JPH0724066B2 - 2値化レベル自動補正方法 - Google Patents
2値化レベル自動補正方法Info
- Publication number
- JPH0724066B2 JPH0724066B2 JP61247845A JP24784586A JPH0724066B2 JP H0724066 B2 JPH0724066 B2 JP H0724066B2 JP 61247845 A JP61247845 A JP 61247845A JP 24784586 A JP24784586 A JP 24784586A JP H0724066 B2 JPH0724066 B2 JP H0724066B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- binarization
- histogram
- brightness
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Image Input (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、画像処理装置における2値化レベルの再設定
方法に関する。
方法に関する。
たとえば、自動車部品の検査ライン等においては、2値
画像処理装置を用いたラインの自動化が図られている。
この場合、2値画像処理装置の2値化レベルを固定して
おくと、照明装置の劣化或いは電源変動による照明装置
の照度変化等により、安定な画像取り込みができなくな
ることがある。
画像処理装置を用いたラインの自動化が図られている。
この場合、2値画像処理装置の2値化レベルを固定して
おくと、照明装置の劣化或いは電源変動による照明装置
の照度変化等により、安定な画像取り込みができなくな
ることがある。
第3図は、対象が金属の場合の濃淡画像(第3図
(a))とそのヒストグラム(第3図(b))を示した
例である。対象の表面が一様であるため、その対象に対
するヒストグラムの明度レベルの分布幅が非常に狭くな
る。
(a))とそのヒストグラム(第3図(b))を示した
例である。対象の表面が一様であるため、その対象に対
するヒストグラムの明度レベルの分布幅が非常に狭くな
る。
このような対象に対して2値化レベルの再設定を行う場
合、判別及び最小二乗基準に基づく自動閾値選定法(例
えば、大津氏の提案による方式)を用いれば、良好な結
果を得ることが判っている。しかしながらこの方法は統
計的手法であり、処理時間が長いため、部品検査等のラ
インには適用できない。したがって、処理の簡単なP−
tile法の適用が考えられる。
合、判別及び最小二乗基準に基づく自動閾値選定法(例
えば、大津氏の提案による方式)を用いれば、良好な結
果を得ることが判っている。しかしながらこの方法は統
計的手法であり、処理時間が長いため、部品検査等のラ
インには適用できない。したがって、処理の簡単なP−
tile法の適用が考えられる。
しかしながら、このP−tile法の場合、以下のような問
題点がある。
題点がある。
ヒストグラムの最高明度レベルから画素数を加算し
てゆき、その合計画素数が基準面積の100%になる明度
レベルを求めて、そのレベルを2値化レベルに設定する
と仮定する。そうすると、第4図(a)に示すように、
対象のヒストグラムの明度レベルの分布幅のバラツキが
小さいために、2値化レベルが対象のヒストグラムに接
近する。照明装置が商用蛍光灯の場合は、そのチラツキ
により、或いは電源変動による照度変化の影響等で、第
4図(b)に示すように新画像入力時の検出明度レベル
が低下することがある。この場合には、対象の画像は例
えば面積が60%しか残らないことになり、部品判定ミス
を起こすことになる。
てゆき、その合計画素数が基準面積の100%になる明度
レベルを求めて、そのレベルを2値化レベルに設定する
と仮定する。そうすると、第4図(a)に示すように、
対象のヒストグラムの明度レベルの分布幅のバラツキが
小さいために、2値化レベルが対象のヒストグラムに接
近する。照明装置が商用蛍光灯の場合は、そのチラツキ
により、或いは電源変動による照度変化の影響等で、第
4図(b)に示すように新画像入力時の検出明度レベル
が低下することがある。この場合には、対象の画像は例
えば面積が60%しか残らないことになり、部品判定ミス
を起こすことになる。
また、対象物個々においては、同一種の部品であっ
ても、各々製作バラツキがある。従って、基準面積より
少し小さい対象の場合、画素数100%になる明度レベル
を求めると第5図(a)に示すように背景側のレベルに
入り込むことがある。このレベルで2値化すると、と
同様の検出レベル変動で検出レベルが上がったとき、第
5図(b)に示すように、背景が大幅に対象に入り込
み、面積が増え、部品判定ミスを起こすことになる。
ても、各々製作バラツキがある。従って、基準面積より
少し小さい対象の場合、画素数100%になる明度レベル
を求めると第5図(a)に示すように背景側のレベルに
入り込むことがある。このレベルで2値化すると、と
同様の検出レベル変動で検出レベルが上がったとき、第
5図(b)に示すように、背景が大幅に対象に入り込
み、面積が増え、部品判定ミスを起こすことになる。
このような理由により、2値化レベルの再設定は困難で
あり、照明装置の劣化には定期的に2値化レベルを手動
で再設定するか、又は電源変動による照明レベルの変化
に対しては、AVRの設定等で対処していた。
あり、照明装置の劣化には定期的に2値化レベルを手動
で再設定するか、又は電源変動による照明レベルの変化
に対しては、AVRの設定等で対処していた。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
のであり、被検査対象が金属等の場合に、照明装置の劣
化、電源変動による照明変化等に対応して、最適の2値
化レベルを求める簡単な方法を提供することを目的とす
る。
のであり、被検査対象が金属等の場合に、照明装置の劣
化、電源変動による照明変化等に対応して、最適の2値
化レベルを求める簡単な方法を提供することを目的とす
る。
この目的を達成するため、本発明の2値化レベル自動補
正方法は、画像のヒストグラムの明度レベルが対象と背
景の2レベルに分かれ、且つ対象と背景各々に対応する
ヒストグラムの明度のバラツキが小さい金属のような被
検査対象を2値画像処理するに際し、前回求めた2値化
レベルを用いて画像を取り込んで解析した結果、対象が
目的の対象物であることが確認されたとき、その画像の
ヒストグラムの明度の最高レベル又は最低レベル、すな
わち対象に相当する側から順に各レベルの画素数を取り
出して加算してゆき、その合計値が対象の基準画素数の
所定の比率になる明度レベルを求め、そのレベルから一
定レベルだけ、明度の低いレベル又は高いレベル方向、
すなわち背景に相当する側に移動させたレベルを次回の
2値化レベルとすることを特徴とする。
正方法は、画像のヒストグラムの明度レベルが対象と背
景の2レベルに分かれ、且つ対象と背景各々に対応する
ヒストグラムの明度のバラツキが小さい金属のような被
検査対象を2値画像処理するに際し、前回求めた2値化
レベルを用いて画像を取り込んで解析した結果、対象が
目的の対象物であることが確認されたとき、その画像の
ヒストグラムの明度の最高レベル又は最低レベル、すな
わち対象に相当する側から順に各レベルの画素数を取り
出して加算してゆき、その合計値が対象の基準画素数の
所定の比率になる明度レベルを求め、そのレベルから一
定レベルだけ、明度の低いレベル又は高いレベル方向、
すなわち背景に相当する側に移動させたレベルを次回の
2値化レベルとすることを特徴とする。
本発明においては、第1図に示すようにP−tile法で画
素の合計が対象基準面積の例えば70%になる明度レベル
LEVを求め、これら一定の値Δ1だけ、対象の面積が増
える方向に移動させたレベルを次回2値化レベルとす
る。
素の合計が対象基準面積の例えば70%になる明度レベル
LEVを求め、これら一定の値Δ1だけ、対象の面積が増
える方向に移動させたレベルを次回2値化レベルとす
る。
このようにして求めたLEVは、対象物の面積のバラツキ
が例えば±20%程度であっても、対象のヒストグラム内
にあって、問題点で示したように、背景側レベルに入
り込むことはない。
が例えば±20%程度であっても、対象のヒストグラム内
にあって、問題点で示したように、背景側レベルに入
り込むことはない。
またそのLEVからΔ1離れたレベル(第1図の今回THR)
を2値化レベルにすることで、問題点で示したように
照明のチラツキによる照明の瞬間変動による影響も解決
することができる。
を2値化レベルにすることで、問題点で示したように
照明のチラツキによる照明の瞬間変動による影響も解決
することができる。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて具体的に説
明する。第2図は、本発明を組立ラインに適用した場合
における台車上の部品の配置を示す。台車上に、〜
に示すように、決まった部品がセットされたものがコン
ベアで運ばれてくる。そこで、2値画像処理装置で、部
品が置かれているかどうか、及び部品の種類をチェック
する。
明する。第2図は、本発明を組立ラインに適用した場合
における台車上の部品の配置を示す。台車上に、〜
に示すように、決まった部品がセットされたものがコン
ベアで運ばれてくる。そこで、2値画像処理装置で、部
品が置かれているかどうか、及び部品の種類をチェック
する。
この部品は、歯車等表面が一様な金属であるため、その
ヒストグラムは第1図のようになる。
ヒストグラムは第1図のようになる。
また、材質(色)が部品で異なっていること、台車がか
なり大きいこと等のため、明度の検出レベルが異なって
いる。そのため、個々の部品に対してウインドウを設定
し、各々2値化レベルを持たせている。
なり大きいこと等のため、明度の検出レベルが異なって
いる。そのため、個々の部品に対してウインドウを設定
し、各々2値化レベルを持たせている。
この例では、画像を取り込み、部品判定を行い、正しく
部品が置かれていることを確認した後、画像を撮り直し
て本発明により次回画像処理のための2値化レベルを求
める。このときの処理はヒストグラムデータを読み出し
て加算し、準備値との比較を行う処理の繰り返しで済
み、処理時間も速い。
部品が置かれていることを確認した後、画像を撮り直し
て本発明により次回画像処理のための2値化レベルを求
める。このときの処理はヒストグラムデータを読み出し
て加算し、準備値との比較を行う処理の繰り返しで済
み、処理時間も速い。
なお、上記ヒストグラムの取り込み時に影等が入り込む
と、2値化レベルが予期せぬ値となる。したがって、第
1図に示すように、今回求めた2値化レベルと前回の2
値化レベル(前回THR)とを比較して、その明度差が一
定値(±Δ2)以内であればその値を次回画像処理用2
値化レベルとする。
と、2値化レベルが予期せぬ値となる。したがって、第
1図に示すように、今回求めた2値化レベルと前回の2
値化レベル(前回THR)とを比較して、その明度差が一
定値(±Δ2)以内であればその値を次回画像処理用2
値化レベルとする。
このようにすることにより、前に述べた悪影響を無くす
ことができる。
ことができる。
また、2値化レベルの下限LEV−L(第1図参照)を設
定しておき、今回求めた2値化レベルがこのLEV−L以
下となったとき、アラームを出すようにすることによ
り、照明装置の劣化等によるメンテナンス必要時期を知
ることができる。
定しておき、今回求めた2値化レベルがこのLEV−L以
下となったとき、アラームを出すようにすることによ
り、照明装置の劣化等によるメンテナンス必要時期を知
ることができる。
以上の方法で、2値化レベルを再設定することにより、
上記設備は照度変化レベルに対して安定な2値画像の取
り込みを行うことができる。
上記設備は照度変化レベルに対して安定な2値画像の取
り込みを行うことができる。
以上に説明したように、本発明においては、画素の合計
が対象の画素数の予め設定した割合になるレベルを求
め、そのレベルから一定レベル移動したレベルを次回の
2値化レベルとするようにしている。したがって、被検
査対象が金属等の場合でも、2値化レベルを最適に再設
定することができ、照明装置の経年変化、或いは電源変
動による照度変化等に対処でき、ラインの自動化、照明
設備の簡素化ができる。
が対象の画素数の予め設定した割合になるレベルを求
め、そのレベルから一定レベル移動したレベルを次回の
2値化レベルとするようにしている。したがって、被検
査対象が金属等の場合でも、2値化レベルを最適に再設
定することができ、照明装置の経年変化、或いは電源変
動による照度変化等に対処でき、ラインの自動化、照明
設備の簡素化ができる。
第1図は本発明の2値化レベルの求め方を示す説明図、
第2図は本発明の実施例の説明図、第3図は本発明の実
施例の説明図、第4図は金属対象物のヒストグラム例,
第5図は従来の方式で2値化レベルを設定したときの問
題を示す説明図である。
第2図は本発明の実施例の説明図、第3図は本発明の実
施例の説明図、第4図は金属対象物のヒストグラム例,
第5図は従来の方式で2値化レベルを設定したときの問
題を示す説明図である。
Claims (1)
- 【請求項1】画像のヒストグラムの明度レベルが対象と
背景の2レベルに分かれ、且つ対象と背景各々に対応す
るヒストグラムの明度のバラツキが小さい金属のような
被検査対象を2値画像処理するに際し、前回求めた2値
化レベルを用いて画像を取り込んで解析した結果、対象
が目的の対象物であることが確認されたとき、その画像
のヒストグラムの明度の最高レベル又は最低レベルから
順に各レベルの画素数を取り出して加算してゆき、その
合計値が対象の基準画素数の所定の比率になる明度レベ
ルを求め、そのレベルから一定レベルだけ、明度の低い
レベル又は高いレベル方向に移動させたレベルを次回の
2値化レベルとすることを特徴とする2値化レベル自動
補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61247845A JPH0724066B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | 2値化レベル自動補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61247845A JPH0724066B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | 2値化レベル自動補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63101974A JPS63101974A (ja) | 1988-05-06 |
| JPH0724066B2 true JPH0724066B2 (ja) | 1995-03-15 |
Family
ID=17169520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61247845A Expired - Lifetime JPH0724066B2 (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | 2値化レベル自動補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0724066B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9188177B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-11-17 | Sunstar Engineering Inc. | Brake disc |
| CN117730249A (zh) * | 2021-07-27 | 2024-03-19 | 柯尼卡美能达株式会社 | 显示体、数据处理装置、数据处理方法以及程序 |
-
1986
- 1986-10-17 JP JP61247845A patent/JPH0724066B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9188177B2 (en) | 2011-02-18 | 2015-11-17 | Sunstar Engineering Inc. | Brake disc |
| CN117730249A (zh) * | 2021-07-27 | 2024-03-19 | 柯尼卡美能达株式会社 | 显示体、数据处理装置、数据处理方法以及程序 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63101974A (ja) | 1988-05-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW200301817A (en) | A surface conduction examination method and a subtrate examination device | |
| JPH03257304A (ja) | 位置認識装置 | |
| JPH0886634A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| US20220358639A1 (en) | Image processing system, setting method, and program | |
| KR20160087197A (ko) | 결함 검출 장치 및 그 방법 | |
| JP2002290994A (ja) | 小型カメラモジュールの異物検査方法およびその異物検査装置 | |
| JP2008292398A (ja) | 部品電極の浮き不良の検査方法および基板検査装置 | |
| TWI793035B (zh) | 影像缺陷辨識方法及其影像分析裝置 | |
| JPH0724066B2 (ja) | 2値化レベル自動補正方法 | |
| JP2002310917A (ja) | 欠陥検出方法及び装置 | |
| US4259662A (en) | Threshold setting circuit | |
| JPH09153133A (ja) | しきい値算出方法 | |
| CN117522866B (zh) | 基于掩膜的荧光微丝试验图像中丝线锚点的判别方法 | |
| KR960014193B1 (ko) | 2진화방법 | |
| JPH06229929A (ja) | 凹凸欠点検査方法 | |
| JPH0627713B2 (ja) | 回路板の検査方法及び装置 | |
| JPH1010053A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP7712235B2 (ja) | 粒径測定装置、該方法および該プログラム | |
| JP2006050356A (ja) | 画像処理方法及び検査装置 | |
| JPH0943162A (ja) | 外観検査方法 | |
| JPH08159712A (ja) | パターン認識方法 | |
| JP2945057B2 (ja) | 部品装着検査機における画像前処理方法 | |
| JPS63220375A (ja) | 画像2値化処理方法 | |
| JP3190173B2 (ja) | 半導体装置の外観検査方法および外観検査装置 | |
| JPH0781962B2 (ja) | 異物検出方法 |