Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0734027B2 - Terminal device for measuring the characteristics of chip parts - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0734027B2 - Terminal device for measuring the characteristics of chip parts - Google Patents

Terminal device for measuring the characteristics of chip parts

Info

Publication number
JPH0734027B2
JPH0734027B2 JP1015836A JP1583689A JPH0734027B2 JP H0734027 B2 JPH0734027 B2 JP H0734027B2 JP 1015836 A JP1015836 A JP 1015836A JP 1583689 A JP1583689 A JP 1583689A JP H0734027 B2 JPH0734027 B2 JP H0734027B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
movable side
movable
side terminal
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1015836A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH02195274A (en
Inventor
光郎 羽室
善隆 秦
茂雄 林
秋彦 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1015836A priority Critical patent/JPH0734027B2/en
Priority to US07/467,017 priority patent/US4978913A/en
Publication of JPH02195274A publication Critical patent/JPH02195274A/en
Publication of JPH0734027B2 publication Critical patent/JPH0734027B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はチップ部品の電気的特性を測定する特性測定装
置に用いられる端子具に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial application] The present invention relates to a terminal tool used in a characteristic measuring device for measuring the electrical characteristics of a chip component.

〔従来の技術〕 小型高密度化,高信頼性,自動マウントへの適合性など
のメリットにより、チップコンデンサ,チップ抵抗など
のチップ部品が広く使用されている。この種のチップ部
品の場合、基板へ実装する前にその電気的特性を測定
し、品質検査を行う必要がある。そのため、従来では第
6図のような特性測定装置が使用されている。
[Prior Art] Chip components such as chip capacitors and chip resistors are widely used due to their advantages such as compactness, high density, high reliability, and suitability for automatic mounting. In the case of this type of chip component, it is necessary to measure its electrical characteristics and perform quality inspection before mounting it on a substrate. Therefore, conventionally, a characteristic measuring device as shown in FIG. 6 has been used.

即ち、ターンテーブル50にはチップ部品51を保持するた
めの段付の保持孔52が一定ピッチで多数個設けられてお
り、ターンテーブル50の両側には固定側端子53と可動側
端子54とが近接配置されている。上記固定側端子53およ
び可動側端子54は、ターンテーブル50の保持孔52と同一
ピッチで複数個ずつ配列されている。可動側端子54はタ
ーンテーブル50の接近離間方向へ移動可能なスライダ55
に摺動自在に支持されたピン端子よりなり、スプリング
56によってターンテーブル50方向へ突出付勢されてい
る。そして、可動側端子54の一端部にはターンテーブル
50の保持孔52の小径部52aに挿入し得るような小径な軸
部54aが形成されている。なお、可動側端子54の他端部
は配線57を介して図示しない測定機器と接続され、固定
側端子53もこの測定機器と接続されている。
That is, the turntable 50 is provided with a large number of stepped holding holes 52 for holding the chip component 51 at a constant pitch, and the fixed side terminal 53 and the movable side terminal 54 are provided on both sides of the turntable 50. They are placed close together. A plurality of the fixed side terminals 53 and the movable side terminals 54 are arranged at the same pitch as the holding holes 52 of the turntable 50. The movable terminal 54 is a slider 55 that can move in the approaching / separating direction of the turntable 50.
It consists of a pin terminal slidably supported on the
56 is urged to project toward the turntable 50. A turntable is provided at one end of the movable-side terminal 54.
A small-diameter shaft portion 54a that can be inserted into the small-diameter portion 52a of the holding hole 52 of the 50 is formed. The other end of the movable side terminal 54 is connected to a measuring device (not shown) via the wiring 57, and the fixed side terminal 53 is also connected to this measuring device.

チップ部品51の特性を測定する場合には、スライダ55を
第6図左方へ前進させ、可動側端子54の軸部54aを保持
孔52に挿入してチップ部品51の一端面に圧接させる。チ
ップ部品51は可動側端子54により押され、その他端面が
固定側端子53に接触するため、チップ部品51は測定機器
と電気的に接続されることになり、特性を測定できる。
測定を終了した後はスライダ55を第6図右方へ後退さ
せ、可動側端子54をチップ部品51から離すとともに、タ
ーンテーブル50を矢印方向へ1ピッチだけ回転させ、上
記と同様の操作で次の測定を行う。
When measuring the characteristics of the chip component 51, the slider 55 is moved to the left in FIG. 6, the shaft portion 54a of the movable side terminal 54 is inserted into the holding hole 52, and is pressed against one end surface of the chip component 51. The chip part 51 is pushed by the movable side terminal 54, and the other end surface of the chip part 51 contacts the fixed side terminal 53, so that the chip part 51 is electrically connected to the measuring device, and the characteristics can be measured.
After the measurement is completed, the slider 55 is retracted to the right in FIG. 6, the movable side terminal 54 is separated from the chip part 51, and the turntable 50 is rotated by one pitch in the arrow direction. Measure.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

上記の特性測定装置の場合には、可動側端子54がピン端
子であるため、スプリング56などの構成部品を取り付け
なければならず、部品数が多くなり、これら構成部品の
大きさのために端子間ピッチPが大きくなってしまう欠
点がある。特に、多数のチップ部品51の特性を一度に測
定するために多数の可動側端子54を円弧状に配列した場
合には、一度に測定できるチップ部品51の個数が制約を
受けることになり、測定処理能力が劣るという問題があ
る。また、可動側端子54がチップ部品51から離れた時に
チップ部品51が保持孔52から落下しないようにするた
め、保持孔52を段付形状に形成しなければならず、可動
側端子54には保持孔52の小径部52aに挿入される軸部54a
を形成しなければならない。特に、チップ部品51の小型
化に伴い保持孔52および小径部52aが小さくなり、軸部5
4aの成形が難しくなる。また、軸部54aがチップ部品51
の端面に小さな面積で圧接するため、チップ部品51を損
傷するおそれがあり、さらには可動側端子54は保持孔52
の小径部52aを通過するだけのストロークが余分に必要
となるため、測定処理速度が遅くなるという問題があ
る。
In the case of the above characteristic measuring device, since the movable side terminal 54 is a pin terminal, it is necessary to attach components such as the spring 56, the number of components is large, and the size of these components causes the terminal to be There is a drawback that the inter-pitch P becomes large. In particular, when a large number of movable side terminals 54 are arranged in an arc shape in order to measure the characteristics of a large number of chip parts 51 at a time, the number of chip parts 51 that can be measured at one time is restricted, There is a problem of poor processing capacity. Further, in order to prevent the chip part 51 from dropping from the holding hole 52 when the movable side terminal 54 separates from the chip part 51, the holding hole 52 must be formed in a stepped shape, and the movable side terminal 54 has Shaft portion 54a inserted into the small diameter portion 52a of the holding hole 52
Must be formed. Particularly, as the chip component 51 becomes smaller, the holding hole 52 and the small diameter portion 52a become smaller, and the shaft portion 5
Molding of 4a becomes difficult. Further, the shaft portion 54a is the chip component 51.
Since it comes into pressure contact with the end surface of the chip in a small area, the chip component 51 may be damaged.
Since an extra stroke for passing through the small diameter portion 52a is required, the measurement processing speed becomes slow.

そこで、本発明は上記問題点を解消したチップ部品の特
性測定用端子具を提供することにある。
Therefore, the present invention is to provide a terminal device for measuring characteristics of a chip component, which solves the above problems.

〔課題を解決するための手段〕[Means for Solving the Problems]

上記目的を達成するため、本発明は、可動テーブルの保
持孔に保持されたチップ部品の一端面に弾性的に接触
し、チップ部品の他端面を固定側端子へ押圧付勢するよ
うにした特性測定用端子具において、支持板に複数個の
電極を配列するとともに、該電極と少なくとも表面が導
電性を有する板ばねよりなる複数の可動側端子とが接続
するように、上記可動側端子を支持板に固定したことを
特徴とするものである。
In order to achieve the above object, the present invention is characterized in that one end surface of a chip component held in a holding hole of a movable table is elastically contacted and the other end surface of the chip component is pressed and biased to a fixed side terminal. In the measuring terminal device, a plurality of electrodes are arranged on a support plate, and the movable side terminals are supported so that the electrodes are connected to the plurality of movable side terminals at least having a conductive leaf spring. It is characterized by being fixed to a plate.

〔実施例〕〔Example〕

第1図〜第3図は本発明を使用した特性測定装置の第1
実施例を示す。
1 to 3 show a first characteristic measuring device using the present invention.
An example is shown.

支持台1には一定回転角度ごとに間欠動作可能なモータ
2が固定されており、その回転軸3の先端には絶縁物か
らなる円板状のターンテーブル4が固定されている。タ
ーンテーブル4の外周部近傍には複数の保持孔5が一定
ピッチで円弧状に配列形成されており、この保持孔5は
ターンテーブル4の表裏面に貫通する貫通孔で構成され
ている。上記保持孔5にはそれぞれチップ部品6が貫通
保持されており、チップ部品6の端面を含む両端部に形
成された電極6a,6bが保持孔5から突出している。
A motor 2 capable of intermittent operation at fixed rotation angles is fixed to the support base 1, and a disc-shaped turntable 4 made of an insulating material is fixed to the tip of a rotation shaft 3 thereof. A plurality of holding holes 5 are formed in an arc shape at a constant pitch in the vicinity of the outer peripheral portion of the turntable 4, and the holding holes 5 are formed as through holes that penetrate the front and back surfaces of the turntable 4. A chip component 6 is penetratingly held in each of the holding holes 5, and electrodes 6a and 6b formed at both ends including the end surface of the chip component 6 project from the holding hole 5.

ターンテーブル4の片側には固定側のプリント基板7が
配置されており、この固定側プリント基板7はスペーサ
8を介して固定台9に固定されている。固定側プリント
基板7は、第1図に示すようにガラスエポキシ系樹脂等
の絶縁基板10の表面に保持孔5に対応する複数の固定側
端子11を円弧状に配列形成するとともに、各端子11から
外部接続用スルーホール12までの間をパターン配線13で
接続したものである。
A fixed side printed circuit board 7 is arranged on one side of the turntable 4, and the fixed side printed circuit board 7 is fixed to a fixed base 9 via a spacer 8. As shown in FIG. 1, the fixed-side printed circuit board 7 has a plurality of fixed-side terminals 11 corresponding to the holding holes 5 arranged in an arc on the surface of an insulating substrate 10 made of glass epoxy resin or the like, and each terminal 11 To a through hole 12 for external connection are connected by a pattern wiring 13.

ターンテーブル4の他側には本発明の特性測定用端子具
14が配置されており、この端子具14は樹脂製端子台15で
保持された複数本の可動側端子16と、支持板であるプリ
ント基板17とで構成されている。上記可動側端子16は表
面に導電メッキを施した短冊状の金属製板ばねで構成さ
れ、複数本(図面では4本)ずつ非接触状態で端子台15
に扇形に固定されている。可動側端子16の製造方法は、
第4図に示すように、金属板から可動側端子16をリード
フレーム41で連結した状態にプレス成形し、各可動側端
子16間にスリット42を形成しておく。このスリット42
は、チップ部品6が移動する軌跡に沿う部分が幅狭状に
形成され、ターンテーブル4からのチップ部品6の落下
や、チップ部品6の引っ掛かりを防止している。そし
て、第4図破線で示すように端子台15を樹脂モールドし
た後、一点鎖線で示す位置でカットすればよい。なお、
両側の可動側端子16およびこれに対応する端子台15に
は、予めネジ挿通用の孔43が形成されている。
On the other side of the turntable 4, the characteristic measuring terminal device of the present invention is provided.
14 are arranged, and this terminal tool 14 is composed of a plurality of movable-side terminals 16 held by a resin terminal block 15 and a printed board 17 which is a support plate. The movable terminals 16 are composed of strip-shaped metal leaf springs having conductive plating on their surfaces, and a plurality of terminals (4 in the drawing) are not in contact with each other and the terminal block 15 is provided.
It is fixed in a fan shape. The manufacturing method of the movable side terminal 16 is
As shown in FIG. 4, the movable side terminals 16 are press-molded from a metal plate in a state of being connected by the lead frame 41, and the slits 42 are formed between the movable side terminals 16. This slit 42
Has a narrow portion along the locus along which the chip component 6 moves, and prevents the chip component 6 from falling off the turntable 4 and being caught. Then, after the terminal block 15 is resin-molded as shown by the broken line in FIG. 4, it may be cut at the position shown by the alternate long and short dash line. In addition,
Holes 43 for screw insertion are formed in advance in the movable side terminals 16 on both sides and the terminal block 15 corresponding thereto.

一方、上記プリント基板17はガラスエポキシ系樹脂等の
絶縁基板18の表面に複数の電極であるコンタクトピン19
を円弧状に配列固定し、コンタクトピン19から外部接続
用スルーホール20までの間をパターン配線21で接続した
ものである。このプリント基板17の周縁部は、支持台1
に固定されたスペーサ44にボルト45によって固定されて
いる。上記端子台15をネジ22によってプリント基板17に
固定すると、可動側端子16の外周部がコンタクトピン19
に圧接し、可動側端子16とコンタクトピン19とが電気的
に接続される。なお、本実施例では4個の端子台15をプ
リント基板17に固定して16本の可動側端子16を形成して
いるが、1個の端子台15に取り付けられる端子16の数に
よってプリント基板17に取り付けられる端子台15の数は
適宜変更し得る。また、端子16の数も測定する特性に応
じて適宜変更し得る。上記可動側端子16はターンテーブ
ル4の保持孔5に保持されたチップ部品6の一端電極6b
に弾性的に接触可能であり、この接触圧によりチップ部
品6の他端電極6aを固定側端子11に押し付けることがで
きる。
On the other hand, the printed board 17 has contact pins 19 which are a plurality of electrodes on the surface of an insulating board 18 made of glass epoxy resin or the like.
Are arranged and fixed in an arc shape, and the contact pins 19 to the through holes 20 for external connection are connected by the pattern wiring 21. The peripheral portion of the printed circuit board 17 has a support 1
It is fixed to the spacer 44 fixed to the bolt with bolts 45. When the terminal block 15 is fixed to the printed board 17 with the screw 22, the outer periphery of the movable side terminal 16 is contact pin 19.
Then, the movable side terminal 16 and the contact pin 19 are electrically connected to each other. In this embodiment, four terminal blocks 15 are fixed to the printed circuit board 17 to form 16 movable terminals 16. However, the printed circuit board may be formed depending on the number of terminals 16 attached to one terminal block 15. The number of terminal blocks 15 attached to 17 can be changed appropriately. Also, the number of terminals 16 can be changed appropriately according to the characteristics to be measured. The movable side terminal 16 is one end electrode 6b of the chip component 6 held in the holding hole 5 of the turntable 4.
Can be elastically contacted with the fixed terminal 11 by pressing the other end electrode 6a of the chip component 6 with this contact pressure.

なお、可動側端子16のばね力が不足している場合には、
スペーサ44に補強用のばね片46を固定し、ばね片46の先
端部の絶縁性突起46aで可動側端子16の背後を支持する
ようにしてもよい。
In addition, when the spring force of the movable side terminal 16 is insufficient,
The reinforcing spring piece 46 may be fixed to the spacer 44, and the back of the movable side terminal 16 may be supported by the insulating protrusion 46a at the tip of the spring piece 46.

上記固定側プリント基板7およびプリント基板17に設け
られたスルーホール12,20にはコネクタ23が接続可能で
あり、コネクタ23は図示しない複数種類の測定機器の入
出力部と接続されている。つまり、対向する固定側端子
11と可動側端子16の各対がそれぞれ測定機器と接続され
ており、ターンテーブル4を1ピッチずつ回転させるこ
とにより、1個のチップ部品6に対して多種類の特性を
測定可能である。各端子の機能としては、例えばC測定
用端子、電圧印加用端子、IR測定用端子等がある。
A connector 23 can be connected to the through holes 12 and 20 provided on the fixed-side printed circuit board 7 and the printed circuit board 17, and the connector 23 is connected to input / output portions of a plurality of types of measuring equipment (not shown). That is, the fixed side terminals that face each other
Each pair of 11 and movable-side terminal 16 is connected to a measuring device, and by rotating the turntable 4 by one pitch, it is possible to measure various kinds of characteristics with respect to one chip component 6. Functions of each terminal include, for example, a C measurement terminal, a voltage application terminal, an IR measurement terminal, and the like.

上記可動側端子16の内周端部には正面視C字形のフック
24が係合しており、このフック24はフック取付板25を介
して2本のスライド軸26と連結されている。上記スライ
ド軸26は支持台1に取り付けたスライド軸受27によって
前後に摺動自在に案内されており、両スライド軸26の後
端部は第3図のようにステー28によって連結されてい
る。ステー28の両端部に固定したボルト29と上記スライ
ド軸受27に固定したボルト30との間には引張スプリング
31が張設されている。ステー28の中央部にはカムフォロ
ワ32が回転自在に取り付けられ、このカムフォロワ32は
上記引張スプリング31のばね力によりカム33に接触して
いる。
A hook having a C-shape when viewed from the front is provided on the inner peripheral end of the movable terminal 16.
24 is engaged, and the hook 24 is connected to the two slide shafts 26 via the hook mounting plate 25. The slide shaft 26 is slidably guided back and forth by a slide bearing 27 attached to the support 1, and the rear ends of both slide shafts 26 are connected by a stay 28 as shown in FIG. A tension spring is placed between the bolt 29 fixed to both ends of the stay 28 and the bolt 30 fixed to the slide bearing 27.
31 is stretched. A cam follower 32 is rotatably attached to the center of the stay 28, and the cam follower 32 is in contact with the cam 33 by the spring force of the tension spring 31.

上記カム33が回転してステー28が引張スプリング31に抗
して後退すると、フック24もステー28と一体に後退す
る。これにより、可動側端子16は撓められてチップ部品
6の端面から離れるため、この状態でターンテーブル4
を容易に回転させることができる。この時、各可動側端
子16の間には僅かの隙間しかないので、チップ部品6が
可動側端子16間に噛み込むことがなく、かつフック24の
移動ストロークは僅かであるから、チップ部品6が保持
孔5から落下することもない。カム33が回転してステー
28が前進すると、引張スプリング31によりフック24は第
2図左方向へ前進し、このストローク途中で可動側端子
16がチップ部品6に接触する。このようにチップ部品6
と可動側端子16および固定側端子11との接触位置を順次
変化させることにより、多種類の特性測定を行うことが
できる。
When the cam 33 rotates and the stay 28 moves backward against the tension spring 31, the hook 24 also moves backward together with the stay 28. As a result, the movable-side terminal 16 is bent and separated from the end surface of the chip component 6, so that in this state the turntable 4
Can be easily rotated. At this time, since there is only a small gap between the movable side terminals 16, the chip part 6 does not get caught between the movable side terminals 16 and the moving stroke of the hook 24 is small. Does not fall from the holding hole 5. The cam 33 rotates and stays
When 28 moves forward, the tension spring 31 moves the hook 24 leftward in FIG.
16 contacts the chip component 6. Chip parts 6
By sequentially changing the contact positions of the movable side terminal 16 and the fixed side terminal 11 with each other, it is possible to measure various kinds of characteristics.

ターンテーブル4の最下部の保持孔5aには第1図のよう
にチップ部品供給フィーダ34から1個ずつチップ部品6
が供給されるようになっており、上記保持孔5aの回転方
向前方側の複数(例えば6個)の保持孔5bには、選別し
て排出を行う選別機構35が配置されている。この選別機
構35は、第2図のようにターンテーブル4の保持孔5に
沿って近接配置された円弧状取付枠36と、この取付枠36
に貫通固定された複数本の排出管37と、各排出管37に接
続されたチューブ38とを備え、各チューブ38の先端は別
個の収容箱39にそれぞれ挿入されている。一方、上記排
出管37と対向するターンテーブル4の他側には複数本の
ノズル40が近接しており、各ノズル40より空気を吸引ま
たは噴出することにより、チップ部品6をそれぞれの特
性に応じて選別して別個の収納箱39に排出できるように
なっている。例えば、ターンテーブル4の所定の保持孔
5に保持されたチップ部品6を収納箱39に排出したい場
合には、対応する位置のノズル40から空気を噴出し、チ
ップ部品6を排出管37からチューブ38を通って収納箱39
に排出すればよい。また、保持孔5のチップ部品6を収
納箱39に排出する必要がない場合には、保持孔5に対応
するノズル40より空気を吸引し、チップ部品6が誤った
収納箱39へ排出されないようにすればよい。
In the lowermost holding hole 5a of the turntable 4, as shown in FIG. 1, one chip component 6 is supplied from the chip component supply feeder 34.
A plurality of (for example, six) holding holes 5b on the front side in the rotation direction of the holding holes 5a are provided with a sorting mechanism 35 for sorting and discharging. The sorting mechanism 35 includes an arc-shaped mounting frame 36 that is arranged in proximity along the holding hole 5 of the turntable 4 as shown in FIG.
A plurality of discharge pipes 37 that are fixed in a penetrating manner to each other and a tube 38 connected to each discharge pipe 37 are provided, and the tips of the tubes 38 are inserted into separate housing boxes 39, respectively. On the other hand, a plurality of nozzles 40 are arranged close to the other side of the turntable 4 facing the discharge pipe 37. By sucking or ejecting air from each nozzle 40, the chip component 6 can be adjusted according to its characteristics. It can be sorted out and discharged into a separate storage box 39. For example, when the chip component 6 held in the predetermined holding hole 5 of the turntable 4 is to be discharged into the storage box 39, air is jetted from the nozzle 40 at the corresponding position and the chip component 6 is discharged from the discharge pipe 37 into a tube. 38 through storage box 39
It can be discharged to. Further, when it is not necessary to discharge the chip component 6 in the holding hole 5 into the storage box 39, air is sucked from the nozzle 40 corresponding to the holding hole 5 so that the chip component 6 is not discharged into the wrong storage box 39. You can do this.

本実施例によれば、可動側端子16の内側端部をフック24
によって撓めることにより、可動側端子16をチップ部品
6に対して接触・離間させるようにしたので、可動側端
子16が変位してもパターン配線21やコネクタ23等は動か
ず、浮遊容量やインピーダンスの変化が少なく安定した
測定が行なえる利点がある。また、可動側端子16が金属
製板ばねであるため、耐久性が格段に優れており、ネジ
22を取り外すことにより可動側端子16のみの交換も容易
である。また、可動側端子16のチップ部品6との接触面
のメッキが摩耗した場合には、可動側端子16をプリント
基板17に裏返しに取り付ければ、再度使用できるという
利点もある。
According to the present embodiment, the inner end of the movable terminal 16 is hooked by the hook 24.
Since the movable side terminal 16 is brought into contact with and separated from the chip component 6 by being bent by, the pattern wiring 21 and the connector 23 do not move even if the movable side terminal 16 is displaced, and the stray capacitance or There is an advantage that impedance changes are small and stable measurement can be performed. Also, since the movable side terminal 16 is a metal leaf spring, it has outstanding durability, and
It is easy to replace only the movable side terminal 16 by removing 22. Further, when the plating of the contact surface of the movable side terminal 16 with the chip component 6 is worn, there is an advantage that the movable side terminal 16 can be reused by attaching it to the printed board 17 upside down.

第5図は本発明の第2実施例を示し、チップ部品6と可
動側端子16とを接離させるために、可動側端子16を含む
プリント基板17全体を移動させるものである。この場合
には、フック取付板25にフック24だけでなく可動側端子
16を支持したプリント基板17も固定し、フック24で可動
側端子16の内周端部を若干撓めた状態に保持してある。
この場合も、可動側端子16の弾性不足を補うために、必
要により可動側端子16の背後に板ばね46を配置してもよ
い。なお、この実施例の場合は、フック24は必須のもの
ではない。
FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention, in which the entire printed circuit board 17 including the movable side terminal 16 is moved in order to bring the chip part 6 and the movable side terminal 16 into contact with each other. In this case, not only the hook 24 but the movable terminal
The printed circuit board 17 supporting the 16 is also fixed, and the inner peripheral end of the movable terminal 16 is held by the hook 24 in a slightly bent state.
Also in this case, the leaf spring 46 may be arranged behind the movable side terminal 16 in order to compensate for the lack of elasticity of the movable side terminal 16. Note that the hook 24 is not essential in this embodiment.

この実施例の場合には、第1実施例に比べて可動側端子
16の撓み量を少なくできるので、可動側端子16の耐久性
を向上させることができる利点がある。
In the case of this embodiment, compared with the first embodiment, the movable side terminal
Since the amount of bending of 16 can be reduced, there is an advantage that the durability of the movable side terminal 16 can be improved.

なお、本発明の端子具は上記各実施例のものに限定され
るものではなく、要旨を変更しない範囲で適宜変更し得
ることは言うまでもない。
It is needless to say that the terminal device of the present invention is not limited to those of the above-described embodiments, and can be changed as appropriate without departing from the scope of the invention.

例えば、可動側端子16は、端子台15に保持された後、支
持板であるプリント基板17に固定するものに限らず、直
接支持板に取り付けられるものであってもよい。
For example, the movable-side terminal 16 is not limited to being fixed to the printed board 17 that is a support plate after being held by the terminal block 15, but may be directly attached to the support plate.

支持板に形成される電極は、コンタクトピンに限るもの
ではなく、印刷等により形成されるものでもよい。この
場合は、可動側端子を直接この電極に半田等を用いて接
続固定することができる。
The electrodes formed on the support plate are not limited to the contact pins, but may be formed by printing or the like. In this case, the movable terminal can be directly connected and fixed to this electrode by using solder or the like.

支持板であるプリント基板の電極と測定機器との接続
は、プリント基板上に形成されたパターン配線を介して
ではなく、直接リード線等によって行ってもよい。
The connection between the electrodes of the printed circuit board, which is the support plate, and the measuring device may be made directly by lead wires or the like, not by way of the pattern wiring formed on the printed circuit board.

また、支持板はプリント基板に限定するものではない。The support plate is not limited to the printed circuit board.

可動側端子は、少なくとも表面に導電性を有する板ばね
であればよく、必ずしも金属からなるものに限らない。
The movable side terminal may be a leaf spring having conductivity on at least the surface, and is not necessarily made of metal.

さらには、可動側端子は、支持板上に円弧状に配列する
ものに限らず、直線状に配列したものでもよい。この場
合は、可動テーブルも直線移動型のものとする必要があ
る。
Further, the movable side terminals are not limited to being arranged in a circular arc shape on the support plate, but may be linearly arranged. In this case, the movable table also needs to be a linear movement type.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の説明で明らかなように、本発明によれば可動側端
子を少なくとも表面が導電性を有する板ばねで構成し、
可動側端子自身のばね力によりチップ部品の端面に圧接
させるようにしたので、従来のピン端子方式に比べて構
成部品を大幅に削減でき、多数の可動側端子を高密度に
配列できる。そのため、従来に比べて測定処理能力が格
段に向上する。
As is clear from the above description, according to the present invention, at least the surface of the movable-side terminal is formed of a leaf spring having conductivity,
Since the movable side terminals are pressed against the end faces of the chip parts by the spring force of the movable side terminals, the number of constituent parts can be significantly reduced as compared with the conventional pin terminal method, and a large number of movable side terminals can be arranged at high density. Therefore, the measurement processing capability is remarkably improved as compared with the conventional case.

また、チップ部品の端面に可動側端子を面接触させるこ
とができるので、チップ部品と可動側端子との接触時に
チップ部品に与える衝撃が小さく、チップ部品の損傷が
少なくなる。
Further, since the movable side terminal can be brought into surface contact with the end surface of the chip part, the impact applied to the chip part at the time of contact between the chip part and the movable side terminal is small, and damage to the chip part is reduced.

さらに、可動側端子を細い隙間を間にして互いに近接配
置できるので、可動テーブルの保持孔が単なる貫通孔で
もチップ部品が保持孔から脱落することがない。つま
り、可動テーブルの保持孔にチップ部品をその両端面が
露出した状態に保持しておけばよく、可動側端子の移動
ストロークを従来に比べて小さくできる。したがって、
測定処理速度を飛躍的に向上させることができるという
利点がある。
Further, since the movable terminals can be arranged close to each other with a small gap therebetween, even if the holding hole of the movable table is simply a through hole, the chip component does not drop out from the holding hole. That is, it is sufficient to hold the chip component in the holding hole of the movable table in a state where both end surfaces of the chip component are exposed, and the moving stroke of the movable side terminal can be made smaller than in the conventional case. Therefore,
There is an advantage that the measurement processing speed can be dramatically improved.

また、可動側端子と支持板とを別体で構成してあるの
で、可動側端子が摩耗しても可動側端子のみを簡単に交
換できるとともに、可動側端子から外部の測定機器への
接続配線をプリント基板のパターン配線で構成する場合
には、多数の配線を効率よく配置でき、信頼性の高い端
子具を実現できる。
Also, since the movable side terminal and the support plate are configured separately, only the movable side terminal can be easily replaced even if the movable side terminal wears, and the connection wiring from the movable side terminal to external measuring equipment is also possible. When the wiring pattern is formed by the pattern wiring of the printed circuit board, a large number of wirings can be efficiently arranged and a highly reliable terminal tool can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明にかかる特性測定用端子具の第1実施例
を用いた測定装置の要部斜視図、第2図はその一部断面
側面図、第3図は第2図のIII−III線断面図、第4図は
可動側端子の製造途中を示し正面図、第5図は第2実施
例の要部側面図、第6図は従来例の断面図である。 4……ターンテーブル(可動テーブル)、5……保持
孔、6……チップ部品、11……固定側端子、14……特性
測定用端子具、15……端子台、16……可動側端子、17…
…プリント基板(支持板)、19……コンタクトピン(電
極)、20……スルーホール(外部接続部)、21……パタ
ーン配線、23……コネクタ、24……フック。
FIG. 1 is a perspective view of a main part of a measuring device using a first embodiment of a characteristic measuring terminal device according to the present invention, FIG. 2 is a partial sectional side view thereof, and FIG. 3 is III- of FIG. A sectional view taken along line III, FIG. 4 is a front view showing the middle of manufacture of the movable side terminal, FIG. 5 is a side view of a main part of the second embodiment, and FIG. 6 is a sectional view of a conventional example. 4 ... Turntable (movable table), 5 ... Holding hole, 6 ... Chip parts, 11 ... Fixed side terminal, 14 ... Characteristic measuring terminal device, 15 ... Terminal block, 16 ... Movable side terminal , 17 ...
… Printed circuit board (support plate), 19 …… contact pin (electrode), 20 …… through hole (external connection part), 21 …… pattern wiring, 23 …… connector, 24 …… hook.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】可動テーブルの保持孔に保持されたチップ
部品の一端面に弾性的に接触し、チップ部品の他端面を
固定側端子へ押圧付勢するようにした特性測定用端子具
において、 支持板に複数個の電極を配列するとともに、該電極と少
なくとも表面が導電性を有する板ばねよりなる複数の可
動側端子とが接続するように、上記可動側端子を支持板
に固定したことを特徴とするチップ部品の特性測定用端
子具。
1. A characteristic measuring terminal device which elastically contacts one end surface of a chip component held in a holding hole of a movable table and presses and urges the other end surface of the chip component to a fixed side terminal. A plurality of electrodes are arranged on the support plate, and the movable side terminals are fixed to the support plate so that the electrodes are connected to the plurality of movable side terminals at least having a surface spring having conductivity. A terminal tool for characteristic measurement of the characteristic chip parts.
JP1015836A 1989-01-24 1989-01-24 Terminal device for measuring the characteristics of chip parts Expired - Lifetime JPH0734027B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1015836A JPH0734027B2 (en) 1989-01-24 1989-01-24 Terminal device for measuring the characteristics of chip parts
US07/467,017 US4978913A (en) 1989-01-24 1990-01-18 Apparatus for measuring characteristics of chip electronic components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1015836A JPH0734027B2 (en) 1989-01-24 1989-01-24 Terminal device for measuring the characteristics of chip parts

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02195274A JPH02195274A (en) 1990-08-01
JPH0734027B2 true JPH0734027B2 (en) 1995-04-12

Family

ID=11899922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1015836A Expired - Lifetime JPH0734027B2 (en) 1989-01-24 1989-01-24 Terminal device for measuring the characteristics of chip parts

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0734027B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007033094A (en) * 2005-07-25 2007-02-08 Murata Mfg Co Ltd Electrical characteristic measuring instrument for chip-form electronic component

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02195274A (en) 1990-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6540065B2 (en) Transferring apparatus for chips and method of use
US20020197891A1 (en) Socket for electrical parts
US7592823B2 (en) Electrical component handler having self-cleaning lower contact
US20080309363A1 (en) Probe assembly with wire probes
US4978913A (en) Apparatus for measuring characteristics of chip electronic components
JP2008224681A (en) Device for measuring electronic component characteristic
KR100402168B1 (en) Devices for testing of electronic devices
JPH0734027B2 (en) Terminal device for measuring the characteristics of chip parts
JPH0734025B2 (en) Device for measuring the characteristics of chip parts
JPH0734026B2 (en) Terminal device for measuring the characteristics of chip parts
TWI798803B (en) Electronic component testing device and testing method
CN115728567B (en) Electronic component testing apparatus and testing methods
JPH05126851A (en) Inspecting apparatus of semiconductor device
JP4161761B2 (en) Electronic component characteristic measuring device
JP2002164700A (en) Measuring-terminal-fitted sucking nozzle and attaching method using it
JPH05218149A (en) Probe device
CN114460435A (en) Microelectronic integrated circuit board pin voltage detection device
KR900002414B1 (en) Manufacturing method of small electric parts
KR20220029464A (en) Device with roller electrode contactor for inspecting chip electronic component
CN101497173A (en) Grinding apparatus, circuit board substrate test apparatus with grinding component and manufacturing method
JP4660864B2 (en) Continuity testing device
KR20020007123A (en) Apparatus for inspecting surface mounted chip
JP2004093215A (en) Measurement device
CN224205511U (en) A PCB board terminal assembly pin device
JPH03268831A (en) Terminal cutting machine

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090412

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090412

Year of fee payment: 14