon, and sodium sulfite-impregnated alumina.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61278349A JPH0714455B2 (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Exhaust gas treatment device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61278349A JPH0714455B2 (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Exhaust gas treatment device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63130124A JPS63130124A (en) | 1988-06-02 |
| JPH0714455B2 true JPH0714455B2 (en) | 1995-02-22 |
Family
ID=17596096
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61278349A Expired - Lifetime JPH0714455B2 (en) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | Exhaust gas treatment device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714455B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0716583B2 (en) * | 1990-08-10 | 1995-03-01 | セントラル硝子株式会社 | Method for dry treatment of exhaust gas containing chlorine fluoride |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7301111A (en) * | 1972-01-27 | 1973-07-31 | ||
| JPS5157674A (en) * | 1974-11-15 | 1976-05-20 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Kukiseijofuirutaa |
| JPS5243714A (en) * | 1975-10-03 | 1977-04-06 | Kobe Steel Ltd | Method of cooling wire |
-
1986
- 1986-11-21 JP JP61278349A patent/JPH0714455B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63130124A (en) | 1988-06-02 |
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Legal Events
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