JPH0743937B2 - Multi-directional read one-way write memory device - Google Patents
Multi-directional read one-way write memory deviceInfo
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- JPH0743937B2 JPH0743937B2 JP3306382A JP30638291A JPH0743937B2 JP H0743937 B2 JPH0743937 B2 JP H0743937B2 JP 3306382 A JP3306382 A JP 3306382A JP 30638291 A JP30638291 A JP 30638291A JP H0743937 B2 JPH0743937 B2 JP H0743937B2
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は1方向からアドレス選択
して1方向からデータを書き込むことができ、複数方向
からのアドレス選択に対してデータを読み出すことがで
きるメモリ装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory device capable of selecting an address from one direction and writing data in the one direction, and reading data in response to address selection from a plurality of directions.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から提案されている単一方向アクセ
ススタティックメモリセルを図8に示す。図8(A)に
示すように、メモリセル1は、2個の入出力端子2,3
を持つスタティックフリップフロップ4による情報保持
手段と、例えばnチャネルMIS形電界効果トランジス
タで構成されたトランジスタ5,6と、ワード線7と、
ビット線8,9とを有する。この場合、ワード線7はメ
モリセル1を選択する信号線であり、ビット線8,9は
メモリセル1への書き込みデータ又はメモリセル1から
の読み出しデータを転送する信号線である。スタティッ
クフリップフロップ4は4個のトランジスタ10〜13
から構成され、例えばトランジスタ10,11はnチャ
ネルMIS形電界効果トランジスタ、トランジスタ1
2,13はpチャネルMIS形電界効果トランジスタで
ある。トランジスタ10,11はその一端をそれぞれ入
出力端子2,3に接続され、他端は共通に接地される。
又、トランジスタ12,13はその一端をそれぞれ入出
力端子2,3に接続され、他端は共通に電源端子14に
接続される。トランジスタ10,12のゲートは共通に
入出力端子3に接続される。トランジスタ11,13の
ゲートは共通に入出力端子2に接続される。スタティッ
クフリップフロップ4の入出力端子2はトランジスタ5
を介してビット線8に接続され、スタティックフリップ
フロップ4の入出力端子3はトランジスタ6を介してビ
ット線9に接続される。一方、トランジスタ5,6のゲ
ートはワード線7に共通に接続されている。以上が従来
から提案されている単一方向アクセスメモリセル1の構
成である。2. Description of the Related Art A conventionally proposed unidirectional access static memory cell is shown in FIG. As shown in FIG. 8A, the memory cell 1 has two input / output terminals 2 and 3.
Information holding means by the static flip-flop 4 having, transistors 5, 6 composed of, for example, n-channel MIS type field effect transistors, word line 7,
It has bit lines 8 and 9. In this case, the word line 7 is a signal line for selecting the memory cell 1, and the bit lines 8 and 9 are signal lines for transferring write data to the memory cell 1 or read data from the memory cell 1. The static flip-flop 4 has four transistors 10 to 13
For example, the transistors 10 and 11 are n-channel MIS type field effect transistors, and the transistor 1 is
Reference numerals 2 and 13 are p-channel MIS field effect transistors. Transistors 10 and 11 have one ends connected to input / output terminals 2 and 3, respectively, and the other ends commonly grounded.
The transistors 12 and 13 have one ends connected to the input / output terminals 2 and 3, respectively, and the other ends commonly connected to the power supply terminal 14. The gates of the transistors 10 and 12 are commonly connected to the input / output terminal 3. The gates of the transistors 11 and 13 are commonly connected to the input / output terminal 2. The input / output terminal 2 of the static flip-flop 4 is a transistor 5
To the bit line 8, and the input / output terminal 3 of the static flip-flop 4 is connected to the bit line 9 via the transistor 6. On the other hand, the gates of the transistors 5 and 6 are commonly connected to the word line 7. The above is the configuration of the unidirectional access memory cell 1 that has been conventionally proposed.
【0003】以下に単一方向アクセスメモリセル1の動
作を説明する。 〔データの書き込み〕このような構成を有する従来のメ
モリセル1にデータを書き込むには、書き込むデータと
同相の電位をビット線8に印加し、書き込むデータと逆
相の電位をビット線9に印加し、かつ、ワード線7を高
電位にする。ワード線7が高電位なので、トランジスタ
5,6がオン状態となり、導通するので、ビット線8の
電位と入出力端子2の電位およびビット線9の電位と入
出力端子3の電位がそれぞれ等しくなり、かつ、入出力
端子2の電位と入出力端子3の電位とが異なる極性を持
つ。そのため、スタティックフリップフロップ4のトラ
ンジスタ10〜13のオン又はオフの状態が決定され、
単一方向アクセスメモリセル1にデータが書き込まれ
る。The operation of the unidirectional access memory cell 1 will be described below. [Data Writing] In order to write data in the conventional memory cell 1 having such a configuration, a potential having the same phase as that of the data to be written is applied to the bit line 8 and a potential opposite to that of the data to be written is applied to the bit line 9. In addition, the word line 7 is set to a high potential. Since the word line 7 has a high potential, the transistors 5 and 6 are turned on and become conductive, so that the potential of the bit line 8 is equal to the potential of the input / output terminal 2 and the potential of the bit line 9 is equal to the potential of the input / output terminal 3. Moreover, the potential of the input / output terminal 2 and the potential of the input / output terminal 3 have different polarities. Therefore, the on / off state of the transistors 10 to 13 of the static flip-flop 4 is determined,
Data is written to the unidirectional access memory cell 1.
【0004】〔データの保持〕このデータを保持するに
はワード線7を低電位とし、トランジスタ5,6をオフ
状態とすることで、入出力端子2とビット線8との間お
よび入出力端子3とビット線9との間を非導通とし、フ
リップフロップ4とビット線8,9とを切り離せばよ
い。[Data Retention] In order to retain this data, the word line 7 is set to a low potential and the transistors 5 and 6 are turned off, so that the data is held between the input / output terminal 2 and the bit line 8 and between the input / output terminals. 3 and the bit line 9 may be made non-conductive to disconnect the flip-flop 4 from the bit lines 8 and 9.
【0005】〔データの読み出し〕データを読み出すに
は、ビット線8,9を等電位にプリチャージして高電位
にした後に、ワード線7を高電位にして、スタティック
フリップフロップ4に書き込まれ維持されている状態を
ビット線8に伝える。ここで、論理値“1”に高電位
を、論理値“0”に低電位を対応させる。スタティック
フリップフロップ4の入出力端子2に論理値“1”が書
き込まれている場合、入出力端子2は高電位であるた
め、高電位となっているビット線8の電位が変化しない
ことにより、論理値“1”が読み出される。一方、スタ
ティックフリップフロップ4の入出力端子2に論理値
“0”が書き込まれている場合、入出力端子2は低電位
であるため、高電位となっているビット線8の電位が引
き下げられることにより、論理値“0”が読み出され
る。一方、入出力端子3に書き込まれている状態を同様
にビット線9から読み出せる。又、ビット線8,9の電
位差を検出することによっても、書き込まれている状態
を読み出せる。上記のメモリセルによってメモリ装置を
構成する場合には、図8(B)に示すように、メモリセ
ル1をm行n列にm×n個配列し、単一方向アクセスメ
モリ装置15を構成する。第i(i=1,2,…,m)
のワード線7に対応してアドレスWXiを選択し、BY
1,BY2,…,BYnで示すビット線8を介すか、又
はBY1′,BY2′,…,BYn′で示すビット線9
を介してメモリセル1であるCi1,Ci2,…,Cinの
データをそれぞれ読み書きする。[Reading of Data] In order to read data, the bit lines 8 and 9 are precharged to an equal potential to a high potential, and then the word line 7 is set to a high potential and written to the static flip-flop 4. The bit line 8 is informed of the current state. Here, the logical value "1" corresponds to a high potential and the logical value "0" corresponds to a low potential. When the logical value “1” is written in the input / output terminal 2 of the static flip-flop 4, since the input / output terminal 2 has a high potential, the potential of the high-potential bit line 8 does not change. The logical value "1" is read. On the other hand, when the logical value “0” is written in the input / output terminal 2 of the static flip-flop 4, the input / output terminal 2 has a low electric potential, and therefore the electric potential of the bit line 8 having a high electric potential is lowered. Thus, the logical value "0" is read. On the other hand, the state written in the input / output terminal 3 can be similarly read out from the bit line 9. Also, the written state can be read by detecting the potential difference between the bit lines 8 and 9. When the memory device is configured by the above memory cells, the unidirectional access memory device 15 is configured by arranging m × n memory cells 1 in m rows and n columns as shown in FIG. 8B. . I-th (i = 1, 2, ..., M)
Select the address WXi corresponding to the word line 7 of
1, BY2, ..., BYn through bit lines 8 or BY1 ', BY2', ..., BYn '.
, Cin, which are the memory cells 1, are read and written via the memory cells.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】画像認識や文字認識な
どの分野においては、煩雑な処理または大量のハードウ
ェアの付加が必要となる。例えば、文字認識において
は、図9(A)に示すように、1個の文字データ16を
X軸方向(横方向)、斜め右上方向、斜め左上方向、Y
軸方向(縦方向)の4方向に走査することが必要とな
り、煩雑な処理または大量のハードウェアの付加を必要
とする。図8に示したメモリ装置において、m=7,n
=5としたパタンメモリ装置へ文字“F”を書き込んだ
場合を図9(B)に示す。この場合は、7ワード×5ビ
ットの単一方向アクセスメモリ装置17が用いられる。
図9(B)中のアドレスWX1〜WX7、ビット線BY
1〜BY5は、図8と同一の趣旨で用いられる。上記の
装置において、X軸方向にデータを走査する場合には、
選択方向がメモリ装置17のワード線の方向と一致する
ので、1度のアドレス選択で、X軸方向の1ワード分の
データの読み出しができる。また、斜め右上方向にデー
タを走査する場合、例えば、図9(B)のR線上の5ビ
ットのデータを読み出すには、アドレスWX7でビット
線BY1、アドレスWX6でビット線BY2、アドレス
WX5でビット線BY3、アドレスWX4でビット線B
Y4、アドレスWX3でビット線BY5の各データを順
次読み出すことになる。従って、この場合、斜め右上方
向に1回走査するのにビット数分である5回の選択が必
要となる。また、斜め左上方向にデータを走査する場
合、例えば、図9(B)のL線上の5ビットのデータを
読み出すには、アドレスWX7でビット線BY5、アド
レスWX6でビット線BY4、アドレスWX5でビット
線BY3、アドレスWX4でビット線BY2、アドレス
WX3でビット線BY1の各データを順次読み出すこと
になる。従って、この場合、斜め左上方向に1回走査す
るのにビット数分である5回の選択が必要となる。ま
た、Y軸方向にデータを走査する場合には、走査すべき
特定のビット線について、アドレスWX1〜WX7まで
順次読み出す。従って、Y方向に1回走査するのに、7
回の選択が必要となる。以上のことから、一般にm行n
列の単一方向アクセスメモリ装置では、ワード線と異な
る方向に1回走査するのに、最悪m回の選択が必要とな
る。In the fields of image recognition, character recognition, etc., complicated processing or addition of a large amount of hardware is required. For example, in character recognition, as shown in FIG. 9A, one piece of character data 16 is set in the X-axis direction (horizontal direction), diagonally upper right direction, diagonally upper left direction, Y.
It is necessary to scan in four directions in the axial direction (vertical direction), which requires complicated processing or addition of a large amount of hardware. In the memory device shown in FIG. 8, m = 7, n
FIG. 9B shows a case in which the character “F” is written in the pattern memory device with = 5. In this case, a unidirectional access memory device 17 of 7 words × 5 bits is used.
Addresses WX1 to WX7 and bit line BY in FIG. 9B
1 to BY5 have the same meaning as in FIG. In the above device, when scanning data in the X-axis direction,
Since the selected direction coincides with the direction of the word line of the memory device 17, the data for one word in the X-axis direction can be read by one address selection. Further, in the case of scanning the data in the diagonally upper right direction, for example, in order to read the 5-bit data on the R line in FIG. Bit BY on line BY3 and address WX4
Each data of the bit line BY5 is sequentially read at Y4 and address WX3. Therefore, in this case, it is necessary to select five times, which is the number of bits, for scanning once in the diagonally upper right direction. Further, in the case of scanning the data in the diagonally upper left direction, for example, to read 5-bit data on the L line in FIG. The data of the bit line BY2 is sequentially read from the line BY3 and the address WX4, and the data of the bit line BY1 is sequentially read from the address WX3. Therefore, in this case, it is necessary to select five times, which is the number of bits, for scanning once in the diagonally upper left direction. Further, when scanning data in the Y-axis direction, addresses WX1 to WX7 are sequentially read out for a specific bit line to be scanned. Therefore, it takes 7 scans to scan once in the Y direction.
It is necessary to select once. From the above, generally m rows n
In a column unidirectional access memory device, worst case m selections are required to scan once in a direction different from the word line.
【0007】図10は、図9の例に見られる走査時間の
増加を短縮するために、走査方向別に、専用のパタンメ
モリ装置を備えた例である。図10(A)に示す7行5
列のメモリ装置18はX軸方向用のメモリ装置である。
図10(B)に示す11行5列のメモリ装置19は斜め
右上方向用のメモリ装置である。図10(C)に示す1
1行5列のメモリ装置20は斜め左上方向用のメモリ装
置である。図10(D)に示す5行7列のメモリ装置2
1はY軸方向用のメモリ装置である。ここで、各方向の
データの走査は、各メモリ装置へのアドレス選択1回の
読み出しによってできるが、そのためには、あらかじめ
文字データを走査方向に応じて図10に示すように配置
し直して各メモリ装置に書き込んでおく操作が加わり、
かつ4倍以上のメモリ装置が必要となる。なお、図10
中の×印は、未使用のメモリセルを示す。FIG. 10 shows an example in which a dedicated pattern memory device is provided for each scanning direction in order to reduce the increase in scanning time seen in the example of FIG. 7 line 5 shown in FIG.
The column memory device 18 is a memory device for the X-axis direction.
The memory device 19 of 11 rows and 5 columns shown in FIG. 10B is a memory device for the diagonally upper right direction. 1 shown in FIG.
The memory device 20 of 1 row and 5 columns is a memory device for the diagonal upper left direction. 5 × 7 memory device 2 shown in FIG.
Reference numeral 1 is a memory device for the Y-axis direction. Here, the scanning of data in each direction can be performed by one-time address selection reading to each memory device. For that purpose, character data is rearranged in advance according to the scanning direction as shown in FIG. The operation to write in the memory device is added,
In addition, a memory device of 4 times or more is required. Note that FIG.
The X mark in the middle indicates an unused memory cell.
【0008】以上述べた様に、従来の単一方向アクセス
メモリ装置を用いて、メモリ装置固有のワード線の方向
と異なる方向へデータを走査しようとすると、メモリ装
置への選択回数は、走査するビット数に等しい回数だけ
必要となり、メモリ装置へのアクセス時間が膨大となる
欠点があった。又、メモリ装置への選択回数を増加させ
ないためには、走査方向別に、データをあらかじめ再配
置して格納しておくメモリ装置が必要となり、付加ハー
ドウェア量が増大するだけでなく、付加したメモリ装置
のそれぞれに対応する走査方向のデータがメモリ装置へ
の1回の選択で読み出せるように、あらかじめ再配置し
て書き込んでおく煩雑な操作も必要になるという欠点が
あった。As described above, when the conventional unidirectional access memory device is used to scan data in a direction different from the direction of the word line peculiar to the memory device, the number of times the memory device is selected is scanned. The number of bits required is equal to the number of bits, and the access time to the memory device becomes huge. In addition, in order not to increase the number of selections to the memory device, a memory device for rearranging and storing data in advance for each scanning direction is required, which not only increases the amount of additional hardware but also increases the amount of additional memory. There is a drawback that a complicated operation of rearranging and writing the data in the scanning direction corresponding to each of the devices is also necessary so that the data can be read out by one-time selection to the memory device.
【0009】本発明はこれらの欠点を解決するために複
数方向からデータの読み出しが可能なメモリ装置を実現
することを目的とするものである。An object of the present invention is to realize a memory device capable of reading data from a plurality of directions in order to solve these drawbacks.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明においては、特許請求の範囲に記載するよう
に構成している。すなわち、本発明においては、従来の
単一方向アクセスメモリセルに、1個の第3のトランジ
スタと、それ以外のK個(K≧0,整数)のトランジス
タとを付加し、また、メモリ装置に、K方向のワード線
と、M方向(K≧M≧0,整数)のビット線とを付加
し、第3のトランジスタのゲートを2本のビット線のう
ち第L番目のビット線(L=1または2)に接続し、第
3のトランジスタのゲート以外の一端はスタティックフ
リップフロップの第L番目の入出力端子に接続し、第3
のトランジスタのゲート以外の他端は1本のワード線に
接続し、K個のトランジスタ各々についてN番目(K≧
N≧0,整数)のトランジスタのゲートと、K方向のワ
ード線のN番目のワード線とをそれぞれ接続し、K個の
トランジスタのゲート以外の一端はスタティックフリッ
プフロップの2個の入出力端子の一方に接続し、K個の
トランジスタのN番目のトランジスタのゲート以外の他
端はトランジスタのゲートが接続されていない2本のビ
ット線とM方向のビット線のうちの1本のビット線また
は前記1本のワード線に接続した構成を有する。なお、
上記発明のメモリセルの最小単位、すなわちK=M=0
の回路は、後記図1に示す回路である。また、上記1個
の第3のトランジスタは、例えば後記図1または図5の
トランジスタ51に相当し、上記K方向のワード線は、
例えば後記図5のワード線63、64に相当する。In order to achieve the above object, the present invention is constructed as described in the claims. That is, in the present invention, a conventional unidirectional access memory cell is provided with one third transistor and K other transistors (K ≧ 0, an integer), and a memory device is provided. , K-direction word lines and M-direction (K ≧ M ≧ 0, integer) bit lines are added, and the gate of the third transistor is the L-th bit line (L = connect to 1 or 2), the
One end of the other gate of the third transistor is connected to the L-th input and output terminals of the static flip-flop, a third
The other end other than the gate of the transistor is connected to one word line, and the Nth transistor (K ≧
(N ≧ 0, integer) and the Nth word line of the K direction word line are connected to each other, and one end other than the gates of the K transistors is connected to two input / output terminals of the static flip-flop. connect the other hand, the one bit line also of the N-th other end other than the gate of the transistor is the gate of the transistor is not connected two bit lines and the M direction of the bit lines of the K of the transistor
Has a configuration connected to the one word line . In addition,
The minimum unit of the memory cell of the above invention, that is, K = M = 0
The circuit of is a circuit shown in FIG. 1 described later. Further, the one third transistor corresponds to, for example, the transistor 51 in FIG. 1 or FIG. 5 described later, and the word line in the K direction is
For example, it corresponds to the word lines 63 and 64 in FIG. 5 described later.
【0011】[0011]
【作用】上記のように構成したことにより、本発明にお
いては、K+1本のワード線又はトランジスタのゲート
が接続されている1本のビット線でアドレス選択でき、
ビット線の機能も兼ね備えるワード線又はM方向のビッ
ト線からデータの読み出しができる。したがって、これ
らメモリセルの複数個をアレイ状に配置すると、K+2
方向へメモリセルの並びをアドレス選択し、M+2方向
からデータを読み出せるメモリ装置を実現できる。又、
M+1方向へのアドレス選択を行って、M+1方向のビ
ット線から同時読み出しを行うこともできる。With the above-described structure, in the present invention, address selection can be performed by K + 1 word lines or one bit line to which the gate of the transistor is connected,
Data can be read from a word line that also has the function of a bit line or a bit line in the M direction. Therefore, if a plurality of these memory cells are arranged in an array, K + 2
It is possible to realize a memory device which can select the address of the memory cell array in the direction M and read data from the direction M + 2. or,
It is also possible to select addresses in the M + 1 direction and simultaneously read from the bit lines in the M + 1 direction.
【0012】[0012]
【実施例】実施例の説明の前に本発明の基礎となる回路
について説明する。図2は本発明の基礎となるメモリセ
ルの回路図である。メモリセル30は、2個の入出力端
子2,3を持つスタティックフリップフロップ4による
情報保持手段と、例えばnチャネルMIS形電界効果ト
ランジスタで構成された3個のトランジスタ5,6,3
1と、2本のワード線7,32と、3本のビット線8,
9,33とを有する。スタティックフリップフロップ4
は、2個の入出力端子2,3を持ち、内部は図8と同様
の回路構成を有する。第1のトランジスタ5と第2のト
ランジスタ6のゲートは、共通に第1のワード線7に接
続されている。又、第3のトランジスタ31のゲート
は、第2のワード線32に接続されている。スタティッ
クフリップフロップ4の第1の入出力端子2は、第1の
トランジスタ5を介して第1のビット線8に接続されて
いる。又、第1の入出力端子2は、第3のトランジスタ
31を介して第3のビット線33にも接続されている。
一方、スタティックフリップフロップ4の第2の入出力
端子3は、第2のトランジスタ6を介して第2のビット
線9に接続されている。以上がメモリセル30の構成で
ある。以下にメモリセル30の動作を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before explaining the embodiments, the circuit which is the basis of the present invention will be explained. FIG. 2 is a circuit diagram of a memory cell which is the basis of the present invention. The memory cell 30 includes an information holding unit including a static flip-flop 4 having two input / output terminals 2 and 3, and three transistors 5, 6, and 3 formed of, for example, an n-channel MIS type field effect transistor.
1 and 2 word lines 7 and 32 and 3 bit lines 8 and
9 and 33. Static flip-flop 4
Has two input / output terminals 2 and 3, and has an internal circuit configuration similar to that of FIG. The gates of the first transistor 5 and the second transistor 6 are commonly connected to the first word line 7. The gate of the third transistor 31 is connected to the second word line 32. The first input / output terminal 2 of the static flip-flop 4 is connected to the first bit line 8 via the first transistor 5. The first input / output terminal 2 is also connected to the third bit line 33 via the third transistor 31.
On the other hand, the second input / output terminal 3 of the static flip-flop 4 is connected to the second bit line 9 via the second transistor 6. The above is the configuration of the memory cell 30. The operation of the memory cell 30 will be described below.
【0013】〔データの書き込み〕このような構成を有
するメモリセル30において、書き込むデータと同相の
電位を第1のビット線8に印加し、書き込むデータと逆
相の電位を第2のビット線9に印加し、第1のワード線
7を高電位にする。この様にすると、第1のワード線7
に制御される第1のトランジスタ5と第2のトランジス
タ6とがオン状態となり、導通する。このため、第1の
ビット線8の電位と第1の入出力端子2の電位とが同電
位となる。又、第2のビット線9の電位と第2の入出力
端子3の電位とが同電位となる。この様にして、スタテ
ィックフリップフロップ4の2個の入出力端子2,3に
それぞれ書き込むデータに対して同相と逆相の電位が印
加されるので、これに伴いスタティックフリップフロッ
プ4内のオンオフ状態が遷移し、データを書き込むこと
ができる。[Data Writing] In the memory cell 30 having such a configuration, a potential having the same phase as the data to be written is applied to the first bit line 8 and a potential having a phase opposite to the write data is applied to the second bit line 9. To bring the first word line 7 to a high potential. In this way, the first word line 7
The first transistor 5 and the second transistor 6 controlled by the ON state are turned on and become conductive. Therefore, the potential of the first bit line 8 and the potential of the first input / output terminal 2 become the same potential. Further, the potential of the second bit line 9 and the potential of the second input / output terminal 3 become the same potential. In this way, the in-phase and anti-phase potentials are applied to the data to be written to the two input / output terminals 2 and 3 of the static flip-flop 4, so that the on / off state of the static flip-flop 4 is changed accordingly. You can make transitions and write data.
【0014】〔データの保持〕このデータを保持するに
はワード線7,32の両方を低電位とし、2個の入出力
端子2,3を両方ともハイインピーダンス状態とするこ
とで、スタティックフリップフロップ4の状態を維持す
る。[Data Retention] In order to retain this data, both the word lines 7 and 32 are set to a low potential, and the two input / output terminals 2 and 3 are both set to a high impedance state. The state of 4 is maintained.
【0015】〔データの読み出し〕横方向アクセス 第1のビット線8と第2のビット線9を等しい電位にプ
リチャージして高電位にした後に、第1のワード線7を
高電位にして、スタティックフリップフロップ4に保持
された状態を第1のビット線8と第2のビット線9に伝
え、これらのビット線8、9の電位差を検出することに
よって、データを読み出すことができる。又、同様にビ
ット線8、9を等電位にプリチャージし高電位にした
後、第1のワード線7を高電位にして、第1の入出力端
子2の電位が伝わる第1のビット線8の電位変化を検出
することによっても、データを読み出すことができる。
又、同様にビット線8,9を等電位にプリチャージし高
電位にした後、第1のワード線7を高電位にして、第2
の入出力端子3の電位が伝わる第2のビット線9の電位
変化を検出することによっても、データを読み出すこと
ができる。[Reading of Data] Lateral Access After the first bit line 8 and the second bit line 9 are precharged to the same potential and set to the high potential, the first word line 7 is set to the high potential. Data can be read by transmitting the state held in the static flip-flop 4 to the first bit line 8 and the second bit line 9 and detecting the potential difference between these bit lines 8 and 9. Similarly, after the bit lines 8 and 9 are precharged to the same potential and set to the high potential, the first word line 7 is set to the high potential and the potential of the first input / output terminal 2 is transmitted to the first bit line. Data can also be read by detecting the potential change of 8.
Similarly, after the bit lines 8 and 9 are precharged to the same potential and set to the high potential, the first word line 7 is set to the high potential and the second
The data can also be read by detecting the potential change of the second bit line 9 through which the potential of the input / output terminal 3 of FIG.
【0016】縦方向アクセス 縦方向にアクセスしてデータを読み出すには、第3のビ
ット線33をプリチャージして高電位にした後に、第2
のワード線32を高電位にし、第3のビット線33の電
位変化を検出して、データを読み出す。Vertical Access To access data in the vertical direction and read data, the third bit line 33 is precharged to a high potential, and then the second bit line 33 is read.
The potential of the third bit line 33 is detected and the data is read.
【0017】直交同時アクセス 第1のワード線7と第1のビット線8又は第2のビット
線9との組合わせによる読み出し動作と、第2のワード
線32と第3のビット線33との組合わせによる読み出
し動作とを同時に行うことができる。例えば、ビット線
8,9,33を高電位にプリチャージし等電位にした後
に、第1のワード線7により横方向にアクセスして、第
1のビット線8と第2のビット線9からデータを読み出
す。これと同時に、第2のワード線32により縦方向に
アクセスして、第3のビット線33からデータを読み出
す。この様に、同時に2方向からアクセスが可能とな
る。以上、2方向からのデータ読み出しが同等に行える
2方向アクセススタティックメモリセルを構成すること
ができる。Orthogonal Simultaneous Access A read operation by a combination of the first word line 7 and the first bit line 8 or the second bit line 9 and the second word line 32 and the third bit line 33. The read operation by combination can be performed at the same time. For example, after pre-charging the bit lines 8, 9, 33 to a high potential to make them equipotential, the first word line 7 is laterally accessed to access from the first bit line 8 and the second bit line 9. Read the data. At the same time, the second word line 32 is used for vertical access to read data from the third bit line 33. In this way, it is possible to access from two directions at the same time. As described above, it is possible to configure a two-way access static memory cell that can equally read data from two directions.
【0018】図3は、図2に示したメモリセル30をm
行n列に(m×n)個配列し、信号線7,8,9,3
2,33は隣接する縦横のメモリセルとそれぞれ共有し
て配線された2方向アクセススタティックメモリ装置3
4の概念図である。2方向アクセススタティックメモリ
装置34を構成するのに必要なアドレス回路、信号線駆
動回路等は従来のスタティックメモリ装置に用いられて
いる回路と同様の回路が使用出来るので、図3ではそれ
らをすべて省略してある。図3において、第1のワード
線7は横方向にアクセスするとき選択され、それぞれア
ドレスWX1,WX2,…,WXmを与えられ、第1の
ビット線8はビット線BY1,BY2,…,BYn及び
第2のビット線9はビット線BY1′,BY2′,…,
BYn′を介してデータの読み書きを行う。又、第2の
ワード線32は縦方向にアクセスするとき選択され、そ
れぞれアドレスWY1,WY2,…,WYnを与えら
れ、第3のビット線33はビット線BX1,BX2,
…,BXmを介して読み出しを行う。FIG. 3 shows the memory cell 30 shown in FIG.
Signal lines 7, 8, 9, 3 are arranged in (m × n) rows and n columns.
Reference numerals 2 and 33 denote two-way access static memory devices 3 which are wired in common with adjacent vertical and horizontal memory cells.
It is a conceptual diagram of 4. Since address circuits, signal line drive circuits and the like necessary for constructing the two-way access static memory device 34 can use the same circuits as those used in the conventional static memory device, they are all omitted in FIG. I am doing it. In FIG. 3, the first word line 7 is selected when it is accessed in the horizontal direction, is given addresses WX1, WX2, ..., WXm, respectively, and the first bit line 8 is bit lines BY1, BY2 ,. The second bit lines 9 are bit lines BY1 ', BY2', ...,
Data is read and written via BYn '. Also, the second word line 32 is selected when accessing in the vertical direction and given the addresses WY1, WY2, ..., WYn, respectively, and the third bit line 33 is connected to the bit lines BX1, BX2.
,, Read out via BXm.
【0019】以下にメモリ装置34の動作を説明する。 〔データの書き込み〕メモリセルCij(i=1,2,
…,m j=1,2,…,n)にデータを書き込む場
合、アドレスWXiの第1のワード線7を高電位とし、
その他のアドレスのワード線7,32を低電位とし、書
き込むデータと同相の電位を第1のビット線8のBYj
に印加し、かつ書き込むデータと逆相の電位を第2のビ
ット線9のBYj′に印加する。The operation of the memory device 34 will be described below. [Data Writing] Memory Cell Cij (i = 1, 2,
,, m j = 1, 2, ..., N), when writing data to the first word line 7 of the address WXi,
The word lines 7 and 32 of other addresses are set to a low potential, and the potential in the same phase as the data to be written is set to BYj of the first bit line 8.
And a potential having a phase opposite to that of the data to be written is applied to BYj 'of the second bit line 9.
【0020】〔データの読み出し〕横方向アクセス メモリ装置34から、データを横方向にアクセスし読み
出す方法は、アドレスWXi(i=1,2,…,m)で
指定される第1のワード線7を高電位とし、WXi以外
のアドレスを持つ第1のワード線7を低電位とし、あら
かじめプリチャージされている第1のビット線8と第2
のビット線9から、メモリセルCi1,Ci2,…,Cin
のデータを読み出す。[Reading of Data] Lateral Access The method of laterally accessing and reading data from the memory device 34 is as follows. The first word line 7 designated by the address WXi (i = 1, 2, ..., M). Is set to a high potential, the first word line 7 having an address other than WXi is set to a low potential, and the first bit line 8 and second
Bit lines 9 to memory cells Ci1, Ci2, ..., Cin
Read the data of.
【0021】縦方向アクセス アドレスWYj(j=1,2,…,n)で指定される第
2のワード線32を高電位とし、WYj以外のアドレス
を持つ第2のワード線32を低電位とし、あらかじめプ
リチャージされていた第3のビット線33から、メモリ
セルC1j,C2j,…,Cmjのデータを読み出す。The second word line 32 designated by the vertical access address WYj (j = 1, 2, ..., N) is set to a high potential, and the second word line 32 having an address other than WYj is set to a low potential. , The data of the memory cells C1j, C2j, ..., Cmj are read from the pre-charged third bit line 33.
【0022】同時2方向アクセス データを横方向にアクセスすると同時に、縦方向にアク
セスし、2方向から読み出すこともできる。例えば、ア
ドレスWXiで指定される第1のワード線7を高電位と
し、これ以外のアドレスを持つ第1のワード線7を低電
位とし、あらかじめプリチャージされていた第1のビッ
ト線8と第2のビット線9から、メモリセルCi1,Ci
2,…,Cinのデータを読み出す。これと同時に、アド
レスWYjで指定される第2のワード線32を高電位と
し、これ以外のアドレスを持つ第2のワード線32を低
電位とし、あらかじめプリチャージされていた第3のビ
ット線33から、メモリセルC1j,C2j,…,Cmj
に蓄えられたデータを読み出す。この様にして従来の単
一方向アクセスメモリ装置では不可能であったデータ読
み出しを2方向から同等に行える2方向アクセススタテ
ィックメモリ装置を2方向アクセススタティックメモリ
セル30によって実現できる。Simultaneous two-way access Data can be accessed in the horizontal direction and at the same time in the vertical direction and read from two directions. For example, the first word line 7 designated by the address WXi is set to a high potential, the first word line 7 having an address other than this is set to a low potential, and the first pre-charged first bit line 8 and 2 bit lines 9 to memory cells Ci1, Ci
Read the data of 2, ..., Cin. At the same time, the second word line 32 designated by the address WYj is set to high potential, the second word lines 32 having other addresses are set to low potential, and the pre-charged third bit line 33 is set. , Memory cells C1j, C2j, ..., Cmj
Read the data stored in. In this way, the two-way access static memory cell 30 can realize a two-way access static memory device capable of reading data from two directions equally, which is impossible with the conventional one-way access memory device.
【0023】〔本発明の実施例〕図1は、本発明の第1
の実施例図である。図1において、メモリセル50は、
2個の入出力端子2,3を持つスタティックフリップフ
ロップ4による情報保持手段と、例えばnチャネルMI
S形電界効果トランジスタで構成された3個のトランジ
スタ5,6,51と、1本のワード線7と、2本のビッ
ト線8,9とを有する。スタティックフリップフロップ
4は、2個の入出力端子2,3を持ち、内部は前記図8
と同様の回路構成を有する。第1のトランジスタ5と第
2のトランジスタ6のゲートは、共通にワード線7に接
続されている。又、第3のトランジスタ51のゲート
は、第1のビット線8に接続されている。スタティック
フリップフロップ4の第1の入出力端子2は、第1のト
ランジスタ5を介して第1のビット線8に接続されてい
る。それと同時に、第1の入出力端子2は、第3のトラ
ンジスタ51を介してワード線7に接続されている。
又、スタティックフリップフロップ4の第2の入出力端
子3は、第2のトランジスタ6を介して第2のビット線
9に接続されている。以上がメモリセル50の構成であ
る。[Embodiment of the Invention] FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
FIG. In FIG. 1, the memory cell 50 is
Information holding means by a static flip-flop 4 having two input / output terminals 2 and 3, for example, an n-channel MI
It has three transistors 5, 6, 51 formed of S-type field effect transistors, one word line 7, and two bit lines 8, 9. The static flip-flop 4 has two input / output terminals 2 and 3, and the inside is the same as in FIG.
It has the same circuit configuration as. The gates of the first transistor 5 and the second transistor 6 are commonly connected to the word line 7. The gate of the third transistor 51 is connected to the first bit line 8. The first input / output terminal 2 of the static flip-flop 4 is connected to the first bit line 8 via the first transistor 5. At the same time, the first input / output terminal 2 is connected to the word line 7 via the third transistor 51.
The second input / output terminal 3 of the static flip-flop 4 is connected to the second bit line 9 via the second transistor 6. The above is the configuration of the memory cell 50.
【0024】以下にメモリセル50の動作を説明する。 〔データの書込み〕このような構成を有するメモリセル
50へ、書き込むデータと同相の電位を第1のビット線
8に印加し、書き込むデータと逆相の電位を第2のビッ
ト線9に印加し、ワード線7を高電位にする。この様に
すると、ワード線7に制御される第1のトランジスタ5
と第2のトランジスタ6とがオン状態となり、導通す
る。このため、第1のビット線8の電位と第1の入出力
端子2の電位とが同電位となる。又、第2のビット線9
の電位と第2の入出力端子3の電位とが同電位となる。
この様にして、スタティックフリップフロップ4の2個
の入出力端子2,3にそれぞれ書き込むデータに対して
同相と逆相の電位が印加されるので、これに伴いスタテ
ィックフリップフロップ内のオンオフ状態が遷移し、デ
ータを書き込むことができる。ここで、書き込むデータ
により第1のビット線8の電位が変化し、第1ビット線
8に制御される第3のトランジスタ51のオンオフ状態
が遷移するので、第1の入出力端子2には、第1のトラ
ンジスタ5を経由する書き込み経路の他に、第3のトラ
ンジスタ51を経由する経路が生じることがある。しか
し、以下に述べる理由から書き込みに矛盾は生じない。
すなわち、書き込むデータが“1”の場合、第1のビッ
ト線8は高電位となり、第3のトランジスタ51は導通
する。この結果、第1の入出力端子2には、ワ−ド線7
の電位が新たに印加されるが、第1のビット線8と同じ
高電位を持つので、矛盾しない。又、書き込むデ−タが
“0”の場合、第1のビット線8は低電位となり、第3
のトランジスタ51は非導通である。従って、第1のト
ランジスタ5を介する第1のビット線の電位だけが第1
の入出力端子2に印加され矛盾しない。The operation of the memory cell 50 will be described below. [Data Writing] In the memory cell 50 having such a configuration, a potential having the same phase as the data to be written is applied to the first bit line 8 and a potential having the opposite phase to the data to be written is applied to the second bit line 9. , The word line 7 is set to a high potential. In this way, the first transistor 5 controlled by the word line 7
Then, the second transistor 6 is turned on and becomes conductive. Therefore, the potential of the first bit line 8 and the potential of the first input / output terminal 2 become the same potential. Also, the second bit line 9
And the potential of the second input / output terminal 3 become the same potential.
In this way, the in-phase and anti-phase potentials are applied to the data to be written to the two input / output terminals 2 and 3 of the static flip-flop 4, so that the on / off state of the static flip-flop changes. Data can be written. Here, the potential of the first bit line 8 changes depending on the data to be written, and the on / off state of the third transistor 51 controlled by the first bit line 8 transitions. In addition to the write path via the first transistor 5, a path via the third transistor 51 may occur. However, there is no contradiction in writing for the reasons described below.
That is, when the data to be written is "1", the first bit line 8 has a high potential and the third transistor 51 is conductive. As a result, the word line 7 is connected to the first input / output terminal 2.
The new potential is applied, but since it has the same high potential as the first bit line 8, there is no contradiction. When the data to be written is "0", the first bit line 8 has a low potential, and the third bit line 8 has the third potential.
Transistor 51 is non-conductive. Therefore, only the potential of the first bit line via the first transistor 5 is the first
It is applied to the input / output terminal 2 of and there is no conflict.
【0025】〔データの保持〕このデータを保持するに
はワード線7と第1のビット線8との両方を低電位と
し、2個の入出力端子2,3を両方ともハイインピーダ
ンス状態とすることで、スタティックフリップフロップ
4の状態を維持する。[Holding of Data] In order to hold this data, both the word line 7 and the first bit line 8 are set to a low potential, and the two input / output terminals 2 and 3 are both set to a high impedance state. As a result, the state of the static flip-flop 4 is maintained.
【0026】〔データの読み出し〕横方向アクセス 第1のビット線8と第2のビット線9を等電位にディス
チャージして低電位にした後に、ワード線7を高電位に
して、スタティックフリップフロップ4に保持された状
態を第1のビット線8と第2のビット線9に伝え、これ
らのビット線8,9の電位差を検出することによって、
データを読み出すことができる。又、同様にビット線
8,9を等電位にディスチャージし低電位にした後、ワ
ード線7を高電位にして、第1の入出力端子2の電位が
伝わる第1のビット線8の電位の変化を検出することに
よっても、データを読み出すことができる。又、同様に
ビット線8,9を等電位にディスチャージし低電位にし
た後、ワード線7を高電位にして、第2の入出力端子3
の電位が伝わる第2のビット線9の電位の変化を検出す
ることによっても、データを読み出すことができる。以
上のアクセスでは、ワード線を高電位にする前に、ビッ
ト線をディスチャージする。これは、仮に第1のビット
線8をプリチャージすれば、第3のトランジスタ51が
オンし、第1の入出力端子2にワード線7の高電位が印
加され、フリップフロップ4に書き込まれた状態を保持
できない可能性が生じるからである。[Reading of Data] Lateral Access After the first bit line 8 and the second bit line 9 are discharged to the same potential and set to the low potential, the word line 7 is set to the high potential and the static flip-flop 4 is set. Is transmitted to the first bit line 8 and the second bit line 9 and the potential difference between these bit lines 8 and 9 is detected,
Data can be read. Similarly, after the bit lines 8 and 9 are discharged to an equal potential and set to a low potential, the word line 7 is set to a high potential and the potential of the first bit line 8 through which the potential of the first input / output terminal 2 is transmitted. Data can also be read by detecting a change. Similarly, after the bit lines 8 and 9 are discharged to an equal potential and set to a low potential, the word line 7 is set to a high potential and the second input / output terminal 3
The data can also be read by detecting the change in the potential of the second bit line 9 through which the potential of 2 is transmitted. In the above access, the bit line is discharged before the word line is set to the high potential. This means that if the first bit line 8 is precharged, the third transistor 51 is turned on, the high potential of the word line 7 is applied to the first input / output terminal 2, and the data is written in the flip-flop 4. This is because there is a possibility that the state cannot be maintained.
【0027】縦方向アクセス 縦方向にアクセスしてデータを読み出すには、第2のビ
ット線9を低電位にした状態で、ワード線7をディスチ
ャージして低電位にした後、第1のビット線8を高電位
にし、ワード線7の電位の変化を検出して、データを読
み出す。ここで、第2のビット線9を低電位にするのは
以下の理由による。仮に第1の入出力端子2に“1”が
書き込まれている場合、ワード線7がディスチャージ後
に電位が上がり、第2のトランジスタが導通してしまう
が、第2のビット線9を低電位にしてあるため、第2の
入出力端子3に“0”が書き込まれ、データを保持した
ままデータを読み出すことができる。以上、2方向から
データの読み出しが同等に行える2方向アクセススタテ
ィックメモリセルを構成できる。Vertical Access In order to access data in the vertical direction and read data, the word line 7 is discharged to a low potential while the second bit line 9 is at a low potential, and then the first bit line is discharged. 8 is set to a high potential, the change in the potential of the word line 7 is detected, and the data is read. Here, the second bit line 9 is set to a low potential for the following reason. If "1" is written in the first input / output terminal 2, the potential of the word line 7 rises after discharging and the second transistor becomes conductive, but the second bit line 9 is set to a low potential. Therefore, "0" is written in the second input / output terminal 3, and the data can be read while holding the data. As described above, it is possible to configure a two-way access static memory cell that can equally read data from two directions.
【0028】図4は、図1に示したメモリセル50をm
行n列に(m×n)個配列し、信号線7,8,9は隣接
する縦横のメモリセルとそれぞれ共有して配線された2
方向アクセススタティックメモリ装置52の概念図であ
る。2方向アクセススタティックメモリ装置52を構成
するのに必要なアドレス回路、信号線駆動回路等は従来
のスタティックメモリ装置に用いられている回路と同様
の回路が使用できるので、図4ではそれらをすべて省略
してある。ワード線7は横方向にアクセスするとき選択
され、それぞれアドレスWX1,WX2,…,WXmを
与えられ、第1のビット線8はビット線BY1,BY
2,…,BYnおよび第2のビット線9はビット線BY
1′,BY2′,…,BYn′を介してデータの読み書
きを行う。又、第1のビット線8は縦方向にアクセスす
るとき選択され、それぞれアドレスWY1,WY2,
…,WYn(WYj=BYj,j=1,…,n)を持ち、
ワード線7はBX1,BX2,…,BXm(BXi=WX
i,i=1,…,m)で示すビット線の機能を兼ね備え
ている。FIG. 4 shows the memory cell 50 shown in FIG.
Two (m × n) rows are arranged in n rows and the signal lines 7, 8 and 9 are arranged so as to be shared by adjacent vertical and horizontal memory cells, respectively.
3 is a conceptual diagram of a directional access static memory device 52. FIG. Since address circuits, signal line drive circuits and the like necessary for constructing the two-way access static memory device 52 can use the same circuits as those used in the conventional static memory device, they are all omitted in FIG. I am doing it. The word line 7 is selected when it is accessed in the horizontal direction and given the addresses WX1, WX2, ..., WXm, respectively, and the first bit line 8 is set to the bit lines BY1, BY.
2, ..., BYn and the second bit line 9 are bit lines BY
Data is read and written via 1 ', BY2', ..., BYn '. Further, the first bit line 8 is selected when accessing in the vertical direction, and the addresses WY1, WY2, and
..., WYn (WYj = BYj, j = 1, ..., n),
The word lines 7 are BX1, BX2, ..., BXm (BXi = WX
i, i = 1, ..., M) also has the function of the bit line.
【0029】以下にメモリ装置52の動作を説明する。 〔データの書込み〕メモリセルCij(i=1,2,…,
m j=1,2,…,n)にデータを書き込む場合、ア
ドレスWXiのワード線7を高電位とし、その他のアド
レスのワード線7を低電位とし、書き込むデータと同相
の電位を第1のビット線8のBYjに印加し、書き込む
データと逆相の電位を第2のビット線9のBYj′に印
加する。The operation of the memory device 52 will be described below. [Data Writing] Memory Cell Cij (i = 1, 2, ...,
When writing data to m j = 1, 2, ..., N), the word line 7 of the address WXi is set to a high potential, the word lines 7 of other addresses are set to a low potential, and the potential in the same phase as the data to be written is set to the first potential. It is applied to BYj of the bit line 8 and a potential opposite in phase to the data to be written is applied to BYj 'of the second bit line 9.
【0030】〔データの読み出し〕横方向アクセス メモリ装置52から、データを横方向にアクセスし読み
出す方法は、アドレスWXi(i=1,2,…,m)で
指定されるワード線7を高電位とし、これ以外のアドレ
スのワード線7を低電位とし、あらかじめディスチャー
ジされている第1のビット線8と第2のビット線9か
ら、メモリセルCi1,Ci2,…,Cinのデータを読み
出す。[Reading of Data] Lateral Access In the method of laterally accessing and reading data from the memory device 52, the word line 7 designated by the address WXi (i = 1, 2, ..., M) is set to a high potential. Then, the word lines 7 of addresses other than this are set to a low potential, and the data of the memory cells Ci1, Ci2, ..., Cin are read from the first bit line 8 and the second bit line 9 which have been discharged in advance.
【0031】縦方向アクセス 第2のビット線9をすべて低電位にした状態で、アドレ
スWYj(j=1,2,…,n)で指定される第1のビ
ット線8を高電位とし、これ以外のアドレスの第1のビ
ット線8を低電位とし、あらかじめディスチャージされ
ていたワード線7から、メモリセルC1j,C2j,…,
Cmjのデータを読み出す。この様にして従来の単一方向
アクセスメモリ装置では不可能であったデータ読み出し
を2方向から同等に行える2方向アクセススタティック
メモリ装置を2方向アクセススタティックメモリセル5
0によって実現できる。Vertical access With the second bit lines 9 all set to low potential, the first bit line 8 designated by the address WYj (j = 1, 2, ..., N) is set to high potential, and Memory cells C1j, C2j, ..., From the previously discharged word line 7 to the first bit line 8 of an address other than
Read the data of Cmj. In this way, the two-way access static memory device which can perform the data read from the two directions equally, which is impossible in the conventional one-way access memory device, is provided as the two-way access static memory cell 5.
It can be realized by 0.
【0032】さらに本発明においては、ワード線とビッ
ト線とを共有することによってハードウエアの量を大幅
に減少させることが出来る。以下、説明する。図1に示
した本発明の最小単位の回路(K=0、M=0の場合)
においては、図4から判るように、ワード線7(WX
m)はビット線(BXm)を兼ねており、また、ビット
線8(BYn)はワード線(WYn)を兼ねている。し
たがってワード線またはビット線の数を大幅に減少させ
ることが出来る。Further, in the present invention, the amount of hardware can be greatly reduced by sharing the word line and the bit line. This will be described below. The minimum unit circuit of the present invention shown in FIG. 1 (when K = 0 and M = 0)
, The word line 7 (WX
m) also serves as a bit line (BXm), and the bit line 8 (BYn) also serves as a word line (WYn). Therefore, the number of word lines or bit lines can be significantly reduced.
【0033】次に、図5は、本発明の第2の実施例図で
ある。図5において、メモリセル60は、前記図1のメ
モリセル50に、例えばnチャネルMIS形電界効果ト
ランジスタで構成された2個のトランジスタ61,62
と、2本のワード線63,64とを付加して構成される
スタティックフリップフロップ4、2個の入出力端子
2,3、トランジスタ5,6,51、第1のワード線
7、ビット線8,9は前記のメモリセル50と同様の接
続関係を有する。なお、この実施例は、ワード線は2本
付加しているが、ビット線の付加はないので、K=2、
M=0の場合に相当する。 Next, FIG. 5 is a second embodiment of the present invention. 5, a memory cell 60 is the same as the memory cell 50 of FIG. 1 except that two transistors 61 and 62 each composed of, for example, an n-channel MIS field effect transistor.
And a static flip-flop 4 configured by adding two word lines 63 and 64, two input / output terminals 2 and 3, transistors 5, 6 and 51, a first word line 7 and a bit line 8 , 9 have the same connection relationship as the memory cell 50. In this embodiment, there are two word lines.
Although it is added, since there is no bit line added, K = 2,
This corresponds to the case of M = 0.
【0034】第4のトランジスタ61のゲートは、第2
のワード線63に接続されている。又、第5のトランジ
スタ62のゲートは、第3のワード線64に接続されて
いる。スタティックフリップフロップ4の第1の入出力
端子2は、第5のトランジスタ62を介してワード線7
に接続されている。又、スタティックフリップフロップ
4の第2の入出力端子3は、第4のトランジスタ61を
介して第2のビット線9に接続されている。以上がメモ
リセル60の構成である。The gate of the fourth transistor 61 has the second
Is connected to the word line 63. The gate of the fifth transistor 62 is connected to the third word line 64. The first input / output terminal 2 of the static flip-flop 4 is connected to the word line 7 via the fifth transistor 62.
It is connected to the. The second input / output terminal 3 of the static flip-flop 4 is connected to the second bit line 9 via the fourth transistor 61. The above is the configuration of the memory cell 60.
【0035】以下にメモリセル60の動作を説明する。 〔データの書き込み〕このような構成を有するメモリセ
ル60へ、書き込むデータと同相の電位を第1のビット
線8に印加し、書き込むデータと逆相の電位を第2のビ
ット線9に印加し、第1のワード線7を高電位にする。
この様にすると、ワード線7に制御される第1のトラン
ジスタ5と第2のトランジスタ6とがオン状態となり、
導通する。このため、第1のビット線8の電位と第1の
入出力端子2の電位とが同電位となる。又、第2のビッ
ト線9の電位と第2の入出力端子3の電位とが同電位と
なる。この様にして、スタティックフリップフロップ4
の2個の入出力端子2,3にそれぞれ書き込むデータに
対して同相と逆相の電位が印加されるので、これに伴い
スタティックフリップフロップ内のオンオフ状態が遷移
し、データを書き込むことができる。The operation of the memory cell 60 will be described below. [Data Writing] In the memory cell 60 having such a configuration, a potential having the same phase as the data to be written is applied to the first bit line 8 and a potential having the opposite phase to the data to be written is applied to the second bit line 9. , The first word line 7 is set to a high potential.
In this way, the first transistor 5 and the second transistor 6 controlled by the word line 7 are turned on,
Conduct. Therefore, the potential of the first bit line 8 and the potential of the first input / output terminal 2 become the same potential. Further, the potential of the second bit line 9 and the potential of the second input / output terminal 3 become the same potential. In this way, the static flip-flop 4
Since the in-phase and anti-phase potentials are applied to the data to be written to the two input / output terminals 2 and 3, the on / off state in the static flip-flop changes accordingly, and the data can be written.
【0036】〔データの保持〕このデータを保持するに
はワード線7,63,64と第1のビット線8とのすべ
てを低電位とし、2個の入出力端子2,3を両方ともハ
イインピーダンス状態とすることで、スタティックフリ
ップフロップ4の状態を維持する。[Holding of Data] In order to hold this data, all of the word lines 7, 63, 64 and the first bit line 8 are set to low potential, and the two input / output terminals 2 and 3 are both set to high. By setting the impedance state, the state of the static flip-flop 4 is maintained.
【0037】〔データの読み出し〕 横方向アクセス 前記のメモリセル50と同様にデータを読み出す。但
し、ワード線63,64は低電位にしておく。 縦方向アクセス 前記のメモリセル50と同様にデータを読み出す。但
し、ワード線63,64は低電位にしておく。 斜め右上方向アクセス ワード線7を低電位とした状態で、第2のワード線63
を高電位とし、第2のビット線9の電位変化を検出し
て、データを読み出す。 斜め左上方向アクセス 第1のビット線8を低電位とした状態で、第3のワード
線64を高電位とし、第1のワード線7の電位変化を検
出して、データを読み出す。 以上の構成により、4方向からアドレス選択して2方向
からデータの読み出しが同等に行える4方向アクセスス
タティックメモリセルを構成することができる。[Reading of Data] Lateral Access Data is read in the same manner as the memory cell 50. However, the word lines 63 and 64 are kept at a low potential. Vertical access Data is read in the same manner as the memory cell 50 described above. However, the word lines 63 and 64 are kept at a low potential. Diagonal upper right access With the word line 7 at a low potential, the second word line 63
Is set to a high potential, the potential change of the second bit line 9 is detected, and the data is read. Oblique upper left direction access With the first bit line 8 set to a low potential, the third word line 64 is set to a high potential, the potential change of the first word line 7 is detected, and the data is read. With the above configuration, the address is selected from four directions and two directions are selected.
From the data reading can be configured in four directions access static memory cell that allows equivalent.
【0038】図6は、図5に示したメモリセル60をm
行n列に(m×n)個配列し、信号線7,8,9,6
3,64は隣接する縦横のメモリセルとそれぞれ共有配
線した4方向アクセススタティックメモリ装置65の概
念図である。4方向アクセススタティックメモリ装置6
5を構成するのに必要なアドレス回路、信号線駆動回路
等は従来のスタティックメモリ装置に用いられている回
路と同様の回路が使用できるので、図6ではそれらをす
べて省略してある。第1のワード線7のアドレスWX
1,WX2,…,WXm、第1のビット線8のBY1,
BY2,…,BYn、第2のビット線9のBY1′,B
Y2′,…,BYn′、第1のビット線8によるアドレ
スWY1,WY2,…,WYn、第1のワード線7によ
るBX1,BX2,…,BXmは前記図4のメモリ装置
52と同様に用いられる。一方、第2のワード線63に
アドレスWR1,WR2,…,WR(m+n-1)が与えら
れ斜め右上方向にアクセスするとき選択され、第3のワ
ード線64にアドレスWL1,WL2,…,WL(m+n-
1)が与えられ斜め左上方向にアクセスするとき選択さ
れる。以下にメモリ装置65の動作を説明する。FIG. 6 shows the memory cell 60 shown in FIG.
Signal lines 7, 8, 9, 6 are arranged in (m × n) rows and n columns.
Reference numerals 3 and 64 are conceptual views of a four-way access static memory device 65 in which shared wiring is made with adjacent vertical and horizontal memory cells. 4-way access static memory device 6
Since the address circuit, the signal line drive circuit, and the like necessary for forming 5 can be the same as the circuits used in the conventional static memory device, they are omitted in FIG. Address WX of first word line 7
1, WX2, ..., WXm, BY1, of the first bit line 8
BY2, ..., BYn, BY1 ′, B of the second bit line 9
, BYn ', addresses WY1, WY2, ..., WYn by the first bit line 8 and BX1, BX2, ..., BXm by the first word line 7 are used similarly to the memory device 52 of FIG. To be On the other hand, the addresses WR1, WR2, ..., WR (m + n-1) are given to the second word line 63 and are selected when accessing in the diagonally upper right direction, and the addresses WL1, WL2 ,. , WL (m + n-
1) is given and is selected when accessing diagonally to the upper left. The operation of the memory device 65 will be described below.
【0039】〔データの書き込み〕メモリセルCij(i
=1,2,…,mj=1,2,…,n)にデータを書き
込む場合、前記のメモリ装置52と同様にアドレスWX
iの第1のワード線7を高電位とし、その他のアドレス
のワード線7,63,64及びビット線8を低電位と
し、書き込むデータと同相の電位を第1のビット線8の
BYjに印加し、書き込むデータと逆相の電位を第2の
ビット線9BYj′に印加する。[Data Writing] Memory Cell Cij (i
= 1, 2, ..., Mj = 1, 2, ..., N), when writing data to the address WX as in the memory device 52 described above.
The first word line 7 of i is set to a high potential, the word lines 7, 63, 64 of the other addresses and the bit line 8 are set to a low potential, and a potential in the same phase as the data to be written is applied to BYj of the first bit line 8. Then, the potential opposite in phase to the data to be written is applied to the second bit line 9BYj '.
【0040】〔データの読み出し〕横方向アクセス 前記のメモリ装置52と同様にデータを読み出す。但
し、該当するアドレス以外のワード線は低電位にする。[Reading of Data] Horizontal Access Data is read in the same manner as the memory device 52. However, word lines other than the corresponding address are set to low potential.
【0041】縦方向アクセス 前記のメモリ装置52と同様にデータを読み出す。但
し、該当するアドレス以外のワード線は低電位にする。Vertical access Data is read in the same manner as the memory device 52 described above. However, word lines other than the corresponding address are set to low potential.
【0042】斜め右上方向アクセス アドレスWRi(i=1,2,…,m+n-1)で指定され
る第2のワード線63を高電位とし、これ以外のアドレ
スの第2のワード線63およびすべての第1のワード線
7を低電位とし、あらかじめディスチャージされている
第2のビット線9から、該当するメモリセルのデータを
読み出す。The second word line 63 designated by the diagonally upper right access address WRi (i = 1, 2, ..., M + n-1) is set to a high potential, and the second word lines 63 of other addresses are set. And all the first word lines 7 are set to a low potential, and the data of the corresponding memory cell is read from the second bit line 9 which is previously discharged.
【0043】斜め左上方向アクセス あらかじめ第2のビット線9を低電位とした状態で、ア
ドレスWLi(i=1,2,…,m+n−1)で指定さ
れる第3のワード線64を高電位とし、これ以外のアド
レスの第3のワード線64およびすべての第1のビット
線8を低電位とし、あらかじめディスチャージされてい
る第1のワード線7から、該当するメモリセルのデータ
を読み出す。 以上、4方向からアドレス選択して2方向からデータの
読み出しが同等に行える4方向アクセススタティックメ
モリ装置を4方向アクセススタティックメモリセル60
により構成することができる。この様にして従来の単一
方向アクセスメモリ装置では不可能であった4方向から
のアドレス選択を同等に行える4方向アクセススタティ
ックメモリ装置を実現できる。Oblique upper left access With the second bit line 9 set to a low potential in advance, the third word line 64 designated by the address WLi (i = 1, 2, ..., M + n-1) is set to a high potential. Then, the third word line 64 of all other addresses and all the first bit lines 8 are set to a low potential, and the data of the corresponding memory cell is read from the first word line 7 which is previously discharged. As described above, the four-direction access static memory device capable of selecting the addresses from the four directions and reading the data from the two directions is equivalent to the four-direction access static memory cell 60.
It can be configured by. In this way, it is possible to realize a four-way access static memory device that can equally select addresses from four directions, which was impossible with the conventional unidirectional access memory device.
【0044】以上、本発明による第1の実施例では、1
ワード線2ビット線式の2方向アドレス選択2方向デー
タ読み出し可能メモリセルの場合、第2の実施例では、
3ワード線2ビット線式の4方向アドレス選択2方向デ
ータ読み出し可能メモリセルの場合を示した。これらの
実施例に示すように、従来の単一方向アクセスメモリセ
ルに、1個の第1のトランジスタと、その他のK個(K
≧0,整数)のトランジスタを付加し、またK方向のワ
ード線と、M方向(K≧M≧0,整数)のビット線を付
加することにより、K+1本のワード線又はトランジス
タのゲートが接続されている1本のビット線でアドレス
選択でき、ビット線の機能も兼ね備えるワード線又はM
方向のビット線からデータの読み出しができる多方向ア
ドレス選択が可能なメモリセルを構成でき、これらメモ
リセルの複数個をアレイ状に配置すると、K+2方向へ
メモリセルの並びをアドレス選択し、M+2方向からデ
ータを読み出せるメモリ装置を実現できる。又、M+1
方向へのアドレス選択を行って、M+1方向のビット線
から同時読み出しを行うこともできる。As described above, in the first embodiment according to the present invention, 1
In the case of a memory cell capable of reading data in two directions by selecting word lines and two bit lines in the two-direction address, in the second embodiment,
The case of a memory cell capable of reading 4-direction address selection 2-direction data of 3-word line 2-bit line type is shown. As shown in these embodiments, a conventional unidirectional access memory cell has one first transistor and K other (K
By adding a transistor of ≧ 0, an integer) and a word line in the K direction and a bit line of the M direction (K ≧ M ≧ 0, an integer), K + 1 word lines or gates of transistors are connected. Addresses can be selected with a single bit line provided, and word line or M
A memory cell capable of multi-directional address selection capable of reading data from a bit line in the direction can be formed. When a plurality of these memory cells are arranged in an array, the memory cell array is selected in the K + 2 direction, and the M + 2 direction is selected. It is possible to realize a memory device that can read data from the memory. Also, M + 1
It is also possible to select addresses in the direction and read simultaneously from the bit lines in the direction M + 1.
【0045】以上説明したように、本発明のメモリセル
によれば、多方向からアドレス選択可能なメモリ装置を
実現できる。画像処理や文字認識など2次元に配置され
るデータを処理する場合、本発明のメモリセルからなる
多方向アクセススタティックメモリ装置を使用すること
により、従来の単一方向アクセススタティックメモリ装
置では不可能であった多方向からのデータの読み出しが
容易に行えるようになる。一例として、前記従来技術の
項で記述した図9、図10の例におけるパタンメモリ装
置17〜21に、本発明による4方向アクセススタティ
ックメモリ装置を適用した例を図7に示す。図7に示さ
れる4方向からアドレス選択可能な4方向アクセススタ
ティックメモリ装置70は、図6に示した本発明のパタ
ンメモリ装置65のm=7,n=5の場合で実現され、
図7のパタンメモリ装置70のアドレス、ビット線はメ
モリ装置65と同一の趣旨で用いられる。上記の装置に
おける動作は、次のようになる。横方向にデータを走査
する場合は、アドレスWX1〜WX7により選択し、ビ
ット線BY1〜BY5又はビット線BY1′〜BY5′
から読み出す。縦方向にデータを走査する場合は、アド
レスWY1〜WY5により選択し、ビット線BX1〜B
X7から読み出す。斜め右上方向にデータを走査する場
合は、アドレスWR1〜WR11によって選択し、ビッ
ト線BY1′〜BY5′から読み出す。斜め左上方向に
データを走査する場合は、アドレスWL1〜WL11に
よって選択し、ビット線BX1〜BX7から読み出す。
以上のことから、縦・横・斜め2方向、どちらの方向か
らデータを読み出す場合でも、1回のアクセスで十分と
なる。すなわち、従来のm行n列の単一方向アクセスメ
モリ装置では、ワード線と異なる方向に走査する場合、
最悪m回のアクセスが必要であったのに対して、本発明
の多方向アクセスメモリ装置では1回のアクセスで実行
できる。As described above, according to the memory cell of the present invention, a memory device capable of address selection from multiple directions can be realized. In the case of processing two-dimensionally arranged data such as image processing and character recognition, the multidirectional access static memory device including the memory cell of the present invention cannot be used in the conventional unidirectional access static memory device. It becomes possible to easily read data from the existing multiple directions. As an example, FIG. 7 shows an example in which the 4-way access static memory device according to the present invention is applied to the pattern memory devices 17 to 21 in the examples of FIGS. 9 and 10 described in the section of the prior art. A four-way access static memory device 70 capable of address selection from four directions shown in FIG. 7 is realized when m = 7 and n = 5 of the pattern memory device 65 of the present invention shown in FIG.
Addresses and bit lines of the pattern memory device 70 of FIG. 7 are used for the same purpose as the memory device 65. The operation of the above device is as follows. When data is scanned in the horizontal direction, it is selected by the addresses WX1 to WX7, and the bit lines BY1 to BY5 or the bit lines BY1 'to BY5' are selected.
Read from. When data is scanned in the vertical direction, it is selected by the addresses WY1 to WY5 and the bit lines BX1 to BX are selected.
Read from X7. When scanning the data in the diagonally upper right direction, the data is selected by the addresses WR1 to WR11 and read from the bit lines BY1 'to BY5'. When scanning the data in the diagonally upper left direction, the data is selected by the addresses WL1 to WL11 and read from the bit lines BX1 to BX7.
From the above, one access is sufficient no matter which direction, vertical, horizontal or diagonal, the data is read. That is, in the conventional unidirectional access memory device having m rows and n columns, when scanning in a direction different from the word line,
In the worst case, m accesses are required, whereas the multi-directional access memory device of the present invention can be executed with one access.
【0046】なお、上述において、メモリセルの僅かな
実施例を述べたに留ったが、本発明の精神を脱すること
なしに、種々の変形、変更をなし得る。Although only a few examples of the memory cell have been described above, various modifications and changes can be made without departing from the spirit of the present invention.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、従来の単一方向アクセススタティックメモリ装置で
は不可能であった多方向からのデータの読み出しが容易
に行えるようになる。また、本発明によると、走査方向
別にメモリ装置を備えることが不要となるばかりでな
く、そのメモリ装置へあらかじめ各走査方向別に配列を
変えてデータを書き込む必要がなくなり、ハードウェア
量、選択時間を著しく削減できる効果がある。また、本
発明においては、ビット線を多方向で共有したり、ワー
ド線とビット線とを兼用したりすることが出来るので、
ビット線やワード線の数を減少させることが出来、それ
に伴ってそれらの線に付随する周辺回路も減少させるこ
とが出来るので、全体のハードウエア量を大幅に減少さ
せることが出来る、という効果が得られる。As described above, according to the present invention, it is possible to easily read data from multiple directions, which is impossible with the conventional unidirectional access static memory device. Further, according to the present invention, not only is it unnecessary to provide a memory device for each scanning direction, but it is not necessary to change the arrangement for each scanning direction in advance and write data to the memory device, which reduces the hardware amount and the selection time. There is a significant reduction effect. Further, in the present invention, since the bit lines can be shared in multiple directions, and the word line and the bit line can be used in common,
Since the number of bit lines and word lines can be reduced and the peripheral circuits associated with those lines can be reduced accordingly, the effect that the total hardware amount can be significantly reduced is achieved. can get.
【図1】本発明の第1の実施例で、1ワード線2ビット
線式の2方向アクセスメモリセルの回路図。FIG. 1 is a circuit diagram of a one-word-line / two-bit-line bidirectional access memory cell according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の基礎となるメモリセルの回路図。FIG. 2 is a circuit diagram of a memory cell which is the basis of the present invention.
【図3】図2のメモリセルをアレイ状に配列したメモリ
装置の回路図。FIG. 3 is a circuit diagram of a memory device in which the memory cells of FIG. 2 are arranged in an array.
【図4】図1の2方向アクセスメモリセルをアレイ状に
配列した2方向アクセスメモリ装置の回路図。FIG. 4 is a circuit diagram of a bidirectional access memory device in which the bidirectional access memory cells of FIG. 1 are arranged in an array.
【図5】本発明の第2の実施例で、3ワード線2ビット
線式の4方向アクセスメモリセルの回路図。FIG. 5 is a circuit diagram of a 4-word access memory cell of 3 word lines and 2 bit lines type according to a second embodiment of the present invention.
【図6】図5の4方向アクセスメモリセルをアレイ状に
配列した4方向アクセスメモリ装置の回路図。6 is a circuit diagram of a 4-way access memory device in which the 4-way access memory cells of FIG. 5 are arranged in an array.
【図7】文字データ用の4方向アクセスのパタンメモリ
装置の概念図。FIG. 7 is a conceptual diagram of a 4-way access pattern memory device for character data.
【図8】従来の1ワード線2ビット線式の単一方向アク
セスメモリセルによる単一方向アクセスメモリ装置の回
路図。FIG. 8 is a circuit diagram of a conventional unidirectional access memory device including 1 word line and 2 bit line unidirectional access memory cells.
【図9】文字データ用のパタンメモリ装置が1個の場合
の概念図。FIG. 9 is a conceptual diagram when there is one pattern memory device for character data.
【図10】文字データのパタンメモリ装置が4個の場合
の概念図。 符号の説明 1…単一方向アクセスメモリセル 2,3…入出力端子 4…スタティックフリップフロップ 5,6…nチャネルMIS形電界効果トランジスタ 7…ワード線 8,9…ビット線 10,11…nチャネルMIS形電界効果トランジスタ 12,13…pチャネルMIS形電界効果トランジスタ 14…電源端子 15…単一方向アクセスメモリ装置 16…文字データ 17,18…7行5列の単一方向アクセスメモリ装置 19,20…11行5列の単一方向アクセスメモリ装置 21…5行7列の単一方向アクセスメモリ装置 30…2ワード線3ビット線式2方向アクセスメモリセ
ル 31…nチャネルMIS形電界効果トランジスタ 32…ワード線 33…ビット線 34…2方向アクセスメモリ装置 50…1ワード線2ビット線式2方向アクセスメモリセ
ル 51…nチャネルMIS形電界効果トランジスタ 52…2方向アクセスメモリ装置 60…3ワード線2ビット線式4方向アクセスメモリセ
ル 61,62…nチャネルMIS形電界効果トランジスタ 63,64…ワード線 65…4方向アクセスメモリ装置 70…文字データ用のパタンメモリ装置FIG. 10 is a conceptual diagram when there are four character data pattern memory devices. Explanation of reference numerals 1 ... Unidirectional access memory cell 2, 3 ... Input / output terminal 4 ... Static flip-flop 5, 6 ... N channel MIS field effect transistor 7 ... Word line 8, 9 ... Bit line 10, 11 ... N channel MIS field effect transistor 12, 13 ... P-channel MIS field effect transistor 14 ... Power supply terminal 15 ... Unidirectional access memory device 16 ... Character data 17, 18 ... Unidirectional access memory device of 7 rows and 5 columns 19, 20 11-row, 5-column unidirectional access memory device 21 ... 5-row, 7-column unidirectional access memory device 30 ... 2-word line 3-bit line 2-way access memory cell 31 ... n-channel MIS field effect transistor 32 ... Word line 33 ... Bit line 34 ... Bidirectional access memory device 50 ... 1 Word line 2 Bit line type 2-way Access memory cell 51 ... N-channel MIS field effect transistor 52 ... 2-way access memory device 60 ... 3 word line 2-bit line 4-way access memory cell 61, 62 ... N-channel MIS field effect transistor 63, 64 ... Word line 65 ... 4-direction access memory device 70 ... Pattern memory device for character data
Claims (1)
個の入出力端子を備えるスタティックフリップフロップ
とからなり、前記第1のトランジスタのゲート以外の一
端を前記スタティックフリップフロップの第1の入出力
端子に接続し、前記第2のトランジスタのゲート以外の
一端を前記スタティックフリップフロップの第2の入出
力端子に接続してなるメモリセルを、複数個m行n列の
行列に組み合わせ、かつ、各行1本のワード線と各列第
1、第2の2本のビット線を有し、各メモリセル内の前
記2個のトランジスタのゲートを該当する行の前記1本
のワード線に共通接続し、第1のトランジスタのゲート
以外の他端は該当する列の前記第1のビット線に接続
し、第2のトランジスタのゲート以外の他端は該当する
列の前記第2のビット線に接続してなる単一方向アクセ
スメモリ装置において、前記各メモリセルに、1個の第
3のトランジスタと、それ以外のK個(K≧0,整数)
のトランジスタとを付加し、前記メモリ装置に、K方向
のワード線と、M方向(K≧M≧0,整数)のビット線
とを付加し、前記第3のトランジスタのゲートを前記2
本のビット線のうち第L番目のビット線(L=1または
2)に接続し、前記第3のトランジスタのゲート以外の
一端は前記スタティックフリップフロップの第L番目の
入出力端子に接続し、前記第3のトランジスタのゲート
以外の他端は前記1本のワード線に接続し、前記K個の
トランジスタ各々についてN番目(K≧N≧0,整数)
のトランジスタのゲートと、前記K方向のワード線のN
番目のワード線とをそれぞれ接続し、前記K個のトラン
ジスタのゲート以外の一端は前記スタティックフリップ
フロップの2個の入出力端子の一方に接続し、前記K個
のトランジスタのN番目のトランジスタのゲート以外の
他端はトランジスタのゲートが接続されていない前記2
本のビット線と前記M方向のビット線のうちの1本のビ
ット線または前記1本のワード線に接続してなり、1方
向からアドレス選択して1方向からデータを書き込み、
K+2方向からアドレス選択してM+2方向からデータ
を読み出せることを特徴とする多方向読み出し1方向書
き込みメモリ装置。1. A first and a second transistor, and 2
A static flip-flop having a plurality of input / output terminals, one end other than the gate of the first transistor is connected to the first input / output terminal of the static flip-flop, and one end other than the gate of the second transistor is connected. A plurality of memory cells, each of which is connected to the second input / output terminal of the static flip-flop, are combined in a matrix of m rows and n columns, and one word line in each row and first and second rows in each column. 2 bit lines, the gates of the 2 transistors in each memory cell are commonly connected to the 1 word line in the corresponding row, and the other end other than the gate of the 1st transistor is in the corresponding column. Of the second transistor connected to the first bit line and the other end other than the gate of the second transistor connected to the second bit line of the corresponding column. The each memory cell, one of the
3 transistors and K other than that (K ≧ 0, integer)
, A word line in the K direction and a bit line in the M direction (K ≧ M ≧ 0, an integer) are added to the memory device, and the gate of the third transistor is added to the memory device.
Connected to the L-th bit line (L = 1 or 2) of the two bit lines, and one end other than the gate of the third transistor is connected to the L-th input / output terminal of the static flip-flop, The other end other than the gate of the third transistor is connected to the one word line, and is the N-th (K ≧ N ≧ 0, integer) for each of the K transistors.
And the N of the word line in the K direction.
The word line of the Kth transistor is connected to one of the two input / output terminals of the static flip-flop and the gate of the Nth transistor of the Kth transistor. The other end except the above is not connected to the gate of the transistor
Connected to one bit line or one of the M-direction bit lines or the one word line, and selects data from one direction to write data from one direction.
A multi-directional read one-way write memory device characterized in that an address can be selected from the K + 2 direction and data can be read from the M + 2 direction.
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|---|---|---|---|
| JP3306382A JPH0743937B2 (en) | 1991-11-21 | 1991-11-21 | Multi-directional read one-way write memory device |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP3306382A JPH0743937B2 (en) | 1991-11-21 | 1991-11-21 | Multi-directional read one-way write memory device |
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|---|---|---|---|
| JP60084642A Division JPS61243545A (en) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | Memory cell of multidirectional read and unidirectional write |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0743937B2 (en) |
-
1991
- 1991-11-21 JP JP3306382A patent/JPH0743937B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH056668A (en) | 1993-01-14 |
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