JPH0721464B2 - アンプル等の容器の異物検査装置 - Google Patents
アンプル等の容器の異物検査装置Info
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- JPH0721464B2 JPH0721464B2 JP63267863A JP26786388A JPH0721464B2 JP H0721464 B2 JPH0721464 B2 JP H0721464B2 JP 63267863 A JP63267863 A JP 63267863A JP 26786388 A JP26786388 A JP 26786388A JP H0721464 B2 JPH0721464 B2 JP H0721464B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9018—Dirt detection in containers
- G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
-
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は透明容器の異物検査装置に係り、特に液体中の
異物、透明容器表面の傷及び汚れを識別して、異物を検
出する透明容器の異物検査装置に関する。
異物、透明容器表面の傷及び汚れを識別して、異物を検
出する透明容器の異物検査装置に関する。
最近、薬品アンプルはGMP（Good Manufacturing Produc
t）基準に基づき、クリーンルーム環境下で製造され、
アンプル容器は超純水で洗浄される。
t）基準に基づき、クリーンルーム環境下で製造され、
アンプル容器は超純水で洗浄される。
また、薬液は、0.45μｍ以下のミリポアーフィルターで
濾過され、異物フリーの状態で、アンプルに注入され
る。しかし、上記のような厳密な製造工程の中でも、ア
ンプルの封止工程等で、ガラスの微細破片に相当する異
物の他、原因不明の異物が混入する場合がある。この為
製品のアンプルに対しては、薬科基準で、10μｍ以下の
異物は50個以内、25μｍ以内の異物は５個以内まで許容
されている。当面この薬科基準が異物検査装置の開発タ
ーゲットとなるが、将来の基準の大幅規制を考慮する
と、より高性能の異物検査装置の要求は、高まりつつあ
る。
濾過され、異物フリーの状態で、アンプルに注入され
る。しかし、上記のような厳密な製造工程の中でも、ア
ンプルの封止工程等で、ガラスの微細破片に相当する異
物の他、原因不明の異物が混入する場合がある。この為
製品のアンプルに対しては、薬科基準で、10μｍ以下の
異物は50個以内、25μｍ以内の異物は５個以内まで許容
されている。当面この薬科基準が異物検査装置の開発タ
ーゲットとなるが、将来の基準の大幅規制を考慮する
と、より高性能の異物検査装置の要求は、高まりつつあ
る。
従来のアンプル容器の異物検査装置は、アンプル容器の
表面の傷、或いは汚れとアンプル内の異物との識別が検
査のポイントであり、アンプルを高速回転させ、急停止
させた状態で、アンプル容器内で、慣性力により回転し
ている異物の散乱光の揺らぎを光電管でとらえたり、又
は、アンプルの高速回転後の異物の回転軌跡を画像処理
で抽出して自動検査している。
表面の傷、或いは汚れとアンプル内の異物との識別が検
査のポイントであり、アンプルを高速回転させ、急停止
させた状態で、アンプル容器内で、慣性力により回転し
ている異物の散乱光の揺らぎを光電管でとらえたり、又
は、アンプルの高速回転後の異物の回転軌跡を画像処理
で抽出して自動検査している。
また、他の従来例では、前述のようにアンプルを高速回
転させた後、ブレーキをかけて急停止させ、側面より透
過光を照射して、内溶液とともに浮遊回転している異物
が、透過光を遮る為に起こる影の変化を検知し、良、不
良の選別をする装置が開発されている。この方法では、
異物は慣性力により浮遊回転している為に、光量変化を
起こすが、表面の傷や汚れは静止している為に光量変化
を起こさず、これにより、異物の識別が可能になる。ま
た、この装置では、アンプル容器の大きさに対応して、
一定面積ごとに区切った受光素子が設置されており、こ
れらの受光素子としては、光電管やフォトダイオードが
用いられており、極めて高速な検査が実施されている。
転させた後、ブレーキをかけて急停止させ、側面より透
過光を照射して、内溶液とともに浮遊回転している異物
が、透過光を遮る為に起こる影の変化を検知し、良、不
良の選別をする装置が開発されている。この方法では、
異物は慣性力により浮遊回転している為に、光量変化を
起こすが、表面の傷や汚れは静止している為に光量変化
を起こさず、これにより、異物の識別が可能になる。ま
た、この装置では、アンプル容器の大きさに対応して、
一定面積ごとに区切った受光素子が設置されており、こ
れらの受光素子としては、光電管やフォトダイオードが
用いられており、極めて高速な検査が実施されている。
しかし、前記従来装置が開発されているのにもかかわら
ず、アンプル内の異物検査は、殆ど人手による目視検査
で実施されている。この原因は前記従来装置では、検出
可能な異物の大きさが大きすぎて（70μｍ以上）、直接
人体に注射する最終製剤には、適用できない為である。
また、アンプルを高速回転させて、急停止させた状態
で、アンプル内の異物の慣性回転が起きないような高粘
度の薬液に対しては適用できない為である。
ず、アンプル内の異物検査は、殆ど人手による目視検査
で実施されている。この原因は前記従来装置では、検出
可能な異物の大きさが大きすぎて（70μｍ以上）、直接
人体に注射する最終製剤には、適用できない為である。
また、アンプルを高速回転させて、急停止させた状態
で、アンプル内の異物の慣性回転が起きないような高粘
度の薬液に対しては適用できない為である。
しかしながら、前記アンプル高速回転による異物の慣性
回転による方法は、アンプル高速回転により異物の慣性
回転が誘起される10CST以下の低粘度の内容物に関して
は、適用できるものの、高粘度の内溶液中の異物はアン
プルを高速回転させて、ブレーキをかけて急停止させ、
アンプル側面より透過光を照射させても、内溶液が慣性
回転されない。この為、浮遊異物も回転せず、透過光を
遮るために起こる異物の影の変化も発生しない為、光量
の変化が発生せず、良、不良の選別が出来ない欠点があ
った。また、高粘度の内溶液中の異物に慣性回転を与え
ようとして、アンプルを高回転させるとアンプルが破損
する。実用上の回転速度は、3000〜5000rpmが限度であ
るが、この程度の回転速度では、100CST以上の高粘度液
体中の異物が十分慣性回転せず、この為、アンプル中の
浮遊異物も十分も回転せず、透過光を遮るために起こる
影の変化も発生しにくいので、光量の変化が発生しな
い。従って、ビン表面の傷や汚れと異物が識別できず
良、不良の選別ができなかった。
回転による方法は、アンプル高速回転により異物の慣性
回転が誘起される10CST以下の低粘度の内容物に関して
は、適用できるものの、高粘度の内溶液中の異物はアン
プルを高速回転させて、ブレーキをかけて急停止させ、
アンプル側面より透過光を照射させても、内溶液が慣性
回転されない。この為、浮遊異物も回転せず、透過光を
遮るために起こる異物の影の変化も発生しない為、光量
の変化が発生せず、良、不良の選別が出来ない欠点があ
った。また、高粘度の内溶液中の異物に慣性回転を与え
ようとして、アンプルを高回転させるとアンプルが破損
する。実用上の回転速度は、3000〜5000rpmが限度であ
るが、この程度の回転速度では、100CST以上の高粘度液
体中の異物が十分慣性回転せず、この為、アンプル中の
浮遊異物も十分も回転せず、透過光を遮るために起こる
影の変化も発生しにくいので、光量の変化が発生しな
い。従って、ビン表面の傷や汚れと異物が識別できず
良、不良の選別ができなかった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、如何
なる粘度範囲にある液体中の異物でも、アンプル容器表
面の傷及び汚れを容易に識別でき、異物を簡単に検出で
きるアンプル容器の異物検査装置を提供することを目的
とする。
なる粘度範囲にある液体中の異物でも、アンプル容器表
面の傷及び汚れを容易に識別でき、異物を簡単に検出で
きるアンプル容器の異物検査装置を提供することを目的
とする。
〔問題点を解決する為の手段〕 本発明に係るアンプル等の容器の異物検査装置は、容器
の内径より細い径の平行光束を容器の底部より照射し、
容器内部のみを選択的に照射しながら、容器側面から容
器を撮像する手段と、容器側壁を介して容器の底面の全
反射角より大きい角度で容器の内底面を照射し、照射方
向と反対方向の容器側面から前記内底面を撮像する手段
とを備えたことを特徴とする。なお上記において角とは
底面との垂直線に対する角度を意味するものとする。
の内径より細い径の平行光束を容器の底部より照射し、
容器内部のみを選択的に照射しながら、容器側面から容
器を撮像する手段と、容器側壁を介して容器の底面の全
反射角より大きい角度で容器の内底面を照射し、照射方
向と反対方向の容器側面から前記内底面を撮像する手段
とを備えたことを特徴とする。なお上記において角とは
底面との垂直線に対する角度を意味するものとする。
本発明によれば、容器の内径よりも細い径の平行光束に
よって容器内部のみを選択的に照射するので、容器側壁
面の傷や汚れを検出せず、容器内に充填した内容液中の
浮遊異物のみを選択的に検出できる。また容器側壁を介
して容器の底面の全反射角より多きい角度で容器の内底
面を照射することによって、外底面の傷や汚れを検出せ
ず、内底面の沈降異物のみを選択的に検出できる。した
がって、上記２様の検出を組合せることで容器内の浮遊
異物と沈降異物の有無を正確に検査することができる。
よって容器内部のみを選択的に照射するので、容器側壁
面の傷や汚れを検出せず、容器内に充填した内容液中の
浮遊異物のみを選択的に検出できる。また容器側壁を介
して容器の底面の全反射角より多きい角度で容器の内底
面を照射することによって、外底面の傷や汚れを検出せ
ず、内底面の沈降異物のみを選択的に検出できる。した
がって、上記２様の検出を組合せることで容器内の浮遊
異物と沈降異物の有無を正確に検査することができる。
以下添付図面に従って本発明に係る容器の異物検査装置
の好ましい実施例を詳説する。図には本発明に係る透明
容器の異物検査装置の一実施例が示され、アンプル容器
10は、アンプル容器底部と上端部に設けられた回転ホル
ダー14、16によって支持される。モータ34の駆動がベル
ト35を介して回転ホルダー14に伝動されるとアンプル容
器10は回動される。コリメートレンズ18はアンプル容器
10の下方に設けられ、該コリメートレンズ18からは、ア
ンプル容器10径よりも細い径の発散角５°以下で照度が
10万ルックス以上の平行光線が照射され、ハロゲンラン
プ20からグラスファイバ22を介して送られた光をアンプ
ル容器10底面に対して照射するように設けられている。
レンズ30はアンプル容器10の側面に設けられ、アンプル
容器10の中心断面近傍のみに焦点がある低被写界深度の
レンズ30を有する撮像カメラ32によって撮像された異物
は異物検出器36によって検出される。
の好ましい実施例を詳説する。図には本発明に係る透明
容器の異物検査装置の一実施例が示され、アンプル容器
10は、アンプル容器底部と上端部に設けられた回転ホル
ダー14、16によって支持される。モータ34の駆動がベル
ト35を介して回転ホルダー14に伝動されるとアンプル容
器10は回動される。コリメートレンズ18はアンプル容器
10の下方に設けられ、該コリメートレンズ18からは、ア
ンプル容器10径よりも細い径の発散角５°以下で照度が
10万ルックス以上の平行光線が照射され、ハロゲンラン
プ20からグラスファイバ22を介して送られた光をアンプ
ル容器10底面に対して照射するように設けられている。
レンズ30はアンプル容器10の側面に設けられ、アンプル
容器10の中心断面近傍のみに焦点がある低被写界深度の
レンズ30を有する撮像カメラ32によって撮像された異物
は異物検出器36によって検出される。
更に、タングステンランプ28は、アンプル容器10の底面
を照射させる為にアンプル容器10の底面に対して斜め方
向から照射するように設けられている。また、レンズ24
はアンプル容器10から反射された光をとらえる為に設け
られ、レンズ24を有する撮像カメラ26によって撮像され
た異物は前記異物検出器36によって検出される。また、
タングステンランプ28とレンズ24は、アンプル容器10を
はさんで反対方向からアンプル容器10内底面に対して、
全反射角が48°以上になるよう取付けられている。次
に、前記の如く構成された透明容器の異物検査装置の作
用について説明する。
を照射させる為にアンプル容器10の底面に対して斜め方
向から照射するように設けられている。また、レンズ24
はアンプル容器10から反射された光をとらえる為に設け
られ、レンズ24を有する撮像カメラ26によって撮像され
た異物は前記異物検出器36によって検出される。また、
タングステンランプ28とレンズ24は、アンプル容器10を
はさんで反対方向からアンプル容器10内底面に対して、
全反射角が48°以上になるよう取付けられている。次
に、前記の如く構成された透明容器の異物検査装置の作
用について説明する。
先ず、アンプル容器10内部の浮遊異物検査に関しては、
150Wのハロゲンランプ20からの光をファイバ系5mmのグ
ラスファイバ22に送り込む。この光はグラスファイバ22
の先端に取付けられたコリメートレンズ18によってビー
ム系10mm、最大照度30万ルックスの発散角５°以下の平
行光束と成る。前記コリメートレンズ18から照射される
平行光を用いてアンプル容器10の底面からアンプル容器
10の内壁面に光束が当たらないように照射する。そうす
ると、アンプル容器10内部の浮遊異物は、前記コリメー
トレンズ18から照射された平行光によって反射し、アン
プル容器10の側面に設けられた低被写界深度レンズ30を
有した撮像カメラ32に反射輝点像が入射し、異物検出器
36によって映像化されて検出することができる。また、
アンプル容器10の表面の傷及び汚れによる映像は、異物
の反射輝点像が作る映像に比べて、無視できるほど小さ
い。従ってこの作用により、アンプル容器10内の浮遊異
物を、高粘度の内溶液中においても検出できるようにな
る。
150Wのハロゲンランプ20からの光をファイバ系5mmのグ
ラスファイバ22に送り込む。この光はグラスファイバ22
の先端に取付けられたコリメートレンズ18によってビー
ム系10mm、最大照度30万ルックスの発散角５°以下の平
行光束と成る。前記コリメートレンズ18から照射される
平行光を用いてアンプル容器10の底面からアンプル容器
10の内壁面に光束が当たらないように照射する。そうす
ると、アンプル容器10内部の浮遊異物は、前記コリメー
トレンズ18から照射された平行光によって反射し、アン
プル容器10の側面に設けられた低被写界深度レンズ30を
有した撮像カメラ32に反射輝点像が入射し、異物検出器
36によって映像化されて検出することができる。また、
アンプル容器10の表面の傷及び汚れによる映像は、異物
の反射輝点像が作る映像に比べて、無視できるほど小さ
い。従ってこの作用により、アンプル容器10内の浮遊異
物を、高粘度の内溶液中においても検出できるようにな
る。
次に、アンプル容器10内部の沈降異物検査に関しては、
タングステンランプ28とレンズ24を、アンプル容器10を
はさんで反対方向からアンプル容器10内底面に対して48
°以上の全反射角になるようにする。タングステンラン
プ28からの光を撮像系にハレーションが発生しない程度
の弱い照度でアンプル容器10内底面を照射すると、レン
ズ24を備えた撮像カメラ26には、アンプル容器10外部底
面に付着したゴミ、汚れの映像は入射されないで、アン
プル容器10内底面の沈降異物の反射輝点像のみが入射
し、前記異物検出器36によって映像化されて検出するこ
とができる。前記作用により、本装置によれば、分子量
100万（粘度10000CPS）のヒアロニクロアシッドの5ccの
アンプル容器では0.5秒／本、1ccのアンプル容器では0.
9秒／本の検査速度であり、10μｍ程度以下の浮遊及び
沈降異物を検出することができる。
タングステンランプ28とレンズ24を、アンプル容器10を
はさんで反対方向からアンプル容器10内底面に対して48
°以上の全反射角になるようにする。タングステンラン
プ28からの光を撮像系にハレーションが発生しない程度
の弱い照度でアンプル容器10内底面を照射すると、レン
ズ24を備えた撮像カメラ26には、アンプル容器10外部底
面に付着したゴミ、汚れの映像は入射されないで、アン
プル容器10内底面の沈降異物の反射輝点像のみが入射
し、前記異物検出器36によって映像化されて検出するこ
とができる。前記作用により、本装置によれば、分子量
100万（粘度10000CPS）のヒアロニクロアシッドの5ccの
アンプル容器では0.5秒／本、1ccのアンプル容器では0.
9秒／本の検査速度であり、10μｍ程度以下の浮遊及び
沈降異物を検出することができる。
尚、前記装置で取込んだ映像を固定レベルで２値化し、
アンプルビンを定速で回転しながら異物に相当する輝点
をカウントすれば、ビン表面の傷、汚れと内部異物とを
自動識別することができる。
アンプルビンを定速で回転しながら異物に相当する輝点
をカウントすれば、ビン表面の傷、汚れと内部異物とを
自動識別することができる。
また、沈降異物検出方法も浮遊異物検出方法と同様にア
ンプル容器10底面からコリメートビームを用いてアンプ
ル容器10底面の沈降異物の散乱光を発生させ、その散乱
光をアンプル容器10の斜め方向から撮像する検出方法が
ある。しかしこの方法によると、撮像カメラにはアンプ
ル容器10内底面の沈降異物の散乱光の他にアンプル容器
10外部底面に付着したゴミ、汚れからの散乱光も一緒に
撮像されてしまう虞がある。また、本実施例ではアンプ
ルを用いたがビン類であれば本装置を適用することがで
きる。
ンプル容器10底面からコリメートビームを用いてアンプ
ル容器10底面の沈降異物の散乱光を発生させ、その散乱
光をアンプル容器10の斜め方向から撮像する検出方法が
ある。しかしこの方法によると、撮像カメラにはアンプ
ル容器10内底面の沈降異物の散乱光の他にアンプル容器
10外部底面に付着したゴミ、汚れからの散乱光も一緒に
撮像されてしまう虞がある。また、本実施例ではアンプ
ルを用いたがビン類であれば本装置を適用することがで
きる。
以上説明したように本発明に係る透明容器の異物検査装
置によれば、高粘土の内容液中の微小な異物、容器表面
の傷及び汚れとを識別させて異物を検出することができ
る。
置によれば、高粘土の内容液中の微小な異物、容器表面
の傷及び汚れとを識別させて異物を検出することができ
る。
図は本発明に係るアンプル等の容器の異物検査装置の一
実施例を示す構成説明図である。 10……アンプル容器、18……コリメートレンズ、20……
ハロゲンランプ、22……グラスファイバ、24……レン
ズ、26……撮像カメラ、28……タングステンランプ、30
……低被写界深度レンズ、32……撮像カメラ、34……モ
ータ、36……異物検出器。
実施例を示す構成説明図である。 10……アンプル容器、18……コリメートレンズ、20……
ハロゲンランプ、22……グラスファイバ、24……レン
ズ、26……撮像カメラ、28……タングステンランプ、30
……低被写界深度レンズ、32……撮像カメラ、34……モ
ータ、36……異物検出器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−8621（ＪＰ，Ａ) 特公 昭52−19798（ＪＰ，Ｂ２)
Claims (1)
- 【請求項１】容器の内径より細い径の平行光束を容器の
底部より照射し、容器内部のみを選択的に照射しなが
ら、容器側面から容器を撮像する手段と、容器側壁を介
して容器の底面の全反射角より大きい角度で容器の内底
面を照射し、照射方向と反対方向の容器側面から前記内
底面を撮像する手段とを備えたことを特徴とするアンプ
ル等の容器の異物検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63267863A JPH0721464B2 (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | アンプル等の容器の異物検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63267863A JPH0721464B2 (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | アンプル等の容器の異物検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02114158A JPH02114158A (ja) | 1990-04-26 |
| JPH0721464B2 true JPH0721464B2 (ja) | 1995-03-08 |
Family
ID=17450683
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63267863A Expired - Lifetime JPH0721464B2 (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | アンプル等の容器の異物検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0721464B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1988
- 1988-10-24 JP JP63267863A patent/JPH0721464B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02114158A (ja) | 1990-04-26 |
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