JPH073330B2 - リード曲り検査装置 - Google Patents
リード曲り検査装置Info
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- JPH073330B2 JPH073330B2 JP62288910A JP28891087A JPH073330B2 JP H073330 B2 JPH073330 B2 JP H073330B2 JP 62288910 A JP62288910 A JP 62288910A JP 28891087 A JP28891087 A JP 28891087A JP H073330 B2 JPH073330 B2 JP H073330B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 部品のリードの曲り量を検査するリード曲り検査装置に
関し、 ライセンサを用いて部品のリード位置を正確に位置合せ
を行い、リードの曲り量を高精度に測定して検査するこ
とを目的とし、 曲り量を検査しようとする部品のリードを、ライセンサ
の撮像位置に設定する位置設定処理部と、この位置設定
処理部によって設定されたリードが部品に取りつけられ
ている付根近傍における各リードの基準画像と、当該リ
ードの先端の位置における曲り画像とに基づいて、リー
ドの曲り量を算出する曲り量算出処理部とを備え、この
曲り量算出処理部によって算出された曲り量が所定値を
越えた場合に不良として判定するように構成する。
関し、 ライセンサを用いて部品のリード位置を正確に位置合せ
を行い、リードの曲り量を高精度に測定して検査するこ
とを目的とし、 曲り量を検査しようとする部品のリードを、ライセンサ
の撮像位置に設定する位置設定処理部と、この位置設定
処理部によって設定されたリードが部品に取りつけられ
ている付根近傍における各リードの基準画像と、当該リ
ードの先端の位置における曲り画像とに基づいて、リー
ドの曲り量を算出する曲り量算出処理部とを備え、この
曲り量算出処理部によって算出された曲り量が所定値を
越えた場合に不良として判定するように構成する。
〔産業上の利用分野〕 本発明は、部品のリードの曲り量を検査するリード曲り
検査装置に関するものである。
検査装置に関するものである。
プリント基板の高密度化に伴って高密度実装用部品の使
用が増加している。これらの部品の１つのしてフラット
リードパッケージ型ICがあり、これをプリント基板に半
田付けする際に、リード部が曲がっていると、不良半田
付けとなるため、このリード部の曲りを非接触、高精度
かつ迅速に測定して検査することが望まれている。
用が増加している。これらの部品の１つのしてフラット
リードパッケージ型ICがあり、これをプリント基板に半
田付けする際に、リード部が曲がっていると、不良半田
付けとなるため、このリード部の曲りを非接触、高精度
かつ迅速に測定して検査することが望まれている。
従来、フラットリードパッケージ型ICのリード部の曲り
検査は、TVカメラ、もしくは一次元ライセンサを用いて
リード部を撮像し、映像信号をA/D変換した後、デジタ
ル信号より、リード部の曲り量を計測する手法が取られ
ている。
検査は、TVカメラ、もしくは一次元ライセンサを用いて
リード部を撮像し、映像信号をA/D変換した後、デジタ
ル信号より、リード部の曲り量を計測する手法が取られ
ている。
しかし、対象ICの微小化に伴い、十分な測定精度を得る
ためにには、ITVカメラでは、CCD素子の１辺当りの構成
画素数が少ないため、倍率を上げて何画面にも分けて取
り込まなければならず、処理が煩雑となり迅速かつ高精
度に測定して検査し得ないという問題点があった。
ためにには、ITVカメラでは、CCD素子の１辺当りの構成
画素数が少ないため、倍率を上げて何画面にも分けて取
り込まなければならず、処理が煩雑となり迅速かつ高精
度に測定して検査し得ないという問題点があった。
また、一次元ライセンサは、一次元情報しか得られない
ため、検査対象ICと、当該一次元ライセンサとの位置づ
れにより、計測誤差が生じてしまうという問題点があっ
た。
ため、検査対象ICと、当該一次元ライセンサとの位置づ
れにより、計測誤差が生じてしまうという問題点があっ
た。
本発明は、ライセンサを用いて部品のリード位置を正確
に位置合せを行い、リードの曲り量を高精度に測定して
検査することを目的としている。
に位置合せを行い、リードの曲り量を高精度に測定して
検査することを目的としている。
第１図は本発明の原理構成図を示す。
第１図において、位置設定処理部１は、ライセンサによ
って撮像した部品のリード（リード部）の画像信号を用
いて、このリード部の位置を正確にライセンサの撮像位
置に設定するものである。
って撮像した部品のリード（リード部）の画像信号を用
いて、このリード部の位置を正確にライセンサの撮像位
置に設定するものである。
曲り量算出処理部２は、位置設定処理部１によって設定
された部品のリード部の曲り量（例えばリード部を部品
に取り付けた付根部に対する先端部の曲り量）を算出し
て測定するものである。
された部品のリード部の曲り量（例えばリード部を部品
に取り付けた付根部に対する先端部の曲り量）を算出し
て測定するものである。
判定部３は、曲り量算出処理部２によって算出された曲
り量が、所定値以上の場合に不良と判定するものであ
る。
り量が、所定値以上の場合に不良と判定するものであ
る。
本発明は、第１図に示すように、ライセンサによって部
品のリード部を撮像した画像信号を用いて、このリード
部をライセンサの所定位置に正確に位置合せを行った
後、部品のリード部の基準位置（例えば部品のリード部
の付根部分）と、リード部の先端との間の曲り量を算出
し、この算出した曲り量が所定値以上の場合に不良と判
定するようにしている。
品のリード部を撮像した画像信号を用いて、このリード
部をライセンサの所定位置に正確に位置合せを行った
後、部品のリード部の基準位置（例えば部品のリード部
の付根部分）と、リード部の先端との間の曲り量を算出
し、この算出した曲り量が所定値以上の場合に不良と判
定するようにしている。
従って、画素数の多い一次元ライセンサを用いて部品の
リード位置を設定して高精度にリード部の曲り量を測定
し、部品のリード部の良否を正確に判定することが可能
となる。
リード位置を設定して高精度にリード部の曲り量を測定
し、部品のリード部の良否を正確に判定することが可能
となる。
次に、第２図ないし第８図を用いて本発明の１実施例の
構成および動作を順次詳細に説明する。
構成および動作を順次詳細に説明する。
第２図は、本発明の１実施例構成図を示す。図中スリッ
ト照明４は、リード部５に対してスリット状の光線を生
成して照射するものである。
ト照明４は、リード部５に対してスリット状の光線を生
成して照射するものである。
リード部５は、検査対象IC（フラットリードパッケージ
型IC）７のリード部である。本発明は、このリード部５
の曲り量を正確に測定して良否を判定するものである。
型IC）７のリード部である。本発明は、このリード部５
の曲り量を正確に測定して良否を判定するものである。
受光系レンズ６は、スリット照明４によって照射された
リード部５のシルエット像をライセンサ８上に結像する
ものである。
リード部５のシルエット像をライセンサ８上に結像する
ものである。
ライセンサ８は、一次元のライセンサであって、リード
部５のシルエット像を一次元的に高精度に検出するもの
である。
部５のシルエット像を一次元的に高精度に検出するもの
である。
A/D及びセンサコントローラ９は、ライセンサ８を制御
すると共に、検出された画像をディジタル量に変換する
ものである。
すると共に、検出された画像をディジタル量に変換する
ものである。
メモリA10−１およびメモリB10−２は、ライセンサ８に
よって撮像して変換したディジタルの画像信号を一時的
に格納するものであって、例えばリード部５の付根部の
画像信号（曲り量の基準となる画像信号）およびリード
部５の先端部の画像信号（曲り量の被測定対象となる画
像信号）などを夫々格納するものである。
よって撮像して変換したディジタルの画像信号を一時的
に格納するものであって、例えばリード部５の付根部の
画像信号（曲り量の基準となる画像信号）およびリード
部５の先端部の画像信号（曲り量の被測定対象となる画
像信号）などを夫々格納するものである。
映像データ処理部11は、メモリA10−１およびメモリB10
−２に格納した画像信号に基づいて、後述するようにし
て部品のリード部の位置および曲り量を算出するもので
ある。
−２に格納した画像信号に基づいて、後述するようにし
て部品のリード部の位置および曲り量を算出するもので
ある。
システム制御部12は、ヘッド部コントローラ13に信号を
送って、ヘッド14に取り付けた検査対象IC7のリード部
５の位置を所定の位置に正確に移動させるなどの制御、
およびリード部５の曲り量を規格値（基準値）と比較し
てリード部５の良否を判定などするものである。
送って、ヘッド14に取り付けた検査対象IC7のリード部
５の位置を所定の位置に正確に移動させるなどの制御、
およびリード部５の曲り量を規格値（基準値）と比較し
てリード部５の良否を判定などするものである。
次に、第３図を用いて第２図構成の動作を説明する。
第３図において、図中は、部品検査位置にセットする
状態を示す。これは、曲り量を測定して検査しようとす
る検査対象IC7をヘッド14に取り付けることを意味して
いる。
状態を示す。これは、曲り量を測定して検査しようとす
る検査対象IC7をヘッド14に取り付けることを意味して
いる。
図中は、画像を取り込む状態を示す。これは、スリッ
ト照明４によって照射された検査対象IC7あるいはこれ
のリード部５などのシルエット像を、受光系レンズ６に
よってライセンサ８に結像し、画像信号として取り込む
ことを意味している。
ト照明４によって照射された検査対象IC7あるいはこれ
のリード部５などのシルエット像を、受光系レンズ６に
よってライセンサ８に結像し、画像信号として取り込む
ことを意味している。
図中は、２値化する状態を示す。これは、A/D及びセ
ンサコントローラ９を介して取り込んだ画像信号を２値
化し、メモリA10−１あるいはメモリB10−２に格納する
ことを意味している。
ンサコントローラ９を介して取り込んだ画像信号を２値
化し、メモリA10−１あるいはメモリB10−２に格納する
ことを意味している。
図中は、位置設定を行う状態を示す。これは、検査対
象IC7のリード部５が、正確にライセンサ８によって撮
像されるように、後述する第４図ないし第７図の処理に
よって検査位置に位置合せを行うことを意味している。
象IC7のリード部５が、正確にライセンサ８によって撮
像されるように、後述する第４図ないし第７図の処理に
よって検査位置に位置合せを行うことを意味している。
図中は、画像取り込み（付根部）を行う状態を示す。
これは、基準画像となるリード部５の付根部の画像を、
ライセンサ８によって取り込むことを意味している。
これは、基準画像となるリード部５の付根部の画像を、
ライセンサ８によって取り込むことを意味している。
図中は、２値化する状態を示す。
図中は、メモリＢにストアする状態を示す。
これにより、リード部５の付根部の基準値がメモリＢに
格納されたこととなる。
格納されたこととなる。
図中は、画像取り込み（先端部）を行う状態を示す。
これは、曲り量の被測定対象となるリード部５の先端部
の画像を、ライセンサ８によって取り込むことを意味し
ている。
これは、曲り量の被測定対象となるリード部５の先端部
の画像を、ライセンサ８によって取り込むことを意味し
ている。
図中は、２値化する状態を示す。
図中は、メモリＡにストアする状態を示す。
これにより、リード部５の先端部の被測定値がメモリＡ
に格納されたこととなる。
に格納されたこととなる。
図中は、メモリＢに格納した基準値と、メモリＡに格
納した被測定値とのEOR論理演算を行い、リード部５の
先端部の曲り量を算出する状態を示す。
納した被測定値とのEOR論理演算を行い、リード部５の
先端部の曲り量を算出する状態を示す。
図中は、良否を判定する状態を示す。これは、図中
で算出されたリード部５の先端部の曲り量が、所定値を
超えた場合に、このリード部５を持つ検査対象IC7を不
良と判定することを意味している。
で算出されたリード部５の先端部の曲り量が、所定値を
超えた場合に、このリード部５を持つ検査対象IC7を不
良と判定することを意味している。
次に、第３図図中の位置設定を、第４図ないし第７図
を用いて順次詳細に説明する。
を用いて順次詳細に説明する。
第４図は、リード部品の位置ずれ説明図を示す。第４図
（イ）において、実線は当初の検査対象IC7の取り付け
位置を示し、点線は後述する第５図ないし第７図の手順
によって補正した検査位置を示す。この補正後（位置合
せした後）の検査位置は、図示外のライセンサ８による
撮像位置例えば横方向に合致するようにされている。こ
の実線の当初の取り付け位置から、点線の検査位置（ヘ
ッド中心）まで移動させるには、座標Ｘ、Ｙ、および角
度θを図示のように定め、第４図（ロ）に拡大して示す
ように、検査対象IC7の中心位置を、ヘッド中心位置に
移動させかつ角度θを零にするようにすればよい。この
移動設定手順として、例えば角度θ、Ｙ、Ｘの順に移動
させる手順について、以下第５図ないし第７図を用いて
詳細に説明する。
（イ）において、実線は当初の検査対象IC7の取り付け
位置を示し、点線は後述する第５図ないし第７図の手順
によって補正した検査位置を示す。この補正後（位置合
せした後）の検査位置は、図示外のライセンサ８による
撮像位置例えば横方向に合致するようにされている。こ
の実線の当初の取り付け位置から、点線の検査位置（ヘ
ッド中心）まで移動させるには、座標Ｘ、Ｙ、および角
度θを図示のように定め、第４図（ロ）に拡大して示す
ように、検査対象IC7の中心位置を、ヘッド中心位置に
移動させかつ角度θを零にするようにすればよい。この
移動設定手順として、例えば角度θ、Ｙ、Ｘの順に移動
させる手順について、以下第５図ないし第７図を用いて
詳細に説明する。
第５図は、θ方向位置合せ説明図を示す。第５図（イ）
の下側に示すライセンサ８の撮像位置で、検査対象IC7
のリード部５を撮像すると、上側に示すようなライセン
サ出力信号が得られる。このライセンサ出力信号中で、
最初にリード部５が検出されるまでの距離をl0とする。
の下側に示すライセンサ８の撮像位置で、検査対象IC7
のリード部５を撮像すると、上側に示すようなライセン
サ出力信号が得られる。このライセンサ出力信号中で、
最初にリード部５が検出されるまでの距離をl0とする。
第５図（ロ）の下側に示すライセンサ８の撮像位置は、
Ｙ軸方向に検査対象IC7をΔαだけ移動させた位置でリ
ード部５を撮像すると、上側に示すようなライセンサ出
力信号が得られる。このライセンサ出力信号中で、最初
にリード部５が検出されるまでの距離をl1とする。
Ｙ軸方向に検査対象IC7をΔαだけ移動させた位置でリ
ード部５を撮像すると、上側に示すようなライセンサ出
力信号が得られる。このライセンサ出力信号中で、最初
にリード部５が検出されるまでの距離をl1とする。
以上の手順によって検出した取り付け当初の距離l0、お
よびＹ軸方向に距離Δα移動時の距離l1に基づいて、検
査対象IC7の角度Δθ（傾き）を求めると下式（１）の
ようになる。
よびＹ軸方向に距離Δα移動時の距離l1に基づいて、検
査対象IC7の角度Δθ（傾き）を求めると下式（１）の
ようになる。
Δθ＝tan-1（Δα／（l0−ｌl1）） ・・・（１） 従って、この式（１）によって算出した角度Δθに対す
る補正角度−Δθだけ、検査対象ICを搭載したヘッド14
を回転させることにより、当該検査対象IC7のリード部
８をライセンサ８の撮像方向に対して合致（リード部５
の先端とライセンサ８と平行）させることができる。
る補正角度−Δθだけ、検査対象ICを搭載したヘッド14
を回転させることにより、当該検査対象IC7のリード部
８をライセンサ８の撮像方向に対して合致（リード部５
の先端とライセンサ８と平行）させることができる。
第６図は、Ｙ方向位置合せ説明図を示す。図中下側に示
すライセンサ８の撮像位置で、検査対象IC7のリード部
５を撮像すると、第５図θ方向の位置合せによってリー
ド部５の先端がライセンサ８と平行になっているから、
検査対象IC7をＹ方向（図中上下方向）に移動させて、
リード部５の先端をライセンサ８の撮像位置に一致させ
る。この一致させる移動操作は、初期値をリード部５の
長さの1/2とし、１回移動させるごとに移動量を順次半
分にしてゆく。詳述すると、ライセンサ８を用いてリー
ド部５を撮像し、リード部５の画素数を累計する。この
時の画素数が“0"（零）よりも大きければ−Ｙ方向に、
“0"（零）よりも小さければＹ方向に上記移動量だけ移
動させる。移動したら、ライセンサ８を用いて撮像し、
同様の操作を移動量が１になるまで繰り返す。リード長
さを“L"とすれば、（log2L-1）回の移動によって、画
素数が“0"（零）以上になるリード部５の先端がライセ
ンサ８の撮像位置に設定される。
すライセンサ８の撮像位置で、検査対象IC7のリード部
５を撮像すると、第５図θ方向の位置合せによってリー
ド部５の先端がライセンサ８と平行になっているから、
検査対象IC7をＹ方向（図中上下方向）に移動させて、
リード部５の先端をライセンサ８の撮像位置に一致させ
る。この一致させる移動操作は、初期値をリード部５の
長さの1/2とし、１回移動させるごとに移動量を順次半
分にしてゆく。詳述すると、ライセンサ８を用いてリー
ド部５を撮像し、リード部５の画素数を累計する。この
時の画素数が“0"（零）よりも大きければ−Ｙ方向に、
“0"（零）よりも小さければＹ方向に上記移動量だけ移
動させる。移動したら、ライセンサ８を用いて撮像し、
同様の操作を移動量が１になるまで繰り返す。リード長
さを“L"とすれば、（log2L-1）回の移動によって、画
素数が“0"（零）以上になるリード部５の先端がライセ
ンサ８の撮像位置に設定される。
第７図は、Ｘ方向位置合せ説明図を示す。これは、第６
図Ｙ方向位置合せによってリード部５の先端がライセン
サ８の撮像位置に一致するように設定されたから、この
設定された状態からリード部５の長さの半分だけ検査対
象IC7を移動させて下側図示位置に設定（ほぼ中央に設
定）した後、ライセンサ８を用いて撮像すると、上側に
示すようなライセンサ出力信号が得られる。このライセ
ンサ出力信号の両端からリード部５までの距離を図示の
ように夫々lL，lrとする。Ｘ方向のずれ量は ΔＸ＝lL−lr ・・・（２） となる。このずれ量を補正するように−ΔＸに対応する
信号をヘット部コントローラ13に通知して検査対象IC7
を移動させる。
図Ｙ方向位置合せによってリード部５の先端がライセン
サ８の撮像位置に一致するように設定されたから、この
設定された状態からリード部５の長さの半分だけ検査対
象IC7を移動させて下側図示位置に設定（ほぼ中央に設
定）した後、ライセンサ８を用いて撮像すると、上側に
示すようなライセンサ出力信号が得られる。このライセ
ンサ出力信号の両端からリード部５までの距離を図示の
ように夫々lL，lrとする。Ｘ方向のずれ量は ΔＸ＝lL−lr ・・・（２） となる。このずれ量を補正するように−ΔＸに対応する
信号をヘット部コントローラ13に通知して検査対象IC7
を移動させる。
以上のように、θ方向、Ｙ方向、およびＸ方向の補正を
行うことにより、リード部５の先端は、ライセンサ８に
対して正確に検査位置に設定されることとなる。
行うことにより、リード部５の先端は、ライセンサ８に
対して正確に検査位置に設定されることとなる。
次に、第３図図中の曲り量の算出を、第８図を用いて
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第８図（イ）は、測長位置を示す。上側の測長位置Ａは
リード部５の先端の曲り量を測定する部分を表し、下側
の測長位置Ｂはリード部５の付根部分の基準部分を表
す。これらの測長位置Ａおよび測長位置Ｂは、第７図Ｘ
方向位置合せによってリード部５の長さのほぼ中央が、
ライセンサ８の撮像位置に設定されているから、リード
部５の長さの半分弱程度、−Ｙ方向および＋Ｙ方向に検
査対象IC7を移動させることによって夫々設定される。
リード部５の先端の曲り量を測定する部分を表し、下側
の測長位置Ｂはリード部５の付根部分の基準部分を表
す。これらの測長位置Ａおよび測長位置Ｂは、第７図Ｘ
方向位置合せによってリード部５の長さのほぼ中央が、
ライセンサ８の撮像位置に設定されているから、リード
部５の長さの半分弱程度、−Ｙ方向および＋Ｙ方向に検
査対象IC7を移動させることによって夫々設定される。
第８図（ロ）および（ハ）は、第８図（イ）測長位置Ａ
および測長位置Ｂの位置でライセンサ８を用いて夫々測
定したデータＡ（曲り量の被測定対象値）およびデータ
Ｂ（基準値、規格値）を示す。
および測長位置Ｂの位置でライセンサ８を用いて夫々測
定したデータＡ（曲り量の被測定対象値）およびデータ
Ｂ（基準値、規格値）を示す。
第８図（ニ）は、第８図（ロ）データＡと第８図（ハ）
データＢとのEOR（排他論理和）を演算した結果を示
す。これにより、基準値（リード部５の付根部分の値）
に対するリード部５の先端の曲り量が算出されることと
なる。この際、EOR演算した結果が、いずれのリード位
置（ｎ−２、ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋２・・・）にも
均一に表れている場合には、第５図を用いて説明したθ
方向位置合せが不十分であることが判明するので、再度
補正を行うようにする。
データＢとのEOR（排他論理和）を演算した結果を示
す。これにより、基準値（リード部５の付根部分の値）
に対するリード部５の先端の曲り量が算出されることと
なる。この際、EOR演算した結果が、いずれのリード位
置（ｎ−２、ｎ−１、ｎ、ｎ＋１、ｎ＋２・・・）にも
均一に表れている場合には、第５図を用いて説明したθ
方向位置合せが不十分であることが判明するので、再度
補正を行うようにする。
以上説明したように、本発明によれば、ライセンサによ
って部品のリード部を撮像した画像信号を用いて、この
リード部をライセンサの所定位置に正確に設定し、部品
のリード部の基準位置（例えば部品の付根部分）と、先
端との間の曲り量を算出した後、この算出した曲り量が
所定量以上の場合に不良と判定する構成を採用している
ため、画素数の多い１次元ライセンサを用いて部品のリ
ード位置を正確に設定して高精度にリードの曲り量を測
定し、部品のリード部の良否を正確かつ迅速に判定する
ことができる。特に、一次元ライセンサを用いているた
め、情報量が少なくなり、処理スピードが速く、しかも
一次元ライセンサにありがちな位置ずれによる曲がり量
の計測誤差がない。
って部品のリード部を撮像した画像信号を用いて、この
リード部をライセンサの所定位置に正確に設定し、部品
のリード部の基準位置（例えば部品の付根部分）と、先
端との間の曲り量を算出した後、この算出した曲り量が
所定量以上の場合に不良と判定する構成を採用している
ため、画素数の多い１次元ライセンサを用いて部品のリ
ード位置を正確に設定して高精度にリードの曲り量を測
定し、部品のリード部の良否を正確かつ迅速に判定する
ことができる。特に、一次元ライセンサを用いているた
め、情報量が少なくなり、処理スピードが速く、しかも
一次元ライセンサにありがちな位置ずれによる曲がり量
の計測誤差がない。
第１図は本発明の原理構成図、第２図は本発明の１実施
例構成図、第３図は本発明の動作説明フローチャート、
第４図はリード部品の位置ずれ説明図、第５図はθ方向
位置合せ説明図、第６図はＹ方向位置合せ説明図、第７
図はＸ方向位置合せ説明図、第８図は曲り量測定説明図
を示す。 図中、１は位置設定処理部、２は曲り量算出処理部、３
は判定部、５はリード部、７は検査対象IC、８はライセ
ンサを表す。
例構成図、第３図は本発明の動作説明フローチャート、
第４図はリード部品の位置ずれ説明図、第５図はθ方向
位置合せ説明図、第６図はＹ方向位置合せ説明図、第７
図はＸ方向位置合せ説明図、第８図は曲り量測定説明図
を示す。 図中、１は位置設定処理部、２は曲り量算出処理部、３
は判定部、５はリード部、７は検査対象IC、８はライセ
ンサを表す。
Claims (1)
- 【請求項１】部品のリードの曲り量を検査するリード曲
り検査装置において、 曲り量を検査しようとする部品のリードを、ライセンサ
の撮像位置に対して、θ方向、Ｘ方向およびＹ方向の位
置合わせをする位置設定処理部（１）と、 この位置設定処理部（１）によって設定されたリードが
部品に取りつけられている付根近傍における各リードの
基準画像と、当該リードの先端の位置における曲り画像
とに基づいて、リードの曲り量を算出する曲り量算出処
理部（２）とを備え、 この曲り量算出処理部（２）によって算出された曲り量
が所定値を超えた場合に不良として判定するように構成
したことを特徴とするリード曲り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62288910A JPH073330B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | リード曲り検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62288910A JPH073330B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | リード曲り検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01129110A JPH01129110A (ja) | 1989-05-22 |
| JPH073330B2 true JPH073330B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=17736373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62288910A Expired - Fee Related JPH073330B2 (ja) | 1987-11-16 | 1987-11-16 | リード曲り検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH073330B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4036452B2 (ja) | 2003-04-18 | 2008-01-23 | 日本テトラパック株式会社 | 包装積層材料の製造方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5662508U (ja) * | 1979-10-22 | 1981-05-27 | ||
| JPS61129512A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-17 | Mitsubishi Electric Corp | リ−ド曲がり検査装置 |
| JPS61173011U (ja) * | 1985-04-17 | 1986-10-28 |
-
1987
- 1987-11-16 JP JP62288910A patent/JPH073330B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01129110A (ja) | 1989-05-22 |
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