JPH0740503B2 - サージ吸収装置 - Google Patents
サージ吸収装置Info
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- JPH0740503B2 JPH0740503B2 JP1008974A JP897489A JPH0740503B2 JP H0740503 B2 JPH0740503 B2 JP H0740503B2 JP 1008974 A JP1008974 A JP 1008974A JP 897489 A JP897489 A JP 897489A JP H0740503 B2 JPH0740503 B2 JP H0740503B2
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- voltage
- surge
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はサージ吸収装置に関し、さらに詳しくはギャッ
プ式サージ吸収素子とバリスタ電圧がライン電圧よりも
小さく、かつ該バリスタの電圧非直線係数の小さいバリ
スタとを電気的に直列に接続してなるサージ吸収装置に
関するものである。
プ式サージ吸収素子とバリスタ電圧がライン電圧よりも
小さく、かつ該バリスタの電圧非直線係数の小さいバリ
スタとを電気的に直列に接続してなるサージ吸収装置に
関するものである。
[従来の技術] ZnO系バリスタは電圧−電流(V−I)特性における非
直線性が極めて大きく、その電圧−電流特性をI=kVα
で表わしたときの電圧非直線係数αは25〜50、さらに50
を越えるものもあって、優れた非直線性を示すところか
ら、その特性を利用して従来サージ吸収等に使用されて
いる。しかしながら、このようなZnO系バリスタは、電
圧が印加されると漏れ電流が生じ、常時電圧が印加され
たまま長時間使用に供されると、次第に電圧−電流特性
の劣化が進行し、ついには破壊に至って短絡状態を生
じ、熱暴走する危険がある。
直線性が極めて大きく、その電圧−電流特性をI=kVα
で表わしたときの電圧非直線係数αは25〜50、さらに50
を越えるものもあって、優れた非直線性を示すところか
ら、その特性を利用して従来サージ吸収等に使用されて
いる。しかしながら、このようなZnO系バリスタは、電
圧が印加されると漏れ電流が生じ、常時電圧が印加され
たまま長時間使用に供されると、次第に電圧−電流特性
の劣化が進行し、ついには破壊に至って短絡状態を生
じ、熱暴走する危険がある。
そこで、上記ZnO系バリスタ本来の優れたサージ応答特
性を保持しながら、前記漏れ電流の発生を最低減に抑え
てZnO系バリスタの劣化を防止し、ひいては前記の危険
を回避するために、ZnO系バリスタにネオン管やアレス
タのようなギャップ式サージ吸収素子を電気的に直列に
接続してなるサージ吸収装置が提案されている。しかし
ながら、この装置では、電圧非直線係数αの大きいZnO
系バリスタを使用していたために、ライン電圧よりも高
いバリスタ電圧を示すZnO系バリスタが選択されてい
た。
性を保持しながら、前記漏れ電流の発生を最低減に抑え
てZnO系バリスタの劣化を防止し、ひいては前記の危険
を回避するために、ZnO系バリスタにネオン管やアレス
タのようなギャップ式サージ吸収素子を電気的に直列に
接続してなるサージ吸収装置が提案されている。しかし
ながら、この装置では、電圧非直線係数αの大きいZnO
系バリスタを使用していたために、ライン電圧よりも高
いバリスタ電圧を示すZnO系バリスタが選択されてい
た。
[従来技術の問題点] このような従来のサージ吸収装置ではライン電圧よりも
高いバリスタ電圧を示すZnO系バリスタを使用していた
ために、サージ吸収装置としての放電開始電圧およびサ
ージ応答電圧が高くなり、それに伴なってサージ応答速
度も必然的に遅くなるところから、そのサージ吸収装置
の放電能力は小さく、したがって機器を保護するサージ
吸収装置の能力が十分でないという問題があった。
高いバリスタ電圧を示すZnO系バリスタを使用していた
ために、サージ吸収装置としての放電開始電圧およびサ
ージ応答電圧が高くなり、それに伴なってサージ応答速
度も必然的に遅くなるところから、そのサージ吸収装置
の放電能力は小さく、したがって機器を保護するサージ
吸収装置の能力が十分でないという問題があった。
[研究に基づく知見事項] そこで本発明者等は、上述のような状況に鑑みて種々研
究を重ねた結果、下記の知見を得た。
究を重ねた結果、下記の知見を得た。
第1図のような等価回路で示されるギャップ式サージ吸
収素子2とバリスタ3とを電気的に直列に接続してなる
サージ吸収装置1において、そのバリスタ3の電圧−電
流(V−I)特性図を表している第2図について考察す
ると、α=1/log10(V10mA/V1mA)で表わされるバリス
タの電圧非直線係数αは第2図中の1mAから10mAに至る
V−I曲線の勾配に相当しており、このαが小さいバリ
スタのV−I曲線aの勾配は、αが大きいバリスタのV
−I曲線b′の勾配よりも大きく(急に)なっているこ
とがわかる。
収素子2とバリスタ3とを電気的に直列に接続してなる
サージ吸収装置1において、そのバリスタ3の電圧−電
流(V−I)特性図を表している第2図について考察す
ると、α=1/log10(V10mA/V1mA)で表わされるバリス
タの電圧非直線係数αは第2図中の1mAから10mAに至る
V−I曲線の勾配に相当しており、このαが小さいバリ
スタのV−I曲線aの勾配は、αが大きいバリスタのV
−I曲線b′の勾配よりも大きく(急に)なっているこ
とがわかる。
ここで、1mA、10mAの電流値を用いたのは、バリスタの
基本特性である電圧非直線係数の定義がα=1/log10(V
10mA/V1mA)であるためであり、この意味は電流の変化
に対して如何に電流が変化しないかを数値化したもので
ある。(但し、V1mAは1mAの電流が流れた時のバリスタ
電極間に現れた電圧を意味する。) 上記のようなサージ吸収装置1に組み込まれて使用され
るバリスタ3としては、ギャップ式サージ吸収素子の損
傷を避けなければならないところから、当然それに続流
が発生しないようなバリスタ電圧(V1mA)を示すバリス
タを選定しなければならないが、そのためにはライン電
圧VLとV−I曲線b′とが交差する点のライン電流ILが
ギャップ式サージ吸収素子2のアーク維持電流LAよりも
小さく、すなわちIL<IAでなければならない。従来技術
において使用されていたZnO系バリスタは、V−I曲線
bのような特性を有するが、IL<IAであれば続流が発生
しないことから、ZnO系バリスタでもバリスタ電圧VOをV
O′まで下げ、曲線b′のようなV−I特性のものを使
用することが可能である。
基本特性である電圧非直線係数の定義がα=1/log10(V
10mA/V1mA)であるためであり、この意味は電流の変化
に対して如何に電流が変化しないかを数値化したもので
ある。(但し、V1mAは1mAの電流が流れた時のバリスタ
電極間に現れた電圧を意味する。) 上記のようなサージ吸収装置1に組み込まれて使用され
るバリスタ3としては、ギャップ式サージ吸収素子の損
傷を避けなければならないところから、当然それに続流
が発生しないようなバリスタ電圧(V1mA)を示すバリス
タを選定しなければならないが、そのためにはライン電
圧VLとV−I曲線b′とが交差する点のライン電流ILが
ギャップ式サージ吸収素子2のアーク維持電流LAよりも
小さく、すなわちIL<IAでなければならない。従来技術
において使用されていたZnO系バリスタは、V−I曲線
bのような特性を有するが、IL<IAであれば続流が発生
しないことから、ZnO系バリスタでもバリスタ電圧VOをV
O′まで下げ、曲線b′のようなV−I特性のものを使
用することが可能である。
さらに、前記V−I曲線b′よりも1mA〜10mA間で大き
な勾配を有するV−I曲線aを示すバリスタ、すなわち
前記αの小さいバリスタについてみると、ライン電圧VL
とV−I曲線aとが交差する点の電流IL′は、V1mA〜V
10mA間の電圧の変化が大きくなるため、ILよりも小さ
く、すなわちIL′<ILとなる。したがってV−I曲線a
を右側へ平行移動させてV−I曲線a′となるまで、換
言すればIL′がIL(IL′=IL<IA)となるまで、V−I
曲線aを示すバリスタのバリスタ電圧VO′をVO″まで低
くすることが可能になる。
な勾配を有するV−I曲線aを示すバリスタ、すなわち
前記αの小さいバリスタについてみると、ライン電圧VL
とV−I曲線aとが交差する点の電流IL′は、V1mA〜V
10mA間の電圧の変化が大きくなるため、ILよりも小さ
く、すなわちIL′<ILとなる。したがってV−I曲線a
を右側へ平行移動させてV−I曲線a′となるまで、換
言すればIL′がIL(IL′=IL<IA)となるまで、V−I
曲線aを示すバリスタのバリスタ電圧VO′をVO″まで低
くすることが可能になる。
本発明者等は、以上の点に着目して、IL<IAの条件下に
バリスタ電圧がライン電圧よりも小さく、かつ電圧非直
線係数αが1<α<20の範囲にあるバリスタを前記サー
ジ吸収装置1のバリスタ3として組み込むと、前記従来
のサージ吸収装置と同様に続流が防止されることは勿論
のこと放電開始電圧が低く、かつサージ応答電圧が低
く、その結果、サージ応答速度が速く、さらにサージ応
答後の残留電圧も低いサージ吸収装置、したがってサー
ジ吸収特性の優れたサージ吸収装置が得られること、 を見出した。
バリスタ電圧がライン電圧よりも小さく、かつ電圧非直
線係数αが1<α<20の範囲にあるバリスタを前記サー
ジ吸収装置1のバリスタ3として組み込むと、前記従来
のサージ吸収装置と同様に続流が防止されることは勿論
のこと放電開始電圧が低く、かつサージ応答電圧が低
く、その結果、サージ応答速度が速く、さらにサージ応
答後の残留電圧も低いサージ吸収装置、したがってサー
ジ吸収特性の優れたサージ吸収装置が得られること、 を見出した。
[発明の目的および発明の構成] 本発明は、上記知見に基づいて発明されたもので、サー
ジ吸収特性、即ち続流が防止されると共にサージ応答電
圧及び残留電圧が低い優れたサージ吸収装置を提供する
ことを目的とし、 ギャップ式サージ吸収素子とバリスタとを電気的に直列
に接続してなるサージ吸収装置において、前記バリスタ
のバリスタ電圧がライン電圧よりも小さく、かつ前記バ
リスタの電圧非直線係数αが1<α<20の範囲にあり、
更に前記バリスタがTiO2系、SrTiO3系、SiC系又はSnO2
系の中から選択されたバリスタであることを特徴とす
る、前記サージ吸収装置、 に係わるものである。
ジ吸収特性、即ち続流が防止されると共にサージ応答電
圧及び残留電圧が低い優れたサージ吸収装置を提供する
ことを目的とし、 ギャップ式サージ吸収素子とバリスタとを電気的に直列
に接続してなるサージ吸収装置において、前記バリスタ
のバリスタ電圧がライン電圧よりも小さく、かつ前記バ
リスタの電圧非直線係数αが1<α<20の範囲にあり、
更に前記バリスタがTiO2系、SrTiO3系、SiC系又はSnO2
系の中から選択されたバリスタであることを特徴とす
る、前記サージ吸収装置、 に係わるものである。
[発明の具体的な説明] 本発明において使用されるギャップ式サージ吸収素子と
しては、低圧のネオンが微量のアルゴンとともに封入さ
れているガラス管球内に一対の電極が接近して設けられ
ているネオン管や、チューブ内に封入されたガス中で相
対する一対の電極が保護ギャップを形成しているガスチ
ューブアレスタのような、エネルギーの一部または残部
を放電させて異常電圧の波高値を低減させるためにギャ
ップが電極管に形成されている、従来のあらゆるギャッ
プ式サージ吸収素子を用いることができ、その放電開始
電圧は、その素子が組み込まれる回路の最大回路電圧よ
りも高ければよく、その回路の種類、特性等に応じて適
宜設定される。
しては、低圧のネオンが微量のアルゴンとともに封入さ
れているガラス管球内に一対の電極が接近して設けられ
ているネオン管や、チューブ内に封入されたガス中で相
対する一対の電極が保護ギャップを形成しているガスチ
ューブアレスタのような、エネルギーの一部または残部
を放電させて異常電圧の波高値を低減させるためにギャ
ップが電極管に形成されている、従来のあらゆるギャッ
プ式サージ吸収素子を用いることができ、その放電開始
電圧は、その素子が組み込まれる回路の最大回路電圧よ
りも高ければよく、その回路の種類、特性等に応じて適
宜設定される。
本発明において使用されるバリスタは、そのバリスタ電
圧がライン電圧よりも小さく、かつその電圧非直線係数
αが1<α<20の範囲にあればどのような種類のバリス
タでも使用することができるが、好適にはTiO2系、SrTi
O3系、SiC系およびSnO2系のバリスタが使用され、また
上記αは通常5〜10であるのが好ましい。
圧がライン電圧よりも小さく、かつその電圧非直線係数
αが1<α<20の範囲にあればどのような種類のバリス
タでも使用することができるが、好適にはTiO2系、SrTi
O3系、SiC系およびSnO2系のバリスタが使用され、また
上記αは通常5〜10であるのが好ましい。
本発明において、これらのバリスタの電圧非直線係数α
を1<α<20の範囲こ数値限定した理由は、通常、酸化
亜鉛等のバリスタのα値が50以上で続流を防止するため
に使用されているが、本発明で使用するバリスタの電圧
非直線係数αは、α値が直線抵抗(α=1)より大き
く、かつ前記50より小さいα値を有するものを使用する
ことにより続流防止効果と共にサージ応答電圧及び残留
電圧を格段に低くすることができるという本発明の優れ
た効果が期待されます。しかし、本発明をより効果的に
実施するためには(即ちこれまで誰も省みなかったライ
ン電圧より低いバリスタ電圧を有するバリスタを使用す
るには)α値を50より数段小さくした時であり、このう
ち特にαを10、20の値とした時、ライン電圧より数段低
いバリスタ電圧のバリスタが使用可能となります。言い
換えれば電圧非直線係数αが20以上ではバリスタのV1mA
とV10mAに大きな差がないためにライン電圧より低いバ
リスタ電圧を有するバリスタを使用しても十分な効果を
得ることができず、またα値が1では直線抵抗であるた
めサージ耐量の大きなものがなくかつ残留電圧が高いも
のとなり、したがって本発明の効果が得られないため、
α値は1以上でなければならない。また実際に現存する
αの小さいバリスタのα値がこの範囲にあることから1
<α<20にしたが、実用上好ましくは5<α<10であ
る。
を1<α<20の範囲こ数値限定した理由は、通常、酸化
亜鉛等のバリスタのα値が50以上で続流を防止するため
に使用されているが、本発明で使用するバリスタの電圧
非直線係数αは、α値が直線抵抗(α=1)より大き
く、かつ前記50より小さいα値を有するものを使用する
ことにより続流防止効果と共にサージ応答電圧及び残留
電圧を格段に低くすることができるという本発明の優れ
た効果が期待されます。しかし、本発明をより効果的に
実施するためには(即ちこれまで誰も省みなかったライ
ン電圧より低いバリスタ電圧を有するバリスタを使用す
るには)α値を50より数段小さくした時であり、このう
ち特にαを10、20の値とした時、ライン電圧より数段低
いバリスタ電圧のバリスタが使用可能となります。言い
換えれば電圧非直線係数αが20以上ではバリスタのV1mA
とV10mAに大きな差がないためにライン電圧より低いバ
リスタ電圧を有するバリスタを使用しても十分な効果を
得ることができず、またα値が1では直線抵抗であるた
めサージ耐量の大きなものがなくかつ残留電圧が高いも
のとなり、したがって本発明の効果が得られないため、
α値は1以上でなければならない。また実際に現存する
αの小さいバリスタのα値がこの範囲にあることから1
<α<20にしたが、実用上好ましくは5<α<10であ
る。
ギャップ式サージ吸収素子とバリスタとを接続するに
は、この両者が電気的に接続されればどのような手段に
よってもよいが、かしめ、はんだ付け、基板による配線
等を利用するのが好都合である。
は、この両者が電気的に接続されればどのような手段に
よってもよいが、かしめ、はんだ付け、基板による配線
等を利用するのが好都合である。
本発明のサージ吸収装置を組み立てるに当っては、全体
の形状を安定させるため、一般に絶縁性のケースまたは
被覆材、あるいは熱収縮性チューブ等で被ったり、ある
いはそれらの被覆部材の内部にさらに充填材を充填する
のが好ましい。
の形状を安定させるため、一般に絶縁性のケースまたは
被覆材、あるいは熱収縮性チューブ等で被ったり、ある
いはそれらの被覆部材の内部にさらに充填材を充填する
のが好ましい。
本発明のサージ吸収装置は広範囲の電気的な装置および
機器の回路に組み込むことができ、特に電源ラインを有
する装置および機器のライン間、ライン−アース間にお
いて好都合に使用される。
機器の回路に組み込むことができ、特に電源ラインを有
する装置および機器のライン間、ライン−アース間にお
いて好都合に使用される。
[実施例] ついで、実施例を参照しながら本発明を説明する。
実施例1 第3図の縦断面図で示されるように、かしめ6によって
互いに電気的に直列に接続されているネオン管5とバリ
スタ4とを円筒状の絶縁性ベース7上に固定し、そして
そのベースの外側を熱収縮性チューブ8で被覆した構造
のサージ吸収装置に対してサージを印加して、実験を遂
行した。
互いに電気的に直列に接続されているネオン管5とバリ
スタ4とを円筒状の絶縁性ベース7上に固定し、そして
そのベースの外側を熱収縮性チューブ8で被覆した構造
のサージ吸収装置に対してサージを印加して、実験を遂
行した。
使用したバリスタはα=10、バリスタ電圧=20VのSrTiO
3系バリスタであり、また使用したサージ波形は(1.2×
50)μsec−5KVであった。
3系バリスタであり、また使用したサージ波形は(1.2×
50)μsec−5KVであった。
また比較のため、上記バリスタの代わりに、α=60、バ
リスタ電圧=220VのZnO系バリスタを使用して、上記と
同様な実験を繰り返した。
リスタ電圧=220VのZnO系バリスタを使用して、上記と
同様な実験を繰り返した。
これらの実験の条件および結果をそれぞれ第1表および
第2表に示す。
第2表に示す。
第2表に示された結果から、実施例1では比較例1と比
べて、放電開始電圧、サージ応答電圧およびサージ残留
電圧がいずれも著しく低減していることがわかる。
べて、放電開始電圧、サージ応答電圧およびサージ残留
電圧がいずれも著しく低減していることがわかる。
実施例2 第4図の縦断面図で示されるような、かしめ6によって
互いに電気的に直列に接続されているガスチューブアレ
スタ10とバリスタ9とを円筒状の絶縁ケース11内に収容
し、そしてそのケース11内に絶縁性充填材12を充填した
構造のサージ吸収装置について、実施例1と同様な実験
を遂行した。
互いに電気的に直列に接続されているガスチューブアレ
スタ10とバリスタ9とを円筒状の絶縁ケース11内に収容
し、そしてそのケース11内に絶縁性充填材12を充填した
構造のサージ吸収装置について、実施例1と同様な実験
を遂行した。
使用したバリスタはα=8、バリスタ電圧=50VのTiO2
系バリスタであり、また比較のため、上記バリスタの代
りに、α=70、バリスタ電圧=470VのZnO系バリスタを
使用して同様な実験を繰り返した。
系バリスタであり、また比較のため、上記バリスタの代
りに、α=70、バリスタ電圧=470VのZnO系バリスタを
使用して同様な実験を繰り返した。
これらの実験の条件および結果をそれぞれ第3表および
第4表に示す。
第4表に示す。
第4表に示された結果から、実施例2では比較例2と比
べて、放電開始電圧、サージ応答電圧およびサージ残留
電圧がいずれも著しく低減していることがわかる。
べて、放電開始電圧、サージ応答電圧およびサージ残留
電圧がいずれも著しく低減していることがわかる。
[発明の効果] 以上述べた説明から明らかなように、本発明によると、
続流が防止されるばかりでなく、放電開始電圧、サージ
応答電圧および残留電圧がいずれも低く、したがって応
答速度が速い、サージ吸収能力の優れたサージ吸収装置
が提供される。
続流が防止されるばかりでなく、放電開始電圧、サージ
応答電圧および残留電圧がいずれも低く、したがって応
答速度が速い、サージ吸収能力の優れたサージ吸収装置
が提供される。
第1図は本発明の装置を示す等価回路図、第2図は本発
明装置の特性を説明するためのグラフ、そして第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の実施例において採用した
サージ吸収装置の縦断面図である。図において 2……ギャップ式サージ吸収素子、3,4,9……バリス
タ、5……ネオン管、10……ガスチューブアレスタ、a,
a′,b,b′……電圧−電流曲線。
明装置の特性を説明するためのグラフ、そして第3図お
よび第4図はそれぞれ本発明の実施例において採用した
サージ吸収装置の縦断面図である。図において 2……ギャップ式サージ吸収素子、3,4,9……バリス
タ、5……ネオン管、10……ガスチューブアレスタ、a,
a′,b,b′……電圧−電流曲線。
フロントページの続き (72)発明者 猿渡 暢也 埼玉県秩父郡横瀬町大字横瀬2270番地 三 菱鉱業セメント株式会社セラミックス研究 所内 (72)発明者 伊藤 民治 埼玉県秩父郡横瀬町大字横瀬2270番地 三 菱鉱業セメント株式会社セラミックス研究 所内 (56)参考文献 特開 昭55−88284(JP,A) 実開 昭62−201490(JP,U)
Claims (1)
- 【請求項1】ギャップ式サージ吸収素子とバリスタとを
電気的に直列に接続してなるサージ吸収装置において、
前記バリスタのバリスタ電圧がライン電圧よりも小さ
く、且つ前記バリスタの電圧非直線係数αが1<α<20
の範囲にあり、更に前記バリスタがTiO2系、SrTiO3系、
SiC系又はSnO2系の中から選択されたバリスタであるこ
とを特徴とするサージ吸収装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1008974A JPH0740503B2 (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 | サージ吸収装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1008974A JPH0740503B2 (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 | サージ吸収装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02189882A JPH02189882A (ja) | 1990-07-25 |
| JPH0740503B2 true JPH0740503B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=11707659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1008974A Expired - Lifetime JPH0740503B2 (ja) | 1989-01-17 | 1989-01-17 | サージ吸収装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740503B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62201490U (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-22 |
-
1989
- 1989-01-17 JP JP1008974A patent/JPH0740503B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02189882A (ja) | 1990-07-25 |
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