JPH0746541B2 - オルガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法 - Google Patents
オルガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法Info
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- JPH0746541B2 JPH0746541B2 JP61261345A JP26134586A JPH0746541B2 JP H0746541 B2 JPH0746541 B2 JP H0746541B2 JP 61261345 A JP61261345 A JP 61261345A JP 26134586 A JP26134586 A JP 26134586A JP H0746541 B2 JPH0746541 B2 JP H0746541B2
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- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、オルガノポリシロキサンガスに起因する電気
開閉接点の導電不良障害を防止する方法に関する。
開閉接点の導電不良障害を防止する方法に関する。
［従来の技術］ オルガノポリシロキサンを主成分とするシリコーン製品
は、耐熱性、耐寒性、耐薬品性が良く、電気絶縁性にす
ぐれていることから耐熱電線パッキン、グリースなどの
絶縁材料として多くの電気機器に使用されている。ま
た、導電性充填剤を添加して導電性材料としても電気機
器に使用されている。ところが、これらシリコーン製品
は、近傍で使用されている電気開閉接点に悪影響を及ぼ
し、しばしば、電気接点不良障害すなわち導電不良障害
を起こしている。これはシリコーン製品に残存している
低分子オルガノポリシロキサンが常温下または加熱下で
蒸発し、このガスを電気開閉接点に達して接点開閉接点
時の放電エネルギーを受け、化学変化を起こして二酸化
けい素、炭化けい素等の絶縁物質を形成するためである
と報告されている［例えば電気通信学会技術研究報告76
（226）29〜38（'77）参照］。一方、かかる低分子オル
ガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電
不良障害を防止する方法としては、抜本的な解決手段が
見出だされておらず、わずかに、加熱脱気処理によって
低分子オルガノポリシロキサンを除去する方法、電気開
閉接点にかかる電圧と電流の負荷条件を導電不良の起こ
らない限定された範囲に留める方法が提案されているに
過ぎない。
は、耐熱性、耐寒性、耐薬品性が良く、電気絶縁性にす
ぐれていることから耐熱電線パッキン、グリースなどの
絶縁材料として多くの電気機器に使用されている。ま
た、導電性充填剤を添加して導電性材料としても電気機
器に使用されている。ところが、これらシリコーン製品
は、近傍で使用されている電気開閉接点に悪影響を及ぼ
し、しばしば、電気接点不良障害すなわち導電不良障害
を起こしている。これはシリコーン製品に残存している
低分子オルガノポリシロキサンが常温下または加熱下で
蒸発し、このガスを電気開閉接点に達して接点開閉接点
時の放電エネルギーを受け、化学変化を起こして二酸化
けい素、炭化けい素等の絶縁物質を形成するためである
と報告されている［例えば電気通信学会技術研究報告76
（226）29〜38（'77）参照］。一方、かかる低分子オル
ガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電
不良障害を防止する方法としては、抜本的な解決手段が
見出だされておらず、わずかに、加熱脱気処理によって
低分子オルガノポリシロキサンを除去する方法、電気開
閉接点にかかる電圧と電流の負荷条件を導電不良の起こ
らない限定された範囲に留める方法が提案されているに
過ぎない。
そこで、本発明者らは、上記問題点を解消すべく鋭意検
討した結果本発明に到達した。すなわち、本発明の目的
はリレー、スイッチ、マイクロモータ等に使用されてい
る電気開閉接点のオルガノポリシロキサンガスに起因す
る導電不良障害を防止する方法を提供するにある。
討した結果本発明に到達した。すなわち、本発明の目的
はリレー、スイッチ、マイクロモータ等に使用されてい
る電気開閉接点のオルガノポリシロキサンガスに起因す
る導電不良障害を防止する方法を提供するにある。
［問題点を解決する手段とその作用］ 前記目的は、オルガノポリシロキサンガスに起因する電
気開閉接点の導電不良障害を防止する方法において、該
オルガノポリシロキサンガスに窒素原子含有塩基性化合
物ガスを共存させることにより、該電気開閉接点の導電
不良障害を防止する方法によって達成される。
気開閉接点の導電不良障害を防止する方法において、該
オルガノポリシロキサンガスに窒素原子含有塩基性化合
物ガスを共存させることにより、該電気開閉接点の導電
不良障害を防止する方法によって達成される。
これを説明するに、本発明に言うオルガノポリシロキサ
ンガスとは、電気開閉接点の導電不良障害を起こす揮発
性の低分子オルガノポリシロキサンガスであり、かかる
ガスは、電気機器の構成材料または附属材料として使用
されているシリコーンオイル、シリコーンゴム、シリコ
ーングリース、シリコーンレジン等のシリコーン製品に
含まれているか、もしくはこれらシリコーン製品の分解
によって発生する。かかるガスとなり得るオルガノポリ
シロキサンの代表例は、一般式 （ここでｎは３〜10の整数である）で示される環状ジメ
チルポリシロキサンまたは一般式 ＣH3ＣH3）2SiOmSi（ＣH3）3（ここでｍは１〜10
の整数である）で示される線状ジメチルポリシロキサン
であり、常温にて蒸気圧が0.0001mmHg以上である。他の
例は、低分子量のメチルビニルポリシロキサン、メチル
フェニルポリシロキサンもしくはメチル（3,3,3−トリ
フルオロプロピル）ポリシロキサンである。
ンガスとは、電気開閉接点の導電不良障害を起こす揮発
性の低分子オルガノポリシロキサンガスであり、かかる
ガスは、電気機器の構成材料または附属材料として使用
されているシリコーンオイル、シリコーンゴム、シリコ
ーングリース、シリコーンレジン等のシリコーン製品に
含まれているか、もしくはこれらシリコーン製品の分解
によって発生する。かかるガスとなり得るオルガノポリ
シロキサンの代表例は、一般式 （ここでｎは３〜10の整数である）で示される環状ジメ
チルポリシロキサンまたは一般式 ＣH3ＣH3）2SiOmSi（ＣH3）3（ここでｍは１〜10
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であり、常温にて蒸気圧が0.0001mmHg以上である。他の
例は、低分子量のメチルビニルポリシロキサン、メチル
フェニルポリシロキサンもしくはメチル（3,3,3−トリ
フルオロプロピル）ポリシロキサンである。
かかるオルガノポリシロキサンガスに共存させる窒素原
子含有塩基性化合物ガスは、通常電気機器類の使用温度
範囲内で0.0001mmHg以上の蒸気圧を有する化合物、また
はこの温度範囲内で分解により窒素原子含有塩基性化合
物ガスを発生する化合物のガスが使用され、その種類は
特に限定されないが、電気開閉接点部を腐食する化合物
または人体に対してあまり有毒な化合物は特別な場合を
除いて避けた方がよい。
子含有塩基性化合物ガスは、通常電気機器類の使用温度
範囲内で0.0001mmHg以上の蒸気圧を有する化合物、また
はこの温度範囲内で分解により窒素原子含有塩基性化合
物ガスを発生する化合物のガスが使用され、その種類は
特に限定されないが、電気開閉接点部を腐食する化合物
または人体に対してあまり有毒な化合物は特別な場合を
除いて避けた方がよい。
かかる化合物の具体例としては、メチルアミン、エチル
アミン、プロピルアミン、イソプロピルアミン、ブチル
アミン、アミルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミ
ン、オクチルアミン等の脂肪族第１級アミン；ジメチル
アミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジイソプ
ロピルアミン、ジブチルアミン、ジアミルアミン等の脂
肪族第２級アミン；トリメチルアミン、トリエチルアミ
ン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン等の脂肪族
第３級アミン；アリルアミン、ジアリルアミン、トリア
リルアミン等の脂肪族不飽和アミン；シクロプロピルア
ミン、シクロブチルアミン、シクロペンチルアミン、シ
クロヘキシルアミン等の脂肪族環式アミン、アリニン、
メチルアニリン、ベンジルアミン等の芳香族アミン；グ
アニジン又はそれらの誘導体；エチレンジアミン、トリ
メチレンジアミンテトラメチレンジアミン、ペンタメチ
レンジアミン等の脂肪族ジアミン;O−フェニレンジアミ
ン、ｍ−フェニレンジアミン、ｐ−フェニレンジアミン
等の芳香族ジアミン;1,2,3−トリアミルプロパン等のト
リアミン;N−（トリメチルシリル）ジメチルアミン;N,N
−（トリメチルシリル）メチルアミン；トリエチレンテ
トラミン等のテトラミン類、ベンゾトリアゾール類が挙
げられる。
アミン、プロピルアミン、イソプロピルアミン、ブチル
アミン、アミルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミ
ン、オクチルアミン等の脂肪族第１級アミン；ジメチル
アミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジイソプ
ロピルアミン、ジブチルアミン、ジアミルアミン等の脂
肪族第２級アミン；トリメチルアミン、トリエチルアミ
ン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン等の脂肪族
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ミン、シクロブチルアミン、シクロペンチルアミン、シ
クロヘキシルアミン等の脂肪族環式アミン、アリニン、
メチルアニリン、ベンジルアミン等の芳香族アミン；グ
アニジン又はそれらの誘導体；エチレンジアミン、トリ
メチレンジアミンテトラメチレンジアミン、ペンタメチ
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ン、ｍ−フェニレンジアミン、ｐ−フェニレンジアミン
等の芳香族ジアミン;1,2,3−トリアミルプロパン等のト
リアミン;N−（トリメチルシリル）ジメチルアミン;N,N
−（トリメチルシリル）メチルアミン；トリエチレンテ
トラミン等のテトラミン類、ベンゾトリアゾール類が挙
げられる。
本発明においては、オルガノポリシロキサンガスと窒素
原子含有塩基性化合物ガスとの好ましい共存比率は、オ
ルガノポリシロキサンガス１モルに対して窒素原子含有
塩基性化合物ガス0.0001モル以上である。
原子含有塩基性化合物ガスとの好ましい共存比率は、オ
ルガノポリシロキサンガス１モルに対して窒素原子含有
塩基性化合物ガス0.0001モル以上である。
本発明は、密閉もしくは半密閉の容器中に電気開閉接点
を有し、シリコーン製品を構成材料または附属材料とし
て使用している電気機器類の該容器内に前記窒素原子含
有塩基性化合物を載置するか送り込むことによって容易
に実施することができる。この載置の方法としては、前
記窒素原子含有塩基性化合物をそのまま前記容器内に塗
布する方法、シャーレ、箱等の小型容器に入れて載置す
る方法、あるいは前記窒素原子含有塩基性化合物を有機
もしくは無機物質に溶解もしくは混合して載置する方
法、あるいは前記窒素原子含有塩基性化合物を有機系ゴ
ムや前記シリコーン製品とは別のシリコーンゴム中に含
有させたものを載置する方法があるが本発明の目的を損
なわない限り、いかなる方法を採用してもよい。
を有し、シリコーン製品を構成材料または附属材料とし
て使用している電気機器類の該容器内に前記窒素原子含
有塩基性化合物を載置するか送り込むことによって容易
に実施することができる。この載置の方法としては、前
記窒素原子含有塩基性化合物をそのまま前記容器内に塗
布する方法、シャーレ、箱等の小型容器に入れて載置す
る方法、あるいは前記窒素原子含有塩基性化合物を有機
もしくは無機物質に溶解もしくは混合して載置する方
法、あるいは前記窒素原子含有塩基性化合物を有機系ゴ
ムや前記シリコーン製品とは別のシリコーンゴム中に含
有させたものを載置する方法があるが本発明の目的を損
なわない限り、いかなる方法を採用してもよい。
［実施例］ 以下、本発明を実施例にて説明する。電気開閉接点の負
荷開閉試験は次の方法によって行なった。
荷開閉試験は次の方法によって行なった。
○電気開閉接点の負荷開閉試験方法 密閉可能な容積１の容器内に８個の電気開閉接点を有
するマイクロリレーを設置し、この接点の開閉を外部か
ら操作できる装置を作成した。この容器内部のオルガノ
ポリシロキサンガスの発生源と窒素原子含有塩基性化合
物を入れ、容器を密閉した後に次の条件で電気開閉試験
を行なった。
するマイクロリレーを設置し、この接点の開閉を外部か
ら操作できる装置を作成した。この容器内部のオルガノ
ポリシロキサンガスの発生源と窒素原子含有塩基性化合
物を入れ、容器を密閉した後に次の条件で電気開閉試験
を行なった。
各接点にかかる電圧 DC24volt 各接点にかかる負荷 1kΩ（Ｒ負荷） 各接点の開閉頻度 ２秒あたり２回（2Hz） 試験温度 24℃,70℃ なお、接点の接触抵抗値は電圧降下法によって測定しマ
ルチペンレコーダーで記録した。そして接触抵抗値が10
Ω以上になった時点で接点故障と判定した。接点故障が
発生するまでの接点の開閉回数を接点故障寿命とし、８
個の接点のうち最初の故障が生じた開閉回数を第１故障
寿命、４個の故障が生じた開閉回数を50％故障寿命とし
た。
ルチペンレコーダーで記録した。そして接触抵抗値が10
Ω以上になった時点で接点故障と判定した。接点故障が
発生するまでの接点の開閉回数を接点故障寿命とし、８
個の接点のうち最初の故障が生じた開閉回数を第１故障
寿命、４個の故障が生じた開閉回数を50％故障寿命とし
た。
実施例１〜実施例８ 上記負荷開閉試験用容器内にオルガノポリシロキサンと
してオクタメチルテトラシロキサン（D4）1gと窒素原子
含有塩基性化合物として下記表１に示すアミン化合物1g
を入れ、密閉し電気開閉接点の負荷開閉試験を行なっ
た。試験結果は表１に示すとおりであった。
してオクタメチルテトラシロキサン（D4）1gと窒素原子
含有塩基性化合物として下記表１に示すアミン化合物1g
を入れ、密閉し電気開閉接点の負荷開閉試験を行なっ
た。試験結果は表１に示すとおりであった。
比較のため、負荷開閉試験用容器内に窒素原子含有塩基
性化合物を入れずD41gのみ入れて密閉し電気開閉接点の
負荷開閉試験を行なった結果を表１に併記する。表１か
ら電気開閉接点がオルガノポリシロキサンガスのみに接
触している場合に比べて、オルガノポリシロキサンガス
に窒素原子含有塩基性化合物のガスが共存している場合
の方が、接点故障寿命が著しく伸びることが分かった。
性化合物を入れずD41gのみ入れて密閉し電気開閉接点の
負荷開閉試験を行なった結果を表１に併記する。表１か
ら電気開閉接点がオルガノポリシロキサンガスのみに接
触している場合に比べて、オルガノポリシロキサンガス
に窒素原子含有塩基性化合物のガスが共存している場合
の方が、接点故障寿命が著しく伸びることが分かった。
実施例９ シャーレに入れたトリエチレンテトラミン1gと両末端反
応性のジメチルポリシロキサンを主剤とする室温硬化し
たシリコーンゴム（１）環状ジメチルポリシロキサン
（４量体〜10量体）含有量0.49重量％10gを実施例１〜
８と同様にマイクロリレーとともに容器内に密閉し、こ
の容器を70℃に加熱した。この状態で実施例１〜８と同
じ方法でマイクロリレーの接点の負荷開閉試験を行なっ
た。
応性のジメチルポリシロキサンを主剤とする室温硬化し
たシリコーンゴム（１）環状ジメチルポリシロキサン
（４量体〜10量体）含有量0.49重量％10gを実施例１〜
８と同様にマイクロリレーとともに容器内に密閉し、こ
の容器を70℃に加熱した。この状態で実施例１〜８と同
じ方法でマイクロリレーの接点の負荷開閉試験を行なっ
た。
比較例２の試験では、室温硬化したシリコーンゴム
（１）10gのみをマイクロリレーとともに容器内に密閉
し、この容器を70℃に加熱し、実施例１〜８と同じ方法
で負荷開閉試験を行なった。結果を表２に併記した。表
２から、室温硬化したシリコーンゴム（１）のみを入れ
た場合（比較例２）に比べ、トリエチレンテトラミンの
蒸気が共存している場合の方が接点故障寿命が著しく伸
びることがわかった。
（１）10gのみをマイクロリレーとともに容器内に密閉
し、この容器を70℃に加熱し、実施例１〜８と同じ方法
で負荷開閉試験を行なった。結果を表２に併記した。表
２から、室温硬化したシリコーンゴム（１）のみを入れ
た場合（比較例２）に比べ、トリエチレンテトラミンの
蒸気が共存している場合の方が接点故障寿命が著しく伸
びることがわかった。
実施例10 実施例９において使用したアミン化合物に代わりにベン
ゾトリアゾール（159℃における蒸気圧が2.0mmHg、204
℃における蒸気圧が15mmHgである）を使用する以外は実
施例９と同じ方法で電気開閉接点の負荷開閉試験を行な
ったところ、第１故障50,000以上、50％故障150,000以
上の接点故障寿命であった。
ゾトリアゾール（159℃における蒸気圧が2.0mmHg、204
℃における蒸気圧が15mmHgである）を使用する以外は実
施例９と同じ方法で電気開閉接点の負荷開閉試験を行な
ったところ、第１故障50,000以上、50％故障150,000以
上の接点故障寿命であった。
実施例11 未硬化の室温硬化性シリコーンゴムペースト（環状ジメ
チルポリシロキサン（４量体〜10量体）含有量0.06重量
％）100部にテトラエチルエチレンジアミン1.0部を練り
込み、そのまま常温にて硬化させた。
チルポリシロキサン（４量体〜10量体）含有量0.06重量
％）100部にテトラエチルエチレンジアミン1.0部を練り
込み、そのまま常温にて硬化させた。
得られたシリコーンゴム10gと実施例９で使用したシリ
コーンゴム（１）10gとを実施例９と同様にしてマイク
ロリレーとともに容器内に密閉し、この容器を70℃に加
熱した。この状態で実施例９と同じ方法でマイクロリレ
ーの接点の負荷開閉試験を行なったところ、接点故障寿
命として第１故障51,000回、50％故障140,000回であっ
た。
コーンゴム（１）10gとを実施例９と同様にしてマイク
ロリレーとともに容器内に密閉し、この容器を70℃に加
熱した。この状態で実施例９と同じ方法でマイクロリレ
ーの接点の負荷開閉試験を行なったところ、接点故障寿
命として第１故障51,000回、50％故障140,000回であっ
た。
［発明の効果］ 本発明では、オルガノポリシロキサンガスに起因する電
気開閉接点の導電不良障害を防止する方法において、該
オルガノポリシロキサンガスに窒素原子含有塩基性化合
物のガスを共存させているので、電気開閉接点がオルガ
ノポリシロキサンガスに接触しても導電不良障害を生じ
ないという特徴を有する。したがって密閉ないし半密閉
状態で使用される電気電子機器に搭載されたリレーやス
イッチ、マイクロモータ等の導電不良にかかわるトラブ
ルがなくなり、機器の信頼性を向上させることができ
る。
気開閉接点の導電不良障害を防止する方法において、該
オルガノポリシロキサンガスに窒素原子含有塩基性化合
物のガスを共存させているので、電気開閉接点がオルガ
ノポリシロキサンガスに接触しても導電不良障害を生じ
ないという特徴を有する。したがって密閉ないし半密閉
状態で使用される電気電子機器に搭載されたリレーやス
イッチ、マイクロモータ等の導電不良にかかわるトラブ
ルがなくなり、機器の信頼性を向上させることができ
る。
Claims (3)
- 【請求項１】オルガノポリシロキサンガスに起因する電
気開閉接点の導電不良障害を防止する方法において、該
オルガノポリシロキサンガスに窒素原子含有塩基性化合
物ガスを共存させることにより、該電気開閉接点の導電
不良障害を防止する方法。 - 【請求項２】窒素原子含有塩基性化合物が脂肪族アミン
化合物である特許請求の範囲第１項記載の方法。 - 【請求項３】窒素原子含有塩基性化合物が芳香族アミン
化合物である特許請求の範囲第１項記載の方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261345A JPH0746541B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | オルガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法 |
| DE8787309506T DE3783713T2 (de) | 1986-10-31 | 1987-10-28 | Verfahren zur verhinderung der schlechten kontaktgabe bei elektrischen schalter kontakten welche durch organopolysiloxane gase verursacht wird. |
| EP87309506A EP0266183B1 (en) | 1986-10-31 | 1987-10-28 | Method for preventing the poor conduction at electrical switch contacts which is caused by organopolysiloxane gas |
| US07/115,462 US4935165A (en) | 1986-10-31 | 1987-10-30 | Method for preventing the poor conduction at electrical switch contacts which is caused by organopolysiloxane gas |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61261345A JPH0746541B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | オルガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63116316A JPS63116316A (ja) | 1988-05-20 |
| JPH0746541B2 true JPH0746541B2 (ja) | 1995-05-17 |
Family
ID=17360544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61261345A Expired - Lifetime JPH0746541B2 (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | オルガノポリシロキサンガスに起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4935165A (ja) |
| EP (1) | EP0266183B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0746541B2 (ja) |
| DE (1) | DE3783713T2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2608411B2 (ja) * | 1987-07-21 | 1997-05-07 | 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 | シリコーン蒸気に起因する電気開閉接点の導電不良障害を防止する方法 |
| FR2649114B1 (fr) * | 1989-06-30 | 1992-12-11 | Thomson Csf | Polymere conducteur et procede de fabrication d'un tel polymere |
| JP2854889B2 (ja) * | 1989-08-31 | 1999-02-10 | 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 | 電気接点の導電障害非招来性シリコーン組成物及び導電障害防止方法 |
| JP6003484B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2016-10-05 | 株式会社デンソー | 耐コロナ性絶縁部材及びそれを使用した物品 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2389802A (en) * | 1945-11-27 | Stabilizing organo-siloxanes | ||
| US2377689A (en) * | 1943-05-17 | 1945-06-05 | Corning Glass Works | Dielectric composition |
| CH446544A (de) * | 1963-07-03 | 1967-11-15 | Foerderung Forschung Gmbh | Verfahren zum Schützen von elektrischen Kontakten |
| CH459326A (de) * | 1965-07-26 | 1968-07-15 | Standard Telephon & Radio Ag | Füllgas für in hermetisch abgeschlossenen Gehäusen angeordnete Kontakteinrichtungen |
| US3620839A (en) * | 1969-07-28 | 1971-11-16 | Amp Inc | Lubrication of contact surfaces |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP61261345A patent/JPH0746541B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-10-28 EP EP87309506A patent/EP0266183B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-28 DE DE8787309506T patent/DE3783713T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-10-30 US US07/115,462 patent/US4935165A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0266183A2 (en) | 1988-05-04 |
| DE3783713D1 (de) | 1993-03-04 |
| EP0266183A3 (en) | 1989-02-08 |
| JPS63116316A (ja) | 1988-05-20 |
| DE3783713T2 (de) | 1993-08-05 |
| EP0266183B1 (en) | 1993-01-20 |
| US4935165A (en) | 1990-06-19 |
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