JPH0728267B2 - Semiconductor laser modulation method and device - Google Patents
Semiconductor laser modulation method and deviceInfo
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- JPH0728267B2 JPH0728267B2 JP1-503009A JP50300989A JPH0728267B2 JP H0728267 B2 JPH0728267 B2 JP H0728267B2 JP 50300989 A JP50300989 A JP 50300989A JP H0728267 B2 JPH0728267 B2 JP H0728267B2
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Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、各種光通信システム等に使用される半導体レ
ーザ装置に関するもので、その半導体レーザの変調方法
についても言及するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a semiconductor laser device used in various optical communication systems, and also to a method for modulating the semiconductor laser.
背景技術
光通信においては、発光光源として半導体レーザが多く
使用されている。また、変調方式としては、半導体レー
ザの駆動電流を送信データによって変調する直接変調方
式と、半導体レーザの出力光を外部変調器により変調す
る外部変調方式とに大別することができる。BACKGROUND ART In optical communications, semiconductor lasers are often used as light sources. Modulation methods can be broadly divided into direct modulation, in which the drive current of the semiconductor laser is modulated by transmission data, and external modulation, in which the output light of the semiconductor laser is modulated by an external modulator.
従来の直接変調方式は、半導体レーザの閾値電流ITをバ
イアス電流として供給し、送信データに従った変調電流
を上記バイアス電流に重畳して駆動する方式が一般的で
ある。ところが、このような変調方式においては、半導
体レーザを比較的大きな振幅のパルス電流で駆動する必
要があるので、発振波長のチャーピング(動的波長シフ
ト)が生じる。このチャーピングにより、光ファイバを
伝搬した光パルスの波形が歪むことになる。従って、数
Gb/s以上の高速データによる直接変調は困難であるとい
う問題があった。更に、変調振幅が大きいため、半導体
レーザ及びその駆動回路の双方に大きな負担がかかると
いう問題もあった。In conventional direct modulation methods, the threshold current I T of a semiconductor laser is generally supplied as a bias current, and a modulation current according to transmission data is superimposed on the bias current to drive the semiconductor laser. However, in such modulation methods, the semiconductor laser needs to be driven with a pulse current of relatively large amplitude, which causes chirping (dynamic wavelength shift) of the oscillation wavelength. This chirping distorts the waveform of the optical pulse propagated through the optical fiber. Therefore, several
Direct modulation using high-speed data of over Gb/s is difficult, and the large modulation amplitude places a heavy burden on both the semiconductor laser and its driver circuit.
なお、上記チャーピングを低減するため、第1図に示す
ように、例えば±数10mA程度の変調電流Imにレーザの閾
値より充分大きい程度の一定のバイアス電流Ioを加え
て、レーザの閾値電流ITよりも電流の大きい領域のみを
使って変調するようにしたものもある。この方法によれ
ば、送信データが「0」の時でも発光している状態とな
るため、出力光の消光比が劣化するという大きな問題を
伴う。To reduce the chirping, a constant bias current I0 sufficiently larger than the laser threshold is added to a modulation current Im of , for example, several tens of milliamps, so that modulation is performed only in the region where the current is larger than the laser threshold current I1 , as shown in Figure 1. This method causes light emission even when the transmitted data is "0," which causes a serious problem in that the extinction ratio of the output light deteriorates.
また、従来の外部変調方式は、電気光学効果材料や音響
光学効果材料等を用いた外部変調器、導波路型の外部変
調器、光偏向型の外部変調器等の各種の変調器を用いて
いる。そのため、これらの外部変調器が大きな接続損失
を発生させ、しかも高速変調のためには複雑な構造を必
要とするという問題があった。Furthermore, conventional external modulation methods use various types of modulators, such as external modulators using electro-optical effect materials or acousto-optical effect materials, waveguide-type external modulators, optical deflection-type external modulators, etc. Therefore, there are problems in that these external modulators generate large connection losses and require complex structures for high-speed modulation.
次に、半導体レーザの外部変調器等として使用される、
一般的なマッハツェンダ形電気光学変調器からなる光干
渉器の構成を第2図に示す。同図の光干渉器10では、入
力側の1本の光導波路1に半導体レーザ等からの定常光
を入力させ、これを一旦分岐して2本の光導波路2、3
に通過させた後、これらを合成して1本の光導波路4に
入射させる。この際、2本の光導波路2、3に対して電
極5、6を設け、これらに電圧を適宜印加して光路長差
を変化させることにより、上記合成される2つの光に位
相差を与えるようにする。これにより、上記2つの光は
合成時に干渉しあい、それらの位相差に応じて強度変調
された出力光が得られる。Next, it is used as an external modulator for a semiconductor laser, etc.
The configuration of an optical interferometer consisting of a general Mach-Zehnder type electro-optic modulator is shown in Fig. 2. In the optical interferometer 10 shown in the figure, steady light from a semiconductor laser or the like is input to one optical waveguide 1 on the input side, and this is once branched into two optical waveguides 2 and 3.
After passing through the optical waveguides 2 and 3, these lights are combined and made incident on a single optical waveguide 4. At this time, electrodes 5 and 6 are provided on the two optical waveguides 2 and 3, and a voltage is applied to these electrodes to change the difference in optical path length, thereby giving a phase difference to the two lights being combined. As a result, the two lights interfere with each other when combined, and output light is obtained that is intensity-modulated according to the phase difference.
ところが、このような光干渉器10では、温度変化に伴っ
て光路の実際の長さが変動したり、或いは入力光の波長
自体が変動したりすること等により、合成されるべき2
つの光の位相差が時間的に変動し、そのため強度変調時
における動作の基準点(位相バイアス)が時間的に安定
しなくなるという問題が生じる。例えば、強度変調にお
ける位相差と出力光強度との理想的な関係を第3A図に示
す。すなわち、位相差をφ1(=2nπ)とφ2(=2n+
1)π)の間で動かした場合に、出力光強度がそれぞれ
「1」と「0」に切り換わる。ところが、位相差φ1、
φ2に変動が生じてφ1′、φ2′になったとすると、第
3図に示すように位相バイアスがずれてしまう。する
と、出力光強度が最大でも上記「1」より小さく、最小
でも上記「0」より大きくあることから、出力光の消光
比が低下してしまう。However, in such an optical interferometer 10, the actual length of the optical path may fluctuate with temperature changes, or the wavelength of the input light may fluctuate, resulting in the two light beams to be combined being distorted.
The phase difference between the two lights fluctuates over time, which causes the problem that the reference point (phase bias) of the operation during intensity modulation is not stable over time. For example, the ideal relationship between the phase difference and the output light intensity during intensity modulation is shown in Figure 3A. That is, if the phase difference is φ 1 (= 2nπ) and φ 2 (= 2n +
When the phase difference φ 1 is changed between φ 1 and φ 2, the output light intensity changes to "1" and "0", respectively.
If φ2 fluctuates to become φ1 ' or φ2 ', the phase bias will shift as shown in Figure 3. As a result, the maximum output light intensity will be less than the above "1" and the minimum output light intensity will be greater than the above "0", resulting in a decrease in the extinction ratio of the output light.
そこで、このような問題を解消するためには、出力光か
ら位相差のずれを検出し、このずれがなくなるように位
相差を補正してやることが考えられる。しかし、出力光
は位相差の変化に応じて「1」と「0」に高速で切り換
わっているので、このような出力光から位相の状態を直
接検出するのは非常に困難であり、よってこれまでは位
相差の変動を充分に抑えることができなかった。To solve this problem, it is conceivable to detect the phase difference deviation from the output light and correct the phase difference so that this deviation is eliminated. However, because the output light switches between "1" and "0" at high speed in response to changes in the phase difference, it is extremely difficult to directly detect the phase state from such output light, and therefore it has not been possible to sufficiently suppress the fluctuations in the phase difference until now.
発明の開示
本発明は、上記従来の問題点に鑑み、チャーピングによ
る悪影響をなくし、かつ、半導体レーザ及びその駆動回
路の負担を小さくして、直接変調による高速変調を可能
にする半導体レーザの変調方法を提供することを目的と
する。DISCLOSURE OF THE INVENTION In view of the above-mentioned conventional problems, an object of the present invention is to provide a semiconductor laser modulation method that eliminates the adverse effects of chirping, reduces the burden on the semiconductor laser and its drive circuit, and enables high-speed modulation by direct modulation.
本発明の他の目的は、上記従来の光干渉器の問題点に鑑
み、出力側での位相のずれをなくして、安定した出力を
得ることのできる光干渉器を提供することにある。ま
た、本発明の更に他の目的は、このような光干渉器を用
いて、半導体レーザの光強度変調を安定かつ高速に行う
ことのできる光変調装置を提供することにある。Another object of the present invention is to provide an optical interferometer that can eliminate phase shifts at the output side and obtain a stable output, in consideration of the problems of the conventional optical interferometers described above. Still another object of the present invention is to provide an optical modulation device that can stably and quickly modulate the optical intensity of a semiconductor laser using such an optical interferometer.
一般に、半導体レーザの発振周波数ωは、平均駆動電流
の近傍では電流Iの変化ΔIに比例して変化すると考え
ることができる。この関係を第6図に示す。すなわち、
I(t)=I0+ΔI(t)の時、ω(t)=ω0+Δω
(t)に対して、
Δω(t)=kΔI(t)
と表すことができる。ここで、kはチャーピング係数
(一定)である。In general, it can be considered that the oscillation frequency ω of a semiconductor laser changes in proportion to the change ΔI in the current I in the vicinity of the average driving current. This relationship is shown in FIG. 6. That is,
When I(t)=I 0 +ΔI(t), ω(t)=ω 0 +Δω
(t), it can be expressed as Δω(t)=kΔI(t), where k is the chirp factor (constant).
そして、光電場をコヒーレント時間内で
と表すと、発振周波数ωが上記のように時間で変動する
場合、
となる。これにより
とおけるので、駆動電流の変化ΔIで位相φを制御でき
ることがわかる。And, the optical field is When the oscillation frequency ω varies over time as shown above, This results in Therefore, it is understood that the phase φ can be controlled by the change ΔI in the drive current.
そこで、本発明の半導体レーザの変調方法では、上記駆
動電流の変化ΔI(t)を変調電流パルスとして用い、
この1タイムスロットTの時間積分
とチャーピング係数(k)との積がπもしくは−πとな
るようにしている。すなわち、
としている。このようにすれば、1タイムスロットTの
間で位相φがπもしくは−πだけ反転する。よって、送
信データに応じたタイミングで変調電流パルスΔI
(t)を発生させることにより、半導体レーザの出力光
に0とπの間で位相変調をかけることができる。なお、
上記式(1)を満足させるΔI(t)の形状としては、
δ関数(例えばΔI(t)=(π/k)δ(t−t0))が
考えられるが、この他にも、時間的に狭い領域にあって
積分がπ/kもしくは−π/kになるものであれば何でもよ
い。Therefore, in the semiconductor laser modulation method of the present invention, the change ΔI(t) in the drive current is used as a modulation current pulse,
The time integral of this one time slot T and the chirping coefficient (k) are set to be π or -π. In this way, the phase φ is inverted by π or −π during one time slot T. Therefore, the modulation current pulse ΔI is inverted at a timing according to the transmission data.
By generating (t), it is possible to apply phase modulation between 0 and π to the output light of the semiconductor laser.
The shape of ΔI(t) that satisfies the above formula (1) is as follows:
A delta function (for example, ΔI(t) = (π/k)δ(t - t0 )) can be considered, but any other function that is in a narrow time region and whose integral is π/k or -π/k is also acceptable.
これによれば、発振波長の広がりが変調によるサイドバ
ンドのみになるので、従来の直接変調のようなチャーピ
ングによる悪影響をなくすことができる。しかも、半導
体レーザの小振幅変調となるため、半導体レーザ及びそ
の駆動回路の双方の負担を極めて小さくすることができ
る。これらのことから、従来の直接変調の周波数限界を
越えた高速変調が実現される。This method eliminates the negative effects of chirping, which occurs in conventional direct modulation, because the oscillation wavelength broadens only due to sidebands caused by modulation. Furthermore, because the semiconductor laser is modulated at a small amplitude, the burden on both the semiconductor laser and its driver circuit can be significantly reduced. These factors enable high-speed modulation that exceeds the frequency limit of conventional direct modulation.
また、本発明の半導体レーザの変調方法では、上記のよ
うにして0とπの間で位相変調のかけられた半導体レー
ザの出力光を、自己ホモダインによる光干渉器に通す。
すると、自己ホモダインによる各位相差に応じた強度変
調がかかり、すなわち「0」、「1」の光パルスに変換
される。これにより、高速の光強度変調が可能になる。In the semiconductor laser modulation method of the present invention, the output light of the semiconductor laser that has been phase-modulated between 0 and π as described above is passed through a self-homodyne optical interferometer.
This causes intensity modulation according to each phase difference due to self-homodyne, i.e., the light is converted into optical pulses of "0" and "1." This enables high-speed optical intensity modulation.
次に、上記のように高速の位相変調のかかった光信号を
入力光とする光干渉器、或いは第2図に示したように定
常光を入力光とする光干渉器において、例えば第3A図に
示したように位相差をφ1とφ2の間で動かすとすると、
出力光はそれぞれ「1」と「0」に強度変調される。こ
れらの2値の確率は一般にはそれぞれ2分の1ずつなの
で、光の強度が「1」と「0」の間を瞬時に移動すると
考えれば、この2つの光の平均強度は「1/2」となる。
一方、第3B図に示したように位相差をφ1′とφ2′の間
で動かしたとしても、消光比は低下するが、光の強度が
同様に「1」と「0」の間を瞬時に移動すると考えれ
ば、その2つの光の平均出力は同じく「1/2」となる。
ところが、光の強度が「1」から「0」まで、又は
「0」から「1」まで切り換わるまでの実際の平均強度
を考えた場合は、2値の間に有限の遷移時間があるた
め、第3A図と第3B図では異なる平均強度が得られる。す
なわち、φ1とφ2の間の実際の平均強度が丁度「1/2」
であるのに対し、φ1′とφ2′との間の実際の平均強度
は「1/2」よりも小さくなる。Next, in an optical interferometer in which a high-speed phase-modulated optical signal is input as described above, or an optical interferometer in which stationary light is input as shown in FIG. 2, if the phase difference is moved between φ1 and φ2 as shown in FIG. 3A, for example,
The output light is intensity-modulated to "1" and "0" respectively. Since the probability of these two values is generally 50/50, if we consider that the light intensity moves instantaneously between "1" and "0", the average intensity of these two lights is "1/2".
On the other hand, even if the phase difference is changed between φ1 ' and φ2 ' as shown in Figure 3B, the extinction ratio decreases, but if we consider that the light intensity similarly moves instantly between "1" and "0," the average output of the two lights will also be "1/2."
However, when considering the actual average intensity when the light intensity switches from "1" to "0" or from "0" to "1," there is a finite transition time between the two values, so different average intensities are obtained in Figures 3A and 3B. That is, the actual average intensity between φ1 and φ2 is exactly "1/2."
whereas the actual average intensity between φ 1 ' and φ 2 ' is smaller than "1/2".
よって、このような平均強度の変化を検出すれば、位相
バイアスのずを容易に知ることができる。そこで、本発
明の光干渉器の安定化方法は、まず、光干渉器の出力光
の強度を変調速度よりも遅い時間(例えば1Gb/sの位相
変調に対し、1/100秒程度)で積分した平均強度を求め
る。このように変調速度よりも遅い時間で積分して平均
強度を求めることにより、送信データの「1」と「0」
のばらつきが補償されて、充分に正確な値となる。続い
て、上記平均強度を用いて、入力光の光波長又は2つの
光路の光路長差に帰還をかけ、これにより強度変調時の
位相バイアスを補正する。Therefore, by detecting such a change in the average intensity, the phase bias can be easily determined. Therefore, in the stabilization method of the optical interferometer of the present invention, the average intensity is obtained by integrating the intensity of the output light of the optical interferometer over a time slower than the modulation speed (for example, about 1/100 seconds for 1 Gb/s phase modulation). By integrating over a time slower than the modulation speed in this way and obtaining the average intensity, the "1" and "0" of the transmitted data can be easily determined.
Then, using the average intensity, feedback is applied to the optical wavelength of the input light or the optical path length difference between the two optical paths, thereby correcting the phase bias during intensity modulation.
これによれば、平均強度の変化から位相バイアスのずれ
を容易に知ることができ、このずれがなくなるように帰
還をかけることができるので、光干渉器の出力を著しく
安定化させることができる。This makes it possible to easily determine the deviation in the phase bias from the change in the average intensity, and to apply feedback to eliminate this deviation, thereby significantly stabilizing the output of the optical interferometer.
また、本発明の光変調装置は、符号変換部と、微分回路
と、半導体レーザと、光干渉器とを備えて構成されてい
る。符号変換部により例えば送信データの「1」の時の
み符号を反転して出力し、「0」のときは前の符号を出
力するように符号変換し、(或いはこの逆でもよい)、
その変換出力信号を微分回路により微分する。半導体レ
ーザには、バイアス電流源から半導体レーザがレーザ発
振して所望の光強度の出力光が得られるように選定した
バイアス電流を供給し、それに、微分回路の微分出力信
号を変調電流パルスとして重畳して供給する。この変調
電流パルスにより、半導体レーザの出力光の位相が変化
する。この位相変化がπ又は−πとなるように上記変調
電流パルスを選定する。光干渉器は自己ホモダインが可
能な構成となっており、1タイムスロットの相対遅延時
間と、0又はπの相対位相差とを与える光遅延回路を有
しているので、上記半導体レーザの出力光の位相をπ又
は−πに変化させると、光干渉器の出力光は相対値で
「0」又は「1」となる。The optical modulation device of the present invention is configured to include a code conversion section, a differentiation circuit, a semiconductor laser, and an optical interferometer. The code conversion section converts the code so that, for example, only when the transmission data is "1" the code is inverted and output, and when the transmission data is "0" the previous code is output (or vice versa).
The converted output signal is differentiated by a differentiating circuit. A bias current selected so that the semiconductor laser oscillates and produces output light of the desired optical intensity is supplied to the semiconductor laser from a bias current source, and the differentiated output signal of the differentiating circuit is superimposed on this bias current as a modulation current pulse. This modulation current pulse changes the phase of the output light from the semiconductor laser. The modulation current pulse is selected so that this phase change is π or -π. The optical interferometer is configured to enable self-homodyning and has an optical delay circuit that provides a relative delay time of one time slot and a relative phase difference of 0 or π. Therefore, when the phase of the output light from the semiconductor laser is changed to π or -π, the output light from the optical interferometer becomes a relative value of "0" or "1."
これによれば、半導体レーザを連続発振状態とすると共
に、変調電流パルスが一定バイアス電流に比較してわず
かであるから、チャーピングの問題はなくなる。また、
光干渉器は、半導体レーザの出力光位相の変化に対応し
て強度変調された出力光を得るものであり、接続損失が
少なく、かつ極めて高速で動作可能である。従って、数
Gb/s以上の高速データについても、安定な強度変調が可
能となる。This allows the semiconductor laser to be in a continuous oscillation state, and the modulation current pulse is small compared to the constant bias current, so the chirping problem is eliminated.
The optical interferometer obtains intensity-modulated output light in response to changes in the phase of the output light from the semiconductor laser, and has little connection loss and can operate at extremely high speed.
Stable intensity modulation is possible even for high-speed data of Gb/s or more.
第4A図及び第4B図は、上述した本発明を光通信システム
に適用した場合の全体構成を示す図である。本発明に係
る光干渉器12は、第4A図に示すように、送信側において
半導体レーザ11の後段であってかつ伝送用光ファイバ13
の前段に配置してもよく、又は第4B図に示すように、受
信側において伝送用光ファイバ13の後段であってかつ受
信器14の前段に配置してもよい。光干渉器12を第4A図の
ように送信側に配置した場合は、その安定化のための手
段として、半導体レーザ11の発振波長に帰還をかけた
り、或いは光干渉器12自体の光路長差に帰還をかけるこ
とが可能である。光干渉器12を第4B図のように受信側に
配置した場合は、その安定化のための手段として、光干
渉器12自体の光路長差に帰還をかけることが可能であ
る。後者の場合は、長い伝送用光ファイバ13によって光
が減衰した場合であっても、その光はまだ位相変調のか
かった段階であって、強度は常に一定なので、光を光の
ままで増幅する、いわゆる光直接増幅を容易に行うこと
ができる。4A and 4B are diagrams showing the overall configuration when the present invention is applied to an optical communication system. As shown in FIG. 4A, the optical interferometer 12 according to the present invention is located after the semiconductor laser 11 on the transmitting side and is connected to the transmission optical fiber 13.
Alternatively, as shown in Fig. 4B, it may be placed after the transmission optical fiber 13 and before the receiver 14 on the receiving side. When the optical interferometer 12 is placed on the transmitting side as shown in Fig. 4A, it is possible to stabilize it by applying feedback to the oscillation wavelength of the semiconductor laser 11 or by applying feedback to the optical path length difference of the optical interferometer 12 itself. When the optical interferometer 12 is placed on the receiving side as shown in Fig. 4B, it is possible to stabilize it by applying feedback to the optical path length difference of the optical interferometer 12 itself. In the latter case, even if the light is attenuated by the long transmission optical fiber 13, the light is still in a phase-modulated stage and its intensity is always constant, so that it is easy to amplify the light as it is, i.e., so-called direct optical amplification.
図面の簡単な説明
第1図は従来の直接変調の動作を説明するための図、
第2図は一般的なマッハツェンダ形電気光学変調器の構
成を示す図、
第3A図及び第3B図は光干渉器での強度変調における位相
差を出力光強度との理想的な関係及びずれた関係を示す
図、
第4A図及び第4B図は本発明を光通信システムに適用した
場合の全体構成を示す図、
第5図は本発明の半導体レーザの変調方法の第1の実施
例に係るレーザ駆動回路を示すブロック図、
第6図は一般の半導体レーザにおける駆動電流の変化Δ
Iと発振周波数の変化Δωとの関係を示す図、
第7図は本発明の半導体レーザの変調方法の第1の実施
例に係る駆動電流Iの波形図、
第8図は第7図に示した駆動電流Iに応じて得られる出
力光位相φの波形図、
第9図は本発明の半導体レーザの変調方法の第2の実施
例に係る光干渉器の構成を示す図、
第10図は第9図に示した光干渉器から第8図の出力光位
相φに応じて得られる光出力の波形図、
第11図は本発明の半導体レーザの変調方法の第3の実施
例に係る駆動電流Iの波形図、
第12A図及び第12B図はそれぞれ自己ホモダイン光干渉器
の他の例を示す図、
第13図は本発明の光干渉器の安定化方法の第1の実施例
を実現するための構成を示す図、
第14図は本発明の光干渉器の安定化方法の第2の実施例
を実現するための構成を示す図、
第15図は本発明の光干渉器の安定化方法の第3の実施例
を実現するための構成を示す図、
第16図は本発明の光干渉器の安定化方法の第4の実施例
を実現するための構成を示す図、
第17図は本発明の光干渉器の安定化方法の第5の実施例
を実現するための構成を示す図、
第18図は本発明の光変調装置の原理構成を示すブロック
図、
第19図は本発明の光変調装置の第1の実施例の構成を示
す図、
第20図(a)〜(g)は第19図に示した光変調装置の動
作を説明するための図、
第21図は本発明の光変調装置の第2の実施例に係る微分
回路を示す回路図、
第22図は本発明の光変調装置の第3の実施例に係る光変
調器安定化手段の構成を示す図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a diagram for explaining the operation of conventional direct modulation, FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a general Mach-Zehnder electro-optic modulator, FIGS. 3A and 3B are diagrams showing the ideal and shifted relationship between the phase difference and the output light intensity in intensity modulation in an optical interferometer, FIGS. 4A and 4B are diagrams showing the overall configuration when the present invention is applied to an optical communication system, FIG. 5 is a block diagram showing a laser drive circuit according to a first embodiment of the semiconductor laser modulation method of the present invention, and FIG. 6 is a diagram showing the change Δ of the drive current in a general semiconductor laser.
8 is a waveform diagram of the output optical phase φ obtained in response to the drive current I shown in FIG. 7; FIG. 9 is a diagram showing the configuration of an optical interferometer in accordance with a second embodiment of the method for modulating a semiconductor laser of the present invention; FIG. 10 is a waveform diagram of the optical output obtained in response to the output optical phase φ of FIG. 8 from the optical interferometer shown in FIG. 9; FIG. 11 is a waveform diagram of the drive current I in accordance with a third embodiment of the method for modulating a semiconductor laser of the present invention; FIGS. 12A and 12B are diagrams showing other examples of self-homodyne optical interferometers; FIG. 13 is a diagram showing a configuration for realizing a first embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer of the present invention; Figure 17 is a diagram showing a configuration for realizing a fifth embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer of the present invention; Figure 18 is a block diagram showing the basic configuration of an optical modulation device of the present invention; Figure 19 is a diagram showing the configuration of a first embodiment of an optical modulation device of the present invention; Figures 20(a) to (g) are diagrams for explaining the operation of the optical modulation device shown in Figure 19; Figure 21 is a circuit diagram showing a differential circuit related to a second embodiment of an optical modulation device of the present invention; and Figure 22 is a diagram showing the configuration of an optical modulator stabilization means related to a third embodiment of an optical modulation device of the present invention.
発明を実施するための最良の形態
本発明をより詳細に説述するために、添付の図面に従っ
てこれを説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION In order to explain the present invention in more detail, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
第5図は、本発明の半導体レーザの変調方法の第1の実
施例に係るレーザ駆動回路を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a laser driving circuit according to a first embodiment of the semiconductor laser modulation method of the present invention.
同図において、バイアス電流作成回路21により、一定値
(例えば100mA)のバイアス電流I0を作成する。また、
電流パルス発生回路22により、送信データに応じたタイ
ミングで、例えば数mA程度の変調電流ΔIを発生させ
る。このΔIの形状は、前述した式(1)を満たすよう
に、すなわち、
となるように予め設定しておく。例えば、ΔI(t)=
(π/k)δ(t−t0)となるような形状、或いはこれに
近い形状にしておく。In the figure, a bias current I0 of a fixed value (for example, 100 mA) is generated by a bias current generating circuit 21.
The current pulse generating circuit 22 generates a modulated current ΔI of, for example, several mA at a timing according to the transmission data. The shape of this ΔI is set so as to satisfy the above-mentioned formula (1), that is, For example, ΔI(t)=
The shape is set to be (π/k)δ(t−t 0 ) or a shape close to this.
そして、電流パルス発生回路22で得られる変調電流ΔI
を、バイアス電流作成回路21で得られたバイアス電流I0
に重畳し、駆動電流I(=I0+ΔI)として半導体レー
ザ23に与える。この駆動電流Iの波形の一例を第7図に
示す。このように駆動電流Iが所々でパルス的に一瞬変
化すると、その時点で発振周波数ωが電流の変化ΔIに
応じて変動し(第6図参照)、その変動Δωを時間積分
しただけの位相差が生じる。本実施例では、上述したよ
うに、Δωの時間積分
となるようにΔIを設定しているため、ΔIを加えた前
後で相対的にπの位相差を生じさせることができる。例
えば第7図の駆動電流波形に応じた出力光の位相φの変
化を横軸に同じ時間位置で第8図に示す。すなわち、電
流変化ΔIのある部分で出力光の位相φがπだけ反転
し、0とπの間で位相変調がかかっていることがわか
る。The modulated current ΔI obtained by the current pulse generating circuit 22
, the bias current I 0 obtained by the bias current generating circuit 21.
This is superimposed on the driving current I and given to the semiconductor laser 23 as the driving current I (=I 0 +ΔI). An example of the waveform of this driving current I is shown in Figure 7. When the driving current I momentarily changes in a pulse-like manner in places like this, the oscillation frequency ω at that point fluctuates in accordance with the current change ΔI (see Figure 6), and a phase difference occurs that is equal to the time integration of this fluctuation Δω. In this embodiment, as described above, the time integration of Δω Since ΔI is set so that it is possible to generate a relative phase difference of π before and after the addition of ΔI. For example, Fig. 8 shows the change in the phase φ of the output light according to the drive current waveform in Fig. 7 at the same time position on the horizontal axis. That is, it can be seen that the phase φ of the output light is inverted by π at the part where there is a current change ΔI, and phase modulation is applied between 0 and π.
本実施例によれば、一定バイアス電流I0にほんのわずか
な電流変化ΔIを加えるだけで、出力光にπの位相差を
与えることができる。このように変調電流の振幅を非常
に小さくできることから、半導体レーザ及びその駆動回
路の双方にかかる負担が極めて小さくなる。しかも、発
振波長の広がりは、変調によるサイドバンドのみで、外
部変調器を用いた場合と同程度に抑えられるため、チャ
ーピングによる悪影響も生じない。これらのことから、
従来の直接変調において高速化を制限していた大きな問
題が解消され、よって従来の直接変調の周波数限界を大
きく越える高速変調(例えば数Gb/s以上)が可能にな
る。According to this embodiment, a phase difference of π can be imparted to the output light simply by adding a slight current change ΔI to the constant bias current I0 . Since the amplitude of the modulation current can be made very small in this way, the burden on both the semiconductor laser and its drive circuit is extremely small. Moreover, the spread of the oscillation wavelength is limited to the sidebands due to modulation and is kept to the same level as when an external modulator is used, so there is no adverse effect due to chirping. From these reasons,
This solves the major problem that has limited the speed of conventional direct modulation, making it possible to achieve high-speed modulation (for example, several Gb/s or more) that far exceeds the frequency limit of conventional direct modulation.
続いて、本発明の半導体レーザの変調方法の第2の実施
例について述べる。Next, a second embodiment of the semiconductor laser modulation method of the present invention will be described.
本実施例では、上記実施例において得られた半導体レー
ザ23の出力光(位相変調光)を、第9図に示す自己ホモ
ダイン光干渉器24に入力させる。この光干渉器24は、2
つのハーフミラー24a、24bでそれぞれ光の分離、合流を
行って、一方の光路l1を通過した光に対し、ミラー24
c、24dで反射されながらもう一方の光路l2を通過した光
に時間遅れを生じさせるようにしたものである。ここで
生じさせる時間遅れは、第7図に示した駆動電流Iの1
つの時間帯(1タイムスロット)Tに等しくしておく。In this embodiment, the output light (phase-modulated light) of the semiconductor laser 23 obtained in the above embodiment is input to a self-homodyne optical interferometer 24 shown in FIG.
The light is split and combined by two half mirrors 24a and 24b, respectively, and the light that has passed through one optical path l1 is then reflected by mirror 24
The time delay is generated in the light that passes through the other optical path l2 while being reflected by 24c and 24d. The time delay generated here is 1/2 of the driving current I shown in FIG.
The time slot (one time slot) is set equal to T.
すると、光干渉器24の出力光は、半導体レーザ23からの
或る時間帯の光と、これよりも1つだけ前(もしくは
後)の時間帯の光とが合成されたものとなり、よってこ
の合成された2つの光のπもしくは0の位相差に応じた
「0」もしくは「1」の光ルスが得られる。すなわち、
半導体レーザ23の出力光(位相変調光)は、光干渉器24
により、自己ホモダインによって強度変調がかけられ
る。例えば第8図の位相変化に応じて得られる光干渉器
24の出力光の強度変化を第10図に示す。同図に明らかな
ように、合成される2つの光の間に0の位相差があると
2つの光は加算され、一方位相差がπだと2つの光は互
いに打ち消し合うことになり、よって第7図の変調電流
ΔIの有無に応じた「1」、「0」の光出力が得られ
る。Then, the output light of the optical interferometer 24 is a combination of light from the semiconductor laser 23 in a certain time period and light from the time period immediately before (or after) that time period, and thus a light pulse of "0" or "1" is obtained according to the phase difference of π or 0 between the two combined lights.
The output light (phase modulated light) of the semiconductor laser 23 is input to an optical interferometer 24
For example, the optical interferometer obtained according to the phase change shown in FIG.
The change in the intensity of the output light of 24 is shown in Figure 10. As is clear from the figure, when there is a phase difference of 0 between the two lights being combined, the two lights are added, but when there is a phase difference of π, the two lights cancel each other out, resulting in an optical output of "1" or "0" depending on the presence or absence of the modulation current ΔI shown in Figure 7.
本実施例によれば、前記第1の実施例と同様に駆動電流
にほんのわずかな電流変化ΔIを与えるだけで、半導体
レーザの出力光に「0」、「1」の強度変調をかけるこ
とができる。従って、前記第1の実施例と同様に、チャ
ーピングによる悪影響をなくし、かつ半導体レーザ及び
駆動回路の負担を小さくして、直接変調による高速化を
実現できる。According to this embodiment, just by applying a slight current change ΔI to the drive current, it is possible to apply intensity modulation of "0" and "1" to the output light of the semiconductor laser, just like in the first embodiment. Therefore, just like in the first embodiment, it is possible to eliminate the adverse effects of chirping, reduce the burden on the semiconductor laser and the drive circuit, and achieve high speeds through direct modulation.
なお、第7図に示した変調電流ΔIは、πの位相を生じ
るようにしたものであるが、−πの位相差であってもよ
いことから、第11図に示すようにI0からΔIだけ減じる
ように変調してもよい。この場合も、第9図の光干渉器
24を通せば、第10図と同様な強度変調を得ることができ
る。The modulation current ΔI shown in Fig. 7 is designed to produce a phase difference of π, but it may also have a phase difference of -π, so it may be modulated so that ΔI is subtracted from I0 as shown in Fig. 11. In this case, too, the optical interferometer shown in Fig. 9
24, an intensity modulation similar to that shown in FIG. 10 can be obtained.
また、変調電流ΔIの形状は、必ずしもδ関数もしくは
それに近い形である必要はなく、時間的に狭い領域にあ
って積分がπ/kになるものであればよい。Furthermore, the shape of the modulation current ΔI does not necessarily have to be a δ function or a shape close to it, but may be any shape whose integral is π/k in a narrow temporal region.
また、光干渉器24としては、自己ホモダインによる干渉
が可能なものであれば、上述したようなマッハツェンダ
形の光干渉器の他にも、例えば第12A図に示すマイケル
ソン形や第12B図に示すファブリーペロ形の各種光干渉
器を使用できることは勿論である。同図において24e,24
f,24hはミラー、24g,24iはハーフミラーである。As for the optical interferometer 24, in addition to the Mach-Zehnder type optical interferometer described above, various types of optical interferometers, such as the Michelson type shown in FIG. 12A and the Fabry-Perot type shown in FIG. 12B, can be used as long as they are capable of self-homodyne interference.
f and 24h are mirrors, and 24g and 24i are half mirrors.
次に、第13図は、本発明の光干渉器の安定化方法の第1
の実施例を実現するための構成を示す図であり、これは
第9図に示した光干渉器24に本実施例を適用したもので
ある。Next, FIG. 13 shows the first method for stabilizing an optical interferometer according to the present invention.
10 is a diagram showing a configuration for realizing the embodiment of FIG. 10, in which this embodiment is applied to the optical interferometer 24 shown in FIG.
第13図では、まず第9図で述べたようにハーフミラー24
bで合成して得られた出力光を、ハーフミラー31を介し
て光検出器32で検出する。これと共に、ハーフミラー24
bで上記出力光とは異なる方向に出力された、上記出力
光とはその強度が逆転した関係にあるもう一方の光を、
ハーフミラー33を介してもう1つの光検出器34で検出す
る。これら2つの光検出器32、34は、半導体レーザ23に
よる位相変調の時間間隔と比べて大きな時定数を有し、
例えば通常のフォトダイオードに大きな容量を並列に接
続したような構成である。このような光検出器32、34で
出力光を検出することにより、それぞれ、出力光の強度
を上記位相変調よりも遅い時間(例えば1Gb/sの位相変
調に対しては、1/100秒程度)で積分した平均強度が得
られる。このような平均強度の変化は、前述したよう
に、強度変調時の位相バイアスのずれに対応している。In FIG. 13, first, as described in FIG. 9, the half mirror 24
The output light obtained by combining the beams at b is detected by a photodetector 32 via a half mirror 31.
The other light, which is output in a direction different from the output light at b and has an inverse relationship in intensity with the output light at b, is
The light is detected by another photodetector 34 via a half mirror 33. These two photodetectors 32 and 34 have a time constant that is larger than the time interval of the phase modulation by the semiconductor laser 23.
For example, this configuration is similar to connecting a large capacitance in parallel to a normal photodiode. By detecting the output light with such photodetectors 32 and 34, the average intensity can be obtained by integrating the intensity of the output light over a time slower than the phase modulation (e.g., about 1/100 seconds for 1 Gb/s phase modulation). As mentioned above, this change in average intensity corresponds to the phase bias shift during intensity modulation.
続いて、上記光検出器32、34で検出される各光の強度が
互いに逆転した関係にあることから、差動アンプ35で上
記2つの光検出器32、34の差をとることにより、平均強
度が「1/2」からどれだけずれているかを求める。ここ
で、差動アンプ35の出力がゼロであれば平均強度が「1/
2」であり、すなわち位相バイアスのずれがないことを
示し(第3A図参照)、一方、差動アンプ35の出力が正も
しくは負に偏っていれば平均強度が「1/2」でなく、す
なわち位相バイアスがずれていることを示す(第3B図参
照)。そこで、このような位相バイアスのずれに対応し
た差動アンプ35の出力値を用いて、半導体レーザ23の発
振波長に帰還をかける。すなわち、半導体レーザ23のバ
イアス電流I0(第5図参照)に上記差動アンプ35の出力
を載せることにより、半導体レーザ23の発振波長を変化
させる。このように半導体レーザ23の発振波長が変化す
れば、ハーフミラー24bで合成される2つの光の位相差
が変化する。これにより、強度変調時の位相バイアスが
変化し、これに伴い出力光の平均強度が変化する。よっ
て、差動アンプ35の出力がゼロとなるように絶えず帰還
をかけておけば、位相バイアスを「1/2」に維持するこ
とができ、出力光の安定化が得られる。しかも、この場
合、光検出器32、34で検出する各出力光の強度が上述し
たように互いに逆転した関係にあるので、それらの差に
は位相バイアスのずれが2倍となって大きく現れ、よっ
て極めて正確なずれ検出が可能となる。Next, since the intensities of the lights detected by the photodetectors 32 and 34 are in an inverse relationship to each other, the difference between the two photodetectors 32 and 34 is calculated by the differential amplifier 35, and the deviation of the average intensity from "1/2" is calculated. Here, if the output of the differential amplifier 35 is zero, the average intensity is "1/2".
2", which indicates that there is no phase bias deviation (see Figure 3A). On the other hand, if the output of the differential amplifier 35 is biased to either the positive or negative side, the average intensity is not "1/2", which indicates that there is a phase bias deviation (see Figure 3B). Therefore, the output value of the differential amplifier 35 corresponding to such a phase bias deviation is used to apply feedback to the oscillation wavelength of the semiconductor laser 23. That is, the oscillation wavelength of the semiconductor laser 23 is changed by superimposing the output of the differential amplifier 35 on the bias current I 0 of the semiconductor laser 23 (see Figure 5). If the oscillation wavelength of the semiconductor laser 23 changes in this way, the phase difference between the two lights combined by the half mirror 24b changes. This changes the phase bias during intensity modulation, and therefore the average intensity of the output light. Therefore, if feedback is constantly applied so that the output of the differential amplifier 35 is zero, the phase bias can be maintained at "1/2", and the output light can be stabilized. Moreover, in this case, since the intensities of the output lights detected by the photodetectors 32 and 34 are in an inverted relationship with each other as described above, the difference between them is a doubled phase bias deviation that appears large, making it possible to detect the deviation extremely accurately.
第14図は、本発明の光干渉器の安定化方法の第2の実施
例を実現するための構成を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a configuration for realizing a second embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer according to the present invention.
本実施例では、半導体レーザ23の発振波長に帰還をかけ
る代わりに、光路長差に帰還をかけて安定化を図るよう
にしたものである。すなわち第14図において、光干渉器
24のミラー24cをピエゾ素子36に固定しておき、差動ア
ンプ35の出力に応じてピエゾ素子36を駆動し、ミラー24
cを矢印方向に移動させることにより、ハーフミラー24a
からミラー24c及びミラー24dを介してハーフミラー24b
に至るまでの光路の実際の長さを変化させるようにした
ものである。In this embodiment, instead of applying feedback to the oscillation wavelength of the semiconductor laser 23, feedback is applied to the optical path length difference to achieve stabilization.
The mirror 24c of the mirror 24 is fixed to a piezo element 36, and the piezo element 36 is driven according to the output of a differential amplifier 35.
By moving the half mirror 24a in the direction of the arrow,
through the mirror 24c and the mirror 24d to the half mirror 24b
The actual length of the optical path from the light source to the target is changed.
このように光路長差を変化させても、ハーフミラー24b
で合成される2つの光の位相差を変化させることができ
るので、差動アンプ35の出力がゼロとなるように絶えず
帰還をかけておけば、上記実施例と同様に位相バイアス
を理想状態に維持することができ、出力の安定化を図る
ことができる。Even if the optical path length difference is changed in this way, the half mirror 24b
Therefore, by constantly applying feedback so that the output of the differential amplifier 35 becomes zero, the phase bias can be maintained in an ideal state, as in the above embodiment, and the output can be stabilized.
第15図は、本発明の光干渉器の安定化方法の第3の実施
例を実現するための構成を示す図である。FIG. 15 is a diagram showing a configuration for realizing a third embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer according to the present invention.
本実施例では、上記第2の実施例と同様に光路長差を変
化させるため、ピエゾ素子36を設ける代わりに、ヒータ
37をミラー24c、24d間の光路上に配設し、このヒータ37
を差動アンプ35の出力に応じて駆動するようにしたもの
である。このようなヒータ37により温度が変化すれば、
その部分の屈折率も変化するので、それに伴って光路長
が変化する。このようにして光路長差に帰還をかけて
も、上記実施例と同様に光干渉器24の出力の安定化が図
れる。In this embodiment, in order to change the optical path length difference as in the second embodiment, a heater is used instead of providing a piezoelectric element 36.
The heater 37 is disposed on the optical path between the mirrors 24c and 24d.
is driven in response to the output of the differential amplifier 35. If the temperature changes due to the heater 37,
The refractive index of that portion also changes, and the optical path length changes accordingly. In this way, even if feedback is applied to the optical path length difference, the output of the optical interferometer 24 can be stabilized in the same way as in the above embodiment.
第16図は、本発明の光干渉器の安定化方法の第4の実施
例を実現するための構成を示す図であり、これは第2図
に示した光干渉器10に本実施例を適用したものである。FIG. 16 is a diagram showing a configuration for realizing a fourth embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer according to the present invention, in which this embodiment is applied to the optical interferometer 10 shown in FIG. 2.
本実施例では、第13図に示した実施例と同様に、まず光
強度が互いに逆転した関係にある2つの出力光を、それ
ぞれハーフミラー31、33を介して光検出器32、34で検出
する。そして、差動アンプ35でそれらの差をとり、これ
に基づいて、定常光出力の半導体レーザ38の発振波長に
帰還をかける。すると、光導波路2、3の光路長が互い
に異なることから、発振波長が変化すれば光導波路2、
3を通過する光の位相差も変化し、これにより光干渉器
10の出力光の平均強度が変化する。よって、差動アンプ
35の出力がゼロとなるように絶えず帰還をかけておけ
ば、上記実施例と同様に光干渉器10の出力の安定化を図
ることができる。In this embodiment, similar to the embodiment shown in Fig. 13, first, two output lights whose light intensities are inverse to each other are detected by photodetectors 32 and 34 via half mirrors 31 and 33, respectively. Then, the difference between them is calculated by a differential amplifier 35, and based on this, feedback is applied to the oscillation wavelength of a semiconductor laser 38 with a steady optical output. Then, since the optical path lengths of the optical waveguides 2 and 3 are different from each other, if the oscillation wavelength changes, the optical waveguides 2 and 3 will
The phase difference of the light passing through 3 also changes, and this causes the optical interferometer
The average intensity of the output light of 10 changes.
If feedback is constantly applied so that the output of 35 becomes zero, the output of the optical interferometer 10 can be stabilized in the same way as in the above embodiment.
第17図は、本発明の光干渉器の安定化方法の第5の実施
例を実現するための構成を示す図であり、これは第2図
に示した光干渉器10における2本の光導波路2、3の長
さを互いに等しくした光干渉器10′に対する適用例であ
る。FIG. 17 shows a configuration for realizing a fifth embodiment of the method for stabilizing an optical interferometer according to the present invention. This is an example of application to an optical interferometer 10' in which the lengths of the two optical waveguides 2 and 3 in the optical interferometer 10 shown in FIG. 2 are made equal to each other.
本実施例は、光導波路2、3の光路長差に帰還をかけ
て、位相差を変化させるようにしたものである。すなわ
ち第17図において、差動アンプ35の出力に応じて電極6
の印加電圧を変化させ、それに伴う屈折率変化により光
導波路3の光路長を変化させるようにしたものである。
本実施例によっても、前記各実施例と同様に、位相バイ
アスを理想状態に維持することができ、光干渉器10′の
出力の安定化を図ることができる。In this embodiment, the phase difference is changed by applying feedback to the optical path length difference between the optical waveguides 2 and 3. That is, in FIG.
The applied voltage is changed, and the refractive index changes accordingly, thereby changing the optical path length of the optical waveguide 3.
In this embodiment, as in the previous embodiments, the phase bias can be maintained in an ideal state, and the output of the optical interferometer 10' can be stabilized.
なお、光干渉器24、10、10′の出力光の平均強度を検出
する手段としては、上記各実施例では光検出器32、34及
び差動アンプ35を用いたが、これらに限定されることは
なく、光干渉器の出力光の強度を位相の変調よりも遅い
時間で積分した平均強度を検出しうるものであれば、ど
のような構成であってもよい。In the above embodiments, the photodetectors 32, 34 and the differential amplifier 35 are used as the means for detecting the average intensity of the output light from the optical interferometers 24, 10, 10'. However, the present invention is not limited to these and any configuration may be used as long as it can detect the average intensity obtained by integrating the intensity of the output light from the optical interferometer over a time slower than the phase modulation.
また、本発明の光干渉器の安定化方法は、第2図や第9
図に示したようなマッハツェンダ形光干渉器の他に、例
えばマイケルソン形やファブリーペロ形の各種光干渉器
に適用できることは勿論である。The stabilization method of the optical interferometer of the present invention is also the same as that shown in FIGS.
In addition to the Mach-Zehnder type optical interferometer shown in the figure, it is of course possible to apply the present invention to various optical interferometers, such as Michelson type and Fabry-Perot type.
また、本発明を光通信システムに適用した場合、第4A図
及び第4B図に示したように2種類の配置が考えられると
いうことは、前述した。例えば上記第14図、第15図及び
第17図に示したように光路長差に帰還をかける構成は第
4A図及び第4B図のいずれの配置にも適しているが、第13
図及び第16図に示したように発振波長に帰還をかける構
成は第4A図の配置に適している。ここで、第4A図の配置
にして発振波長に帰還をかけるようにした場合には、応
答が速いという利点があり、一方、第4B図の配置にして
光路長差に帰還をかけるようにした場合には、光が伝送
途中で減衰しても光直接増幅を容易に行えるという利点
がある。Furthermore, when the present invention is applied to an optical communication system, two types of arrangements can be considered as shown in Figures 4A and 4B, as mentioned above. For example, the configuration in which feedback is applied to the optical path length difference as shown in Figures 14, 15 and 17 is
4A and 4B, but is suitable for both arrangements.
The configuration in which feedback is applied to the oscillation wavelength as shown in Fig. 15 and Fig. 16 is suitable for the arrangement of Fig. 4A. When feedback is applied to the oscillation wavelength in the arrangement of Fig. 4A, there is an advantage in that the response is fast, while when feedback is applied to the optical path length difference in the arrangement of Fig. 4B, there is an advantage in that direct optical amplification can be easily performed even if the light is attenuated during transmission.
次に、第18図は本発明の光変調装置の原理構成を示すブ
ロック図であり、第19図はその第1の実施例の構成を示
す図である。Next, FIG. 18 is a block diagram showing the basic configuration of an optical modulation device according to the present invention, and FIG. 19 is a diagram showing the configuration of a first embodiment thereof.
本実施例の光変調器は、第19図に示すように、アンド回
路50、フリップフロップ51、コンデンサ52、半導体レー
ザ53、光アイソレータ54、バイアス電流源55、インダク
タンス5、抵抗57、光干渉器58(ハーフミラー58a、58b
及びミラー58c、58d)、ハーフミラー59、60、61、光検
出器62、63、減算処理回路64、及びミラー駆動部65から
構成されている。すなわち、本実施例の構成を第18図の
構成と対比すれば、アンド回路50とフリップフロップ51
とからなる回路が符号変換部40に相当し、コンデンサ52
と抵抗57とからなる回路が微分回路41に相当する。ま
た、半導体レーザ53、光干渉器58、バイアス電流源55
が、それぞれ半導体レーザ42、光干渉器43、バイアス電
流源44に相当する。As shown in FIG. 19, the optical modulator of this embodiment comprises an AND circuit 50, a flip-flop 51, a capacitor 52, a semiconductor laser 53, an optical isolator 54, a bias current source 55, an inductance 5, a resistor 57, an optical interferometer 58 (half mirrors 58a, 58b) and a resistor 59.
and mirrors 58c, 58d), half mirrors 59, 60, 61, photodetectors 62, 63, a subtraction processing circuit 64, and a mirror driver 65. That is, when the configuration of this embodiment is compared with the configuration of FIG. 18, the AND circuit 50 and flip-flop 51
The circuit composed of these corresponds to the code conversion unit 40, and the capacitor 52
and resistor 57 corresponds to the differential circuit 41. Also, the semiconductor laser 53, the optical interferometer 58, and the bias current source 55
correspond to the semiconductor laser 42, the optical interferometer 43, and the bias current source 44, respectively.
上記構成からなる光変調装置において、「1」及び
「0」からなる送信データはフリップフロップ51のクロ
ック端子CKに加えられ、送信データの「1」により出力
端子Qの「1」、「0」が互いに反転し、送信データの
「0」では出力端子Qはそのままとなる。従って、送信
データの「1」の時のみ符号反転される符号変換が行わ
れ、アンド回路50から送信クロック信号に従って出力さ
れる。このアンド回路50は、変換出力信号をRZ信号とす
るためのものである。In the optical modulation device configured as described above, transmission data consisting of "1" and "0" is applied to the clock terminal CK of the flip-flop 51, and a "1" in the transmission data causes the "1" and "0" at the output terminal Q to be inverted, while a "0" in the transmission data leaves the output terminal Q unchanged. Therefore, code conversion is performed in which the sign is inverted only when the transmission data is "1", and the signal is output from the AND circuit 50 in accordance with the transmission clock signal. This AND circuit 50 is used to convert the converted output signal into an RZ signal.
この変換出力信号は、コンデンサ52を介して半導体レー
ザ53に変調電流パルスΔIとして供給され、バイアス電
流源55からの一定バイアス電流I0に重畳される。この一
定バイアス電流I0は、例えば第1図に示したように、半
導体レーザ53が常にレーザ発振し、所望の強度の出力光
が得られる値に選定される。This converted output signal is supplied as a modulated current pulse ΔI to a semiconductor laser 53 via a capacitor 52 and is superimposed on a constant bias current I0 from a bias current source 55. This constant bias current I0 is selected to have a value that allows the semiconductor laser 53 to constantly oscillate and obtain output light of a desired intensity, as shown in Fig. 1, for example.
半導体レーザ53の出力光は、光アイソレータ54を介して
光干渉器58に入力される。この光干渉器58の基本構成は
第9図等に示した光干渉器24と同一であり、ハーフミラ
ー58aにより分岐された一方の光信号をハーフミラー5
9、58bの経路に、他方の光信号をミラー58c、58dとハー
フミラー60、58bの経路(光遅延回路)にそれぞれ伝搬
され、ハーフミラー58bにおいて相対遅延時間が1タイ
ムスロットとなり、かつ相対位相差が0又はπとなるよ
うに設定し、自己ホモダインによる光干渉を行わせる。
なお、上記光遅延回路としては、ミラー58c、58dを使用
せず、光ファイバを用いてもよい。The output light of the semiconductor laser 53 is input to an optical interferometer 58 via an optical isolator 54. The basic configuration of this optical interferometer 58 is the same as that of the optical interferometer 24 shown in FIG. 9 etc. One optical signal branched by a half mirror 58a is input to the half mirror 58b.
The other optical signal is propagated along the path of mirrors 58c and 58d and half mirrors 60 and 58b (optical delay circuit), respectively, and the relative delay time at half mirror 58b is set to one time slot and the relative phase difference is set to 0 or π, causing optical interference by self-homodyne.
It should be noted that the optical delay circuit may use optical fibers instead of the mirrors 58c and 58d.
また、ハーフミラー59、60、61と、光検出器62、63と、
減算処理回路64と、ミラー駆動部65とは、第14図に示し
た構成とほぼ同様に、光干渉器58の出力安定化のための
1つの構成例である。ここで、減算処理回路64としては
例えば差動アンプを使用でき、ミラー駆動部65としては
例えばピエゾ素子を使用できる。Also, half mirrors 59, 60, and 61, photodetectors 62 and 63,
The subtraction processing circuit 64 and mirror driver 65 are an example of a configuration for stabilizing the output of the optical interferometer 58, similar to the configuration shown in Fig. 14. Here, the subtraction processing circuit 64 can be, for example, a differential amplifier, and the mirror driver 65 can be, for example, a piezoelectric element.
本実施例においても、第5図に示した半導体レーザの変
調方法と同様に前記式(1)を満足するように、すなわ
ち半導体レーザ53に与えられる変調電流パルスΔI
(t)の1タイムスロットの時間積分とチャーピング係
数kとの積がπ又は−πとなるように選定する。そのた
めに、コンデンサ52と半導体レーザ53と抵抗57とからな
る微分回路を、上記の関係を満たす変調電流パルスΔI
(t)が得られるように選定して、半導体レーザ53の出
力光の位相φがπ又は−πとなるように変調する。In this embodiment, similarly to the semiconductor laser modulation method shown in FIG. 5, the modulation current pulse ΔI is applied to the semiconductor laser 53 so as to satisfy the above-mentioned formula (1).
The product of the time integral of one time slot of (t) and the chirping coefficient k is selected to be π or -π. To this end, a differentiation circuit consisting of a capacitor 52, a semiconductor laser 53, and a resistor 57 is connected to a modulation current pulse ΔI that satisfies the above relationship.
(t) is obtained, and the phase φ of the output light from the semiconductor laser 53 is modulated to be π or −π.
光干渉器58では、上述したように、分岐した一方の光信
号と他方の光信号との相対遅延時間が1タイムスロット
であって、かつ相対位相差が0又はπに設定されてい
る。そのため、例えば相対位相差がπに設定されている
とすると、半導体レーザ53の出力光の位相φが連続して
同一の場合は、ハーフミラー58bに入力される光信号の
位相差がπとなるから、これによる変調出力光強度は
「0」となる。一方、半導体レーザ53の出力光の位相φ
をπに変化させると、ハーフミラー58bに入力される光
信号の位相差は、1タイムスロットの間、2πとなるか
ら、変調出力強度は相対値で「1」となる。すなわち、
一定バイアス電流I0に変調電流パルスΔI(t)を重畳
して半導体レーザ53を駆動し、その半導体レーザ53の出
力光の位相φをπ又は−πに変化させ、その出力を光干
渉器58に加えることにより、光強度変調を行うことがで
きる。In the optical interferometer 58, as described above, the relative delay time between one branched optical signal and the other branched optical signal is one time slot, and the relative phase difference is set to 0 or π. Therefore, if the relative phase difference is set to π, for example, when the phase φ of the output light from the semiconductor laser 53 is continuously the same, the phase difference of the optical signal input to the half mirror 58b becomes π, and the resulting modulated output light intensity becomes "0". On the other hand, when the phase φ of the output light from the semiconductor laser 53
is changed to π, the phase difference of the optical signal input to the half mirror 58b becomes 2π during one time slot, and therefore the modulated output intensity becomes "1" in relative value.
The semiconductor laser 53 is driven by superimposing a modulation current pulse ΔI(t) on a constant bias current I0 , and the phase φ of the output light from the semiconductor laser 53 is changed to π or −π. The output is then applied to the optical interferometer 58, thereby achieving optical intensity modulation.
また、光干渉器58における上記相対位相差を0に設定し
た場合は、半導体レーザ53の出力光の位相φをπに変化
させた時に、1タイムスロットの間、位相差がπとなっ
て、変調出力光強度は「0」となり、他のタイムスロッ
トの変調出力光強度は相対値で「1」となる。Furthermore, if the relative phase difference in the optical interferometer 58 is set to 0, when the phase φ of the output light from the semiconductor laser 53 is changed to π, the phase difference becomes π during one time slot, and the modulated output light intensity becomes "0", while the modulated output light intensity during the other time slots becomes "1" in relative value.
次に、第20図(a)〜(g)を用いて、本実施例の動作
を具体的に説明する。Next, the operation of this embodiment will be specifically explained with reference to FIGS. 20(a) to 20(g).
例えば第20図(a)に示すような「1」、「0」からな
る伝送データは、フリップフロップ51により第20図
(b)に示すように符号変換される。すなわち、送信デ
ータの「1」毎に変換出力信号の符号が反転されたもの
となり、「01101001」の送信データは「01001110」の変
換出力信号となる。この変換出力信号を半導体レーザ53
への変調電流パルスΔIとして場合は、第20図(c)に
示す波形となる。しかし、「1」が孤立したパルス波形
の場合は、半導体レーザ53の発振周波数ωは前述のよう
に位相φをπとするように変化させることができるが、
「1」が連続した場合のパルス波形の場合は、平均駆動
電流が増加した場合に相当し、所望の位相φの変化を与
えることができなくなる。そこで、本発明においては、
微分回路41(コンデンサ52、抵抗57)を用いて変換出力
信号を微分し、第20図(d)に示すような変調電流パル
スに変換している。For example, transmission data consisting of "1" and "0" as shown in Fig. 20(a) is converted into a code by the flip-flop 51 as shown in Fig. 20(b). That is, the sign of the converted output signal is inverted for each "1" in the transmission data, and transmission data of "01101001" becomes a converted output signal of "01001110". This converted output signal is then applied to the semiconductor laser 53.
When the modulated current pulse ΔI is applied to the semiconductor laser 53, the waveform shown in Fig. 20(c) is obtained. However, when the "1" is an isolated pulse waveform, the oscillation frequency ω of the semiconductor laser 53 can be changed so that the phase φ is π as described above.
In the case of a pulse waveform in which "1" continues, this corresponds to a case in which the average drive current increases, and it becomes impossible to give the desired change in phase φ.
The converted output signal is differentiated using a differentiating circuit 41 (capacitor 52, resistor 57) and converted into a modulated current pulse as shown in FIG. 20(d).
これにより、半導体レーザ53では、上記変調電流パルス
に対応した発振周波数ωの変化が生じる。この際、半導
体レーザ53の出力光位相φは、上述したように発振周波
数ωの時間積分に相当するものであるから、第20図
(e)に示すようになる。すなわち、変換出力信号が
「1」の連続であっても、半導体レーザ53を、その出力
光位相φにπの変化が生じるように駆動することができ
る。As a result, a change in the oscillation frequency ω corresponding to the modulation current pulse occurs in the semiconductor laser 53. At this time, the output optical phase φ of the semiconductor laser 53 corresponds to the time integral of the oscillation frequency ω as described above, and is therefore as shown in Figure 20(e). In other words, even if the converted output signal is a series of "1", the semiconductor laser 53 can be driven so that a change of π occurs in its output optical phase φ.
更に、このような位相を持つ光信号が光干渉器58を通過
することにより、そのハーフミラー58bには、第20図
(e)に実線で示す位相を持つ光信号と、この光信号と
は1タイムスロット時間Tだけ遅延された破線で示す位
相を持つ遅延光信号とが入射することになる。よって、
上記ハーフミラー58bに入射する光信号の位相差は、第2
0図(f)に示すように、変換出力信号が「0」の時は
πで、「1」の時は2π又は0となる。このような2π
又は0の位相差の光信号がハーフミラー58bで干渉しあ
ることにより、第20図(g)に示すように、送信データ
に従って強度変調された出力光が得られる。Furthermore, when an optical signal having such a phase passes through the optical interferometer 58, an optical signal having a phase shown by the solid line in Figure 20(e) and a delayed optical signal having a phase shown by the broken line, which is delayed from this optical signal by one time slot time T, are incident on the half mirror 58b. Therefore,
The phase difference of the optical signal incident on the half mirror 58b is
As shown in Figure 0(f), when the converted output signal is "0", it is π, and when it is "1", it is 2π or 0.
Alternatively, optical signals with a phase difference of 0 interfere with each other at the half mirror 58b, thereby obtaining output light whose intensity is modulated in accordance with the transmission data, as shown in FIG. 20(g).
本実施例によれば、バイアス電流減55から半導体レーザ
53に供給するバイアス電流I0は半導体レーザ53の特性に
応じて選定されるもので、これを例えば60mAとし、一
方、微分回路から重畳して供給する変調電流パルスΔI
を例えば11mAとすることができる。従って、変調電流パ
ルスはバイアス電流に比較してわずかであるから、従来
のようなチャーピングの問題は生じない。また、光干渉
器58は、予め1タイムスロットの光遅延を与えると共
に、相対位相差を0又はπとなるように設定するもの
で、その接続損失はわずかであるから、非常に効率の良
い強度変調を実現できる。According to this embodiment, the bias current is reduced by 55 to the semiconductor laser.
The bias current I0 supplied to the semiconductor laser 53 is selected according to the characteristics of the semiconductor laser 53, and is set to, for example, 60 mA. On the other hand, the modulated current pulse ΔI
can be set to, for example, 11 mA. Therefore, since the modulation current pulse is small compared to the bias current, the chirping problem seen in conventional systems does not occur. Furthermore, the optical interferometer 58 provides an optical delay of one time slot in advance and sets the relative phase difference to 0 or π, and since the connection loss is small, very efficient intensity modulation can be achieved.
また、上述したハーフミラー59、60、61、光検出器62、
63、減算処理回路64、及びミラー駆動部65により、減算
処理回路64の出力がゼロとなるようにミラー駆動部65で
ミラー58cを移動して光干渉器58の光路長差に帰還をか
けるようにしたので、前記第14図と同様に光干渉器58の
出力の安定化を図ることができる。In addition, the half mirrors 59, 60, 61, the photodetector 62,
63, a subtraction processing circuit 64, and a mirror driver 65 are used to move the mirror 58c by the mirror driver 65 so that the output of the subtraction processing circuit 64 becomes zero, thereby applying feedback to the optical path length difference of the optical interferometer 58, thereby stabilizing the output of the optical interferometer 58 in the same way as in FIG. 14.
次に、第21図は、本発明の光変調装置の第2の実施例に
係る微分回路を示す回路図である。Next, FIG. 21 is a circuit diagram showing a differentiating circuit according to a second embodiment of the optical modulation device of the present invention.
同図の回路は、符号変換部71、コンデンサ72、半導体レ
ーザ73、スタブ74、抵抗75、及びインダクタンス76によ
って構成されている。符号変換部71では、送信データの
符号を前記実施例と同様に変換すると共に、1/2タイム
スロットのパルス幅の変換出力信号を生じさせる。ま
た、スタブ74は、変換出力信号の極性が反転して反射さ
れ、1/2タイムスロット後にコンデンサ72に入力される
ように、その長さlが選定してある。よって、コンデン
サ72を介して半導体レーザ73に加えられる変調電流パル
スは、第20図(d)と同様な波形となり、バイアス電流
源からの一定バイアス電流に上記変調電流パルスが重畳
されて半導体レーザ73に加えられる。従って、半導体レ
ーザ73からは、第20図(e)に示すような位相φを持つ
出力光が得られる。The circuit shown in the figure is composed of a code converter 71, a capacitor 72, a semiconductor laser 73, a stub 74, a resistor 75, and an inductor 76. The code converter 71 converts the code of the transmitted data in the same manner as in the previous embodiment and generates a converted output signal with a pulse width of 1/2 a time slot. The length l of the stub 74 is selected so that the polarity of the converted output signal is inverted and reflected, and input to the capacitor 72 after 1/2 a time slot. Therefore, the modulation current pulse applied to the semiconductor laser 73 via the capacitor 72 has a waveform similar to that shown in Figure 20(d). This modulation current pulse is superimposed on a constant bias current from a bias current source and applied to the semiconductor laser 73. As a result, the semiconductor laser 73 produces output light with a phase φ as shown in Figure 20(e).
第22図は、本発明の光変調装置の第3の実施例に係る光
変調器安定化手段の構成を示す図である。同図では、第
13図に示した安定化方法と同様に、減算処理回路64の出
力信号をバイアス電流源55に加えることにより半導体レ
ーザ53の発振波長に帰還を加えて、減算処理回路64の出
力信号が常にゼロとなるようにしている。これにより、
光干渉器58の強度変調時の位相バイアスを理想状態(第
3A図参照)に維持して、出力の安定化を図ることができ
る。22 is a diagram showing the configuration of an optical modulator stabilization means according to a third embodiment of the optical modulation device of the present invention.
As with the stabilization method shown in Figure 13, the output signal of the subtraction processing circuit 64 is fed back to the oscillation wavelength of the semiconductor laser 53 by adding the output signal of the subtraction processing circuit 64 to the bias current source 55, so that the output signal of the subtraction processing circuit 64 is always zero.
The phase bias during intensity modulation of the optical interferometer 58 is set to the ideal state (the
This allows the output to be stabilized by maintaining the output at a constant value (see Figure 3A).
なお、上述した光干渉器58はマッハツェンダ形である
が、これを光導波路で構成してもよく、或いはその代わ
りにマイケルソン形やファブリーペロ形の光干渉器を使
用してもよい。Although the optical interferometer 58 described above is of the Mach-Zehnder type, it may be configured with an optical waveguide, or alternatively, a Michelson or Fabry-Perot type optical interferometer may be used.
また、上記第19図は第22図に示した光干渉器安定化のた
めの回路では、送信データの「1」と「0」の出現確率
をいずれも1/2とした場合について延べたが、他の出現
確率に設定されている場合は、その出現確率に対応して
減算処理回路64で処理することにより、光検出器62、63
の検出信号の差が所定の値となるように帰還をかけるよ
うにしてもよい。In addition, in the circuit for stabilizing the optical interference detector shown in FIG. 22, the occurrence probability of "1" and "0" in the transmission data is set to 1/2 in the above-mentioned FIG. 19. However, if other occurrence probabilities are set, the subtraction processing circuit 64 processes the data in accordance with the occurrence probability, and the photodetectors 62, 63
Alternatively, feedback may be applied so that the difference between the detection signals is a predetermined value.
産業上の利用可能性
以上に説明したように、本発明の半導体レーザの変調方
法、光干渉器の安定化方法、及び光変調装置は、特に第
4A図及び第4B図に示したような光通信システムに有用で
ある。また、その他にも、各種光デバイスに適用できる
ことも勿論である。INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, the semiconductor laser modulation method, optical interferometer stabilization method, and optical modulation device of the present invention are particularly useful in the following applications:
This is useful for optical communication systems such as those shown in Figures 4A and 4B, and of course it can also be applied to various other optical devices.
Claims (13)
流パルスにより半導体レーザを駆動する半導体レーザ装
置において、 送信データの1又は0の何れか一方の時のみ符号反転す
る符号変換部と、 該符合変換部の変換出力信号を微分する微分回路と、 該微分回路の微分出力信号を、前記変調電流パルスの1
タイムスロットの時間積分とチャーピングの係数との積
が位相量としてπまたは−πになるような変調パルス電
流とし、一定バイアス電流に重畳して駆動する半導体レ
ーザ駆動手段を備えたことを特徴とする半導体レーザ装
置。[Claim 1] A semiconductor laser device that drives a semiconductor laser with a modulated current pulse superimposed on a bias current of a constant value, comprising: a code conversion unit that inverts the sign only when transmission data is either 1 or 0; a differentiation circuit that differentiates the converted output signal of the code conversion unit; and a differential output signal of the differentiation circuit that is inverted by 1 of the modulated current pulse.
A semiconductor laser device characterized by comprising a semiconductor laser driving means for driving the semiconductor laser by superimposing a modulated pulse current on a constant bias current such that the product of the time integral of the time slot and the chirping coefficient has a phase amount of π or -π.
において、 前記半導体レーザの出力光である位相変調のかかった光
信号を入力とし、 該入力光を分岐して、一方と他方との相対遅延位相差を
0又はπとし、且つ相対遅延時間を1タイムスロットと
する光遅延回路に通過させた後に合成し、 該合成された2つの光の位相差に基づき強度変調された
出力光を得る光干渉器を備えたことを特徴とする半導体
レーザ装置。[Claim 2] The semiconductor laser device according to claim 1, further comprising an optical interferometer which receives as input a phase-modulated optical signal which is the output light of the semiconductor laser, branches the input light, passes the branched light through an optical delay circuit which sets the relative delay phase difference between one side and the other to 0 or π and sets the relative delay time to 1 time slot, and then combines the branched light, and obtains intensity-modulated output light based on the phase difference between the two combined lights.
において、 該光干渉器の出力光の強度を前記位相変調よりも遅い速
度で積分した平均強度を用いて前記入力光の光波長に帰
還をかけ、前記強度変調時の位相バイアスを補正するこ
とを特徴とする半導体レーザ装置。3. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein the average intensity obtained by integrating the intensity of the output light of the optical interferometer at a speed slower than the phase modulation is used to apply feedback to the optical wavelength of the input light, thereby correcting the phase bias during the intensity modulation.
において、 該光干渉器の出力光の強度を前記位相変調よりも遅い速
度で積分した平均強度を用いて前記2つの光路の光路長
差に帰還をかけ、前記強度変調時の位相バイアスを補正
することを特徴とする半導体レーザ装置。[Claim 4] A semiconductor laser device according to claim 2, characterized in that the average intensity obtained by integrating the intensity of the output light of the optical interferometer at a speed slower than that of the phase modulation is used to apply feedback to the optical path length difference between the two optical paths, thereby correcting the phase bias during the intensity modulation.
において、 前記光干渉器として、マッハツェンダ型干渉回路を用い
たことを特徴とする半導体レーザ装置。5. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein a Mach-Zehnder type interferometer is used as the optical interferometer.
において、 前記光干渉器として、マイケルソン型干渉回路を用いた
ことを特徴とする半導体レーザ装置。6. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein a Michelson type interferometer is used as the optical interferometer.
において、 前記光干渉器として、ファブリペロ型干渉回路を用いた
ことを特徴とする半導体レーザ装置。7. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein a Fabry-Perot interferometer is used as the optical interferometer.
において、 前記半導体レーザの出力部に、前記光干渉器を備えたこ
とを特徴とする半導体レーザ装置。8. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein the optical interferometer is provided at an output section of the semiconductor laser.
において、 前記半導体レーザの出力光を伝送用光ファイバに入力
し、前記伝送用光ファイバの出射端側にて、前記光干渉
器により0或いは1の光パルスに変換することを特徴と
する半導体レーザ装置。9. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein the output light of the semiconductor laser is input to a transmission optical fiber and converted into an optical pulse of 0 or 1 by the optical interferometer at the output end of the transmission optical fiber.
置において、 前記微分回路には、スタブを備えていることを特徴とす
る半導体レーザ装置。10. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein said differentiating circuit is provided with a stub.
置において、 前記微分回路には、スタブを備えていることを特徴とす
る半導体レーザ装置。11. The semiconductor laser device according to claim 2, wherein the differentiating circuit is provided with a stub.
電流パルスにより半導体レーザを駆動する半導体レーザ
装置の変調方法において、 送信データの1又は0の何れか一方の時のみ符号反転
し、 該符合変換した変換出力信号を微分し、 該微分した微分出力信号を、前記変調電流パルスの1タ
イムスロットの時間積分とチャーピングの係数との積が
位相量としてπまたは−πとなるような変調パルス電流
とし、一定バイアス電流に重畳することを特徴とする半
導体レーザ装置の変調方法。[Claim 12] A modulation method for a semiconductor laser device in which a semiconductor laser is driven by a modulation current pulse superimposed on a constant bias current, comprising: inverting the sign only when the transmitted data is either 1 or 0; differentiating the code-converted converted output signal; and converting the differentiated output signal into a modulation pulse current such that the product of the time integral of one time slot of the modulation current pulse and the chirp coefficient has a phase amount of π or -π, and superimposing the modulated pulse current on the constant bias current.
置の変調方法において、 前記半導体レーザの出力光である位相変調のかかった光
信号を、 一方と他方との相対遅延位相差を0又はπとし、且つ相
対遅延時間を1タイムスロットとする光遅延回路に分岐
して通過させた後に合成し、 該合成された2つの光の位相差に基づき強度変調された
出力光とすることを特徴とする半導体レーザ装置の変調
方法。[Claim 13] A modulation method for a semiconductor laser device according to claim 12, characterized in that a phase-modulated optical signal, which is output light from the semiconductor laser, is branched and passed through an optical delay circuit in which the relative delay phase difference between one side and the other side is set to 0 or π and the relative delay time is set to 1 time slot, and then the two beams are combined to produce output light that is intensity-modulated based on the phase difference between the two combined beams.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP1-503009A JPH0728267B2 (en) | 1988-03-04 | 1989-03-02 | Semiconductor laser modulation method and device |
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| JP63-49803 | 1988-03-04 | ||
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| JP18539988 | 1988-07-27 | ||
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