JPH0746760B2 - Electronic component mounting method - Google Patents
Electronic component mounting methodInfo
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- JPH0746760B2 JPH0746760B2 JP61051709A JP5170986A JPH0746760B2 JP H0746760 B2 JPH0746760 B2 JP H0746760B2 JP 61051709 A JP61051709 A JP 61051709A JP 5170986 A JP5170986 A JP 5170986A JP H0746760 B2 JPH0746760 B2 JP H0746760B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はチップ状に形成された電子部品(以下チップ部
品と呼ぶ)等をプリント基板等の回路基板に装着する電
子部品装着方法及び装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component mounting method and device for mounting a chip-shaped electronic component (hereinafter referred to as a chip component) or the like on a circuit board such as a printed circuit board. is there.
従来の技術 従来の電子部品装着は第6図に示すように、チップ部品
1をノズル2により真空吸着し、このノズル2を基板に
向けて下降し、チップ部品2を基板へ装着するのが一般
的であるが、チップ部品2の吸着状態として第6図の
(a),(b),(c),(d)の場合が考えられる。
第6図の(a)が正常にチップ部品を吸着した場合の図
で、(b)はチップ部品を縦に吸着した場合、(c)は
チップ部品を斜めに吸着した場合、(d)はチップ部品
を吸着しなかった場合の図である。(b),(c),
(d)はチップ部品の吸収ミスであり、このまま基板へ
装着すると装着ミスとなるためこの状態を検出しなけれ
ばならない。2. Description of the Related Art In the conventional electronic component mounting, as shown in FIG. 6, a chip component 1 is vacuum-sucked by a nozzle 2 and the nozzle 2 is lowered toward a substrate to mount the chip component 2 on the substrate. However, as the suction state of the chip component 2, the cases of (a), (b), (c), and (d) of FIG. 6 can be considered.
6A is a diagram when the chip component is normally sucked, FIG. 6B is a case where the chip component is vertically attracted, FIG. 6C is a case where the chip component is diagonally sucked, and FIG. It is a figure when a chip component is not adsorbed. (B), (c),
(D) is a chip component absorption error, and if it is mounted on the substrate as it is, a mounting error will occur, so this state must be detected.
このような場合、前記ノズル2が基板へ下降した時の位
置を検知し、装着の正否を判定することが一般的に考え
られる。In such a case, it is generally conceivable to detect the position when the nozzle 2 descends to the substrate and determine whether the mounting is correct or not.
発明が解決しようとする問題点 ところが、部品には製造工程にて生じる寸法のバラツキ
があり、単にノズルの位置を判定するだけでは正確に装
着ミスを判定することができなかった。The problem to be solved by the invention is that the components have variations in dimensions caused in the manufacturing process, and it is not possible to accurately determine the mounting error by simply determining the position of the nozzle.
そこで本発明者らは、この問題点を解決するため、特開
昭59−186770号によって、部品の寸法バラツキ上限値と
下限値とをそれぞれ判定の基準とし、これらを装着した
部品の測定した厚み値と比較することによってより正確
な部品装着の正否の判定を行う方法を提案した。Therefore, in order to solve this problem, the inventors of the present invention, according to JP-A-59-186770, use the upper and lower limits of the dimensional variation of the parts as criteria for judgment, and measure the thickness of the parts on which these are mounted. We proposed a more accurate method to judge the correctness of component mounting by comparing with the value.
本発明は上記発明を利用する場合において、寸法の異な
る多種類の部品を装着する場合に、対応できるようにす
るものである。The present invention makes it possible to cope with the case where various kinds of parts having different sizes are mounted in the case of utilizing the above invention.
問題点を解決するための手段 本発明の方法はこのため装着する部品の種別を特定し、
この電子部品を回路基板に装着する工程と、電子部品を
装着した際に前記電子部品を保持する部品保持部の下面
と前記回路基板との距離を測定する工程と、あらかじめ
記憶部に記憶させておいた複数の電子部品の厚みのデー
タから前記装着した電子部品の厚みのデータを選択して
読み出す工程と読みだした電子部品の厚みのデータと前
記測定値とを比較することにより、電子部品が正常に装
着されたかどうかを判定する工程を備えたものである。The method of the present invention therefore identifies the type of component to be mounted,
A step of mounting the electronic component on the circuit board; a step of measuring the distance between the circuit board and the lower surface of the component holding portion that holds the electronic component when the electronic component is mounted; By comparing the measured data with the step of selecting and reading out the data of the thickness of the mounted electronic component from the data of the thickness of the plurality of electronic components placed, the electronic component is It is provided with a step of determining whether or not the device is properly mounted.
作用 以上の構成によって、複数の寸法の異なる部品に対して
装着時にそれぞれの厚みデータに対して測定した寸法と
の比較を行い、それぞれの装着に対し、その正否が判定
できるものである。Operation With the above configuration, it is possible to determine the correctness of each mounting by comparing the thickness data of each of a plurality of components having different sizes with the measured thickness data.
実 施 例 以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明す
る。EXAMPLES Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図〜第5図により本発明の実施例について説明す
る。第2図及び第3図において、11はチップ部品、12は
チップ部品11を吸着するノズル、13は中空のスライドシ
ャフトで先端にノズル12が固着しており、スライドベア
リング14で上下方向に摺動可能なようにガイドされてい
る。15はスライドシャフト13と真空源とをつなぐチュー
ブである。スライドシャフト13にはブラケット16により
差動トランス17が固着している。差動トランス17の可動
子18は圧縮バネ19を介してソレノイド20に固着してお
り、ソレノイド20はブラケット21によりスライドシャフ
ト13に固着している。なお、上記した吸着部は圧縮バネ
22により数mm上へ逃げるることが可能となっている。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 2 and FIG. 3, 11 is a chip component, 12 is a nozzle that adsorbs the chip component 11, 13 is a hollow slide shaft, and the nozzle 12 is fixed to the tip, and slides vertically with a slide bearing 14. Guided as possible. A tube 15 connects the slide shaft 13 and the vacuum source. A differential transformer 17 is fixed to the slide shaft 13 by a bracket 16. A mover 18 of the differential transformer 17 is fixed to a solenoid 20 via a compression spring 19, and the solenoid 20 is fixed to a slide shaft 13 by a bracket 21. In addition, the above-mentioned adsorption part is a compression spring.
With 22 it is possible to escape to a few mm above.
23はリニアモータで本体2Aとボビン23Bで構成され、巻
線したボビン23Bに指令電流を流すことによりボビン23B
に一体に設けたプレート24に固着したスライドシャフト
13が上下動する。25はボビン23Bの上下の位置を検出す
る検出器である。リニアモータ本体23Aは、X−Y駆動
装置26の先端に固着しており、X−Y任意の位置へ位置
決めされる。27はチップ部品を供給する部品供給部で、
28はチップ部品を装着する回路基板である。29はマイク
ロプロセッサ及び記憶装置を内蔵した制御部であり、リ
ニアモータ本体23AのX−Y軸上の位置決めや、スライ
ドシャフト13の上下動の制御,部品吸着のON,OFF等を行
うよう構成されている。A linear motor 23 is composed of a main body 2A and a bobbin 23B, and a bobbin 23B is formed by applying a command current to the wound bobbin 23B.
Slide shaft fixed to the plate 24 that is integrated with the
13 moves up and down. Reference numeral 25 is a detector that detects the upper and lower positions of the bobbin 23B. The linear motor main body 23A is fixed to the tip of the XY drive device 26 and is positioned at an arbitrary XY position. 27 is a component supply unit that supplies chip components,
28 is a circuit board on which chip components are mounted. Reference numeral 29 denotes a control unit having a built-in microprocessor and storage device, which is configured to perform positioning of the linear motor main body 23A on the XY axes, control of vertical movement of the slide shaft 13, and ON / OFF of component suction. ing.
以上のように構成された装着装置において、以下その動
作を説明する。まず部品供給部27上にノズル12が位置す
るようX−Y駆動装置26が移動する。リニアモータ23の
駆動によりノズル12は下降し、チップ部品11を吸着した
後上昇する。次にX−Y駆動装置26によりチップ部品11
をノズル12に吸着した状態で回路基板28上の装着位置ま
で移送し、ノズル12が下降し回路基板28にチップ部品11
を装着する。チップ部品11を装着すると同時にソレノイ
ド20の電流が切れ、圧縮バネ19により可動子18が下降す
る。差動トランス17は公知の変位センサーであり、可動
子18の変位により出力電圧が変化するので、可動子18の
下降する前と下降した後での電圧の変化量よりノズル12
の下面から回路基板28までの距離、つまりチップ部品11
を装着したときの高さhを測定することができる。測定
が終わるとソレノイド20に再び電流が流れて可動子18が
上昇し、次にノズル12が上昇し、X−Y駆動装置26によ
り部品供給部27の次に装着する部品位置までノズル12が
移動する。以上のサイクルを繰り返すことによりチップ
部品を次々と装着しながら装着高さhを測定する。The operation of the mounting device configured as described above will be described below. First, the XY drive device 26 is moved so that the nozzle 12 is positioned on the component supply unit 27. The nozzle 12 is lowered by the driving of the linear motor 23, and is sucked up after adsorbing the chip component 11. Next, the chip component 11 is moved by the XY driving device 26.
Is transferred to the mounting position on the circuit board 28 with the nozzle 12 adsorbed to the nozzle 12, and the nozzle 12 descends to attach the chip component 11 to the circuit board 28.
Put on. At the same time when the chip component 11 is mounted, the current of the solenoid 20 is cut off, and the compression spring 19 causes the mover 18 to descend. The differential transformer 17 is a well-known displacement sensor, and since the output voltage changes due to the displacement of the mover 18, the nozzle 12 is determined from the change amount of the voltage before and after the mover 18 descends.
Distance from the bottom surface of the circuit board 28, that is, the chip component 11
It is possible to measure the height h when the is attached. When the measurement is completed, a current again flows through the solenoid 20, the mover 18 moves up, and then the nozzle 12 moves up. To do. By repeating the above cycle, the mounting height h is measured while mounting the chip components one after another.
第4図はチップ部品11をノズル12が回路基板28上に装着
したときの図で、(a)が正常な場合、(b)がチップ
部品11を縦に装着した場合、(c)はチップ部品の吸着
ミスをして装着しなかった場合の図である。チップ部品
を正常に装着した場合、ノズル12の下面と回路基板23と
の距離はh1、チップ部品の厚みとそのバラツキを考えた
上限の値をh3、下限の値をh2とするとh3≧h1≧h2でなけ
ればならず、それ以外の場合は(b),(c)に示すよ
うにチップ部品を正常に装着していないと判断される。FIG. 4 is a diagram when the nozzle 12 mounts the chip component 11 on the circuit board 28. When (a) is normal, (b) the chip component 11 is mounted vertically, and (c) is the chip. It is a figure at the time of not adhering because of a component suction mistake. When the chip component is properly mounted, the distance between the lower surface of the nozzle 12 and the circuit board 23 is h1, the upper limit value considering the thickness of the chip component and its variation is h3, and the lower limit value is h2, h3 ≧ h1 ≧ It must be h2, and in other cases, it is determined that the chip component is not properly mounted as shown in (b) and (c).
第5図は制御部29のブロック図で、ヘッド40とセンサー
41をシーケンスコントローラ部42とCPU部43とで制御す
る。チップ部品の厚み等のデータは、CPU部43の一部で
ある記憶部44に記憶されており、複数のチップ部品の厚
みのデータはその種別ごとに上限の値h3及び下限の値h2
が記憶されこの部分に全ての種類のチップ部品について
の厚みのデータが記憶されている。FIG. 5 is a block diagram of the control unit 29, which includes a head 40 and a sensor.
The sequence controller unit 42 and the CPU unit 43 control 41. The data such as the thickness of the chip component is stored in the storage unit 44 which is a part of the CPU unit 43, and the data of the thickness of the plurality of chip components is the upper limit value h3 and the lower limit value h2 for each type.
Is stored, and the thickness data for all types of chip components are stored in this portion.
第1図はチップ部品装着動作のフローチャートである。
以下同図に基き動作を説明する。まずステップ100で装
着すべき部品の種別を記憶部44から読み特定する。次に
ステップ101でX−Y駆動装置26によりノズル12を部品
供給部27上の部品位置まで移動させる。ステップ102で
ノズル12を下降し、ステップ103でチップ部品11を吸着
し、ステップ104でチップ部品11を吸着したまま上昇す
る。次にステップ105で回路基板28上の装着装置までノ
ズル12を移動させ、ステップ106でチップ部品11の厚み
の上限の値h3を、ステップ107で前記特定された部品の
厚みのデータを記憶部44より読み込む、すなわちチップ
部品11の厚みの下限の値h2を読み込む。ステップ108で
ノズル12が下降しチップ部品11を装着し、ステップ109
で基板上面とノズル下面の距離h1を測定する。ステップ
110でこのh1とh2,h3との大小比較によりステップ111と
ステップ114に移る。FIG. 1 is a flowchart of a chip component mounting operation.
The operation will be described below with reference to FIG. First, in step 100, the type of component to be mounted is read from the storage unit 44 and specified. Next, at step 101, the nozzle 12 is moved to the component position on the component supply unit 27 by the XY driving device 26. In step 102, the nozzle 12 is lowered, in step 103, the chip component 11 is adsorbed, and in step 104, the chip component 11 is adsorbed and raised. Next, in step 105, the nozzle 12 is moved to the mounting device on the circuit board 28, the upper limit value h3 of the thickness of the chip component 11 is stored in step 106, and the thickness data of the specified component is stored in the storage portion 44 in step 107. More specifically, the lower limit value h2 of the thickness of the chip component 11 is read. In step 108, the nozzle 12 descends to mount the chip component 11, and then step 109
Measure the distance h1 between the upper surface of the substrate and the lower surface of the nozzle. Step
At 110, the sizes of h1 and h2, h3 are compared, and the process proceeds to step 111 and step 114.
ステップ114はステップ110で部品の装着が正常でないと
判断された場合で、ノズル12は上昇し、ステップ115の
エラー処理を行う。ステップ111は部品装着が正常な場
合で、ノズル12は上昇する。ステップ112で回路基板の
全装着が完了したかどうかを判断し、完了していれば動
作を終了し、完了していなければステップ113に移る。
ステップ113ではノズル12を次の装着すべき部品の位置
まで移動させ、はじめのステップ102へもどる。In step 114, when it is determined in step 110 that the mounting of the component is not normal, the nozzle 12 rises and the error process of step 115 is performed. Step 111 is a case where component mounting is normal, and the nozzle 12 moves up. In step 112, it is determined whether or not all the circuit boards have been mounted. If completed, the operation is ended, and if not completed, the process proceeds to step 113.
In step 113, the nozzle 12 is moved to the position of the next component to be mounted, and the process returns to the first step 102.
なお、本実施例において用いた差動トランス17は光学式
の測長器でもよく、要はノズル12の下面と回路基板28と
の距離を測定できるものであればよい。The differential transformer 17 used in the present embodiment may be an optical length measuring device, and it is essential only that the distance between the lower surface of the nozzle 12 and the circuit board 28 be measured.
発明の効果 以上のように本発明は、複数の種別等に対応し寸法の異
なるチップ部品の装着時に装着したチップ部品の高さを
測定し、その測定値と選択されたチップ部品の厚みのバ
ラツキの範囲とを比較して部品の装着を直接確認するも
のであるため、装着検出の信頼性が非常に高くフレキシ
ビィリティのある装着方法が提供できる。EFFECTS OF THE INVENTION As described above, the present invention measures the height of a chip component mounted when mounting chip components of different sizes corresponding to a plurality of types, and measures the measured value and the variation in the thickness of the selected chip component. Since the mounting of the component is directly confirmed by comparing with the range of 1), it is possible to provide a mounting method with highly reliable mounting detection and flexibility.
第1図は本発明方法の一実施例のフローチャート図、第
2図は同方法を実施するための装置の斜視図、第3図は
同要部側面図、第4図(a)〜(c)は同実施例におけ
るチップ部品装着の状態を示す拡大図、第5図は同装置
の制御ブロック図、第6図(a)〜(d)はチップ部品
吸着状態の説明図である。 11……チップ部品、12……ノズル、13……スライドシャ
フト、17……差動トランス、18……可動子、20……ソレ
ノイド、23……リニアモータ、25……位置センサ、26…
…X−Y駆動装置、44……記憶部。FIG. 1 is a flow chart of one embodiment of the method of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of an apparatus for carrying out the method, FIG. 3 is a side view of the main part, and FIGS. ) Is an enlarged view showing a mounted state of the chip component in the same embodiment, FIG. 5 is a control block diagram of the apparatus, and FIGS. 6A to 6D are explanatory views of a chip component suction state. 11 …… Chip part, 12 …… Nozzle, 13 …… Slide shaft, 17 …… Differential transformer, 18 …… Mover, 20 …… Solenoid, 23 …… Linear motor, 25 …… Position sensor, 26…
... XY drive, 44 ... storage section.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭55−162299(JP,A) 特開 昭50−126453(JP,A) 特開 昭49−115571(JP,A) 特開 昭61−64200(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) References JP-A-55-162299 (JP, A) JP-A-50-126453 (JP, A) JP-A-49-115571 (JP, A) JP-A 61- 64200 (JP, A)
Claims (2)
品を回路基板に装着する工程と、電子部品を装着した際
に前記電子部品を保持する部品保持部の下面と前記回路
基板との距離を測定する工程と、あらかじめ記憶部に記
憶させておいた複数の電子部品の厚みのデータから前記
装着した電子部品の厚みのデータを選択して読み出す工
程と、読みだした電子部品の厚みのデータと前記測定値
とを比較することにより、電子部品が正常に装着された
かどうかを判定する工程とを備えた電子部品装着方法。1. A step of specifying a type of a component to be mounted and mounting the electronic component on a circuit board, and a step of mounting the electronic component on a lower surface of a component holding portion for holding the electronic component and the circuit board. The step of measuring the distance, the step of selecting and reading the data of the thickness of the mounted electronic component from the thickness data of the plurality of electronic components stored in the storage unit in advance, and the step of measuring the thickness of the read electronic component A method of mounting an electronic component, comprising: comparing the data with the measured value to determine whether the electronic component is properly mounted.
の厚みのデータは厚みの上限の値と下限の値とからなり
判定工程では上限の値と下限の値とを測定値とそれぞれ
比較することにより装着の確認とする電子部品装着方
法。2. The electronic device thickness data according to claim 1, wherein the thickness data includes an upper limit value and a lower limit value, and the upper limit value and the lower limit value are compared with the measured value in the determination step. The electronic component mounting method that confirms the mounting by doing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61051709A JPH0746760B2 (en) | 1986-03-10 | 1986-03-10 | Electronic component mounting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61051709A JPH0746760B2 (en) | 1986-03-10 | 1986-03-10 | Electronic component mounting method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62209900A JPS62209900A (en) | 1987-09-16 |
| JPH0746760B2 true JPH0746760B2 (en) | 1995-05-17 |
Family
ID=12894420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61051709A Expired - Lifetime JPH0746760B2 (en) | 1986-03-10 | 1986-03-10 | Electronic component mounting method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0746760B2 (en) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5726835B2 (en) * | 1973-03-08 | 1982-06-07 | ||
| JPS50126453A (en) * | 1974-03-25 | 1975-10-04 | ||
| JPS55162299A (en) * | 1979-07-05 | 1980-12-17 | Pioneer Electronic Corp | Device for transferring electronic part mounting unit |
| JPH07101797B2 (en) * | 1984-09-06 | 1995-11-01 | 松下電器産業株式会社 | Electronic component mounting method |
-
1986
- 1986-03-10 JP JP61051709A patent/JPH0746760B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62209900A (en) | 1987-09-16 |
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