JPH0732494B2 - Time axis error signal generator for information recording / reproducing apparatus - Google Patents
Time axis error signal generator for information recording / reproducing apparatusInfo
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- JPH0732494B2 JPH0732494B2 JP62196209A JP19620987A JPH0732494B2 JP H0732494 B2 JPH0732494 B2 JP H0732494B2 JP 62196209 A JP62196209 A JP 62196209A JP 19620987 A JP19620987 A JP 19620987A JP H0732494 B2 JPH0732494 B2 JP H0732494B2
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
- Rotational Drive Of Disk (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報記録再生装置における再生信号の時間軸補
正装置に係り、特にビデオディスク等から、再生された
カラービデオ信号の時間軸エラーを補正するいわゆるタ
イムベースコレクタの時間軸エラー発生装置に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a time-axis correction device for a reproduction signal in an information recording / reproduction device, and in particular, it corrects a time-axis error of a color video signal reproduced from a video disc or the like. The present invention relates to a so-called time base collector time axis error generator.
従来の記録情報再生装置における種々の時間軸エラー発
生装置としては、特開昭56−84091、特開昭56−13886等
に詳述される様に基準信号と再生水平同期信号あるいは
再生カラーバーストの位相差をサンプリングし次回のサ
ンプリングタイミングまでの間約1H間ホールドし時間軸
エラー信号としている。As various time axis error generators in the conventional recorded information reproducing apparatus, as described in detail in JP-A-56-84091, JP-A-56-13886, etc., a reference signal and a reproduction horizontal synchronizing signal or a reproduction color burst are used. The phase difference is sampled and held for about 1H until the next sampling timing, which is used as the time axis error signal.
上記従来技術は記録媒体の傷その他の原因によって発生
する再生信号のドロップアウトの発生により生じる再生
水同期信号や再生カラーバーストの欠落やノイズ等によ
る偽の同期信号の発生等について配慮がされておらず、
このためこれら欠落等により基準信号との正しい位相比
較が行われず誤った大きな位相エラーが発生する場合が
あるという問題があった。この様な誤ったエラーが発生
した場合、誤ったエラー信号により時間軸補正系が動作
し、再生信号が位相ズレを起こすため、再生画像上は色
相ズレや同期乱れが発生する。The above-mentioned prior art does not consider generation of false sync signal due to missing of reproduced water sync signal or reproduced color burst or noise caused by occurrence of dropout of reproduced signal caused by scratches or other causes of recording medium. ,
For this reason, there is a problem in that due to these omissions and the like, a correct phase comparison with the reference signal is not performed and an erroneous large phase error may occur. When such an erroneous error occurs, the time axis correction system operates due to the erroneous error signal, and the reproduced signal causes a phase shift, so that a hue shift and a synchronization disorder occur on the reproduced image.
本発明の目的は再生信号のドロップアウトにより生じる
誤った大きな位相エラーの発生を防ぎ、上記悪影響を取
り除く手段を提供することにある。It is an object of the present invention to provide a means for preventing an erroneous large phase error caused by a dropout of a reproduction signal and eliminating the above-mentioned adverse effect.
上記目的は、基準信号と再生カラーバーストあるいは水
平同期信号の位相差をサンプリングして約1H間ホールド
して時間軸エラー信号としていた第1のサンプルホール
ド回路に、第1のサンプルホールド回路のホールド期期
間中にサンプリングパルスを持ち第1のサンプルホール
ド回路の出力をサンプリングしホールドする第2のサン
プルホールド回路とこのサンプルホールド回路出力を中
心にサンプルホールド出力レベルに応じた上限下限値を
設けこのレベルの範囲外に第1のサンプルホールド回路
出力がなる毎に所定時間第2のサンプルホールド回路の
サンプリング動作を禁止するとともに、先の上限・下限
値より大きく第2のサンプルホールド回路の出力を中心
にサンプルホールド出力レベルに応じた第2の上限・下
限値を設け、このレベル範囲内に第1のサンプルホール
ド回路の出力レベルがある時は第1のサンプルホールド
回路出力を時間軸エラー信号とし、範囲外になった時は
所定時間、第2のサンプルホールド回路出力を時間軸エ
ラー信号とすることにより達成される。The purpose of the above is to sample the phase difference between the reference signal and the reproduced color burst or horizontal sync signal, hold it for about 1H, and use it as the time axis error signal for the first sample and hold circuit. A second sample and hold circuit that has a sampling pulse during the period and samples and holds the output of the first sample and hold circuit, and an upper and lower limit value according to the sample and hold output level is provided around this sample and hold circuit output. Every time the output of the first sample-hold circuit goes out of the range, the sampling operation of the second sample-hold circuit is prohibited for a predetermined time, and the output of the second sample-hold circuit is sampled to be larger than the upper and lower limit values. Set the second upper and lower limits according to the hold output level. When the output level of the first sample and hold circuit is within the bell range, the output of the first sample and hold circuit is used as a time axis error signal, and when it is out of the range, it is a predetermined time, and the output of the second sample and hold circuit is timed. This is achieved by using the axis error signal.
通常モードでドロップアウトの影響を受けず正常に時間
軸補正系が動作している場合、時間軸エラー信号はなめ
らかな信号(回転周波数に同期した正弦波状波形)とな
る。(第6図(a)) ドロップアウト等により誤ったエラーが出力された時の
時間軸エラー信号は第6図(b)の様に急峻な大きなエ
ラーが発生する。この急峻なエラーが発生したことを検
出し、急峻なエラーが発生する直前のエラーに置き換え
る様に動作する。When the time axis correction system operates normally without being affected by dropout in the normal mode, the time axis error signal becomes a smooth signal (sinusoidal waveform synchronized with the rotation frequency). (FIG. 6 (a)) When an erroneous error is output due to dropout or the like, a steep large error occurs in the time axis error signal as shown in FIG. 6 (b). It operates to detect the occurrence of this steep error and replace it with the error immediately before the occurrence of the steep error.
具体的には、第2のサンプルホールド回路は、第1のサ
ンプルホールド回路の出力レベルに0〜1H遅れて追従し
た出力を出力する様に動作しこれを中心にレベルの異な
る上・下限値を2つ設ける。第1のサンプルホールド回
路出力が第1の上下限値の範囲外になる毎に所定時間、
第2のサンプルホールド回路のサンプリングを禁止する
様に動作する。これにより、急激なレベル変動の少な
く、常な滑らかなレベル変動をもちかつ第1のサンプル
ホールド回路に若干遅れながら追従する第2のサンプル
ホールド回路出力が得られ、ひいては同様な2つの異な
る上・下限値が得られる。一方、第1のサンプルホール
ド回路出力が、上記より得られる滑らかなる第2の上・
下限値の範囲外となった時は、所定時間、時間軸エラー
信号とし、範囲内である時は、第1のサンプルホールド
回路の出力を時間軸エラー信号とする様に動作する。こ
れによって、常に1Hあるいは、数H前のエラー信号と現
在エラーレベルの比較が行なうことが出来、ドロップア
ウト等による誤った急激なエラー信号を時間軸補正系に
供給しなくなるので同期乱れ等のない良好な時間軸補正
ができる。Specifically, the second sample-and-hold circuit operates so as to output an output that follows the output level of the first sample-and-hold circuit with a delay of 0 to 1H. Provide two. Every time the output of the first sample and hold circuit goes out of the range of the first upper and lower limit values, a predetermined time,
It operates so as to prohibit the sampling of the second sample hold circuit. As a result, a second sample-and-hold circuit output is obtained which has little level change suddenly, has a normal smooth level change, and follows the first sample-and-hold circuit with a slight delay. The lower limit is obtained. On the other hand, the output of the first sample-and-hold circuit is smoothed by the second upper
When it is out of the range of the lower limit value, it operates as a time axis error signal for a predetermined time, and when it is in the range, it operates so that the output of the first sample hold circuit becomes a time axis error signal. As a result, the error signal of 1H or several H ago can be compared with the current error level at all times, and an erroneous and abrupt error signal due to dropout or the like is not supplied to the time axis correction system, so that there is no synchronization disturbance. Good time axis correction is possible.
又、上・下限値レベルは、残留時間軸エラー(第6図
(a)の直流変動分)に追従して変動するので、上・下
限値レベルを下げて検出精度を上げることが出来る。Further, since the upper and lower limit levels change in accordance with the residual time axis error (DC fluctuation amount in FIG. 6A), the upper and lower limit levels can be lowered to improve the detection accuracy.
以下本発明の実施例のブロック図を第1図に示す。図中
101は第1のサンプルホールド回路、102は第2のサンプ
ルホールド回路、103は第1の上・下限値設定手段、104
は第1の比較手段、105はサンプルホールド禁止手段で
あり、103〜105にて急激なレベル変動のない常に滑らか
なるレベル変動をもち、第1のサンプルホールド回路出
力より若干遅れながら追従する第2のサンプルホールド
回路出力を得る。一方、106は第2の上・下限値設定手
段、107は第2の比較手段、108はタイミング発生回路、
109はスイッチ回路であり、第1のサンプルホールド回
路出力が第2のサンプルホールド回路出力から作られる
第2の上・下限レベルの範囲外となった時に所定時間ス
イッチ回路を第1のサンプルホールド回路出力から第2
のサンプルホールド回路出力に切り換え、ドロップアウ
ト等による誤った急激な大きなエラーの発生を防ぐ。A block diagram of the embodiment of the present invention is shown in FIG. In the figure
101 is a first sample and hold circuit, 102 is a second sample and hold circuit, 103 is a first upper and lower limit value setting means, 104
Is a first comparing means, and 105 is a sample and hold prohibiting means, which has a smooth level fluctuation without abrupt level fluctuations at 103 to 105, and follows the output of the first sample and hold circuit with a slight delay. The sample hold circuit output of is obtained. On the other hand, 106 is a second upper / lower limit value setting means, 107 is a second comparing means, 108 is a timing generation circuit,
Reference numeral 109 is a switch circuit, and when the output of the first sample-hold circuit is out of the range of the second upper and lower limit levels created from the output of the second sample-hold circuit, the switch circuit is switched to the first sample-hold circuit for a predetermined time. Second from output
The output of the sample and hold circuit is switched to prevent the occurrence of erroneous and sudden large errors due to dropouts.
次に、本発明の一実施例を第2図の回路図、第3図の各
部動作波形図を用いて説明する。Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the circuit diagram of FIG. 2 and the operation waveform chart of each part of FIG.
第2図においてサンプルホールド回路1はスイッチS1、
コンデンサC1、バッファA1により構成されておりサンプ
リングパルスAによりS1がオン・オフしサンプリング及
びホールド動作がくり返えされる。ここで本サンプルホ
ールド回路1は、例えば特開第昭56−84091第6図サン
プルホールド回路13にあたる。サンプルホールド回路1
の出力Bはサンプルホールド回路2およびスイッチ回路
3の一方の入力に接続される。サンプルホールド回路2
はスイッチS1およびコンデンサC2、バッファA2により構
成される。ここでS2はANDゲート8の出力Dによりオン
・オフ制御されサンプル及びホールド動作が行なわれ
る。サンプルホールド回路2の出力Eはスイッチ回路3
の一方の入力に接続されるとともに、抵抗群4に接続さ
れる。抵抗群4は抵抗R1〜R6より構成される。R1および
R6は各々サンプルホールド回路出力1が通常とりうるレ
ベルよりかなり高い電源+VCCおよび低い電源−VCCに
接続される。また、R1≫R2+R3,R6≫R4+R5となる様な定
数に設定する。ウインドコンパレータ5は、2個のコン
パレータからなりR2とR3の接続点の電圧レベルを上側の
基準電圧+VTH1とし、R4とR5の接続点の電圧レベルを下
側の基準電圧−VTH1とし、サンプルホールド回路1の出
力レベルと比較を行なう。ウインドコンパレータ5の出
力Fはサンプルホールド回路1のサンプリングパルスと
共に論理回路6に入力され、論理回路6の出力Gはリト
リガブルモノマルチバイブレータ(以下、リトリガブル
モノマルチあるいはモノマルチと略す)7に接続され
る。リトリガブルモノマルチ7のパルスHを入力とする
ANDゲート8が設けられており、他方のゲート入力はサ
ンプルホールド回路2のサンプリングパルスCが入力さ
れる。本サンプリングパルスはサンプルホールド回路1
のホールド期間にパルスが発生する様になっておりAND
ゲートを介してサンプルホールド回路2のスイッチS2が
オンしサンプルホールド回路1のホールドレベルがサン
プルホールドされるタイミングパルスとなっている。ウ
インドコンパレータ9は2個のコンパレータからなり、
抵抗群4のR1とR2の接続点の電圧レベルを上側の基準電
圧+VTH2,R5とR6の接続点の電圧レベルを下側の基準電
圧−VTH2とし、サンプルホールド回路1の出力と比較さ
れる。ウインドコンパレタ9の出力Iはノンリトリガブ
ルモノマルチバイブレータ(以下、ノンリトリガブルモ
ノマルチあるいはモノマルチと略す)10に接続される。
ノンリトリガブルモノマルチ10の出力Jはスイッチ回路
3に接続され、2入力を選択して出力する様にコントロ
ールされる。このスイッチ3の出力Kが時間軸エラー信
号として用いられる。リトリガブルモノマルチ7および
ノンリトリガブルモノマルチ10は、リセット端子等に禁
止タイミング信号が接続されている。In FIG. 2, the sample and hold circuit 1 has a switch S 1 ,
It is composed of a capacitor C 1 and a buffer A 1, and S 1 is turned on / off by the sampling pulse A, and the sampling and holding operations are repeated. The sample and hold circuit 1 corresponds to, for example, the sample and hold circuit 13 shown in FIG. 6 of JP-A-56-84091. Sample and hold circuit 1
Output B is connected to one input of the sample hold circuit 2 and the switch circuit 3. Sample and hold circuit 2
Is composed of a switch S 1, a capacitor C 2 , and a buffer A 2 . Here, S 2 is on / off controlled by the output D of the AND gate 8 to perform the sample and hold operation. The output E of the sample hold circuit 2 is the switch circuit 3
It is connected to one input and the resistor group 4. The resistor group 4 is composed of resistors R 1 to R 6 . R 1 and
R 6 each sample and hold circuit output 1 is connected to a considerably higher supply + V CC and a low supply -V CC than the level that can be taken normally. Also, set the constants such that R 1 >> R 2 + R 3 and R 6 >> R 4 + R 5 . The window comparator 5 consists of two comparators, the voltage level at the connection point of R 2 and R 3 is the upper reference voltage + V TH1, and the voltage level at the connection point of R 4 and R 5 is the lower reference voltage −V. The output level of the sample hold circuit 1 is compared with TH1 . The output F of the window comparator 5 is input to the logic circuit 6 together with the sampling pulse of the sample and hold circuit 1, and the output G of the logic circuit 6 is a retriggerable mono-multivibrator (hereinafter abbreviated as retriggerable mono-multi or mono-multi) 7 Connected to. Input pulse H of retriggerable mono-multi 7
An AND gate 8 is provided, and the sampling pulse C of the sample hold circuit 2 is input to the other gate input. This sampling pulse is sample hold circuit 1
A pulse is generated during the hold period of
The switch S 2 of the sample and hold circuit 2 is turned on via the gate, and the hold level of the sample and hold circuit 1 becomes a timing pulse for sample and hold. The window comparator 9 consists of two comparators,
The voltage level of the connection point of R 1 and R 2 of the resistor group 4 is the upper reference voltage + V TH2 , and the voltage level of the connection point of R 5 and R 6 is the lower reference voltage −V TH2 . Compared to the output. The output I of the window comparator 9 is connected to a non-triggerable mono-multi vibrator (hereinafter, abbreviated as non-triggerable mono-multi or mono-multi) 10.
The output J of the non-triggerable mono-multi 10 is connected to the switch circuit 3 and controlled so as to select and output two inputs. The output K of the switch 3 is used as a time axis error signal. In the retriggerable mono-multi 7 and the non-retriggerable mono-multi 10, a prohibition timing signal is connected to a reset terminal or the like.
次に第2図の回路動作を第3図に各部動作波形を用いて
説明する。尚、図における同一信号波形は同一符号によ
り示されるものである。図3においてサンプリングパル
スAは水平同期周期をもつものであり、本パルスのハイ
期間基準信号との位相差をサンプリングしロー期間サン
プリングレベルをホールドすることによりサンプルホー
ルド回路1の出力Bを得る。(従来は、サンプルホール
ド回路1の出力Bを時間軸エラー信号としていた。)サ
ンプルホールド回路2は、サンプルホールド回路1のホ
ルド期間のレベルをサンプルホールドすべく設けられた
ものであり、通常はANDゲート8を介してサンプリング
パルスCによってサンプリングのタイミングが決定され
る。すなわちANDゲート8の他入力がハイの時は、サン
プリングパルスCがANDゲート8を通過しDとなる。従
って、サンプリングパルスCはサンプリングパルスAと
同様水平同期周期をもつものでサンプリングパルスAの
ロー期間にパルスを発生する。サンプルホールド回路2
の出力Eはサンプルホールド回路1の出力Bよりサンプ
リングパルスA,Bの発生タイミングのズレ分だけ遅れて
レベルを変えていく。サンプルホールド回路2の出力E
は抵抗群4に接続されており先に述べた条件から各々の
抵抗の接続点からはサンプルホールド回路2の出力をDC
レベルシフトした電圧が得られる。このレベルを抵抗群
れの上側から+VTH2(R1とR2の接続点),+VTH1(R2とR3
の接続点),−VTH1(R4とR5の接続点)および−VTH2(R5
とR6の接続点)とする。一方、コンパレータ5は、+V
TH1と−VTH1を基準電圧としサンプルホールド回路1の
出力Bとレベル比較し、サンプルホールド回路1の出力
Bが基準電圧範囲外になった時はローレベル、基準電圧
範囲内の時はハイレベルを出力Fする。コンパレータ5
の出力FはサンプリングパルスAとの論理が論理回路6
でとられ、コンパレータ出力がローレベルの時のみサン
プリングパルスAが通過出力する。リトリガブルモノマ
ルチ8は、論理回路6の出力Gの立ち上りでトリガーが
かけられ所定時間ローレベルのパルスHを出力する。リ
トリガブルモノマルチ7の出力Hは、サンプリングパル
スCとのANDが、AND回路8でとられサンプルホールド回
路2のスイッチS2の制御をする。従って、リトリガブル
モノマルチ7の出力がローレベルの期間は、ANDゲート
8はサンプリングパルスCの通過を禁止し、ANDゲート
出力Dとなる。従ってサンプルホールド回路2出力は、
リトリガブルモノマルチ7の出力Hがローレベル期間、
本出力Hがローレベルのとなる前のレベルをホールド出
力Eする。Next, the circuit operation of FIG. 2 will be described with reference to FIG. The same signal waveforms in the figures are indicated by the same reference numerals. In FIG. 3, the sampling pulse A has a horizontal synchronizing period, and the output B of the sample hold circuit 1 is obtained by sampling the phase difference of this pulse from the high period reference signal and holding the sampling level in the low period. (In the past, the output B of the sample and hold circuit 1 was used as a time axis error signal.) The sample and hold circuit 2 is provided to sample and hold the level of the hold period of the sample and hold circuit 1, and is normally AND. The sampling timing is determined by the sampling pulse C via the gate 8. That is, when the other input of the AND gate 8 is high, the sampling pulse C passes through the AND gate 8 and becomes D. Therefore, the sampling pulse C has a horizontal synchronizing cycle like the sampling pulse A, and generates a pulse during the low period of the sampling pulse A. Sample and hold circuit 2
The output E of the signal changes its level later than the output B of the sample hold circuit 1 by the amount of deviation of the generation timing of the sampling pulses A and B. Output E of sample hold circuit 2
Is connected to the resistor group 4, and from the connection point of each resistor, the output of the sample hold circuit 2 is DC
A level-shifted voltage is obtained. From the upper side of the resistor group, set this level to + V TH2 (connection point of R 1 and R 2 ) and + V TH1 (R 2 and R 3
Connection point), −V TH1 (connection point between R 4 and R 5 ) and −V TH2 (R 5
And the connection point of R 6 ). On the other hand, the comparator 5 is + V
TH1 and -V TH1 are used as reference voltages to compare the level with the output B of the sample and hold circuit 1. When the output B of the sample and hold circuit 1 is outside the reference voltage range, it is low level, and when it is within the reference voltage range, it is high level. Is output F. Comparator 5
Of the output F of the sampling pulse A has a logic circuit 6
The sampling pulse A passes and is output only when the comparator output is at a low level. The retriggerable mono-multi 8 is triggered by the rising edge of the output G of the logic circuit 6 and outputs a low-level pulse H for a predetermined time. The output H of the retriggerable monomulti 7 is ANDed with the sampling pulse C by the AND circuit 8 to control the switch S 2 of the sample hold circuit 2. Therefore, while the output of the retriggerable mono-multi 7 is at the low level, the AND gate 8 prohibits the sampling pulse C from passing and becomes the AND gate output D. Therefore, the output of the sample and hold circuit 2 is
The output H of the retriggerable mono-multi 7 is in the low level period,
The level before the main output H becomes low level is the hold output E.
一方、ウインドコンパレータ9は、先の+VTH2,-VTH2を
基準電圧として、サンプルホールド回路1の出力Bが基
準電圧範囲外になった時はローレベル、基準電圧内の時
はハイレベルを出力Iする。すなわちウインドコンパレ
ータ9は1H前の時間軸エラー信号と新たにサンプリング
される時間軸エラーとの差がある一定値以上になったこ
とを検出するわけである。この出力Iの立ち下りでノン
リトリガブルモノマルチ10はトリガされ所定時間ハイレ
ベルのパルスJを出力する。スイッチ回路3はサンプル
ホールド回路1,2の出力B,Eを選択すべく設けられてお
り、ノンリトリガブルモノマルチ10の出力Jにより制御
されJがローレベルの時はサンプルホールド回路1の出
力Bが、Jがハイレベルの時はサンプルホールド回路2
の出力Eが選択され出力される。このスイッチ回路3の
出力Kが時間軸エラー信号として時間軸補正系に加えら
れる。サンプルホールド回路1の出力Bが基準電圧+V
TH2〜−VTH2の範囲外になった時はその直前のエラー電
圧レベルであるサンプルホールド回路2の出力Eが時間
軸エラー信号となる。この様にして、ドロプアウト等に
より生じる誤った急激な大きなエラー発生時は1Hあるい
は数H前のエラー信号と置き換えられる。又、禁止信号
は、従来例に示される様なスチルジャンプ時等に発生す
る急激な時間軸エラー発生が要求される場合あらかじは
スイッチ回路3の出力がサンプルホールド回路1を選択
する様にするものであり、モノマルチ7および10のリセ
ット端子等に接続される。これにより、禁止信号到来中
リトリガブルモノマルチ7の出力Hはハイレベル、ノン
リトリガブルモノマルチ10の出力Jはローレベルに保持
される。On the other hand, the window comparator 9 outputs a low level when the output B of the sample hold circuit 1 is out of the reference voltage range, and a high level when the output B of the sample hold circuit 1 is within the reference voltage, using + V TH2 and -V TH2 as reference voltages. I will. That is, the window comparator 9 detects that the difference between the time axis error signal of 1H before and the time axis error to be newly sampled becomes a certain value or more. At the trailing edge of this output I, the non-retriggerable monomulti 10 is triggered and outputs a high-level pulse J for a predetermined time. The switch circuit 3 is provided to select the outputs B and E of the sample and hold circuits 1 and 2, and is controlled by the output J of the non-retriggerable monomulti 10 and when the J is at a low level, the output B of the sample and hold circuit 1 is output. However, when J is high level, the sample and hold circuit 2
Output E is selected and output. The output K of the switch circuit 3 is added to the time axis correction system as a time axis error signal. Output B of sample hold circuit 1 is reference voltage + V
When it goes out of the range of TH2 to -V TH2 , the output E of the sample hold circuit 2 which is the error voltage level immediately before that becomes the time axis error signal. In this way, when an erroneous and sudden large error occurs due to dropout or the like, the error signal of 1H or several H before is replaced. In addition, the prohibition signal causes the output of the switch circuit 3 to select the sample hold circuit 1 when a rapid time axis error occurs which is generated at the time of a still jump as shown in the conventional example. And is connected to the reset terminals of the monomultis 7 and 10. As a result, the output H of the retriggerable mono-multi 7 is kept at a high level and the output J of the non-retriggerable mono-multi 10 is kept at a low level while the inhibition signal is coming.
次に、ウインドコンパレータ5の必要性を述べるため
に、第4図の回路図および第5図の各部波形図を用いて
説明を加える。ここで、第4図は第2図でウインドコン
パレータ5、論理回路6、リトリガブルモノマルチ7が
なく、ANDゲート一方の入力としてノンリトリガブルモ
ノマルチ10の出力Jをインバータ20で反転したものを用
いる。Next, in order to describe the necessity of the window comparator 5, a description will be added with reference to the circuit diagram of FIG. 4 and the waveform chart of each part of FIG. Here, FIG. 4 is a diagram in which the output J of the non-retriggerable monomulti 10 is inverted by the inverter 20 as one input of the AND gate without the window comparator 5, the logic circuit 6 and the retriggerable monomulti 7 in FIG. To use.
他は第2図と同一符号部は同様な働きをするものとす
る。従って、第2図・第4図の回路図の主たる違いはサ
ンプリングパルスCの追加阻止をH出力で行なうかJ出
力で行なうかである。Other than that, the same parts as those in FIG. 2 have the same functions. Therefore, the main difference between the circuit diagrams of FIGS. 2 and 4 is whether the additional blocking of the sampling pulse C is performed by the H output or the J output.
サンプルホールド回路1の出力Bが第5図に示す様な軌
跡をとった場合の各部の波形を示す。本事例は、ドロッ
プアウト等によりある程度大きな時間軸エラーが急激に
発生した場合でも(第4図時刻t1)、1H前のエラーレベ
ルから作り出される+VTH2,-VTH2の範囲外に達しなかっ
た場合について考えるものである。この様な場合この誤
ったエラー信号により時間軸補正系が動作するわけであ
る。従って、次のサンプリング時(時刻t2)にドロップ
アウト等の影響を受けない正規のタイミングで時間軸エ
ラーをサンプルホールド回路1がサンプリングした時に
は、前記誤ったエラーによる時間軸補正系の動きのため
それを打ち消す様な反対側の時間軸エラーが発生する場
合が多い。(第5図(B)波形)第5図の+VTH2,-VTH2波
形はウインドコンパレータ9の上下限値の状態を示すも
ので、ここではサンプルホールド回路1の出力B波形の
中心に各々+VTH2,-VTH2シフトさせ、さらに、約1/2H遅
延させて描いてある。ここで、時刻t2においてはB波形
が−VTH2の範囲外(斜線部分)となることがわかる。従
って、ウインドコンパレータ出力Iは時刻t2からローレ
ベル出力となり、ノンリトリガブルモノマルチ10の出力
Jはハイレベルを一定時間出力することになる。従っ
て、スイッチ回路3の出力Kは時刻t2からサンプルホー
ルド回路2の出力E(図示せず)となるため誤ったエラ
ーが持続されることになる。この結果、本来であればド
ロップアウト等による誤った時間軸エラーが1H分であっ
たものが2H連続して時間軸補正系に加えられるため、本
回路の追加による悪影響が大となってしまう。この様な
悪影響を除去するために、第2図に示すウインドコンパ
レータ5が、本発明では具備されている。第2図に示す
回路図においてはウインドコンパレータ5の基準電圧+
VTH1,-VTH1の範囲を+VTH2,-VTH2より十分小さくとって
ある。従って第5図の時刻t1のようなサンプルホールド
回路1の出力Bに対してはウインドコンパレータ5の出
力がローレベルとなり時刻t3のサンプルホールド回路2
のサンプリングを禁止し、ウインドコンパレータ9の基
準値+VTH2,-VTH2の電圧レベルが変化せずt3以前の電圧
をホールドすることになる。従って、時刻t2でのウイン
ドコンパレータ9の出力の状態変化も防がれ、スイッチ
回路3の出力はサンプルホールド回路1の出力が選択さ
れた状態が続き、上記悪影響が除去される。尚±VTH1の
選定は後続する時間軸補正系により適切な値を選べばよ
い。The waveforms of the respective parts when the output B of the sample hold circuit 1 takes the locus shown in FIG. 5 are shown. In this example, even when a relatively large time axis error occurred suddenly due to dropout (time t 1 in Fig. 4), it did not reach outside the range of + V TH2 , -V TH2 produced from the error level 1H ago. It is about thinking about the case. In such a case, the erroneous error signal causes the time axis correction system to operate. Therefore, when the sample-hold circuit 1 samples a time-axis error at a regular timing that is not affected by dropout at the next sampling time (time t 2 ), the time-axis correction system moves due to the erroneous error. In many cases, a time axis error on the opposite side that cancels it occurs. (Waveform in FIG. 5) The + V TH2 and -V TH2 waveforms in FIG. 5 show the upper and lower limit values of the window comparator 9. Here, the + B TH2 and -V TH2 waveforms are respectively + V at the center of the output B waveform of the sample hold circuit 1. TH2 , -V TH2 is shifted and delayed by about 1 / 2H. Here, it can be seen that the B waveform is out of the range of −V TH2 (hatched portion) at time t 2 . Therefore, the window comparator output I becomes a low level output from the time t 2 , and the output J of the non-retriggerable monomulti 10 outputs a high level for a certain period of time. Therefore, the output K of the switch circuit 3 becomes the output E (not shown) of the sample and hold circuit 2 from the time t 2, so that an erroneous error is maintained. As a result, since the erroneous time axis error due to dropout or the like which was originally 1H is added to the time axis correction system continuously for 2H, the adverse effect of the addition of this circuit becomes large. In order to eliminate such an adverse effect, the window comparator 5 shown in FIG. 2 is provided in the present invention. In the circuit diagram shown in FIG. 2, the reference voltage of the window comparator 5+
The range of V TH1 , -V TH1 is set sufficiently smaller than + V TH2 , -V TH2 . Therefore, with respect to the output B of the sample hold circuit 1 at time t 1 in FIG. 5, the output of the window comparator 5 becomes low level and the sample hold circuit 2 at time t 3
Is prohibited and the voltage level of the reference value + V TH2 , -V TH2 of the window comparator 9 does not change and the voltage before t 3 is held. Therefore, the state change of the output of the window comparator 9 at time t 2 is also prevented, and the output of the switch circuit 3 continues to be in the state in which the output of the sample hold circuit 1 is selected, and the above adverse effect is eliminated. Note that ± V TH1 may be selected as an appropriate value by the subsequent time axis correction system.
以上に述べた様に本実施例によれば、ドロップアウト等
による誤った大きなエラーに対しても精度よく検出する
ことが出来(±VTH2,±VTH1が、サンプルホールド回路
1に追従した形で選定されるため)、その検出結果によ
り大きな誤ったエラーが発生した時には、本来のエラー
レベルに最も近い1H(あるいは数H)前のエラー信号と
置き換えることが出来るので、ドロップアウト等による
時間軸の乱れを防止出来るという効果がある。As described above, according to the present embodiment, it is possible to accurately detect an erroneous large error due to dropout or the like (± V TH2 and ± V TH1 follow the sample hold circuit 1). When a large error occurs due to the detection result, it can be replaced with the error signal of 1H (or several H) closest to the original error level. This has the effect of preventing the disturbance of
又、残留時間軸エラーに対して、ウインドコンパレータ
5,9の基準電圧が追従して変化するため、基準電圧レベ
ルを小さくして急峻なエラーレベルの変化を検出するこ
とが出来、より良好な時間軸エラー信号を得ることが出
来る効果がある。In addition, for residual time axis error, the window comparator
Since the reference voltages of 5 and 9 change following each other, the reference voltage level can be reduced to detect a steep change in the error level, and a better time-axis error signal can be obtained.
尚、第2図においてモノマルチ7および10の出力パルス
幅は各々所定時間としたが、本所定時間とは予想される
ドロップアウトの連続量に応じて定めればよいことは明
らかである。In FIG. 2, the output pulse widths of the monomultis 7 and 10 are each set to a predetermined time, but it is clear that this predetermined time may be set according to the expected continuous dropout amount.
本発明によれば、再生信号のドロップアウト等により発
生する誤ったエラー信号を本来のエラー信号レベルに最
も近い、前のエラー信号レベルに置き換えて時間軸エラ
ー信号として出力することができ、ドロップアウト等に
よる時間軸補正系の乱れを除去することができるので、
時間軸の乱れの少ない良好な再生信号が得られるという
効果がある。According to the present invention, an erroneous error signal generated due to a dropout of a reproduction signal or the like can be replaced with a previous error signal level closest to the original error signal level and output as a time axis error signal. Since the disturbance of the time axis correction system due to etc. can be removed,
There is an effect that a good reproduction signal with little disturbance of the time axis can be obtained.
第1図は本発明の概要を示すブロック図、第2図は本発
明の一実施例を示す回路図、第3図は第2図に示す各部
動作波形図、第4図は第2図からウインドコンパレータ
5等を削除した時に考えられる回路図、第5図は第4図
に示す各部動作波形図、第6図は時間軸エラー信号の一
例を示す図である。 1,2,101,102……サンプルホールド回路、3,109……スイ
ッチ回路、5,6……ウインドコンパレータ、7……リト
リガブルモノマルチ、10……ノンリトリガブルモノマル
チ。FIG. 1 is a block diagram showing an outline of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 3 is an operation waveform chart of each part shown in FIG. 2, and FIG. 4 is from FIG. FIG. 5 is a circuit diagram considered when the window comparator 5 and the like are deleted, FIG. 5 is an operation waveform diagram of each part shown in FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing an example of a time axis error signal. 1,2,101,102 …… Sample hold circuit, 3,109 …… Switch circuit, 5,6 …… Wind comparator, 7 …… Retriggerable mono multi, 10 …… Non-retriggerable mono multi.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 生駒 順一 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所横浜工場内 (56)参考文献 特開 昭63−316982(JP,A) 特開 昭61−79384(JP,A) 実開 昭59−180577(JP,U) 特公 昭56−26184(JP,B2) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Junichi Ikoma 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Inside the Yokohama factory of Hitachi Ltd. (56) Reference JP-A-63-316982 (JP, A) JP 61-79384 (JP, A) Actual development 59-180577 (JP, U) Japanese Patent Sho 56-26184 (JP, B2)
Claims (1)
ト信号あるいは水平同期信号の位相差を検出し、該相差
に応じた電圧レベルを1H期間サンプルホールドし、該サ
ンプルホールド動作を1H毎に繰り返す第1のサンプルホ
ールド回路と、該第1のサンプルホールド回路がサンプ
リングを終了した後次回のサンプリングを開始するまで
の間に第1のサンプルホールド回路の出力をサンプリン
グする第2のサンプルホールド回路と、該第2のサンプ
ルホールド回路の出力レベルを中心にこのレベルに応じ
た上限および下限値を設定する第1の上下限レベル設定
手段と、該第1の上下限レベル設定手段より大きいレベ
ルで前記第2のサンプルホールド回路の出力レベルを中
心にこの出力レベルに応じた上限値および下限値を設定
する第2の上下限レベル設定手段と、前記第1のサンプ
ルホールド回路の出力レベルと前記第1の上下限レベル
設定手段の出力レベルの比較を行い前記第1のサンプル
ホールド回路の出力が前記第1の上下限レベル設定手段
の出力の範囲外になる毎に所定時間第2のサンプルホー
ルド回路のサンプリングを禁止する禁止手段と、前記第
1および第2のサンプルホールド回路出力を2つの入力
とするスイッチ回路と、を備えて成り、 前記第1のサンプルホールド回路の出力が前記第2の上
下限レベル設定手段の出力の範囲外の時は、前記スイッ
チ回路が、第2のサンプルホールド回路の出力を選択出
力し、範囲内の時は第1のサンプルホールド回路出力を
選択出力し、時間軸エラー信号とする構成であることを
特徴とする情報記録再生装置の時間軸エラー信号発生装
置。1. A phase difference between a reference signal and a burst signal of a reproduced color video signal or a horizontal synchronizing signal is detected, a voltage level corresponding to the phase difference is sample-held for 1H period, and the sample-hold operation is repeated every 1H. A first sample-and-hold circuit, a second sample-and-hold circuit that samples the output of the first sample-and-hold circuit after the first sample-and-hold circuit finishes sampling and before the next sampling is started; A first upper and lower limit level setting means for setting an upper limit and a lower limit value according to the output level of the second sample and hold circuit, and a second level higher than the first upper and lower limit level setting means. Centering on the output level of the sample and hold circuit of the second upper and lower limit value for setting the upper limit value and the lower limit value according to this output level. The output level of the bell setting means, the output level of the first sample and hold circuit and the output level of the first upper and lower limit level setting means are compared, and the output of the first sample and hold circuit sets the first upper and lower limit level. A prohibiting means for prohibiting the sampling of the second sample-hold circuit for a predetermined time each time the output of the means is out of the range, and a switch circuit having two inputs of the outputs of the first and second sample-hold circuits. When the output of the first sample and hold circuit is out of the range of the output of the second upper and lower limit level setting means, the switch circuit selectively outputs the output of the second sample and hold circuit, The time axis error signal generation of the information recording / reproducing apparatus is characterized in that the output of the first sample hold circuit is selectively output as a time axis error signal when apparatus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62196209A JPH0732494B2 (en) | 1987-08-07 | 1987-08-07 | Time axis error signal generator for information recording / reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62196209A JPH0732494B2 (en) | 1987-08-07 | 1987-08-07 | Time axis error signal generator for information recording / reproducing apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6441395A JPS6441395A (en) | 1989-02-13 |
| JPH0732494B2 true JPH0732494B2 (en) | 1995-04-10 |
Family
ID=16354017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62196209A Expired - Lifetime JPH0732494B2 (en) | 1987-08-07 | 1987-08-07 | Time axis error signal generator for information recording / reproducing apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0732494B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2798047B2 (en) * | 1996-03-28 | 1998-09-17 | 日本電気株式会社 | Digital optical power control circuit |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5626184B2 (en) | 2011-11-18 | 2014-11-19 | トヨタ自動車株式会社 | Semiconductor unit and method for manufacturing semiconductor unit |
-
1987
- 1987-08-07 JP JP62196209A patent/JPH0732494B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5626184B2 (en) | 2011-11-18 | 2014-11-19 | トヨタ自動車株式会社 | Semiconductor unit and method for manufacturing semiconductor unit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6441395A (en) | 1989-02-13 |
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