JPH0738485B2 - Optical integrated circuit - Google Patents
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- JPH0738485B2 JPH0738485B2 JP61176920A JP17692086A JPH0738485B2 JP H0738485 B2 JPH0738485 B2 JP H0738485B2 JP 61176920 A JP61176920 A JP 61176920A JP 17692086 A JP17692086 A JP 17692086A JP H0738485 B2 JPH0738485 B2 JP H0738485B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体レーザ,発光ダイオード,ホトダイオー
ド等の能動光素子と光導波路を一体化した光集積回路の
構造に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure of an optical integrated circuit in which an active optical element such as a semiconductor laser, a light emitting diode, or a photodiode and an optical waveguide are integrated.
従来の技術 能動光素子と光導波路とを一体化した光集積回路の構造
については、従来より種々のものが提案されている。こ
のなかで半導体レーザと光導波路を集積化した構造とし
て、例えば、Y.TOHMORI他“Low−threshold−current C
W operation of 1.5μm GaInAsP/InP bundle−integrat
ed−guide distributed−Bragg−reflector(BIG−DB
R)lasers,"Electron.Lett(エレクトロンレター).,vo
l.21,pp.743−745(1985)に示されている第3図のよう
なものがある。この場合、p型InP基板1上にInGaAsP活
性層2,n型InP分離層3,n型InGaAsP光導波層4,n型InP閉込
め層5よりなる半導体レーザ6と光導波層4,閉込め層5
のみよりなる光導波路7が形成されているが、両者はと
もにn型InP層8およびp型InP層9によって埋込まれて
いる。なお、光導波路7の光導波層4と接する基板1上
にはDBR構造とするためのグレーティング10が形成され
ており、基板1の裏面にはAu−Zn電極11が、結晶成長表
面にはAu−Sn電極12が形成されている。Au−Sn電極12が
半導体レーザ6の閉込め層5のみと接触するようにそれ
以外の結晶成長層表面は絶縁膜13で被われている。2. Description of the Related Art Conventionally, various structures have been proposed for an optical integrated circuit in which an active optical element and an optical waveguide are integrated. Among these, as a structure in which a semiconductor laser and an optical waveguide are integrated, for example, Y.TOHMORI et al. “Low-threshold-current C
W operation of 1.5 μm GaInAsP / InP bundle-integrat
ed-guide distributed-Bragg-reflector (BIG-DB
R) lasers, "Electron.Lett., Vo
l.21, pp.743-745 (1985). In this case, the semiconductor laser 6 including the InGaAsP active layer 2, the n-type InP isolation layer 3, the n-type InGaAsP optical waveguide layer 4, and the n-type InP confinement layer 5 on the p-type InP substrate 1 and the optical waveguide layer 4, the confinement layer Layer 5
Although the optical waveguide 7 is formed of only the both, both are buried by the n-type InP layer 8 and the p-type InP layer 9. A grating 10 for forming a DBR structure is formed on the substrate 1 in contact with the optical waveguide layer 4 of the optical waveguide 7, an Au-Zn electrode 11 is provided on the back surface of the substrate 1, and an Au is provided on the crystal growth surface. -Sn electrode 12 is formed. The surface of the other crystal growth layer is covered with an insulating film 13 so that the Au—Sn electrode 12 contacts only the confinement layer 5 of the semiconductor laser 6.
発明が解決しようとする問題点 このような従来の構造では、(1)半導体レーザと光導
波路の光学的結合効率が非常に高い(理論上は99%)、
(2)半導体レーザと光導波路はともに横方向の光学的
閉込め機構を有しているという利点があるものの、
(3)光導波路の導波損失が大きい、(4)光導波路を
形成する位置が半導体レーザの活性層ストライプの延長
線上に限定されている、(5)半導体レーザと光導波路
を形成するための結晶成長の他に両者を埋込み構造とす
るための結晶成長が必要であるという欠点を有してい
る。Problems to be Solved by the Invention In such a conventional structure, (1) the optical coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical waveguide is very high (theoretically 99%),
(2) Although both the semiconductor laser and the optical waveguide have the advantage of having a lateral optical confinement mechanism,
(3) The waveguide loss of the optical waveguide is large, (4) the position where the optical waveguide is formed is limited to the extension line of the active layer stripe of the semiconductor laser, (5) for forming the semiconductor laser and the optical waveguide In addition to crystal growth, it has a drawback that crystal growth is required to make both of them a buried structure.
本発明は上記(1),(2)の利点は活かしたままで、
(3)〜(5)の問題点を解決しようとするもので、以
下のような特長を有する能動光素子と光導波路の一体化
構造を提供しようとするものである。The present invention retains the advantages of (1) and (2) above,
The present invention is intended to solve the problems (3) to (5), and to provide an integrated structure of an active optical element and an optical waveguide having the following features.
(1)能動光素子と光導波路の結合効率が高い。(1) The coupling efficiency between the active optical element and the optical waveguide is high.
(2)光導波路は横方向にも光学的閉込め機構を有して
いる。(2) The optical waveguide also has an optical confinement mechanism in the lateral direction.
(3)光導波路の導波損失が少ない。(3) The waveguide loss of the optical waveguide is small.
(4)能動光素子と光導波路を任意の位置に配置でき
る。(4) The active optical element and the optical waveguide can be arranged at arbitrary positions.
(5)製造が容易である。(5) Manufacture is easy.
問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するために、化合物半導体基
板と、前記基板上の一部領域に形成された活性層を含む
能動領域と、前記基板上の前記能動領域以外の領域と前
記能動領域にまたがって形成された前記活性層よりも大
きなバンド・ギャップを有する光導波層と、前記光導波
層上に形成された前記光導波層よりも大きなバンド・ギ
ャップを有するストライプ状の装荷層とを具備した構造
で光集積回路を構成するというものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention provides a compound semiconductor substrate, an active region including an active layer formed in a partial region on the substrate, and the active region on the substrate. An optical waveguide layer having a band gap larger than that of the active layer formed over the region other than the region and the active region, and a band gap larger than that of the optical waveguide layer formed on the optical waveguide layer. An optical integrated circuit is configured with a structure including the striped loading layer.
作用 本発明の構造は、能動領域とそれ以外の領域の両方の上
に光導波層と装荷層を形成した後、装荷層をストライプ
状にエッチング加工することによって得られ、能動領域
はその上の光導波層,装荷層とともに能動光素子(例え
ば半導体レーザ)となり、能動領域以外の領域上に形成
された光導波層と装荷層が光導波路となる。本構造で
は、まず能動領域上にも光導波層が形成されていること
から能動光素子と光導波路の結合効率が高くなる。次に
光導波路は装荷型光導波路となるので横方向にも光学的
閉込めがなされる上に導波損失も少ない。さらに、装荷
層をエッチングする際のマスク形状で能動光素子と光導
波路の位置が決定されるので、両者の位置関係を自由に
設定でき、かつその製造工程も簡単である。The structure of the present invention is obtained by forming the optical waveguide layer and the loading layer on both the active region and the other region and then etching the loading layer into a stripe shape, and the active region is formed on the etching region. Together with the optical waveguide layer and the loading layer, it becomes an active optical element (for example, a semiconductor laser), and the optical waveguide layer and the loading layer formed on the region other than the active region become the optical waveguide. In this structure, since the optical waveguide layer is also formed on the active region, the coupling efficiency between the active optical element and the optical waveguide is increased. Next, since the optical waveguide becomes a loading type optical waveguide, optical confinement is performed in the lateral direction and the waveguide loss is small. Furthermore, since the positions of the active optical element and the optical waveguide are determined by the mask shape when the loading layer is etched, the positional relationship between the two can be set freely and the manufacturing process thereof is simple.
実施例 第1図は本発明の光集積回路の一実施例を示す斜視図で
ある。第1図において、p型InP基板14上の一部領域にI
nGaAsP活性層15(バンド・ギャップ波長λg=1.3μ
m)およびn−InP分離層16が積層されて能動領域とな
っている。この能動領域上も含めて基板14上全域にn型
InGaAsP光導波層17(λg=1.1μm)が積層されてお
り、さらにその上にストライプ状のn−InP装荷層18が
形成されている。装荷層18および光導波層17の表面に露
出している部分は絶縁膜19で被われているが、能動領域
上にある装荷層18の頂上部のみ絶縁膜19は無く、Au−Sn
電極20と接している。また基板14の裏面全面にはAu−Zn
電極21が形成されている。Embodiment FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the optical integrated circuit of the present invention. In FIG. 1, a part of the region on the p-type InP substrate 14 is I
nGaAsP active layer 15 (bandgap wavelength λg = 1.3μ
m) and n-InP isolation layer 16 are laminated to form an active region. N-type on the entire surface of the substrate 14 including the active area
An InGaAsP optical waveguide layer 17 (λg = 1.1 μm) is laminated, and a striped n-InP loading layer 18 is further formed thereon. The exposed portions of the loading layer 18 and the optical waveguide layer 17 are covered with an insulating film 19, but there is no insulating film 19 only on the top of the loading layer 18 on the active region.
It is in contact with the electrode 20. In addition, the entire back surface of the substrate 14 is Au-Zn.
The electrode 21 is formed.
以上の構造で能動領域を含む部分が半導体レーザ22であ
り、それ以外の部分が光導波路23である。半導体レーザ
22はAu−Sn電極20から装荷層18へ電流注入することで動
作する。注入された電流は装荷層18直下にある活性層15
のストライプ領域で再結合し発光するが、このストライ
プ領域はその上に装荷層18があるため実効屈折率が高く
なっており光は横方向にも閉込められる。ここで、装荷
層18と活性層15の間に光導波層17と分離層16が介在して
いるが、この間での電流の横拡がりは非常に小さい。逆
に、本構造は活性層が直接装荷層に接している構造に比
べて表面再結合による無効電流が抑圧されるという利点
を有している。また、光導波路23においても装荷層18直
下の光導波層17のストライプ領域の実効屈折率が高くな
ることから、このストライプ領域に光が閉込められる。In the above structure, the portion including the active region is the semiconductor laser 22, and the other portion is the optical waveguide 23. Semiconductor laser
22 operates by injecting a current from the Au—Sn electrode 20 to the loading layer 18. The injected current flows into the active layer 15 immediately below the loading layer 18.
The light is recombined and emits light in the stripe region of, but since the stripe region has the loading layer 18 thereon, the effective refractive index is high, and the light is also confined in the lateral direction. Here, the optical waveguide layer 17 and the separation layer 16 are interposed between the loading layer 18 and the active layer 15, but the lateral spread of the current between them is very small. On the contrary, this structure has an advantage that the reactive current due to surface recombination is suppressed as compared with the structure in which the active layer is in direct contact with the loading layer. Further, also in the optical waveguide 23, since the effective refractive index of the stripe region of the optical waveguide layer 17 immediately below the loading layer 18 becomes high, light is confined in this stripe region.
本実施例は半導体レーザ22と光導波路23がその光軸方向
に集積化された構造になっており、モノリシック外部共
振器レーザとしての応用が可能である。すなわち、光導
波路を外部共振器とすることでスペクトル線幅が狭いレ
ーザ発振光を得ることができる。ここで、光導波路が半
導体レーザに比べて長い程、また光導波路から半導体レ
ーザへ帰還される光の量が多い程スペクトル線幅を狭く
することができる。従って、半導体レーザと光導波路の
結合効率が高いことと光導波路の導波損失が少ないこと
が要求される。本実施例は半導体レーザと光導波路の光
学的結合に関しては従来例と同様であり、能動領域が活
性層,分離層,光導波層の3層となっていることからそ
の積層方向の等価屈折率が光導波路における光導波層の
等価屈折率とほぼ等しくなるので結合効率が高くなる。
一方、光導波路の導波損失に関しては、従来例では24cm
-1と非常に大きかったものが、本発明では1cm-1以下に
なった。これが本発明の第1の要点であり、導波損失が
低減される理由は以下のように説明される。The present embodiment has a structure in which the semiconductor laser 22 and the optical waveguide 23 are integrated in the optical axis direction, and can be applied as a monolithic external resonator laser. That is, laser oscillation light with a narrow spectral line width can be obtained by using the optical waveguide as an external resonator. Here, the spectral line width can be narrowed as the optical waveguide is longer than that of the semiconductor laser and the amount of light returned from the optical waveguide to the semiconductor laser is large. Therefore, it is required that the coupling efficiency between the semiconductor laser and the optical waveguide is high and the waveguide loss of the optical waveguide is small. This embodiment is similar to the conventional example in terms of optical coupling between the semiconductor laser and the optical waveguide, and since the active region is composed of three layers, that is, the active layer, the separation layer and the optical waveguide layer, the equivalent refractive index in the stacking direction thereof is obtained. Becomes almost equal to the equivalent refractive index of the optical waveguide layer in the optical waveguide, so that the coupling efficiency becomes high.
On the other hand, regarding the waveguide loss of the optical waveguide, it is 24 cm in the conventional example.
Although it was very large as -1 , it became 1 cm -1 or less in the present invention. This is the first point of the present invention, and the reason why the waveguide loss is reduced is explained as follows.
通常、半導体で作製された光導波路が導波損失を生じる
原因としては、自由キャリア吸収が考えられている。し
かし、第3図に示した従来例のような埋込み型導波路で
は、導波層側壁の凹凸による散乱損失の方が影響が大き
い。Usually, free carrier absorption is considered as a cause of causing waveguide loss in an optical waveguide made of a semiconductor. However, in the buried waveguide as in the conventional example shown in FIG. 3, the scattering loss due to the unevenness of the side wall of the waveguide layer has a larger effect.
導波層をストライプ状に加工する際にその側壁に凹凸が
生じることは避けられず、埋込み型導波路のように導波
層とこれを埋込む埋込み層の屈折率差が大きいと大きな
散乱損失を生じることになる。これに対して本実施例の
ような装荷型導波路では、光導波層内の光の横方向閉込
めは実効屈折率の小さな差によって行われているため、
装荷層側壁に凹凸があってもそれによる散乱損失は小さ
い。When processing the waveguide layer into a stripe shape, it is unavoidable that unevenness occurs on the side wall, and if there is a large difference in the refractive index between the waveguide layer and the embedded layer that embeds it like a buried waveguide, a large scattering loss occurs. Will occur. On the other hand, in the loaded waveguide as in this example, the lateral confinement of light in the optical waveguide layer is performed by the small difference in the effective refractive index.
Even if the side wall of the loading layer has irregularities, the scattering loss due to it is small.
さらに本実施例では装荷層をストライプ状にエッチング
するだけでストライプ構造が完成するのに対し、従来例
では埋込み層をエピタキシアル成長する必要がある。こ
の点から本実施例の方が容易に製造できることは明らか
である。Further, in the present embodiment, the stripe structure is completed only by etching the loading layer in stripes, whereas in the conventional example, the buried layer needs to be epitaxially grown. From this point, it is clear that this embodiment can be manufactured more easily.
以上述べてきた導波損失が少ない、製造が容易であると
いう利点は本実施例のように本発明をモノリシック外部
共振器レーザに応用する場合に限定されるものではな
く、広く能動光素子と光導波路の集積構造一般に共通す
るものである。The advantages described above that the waveguide loss is small and the manufacturing is easy are not limited to the case where the present invention is applied to a monolithic external cavity laser as in the present embodiment, and are widely used in active optical elements and optical waveguides. This is common to the waveguide integrated structure in general.
次に本発明の第2の要点である能動光素子と光導波路の
位置が自由に設定できるということを応用した第2の実
施例を第2図に示す。第2図は第2の実施例の平面図で
ある。図に示した発光領域24および受光領域25は第1図
の半導体レーザ22と同じ構造になっており、それぞれ発
光ダイオードおよびホトダイオードとして機能する。そ
れ以外の領域は光導波路となっているが、第1の装荷層
26と第2の装荷層27が近接した平行な部分には、第1図
の半導体レーザ22と同様の構造でAu−Sn電極28が形成さ
れている。この2本の装荷層が近接した平行な部分は方
向性結合器29として機能する。Next, FIG. 2 shows a second embodiment applying the fact that the positions of the active optical element and the optical waveguide, which are the second essential points of the present invention, can be freely set. FIG. 2 is a plan view of the second embodiment. The light emitting region 24 and the light receiving region 25 shown in the figure have the same structure as the semiconductor laser 22 of FIG. 1, and function as a light emitting diode and a photodiode, respectively. The other regions are optical waveguides, but the first loading layer
An Au—Sn electrode 28 having the same structure as that of the semiconductor laser 22 of FIG. 1 is formed in a parallel portion where 26 and the second loading layer 27 are close to each other. The parallel portion where the two loading layers are close to each other functions as a directional coupler 29.
本実施例は、以下に述べるように動作する。第2の装荷
層の下にある光導波層(以下第2の光導波路と称す)に
入射した光Piは、方向性結合器29の幾向学的寸法を適当
な値に設定しておくと、この部分で第1の装荷層の下に
ある光導波層(以下第1の光導波路と称す)に移り、第
1の光導波路から出力光Poとして出力される。ここで方
向性結合器29のAu−Sn電極28から電流注入を行うと、方
向性結合器部分の光導波路の伝播定数が変化し、第2の
光導波路から第1の光導波路へ移る光の量が変化する。
このとき適当な電流値を選んでやれば第2の光導波路に
入力された光はそのまま第2の光導波路を進んで受光領
域25へ入射される。同時に発光領域24から出力された光
は第1の光導波路を通じてそのまま出力光Poとして出力
される。This embodiment operates as described below. The light Pi incident on the optical waveguide layer (hereinafter referred to as the second optical waveguide) below the second loading layer is obtained by setting the directional coupler 29 to have an appropriate directional dimension. In this portion, the light is moved to the optical waveguide layer (hereinafter referred to as the first optical waveguide) below the first loading layer, and is output as the output light Po from the first optical waveguide. Here, when current is injected from the Au-Sn electrode 28 of the directional coupler 29, the propagation constant of the optical waveguide in the directional coupler portion changes, and the light traveling from the second optical waveguide to the first optical waveguide changes. The amount changes.
At this time, if an appropriate current value is selected, the light input to the second optical waveguide travels through the second optical waveguide as it is and is incident on the light receiving region 25. At the same time, the light output from the light emitting region 24 is directly output as the output light Po through the first optical waveguide.
本実施例は以上のような動作をするので、例えば光ファ
イバ通信における光中継器として利用することができ
る。通常の動作状態では方向性結合器29に電流注入をし
ておき、外部からの入射光Piを受光領域25で受光し、電
気信号に変換する。この電気信号を電気的に増幅あるい
は信号処理した後、発光領域24において電気信号から光
に変換し出力光Poとして出力する。一方、発光領域24等
が故障した場合には方向性結合器29の注入電流を0とす
れば、入射光Piをそのまま出力光Poとして出力すること
ができる。この機能は電気系統が故障した場合にも作動
するので、本実施例はフェイル・セーフ機能を有する光
中継器として用いることができる。Since this embodiment operates as described above, it can be used as an optical repeater in optical fiber communication, for example. In a normal operation state, current is injected into the directional coupler 29, and incident light Pi from the outside is received by the light receiving region 25 and converted into an electric signal. After the electric signal is electrically amplified or signal-processed, the electric signal is converted into light in the light emitting region 24 and output as output light Po. On the other hand, when the light emitting region 24 or the like fails, the incident light Pi can be directly output as the output light Po by setting the injection current of the directional coupler 29 to 0. Since this function operates even when the electric system fails, this embodiment can be used as an optical repeater having a fail-safe function.
なお、以上の実施例の説明においては材料をInP/InGaAs
P系としてきたが、本発明は当然のことながらGaAs/AlGa
As系等の他の化合物半導体材料を用いても実施すること
ができる。また、光集積回路として、より多くの発光素
子,受光素子,光導波路,方向性結合器を集積化するこ
とも可能であり、この場合にも製造工程はさほど複雑に
はならない。さらに、本発明の用途も、光ファイバ通信
に限定されるものではなく、光ディスク用光学ヘッド,
光計測,光情報処理等にも広く利用することができる。In the description of the above embodiments, the material is InP / InGaAs.
Although the P type has been used, the present invention is naturally GaAs / AlGa
It can also be implemented using other compound semiconductor materials such as As series. Further, it is possible to integrate a larger number of light emitting elements, light receiving elements, optical waveguides, and directional couplers as an optical integrated circuit, and in this case as well, the manufacturing process does not become so complicated. Further, the application of the present invention is not limited to optical fiber communication, and an optical head for an optical disc,
It can be widely used for optical measurement and optical information processing.
発明の効果 以上述べてきたように、本発明によれば半導体レーザ等
の能動光素子と光導波路を集積化した場合に、能動光素
子と光導波路の結合効率が高く、光導波路は横方向にも
光学的閉込め機構を有しており、光導波路の導波損失が
少なく、能動光素子と光導波路を任意の位置に配置で
き、かつ製造も容易な構造を実現することができる。As described above, according to the present invention, when an active optical element such as a semiconductor laser and an optical waveguide are integrated, the coupling efficiency between the active optical element and the optical waveguide is high, and the optical waveguide is laterally aligned. Also has an optical confinement mechanism, the waveguide loss of the optical waveguide is small, the active optical element and the optical waveguide can be arranged at arbitrary positions, and a structure that can be easily manufactured can be realized.
第1図は本発明の一実施例の光集積回路の斜視図、第2
図は本発明の他の実施例の光集積回路の平面図、第3図
は従来の光集積回路の要部断面斜視図である。 14……基板、15……活性層、17……光導波層、18……装
荷層。FIG. 1 is a perspective view of an optical integrated circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a plan view of an optical integrated circuit according to another embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a sectional perspective view of a main part of a conventional optical integrated circuit. 14 ... Substrate, 15 ... Active layer, 17 ... Optical waveguide layer, 18 ... Loading layer.
Claims (1)
域に形成された活性層を含む能動領域と、前記基板上の
前記能動領域以外の領域と前記能動領域にまたがって形
成された前記活性層よりも大きなバンド・ギャップを有
する光導波層と、前記光導波層上に形成された前記光導
波層よりも大きなバンド・ギャップを有するストライプ
状の装荷層とを具備したことを特徴とする光集積回路。1. A compound semiconductor substrate, an active region including an active layer formed in a partial region on the substrate, a region other than the active region on the substrate, and the active region formed over the active region. An optical waveguide layer having a band gap larger than that of the active layer, and a stripe-shaped loading layer formed on the optical waveguide layer and having a band gap larger than that of the optical waveguide layer. Optical integrated circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176920A JPH0738485B2 (en) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | Optical integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61176920A JPH0738485B2 (en) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | Optical integrated circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6333890A JPS6333890A (en) | 1988-02-13 |
| JPH0738485B2 true JPH0738485B2 (en) | 1995-04-26 |
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ID=16022074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61176920A Expired - Fee Related JPH0738485B2 (en) | 1986-07-28 | 1986-07-28 | Optical integrated circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0738485B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014045135A (en) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Integrated optical semiconductor device |
-
1986
- 1986-07-28 JP JP61176920A patent/JPH0738485B2/en not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS=1977 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6333890A (en) | 1988-02-13 |
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