JPH0750011B2 - 動釣合試験機 - Google Patents
動釣合試験機Info
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- JPH0750011B2 JPH0750011B2 JP30206987A JP30206987A JPH0750011B2 JP H0750011 B2 JPH0750011 B2 JP H0750011B2 JP 30206987 A JP30206987 A JP 30206987A JP 30206987 A JP30206987 A JP 30206987A JP H0750011 B2 JPH0750011 B2 JP H0750011B2
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この発明は、試験体の動不釣合いを測定するするに当た
り、試験体の形状（例えば、プーリーや歯車などそれ自
体に回転主軸をもたない形状）に対応できるようにした
り、作業能率を向上したりするために、測定用回転主軸
に取り付けられたアダプタに試験体を取り付けて動不釣
合いを測定する動釣合試験機に関する。
り、試験体の形状（例えば、プーリーや歯車などそれ自
体に回転主軸をもたない形状）に対応できるようにした
り、作業能率を向上したりするために、測定用回転主軸
に取り付けられたアダプタに試験体を取り付けて動不釣
合いを測定する動釣合試験機に関する。
B.従来技術 アダプタを用いる動釣合試験においては、アダプタ偏心
を補正する必要がある。
を補正する必要がある。
第７図（Ａ）のアンバランスベクトル図に示すように、
アダプタ偏心ベクトルａは、測定用回転主軸に対する
アダプタの質量分布の不均一によって生じるアダプタ不
釣合いベクトルarと、アダプタと試験体との嵌合部の
中心線と測定用回転主軸との間の偏位によって生じる試
験体の見掛けの不釣合いベクトルasとの合成ベクトル
である。すなわち、ａ ＝ar＋as …… である。
アダプタ偏心ベクトルａは、測定用回転主軸に対する
アダプタの質量分布の不均一によって生じるアダプタ不
釣合いベクトルarと、アダプタと試験体との嵌合部の
中心線と測定用回転主軸との間の偏位によって生じる試
験体の見掛けの不釣合いベクトルasとの合成ベクトル
である。すなわち、ａ ＝ar＋as …… である。
不釣合い検出部から得られる検出不釣合いベクトルＤ
は、試験体自体の不釣合いベクトルｔとアダプタ偏心
ベクトルａとの合成ベクトルであり、Ｄ ＝ｔ＋ａ …… となる。
は、試験体自体の不釣合いベクトルｔとアダプタ偏心
ベクトルａとの合成ベクトルであり、Ｄ ＝ｔ＋ａ …… となる。
以上から明らかなように、検出不釣合いベクトルＤに
はアダプタ偏心ベクトルａが誤差として含まれてい
る。
はアダプタ偏心ベクトルａが誤差として含まれてい
る。
このアダプタ偏心ベクトルａは、試験体の種類が同じ
であれば、試験体の個体差には無関係な一定量である。
であれば、試験体の個体差には無関係な一定量である。
したがって、試験体不釣合いベクトルｔを求めるに
は、偏心補正ベクトル（オフセットベクトル）osを、
os＝−ａとして、第７図（Ｂ）に示すように、実測
時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベクト
ルosを加算すればよい。すなわち、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ…… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものを求める
ことができる。
は、偏心補正ベクトル（オフセットベクトル）osを、
os＝−ａとして、第７図（Ｂ）に示すように、実測
時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベクト
ルosを加算すればよい。すなわち、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ…… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものを求める
ことができる。
従来、偏心補正ベクトルosを求める手法として次の２
つの手法〔１〕，〔２〕が考えられている。
つの手法〔１〕，〔２〕が考えられている。
〔１〕従来の第１の手法 試験体をアダプタに対して90度ずつ取付位置をずらせ、
その都度、検出不釣合いベクトルＤを測定する。これ
によって得られた検出不釣合いベクトルＤを、
D11，D12，D13，D14とする。このうち、D11
とD12とを示したのが、第８図（Ａ）である。
その都度、検出不釣合いベクトルＤを測定する。これ
によって得られた検出不釣合いベクトルＤを、
D11，D12，D13，D14とする。このうち、D11
とD12とを示したのが、第８図（Ａ）である。
取付角度が０度の場合の検出不釣合いベクトル
D11は、アダプタ偏心ベクトルa11と試験体不釣合いベ
クトルt11との合成ベクトルであり、取付角度が90度
の場合の検出不釣合いベクトルD12は、アダプタ偏心
ベクトルa12と試験体不釣合いベクトルt12との合成
ベクトルである。すなわち、D11 ＝a11＋t11 ……D12 ＝a12＋t12 …… である。
D11は、アダプタ偏心ベクトルa11と試験体不釣合いベ
クトルt11との合成ベクトルであり、取付角度が90度
の場合の検出不釣合いベクトルD12は、アダプタ偏心
ベクトルa12と試験体不釣合いベクトルt12との合成
ベクトルである。すなわち、D11 ＝a11＋t11 ……D12 ＝a12＋t12 …… である。
２つの試験体不釣合いベクトルt11，t12のなす角度
θは、取付角度の差と同一の90度である。
θは、取付角度の差と同一の90度である。
２つのアダプタ偏心ベクトルa11，a12がわずかに異
なっているのは、取付角度によってアダプタと試験体と
の嵌合部の中心線と測定用回転主軸との間の偏位に差が
生じるためである。
なっているのは、取付角度によってアダプタと試験体と
の嵌合部の中心線と測定用回転主軸との間の偏位に差が
生じるためである。
しかし、a11，a12の差は、D11，D12の差および
t11，t12の差に比べて充分に小さいので、これを無
視して同一のベクトルとして扱う。
t11，t12の差に比べて充分に小さいので、これを無
視して同一のベクトルとして扱う。
第８図（Ｂ）はa11＝a12＝a01とした場合のベク
トル図である。この場合、，式は、それぞれ、D11 ＝a01＋t11 ……D12 ＝a01＋t12 …… となる。また、ベクトルt12は、ベクトルt11を角度
θ（＝90度）回転させたものであるから、t12 ＝t11・ejθ …… で表せる。式を式に代入すると、D12 ＝a01＋t11・ejθ …… となる。，式からt11を消去すると、 となる。
トル図である。この場合、，式は、それぞれ、D11 ＝a01＋t11 ……D12 ＝a01＋t12 …… となる。また、ベクトルt12は、ベクトルt11を角度
θ（＝90度）回転させたものであるから、t12 ＝t11・ejθ …… で表せる。式を式に代入すると、D12 ＝a01＋t11・ejθ …… となる。，式からt11を消去すると、 となる。
式より、取付角度０度のときの検出不釣合いベクトル
D11と、取付角度90度のときの検出不釣合いベクトル
D12と、角度θ（＝90度）とからアダプタ偏心ベクト
ルa01を求めることができる。
D11と、取付角度90度のときの検出不釣合いベクトル
D12と、角度θ（＝90度）とからアダプタ偏心ベクト
ルa01を求めることができる。
同様にして、取付角度０度のときの検出不釣合いベクト
ルD11と、取付角度180度のときの検出不釣合いベクト
ルD13と、角度θとからアダプタ偏心ベクトルa02を
求めることができ、取付角度０度のときの検出不釣合い
ベクトルD11と、取付角度270度のときの検出不釣合い
ベクトルD14と、角度θとからアダプタ偏心ベクトル
a03を求めることができる。
ルD11と、取付角度180度のときの検出不釣合いベクト
ルD13と、角度θとからアダプタ偏心ベクトルa02を
求めることができ、取付角度０度のときの検出不釣合い
ベクトルD11と、取付角度270度のときの検出不釣合い
ベクトルD14と、角度θとからアダプタ偏心ベクトル
a03を求めることができる。
このようにして求めた３つのアダプタ偏心ベクトル
a01，a02，a03を図示すると、第８図（Ｃ）のよう
になる。
a01，a02，a03を図示すると、第８図（Ｃ）のよう
になる。
これら３つのアダプタ偏心ベクトルa01，a02，
a03が異なっているのは、前記と同様に取付角度によっ
てアダプタと試験体との嵌合部の中心線と測定用回転主
軸との間の偏位に差が生じるためである。
a03が異なっているのは、前記と同様に取付角度によっ
てアダプタと試験体との嵌合部の中心線と測定用回転主
軸との間の偏位に差が生じるためである。
これら３つのアダプタ偏心ベクトルa01，a02，
a03を平均化したベクトルがアダプタ偏心ベクトルａ
であり、 となる。
a03を平均化したベクトルがアダプタ偏心ベクトルａ
であり、 となる。
偏心補正ベクトルosは、アダプタ偏心ベクトルａに
ついて座標の原点Ｏに関して対称なベクトルであり、os ＝−ａ …… である。
ついて座標の原点Ｏに関して対称なベクトルであり、os ＝−ａ …… である。
以上によって、偏心補正ベクトルosが求められたが、
実測時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベ
クトルosを加算すれば、式に従って、Ｄ ＋os＝ｔ …… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものが求めら
れる。
実測時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベ
クトルosを加算すれば、式に従って、Ｄ ＋os＝ｔ …… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものが求めら
れる。
〔２〕従来の第２の手法 360度を３以上の自然数ｎで割って得られる角度ごとに
試験体をアダプタに対して取り付け、その都度、検出不
釣合いベクトルＤを測定する。
試験体をアダプタに対して取り付け、その都度、検出不
釣合いベクトルＤを測定する。
ｎを例えば３とすると、取付角度は、０度,120度,240度
となる。このようにして得られる検出不釣合いベクトル
Ｄは３つであり、〔１〕の場合と同様にこれらを、
D21，D22，D23とする。
となる。このようにして得られる検出不釣合いベクトル
Ｄは３つであり、〔１〕の場合と同様にこれらを、
D21，D22，D23とする。
第９図に示すように、取付角度が０度の場合の検出不釣
合いベクトルD21は、アダプタ偏心ベクトルa21と試
験体不釣合いベクトルt21との合成ベクトルであり、
取付角度が120度の場合の検出不釣合いベクトル
D22は、アダプタ偏心ベクトルa22と試験体不釣合いベ
クトルt22との合成ベクトルである。取付角度が240度
の場合の検出不釣合いベクトルD23は、アダプタ偏心
ベクトルa23と試験体不釣合いベクトルt23との合成
ベクトルである。すなわち、D21 ＝a21＋t21 ……D22 ＝a22＋t22 ……D23 ＝a23＋t23 …… である。
合いベクトルD21は、アダプタ偏心ベクトルa21と試
験体不釣合いベクトルt21との合成ベクトルであり、
取付角度が120度の場合の検出不釣合いベクトル
D22は、アダプタ偏心ベクトルa22と試験体不釣合いベ
クトルt22との合成ベクトルである。取付角度が240度
の場合の検出不釣合いベクトルD23は、アダプタ偏心
ベクトルa23と試験体不釣合いベクトルt23との合成
ベクトルである。すなわち、D21 ＝a21＋t21 ……D22 ＝a22＋t22 ……D23 ＝a23＋t23 …… である。
３つの試験体不釣合いベクトルt21，t22，
t23は、大きさが互いに等しく、相互のなす角度が120度
であるから、それらの合成ベクトルはゼロベクトルとな
る。すなわち、t21 ＋t22＋t23＝ …… したがって、３つの検出不釣合いベクトルD21，
D22，D23を合成し、かつ、その平均ベクトルを求め
ると、結局、３つのアダプタ偏心ベクトルa21，
a22，a23の平均ベクトルとなる。
t23は、大きさが互いに等しく、相互のなす角度が120度
であるから、それらの合成ベクトルはゼロベクトルとな
る。すなわち、t21 ＋t22＋t23＝ …… したがって、３つの検出不釣合いベクトルD21，
D22，D23を合成し、かつ、その平均ベクトルを求め
ると、結局、３つのアダプタ偏心ベクトルa21，
a22，a23の平均ベクトルとなる。
すなわち、その平均ベクトルをAVEとすると、〜
式より、 となる。
式より、 となる。
この平均ベクトルAVEは、３つのアダプタ偏心ベクト
ルa21，a22，a23の各先端を頂点とする三角形の
中心を示すベクトルであり、これがアダプタ偏心ベクト
ルａ（図示せず）である。すなわち、 となる。
ルa21，a22，a23の各先端を頂点とする三角形の
中心を示すベクトルであり、これがアダプタ偏心ベクト
ルａ（図示せず）である。すなわち、 となる。
偏心補正ベクトルosは、アダプタ偏心ベクトルａに
ついて座標の原点Ｏに関して対称なベクトルであり、os ＝−ａ …… である。
ついて座標の原点Ｏに関して対称なベクトルであり、os ＝−ａ …… である。
以上によって、偏心補正ベクトルosが求められたが、
実測時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベ
クトルosを加算すれば、式に従って、Ｄ ＋os＝ｔ …… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものが求めら
れる。
実測時における検出不釣合いベクトルＤに偏心補正ベ
クトルosを加算すれば、式に従って、Ｄ ＋os＝ｔ …… となり、試験体不釣合いベクトルｔそのものが求めら
れる。
C.発明が解決しようとする問題点 しかしながら、このような従来の補正の手法〔１〕，
〔２〕にはともに次のような問題がある。
〔２〕にはともに次のような問題がある。
すなわち、偏心補正ベクトルosを求めるに当たって、
アダプタに対する試験体の取付角度位置として複数の取
付角度位置を定め、個々の取付角度位置において検出不
釣合いベクトルを得ているのであるが、その複数の取付
角度位置が定められているために、取付角度の変更に際
してきわめて厳密に調整しなければならなかった。
アダプタに対する試験体の取付角度位置として複数の取
付角度位置を定め、個々の取付角度位置において検出不
釣合いベクトルを得ているのであるが、その複数の取付
角度位置が定められているために、取付角度の変更に際
してきわめて厳密に調整しなければならなかった。
もし、少しでも取付角度位置に誤差が生じると、求めた
偏心補正ベクトルos自体に誤差が含まれることにな
り、補正精度ひいては試験体不釣合いベクトルの測定精
度が悪いものになるという不都合があった。
偏心補正ベクトルos自体に誤差が含まれることにな
り、補正精度ひいては試験体不釣合いベクトルの測定精
度が悪いものになるという不都合があった。
また、そのように取付角度位置の調整を定められたとお
りにきわめて厳密に行うことは作業性の低下をもたらし
ていた。
りにきわめて厳密に行うことは作業性の低下をもたらし
ていた。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、偏心補正ベクトルを求めるに際してのアダプタに
対する試験体の取付角度位置を任意なものとし、取付角
度の変更の作業性を向上するとともに、偏心補正ベクト
ルを正確に求めて補正精度ひいては試験体不釣合いベク
トルの測定精度を高めることができるようにすることを
目的とする。
って、偏心補正ベクトルを求めるに際してのアダプタに
対する試験体の取付角度位置を任意なものとし、取付角
度の変更の作業性を向上するとともに、偏心補正ベクト
ルを正確に求めて補正精度ひいては試験体不釣合いベク
トルの測定精度を高めることができるようにすることを
目的とする。
D.問題点を解決するための手段 この発明は、このような目的を達成するために、次のよ
うな構成をとる。
うな構成をとる。
すなわち、この発明の動釣合試験機は、試験体を取り付
けて回転するアダプタと、回転中の試験体の不釣合いを
検出する不釣合い検出部と、補正データ採取時に、前記
アダプタに対する取付角度を異にするｎ通り（ｎは３以
上の自然数）の取り付け態様においてそれぞれ前記不釣
合い検出部から得られたｎ個の検出不釣合いベクトルの
データを記憶する第１の記憶手段と、前記第１の記憶手
段に記憶されたｎ個の検出不釣合いベクトルの各先端ま
たはその近傍を通る円の中心の座標を求め原点に対する
前記円の中心座標のベクトルについて前記原点に関して
対称なベクトルを求める演算手段と、このようにして求
めたベクトルを偏心補正ベクトルのデータとして記憶す
る第２の記憶手段と、実測時に、前記不釣合い検出部か
ら得られた検出不釣合いベクトルに対して前記第２の記
憶手段に記憶されている偏心補正ベクトルを加算する補
正手段とを備えたものである。
けて回転するアダプタと、回転中の試験体の不釣合いを
検出する不釣合い検出部と、補正データ採取時に、前記
アダプタに対する取付角度を異にするｎ通り（ｎは３以
上の自然数）の取り付け態様においてそれぞれ前記不釣
合い検出部から得られたｎ個の検出不釣合いベクトルの
データを記憶する第１の記憶手段と、前記第１の記憶手
段に記憶されたｎ個の検出不釣合いベクトルの各先端ま
たはその近傍を通る円の中心の座標を求め原点に対する
前記円の中心座標のベクトルについて前記原点に関して
対称なベクトルを求める演算手段と、このようにして求
めたベクトルを偏心補正ベクトルのデータとして記憶す
る第２の記憶手段と、実測時に、前記不釣合い検出部か
ら得られた検出不釣合いベクトルに対して前記第２の記
憶手段に記憶されている偏心補正ベクトルを加算する補
正手段とを備えたものである。
E.作 用 この発明の構成による作用を第１図を参照して説明す
る。第１図の（Ａ）は補正データ採取の原理を示すベク
トル図、（Ｂ）は検出不釣合いベクトルに対する補正の
原理を示すベクトル図である。
る。第１図の（Ａ）は補正データ採取の原理を示すベク
トル図、（Ｂ）は検出不釣合いベクトルに対する補正の
原理を示すベクトル図である。
第１図（Ａ）に示すように、補正データ採取時に、不釣
合い検出部から得られたｎ個の検出不釣合いベクトル
ＤをD1，D2，……，Dnとする。これらの検出不釣
合いベクトルD1，D2，……，Dnのデータは、第１
の記憶手段に記憶される。
合い検出部から得られたｎ個の検出不釣合いベクトル
ＤをD1，D2，……，Dnとする。これらの検出不釣
合いベクトルD1，D2，……，Dnのデータは、第１
の記憶手段に記憶される。
このｎ個の検出不釣合いベクトルD1，D2，……，
Dnの各先端の座標点P1,P2,……,Pnについて、これらｎ
個の先端の座標点P1,P2,……,Pnまたはその近傍を通る
ある１つの円Ｃを描くことができる。
Dnの各先端の座標点P1,P2,……,Pnについて、これらｎ
個の先端の座標点P1,P2,……,Pnまたはその近傍を通る
ある１つの円Ｃを描くことができる。
その円Ｃとは、すべての検出不釣合いベクトルD1，
D2，……，Dnの先端の座標点P1,P2,……,Pnとの距離
（円Ｃの半径方向における各座標点と円Ｃとの距離）の
合計が最も小さくなる円である。
D2，……，Dnの先端の座標点P1,P2,……,Pnとの距離
（円Ｃの半径方向における各座標点と円Ｃとの距離）の
合計が最も小さくなる円である。
ベクトル座標の原点O1から円Ｃの中心の座標点O2に向か
うベクトルをｏ、この中心座標ベクトルｏの先端か
ら各座標点P1,P2,……,Pnに向かうベクトルをそれぞれ
P1，P2，……，Pnとすると、 となる。
うベクトルをｏ、この中心座標ベクトルｏの先端か
ら各座標点P1,P2,……,Pnに向かうベクトルをそれぞれ
P1，P2，……，Pnとすると、 となる。
各ベクトルP1，P2，……，Pnは、円Ｃの中心座標
点O2から円Ｃ上またはその近傍の各座標点P1,P2,……,P
nに向かうものであるから、その大きさは実質的に互い
に等しく、 ｜P1｜≒｜P2｜≒……≒｜Pn｜ ……（２） であり、これらのベクトルP1，P2，……，Pnは、
各取付角度において得られた試験体不釣合いベクトルで
ある。これらのベクトルP1，P2，……，Pnをそれ
ぞれt1，t2，……，tnと表してもよい。
点O2から円Ｃ上またはその近傍の各座標点P1,P2,……,P
nに向かうものであるから、その大きさは実質的に互い
に等しく、 ｜P1｜≒｜P2｜≒……≒｜Pn｜ ……（２） であり、これらのベクトルP1，P2，……，Pnは、
各取付角度において得られた試験体不釣合いベクトルで
ある。これらのベクトルP1，P2，……，Pnをそれ
ぞれt1，t2，……，tnと表してもよい。
中心座標ベクトルｏは、すべての検出不釣合いベクト
ルD1，D2，……，Dnに共通なものであり、これは
アダプタ偏心ベクトルａである（ｏ＝ａ）。
ルD1，D2，……，Dnに共通なものであり、これは
アダプタ偏心ベクトルａである（ｏ＝ａ）。
演算手段は、前記の円Ｃの中心座標ベクトルｏについ
て原点O1に関して対称なベクトル（−ｏ）を求める。
このベクトル（−ｏ）は、第２の記憶手段に偏心補正
ベクトルos、os ＝−ｏ＝−ａ ……（３） のデータとして記憶される。
て原点O1に関して対称なベクトル（−ｏ）を求める。
このベクトル（−ｏ）は、第２の記憶手段に偏心補正
ベクトルos、os ＝−ｏ＝−ａ ……（３） のデータとして記憶される。
そして、第１図（Ｂ）に示すように、実測時において、
補正手段は、不釣合い検出部から得られた検出不釣合い
ベクトルＤに対して偏心補正ベクトルosを加算す
る。
補正手段は、不釣合い検出部から得られた検出不釣合い
ベクトルＤに対して偏心補正ベクトルosを加算す
る。
検出不釣合いベクトルＤは、試験体不釣合いベクトル
ｔとアダプタ偏心ベクトルａとの合成ベクトルであ
り（Ｄ＝ｔ＋ａ）、これに偏心補正ベクトルos
を加算すると、（３）式から、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ ……
（４） となり、試験体不釣合いベクトルｔ自体が求められ
る。
ｔとアダプタ偏心ベクトルａとの合成ベクトルであ
り（Ｄ＝ｔ＋ａ）、これに偏心補正ベクトルos
を加算すると、（３）式から、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ ……
（４） となり、試験体不釣合いベクトルｔ自体が求められ
る。
この場合において、中心座標ベクトルｏは、ｎ個の検
出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端の
座標点P1,P2,……,Pnのいかんにかかわらず求めること
ができるものであり、このことは、偏心補正ベクトル
osを求めるに際してのアダプタに対する試験体の取付角
度位置を任意なものしてよいことを意味する。
出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端の
座標点P1,P2,……,Pnのいかんにかかわらず求めること
ができるものであり、このことは、偏心補正ベクトル
osを求めるに際してのアダプタに対する試験体の取付角
度位置を任意なものしてよいことを意味する。
F.実施例 以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第１実施例 第２図はこの発明の第１実施例に係る動釣合試験機のブ
ロック回路図である。
ロック回路図である。
第２図において、１は図示しない駆動機構によって回転
される測定用回転主軸、２は測定用回転主軸１に取り付
けられたアダプタ、Ｍはアダプタ２に嵌合支持された試
験体である。
される測定用回転主軸、２は測定用回転主軸１に取り付
けられたアダプタ、Ｍはアダプタ２に嵌合支持された試
験体である。
３は不釣合い検出部で、この不釣合い検出部３は、測定
用回転主軸１に対する試験体Ｍおよびアダプタ２の偏心
のために測定用回転主軸１の回転軸線が変位することを
検出することをもって試験体Ｍおよびアダプタ２の動不
釣合い（不釣合いベクトルＤ）を検出するものであ
り、不釣合いベクトルＤのデータを含んだ信号を変位
信号S1として出力する。
用回転主軸１に対する試験体Ｍおよびアダプタ２の偏心
のために測定用回転主軸１の回転軸線が変位することを
検出することをもって試験体Ｍおよびアダプタ２の動不
釣合い（不釣合いベクトルＤ）を検出するものであ
り、不釣合いベクトルＤのデータを含んだ信号を変位
信号S1として出力する。
この変位信号S1は、加算回路４を介して加算信号S2とし
て同期整流回路５に伝達されるように構成されている。
て同期整流回路５に伝達されるように構成されている。
６は基準位相検出器で、この基準位相検出器６は、測定
用回転主軸１の回転位相を90度ごとに検出するものであ
り、その回転位相信号S3は２相パルス生成回路７に伝達
されるように構成されている。
用回転主軸１の回転位相を90度ごとに検出するものであ
り、その回転位相信号S3は２相パルス生成回路７に伝達
されるように構成されている。
２相パルス生成回路７は、測定用回転主軸１の回転位相
に対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5
を同期整流回路５および後述するチョッパ回路14に対し
て出力するように構成されている。
に対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5
を同期整流回路５および後述するチョッパ回路14に対し
て出力するように構成されている。
補正データ採取時にはチョッパ回路14からの出力はな
く、同期整流回路５に対して加算回路４からは変位信号
S1のみが入力される（S2＝S1）。同期整流回路５は、こ
の変位信号S1を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに
直交するＸ方向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹとしてA/D変
換回路８に出力するように構成されている。
く、同期整流回路５に対して加算回路４からは変位信号
S1のみが入力される（S2＝S1）。同期整流回路５は、こ
の変位信号S1を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに
直交するＸ方向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹとしてA/D変
換回路８に出力するように構成されている。
A/D変換回路８は、Ｘ方向変位信号ＳＸ,Y方向変位信号
ＳＹに基づいて検出不釣合いベクトルＤを示す不釣合
い信号S6をデジタル信号としてCPU9に出力するように構
成されている。
ＳＹに基づいて検出不釣合いベクトルＤを示す不釣合
い信号S6をデジタル信号としてCPU9に出力するように構
成されている。
CPU9には、プログラムを格納したROMおよび各種データ
を記憶するRAMからなる記憶部10と、測定条件，測定結
果等を表示する表示部11と、測定条件，測定データの処
理方法等を入力するキーボード12が接続されている。
を記憶するRAMからなる記憶部10と、測定条件，測定結
果等を表示する表示部11と、測定条件，測定データの処
理方法等を入力するキーボード12が接続されている。
CPU9の出力ポートに接続されたD/A変換回路13とチョッ
パ回路14とが補正信号発生回路15を構成している。
パ回路14とが補正信号発生回路15を構成している。
補正信号発生回路15は、実測時にCPU9からの指令によっ
て能動状態になるものである。
て能動状態になるものである。
CPU9が記憶部10からそれに記憶している偏心補正ベクト
ルosに対応した補正用デジタル信号S7を読み出してD/
A変換回路13に出力するが、D/A変換回路13は、この補正
用デジタル信号S7をＸ方向成分とＹ方向成分とに分離し
てアナログ信号に変換し、補正用のＸ方向変位信号
ＳＸ′，補正用のＹ方向変位信号ＳＹ′としてチョッパ
回路14に出力するように構成されている。
ルosに対応した補正用デジタル信号S7を読み出してD/
A変換回路13に出力するが、D/A変換回路13は、この補正
用デジタル信号S7をＸ方向成分とＹ方向成分とに分離し
てアナログ信号に変換し、補正用のＸ方向変位信号
ＳＸ′，補正用のＹ方向変位信号ＳＹ′としてチョッパ
回路14に出力するように構成されている。
チョッパ回路14は、補正用のＸ方向変位信号ＳＸ′,Y方
向変位信号ＳＹ′を入力し、２相パルス生成回路７から
の２相パルス信号S4,S5に基づいて両信号ＳＸ′,SＹ′
を合成し、補正変位信号S1′として加算回路４に出力す
るように構成されている。
向変位信号ＳＹ′を入力し、２相パルス生成回路７から
の２相パルス信号S4,S5に基づいて両信号ＳＸ′,SＹ′
を合成し、補正変位信号S1′として加算回路４に出力す
るように構成されている。
発明の構成との対応関係を述べると、記憶部10における
RAMが、補正データ採取時に、アダプタ２に対する取付
角度を異にするｎ通り（ｎは３以上の自然数）の取り付
け態様においてそれぞれ不釣合い検出部３から得られた
ｎ個の検出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの
データを記憶する第１の記憶手段と、CPU9が求めた偏心
補正ベクトルosのデータを記憶する第２の記憶手段と
を兼ねている。
RAMが、補正データ採取時に、アダプタ２に対する取付
角度を異にするｎ通り（ｎは３以上の自然数）の取り付
け態様においてそれぞれ不釣合い検出部３から得られた
ｎ個の検出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの
データを記憶する第１の記憶手段と、CPU9が求めた偏心
補正ベクトルosのデータを記憶する第２の記憶手段と
を兼ねている。
また、CPU9が、記憶部10に記憶されたｎ個の検出不釣合
いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端またはその
近傍を通る円Ｃの中心の座標O2を求め原点O1に対する円
Ｃの中心座標ベクトルｏについて原点O1に関して対称
な偏心補正ベクトルosを求める演算手段に対応する。
いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端またはその
近傍を通る円Ｃの中心の座標O2を求め原点O1に対する円
Ｃの中心座標ベクトルｏについて原点O1に関して対称
な偏心補正ベクトルosを求める演算手段に対応する。
そして、補正信号発生回路15が、実測時に、不釣合い検
出部３から得られた検出不釣合いベクトルＤに対して
偏心補正ベクトルosを加算する補正手段に対応する。
出部３から得られた検出不釣合いベクトルＤに対して
偏心補正ベクトルosを加算する補正手段に対応する。
次に、アダプタ２に対する試験体Ｍの取り付け態様の数
ｎが３である場合の動作について説明する。
ｎが３である場合の動作について説明する。
補正データ採取時の動作 キーボード12の操作により、CPU9に補正データ採取モー
ドを入力する。これによって、CPU9は、補正信号発生回
路15を不能動状態とする。したがって、加算回路４に入
力される信号は不釣合い検出部３からの変位信号S1のみ
となる。
ドを入力する。これによって、CPU9は、補正信号発生回
路15を不能動状態とする。したがって、加算回路４に入
力される信号は不釣合い検出部３からの変位信号S1のみ
となる。
第３図（Ａ）に示すように、アダプタ２に対し試験体Ｍ
を任意の角度θ１である第１の取付位置Q1において嵌合
支持させる。
を任意の角度θ１である第１の取付位置Q1において嵌合
支持させる。
測定用回転主軸１を回転させることにより、アダプタ２
および試験体Ｍを一体的に回転すると、測定用回転主軸
１に対する試験体Ｍおよびアダプタ２の偏心のために測
定用回転主軸１の回転軸線が変位する。
および試験体Ｍを一体的に回転すると、測定用回転主軸
１に対する試験体Ｍおよびアダプタ２の偏心のために測
定用回転主軸１の回転軸線が変位する。
その変位が不釣合い検出部３によって検出され、変位信
号S1として加算回路４に出力される。この変位信号S
1は、第１の取付位置Q1についての試験体Ｍおよびアダ
プタ２の不釣合いベクトルD1のデータを含んだもので
ある。
号S1として加算回路４に出力される。この変位信号S
1は、第１の取付位置Q1についての試験体Ｍおよびアダ
プタ２の不釣合いベクトルD1のデータを含んだもので
ある。
加算回路４に対しては、補正信号発生回路15におけるチ
ョッパ回路14からの補正変位信号S1′が入力されていな
いので、不釣合い検出部３からの変位信号S1は加算回路
４をそのまま通り、加算信号S2（＝S1）として同期整流
回路５に入力される。
ョッパ回路14からの補正変位信号S1′が入力されていな
いので、不釣合い検出部３からの変位信号S1は加算回路
４をそのまま通り、加算信号S2（＝S1）として同期整流
回路５に入力される。
一方、基準位相検出器６は、測定用回転主軸１の回転位
相を90度ごとに検出し、その回転位相信号S3を２相パル
ス生成回路７に出力する。２相パルス生成回路７は、回
転位相信号S3に基づいて測定用回転主軸１の回転位相に
対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5を
同期整流回路５に出力する。
相を90度ごとに検出し、その回転位相信号S3を２相パル
ス生成回路７に出力する。２相パルス生成回路７は、回
転位相信号S3に基づいて測定用回転主軸１の回転位相に
対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5を
同期整流回路５に出力する。
同期整流回路５は、加算回路４から入力した加算信号S2
（＝S1）を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに直交
するＸ方向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹに分離してA/D変
換回路８に出力する。
（＝S1）を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに直交
するＸ方向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹに分離してA/D変
換回路８に出力する。
A/D変換回路８は、Ｘ方向変位信号ＳＸ,Y方向変位信号
ＳＹに基づいて第１の取付位置Q1についての検出不釣合
いベクトルD1を示す不釣合い信号S6をデジタル信号と
してCPU9に出力する。
ＳＹに基づいて第１の取付位置Q1についての検出不釣合
いベクトルD1を示す不釣合い信号S6をデジタル信号と
してCPU9に出力する。
CPU9は、不釣合い信号S6すなわち前記の第１の取付位置
Q1についての検出不釣合いベクトルD1のデータを記憶
部10のRAMに記憶させた後、測定用回転主軸１の回転を
停止する。
Q1についての検出不釣合いベクトルD1のデータを記憶
部10のRAMに記憶させた後、測定用回転主軸１の回転を
停止する。
次いで、試験体Ｍに対するアダプタ２の嵌合支持を一旦
解除し、第３図（Ｂ）に示すように、再び、試験体Ｍを
アダプタ２に対して任意の角度θ２である第２の取付位
置Q2において嵌合支持させる。
解除し、第３図（Ｂ）に示すように、再び、試験体Ｍを
アダプタ２に対して任意の角度θ２である第２の取付位
置Q2において嵌合支持させる。
そして、測定用回転主軸１を回転させ、前回と同様にし
て、第２の取付位置Q2についての検出不釣合いベクトル
D2のデータを記憶部10のRAMに記憶させた後、測定用
回転主軸１の回転を停止する。
て、第２の取付位置Q2についての検出不釣合いベクトル
D2のデータを記憶部10のRAMに記憶させた後、測定用
回転主軸１の回転を停止する。
次いで、試験体Ｍに対するアダプタ２の嵌合支持を解除
し、第３図（Ｃ）に示すように、再び、試験体Ｍをアダ
プタ２に対して任意の角度θ３である第３の取付位置Q3
において嵌合支持させる。
し、第３図（Ｃ）に示すように、再び、試験体Ｍをアダ
プタ２に対して任意の角度θ３である第３の取付位置Q3
において嵌合支持させる。
そして、測定用回転主軸１を回転させ、前回と同様にし
て、第３の取付位置Q3についての検出不釣合いベクトル
D3のデータを記憶部10のRAMに記憶させた後、測定用
回転主軸１の回転を停止する。
て、第３の取付位置Q3についての検出不釣合いベクトル
D3のデータを記憶部10のRAMに記憶させた後、測定用
回転主軸１の回転を停止する。
以上によって、第１ないし第３の取付位置Q1〜Q3につい
ての検出不釣合いベクトルD1，D2，D3のデータが
記憶部10に記憶されたことになる。
ての検出不釣合いベクトルD1，D2，D3のデータが
記憶部10に記憶されたことになる。
次に、CPU9が前記の３つの検出不釣合いベクトルD1，
D2，D3に基づいて偏心補正ベクトルosを求める動
作を第４図を参照して説明する。
D2，D3に基づいて偏心補正ベクトルosを求める動
作を第４図を参照して説明する。
CPU9は、記憶部10に記憶されている３つの検出不釣合い
ベクトルD1，D2，D3のデータを読み出し、各検出
不釣合いベクトルD1，D2，D3の先端の座標点P1,P
2,P3を通る１つの円Ｃの中心座標ベクトルｏを求め
る。
ベクトルD1，D2，D3のデータを読み出し、各検出
不釣合いベクトルD1，D2，D3の先端の座標点P1,P
2,P3を通る１つの円Ｃの中心座標ベクトルｏを求め
る。
座標点がP1,P2,P3と３つであるから、それらを通る円Ｃ
は幾何学の定理によって必ず１つだけ求められる。
は幾何学の定理によって必ず１つだけ求められる。
そして、CPU9は、中心座標ベクトルｏについて原点O1
に関して対称なベクトル（−ｏ）を求め、これを偏心
補正ベクトルosのデータとして記憶部10のRAMに記憶
させる。
に関して対称なベクトル（−ｏ）を求め、これを偏心
補正ベクトルosのデータとして記憶部10のRAMに記憶
させる。
以上によって使用しているアダプタ２および試験体Ｍに
ついての偏心補正ベクトルosが求められた。
ついての偏心補正ベクトルosが求められた。
実測時の動作 次に、試験体不釣合いベクトルｔの実測時の動作を説
明する。
明する。
キーボード12の操作により、CPU9に実測モードを入力す
る。これによって、CPU9は、補正信号発生回路15を能動
状態とする。
る。これによって、CPU9は、補正信号発生回路15を能動
状態とする。
試験体Ｍをアダプタ２の第３の取付位置Q3に嵌合支持さ
せたままの状態で、測定用回転主軸１を回転させると、
基準位相検出器６は、測定用回転主軸１の回転位相を90
度ごとに検出し、その回転位相信号S3を２相パルス生成
回路７に入力する。
せたままの状態で、測定用回転主軸１を回転させると、
基準位相検出器６は、測定用回転主軸１の回転位相を90
度ごとに検出し、その回転位相信号S3を２相パルス生成
回路７に入力する。
２相パルス生成回路７は、測定用回転主軸１の回転位相
に対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5
を同期整流回路５とチョッパ回路14とに出力する。
に対応し互いに位相が90度異なる２相パルス信号S4,S5
を同期整流回路５とチョッパ回路14とに出力する。
また、測定用回転主軸１の回転に伴って、不釣合い検出
部３から試験体Ｍおよびアダプタ２の不釣合いベクトル
D3のデータを含んだ変位信号S1が加算回路４に対して
入力される。この場合の不釣合いベクトルD3は実測時
のものであることから、説明の都合上、以下では不釣合
いベクトルＤとして表現する。
部３から試験体Ｍおよびアダプタ２の不釣合いベクトル
D3のデータを含んだ変位信号S1が加算回路４に対して
入力される。この場合の不釣合いベクトルD3は実測時
のものであることから、説明の都合上、以下では不釣合
いベクトルＤとして表現する。
一方、CPU9は、記憶部10からそれに記憶している偏心補
正ベクトルosに対応した補正用デジタル信号S7のデー
タを読み出してD/A変換回路13に出力する。
正ベクトルosに対応した補正用デジタル信号S7のデー
タを読み出してD/A変換回路13に出力する。
D/A変換回路13は、この補正用デジタル信号S7をＸ方向
成分とＹ方向成分とに分離してアナログ信号に変換し、
補正用のＸ方向変位信号ＳＸ′，補正用のＹ方向変位信
号ＳＹ′としてチョッパ回路14に出力する。
成分とＹ方向成分とに分離してアナログ信号に変換し、
補正用のＸ方向変位信号ＳＸ′，補正用のＹ方向変位信
号ＳＹ′としてチョッパ回路14に出力する。
チョッパ回路14は、補正用のＸ方向変位信号ＳＸ′,Y方
向変位信号ＳＹ′を入力し、２相パルス生成回路７から
の２相パルス信号S4,S5に基づいて両信号ＳＸ′,SＹ′
を合成し、偏心補正ベクトルosのデータを含んだ補正
変位信号S1′として加算回路４に出力する。
向変位信号ＳＹ′を入力し、２相パルス生成回路７から
の２相パルス信号S4,S5に基づいて両信号ＳＸ′,SＹ′
を合成し、偏心補正ベクトルosのデータを含んだ補正
変位信号S1′として加算回路４に出力する。
加算回路４において、不釣合い検出部３からの検出不釣
合いベクトルＤのデータを含んだ変位信号S1と、チョ
ッパ回路14からの偏心補正ベクトルosのデータを含ん
だ補正変位信号S1′とが加算される。
合いベクトルＤのデータを含んだ変位信号S1と、チョ
ッパ回路14からの偏心補正ベクトルosのデータを含ん
だ補正変位信号S1′とが加算される。
この（S1＋S1′＝S2）の加算は、第１図（Ｂ）から明ら
かなように、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ に対応する。
かなように、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）＋（−ａ）＝ｔ に対応する。
したがって、試験体不釣合いベクトルｔのみのデータ
を含んだ加算信号S2が加算回路４から同期整流回路５に
出力される。
を含んだ加算信号S2が加算回路４から同期整流回路５に
出力される。
同期整流回路５は、加算回路４から入力した加算信号S2
を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに直交するＸ方
向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹに分離してA/D変換回路８
に出力する。
を２相パルス信号S4,S5に基づいて互いに直交するＸ方
向,Y方向の変位信号ＳＸ,SＹに分離してA/D変換回路８
に出力する。
A/D変換回路８は、Ｘ方向変位信号ＳＸ,Y方向変位信号
ＳＹに基づいて試験体不釣合いベクトルｔのみを示す
不釣合い信号S6をデジタル信号としてCPU9に出力し、CP
U9は、その不釣合い信号S6すなわち試験体不釣合いベク
トルｔのみについてのデータを記憶部10のRAMに記憶
させるとともに、表示部11に試験体不釣合いベクトル
ｔのデータを表示させた後、測定用回転主軸１の回転を
停止する。
ＳＹに基づいて試験体不釣合いベクトルｔのみを示す
不釣合い信号S6をデジタル信号としてCPU9に出力し、CP
U9は、その不釣合い信号S6すなわち試験体不釣合いベク
トルｔのみについてのデータを記憶部10のRAMに記憶
させるとともに、表示部11に試験体不釣合いベクトル
ｔのデータを表示させた後、測定用回転主軸１の回転を
停止する。
記憶部10に記憶され、表示部11に表示された試験体不釣
合いベクトルｔのデータが、誤差であるアダプタ偏心
ベクトルａを含まないデータであることはいうまでも
ない。
合いベクトルｔのデータが、誤差であるアダプタ偏心
ベクトルａを含まないデータであることはいうまでも
ない。
第２実施例 次に、第２実施例を説明する。第２実施例においても、
そのブロック回路の構成は第１実施例（第２図）と同様
である。
そのブロック回路の構成は第１実施例（第２図）と同様
である。
第２実施例において、第１実施例と異なっている点は、
円Ｃを求める基準となる座標点P1,P2,P3の取り方にあ
る。
円Ｃを求める基準となる座標点P1,P2,P3の取り方にあ
る。
すなわち、第５図に示すように、第１の取付位置Q1にお
いて３個の検出不釣合いベクトルD1−１，D1−２，
D1−３を順次的に求め、各検出不釣合いベクトル
D1−１，D1−２，D1−３のそれぞれに第１の取付位
置Q1を示すデータを付加したデータを記憶部10に記憶さ
せる。
いて３個の検出不釣合いベクトルD1−１，D1−２，
D1−３を順次的に求め、各検出不釣合いベクトル
D1−１，D1−２，D1−３のそれぞれに第１の取付位
置Q1を示すデータを付加したデータを記憶部10に記憶さ
せる。
第２の取付位置Q2においても３個の検出不釣合いベクト
ルD2−１，D2−２，D2−３を順次的に求め、各検
出不釣合いベクトルD2−１，D2−２，D2−３のそ
れぞれに第２の取付位置Q2を示すデータを付加したデー
タを記憶部10に記憶させ、同様に、第３の取付位置Q3に
おいても３個の検出不釣合いベクトルD3−１，
D3−２，D3−３を順次的に求め、各検出不釣合いベク
トルD3−１，D3−２，D3−３のそれぞれに第３の
取付位置Q3を示すデータを付加したデータを記憶部10に
記憶させる。
ルD2−１，D2−２，D2−３を順次的に求め、各検
出不釣合いベクトルD2−１，D2−２，D2−３のそ
れぞれに第２の取付位置Q2を示すデータを付加したデー
タを記憶部10に記憶させ、同様に、第３の取付位置Q3に
おいても３個の検出不釣合いベクトルD3−１，
D3−２，D3−３を順次的に求め、各検出不釣合いベク
トルD3−１，D3−２，D3−３のそれぞれに第３の
取付位置Q3を示すデータを付加したデータを記憶部10に
記憶させる。
なお、第１ないし第３の取付位置Q1〜Q3のデータの付加
はキーボード12からの入力によって行う。
はキーボード12からの入力によって行う。
CPU9は、記憶部10から検出不釣合いベクトルのデータを
順次読み出し、同じ取付位置を示す検出不釣合いベクト
ルのデータのみどうしの平均ベクトルを算出する。すな
わち、 を求める。そして、この３つの平均ベクトルAVE1，
AVE2，AVE3を記憶部10に記憶させる。
順次読み出し、同じ取付位置を示す検出不釣合いベクト
ルのデータのみどうしの平均ベクトルを算出する。すな
わち、 を求める。そして、この３つの平均ベクトルAVE1，
AVE2，AVE3を記憶部10に記憶させる。
次いで、CPU9は、第１ないし第３の取付位置Q1〜Q3にお
ける平均ベクトルAVE1，AVE2，AVE3のデータを記
憶部10から読み出し、各平均ベクトルAVE1，AVE2，
AVE3の先端の座標点R1,R2,R3（図で〇印で示す点）を
通る１つの円Ｃの中心座標ベクトルｏを求める。
ける平均ベクトルAVE1，AVE2，AVE3のデータを記
憶部10から読み出し、各平均ベクトルAVE1，AVE2，
AVE3の先端の座標点R1,R2,R3（図で〇印で示す点）を
通る１つの円Ｃの中心座標ベクトルｏを求める。
以上のように、第２実施例は、中心座標ベクトルｏを
求める基礎となる円Ｃの求め方において第１実施例と異
なる。
求める基礎となる円Ｃの求め方において第１実施例と異
なる。
その他の点は、第１実施例と同様である。
すなわち、CPU9は、中心座標ベクトルｏについて原点
O1に関して対称なベクトル（−ｏ）を求め、これを偏
心補正ベクトルosとして記憶部10のRAMに記憶させ、
実施例においてこの偏心補正ベクトルosを検出不釣合
いベクトルＤに加算するのである。
O1に関して対称なベクトル（−ｏ）を求め、これを偏
心補正ベクトルosとして記憶部10のRAMに記憶させ、
実施例においてこの偏心補正ベクトルosを検出不釣合
いベクトルＤに加算するのである。
この第２実施例の場合、円Ｃを求めるのに、アダプタ２
に対する試験体Ｍの取り付け態様が同一の状態で採取し
た３個の検出不釣合いベクトルの平均ベクトルを基準と
しているから、検出不釣合いベクトルのバラツキによる
影響を少なくすることができ、第１実施例の場合よりも
より高精度な測定が可能となる。
に対する試験体Ｍの取り付け態様が同一の状態で採取し
た３個の検出不釣合いベクトルの平均ベクトルを基準と
しているから、検出不釣合いベクトルのバラツキによる
影響を少なくすることができ、第１実施例の場合よりも
より高精度な測定が可能となる。
なお、取り付け態様が同一の状態で採取し平均化する検
出不釣合いベクトルの数としては、３個以外、すなわち
２個でも４個以上でもよい。
出不釣合いベクトルの数としては、３個以外、すなわち
２個でも４個以上でもよい。
第３実施例 次に、第３実施例を説明する。
第１実施例，第２実施例では、試験体不釣合いベクトル
ｔのみを得るための補正を行うに当たり、検出不釣合
いベクトルＤに偏心補正ベクトルosを加算する構成
として、D/A変換回路13とチョッパ回路14とからなる補
正信号発生回路15と、加算回路４とを用い、ハードウェ
ア構成によって補正しているが、第３実施例は、この補
正をCPU9においてソフトウェアで処理するものである。
ｔのみを得るための補正を行うに当たり、検出不釣合
いベクトルＤに偏心補正ベクトルosを加算する構成
として、D/A変換回路13とチョッパ回路14とからなる補
正信号発生回路15と、加算回路４とを用い、ハードウェ
ア構成によって補正しているが、第３実施例は、この補
正をCPU9においてソフトウェアで処理するものである。
この場合のブロック構成は第６図に示すようになり、ソ
フトウェアの負担が増加する代わりに、ハードウアエの
構成が簡略化され、コストダウンに有利である。
フトウェアの負担が増加する代わりに、ハードウアエの
構成が簡略化され、コストダウンに有利である。
なお、この実施例の場合、CPU9が、発明の構成にいう演
算手段と補正手段とを兼ねることになる。
算手段と補正手段とを兼ねることになる。
G.発明の効果 この発明によれば、次の効果が発揮される。
補正データ採取時に不釣合い検出部から得られたｎ個の
検出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端
の座標点P1,P2,……,Pnについて、これらｎ個の座標点P
1,P2,……,Pnまたはその近傍を通るある１つの円Ｃの中
心座標ベクトルｏは、すべての検出不釣合いベクトル
D1，D2，……，Dnに共通なベクトルであって、ア
ダプタ偏心ベクトルａとなる（ｏ＝ａ）。
検出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端
の座標点P1,P2,……,Pnについて、これらｎ個の座標点P
1,P2,……,Pnまたはその近傍を通るある１つの円Ｃの中
心座標ベクトルｏは、すべての検出不釣合いベクトル
D1，D2，……，Dnに共通なベクトルであって、ア
ダプタ偏心ベクトルａとなる（ｏ＝ａ）。
この中心座標ベクトルｏについて原点O1に関して対称
なベクトル（−ｏ）を偏心補正ベクトルos（＝−
ｏ＝−ａ）とし、実測時において、不釣合い検出部か
ら得られた検出不釣合いベクトルＤ（＝ｔ＋ａ）
に対して偏心補正ベクトルosを加算するから、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）−ａ＝ｔ となって、試験体不釣合いベクトルｔ自体を求めるこ
とができる。
なベクトル（−ｏ）を偏心補正ベクトルos（＝−
ｏ＝−ａ）とし、実測時において、不釣合い検出部か
ら得られた検出不釣合いベクトルＤ（＝ｔ＋ａ）
に対して偏心補正ベクトルosを加算するから、Ｄ ＋os＝（ｔ＋ａ）−ａ＝ｔ となって、試験体不釣合いベクトルｔ自体を求めるこ
とができる。
この場合において、中心座標ベクトルｏは、ｎ個の検
出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端の
座標点P1,P2,……,Pnのいかんにかかわらず求めること
ができるものであり、偏心補正ベクトルosを求めるに
際してのアダプタに対する試験体の取付角度位置を任意
なものにすることができる。
出不釣合いベクトルD1，D2，……，Dnの各先端の
座標点P1,P2,……,Pnのいかんにかかわらず求めること
ができるものであり、偏心補正ベクトルosを求めるに
際してのアダプタに対する試験体の取付角度位置を任意
なものにすることができる。
したがって、従来のように複数の取付角度位置が定めら
れていることから取付角度の変更に際してきわめて厳密
に調整しなければならなかったという問題、および、取
付角度位置の誤差からの影響といった問題が解消され
る。
れていることから取付角度の変更に際してきわめて厳密
に調整しなければならなかったという問題、および、取
付角度位置の誤差からの影響といった問題が解消され
る。
すなわち、この発明によれば、取付角度の変更の作業性
を向上することができるとともに、偏心補正ベクトルを
正確に求めることができ、補正精度ひいては試験体不釣
合いベクトルの測定精度を高めることができる。
を向上することができるとともに、偏心補正ベクトルを
正確に求めることができ、補正精度ひいては試験体不釣
合いベクトルの測定精度を高めることができる。
第１図はこの発明の作用説明に供するもので、（Ａ）は
補正データ採取の原理を示すベクトル図、（Ｂ）は検出
不釣合いベクトルに対する補正の原理を示すベクトル図
である。 第２図ないし第４図はこの発明の第１実施例に係り、第
２図は動釣合試験機のブロック回路図、第３図（Ａ）〜
（Ｃ）はアダプタに対する試験体の取り付け態様の変化
を示す概略平面図、第４図は偏心補正ベクトルの求め方
を示すベクトル図である。 第５図は第２実施例の場合の偏心補正ベクトルの求め方
を示すベクトル図、第６図は第３実施例のブロック回路
図である。 第７図の（Ａ）はアンバランスベクトル図、（Ｂ）は検
出不釣合いベクトルに対する補正の原理を示すベクトル
図である。 第８図（Ａ）〜（Ｃ）は偏心補正ベクトルを求めるため
の従来の第１の手法を示すベクトル図、第９図は偏心補
正ベクトルを求めるための従来の第２の手法を示すベク
トル図である。 ２……アダプタ ３……不釣合い検出部 ９……CPU（演算手段，補正手段） 10……記憶部（第1,第２の記憶手段） 15……補正信号発生回路（補正手段） Ｍ……試験体 Ｃ……円 O1……原点 O2……円Ｃの中心os ……偏心補正ベクトルｔ ……試験体不釣合いベクトルＤ ……検出不釣合いベクトルD1 ，D2，D3，Dn……検出不釣合いベクトルD1−１ ，D1−２，D1−３，D2−１，D2−２，
D2−３，D3−１，D3−２，D3−３……検出不釣
合いベクトル P1,P2,P3,Pn……検出不釣合いベクトルD1，D2，
D3の先端の座標点AVE1 ，AVE2，AVE3……平均ベクトル R1,R2,R3……平均ベクトルAVE1，AVE2，AVE3の先
端の座標点
補正データ採取の原理を示すベクトル図、（Ｂ）は検出
不釣合いベクトルに対する補正の原理を示すベクトル図
である。 第２図ないし第４図はこの発明の第１実施例に係り、第
２図は動釣合試験機のブロック回路図、第３図（Ａ）〜
（Ｃ）はアダプタに対する試験体の取り付け態様の変化
を示す概略平面図、第４図は偏心補正ベクトルの求め方
を示すベクトル図である。 第５図は第２実施例の場合の偏心補正ベクトルの求め方
を示すベクトル図、第６図は第３実施例のブロック回路
図である。 第７図の（Ａ）はアンバランスベクトル図、（Ｂ）は検
出不釣合いベクトルに対する補正の原理を示すベクトル
図である。 第８図（Ａ）〜（Ｃ）は偏心補正ベクトルを求めるため
の従来の第１の手法を示すベクトル図、第９図は偏心補
正ベクトルを求めるための従来の第２の手法を示すベク
トル図である。 ２……アダプタ ３……不釣合い検出部 ９……CPU（演算手段，補正手段） 10……記憶部（第1,第２の記憶手段） 15……補正信号発生回路（補正手段） Ｍ……試験体 Ｃ……円 O1……原点 O2……円Ｃの中心os ……偏心補正ベクトルｔ ……試験体不釣合いベクトルＤ ……検出不釣合いベクトルD1 ，D2，D3，Dn……検出不釣合いベクトルD1−１ ，D1−２，D1−３，D2−１，D2−２，
D2−３，D3−１，D3−２，D3−３……検出不釣
合いベクトル P1,P2,P3,Pn……検出不釣合いベクトルD1，D2，
D3の先端の座標点AVE1 ，AVE2，AVE3……平均ベクトル R1,R2,R3……平均ベクトルAVE1，AVE2，AVE3の先
端の座標点
Claims (3)
- 【請求項１】試験体を取り付けて回転するアダプタと、
回転中の試験体の不釣合いを検出する不釣合い検出部
と、補正データ採取時に、前記アダプタに対する取付角
度を異にするｎ通り（ｎは３以上の自然数）の取り付け
態様においてそれぞれ前記不釣合い検出部から得られた
ｎ個の検出不釣合いベクトルのデータを記憶する第１の
記憶手段と、前記第１の記憶手段に記憶されたｎ個の検
出不釣合いベクトルの各先端またはその近傍を通る円の
中心の座標を求め原点に対する前記円の中心座標のベク
トルについて前記原点に関して対称なベクトルを求める
演算手段と、このようにして求めたベクトルを偏心補正
ベクトルのデータとして記憶する第２の記憶手段と、実
測時に、前記不釣合い検出部から得られた検出不釣合い
ベクトルに対して前記第２の記憶手段に記憶されている
偏心補正ベクトルを加算する補正手段とを備えた動釣合
試験機。 - 【請求項２】前記取り付け態様の数ｎが３であり、前記
演算手段が、３個の検出不釣合いベクトルの各先端を通
る円の中心の座標を求め原点に対する前記円の中心座標
のベクトルについて前記原点に関して対称なベクトルを
求めるものである特許請求の範囲第（１）項に記載の動
釣合試験機。 - 【請求項３】前記各取り付け態様において前記第１の記
憶手段に記憶される検出不釣合いベクトルのそれぞれ
が、同じ取り付け態様で採取した複数の検出不釣合いベ
クトルの平均ベクトルである特許請求の範囲第（１）項
または第（２）項に記載の動釣合試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30206987A JPH0750011B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 動釣合試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30206987A JPH0750011B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 動釣合試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01142429A JPH01142429A (ja) | 1989-06-05 |
| JPH0750011B2 true JPH0750011B2 (ja) | 1995-05-31 |
Family
ID=17904540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30206987A Expired - Fee Related JPH0750011B2 (ja) | 1987-11-30 | 1987-11-30 | 動釣合試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0750011B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4032301B2 (ja) * | 2002-10-31 | 2008-01-16 | 株式会社Ｉｈｉ | 高速回転体のバランス修正方法 |
| JP4140380B2 (ja) * | 2002-11-29 | 2008-08-27 | 克己 辻 | 動不釣合算定法及び動釣合試験装置 |
| CN103776587B (zh) | 2014-01-28 | 2016-03-16 | 郭卫建 | 确定转子的不平衡量的方法 |
-
1987
- 1987-11-30 JP JP30206987A patent/JPH0750011B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01142429A (ja) | 1989-06-05 |
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|---|---|---|---|
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