JPH0728080B2 - 半導体超格子構造体 - Google Patents
半導体超格子構造体Info
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- JPH0728080B2 JPH0728080B2 JP59200207A JP20020784A JPH0728080B2 JP H0728080 B2 JPH0728080 B2 JP H0728080B2 JP 59200207 A JP59200207 A JP 59200207A JP 20020784 A JP20020784 A JP 20020784A JP H0728080 B2 JPH0728080 B2 JP H0728080B2
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- semiconductor
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- semiconductor superlattice
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- H10H20/81—Bodies
- H10H20/811—Bodies having quantum effect structures or superlattices, e.g. tunnel junctions
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D62/00—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
- H10D62/80—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials
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- H10D62/8161—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials of structures exhibiting quantum-confinement effects, e.g. single quantum wells; of structures having periodic or quasi-periodic potential variation of structures having periodic or quasi-periodic potential variation, e.g. superlattices or multiple quantum wells [MQW] potential variation due to variations in composition or crystallinity, e.g. heterojunction superlattices
- H10D62/8162—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers characterised by the materials of structures exhibiting quantum-confinement effects, e.g. single quantum wells; of structures having periodic or quasi-periodic potential variation of structures having periodic or quasi-periodic potential variation, e.g. superlattices or multiple quantum wells [MQW] potential variation due to variations in composition or crystallinity, e.g. heterojunction superlattices having quantum effects only in the vertical direction, i.e. layered structures having quantum effects solely resulting from vertical potential variation
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は発光材料等への利用が可能な半導体超格子構造
体に関する。
体に関する。
(従来技術とその問題点) III−V化合物半導体を用いた半導体レーザの最短発光
波長は、厚さ数100Å以上の均一な半導体層を活性層と
して用いる通常型の半導体レーザでは、直接遷移型エネ
ルギーギャップEgの最大値で制限されている。すなわち
Al0.45In0.55PにおけるEg=2.3eVに対応する波長λg
〜540nmが最短波長である。現実にはGaAs基板に格子定
数を一致させた型のAlxGayIn1-x-yPがIII−V化合物半
導体を用いて実現しうる最短波長の材料として考えられ
ている(エレクトロニクスレターズ(Electron.Lett.)
18巻,1982年,62ページ)。この場合直接遷移型エネルギ
ーギャップの最大値は2.2eVであり、発光最短波長は緑
色の560nmに相当する。
波長は、厚さ数100Å以上の均一な半導体層を活性層と
して用いる通常型の半導体レーザでは、直接遷移型エネ
ルギーギャップEgの最大値で制限されている。すなわち
Al0.45In0.55PにおけるEg=2.3eVに対応する波長λg
〜540nmが最短波長である。現実にはGaAs基板に格子定
数を一致させた型のAlxGayIn1-x-yPがIII−V化合物半
導体を用いて実現しうる最短波長の材料として考えられ
ている(エレクトロニクスレターズ(Electron.Lett.)
18巻,1982年,62ページ)。この場合直接遷移型エネルギ
ーギャップの最大値は2.2eVであり、発光最短波長は緑
色の560nmに相当する。
一方半導体レーザの用途としてはより短波長の青緑色な
いし青色領域の利用が考えられるが、上記の理由でIII
−V化合物半導体によることが困難とされている。
いし青色領域の利用が考えられるが、上記の理由でIII
−V化合物半導体によることが困難とされている。
(発明の目的) 本発明の目的は、上に述べた困難を除去し、III−V化
合物半導体を用いてλg<560nmの短波長可視光レーザ
を実現しうる半導体の構造体を提供することにある。
合物半導体を用いてλg<560nmの短波長可視光レーザ
を実現しうる半導体の構造体を提供することにある。
(発明の構成) 本発明の半導体超格子構造体は異なる半導体材料を周期
的に積層してなる半導体超格子構造であって、前記半導
体超格子構造は、1〜10原子層以下の層厚のAlP,GaP,In
Pからなる単位構造の数10〜数100単位より形成され、そ
の平均組成であるAlXGaYIn1-X-YP混晶が間接遷移型であ
ることを特徴とする。
的に積層してなる半導体超格子構造であって、前記半導
体超格子構造は、1〜10原子層以下の層厚のAlP,GaP,In
Pからなる単位構造の数10〜数100単位より形成され、そ
の平均組成であるAlXGaYIn1-X-YP混晶が間接遷移型であ
ることを特徴とする。
(発明の作用・原理) 本発明は半導体超格子構造体のエネルギーギャップが、
同一組成の均一な混晶もしくは二元化合物のエネルギー
ギャップが間接遷移型であっても、超格子構造の導入に
よる周期的構造のために直接遷移型になりうることに基
づいている。AlxGayIn1-x-yPの均一な混晶はGaAsに格子
定数が一致する組成において、x0.21では電子エネル
ギーの伝導帯下端と価電子帯上端がともに波数ベクトル
空間(ブリルアン域)の にあり直接遷移型であるのに対し、x>0.21では伝導帯
下端が に移るために間接遷移型となって発光材料として不適当
となる。これに対し結晶構造に格子定数aの整数倍から
成る周期構造が導入された場合には波数ベクトル空間は
周期の大きさに応じて縮小を受けることになる。例えば
周期が格子定数のN倍であれば周期構造の形成された方
向の波数ベクトル空間の大きさは1/Nに縮小される。と
くに周期構造が結晶の<100>方向に沿って形成されか
つ超周期Nが偶数であればいわゆるバンドフォールディ
ング効果によりX点のエネルギーはΓ点に移ることにな
る。これはエネルギーギャップがその大きさを変えない
まま直接遷移型に変換されることに外ならない。
同一組成の均一な混晶もしくは二元化合物のエネルギー
ギャップが間接遷移型であっても、超格子構造の導入に
よる周期的構造のために直接遷移型になりうることに基
づいている。AlxGayIn1-x-yPの均一な混晶はGaAsに格子
定数が一致する組成において、x0.21では電子エネル
ギーの伝導帯下端と価電子帯上端がともに波数ベクトル
空間(ブリルアン域)の にあり直接遷移型であるのに対し、x>0.21では伝導帯
下端が に移るために間接遷移型となって発光材料として不適当
となる。これに対し結晶構造に格子定数aの整数倍から
成る周期構造が導入された場合には波数ベクトル空間は
周期の大きさに応じて縮小を受けることになる。例えば
周期が格子定数のN倍であれば周期構造の形成された方
向の波数ベクトル空間の大きさは1/Nに縮小される。と
くに周期構造が結晶の<100>方向に沿って形成されか
つ超周期Nが偶数であればいわゆるバンドフォールディ
ング効果によりX点のエネルギーはΓ点に移ることにな
る。これはエネルギーギャップがその大きさを変えない
まま直接遷移型に変換されることに外ならない。
従ってAlxGayIn1-x-yPにおいても<100>方向に超周期
構造を導入してやることにより、均一混晶相において間
接遷移型であるようなエネルギー域においても直接遷移
型とすることができる。実際には混晶材料のままよく定
義された周期構造を形成することは困難であるのでAlP,
GapおよびInPを積層した周期構造を用いるのが有利であ
る。さらに周期の一単位は二元化合物の特性が顕著とな
らない大きさ、すなわち電子のドーブロイ波長以下であ
るような1〜10原子層程度であることが要求される。
構造を導入してやることにより、均一混晶相において間
接遷移型であるようなエネルギー域においても直接遷移
型とすることができる。実際には混晶材料のままよく定
義された周期構造を形成することは困難であるのでAlP,
GapおよびInPを積層した周期構造を用いるのが有利であ
る。さらに周期の一単位は二元化合物の特性が顕著とな
らない大きさ、すなわち電子のドーブロイ波長以下であ
るような1〜10原子層程度であることが要求される。
(実施例) 以下本発明の有利な特性を用いた実施例について説明す
る。
る。
図は、本発明による<100>方向に超周期構造を有するG
aAs基板上に形成した超格子構造体である。InP(2A)−
AlP(3A)−InP(2B)−GaP(4)−InP(2C)−AlP(3
B)を単位構造とする超格子であり、各層は単原子層か
ら成っている。超格子構造体は少なくとも数10〜数100
単位より形成される。組成的にはAl0.33Ga0.17In0.5P
に一致し、混晶であれば間接遷移型となるが超周期構造
のためにEg=2.35eVの直接遷移型となる。単位構造とし
ては数原子層程度の2元化合物層を種々の仕方で積層し
たものが考えられるが、いずれにせよ超周期構造による
直接遷移型エネルギーギャップへの変換効果を利用する
ことには変わりはない。
aAs基板上に形成した超格子構造体である。InP(2A)−
AlP(3A)−InP(2B)−GaP(4)−InP(2C)−AlP(3
B)を単位構造とする超格子であり、各層は単原子層か
ら成っている。超格子構造体は少なくとも数10〜数100
単位より形成される。組成的にはAl0.33Ga0.17In0.5P
に一致し、混晶であれば間接遷移型となるが超周期構造
のためにEg=2.35eVの直接遷移型となる。単位構造とし
ては数原子層程度の2元化合物層を種々の仕方で積層し
たものが考えられるが、いずれにせよ超周期構造による
直接遷移型エネルギーギャップへの変換効果を利用する
ことには変わりはない。
(発明の効果) 以上説明したように、各層がAlP,GaP,InPの1ないし10
原子層程度の一定の層厚を有しているような半導体超格
子構造体を半導体レーザの活性層として用いることによ
り、波長560nm以下の短波長発光を有する半導体レーザ
を実現できる。
原子層程度の一定の層厚を有しているような半導体超格
子構造体を半導体レーザの活性層として用いることによ
り、波長560nm以下の短波長発光を有する半導体レーザ
を実現できる。
図は本発明における超格子構造体の一実施例を示す図で
ある。図において、1……GaAs基板,2Aないし2C……InP
単原子層,3Aないし3B……AlP単原子層,4……GaP単原子
層,5……2ないし4より成る単位構造の繰り返しによる
超格子の他の周期部分。
ある。図において、1……GaAs基板,2Aないし2C……InP
単原子層,3Aないし3B……AlP単原子層,4……GaP単原子
層,5……2ないし4より成る単位構造の繰り返しによる
超格子の他の周期部分。
Claims (1)
- 【請求項1】異なる半導体材料を周期的に積層してなる
半導体超格子構造であって、前記半導体超格子構造は、
1〜10原子層以下の層厚のAlP,GaP,InPからなる単位構
造の数10〜数100単位より形成され、その平均組成であ
るAlXGaYIn1-X-YP混晶が間接遷移型であることを特徴と
する半導体超格子構造体。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59200207A JPH0728080B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 半導体超格子構造体 |
| EP85112133A EP0176087B1 (en) | 1984-09-25 | 1985-09-24 | Semiconductor superlattice structure |
| US06/779,756 US4675708A (en) | 1984-09-25 | 1985-09-24 | Semiconductor superlattice structure |
| DE85112133T DE3587451T2 (de) | 1984-09-25 | 1985-09-24 | Halbleiterübergitterstruktur. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59200207A JPH0728080B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 半導体超格子構造体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6178189A JPS6178189A (ja) | 1986-04-21 |
| JPH0728080B2 true JPH0728080B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=16420584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59200207A Expired - Lifetime JPH0728080B2 (ja) | 1984-09-25 | 1984-09-25 | 半導体超格子構造体 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4675708A (ja) |
| EP (1) | EP0176087B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0728080B2 (ja) |
| DE (1) | DE3587451T2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61136803A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-24 | 極東開発工業株式会社 | 塵芥収集車の押込機構 |
| JPH0669109B2 (ja) * | 1984-12-07 | 1994-08-31 | シャ−プ株式会社 | 光半導体装置 |
| JPS61210679A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-18 | Sony Corp | 半導体装置 |
| JPS61244086A (ja) * | 1985-04-22 | 1986-10-30 | Sharp Corp | 半導体レ−ザ素子 |
| KR900002687B1 (ko) * | 1985-12-16 | 1990-04-23 | 후지쓰가부시끼가이샤 | Mbe법에 의한 기판에 격자 정합시키는 4원 또는 5원 흔정 반도체의 성장방법 |
| JPS63153887A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-06-27 | Sharp Corp | 半導体レ−ザ素子 |
| US4769341A (en) * | 1986-12-29 | 1988-09-06 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Method of fabricating non-silicon materials on silicon substrate using an alloy of Sb and Group IV semiconductors |
| JP2544378B2 (ja) * | 1987-03-25 | 1996-10-16 | 株式会社日立製作所 | 光半導体装置 |
| JP2612572B2 (ja) * | 1987-04-14 | 1997-05-21 | キヤノン株式会社 | 電子放出素子 |
| EP0323249B1 (en) * | 1987-12-29 | 1993-11-03 | Nec Corporation | Semiconductor crystal structure and a process for producing the same |
| US4905056A (en) * | 1988-09-30 | 1990-02-27 | Berndt Dale F | Superlattice precision voltage reference |
| DE69707390T2 (de) * | 1996-04-24 | 2002-06-27 | Uniphase Opto Holdings Inc., San Jose | Strahlungsemittierende halbleiterdiode und deren herstellungsverfahren |
| US6570179B1 (en) | 1998-01-14 | 2003-05-27 | Mp Technologies, Llc | III-V semiconductors separate confinement superlattice optoelectronic devices |
| GB2344932A (en) | 1998-12-15 | 2000-06-21 | Sharp Kk | Semiconductor Laser with gamma and X electron barriers |
| US6586762B2 (en) | 2000-07-07 | 2003-07-01 | Nichia Corporation | Nitride semiconductor device with improved lifetime and high output power |
| AT528275A1 (de) * | 2024-04-30 | 2025-11-15 | Univ Linz | Vorrichtung zur Laserstrahlenemission |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4205329A (en) * | 1976-03-29 | 1980-05-27 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Periodic monolayer semiconductor structures grown by molecular beam epitaxy |
| US4261771A (en) * | 1979-10-31 | 1981-04-14 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method of fabricating periodic monolayer semiconductor structures by molecular beam epitaxy |
| JPH0669109B2 (ja) * | 1984-12-07 | 1994-08-31 | シャ−プ株式会社 | 光半導体装置 |
-
1984
- 1984-09-25 JP JP59200207A patent/JPH0728080B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-09-24 EP EP85112133A patent/EP0176087B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-09-24 US US06/779,756 patent/US4675708A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-09-24 DE DE85112133T patent/DE3587451T2/de not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JapaneseJournalofAppliedPhysicsVol.22No.11November1983PP.L680〜L682 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4675708A (en) | 1987-06-23 |
| DE3587451T2 (de) | 1994-01-20 |
| JPS6178189A (ja) | 1986-04-21 |
| EP0176087A2 (en) | 1986-04-02 |
| EP0176087A3 (en) | 1988-06-01 |
| EP0176087B1 (en) | 1993-07-14 |
| DE3587451D1 (de) | 1993-08-19 |
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